薄膜电容绝缘电阻测试指南
薄膜电阻测试标准
薄膜电阻测试标准
薄膜电阻测试标准通常包括以下几个方面：
1. 电阻值测量：薄膜电阻的电阻值是最基本的测试项目，通常使用万用表或专用电阻表来测量。
测试条件包括电流大小、电压范围和测量精度等。
2. 温度系数测量：薄膜电阻的温度系数是指电阻值随温度变化的大小，通常表示为ppm/℃。
温度系数的测量可以通过在不
同温度下测量电阻值，并计算温度系数。
3. 稳定性测试：薄膜电阻的稳定性是指其电阻值在长时间使用或在不同环境条件下的变化情况。
稳定性测试通常包括老化测试、温湿度循环测试等。
4. 抗干扰性测试：薄膜电阻在工作过程中可能受到来自外部环境的干扰，如电磁辐射或外界电场的影响。
抗干扰性测试主要是测试电阻值在不同干扰源下的变化情况。
5. 尺寸和外观检查：薄膜电阻的尺寸和外观质量是影响其性能的重要因素。
尺寸和外观检查通常包括检查外观质量、尺寸偏差和焊盘连接等。
这些测试标准可以根据不同的规范和应用领域进行调整和补充。
薄膜电容的测量方法
薄膜电容的测量方法
掌握电容的测量方法的好处就是，可以快速的判断电容的好坏。
那幺小编要跟大家说说的是薄膜电容的测量方法，希望在实操的方面能帮助到大家。
采用科学的方法来进行电容的测量，是可以保障电容使用安全和寿命的关键。
先可以采用万用表测试电容，方法就是使用电阻档。
实践证明，利用数字万用表也可观察电容器的充电过程，这实际上是以离散的数字量反映充电电压的变化情况。
设数字万用表的测量速率为n次/秒，则在观察电容器的充电过程中，每秒钟即可看到n个彼此独立且依次增大的读数。
接下来介绍的是使用数字万用表电阻档检测薄膜电容器的方法，对于未设置电容档的仪表很有实用价值。
此方法适用于测量0.1μF～几千微法的大容量电容器。
将数字万用表拨至合适的电阻档，红表笔和黑表笔分别接触被测电容器Cx的两极，这时显示值将从“000”开始逐渐增加，直至显示溢出符号“1”。
若始终显示“000”，说明薄膜电容器内部短路；若始终显示溢出，则可能时薄膜电容器内部极间开路，也可能时所选择的电阻档不合适。
在选购薄膜的电容的时候我们不仅要知道电容参数，更重要的也要学会测量和了解电容是否有损坏的现象，这是我们使用电容中不能忽视的细节。
我们专业制造安规电容，陶瓷电容，压敏电阻，薄膜电容，更多优质的电容器尽在JEC。
以上资讯来自智旭电子公司研发部，更多资讯请大家移步至网站中获取。
电容器时间常数(绝缘电阻)吸收系数的测量
2’
249.5
12036
239
2266
3、确定聚苯乙烯（聚乙烯）电容器和金属化纸介电容器的绝缘 电阻R或时间常数τ和充电时间t的关系。 充电电压uc为250V，分别充电不同的时间，然后自行放电1分钟后， 测出端电压ua。
聚苯乙烯（聚乙烯）电容器 充电时间t 1’ 2’ 端电压ua 246 247 RC 2490 5988 金属化纸介电容器 充电时间t 1’ 2’ 端电压ua 250 250.5 RC 7530 20100
聚苯乙烯（聚乙烯）电容器 充电电压uc 150 端电压ua Ka 金属化纸介电容器 充电电压uc 150 端电压ua Ka
200
250
200
250
实验结果以及讨论
讨论各组曲线的性质，比较不同容量的金属化 纸介电容器的绝缘电阻值与比较聚苯乙烯（聚 乙烯）和金属化纸介电容器的时间常数的大小 ，并说明影响时间常数的主要因素。 比较聚苯乙烯（苯乙烯）电容器和金属化纸介 电容器的吸收系数的大小，并说明其原因。
电容器时间常数τ（绝缘电阻 R）、吸收系数Ka的测量
一、实验目的和要求
