接触电阻测试研究
接触电阻测试研究
接触电阻测试研究摘要：本文介绍了接触电阻的定义、测试方法；另列举各类接插件和开关产品的接触电阻测试方法及要求，并对如何降低电气线路的接触电阻进行了阐述。
关键词： 接触电阻接插件开关Abstract：The definition and methods of contact resistance on electrical contact materials was analysis in this paper. This article introduces the different contact resistance tests aboutelectrical connectors and switches in detail. The methods which can be used to avoidelectrical contact materials invalidation were summarized.Key words：Contact resistance Electrical connectors Switches1 接触电阻定义人们通常希望电器接点在接触部位对电路的阻碍作用为零, 即接触电阻为零。
然而大量实验表明, 电器接触部位的电阻或多或少地存在, 对电路的影响无法忽略。
因此,研究电器的接触电阻,以减少对电路的影响变得非常重要。
为方便起见, 首先定义触点的一些概念。
1）电器触点:继电器、交流接触器、开关、电机整流子,滑环均为电器接点的范畴。
2）接触电阻:两个接触元件在接触部位产生的电阻，例如接插件。
此两类电阻都可用仪器测得。
接触元件的工作可靠与否, 本质上就在于其接触部位的电阻稳定与否。
在显微镜下观察连接器接触件的表面，尽管镀金层十分光滑，则仍能观察到5-10微米的凸起部分。
会看到插合的一对接触件的接触，并不整个接触面的接触，而是散布在接触面上一些点的接触。
实际接触面必然小于理论接触面。
接触电阻测试..
HF:电流激励高端 LF:电流激励低端 HS:电压取样高端 LS:电压取样低端
由于四线法测量接触电阻采用10mA/100mA的恒流源，故测量接触电阻的 实质是测量微动接触电压。
影响接触电阻的因素
接触形式
接触电阻的形式可分为三类：点接触、线接触和面接触。
接触形式对收缩电阻Rs的影响主要表现在接触点的数目上。一般情 况下，面接触的接触点数n最大而Rs最小；接触则n最小，Rs最 大；线 接触则介于两者之间。
影响接触电阻的因素
接触压力
接触压力F对收缩电阻Rs值和表面膜电阻Rb值的影响最大，F 的增加使接触点的有效接触面积增大，即接触点数ｎ增加，从而 使Rs减小。当加大F超过一定值时，可使触头表面的气体分子层 吸附膜减少到２～３个；当超过材料的屈服压强时，产生塑性变 形，表面膜被压碎出现裂缝，从而增加了接触面积，这就使收缩 电阻Rs因表面膜电阻Rf的减小而下降， Rs和Rf同时减小，从而 使接触电阻大大下降。相反，当接触不到位、接触触头失去了弹 性变形等原因使接触压力F下降时，接触面积减小，收缩电阻Rs 增大，表面膜电阻Rf受F的破坏作用减弱或不受其影响，从而使 表面膜电阻Rf增大。同时因Rf增大，使接触面积减小，从而使接 触电阻增大，二者的综合作用使接触电阻整体上升。
接触形式对膜电阻Rf的影响主要是看每一个接触点所承受的压力F。 一般情况下，在对触头外加压力F相同的情况下，点接触形式n最小，单 位面积承受压力F1最大，容易破坏表面膜，所以有可能使Rf减到最小； 反之，面接触的F1就最小，对Rf的破坏力最小，Rf值有可能最大。
表面越平滑的材料，其接触电阻变异就越小。
铜只要2-3分钟，镍约30分钟，铝仅需2-3秒钟，其表面便可形成厚度约2um的氧化膜层
接触电阻的测量实训报告
一、实习目的本次实习的主要目的是通过实际操作，掌握接触电阻的测量方法，了解接触电阻的基本原理，以及影响接触电阻的因素。
同时，通过本次实训，提高自己的动手能力和实验操作技能，培养严谨的科学态度和团队协作精神。
二、实习内容1. 接触电阻基本原理接触电阻是指两个不同金属接触时，由于电子在接触面上发生散射，从而产生的电阻。
接触电阻的大小取决于接触面积、接触压力、接触材料的种类、温度等因素。
