电阻率测试仪
体积电阻测试仪操作方法
体积电阻测试仪操作方法体积电阻测试仪是一种测量材料体积电阻率的仪器。
它常用于研究和控制导电性材料的电性能，以及评估材料的导电性能。
下面我们将详细介绍体积电阻测试仪的操作方法。
操作前准备：1. 确保体积电阻测试仪的电源已连接，并且电源开关已打开。
2. 检查测试仪的控制面板上各个按钮、旋钮和显示屏的功能是否正常，确保测试仪处于正常工作状态。
3. 检查测试仪的测量电极是否清洁，并且与被测试材料接触良好。
操作步骤：1. 打开仪器的电源，待仪器预热一段时间（通常为几分钟）。
2. 调节仪器的温度控制功能，设置所需的测量温度。
根据实际需求，选择适合的温度范围，并使用仪器的温控旋钮进行调节。
3. 将待测材料（通常是固体材料）放置于测试仪的测量仓中。
仪器通常有两个电极，将材料放置在两个电极之间，并确保材料与电极接触良好。
4. 关闭测量仓的盖子，并通过仪器的控制面板或按钮启动测试程序。
启动后，仪器将开始测量待测材料的体积电阻率。
5. 在测量过程中，仪器的显示屏将显示当前测量温度和电阻值。
待测材料的体积电阻率将根据测量数据进行计算，并显示在显示屏上。
6. 在测量完成后，停止测试程序，并将待测材料从测量仓中取出。
将测量仓内部清洁，以备下次使用。
注意事项：1. 在操作过程中，应严格按照仪器的说明书和操作指南进行操作，避免误操作或错误操作。
2. 测量仪器通常需要预热一段时间，确保仪器稳定工作后再进行测量。
3. 在选择测量温度时，应根据待测材料的实际需求选择适当的温度范围。
4. 在放置待测材料时，应确保材料与电极接触良好，避免接触不良或松动。
5. 在测量过程中，应及时观察仪器的显示屏，确保实时了解测量温度和电阻值的变化。
6. 测量完成后，应及时停止测试程序，并将测量仓清洁干净，以保证下次测量的准确性。
总结：体积电阻测试仪是一种用于测量材料体积电阻率的仪器。
操作时，首先要确保仪器电源连接正常，并进行适当的预热。
之后，根据实际需求设置测量温度，并将待测材料放置在测量仓中。
混凝土电阻率测试标准
混凝土电阻率测试标准一、前言混凝土电阻率测试是混凝土结构材料性能检测中的一个重要内容，它能够反映混凝土的物理性质和电学性能，对混凝土的质量评估、检验和检查具有重要的意义。
本文就混凝土电阻率测试的标准进行详细的介绍。
二、测试仪器混凝土电阻率测试所使用的仪器是电阻率测试仪，它是一种专门用于测量混凝土电阻率的设备。
电阻率测试仪要求满足以下条件：1.精度高：电阻率测试仪的测试精度应达到0.1%以上。
2.稳定性好：电阻率测试仪的测试结果应具有良好的稳定性。
3.可靠性高：电阻率测试仪的测试结果应可靠，且不易受干扰。
4.操作简便：电阻率测试仪的操作应简便易行，且易于掌握。
三、测试方法混凝土电阻率测试的方法主要有两种：针对小样品的测试和针对大样品的测试。
1. 针对小样品的测试（1）测试前准备① 选取代表性的混凝土试块样品，并将其表面清洁干净。
② 测试前应将试块样品放在标准温度下静置24小时以上，以使其达到相对稳定的状态。
③ 在测试前应将电阻率测试仪进行校准。
（2）测试过程① 将电极插入混凝土试块样品中，注意保持电极的稳定。
② 在测试前应进行预处理，并记录下电极的位置及相应的电阻率数值。
③ 测试过程中应保持恒定的电流，且测试时间不宜过长。
（3）测试结果的处理① 测试结束后，应将测试结果进行统计，并计算出平均值。
② 将测试结果与相应的标准值进行比较，以确定混凝土的电阻率是否合格。
2. 针对大样品的测试（1）测试前准备① 选取代表性的混凝土结构样品，并将其表面清洁干净。
② 测试前应将混凝土结构样品进行标记，以便于测试时进行识别。
③ 在测试前应将电阻率测试仪进行校准。
（2）测试过程① 将电极插入混凝土结构样品中，并采用多点测量的方法进行测试。
② 在测试过程中应保持恒定的电流，并采用多次测量的方法来获取更加准确的测试结果。
（3）测试结果的处理① 测试结束后，应将测试结果进行统计，并计算出平均值。
② 将测试结果与相应的标准值进行比较，以确定混凝土结构的电阻率是否合格。
粉末电阻率测试仪原理
粉末电阻率测试仪原理粉末电阻率测试仪是用来测试粉末样品电阻率的一种设备，也被称作“粉末电导率测试仪”。