熟悉自行放电法测量电容器的绝缘电阻R（时间常数τ）、 吸收系数Ka的方法。 确定用同样介质材料制成不同电容量的电容器与用不同介 质材料制成同种规格电容器的自行放电过程（聚苯乙烯、 聚乙烯、纸介、金属化纸介等）。 确定各种电容器的绝缘电阻R、充电时间t、充电电压U的 关系。 比较各种电容器的绝缘电阻R或时间常数τ和吸收系数Ka的 大小。
3’
247
8982
3’
250.5
30150
4、确定聚苯乙烯（聚乙烯）电容器和金属化纸介电容器的时间 常数τ和充电电压uc的关系。 在如下表所示不同电压下，充电1分钟，然后自行放电1分钟后测出 端电压ua。
绝缘电阻测试方法及注意事项有哪些 绝缘电阻常见问题解决方法
绝缘电阻测试方法及注意事项有哪些绝缘电阻常见问题解决方法绝缘电阻测试方法有哪些？通常绝缘电阻值测量方法有低电压下测量和高电压下测量两种方法。
而绝缘电阻由于一般数值较高（兆欧级）。
在低电压下的测量值不克不及反映在高电压前提下任务的真正绝缘电阻值。
兆欧表也叫绝缘电阻表。
它是测量绝缘电阻常用的仪表。
它在测量绝缘电阻时自身就有高电压电源，这就是它与测电阻仪表的分歧之处。
兆欧表用于测量绝缘电阻即便利又牢靠。
然则假如运用欠妥，它将给测量带来不用要的误差，我们必需精准运用兆欧表进行绝缘电阻测量。
兆欧表在任务时，本身发生高电压，而测量对象又是电气设备，所以必需精准运用，不然就会形成人身或设备变乱。
运用前，起首要做好以下各类准备：1.测量前必需将被测设备电源割断，并对地短路放电，决不答应设备带电进行测量，以包管人身和设备的平安。
2.对能够感应出高压电的设备，必需消弭这种能够性后，才能进行测量。
3.被测物外表要干净，削减接触电阻，确保测量后果的精准性。
4.测量前要反省兆欧表能否处于正常任务形态，首要反省其“0”和“”两点。
即摇入手柄，使电机到达额外转速，兆欧表在短路时应指在“0”地位，开路时应指在“”地位。
5.兆欧表运用时应放在平稳、坚固结实的当地，且阔别大的外电流导体和外磁场。
测试绝缘电阻时应注意以下事项：（1）试验前首先应将被试物的一切电源连线断开，并将被试设备短路接地，充分放电，然后拆除一切外部连线，方可进行试验。
（2）将被试物绝缘表面擦拭干净；如被试物内有可燃性气体应放尽，以免引起爆炸。
（3）依据被试物的电压等级选择适用的绝缘电阻表。
（4）试验用的引线绝缘不良会严重影响测试结果，必需引起注意。
（5）将绝缘电阻表安置在适当位置，有水平仪的兆欧表应调好水平。
（6）被试物出线接于绝缘电阻表的“线”（L）柱上，被试物的接地端应与绝缘电阻表的“地”（E）柱连接，并与接地网相连。
（7）用恒定速度摇动绝缘电阻表把手，尽量保持120r/min（8）绝缘电阻表针初始时指示较低，以后渐渐上升，待指示稳定后（如表针长时间不稳定可取1min），读取数值。
快速准确测量绝缘体电容的四种方法与注意事项
快速准确测量绝缘体电容的四种方法与注意事项绝缘体电容是指绝缘体材料中形成的电容。
在电子领域中，准确测量绝缘体电容的方法非常重要，因为绝缘体电容的大小直接影响着电路的性能和稳定性。
下面将介绍四种常用的快速准确测量绝缘体电容的方法，并提供一些注意事项。
第一种方法是使用LCR表进行测量。
LCR表是一种专门用于测量电感、电容和电阻等电性参数的仪器。
使用LCR表测量绝缘体电容时，可以将要测量的绝缘体放入电容测量槽中，然后选择电容测量模式并读取测量结果。
这种方法操作简单，测量结果准确可靠，适用于各种类型的绝缘体材料。
第二种方法是使用示波器进行测量。
示波器是一种能够显示电压信号随时间变化的仪器。
