X射线荧光光谱理论考试考试题库(填空题)

X射线荧光光谱理论考试题库（填空题）
1 •根据探测方法的不同，可将X荧光光谱仪分为—波长色散光谱仪 _______ 和—能量色散光谱仪
两大类。

2•布拉格衍射公式为（n入=2d*sin 9 ），式中n为常数，称为_衍射级数_ ；入为_谱线波长_。

3. X射线为波长在_0.1-100埃—之间的电磁波。

4. X射线探测器的主要技术指标—探测效率 _、—能量分辨率_。

5•大部分X荧光光谱仪器仪上装有充气正比探测器，所用气体为P10气，即—氩气和甲烷—混合气体，其中甲烷用作—猝灭性气体_。

6 •原子受激发产生X射线光子的概率叫_荧光产额_。

7 •流气式正比计数器主要用于—重—元素分析，闪烁计数器用于—轻—元素测定。

8 •波长色散X射线荧光光谱仪的激发源为_X-光管_。

9•在样品和晶体之间的准直器，其作用是将样品发射出的X射线荧光通过准直器变为—平行光束一照射到晶体，该准直器又称为—入射狭缝_。

10. WDX光谱仪主要组成部分为—光管—、—色散装置_、入射准直器或入射狭缝、晶体、出射准直器或出射狭缝和探测器。

11. 当以经验系数法校正基体效应时，用一系列的—标准样品—进行测量，采用回归方法求取各待测元素的—工作曲线常数—，元素间效应的—影响系数—和—谱线重叠系数—。

12•土壤样品的处理方法，常取决于试样的—性质_、数量级—、待测元素—及其含量范围、所需的分析精度和—准确度—o
13. X射线管产生的X射线光谱，被称作原级X射线谱，它是由—连续谱—和—特征谱—组成。

14•在矿石分析中，由于同一元素间会以不同的价态、不同的结构、不同的晶体存在。

这种微观上的差别无法用机械方法除去，这称为—矿物效应o
15•用于能量色失散X荧光光谱仪的_Si （Li）_探测器，须在—液氮—中冷却工作。

16. X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除—基体效应—和—矿物效应—带来的分析误差。

17. X射线波长范围，其短波段与―丫―射线长波段相重叠，其长波段则与—真空紫外—的短波段相重叠。

18. X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步：高能量子与原子发生碰
撞，从中驱逐出一个—内层—电子。

第二步：由较外层电子补充，同时释放能量，放射出X射线
19. X射线荧光光谱仪分光方法有平行法和—聚焦—法，分别用平晶和—弯晶—分光。

20. 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同—能量—的特点，将其分开，依靠—半导体_探测器来检测。

21. X射线荧光光谱法基本上是一种 _相对—分析法。

要求各个试样之间，试样与标样之间，有尽可能一致的 _物理—性质和近似的—化学_组成。

22. X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的—组成_、_制样方法—尽可能一致。

23. X射线荧光光谱标准加入法可通过—计算法_、—作图法—求得试样的分析结果。

24. 在X射线荧光光谱法分析中，总是以单位时间内单位面积上的X射线光子数表示—强度—o 通常以_cps_或_Kcps_为单位表示。

25. X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即—基本参数—法、—经验系数法和—理论影响系数法_。

26•基体效应包括吸收和增强两种效应。

消除基体效应的方法有—稀释—法、—薄膜样品—法、—吸收校正—法、—数学处理—方法等。

27. X射线管产生的一次X射线束是—连续谱和特征光谱—，二次X射线束是—特征光谱_。

28. 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的—衍射—现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的—特征—谱线进行测定。

29. X射线波长极短，不能像紫外和可见光那样，用—平面光栅—和—棱镜—来分离特征X射线光谱。

30. 波长色散X射线荧光光谱仪的流气正比计数器经长时间使用，其芯线-阳极丝要被污染，造成
阳极丝的污染有由气体中的—杂质—和淬灭气体甲烷的—分解—造成的等两种情况。