第二章 晶体缺陷1.0

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第二章 晶体缺陷

第二章 晶体缺陷

1. 刃型位错
(1)刃型位错(edge dislocation)的产生 刃型位错( 完整晶体滑移的理论剪切强度要远高于实际晶体滑移的对 的理论剪切强度要远高于实际晶体滑移 完整晶体滑移的理论剪切强度要远高于实际晶体滑移的对 应强度,从而促进了位错理论的产生和发展。 应强度,从而促进了位错理论的产生和发展。 刃型位错图示: (2) 刃型位错图示: 刃型位错线:多余半原子面与滑移面的交线。 刃型位错线:多余半原子面与滑移面的交线。 刃型位错特征: (3)刃型位错特征: 刃型位错有一个额外的(多余)半原子面。 ① 刃型位错有一个额外的 ( 多余 ) 半原子面 。 正刃型位 表示,负刃型位错用 表示; 错 用 “⊥” 表示 ,负刃型位错用 “ ┬” 表示 ;其正负只是相 对而言。判断用右手定则:食指指向位错线方向, 对而言。判断用右手定则:食指指向位错线方向, 中指指向 柏氏矢量方向,拇指指向多余半原子面方向。 柏氏矢量方向,拇指指向多余半原子面方向。 ② 刃型位错是 直线 、 折线 或 曲线 。 它与滑移方向 、 柏氏 刃型位错是直线 折线或曲线。它与滑移方向、 直线、 矢量垂直。 矢量垂直。
2.2.2 位错的运动
基本形式: 基本形式:滑移和攀移 滑移( 滑移(slip): 攀移( 攀移(climb): 除滑移和攀移还有交割 交割( 除滑移和攀移还有交割(cross/interaction)和扭折 (kink)
1. 位错的滑移
位错的滑移( 位错的滑移(slipping of disloction): 任何类型的位错均可进行滑移. 任何类型的位错均可进行滑移. 刃位错的滑移过程(教材图3 12) (1) 刃位错的滑移过程 ( 教材图 3.12 ) τ ∥ b 、 b⊥ξ 、 滑 移方向⊥ 单一滑移面。 移方向⊥ ξ、滑移方向∥b,单一滑移面。 螺型位错的滑移过程( 教材图3 13) (2) 螺型位错的滑移过程 ( 教材图 3.13 ) τ ∥ b 、 b ∥ ξ 、 滑移方向 ⊥ ξ 、滑移方向⊥ b ,非单一滑移面 。可发生 交滑移。 交滑移。 混合位错的滑移过程( 教材图3 14) (3) 混合位错的滑移过程 ( 教材图 3.14 ) 沿位错线各点 的法线方向在滑移面上扩展,滑动方向垂直于位错线方向。 的法线方向在滑移面上扩展,滑动方向垂直于位错线方向。 但滑动方向与柏氏矢量有夹角。 但滑动方向与柏氏矢量有夹角。

《晶体缺陷》课件

《晶体缺陷》课件

热稳定性
晶体缺陷可能影响材料在高温下的稳 定性,降低其使用温度范围。
比热容
晶体缺陷可能影响比热容,改变材料 吸收和释放热量的能力。
光学性能的影响
折射率与双折射
光吸收与散射
晶体缺陷可能导致折射率变化和双折射现 象,影响光学性能。
晶体缺陷可能导致光吸收增强或光散射增 加,改变光学透射和反射特性。
荧光与磷光
热电效应
某些晶体缺陷可能导致热电效应增强,影响 热电转换效率。
介电常数
晶体缺陷可能影响介电常数,改变电场分布 和电容。
电阻温度系数
晶体缺陷可能影响电阻温度系数,改变温度 对电阻的影响。
热学性能的影响
热导率变化
晶体缺陷可能降低材料的热导率,影 响热量传递和散热性能。
热膨胀系数
晶体缺陷可能影响热膨胀系数,影响 材料在温度变化下的尺寸稳定性。