2. 接触电阻测量方法（1）四线法测量接触电阻四线法是一种常用的测量接触电阻的方法，其原理是通过测量电流和电压，根据欧姆定律计算出接触电阻。
（2）两探针法测量接触电阻两探针法是一种简单的测量接触电阻的方法，通过测量电流和电压，根据欧姆定律计算出接触电阻。
3. 影响接触电阻的因素（1）接触面积：接触面积越大，接触电阻越小。
（2）接触压力：接触压力越大，接触电阻越小。
（3）接触材料的种类：不同材料的接触电阻不同，一般来说，银、金等贵金属的接触电阻较小。
（4）温度：温度越高，接触电阻越小。
三、实习过程1. 实验器材（1）电源：直流稳压电源（2）待测接触电阻：铜片、铝片（3）测试仪器：数字多用表、万用表、四线法测量电路2. 实验步骤（1）搭建四线法测量电路，将待测接触电阻接入电路中。
（2）使用数字多用表测量电流和电压，根据欧姆定律计算出接触电阻。
（3）改变接触面积、接触压力、接触材料的种类、温度等，观察接触电阻的变化。
3. 实验数据（1）接触面积为1cm²，接触压力为0.1N，接触材料为铜片，温度为25℃时，接触电阻为0.1Ω。
（2）接触面积为1cm²，接触压力为0.5N，接触材料为铝片，温度为25℃时，接触电阻为0.3Ω。
（3）接触面积为2cm²，接触压力为0.1N，接触材料为铜片，温度为50℃时，接触电阻为0.08Ω。
四、实习结果与分析1. 通过本次实训，我们掌握了接触电阻的测量方法，了解了接触电阻的基本原理。
浅析车用电线束插接器接触电阻的测试
浅析车用电线束插接器接触电阻的测试车用电线束插接器是车辆电气系统中关键的组织部件，扮演着连接电线束和电气控制单元的重要角色。
车用电线束插接器的接触电阻是它质量、可靠性、工作性能的关键参数，因此测试接触电阻是评估车用电线束插接器质量和可靠性的重要手段。
下面文章将从测试原理、测试方法、测试注意事项等角度对车用电线束插接器接触电阻的测试进行浅析。
一、测试原理接触电阻指电线束插接器接触部分导电性材料之间接触接口的内部导通阻力。
车用电线束插接器接触电阻测试的基本原理是在已知电流下测量电压降，然后使用欧姆定律来计算接触电阻。
理想情况下，插接器的接触触面应该光滑、平整，并且不应该存在任何氧化膜和其他杂质物质。
通过测试插接器的接触电阻，可以评估插接器的接触性能，判断其质量和可靠性。
二、测试方法1. 插头方法插头法是目前使用最多的接触电阻测试方法之一。
这种方法可以通过将插头插入插座或插座插入插头来测量接触电阻。
测试时需要把电压计或万用表接在插头或插座上以进行测量。
对于常规车用电线束插接器，插头法是一种简单而有效的测试方法。
2. six-wire four-terminal法six-wire four-terminal法是使用四根接线来实现接触电阻测试的一种高精度的方法，通过在测试过程中使用两个额外的接线来补偿测试系统中的电阻，从而消除电路阻抗和线路电阻对测试结果的影响。
该方法的优点是可以测量小接触电阻，适用于高精度测试。
三、测试注意事项1. 插头法测试时需要确保插头和插座之间完全接触，避免测量误差。
2. 在进行接触电阻测试时，操作人员需要保证测试环境温度稳定，避免电气系统发生异常，对测试结果造成影响。
3. 需要使用合适的测试仪器和设备，保证测试精度。
通常，万用表或特制的接触电阻检测设备可以用于接触电阻测试。
4. 使用六线四端法测试时，需要使用高精度的测试仪器和设备，并确保测试技术和方法正确。
综上所述，车用电线束插接器接触电阻的测试是评估插接器质量和可靠性的重要手段。
动态接触电阻测试系统的研究
２ 触 点 动 态 接 触 电 阻测 试 系 统 的 研 究
２ １ 测试 系统的硬件设计 ．
我们通过理论 分析与试验研究相结合 的方 法 来尝试找出小容量触点的动态接触规律及其失 效 机理。为了达到此 目的 ，我们设计 了一台触点 动 态接触电阻测试系统 ，该系统功能 完善、 自动化 水平高 、适用范围广、抗干扰能力强、使用方便。
技术 。 本系统的直用软件中 包含了上述的三个方面。 ２