通过将绝缘体制成电容器，将电容器连接至信号源和示波器，然后在示波器上观察电压信号的变化，可以间接测量绝缘体电容。
这种方法对于较小的绝缘体电容测量效果好，但对于较大的绝缘体电容则不太适用。
第三种方法是使用频率扫描法进行测量。
此方法需要使用专门的频率扫描仪和电容测量电路。
通过改变扫描仪的频率和测量电路的相位差，可以得到不同频率下的电容值。
根据电容与频率的关系，可以计算出绝缘体电容的准确值。
这种方法适用于需测量较大绝缘体电容的情况，测量结果较为准确。
第四种方法是使用阻抗分析仪进行测量。
阻抗分析仪是一种能够测量电路或设备的阻抗参数的仪器。
通过将绝缘体接入阻抗分析仪，并选择相应的测试参数和频率，可以直接测量绝缘体电容值和其他电性参数。
这种方法操作简单方便，测量结果准确可靠。
在进行绝缘体电容测量时，还需注意以下几点事项。
首先，要选择合适的测量仪器和测量方法，根据实际需求选择最适合的测量方案。
其次，要确保测量环境安静稳定，避免外界电磁干扰对测量结果的影响。
此外，要注意测量连接的接触良好和无杂散电容的干扰。
最后，还需要注意绝缘体电容的测量范围和准确度。
不同类型和厚度的绝缘体电容范围不同，要选择合适的测量仪器和方法进行测量。
同时，测量准确度也很重要，要确保测量仪器和方法的精度能够满足实际需求。
电容器极间绝缘电阻测试方法
电容器极间绝缘电阻测试方法
电容器是全密封设备，如密封不严或不牢固造成渗漏油现象，使空气和水分以及杂质都可能进入油箱内部，会使绝缘电阻降低，甚至造成绝缘损坏，危害极大。
电容器绝缘电阻测试可以发现电容器由于油箱焊缝和套管处焊接工艺不良，密封不严造成绝缘性能降低的故障，同时可发现电容器高压套管受潮及缺陷情况。
电容器极间绝缘电阻测试接线及步骤：
（1）测试接线。
测试时，断路器电容器一端接DMG2671绝缘电阻表的“L”
端，另一端接绝缘电阻表的“E”端。
（2）测试步骤：
1）交接试验时，断路器电容器绝缘电阻应在安装前测试，可以减少断路器灭弧室的影响。
2）预防性试验时应检查断路器是否在开断状态，如测试的绝缘电阻过低，可拆下断路器电容器进行测试，以判断故障部位。
3）测试前使用放电棒对电容器放电，放电时电容器一端接地，另一端通过放电棒短接放电。
4）测试前首先检查DMG2671绝缘电阻表是否正常，断路器电容器一端接绝缘电阻表的“L”端，另一端接地和绝缘电阻表的“E”端，读取1min或稳定后的绝缘电阻值。
5）读取数据后断开“L”端与电容器的连接线，停止或关断绝缘电阻表，使用放电棒对断路器电容器进行充分放电。
薄膜电容绝缘电阻测试指南
- 10μs -
t9 触发放电后充/放电标志为1
4 软件设计流程
4.1 测试步骤 步骤 1 ——触发充电 通过读 CHARFLAG 信号来判断当前是否处于充电状态，如果是充电状态，将被测电容切换入
充电通路进行充电。如果是放电状态，触发充电。 步骤 2 ——触发测试 充电结束后，读 EOC 信号来判断是否当前为测试空闲状态，如果是，将被测电容由充电通路
外接 电路 图 4-1 薄膜电容充电电路
仪器 内部 皮安 计
3 4
5 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
5
9
3
Cx
K2B
R
10 8
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
外接 电路 图 4-2 薄膜电容测试电路
仪器 内部 皮安 计
5 4
3 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
3
9
5