韧性下降
晶体缺陷可能导致材料韧性下 降,使其在受到外力时更容易
脆裂。
疲劳性能
晶体缺陷可能影响材料的疲劳 性能,降低其循环载荷承受能
力。
强度与延展性
晶体缺陷可能影响材料的强度 和延展性,从而影响其承载能
力和塑性变形能力。
电学性能的影响
导电性变化
晶体缺陷可能改变材料的导电性,影响其在 电子设备中的应用。
传感器
基于晶体缺陷的原理,可以设计新型传感器,如压力传感 器、温度传感器和气体传感器等,以提高传感器的灵敏度 和稳定性。
在新能源领域中的应用
太阳能电池
在太阳能电池中,可以利用晶体 缺陷来提高光吸收效率和载流子 的收集效率,从而提高太阳能电
池的光电转换效率。
燃料电池
在燃料电池中,可以利用晶体缺陷 来改善电极的催化活性和耐久性, 从而提高燃料电池的性能和稳定性 。

材料科学基础 第2章 晶体缺陷PPT课件

材料科学基础 第2章 晶体缺陷PPT课件

2.2.1.点缺陷的种类及形成
当温度高于绝对零度时,晶体中原子或离 子围绕其平衡位置作热振动;并且晶体中原子 的能量非平均分配,存在热起伏。由于热运动, 晶体中的一些能量足够高的质点离开它的平衡 位置而形成的缺陷称为热缺陷,它是一种本征 缺陷。热缺陷包括肖特基缺陷、弗伦克尔缺陷 和间隙原子。
(1)肖脱基缺陷
kT
[ln(N n) lnn]
平衡时,自由能达到最 小 ,即:
F 0 n T
lnn ln(N n) EV TSf kT
ln n EV Sf N n kT k
当N> > n时:
ln n ln n Nn N
C Aesp EV kT
将上式指数分子分母 同乘以阿伏加德罗常数 6.02×1023,则上式变为:
(3)间隙原子
晶体表面上的原子由于热涨落跳跃进入晶体内部的间隙位 置。这时晶体内部只有间隙原子。
(4)热缺陷形成时的晶格畸变及畸变能
形成缺陷后,不仅使得晶体内部局部位置原有的 规则排列遭到破坏,原子位置发生了变化,而且原有 的作用力也将失去平衡,将引起晶格畸变,产生畸变 能。与空位形成相比,间隙原子引起的畸变能更大, 因此晶体中间隙原子浓度比空位浓度低得多。
2.2.1位错的基本类型和特征
位错是晶体中原子排列的一种特殊组态, 从位错的几何结构看,可分为刃型位错和螺 型位错两种基本类型。另外,混合位错是刃 型位错和螺型位错的混合体。
1.刃型位错
滑移区
半原子面
位错线
滑移面 未滑移区
τ
τ
刃型位错的特征
①刃型位错有一个多余半原子面,根据 额外半原子面在滑移面的上方或下方, 可②④分刃晶为性体正位中刃错产性线生位可韧错理性和解位负为错刃晶之性体后位中,错已位滑错移线周 区围和的未点滑阵移发区生的弹边性界畸线变,,滑既移有线切或应为变, 直又线有,正也应可变能。为在曲畸线变,区但,必原定子垂具直有于较大 ③滑的刃移平型方均位向能错(量滑不。移只就矢是正量一刃)列;型原位子错,,而上是部以为位压 错应线力为,中而心下轴部的为一张个应圆力筒。状负区刃域型,位其错半则 径相一反般。为2~3个原子间距。在此范围内 原子发生严重错排。