由于汇编语言与硬件关系密切 ，它更直接、更 全面地描述了计算机的硬件功能和特点，便于编程 人员根据 自己的需要灵活地编制各种功能。汇编语 言是计算机提 供给用户的最快且最有效的语言 ，能 能直接控制硬件 。汇 编语言的特点是占有 的存贮空 间小 ，运行速度快， 并可直接控制和访问计算机硬件。另一方面，高级 语言使用广泛 ， 用高级语言编写和调试程序快且容 易。因此，为了编写较高质量的程序 ，往往采用汇 编语言与高级语言混合编程的方法。 在软件 的编制过程 中，我们 也采 用了混 合编 程的方法 。本系统软件 由人机对话程 序和控 制测 量程序两 部分 组成 。人机对 话 程序 由在 流程控 制 、 块 化结 构、绘 图等 方 面有 很 强 功 能 的 模 ｏ】ｋＢ ＳＣ语言编 写 ，控制 测量 程序 由易于 控 Ｉ Ａ Ｉ ｉ ｃ 制接 口电路 的汇编语 言编写 。本软 件使得系统具 有 高效率 、操作方便 、高可靠性 等优点。 作为 工控 系统 的应用软件 ，它的功能是控制 完 成试验所要求 的控 制 、监测任务 。其中用户界 面 的主要作 用是对 试验运行软件进行统一 的组织 管理 ，方便 用户操 作。因此 ，在用户界面 的设计 过程 中 ，注意了所应遵循的原则 ，屏幕界面软件 本着 直观、易读 的原则对屏幕窗 口、帮助信息等 进行设计 。本 系统 的应用软 件设有 帮助信息 栏 ， 在每一操作过程中给 以必要的指导说 明，同时对 各菜单的功能有专 门的注释窗 口予 以说 明ｏ ４ ３ ，
接触电阻测试方法
接触电阻测试方法接触电阻测试是一种常见的电气测试方法，用于检测接触电阻的大小，以确保电路的正常工作。
接触电阻是指电气连接器或接插件中的接触部分的电阻，它直接影响到电流的通畅和信号的传输。
因此，正确的接触电阻测试方法对于保障电路的可靠性和稳定性至关重要。
首先，进行接触电阻测试之前，需要准备好相应的测试仪器。
常用的接触电阻测试仪包括接触电阻测试仪、万用表、示波器等。
在选择测试仪器时，需要根据具体的测试要求和被测对象的特点来确定。
接下来，进行接触电阻测试时，需要注意以下几点：1. 清洁被测接触部分，在进行接触电阻测试之前，需要确保被测接触部分表面干净，没有氧化层或污垢，以保证测试结果的准确性。
2. 确定测试点，根据实际情况确定需要测试的接触部分，通常选择电气连接器的插座和插头之间的接触部分进行测试。
3. 连接测试仪器，根据测试仪器的要求，正确连接测试仪器到被测接触部分，确保连接良好，避免因连接不良导致测试结果不准确。
4. 进行测试，根据测试仪器的操作说明，进行接触电阻测试。
通常可以通过测试仪器显示的数值来判断接触电阻的大小，也可以通过示波器观察接触部分的波形来判断接触电阻的情况。
5. 分析测试结果，根据测试结果，分析接触电阻的大小是否符合要求，如果接触电阻过大，需要进一步检查接触部分的情况，找出问题并进行处理。
总结，接触电阻测试是一项重要的电气测试方法，正确的测试方法可以有效地保障电路的可靠性和稳定性。
在进行接触电阻测试时，需要注意清洁被测接触部分、确定测试点、正确连接测试仪器、进行测试并分析测试结果。
只有这样，才能确保接触电阻测试的准确性和可靠性，为电路的正常工作提供保障。
常用接触电阻的测试方法
常用接触电阻的测试方法
接触电阻的测试方法主要有以下几种：
电桥法：利用电桥平衡原理，通过调节电桥的电阻值，使得电桥两端电压为零，从而得到接触电阻的值。
这种方法适用于小电阻值的测量，具有测量精度高的优点。
电流法：利用一定大小的电流通过被测接触电阻，通过测量电压和电流值，计算出接触电阻的大小。
这种方法适用于大电阻值的测量，具有测量范围广的优点。
矩形传输线模型（TLM）：这是一种应用广泛的接触电阻率测量方法，通过实验方法来测量
出接触电阻后再求得接触电阻率。
兆欧表、万用表、数字式欧姆表及伏安法、电压比较法等：在测量精度要求不高时，常采用
这些方法来测量接触电阻。
请注意，每种方法都有其适用的范围和限制，在实际应用中应根据具体情况选择合适的方法。
同时，为了获得更精准的测量结果，应遵循相关注意事项，例如使指针指示值尽可能
落到刻度的中段位置等。
接触电阻的测试实验指导书
接触电阻的实验指导书
1、稳压电源：3 ~ 5V，电流调到100mA。
2、电流表：按下档。
3、电压表：从稳压电源接入到电压表的1A~5A 档（红色插座），由电压表的黑色插座输出到导线的 A 端。
4、接触电压值的测定：电压值测定簧片的B端引线与该簧片的中间部位的电压，算出接触电阻。
用公式：R= U / I 计算，一般值在0.1 ~ 0.2 mΩ，太大有可能线没有卡好。
5、问：为什么电压不能大于3 V?