Cx
K2B
试。
这里讨论的应用实例是使用 CHT3530 绝缘电阻测试仪测量电容器的泄漏电阻。此电 阻可以用“IR”（绝缘电阻）来代表，并用兆欧-微法来表示（电阻值可以用“IR”值 除以电容来计算）。在另一些情况下，漏电可以用给定电压（通常为工作电压）下的泄 漏电流来表示。
1 测试方法介绍
测量电容器漏电的方法是向被测的电容器施加一个固定的电压，然后测量所产生的 电流。泄漏电流随时间呈指数衰减，所以通常需要在一个已知的时间期间内施加电压（浸 润时间，即预充电时间），然后再测量电流。
R = 1/ 0.1uf = 10M 。 当被测电容值比较小,计算串联电阻值大于 100M 时,最大串联电阻取 100M 也可以不 接串联电阻。 这是因为由于电流检测器的反馈电阻最大为 100MΩ，串联电阻选择最大不 用超过 100MΩ，此时噪声增益为 1，既不会对噪声起放大作用。
电力电容器绝缘电阻测量作业指导书
测量绝缘电阻
一、试验目的
检查电容器的两极对外壳的绝缘电阻状况，判定电容器绝缘电阻是否满足运行要求。
二、试验步骤
1、准备仪表：进行兆欧表的开路及短路试验，确定仪表良好。
2、确定电容器具备试验条件：落实安全措施，电容器停电并充分放电、拆除电容器相应引线。
3、测量并联电容器电极对地绝缘电阻：将电容器各电极短接，设置兆欧表2500V 档位，高压测试线触碰电容器任意一个电极，兆欧表地线接地，读取1min时仪器读数并记录数据。
4、放电：电容器电极对地进行充分放电。
5、整理仪器：收拾整理仪表。
三、合格标准
绝缘电阻不低于500MΩ。
四、注意事项
1、停电并验明无电并对电容器充分放电后再进行试验。
2、电容器电极脏污时应先用干净的棉布及无水酒精清洁擦拭干净再试验。
3、绝缘试验后将电容器各电极对地充分放电。
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试。
这里讨论的应用实例是使用 CHT3530 绝缘电阻测试仪测量电容器的泄漏电阻。此电 阻可以用“IR”（绝缘电阻）来代表，并用兆欧-微法来表示（电阻值可以用“IR”值 除以电容来计算）。在另一些情况下，漏电可以用给定电压（通常为工作电压）下的泄 漏电流来表示。
1 测试方法介绍
测量电容器漏电的方法是向被测的电容器施加一个固定的电压，然后测量所产生的 电流。泄漏电流随时间呈指数衰减，所以通常需要在一个已知的时间期间内施加电压（浸 润时间，即预充电时间），然后再测量电流。
t3
t4
t2 TRIG
t9
t5 Text
下次触发允许
测量周期 EOC
OUTPUT COMP
t8
t6
t7 新 有效
t1 前一记录号
新 有效
图 3 测量周期表
描述
一次转换周期 t1 （量程保持，内部触
发） t2 Trig 下降沿触发 t3 充电信号低电平触发 t4 充电延时 t5 放电信号低电平触发
t8 AD转换及运算时间（
直流电场可能产生有噪声的读数或无法探测的误差。实验电路附近的运动（例如，操 作仪器人员的运动或者在临近区域里的其它运动等）引起仪器显示读数发生波动，就反 映出这种场的存在。为了迅速检查干扰的存在，在电路附近放置一个带电的塑料物体， 如梳子等。仪表的读数发生大的变化就说明屏蔽不够完善。
为了降低电场的影响，可以制作屏蔽将被测电路包围起来。最容易制作的屏蔽形式 为包围被测电路的简单的金属盒子或金属网。
这个电阻器有两个作用：
①、在电容器短路的情况下，电阻器限制电流的大小。
②、电容器的容抗随着频率的增加而降低，这就会增加反馈电流表的增益，噪声增 益会很大，以致发生电路震荡。此电阻器则将增益限制到一个有限的数值。该电阻器的 合理数值是使得 RC 的乘积为 1 到 5 秒。