材料科学基础 第02章 晶体缺陷课件

材料科学基础  第02章 晶体缺陷课件

第三节 位错的基本概念
一、位错的原子模型
若将上半部分向上移动一个原子间距,之间插入半个原子 面,再按原子的结合方式连接起来,得到和(b)类似排列 方式(转90度),这也是刃型位错。
位错的形式 :
第三节 位错的基本概念
二、柏氏矢量
确定方法: 首先在原子排列基本正常区域作一个包含位错的 回路,也称为柏氏回路,这个回路包含了位错发生的畸变 。然后将同样大小的回路置于理想晶体中,回路当然不可 能封闭,需要一个额外的矢量连接才能封闭,这个矢量就 称为该位错的柏氏(Burgers)矢量。
第一节 材料的实际晶体结构
一、多晶体结构
多晶体:
实际应用的工程材料 中,那怕是一块尺寸很小 材料,绝大多数包含着许 许多多的小晶体,每个小 晶体的内部,晶格位向是 均匀一致的,而各个小晶 体之间,彼此的位向却不 相同。称这种由多个小晶 体组成的晶体结构称之为 “多晶体”。
第一节 材料的实际晶体结构
螺型位错 柏氏矢量与位错线相互平行。(依方向关系可 分左螺和右螺型位错)
混合位错 柏氏矢量与位错线的夹角非0或90度。
柏氏矢量守恒:
①同一位错的柏氏矢量与柏氏回路的大小和走向无关。
②位错不可能终止于晶体的内部,只能到表面、晶界和其他位 错,在位错网的交汇点,必然
第三节 位错的基本概念
三、位错的运动
第三节 位错的基本概念
一、位错的原子模型
若将上半部分向上移动一个原子间距,之间插入半个原子面, 再按原子的结合方式连接起来,得到和(b)类似排列方式(转 90度),这也是刃型位错。
第三节 位错的基本概念
一、位错的原子模型
若将晶体的上半部分向后 移动一个原子间距,再按原子 的结合方式连接起来(c),同样 除分界线附近的一管形区域例 外,其他部ห้องสมุดไป่ตู้基本也都是完好 的晶体。而在分界线的区域形 成一螺旋面,这就是螺型位错 。

第二章 金属晶体的缺陷

第二章 金属晶体的缺陷

应用时需求出空位或间隙原子的形成能。 点缺陷的形成能包括电子能(缺陷对晶体中电 子状态的影响)和畸变能。 空位形成能中,电子能是主要的;间隙原子, 则畸变能使主要的。 在金属晶体中,间隙原子的形成能较空位形成 能高几倍,在通常情况下,晶体中间隙原子数 目甚少,相对于空位可忽略。
3.点缺陷的移动


zz v( xx yy )
xy yx
xz zx yz zy 0
图2-18 刃型位错周围的应力场
3.位错的应变能
晶体中位错的存在引起点阵畸变,导致能量的增高,此 增量称为位错的应变能。 W 1 [ xx xx yy yy zz zz xy xy xz xz yz yz ] (2-4) V 2 Gb b z , z 螺型位错只有切应力分量: 2 r 2 r 1 由式(2-4)得: dW z z dV 而 dV 2 rdr L 2 2 设位错中心区的半径为r0,位错应力场作用半径为R,则: W 2 R Gb dr dW L 0 ( L ) r0 4 r
1)螺型位错应力场
切应变: z
z z

b 2 r
相应的切应力:
Gb G z 2 r
图2-17 螺型位错的 连续介质模型
圆柱体在X、Y方向没有位移:
rr zz r r rz zr 0
2)刃型位错应力场
2.平衡条件下的空位浓度C 晶体中的空位是处在不断产生和消失的过程,以下是应 用统计热力学方法计算平衡条件下的空位浓度。 由热力学知道自由能 F U TS
F nuv T (nS f Sc )
Sc k ln

新大纲材料科学基础第2章 晶体结构缺陷

新大纲材料科学基础第2章  晶体结构缺陷

VV V+
(a)离子晶体中的弗仑克尔缺陷的形 成(空位与间隙质点成对出现) (b)离子晶体中的肖特基缺陷 的形成(正负离子空位对成对出现)
离子晶体中的点缺陷
二、点缺陷的浓度
1、平衡点缺陷(equilibrium point defect)及其浓度
ne c Ae n