簧片上有氧化层，接触电阻会增大。
电压过大会击穿氧化层，测出的接触电阻就会变小，就测不出实际电阻值。
接触电阻测试接线图：
直流电源：电压3—5V，电流100mA(恒流源)。
直流电流表：（实验台中间的仪表）
实验台：
电接触实验原理图：
1、直流电源
2、直流电流表
3、直流电压表
4、试件。
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接触电阻测试研究摘要：本文介绍了接触电阻的定义、测试方法；另列举各类接插件和开关产品的接触电阻测试方法及要求，并对如何降低电气线路的接触电阻进行了阐述。
关键词： 接触电阻接插件开关Abstract：The definition and methods of contact resistance on electrical contact materials was analysis in this paper. This article introduces the different contact resistance tests aboutelectrical connectors and switches in detail. The methods which can be used to avoidelectrical contact materials invalidation were summarized.Key words：Contact resistance Electrical connectors Switches1 接触电阻定义人们通常希望电器接点在接触部位对电路的阻碍作用为零, 即接触电阻为零。
然而大量实验表明, 电器接触部位的电阻或多或少地存在, 对电路的影响无法忽略。
因此,研究电器的接触电阻,以减少对电路的影响变得非常重要。
为方便起见, 首先定义触点的一些概念。
1）电器触点:继电器、交流接触器、开关、电机整流子,滑环均为电器接点的范畴。
2）接触电阻:两个接触元件在接触部位产生的电阻，例如接插件。
此两类电阻都可用仪器测得。
接触元件的工作可靠与否, 本质上就在于其接触部位的电阻稳定与否。
在显微镜下观察连接器接触件的表面，尽管镀金层十分光滑，则仍能观察到5-10微米的凸起部分。
会看到插合的一对接触件的接触，并不整个接触面的接触，而是散布在接触面上一些点的接触。
实际接触面必然小于理论接触面。
根据表面光滑程度及接触压力大小，两者差距有的可达几千倍。
实际接触面可分为两部分；一是真正金属与金属直接接触部分。
即金属间无过渡电阻的接触微点，亦称接触斑点，它是由接触压力或热作用破坏界面膜后形成的。
部分约占实际接触面积的5-10%。
二是通过接触界面污染薄膜后相互接触的部分。
因为任何金属都有返回原氧化物状态的倾向。
实际上，在大气中不存在真正洁净的金属表面，即使很洁净的金属表面，一旦暴露在大气中，便会很快生成几微米的初期氧化膜层。
例如铜只要2-3分钟，镍约30分钟，铝仅需2-3秒钟，其表面便可形成厚度约2微米的氧化膜层。
即使特别稳定的贵金属金，由于它的表面能较高，其表面也会形成一层有机气体吸附膜。
此外，大气中的尘埃等也会在接触件表面形成沉积膜。
因而，从微观分析任何接触面都是一个污染面。
综上所述，真正接触电阻应由以下几部分组成；1) 集中电阻（收缩电阻）电流通过实际接触面时，由于电流线收缩（或称集中）显示出来的电阻。
将其称为集中电阻或收缩电阻。
收缩电阻:接触元件,无论加工多么精致,从微观上看其表面总是凸凹不平的, 因此, 当两个接触元件彼此接触时, 其表面不可能完整地接触,真正接触的是个别区域, 其他区域并没有直接接触。
即实际接触面积要比“视在”的接触面积小。