反馈式电流表电路原理如下：
Cx Vnoise
Rf 9
8 10
Vo =Vnoise*Rf/ Zcx
U1C (图a)
Vnoise
R Cx 9 10
Rf
8 Vo =Vnoise*Rf/ (Zcx+R)
U1C
(图b)
Zcx 是 电容的阻抗 Zcx = 1/2πfCx。当电容比较大的时候，Vo 噪声幅度会增大。
图 b 在加入电阻 R 后噪声输出幅度可远远小于图 a 中的噪声输出。同时由于 R（<100M Ω）的阻抗值大大小于 Cx（薄膜电容正常绝缘阻抗值>10GΩ）的绝缘电阻值，所以串 入的 R 不会对测试带来影响。 例如：测试电容 C = 0.1uf 则串联电阻 R =τ/C 。τ=1s；C = 0.1uf
版权所测有：
常州市和普电子有限公司 保密级别：
对用户公开
图 2 接线端子
电源供给端
序号 端子名称
1
GND
2
GND
13 CHARFLAG
17
EXT.GND
18
EXT.GND
19
VCC
20
VCC
35
36
EXT.DC+5V
含义
引线颜色
内部电源地。 内部电源地。
充电/放电标志输出(1:放电 0:充 电) 用户电源地。 用户电源地。
ห้องสมุดไป่ตู้橙色
内部电源。 内部电源。
用户为接线端电路提供+5V 电源。 注：接线端电源不是由仪器提供， 而是由用户提供。
外接 电路 图 4-1 薄膜电容充电电路
仪器 内部 皮安 计
3 4
5 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
5
9
3
Cx
K2B
R
10 8
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
外接 电路 图 4-2 薄膜电容测试电路
仪器 内部 皮安 计
5 4
3 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
3
9
5
Cx
K2B
R = 1/ 0.1uf = 10M 。 当被测电容值比较小,计算串联电阻值大于 100M 时,最大串联电阻取 100M 也可以不 接串联电阻。 这是因为由于电流检测器的反馈电阻最大为 100MΩ，串联电阻选择最大不 用超过 100MΩ，此时噪声增益为 1，既不会对噪声起放大作用。
2 接线端子与信号
R
8 10
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
外接 电路 图 4-3 薄膜电容放电电路
仪器 内部 皮安 计
其中： Rd: 仪器内部放电电阻 Rd = 20K。 Rs: 电源源内阻 输出电 V>100V Rs = 55k;V≤100V Rs = 5k。 K1A:仪器内部充放电开关,由仪器控制。 K2A K2B: 外部电路控制电容充电﹑测试﹑放电开关，由用户控制。 R： 测量电容串联电阻。 Cx: 被测电容。
切换到测试通路，触发 TRIG 测试信号仪器进行漏电流测试。 步骤 3 ——触发放电 读 EOC 信号来判断是否当前为测试结束，测试结束将被测电容切换到放电通路，触发放电。
4.2 测试电路连接图
3 4
5 Rs
K1A Rd
4 K2A
被测 电容 器
3
9
5
Cx
K2B
R
8 10
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
红色
比较输出信号
5
EOC
6
HI(BIN1)
7
LO(BIN2)
8