Ev kT
ne — 平衡空位数


图2-7
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
点缺陷运动示意图
五、点缺陷对晶体材料性能的影响
一般情形下,点缺陷主要影响晶体的物理性质,如比 容(specific volume)、比热容(specific heat volume)、 电阻率(resistivity)、扩散系数、介电常数等。

1.比容 形成肖特基空位时,原子迁移到晶体表面上的新位 置,导致晶体体积增加。
(b)单质中肖特基缺陷的 形成
V
(c)空位的运动
点缺陷的类型 1-大的置换原子 4-复合空位 2-肖特基空位 5-弗兰克尔空位 3-异类间隙原子 6-小的置换原子
点缺陷类型1
点缺陷类型2

• •
b、间隙原子
定义:处于晶格间隙中的原子即为间隙原子。 在形成弗仑克尔空位的同时,也形成一个间隙原子; 溶质原子挤入溶剂的晶格间隙中后,也称为间隙原子。
surface+OO surfaceMgMg new surface+OO new surface
以零O(naught)代表无缺陷状态,则:
0V
'' Mg
V
.. O
化学平衡方法计算热缺陷浓度
(1)MX2型晶体肖特基缺陷浓度的计算
CaF2晶体形成肖特基缺陷反应方程式为:

材料科学基础-第2章晶体缺陷1


4 atoms/cell n = = 8.47 × 10 22 copper atoms/cm 3 (3.6151 × 10 − 8 cm) 3
15
15
Example 2-1 SOLUTION (Continued) 在室温, T = 25 + 273 = 298 K:
Qν nν = n exp RT = 8.47 × 10 22
11
11
2.1.3 空位与间隙原子的平衡浓度 式(2—7)与阿累尼乌斯的表达很接近,两种过程的本质 是相同的,都是由原子热运动引起的热激活过程。对于化 学反应过程而言,只有当原子(或分子)的能量比平均能量 高出的能量足以克服反应激活能的那部分原子才能参与反 应;对于点缺陷形成而言,只有比平均能量高出缺陷形成 能的那部分原子才能形成点缺陷。所以点缺陷的平衡浓度 点缺陷的平衡浓度 与化学反应速率一样,随温度升高呈指数关系增加。 与化学反应速率一样,随温度升高呈指数关系增加 在一定温度下,存在一个使系统自由能最低的空位浓度, 称为该温度下的空位平衡浓度 空位平衡浓度。空位形成能UV愈小,空 空位平衡浓度 位平衡浓度愈大;温度愈高,空位平衡浓度也愈大。例如 纯Cu在接近熔点1000℃时,空位浓度为10-4 ,而在常 温下(~20℃)空位浓度却只有10-19 。
14
14
例题 2-1 The Effect of Temperature on Vacancy Concentrations
计算铜在室温(25℃)下的)空位数目。假定铜空位形成能Qv,为20,000卡 /mol,铜的晶格常数为0.36151nm。若要使空位浓度增加到室温下空位浓 度的1000倍,需要什么样温度下的热处理?材料常数A为1。 例题 2-1 解答 The lattice parameter of FCC copper is 0.36151 nm. The basis is 1, therefore, the number of copper atoms, or lattice points, per cm3 is:

第二章晶体缺陷


材料科学基础
(5)自由电子及电子空穴 有些情况下,价电子并不一定属于某个特定位置的原子,在 光、电、热的作用下可以在晶体中运动,原固定位置称次自 由电子(符号e/ )。同样可以出现缺少电子,而出现电子空 穴(符号h. ),它也不属于某个特定的原子位置。
(6)带电缺陷 不同价离子之间取代如,Ca2+取代Na+——Ca · Na Ca2+取代Zr4+——Ca”Zr
Cl Na Cl
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材料科学基础
缺陷化学反应表示法
以二元化合物MX为例 大写字母:原子;下标:位置;上标:电荷
名称
正常原子 原子空位 间隙原子 错位缺陷
符号
MM, XX VM, VX Mi, Xi MX, XM
名称
带电缺陷(NaCl) 自由电子 电子空穴
材料科学基础
取代原子 / 杂质原子 • 外来原子进入晶格就成为晶体中的杂质
• 也是一类基本的点缺陷,由于它们改变了晶体的化学成分,
因而被称为化学点缺陷 • 取代原子 —— 杂质原子取代原来晶格中的原子而进入正常 结点的位置 • 间隙式杂质原子 —— 杂质原子进入间隙位置 • 错位原子—— 在AB化合物中,A原子占据B格点位置,或B 原子占据A格点位置
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材料科学基础
第一节
点缺陷
(一)热缺陷,主要是产生了空位和间隙原子; (二)组成缺陷,即掺入了杂质离子(大、小); (三)电子缺陷,电子的能量状态发生了变化; (四)非化学计量结构缺陷,由化合物的非化学 计量引起空位和间隙原子,常伴有电荷的转移。
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晶体缺陷【材料科学基础】


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6
3.点缺陷的形成
晶体点阵中的原子以其平衡结点为中心不停地进 行热振动。随温度升高,振幅增大,振动频率也 增大。 晶体内原子的热振动能量不相同,存在能量起伏。 某些原子振动的能量高到足以克服周围原子的束 缚时,它们将有可能脱离原来的平衡位置,迁移 到一个新的位置,在原来的平衡位置上留下空位。 温度越高,原子脱位的几率越大。

7
离位原子的去处: ¾ 离位原子迁移至表面或晶界时形成的空位— —肖脱基空位; ¾ 离位原子迁移至点阵间隙处所形成的空位— —弗兰克空位; ¾ 离位原子迁移其它空位中,使空位发生移 位,不增加空位数目。

8
4.点缺陷导致一定范围内弹性畸变和能量增加
9
5.空位和间隙原子的形成与温度密切相关: 随温度升高,点缺陷数目增加,称为热缺陷。 6.高温淬火、冷变形加工、高能粒子轰击也可 产生点缺陷 (点缺陷并非都通过原子的热 振动产生)。
第二章 晶体缺陷
1
引言: 完整晶体:原子规则地存在于应在的位置上。 晶体缺陷:实际晶体中偏离理想结构的区域。
2
晶体缺陷分类(按几何特征分):
点缺陷(零维缺陷),在三维空间的各个方向上尺 寸都很小的缺陷。如:空位、间隙原子、杂质、溶 质原子等。 线缺陷(一维缺陷),在一个方向上尺寸较大,另 两个方向上尺寸较小。如:位错。 面缺陷(二维缺陷),在两个方向上尺寸较大,在 另一个方向上尺寸较小。如:晶体表面、晶界、相 界、孪晶界、堆垛层错等。

位错的观察
18
早期对位错观察的例子:
位错的电子显微镜观察 的例子:
氟化锂表面浸蚀出的位错露头 的浸蚀坑
锗晶体中位错的电子显微镜图象
19
GaN晶体中刃位错的高分辨电子显微像

材料科学基础第二章晶体缺陷


金属 Al Ag Cu
α-Fe
Mg
理论切应力
3830 3980 6480 11000 2630
实验值
0.786 0.372 0.490 2.75 0.393
切变模量 24400 25000 40700 68950 16400
21
dislocation
一 般 金 属 的 G=104~105MPa, 理论剪切强 度应为103~104MPa,实际只有1~10MPa 理论强度比实测值大1000倍以上!! 1934年Taylor, Polanyi和Orowan几乎同 时提出晶体中存在易动的缺陷-位错, 借助于位错运动实现塑性变形。
12
设在温度T时,含有N个结点的晶体中形成n个空位, 与无空位晶体相比:
ΔF=n·ΔEV-T·ΔS
ΔS=ΔSC+n·ΔSV
n个空位引入,可能的原子排列方式:Wc