本文将为你详细介绍该仪器的原理、工作方式以及使用方法。
一、原理电子输运理论认为，物质中的导电行为是由电子的输运过程支配的。
当电场施加在物质中时，会使电子向一个方向移动，从而形成了电流。
对于粉末样品，由于其微观结构的非连续性和颗粒之间的分布不均匀性，导致了其电性能的不均匀性和非线性特性。
因此，需要一种测试方法来准确地测量粉末样品的电阻率，从而帮助我们更好地了解其电性能。
粉末电阻率测试仪采用四探针测量法。
当施加直流电场时，电子在粉末样品中被推动，形成电流流过四个探针，从而测量出样品电阻率。
这种测量方法可以有效地避免测量误差，并且能够准确地测量出低阻率材料的电性能。
二、工作方式粉末电阻率测试仪的工作方式相对简单。
首先，将需要测试的样品装入测试仪的测量室中。
然后，通过电源调节直流电压的大小和方向，施加电场，电流将从四个探针流经样品，通过测量仪器来测量电流和电压值。
最后，通过仪器内部计算程序计算出样品的电阻率。
三、使用方法使用粉末电阻率测试仪需要注意以下几点：1. 在进行测试前，要确保测试仪器与电源连接正确，并且所有相关的探针和测量电路都连接稳定。
2. 将粉末样品均匀地放置在测量室中。
应注意避免粉末样品的聚集和堆积。
3. 设置测试仪器的电压和电流范围。
应根据样品的电性质和测试需求来选择合适的参数，以保证测量的准确性。
4. 开始测试后，应保持室内环境相对稳定，并避免人为因素的影响。
5. 测量完成后，将测试仪器的参数调到初始状态，并将测试室清洗干净，以便下一次使用。
总之，粉末电阻率测试仪是一种非常有效的测试装置，可以用来测试各种不同类型的粉末材料的电性能。
在使用测试仪器时，一定要严格遵守使用规程和注意事项，以确保测试结果的准确性和可靠性。
TRM-100无接触电阻率型号测试仪
TRM-100操作说明产品介绍HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。
无接触式电阻率型号测试仪-产品特点■测试范围广，低阻可测至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm,高阻可测至100ohm.cm■产品体积小，便于移动和携带■采用涡流法测试硅锭、棒、回炉料体电阻率■无接触、无损伤快速测试■测试前无需表面处理■特别对于多晶，能够有效避免晶界对测试的影响■测试范围：0.001-100 ohm.cm (分段测试）■可选加无接触PN型号测试功能■可进行温度和厚度的修正无接触式电阻率型号测试仪-技术指标■ 硅棒硅块可测量电阻率范围：0.001-100Ohm.cm■ 最小测试厚度：200μm■ 测量时间：2秒/次■ 最小测试面积：30x30 mm2■ 推荐使用温度：20℃■ 湿度：≤80%■ 气压：86-106kPa■ 使用电压：230±10V■ 频率，50±3Hz■ 功率消耗：≤5W尺寸（LxWxH ）：280x200x60mm控制按键说明控制按键说明：：白色按键——修改数据时改变小数点位置按键蓝色按键——修改数据时增加按键；测量模式时硅片、硅锭选择按键绿色按键——确认按键；长按则进入厚度和标准硅片电阻率输入模式黄色按键——校准按键（长按进入校准模式）红色按键——测量模式选择按键（选择精确测量模式或者快速测量模式）黑色按键——开始按键（开始测量）蓝色指示灯——测量模式时硅片、硅锭指示灯绿色指示灯——厚度和标准硅片电阻率修订模式的指示灯黄色指示灯——校准模式的指示灯红色指示灯——测量模式选择指示灯操作说明操作说明：：一、 开机连接好主机电源线，按主机后面的电源开关，把主机电源打开，打开后需要预热20分钟分钟才能做接下来的操作。
预热时间不足将可能导致测量结果不准确。
ST2722半导体粉末电阻率测试使用说明
ST2722半导体粉末电阻率测试使用说明一、产品概述ST2722半导体粉末电阻率测试仪是一种用于测量半导体粉末电阻率的专用仪器。
它采用了电阻率测试原理，通过电流和电压的测量，计算出样品的电阻率。
该仪器具有测量精度高、操作简便、稳定可靠的特点，广泛应用于半导体材料研究和生产领域。
二、仪器组成和工作原理1.仪器组成2.工作原理仪器通过电源提供恒定的电流，经样品流过一段时间后，通过电压传感器测量样品两端的电压大小。
通过测量的电压和电流值，计算出样品的电阻率。