GD(BIN3)
测试完成信号（忙信号）。 上超（不合格）输出。 三等品输出。
下超（不合格）输出。 二等品输出。
合格输出。
一等品输出。
黑色 白色 灰色 紫色
9
NG
不合格输出。
不合格输出。 绿色
3 测量周期表
CHARFLAG CHAR/DISCHAR
j
部门： 日期：
薄膜电容测试参考手册
研发部 2011-05-05
文献类别 编号：
技术文献 HP201-11050300A
电容器是各种电子设备中的基本元件，广泛地应用于对电子电路进行旁路、耦合、
滤波和调谐等。然而，要使用电容器就必须明白其特性：包括电容值、额定电压值、温
度系数以及泄漏电阻等。电容器制造厂家对这些参数进行测试；最终用户也进行这类测
仪表 Input 端和被测装置之间的电缆也需要屏蔽。用连接到 Ground 端的金属屏蔽将 信号导体包围起来，可以大大降低静电噪声源和信号导体或电缆之间的电容耦合，如图 6 所示。有了这种屏蔽，由静电电压源和耦合电容产生的噪声电流就经过屏蔽流到地， 而不再流过信号线。
图 6 屏蔽高阻器件
总的说来，遵守下列指导原则能够尽量降低静电耦合产生的电流： * 使所有带电物体（包括人员）和导体远离测试电路的敏感区域。 * 在测试区域附近避免运动和振动。 * 当测量电流小于 1nA 时，将被测装置用金属闭合物包围屏蔽起来，并将该闭合物连 到测试电路的公共端。
3 4
5 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
3
9
5
Cx
K2B
R
8 10
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
外接 电路
仪器 内部 皮安 计
图 1 电容漏电测试电路
图 1 是测试电容器漏电的一般电路。其中，在浸润时间内将电压加到电容器（CX）
的两端，充电电流由源内阻决定,V>100V时Rs=55K, V≤100V时Rs=5K则电容充电时间t1 = Rs*C。该时间过去之后继电器切换至测试端用电流表测量其电流。电容测试完成后将继 电器切换至地通过仪器内部放电电阻对电容进行放电，放电电阻为Rg，V>100V:Rg=75k, V≤100V:Rg=25k,则电容放电时间t2 = Rg*C该时间过去之后电容上的电荷将全部放完。 在这个测试系统中，与电容器相串联的电阻器（R）是一个重要的元件。
4.3 流程图
图5
5 薄膜电容的连接与屏蔽
带电物体接近被测电路的输入端时，就会发生静电耦合和干扰。在低阻抗之下，由于 电荷迅速消散，所以干扰的影响不明显。然而，高阻材料不允许电荷迅速衰减，就可能 产生不稳定的测量结果。由于错误的读数可能由直流或交流静电场引起，所以静电屏蔽 有助于尽量降低这种电场的影响。
快速 中速 慢速
快速
时间（大约）
最小 典型 最大
52ms 54ms 56ms
104ms 108ms 112ms
330s 335s 340s
1ms
-
- 15ms
0s
- 999.9s
- 15ms -
44ms 46ms 48ms
发）
t6 打印结果时间（辅助显示关） 7ms 8ms 9ms
t7 分选输出到EOC结束时间
- 10μs -
t9 触发放电后充/放电标志为1
4 软件设计流程
4.1 测试步骤 步骤 1 ——触发充电 通过读 CHARFLAG 信号来判断当前是否处于充电状态，如果是充电状态，将被测电容切换入
充电通路进行充电。如果是放电状态，触发充电。 步骤 2 ——触发测试 充电结束后，读 EOC 信号来判断是否当前为测试空闲状态，如果是，将被测电容由充电通路