在真正接触的区域中, 一些是金属对金属的接触, 称为“金属接触”; 另一些是靠覆盖在接触处的单分子薄膜通过孔道效应和穿透薄膜的金属桥导电的, 称为“半导体”接触或“膜”接触; 还有一些接触点覆盖着完全不导电的绝缘膜, 如氧化膜和硫化膜,不能导电,可称为“绝缘接触”。
剩下的其它点因为表面不平, 完全没有接触, 不导电, 可称为“非接触点”。
我们想象电流象磁力线一样也有电流线。
当电流流过“金属接触”点时, 由于电流象水一样通过筛孔时受到收缩而产生阻力, 这种阻力称为收缩电阻。
图1 导体接触处实际导电截面积骤减而产生收缩电阻导体接触处实际导电截面积骤减而产生收缩电阻，见图1。
一定长度的导线的电阻大小取决于其长度和截面积，即 R=KL/S 式中：K为导线的电阻率，其值由金属的材料决定；L 为导线的长度；S为导线的截面积。
当截面积S骤减时，电阻率K和长度L不变，则电阻会骤然增大，必然造成连接部位发热增加，乃至产生危险温度，构成引燃火源。
如果连接部位松动，则可能出现放电打火现象，如继电器或接触器的触点或触头在打开或闭合时，经常产生电火花或电弧，也成为产生电火灾的隐患。
2) 膜层电阻膜电阻:接触元件表面因污染、化学腐蚀等原因而形成的一层导电性很差的物质(包含尘埃膜、吸附膜、无机膜、有机膜等) , 由此而形成的接触电阻称为膜电阻。
膜电阻和收缩电阻形成了接触元件之间的接触电阻。
当接触压力很小时,有些膜电阻很大,这时的接触电阻主要取决于膜电阻。
而接触压力很大时, 各种薄膜因破裂而大大降低了电阻, 这时起主要作用的是收缩电阻。
膜电阻的大小与膜的种类有关,不同的无机膜,其膜电阻也不同。
此外, 膜电阻的大小还与膜的厚度有关,膜越厚,电阻越大。
3) 导体电阻实际测量电连接器接触件的接触电阻时，都是在接点引出端进行的，故实际测得的接触电阻还包含接触表面以外接触件和引出导线本身的导体电阻。
导体电阻主要取决于金属材料本身的导电性能，它与周围环境温度的关系可用温度系数来表征。
为便于区分，将集中电阻加上膜层电阻称为真实接触电阻。
而将实际测得包含有导体电阻的称为总接触电阻。
在实际测量接触电阻时，常使用按开尔文电桥四端子法原理设计的接触电阻测试仪（毫欧计），其专用夹具夹在被测接触件端接部位两端，故实际测量的总接触电阻R由以下三部分组成，可由下式表示：R= RC + Rf + Rp,式中：RC—集中电阻；Rf—膜层电阻；Rp—导体电阻。
接触电阻检验目的是确定电流流经接触件的接触表面的电触点时产生的电阻。
如果有大电流通过高阻触点时，就可能产生过分的能量消耗，并使触点产生危险的过热现象。
在很多应用中要求接触电阻低且稳定，以使触点上的电压降不致影响电路状况的精度。
2 接触电阻的测量方法测量接触电阻除用毫欧计外,也可用伏-安计法,安培-电位计法。
在连接微弱信号电路中，设定的测试数条件对接触电阻检测结果有一定影响。
因为接触表面会附有氧化层，油污或其他污染物，两接触件表面会产生膜层电阻。
由于膜层为不良导体，随膜层厚度增加，接触电阻会迅速增大。
膜层在高的接触压力下会机械击穿，或在高电压、大电流下会发生电击穿。
但对某些小型连接器设计的接触压力很小，工作电流电压仅为mA和mV级，膜层电阻不易被击穿，接触电阻增大可能影响电信号的传输。
在GB5095“电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法”中的接触电阻测试方法之一，“接触电阻-毫伏法”规定，为防止接触件上膜层被击穿，测试回路交流或直流的开路峰值电压应不大于20mV，交流或直流的测试中电流应不大于100mA。
在GJB1217“电连接器试验方法”中规定有“低电平接触电阻”和“接触电阻”两种试验方法。
其中低电平接触电阻试验方法基本内容与上述GB5095中的接触电阻-毫伏法相同。