三、使用说明1.仪器准备将仪器主机和电源连接好，插上电源线。
连接好电流电压源和电阻计，确保连接稳固、接触良好。
打开电源开关，等待仪器自检通过。
2.样品准备将待测样品粉末放入测试夹具中，注意夹具上的导电接触要与样品完全接触。
夹具安装好后，将测试夹具插入仪器的测试接口中。
3.参数设置使用仪器前需要进行参数设置，包括选择电流大小、测试时间等。
根据待测样品的特性和测试需求，选择合适的参数进行设置。
4.测试操作按下仪器上的测试按钮，仪器会开始工作。
测试过程中，可以实时监测电流和电压的数值变化。
测试完成后，仪器会自动停止并显示测试结果。
5.数据处理仪器可以将测试结果自动保存在数据处理模块中，可以通过连接电脑进行数据传输和处理。
可以将测试结果导出为Excel等格式，方便后续的数据分析和处理工作。
四、注意事项1.使用仪器前，请仔细阅读说明书，了解仪器的工作原理和操作方法。
2.在使用仪器前，请确保仪器的电源和电气连接正常，并处于稳定状态。
3.在进行测试操作前，请仔细检查测试夹具和样品的接触情况，确保导电良好。
4.在测试过程中，请不要随意拔出测试夹具或触碰测试接口，以免引起电击或损坏仪器。
5.在仪器工作过程中，如遇到异常情况，请及时停止测试，并检查故障原因。
以上是ST2722半导体粉末电阻率测试仪的使用说明，希望能帮助您正确地使用该仪器，进行准确的电阻率测试。
如需进一步了解和掌握操作方法，请详细参考仪器的操作手册。
Myron L 6P中文操作说明书(电阻率仪)
一序言感谢您选用麦隆公司最新一代先进的便携式Ultrameter TM6P型多参数水质检测仪。
这款仪器将使您的操作变得非常简单方便。
为了方便起见,在仪器的底部有一简单的介绍及附有一张袖珍卡片，上有仪器的简单操作说明。
注意:电导,电阻和TDS需要校正到250C时的值。
在液晶显示屏的左方,显示KCl,NaCl,442和USER四种类型,他们是用于电导和TDS转换时进行温度校正所选择的对应溶液,溶液类型不同,则相应的温度校正系数不同,以及电导和TDS的转换系数也不同。
溶液的温度高低导致溶液的电导值不一,相应的TDS 值也不一。
一般地,校正溶液的电导时选用KCl,电阻选用NaCl,TDS选用442(自然水)这取决于目前工业发展的水平。
以下是这款原装进口仪器的操作说明。
二操作规范A 操作使用简单1）只需将试样注入一个或多个电极池,就可以读取一个或多个参数值，2）用待测液润洗电导池或pH/ORP电极池三次并重新加液,3）按取要测试的参数键就可以读取参数值,如无按键,则仪器会在15秒后自动关闭，4）读取数值后,要存储该数值,按MS键就可以保存，就这么简单。
B 按键功能1）虽然仪器带有很多的按键,但无论测那一个参数,都只要按取一个键就可以迅速准确的进行测量，2）每个键都有固定程序设计,按一次键,就执行一次程序，3）仪器没有“off”键,在最后一次按键后15秒,仪器自动关闭(在cal模式下,60秒自动关闭)，4）一般情况不需要持续按住一个键,按一下就可以。
C 按键的操作1）一般测试按键区上面五个测试键任意一个都可以开启仪器并选择相应的测试类型进入测试模式.选择的测试类型显示在屏幕的底部,参数的单位显示在右面,如在校准或取消更改设置的模式下,按测试键,同样可以进行测试。
2）电导,RES和TDS这三个键可测试在电导池中的溶液的参数值。
注: i 在加入待测液时,要避免有气泡混入电导池里；ii如发现测试时,溶液的选择类型(KCl,NaCl,442和USER)与所测参数不符,则查看“溶液类型选择”一项选择相应溶液类型。
电阻率测试仪技术参数
电阻率测试仪技术参数
电阻率测试仪是一种广泛应用于电力、电子、锂电池等行业的测试仪器，用于测量材料的电阻率、电导率等参数。
其主要技术参数包括测
量范围、分辨率、准确度、稳定性等。
1. 测量范围：
电阻率测试仪的测量范围通常是根据测量对象来设定的。
不同型号的
电阻率测试仪的测量范围大小不尽相同，常见的测量范围有1×10^-
6Ω·m至1×10^7Ω·m等。
2. 分辨率：
电阻率测试仪的分辨率通常是指其显示的数据在小数点后的有效位数。
一般情况下，分辨率越高，测试结果越精确。
常见的分辨率有
0.0001Ω·m、0.001Ω·m等。
3. 准确度：
电阻率测试仪的准确度通常是指测量结果与实际值之间的差距。
由于
各种因素的影响，电阻率测试仪的准确度往往不是绝对准确的。
通常
情况下，电阻率测试仪的准确度越高，测试结果越可靠。
常见的准确
度有±0.5%、±1%等。
4. 稳定性：
电阻率测试仪的稳定性通常是指测试结果的重复性。
一般情况下，电阻率测试仪的稳定性越高，测试结果越稳定可靠。
常见的稳定性有0.1S、0.2S等。
总之，电阻率测试仪的技术参数对其测试结果的准确性和可靠性都有着重要影响。
在选择电阻率测试仪的时候，应根据需要选择合适的测量范围、分辨率、准确度和稳定性，并尽可能选择知名品牌和品质可靠的产品。
宁夏环路电阻测试仪工作原理
宁夏环路电阻测试仪工作原理
宁夏环路电阻测试仪是一种用于测试金属导体电阻率的设备。
它采用磁性激励技术，能够在不破坏样品的情况下精确测量样品的电阻率和导电率。
下面将详细介绍宁夏环路电阻测试仪的工作原理。
宁夏环路电阻测试仪的工作原理基于电磁感应现象。
当通电线圈在被测试的金属样品周围产生磁场时，样品内部会产生感应电流。
该感应电流会在样品内部形成一个磁场，进而影响线圈中的电流。
通过测量线圈中的电流和电压，可以计算出金属样品的电阻率或导电率。
具体地说，宁夏环路电阻测试仪由四个线圈组成：两个主线圈和两个互感线圈。
主线圈通过一定的电流产生磁场，互感线圈则用于检测样品内部的感应电流。
主线圈和互感线圈之间通过一个样品环路连接。
在测试时，首先将待测样品放置在样品环路中央，然后通过主线圈施加电流，产生磁场。
样品内部的感应电流会在互感线圈中产生电压信号。
根据欧姆定律，电阻率等于电阻乘以截面积和长度的比值。
因此，通过测量线圈中的电流和电压，可以计算出样品的电阻率。
需要注意的是，宁夏环路电阻测试仪只适用于导电性较好的金属材料。
对于非金属材料或导电性较差的金属材料，则需要使用其他测试方法。
宁夏环路电阻测试仪是一种可靠、精确的测试金属样品电阻率和导电率的设备，其工作原理基于电磁感应现象。
在实际应用中，需要根据待测样品的具体情况选择合适的测试方法，以获得准确的测试结果。
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1.综合测试仪 - HS-PSRT
电阻率型号综合测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的硅料,硅棒硅块硅片的电阻率型号测试。
硅料综合测试仪 - 产品特点
■同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。
■仪器采用220V交流电源供电
■拥有较高的电阻率测试分辨率，最小可到0.001 欧姆.厘米”
■能精确的分辨电阻率在0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号
■独立的P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料
■适中的体积和便携性
■操作简单，测试快速
■价格低廉，性价比高
硅料综合测试仪 - 技术指标
■电阻率：0.001～100Ω•cm
■精度：±5%±2LSB）
■电源：AC 220V ± 10% ， 50HZ
■功耗：最大功耗≤1W
硅料综合测试仪- 典型客户
江苏、浙江、广东、湖南湖北、内蒙古、河南等地的CZ直拉单晶及铸锭客户。
2.金属四探针电阻率方阻测试仪
金属四探头电阻率方阻测试仪-产品介绍:
合能阳光的金属四探头电阻率方阻测试仪（HS-MPRT-5）是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器.本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。
它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。
为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。
样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。