目的是评定接触件在加上不改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化薄膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。
所加开路试验电压不超过20mV，试验电流应限制在100mA。
在这一电平下的性能足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。
而接触电阻试验方法目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻。
通常采用这一试验方法施加的规定电流要比前一种试验方法大得多。
如军标GJB101“小圆形快速分离耐环境电连接器总规范”中规定；测量时电流为1A，接触对串联后，测量每对接触对的电压降，取其平均值换算成接触电阻值。
接触电阻测量主要受接触件材料、正压力、表面状态、使用电压和电流、测试引线等因素影响。
1) 接触件材料电连接器技术条件对不同材质制作的同规格插配接触件，规定了不同的接触电阻考核指标。
如小圆形快速分离耐环境电连接器总规范GJB101-86规定，直径为1mm的插配接触件接触电阻，铜合金≤5mΩ,铁合金≤15mΩ。
热膨胀系数不同的两种金属导体连接部位的接触电阻：在实际生产中，电气线路经常采用的两种金属导线主要是铜和铝。
由于铝的热胀系数比铜大36%，所以发热时使铜端子增大而本身受到挤压，冷却后不能完全复原。
经过多次反复后，连接处逐渐松弛，连接部位接触电阻增大。
如连接处出现微小缝隙，则空气进入将导致铝导体表面氧化，接触电阻大大增加。
情况更加严重的是由于铜和铝的化学性质不同，当有水分进入铜和铝之间的缝隙时，将发生电解，使铝导体发生电化学腐蚀，导致接触状态急剧恶化，接触电阻急剧升高。
不同的金属相接触,会产生热电势,如果两边金属材料相同,就没有热电势的影响。
有3 种方法可以消除热电势的影响:1、交流阻抗测量法：图2 中采用交流电流源、交流电压表和交流电流表进行测量,读取电压、电流的有效值, 代入公式R X=U/I中,计算结果虽然是交流阻抗, 但是在频率较低的情况下,可近似为直流电阻。
因为热电势是直流电压,不会影响交流电压的测量,所以交流测量方法可以消除热电势的影响。
图2中，金属1与金属2有一个界面，电流源施加的电流通过该界面，用电流表测出通过界面的电流I，电压表测量面两边的电压U，则界面的接触电阻R X 为：R X=U/I。
式中：U为电压表读出的界面两边的电压，I为电流表读出的通过界面的电流。
图2 接触电阻R X定义图（右图为等效电路）2、正反两次测量法：使用直流测量仪器, 应该使电流源正反两个方向各测量一次,计算两次测量结果的平均值,可以消除热电势的影响。
计算方法见下式。
3、零电流法：使用直流测量仪器,先将电流设置为零,记录电压表的读数U0 ,再将电流设置为I ,记录电压表读数U1 ,利用以下公式计算接触电阻R X，直流脉冲式微欧计,就是利用这种方法。
2) 正压力接触件的正压力是指彼此接触的表面产生并垂直于接触表面的力。
随正压力增加，接触微点数量及面积也逐渐增加，同时接触微点从弹性变形过渡到塑性变形。
由于集中电阻逐渐减小，而使接触电阻降低。
接触正压力主要取决于接触件的几何形状和材料性能。
3) 表面状态接触件表面一是由于尘埃、松香、油污等在接点表面机械附着沉积形成的较松散的表膜，这层表膜由于带有微粒物质极易嵌藏在接触表面的微观凹坑处，使接触面积缩小，接触电阻增大，且极不稳定。
二是由于物理吸附及化学吸附所形成的污染膜，对金属表面主要是化学吸附，它是在物理吸附后伴随电子迁移而产生的。
故对一些高可靠性要求的产品，如航天用电连接器必须要有洁净的装配生产环境条件，完善的清洗工艺及必要的结构密封措施，使用单位必须要有良好的贮存和使用操作环境条件。