因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。
对1～100Ω•cm标准样片的测量偏差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。
金属四探头电阻率方阻测试仪-产品特点
■采用金属探头，游移率小，稳定性高
■仪器采用220V交流电源供电
■适用于西门子法、硅烷法等工艺生产原生多晶硅料的企业
■适用于物理提纯生产多晶硅料生产企业
■适用于光伏拉晶铸锭及IC 半导体器件企业
■具有抗强磁场和抗高频设备的性能
金属四探头电阻率方阻测试仪-技术指标
■电阻率：0.01～199.9Ω•cm
■方块电阻：0.1～1999Ω/口
■直流数字电压表测量范围：0～199.9mv
灵敏度：100μv 准确度：0.2%（±2个字）W
■电源：AC 220V ± 10% ，50HZ•cm
■功耗：最大功耗≤10W ，平均功耗≈ 8W
金属四探头电阻率方阻测试仪-典型用户
北江苏、浙江、广东、湖南湖北、内蒙古、河南等地的CZ直拉单晶及铸锭客户客户无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统
无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统为太阳能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（总厚度变化）TTV、翘曲及无接触电阻率测量功能。
并提供基于TCP/IP的数据传输接口及基于Windows的控制软件，用以进行在线及离线数据管理功能。
无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统 - 产品特点
■使用MTI Instruments独有的推/拉电容探针技术
■每套系统提供最多三个测量通道
■可进行最大、最小、平均厚度测量和TTV测量
■可进行翘曲度测量（需要3探头）
■用激光传感器进行线锯方向和深度监视（可选）
■集成数据采集和电气控制系统
■为工厂测量提供快速以太网通讯接口，速率为每秒5片
■可增加的直线厚度扫描数量
■与现有的硅片处理设备有数字I/O接口
■基于Windows的控制软件提供离线和在线的数据监控
■提供标准及客户定制的探头
■提供基于Windows的动态链接库用于与控制电脑集成
■用涡电流法测量硅片电阻率
无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统- 技术指标
■晶圆硅片测试尺寸：50mm- 300mm.
■厚度测试范围：1.7mm，可扩展到2.5mm.
■测厚度测试精度：+/-0.25um
■ 厚度重复性精度：0.050um
■测量点直径：8mm
■ TTV 测试精度: +/-0.05um
■ TTV重复性精度: 0.050um
■弯曲度测试范围：+/-500um [+/-850um] ■弯曲度测试精度：+/-2.0um
■弯曲度重复性精度：0.750um
■电阻率测量范围：5-2000ohm/sq（0.1-40ohm-cm）
■电阻率测量精度：2%
■电阻率测量重复精度：1%
■晶圆硅片类型：单晶或多晶硅
■材料：Si，GaAs，InP，Ge等几乎所有半导体材料
■可用在：切片后、磨片前、后，蚀刻，抛光以及出厂、入厂质量检测等■平面/缺口：所有的半导体标准平面或缺口
■硅片安装：裸片，蓝宝石/石英基底，黏胶带
■连续5点测量
无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统- 应用范围
■切片
■线锯设置
■ 厚度
■总厚度变化TTV
■监测:导线槽、刀片更换
■ TTV重复性精度: 0.050um
■磨片/刻蚀和抛光
■过程监控
■总厚度变化TTV
■材料去除率
■弯曲度
■翘曲度
■平整度
■研磨
■材料去除率
■最终检测
■硅抽检或全检
■终检厚度
无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统- 典型客户
美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。