(N
N! n)!n!
利用玻尔兹曼关系SC=k·lnWC,并利用Stiring公式
令: (F ) 0
n T
13.00
12.75
12.50
12.25
Fe的 电 阻 率 随 淬 火 温 度 的 变 化
12.00
200
400
600
800 1000 1200 1400 1600
Tem perature / oC
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2.2位错的基本概念 (1)位错理论产生强化材料的重要手段,但是对于变形的微观过 程、加工硬化等尚不能解释。 滑移带现象。当时,普遍认为金属塑性变形是 晶体刚性滑移的结果,滑移面两侧的晶体借助 于刚性滑动实现变形。 1926年弗兰克尔从刚性模型出发,估计了晶 体的理论强度。
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第二章 晶体缺陷问题2.1.1根据最近邻假设,估算简单立方晶体中一个空位的形成能。

(假定每一个体内原子间的结合能为U 0)答:首先,简单立方晶体中最近邻原子数为6个,形成一个空位断6根键,空位处原子移至晶体表面成键3根,故空位形成能为021U ;而形成空位后周围原子向空位处偏移导致应变能增加,该移动同时导致结合能的增加。

由于该偏移是自发过程,所以能量降低,综上,空位形成能小于021U 。

(参考P184 图6-9)?问题2.1.2自间隙原子的形成能远大于空位形成能。

请从应变能和结合能的角度给予分析。

答:自间隙原子的半径远大于间隙尺寸,因此会引起应变能很大的上升;(结合能?)?问题2.1.3以室温为参考点,去测量纯铜的点阵常数随温度变化率,然后再测量纯铜的线膨胀系数随温度的变化,将两条随温度变化的曲线画在一张图上,你认为200℃一下会怎样?900℃以上的高温有会怎样?答:问题2.1.4 图2-2中的置换原子(黑色)的尺寸画得有些随意。

假定(b)图中黑原子半径比白的小10%,而(c)图中大10%,问哪种情况下基体内的应变能更大些?为什么?如果数据由10%变为0.1%,上述结论会变化吗?为什么? 答:(b )图中应变能更大。

①应变能是由附近白原子点阵常数的变化引起的结合能的改变量。

②由结合能的图像可知,在平衡位置r0左右,曲线并非对称(形变大时非弹性成分的存在)。

产生相同且较大(与0.01%对比着看)的形变时,压缩引起的应变能更大。

若数据仅为0.1%,则看不出差别。

问题2.1.5对于置换固溶体,溶质加入对点阵常数有影响吗?请对溶质原子直径大于溶剂直径的情况予以分析。

答:有影响。

溶质原子直径大于溶剂直径时,溶质原子溶入对周围原子施加压应变,使周围原子远离溶质原子,导致晶格常数增大。

问题2.1.6 Al 2O 3溶入MgO(具有NaCl 结构)中,形成的非禀性点缺陷在正离子的位置,还是相反?答:Al 2O 3溶入MgO 晶体,由于Al 离子是+3价,,而Mg 离子是+2价,所以当两个铝离子取代两个镁离子的位置后,附近的一个镁离子必须空出,形成的非禀性点缺陷在正离子的位置。

问题2.1.7当CaO 溶入立方ZrO 2时,随着溶入量的增加,ZrO 2固溶体的密度会发生什么样的变化?为什么?答:溶入量增加密度降低;因为Ca2+替换Zr4+影响了电中性,会形成非禀性点缺陷,从而使密度降低。

问题2.1.8 图2-3(a)的画法有些问题。

更好的画法是将图中的大小方块画在一起,即正负离子空位成对出现(参见余永宁“材料科学基础”图6-5)。

为什么成对的画法更好些?答:因为①正、负电中心成对出现的时候,满足局部电中性。

②正、负电中心有相互吸引作用,离得越远,系统能量越高。

因此,正负离子空位成对出现时,使系统自由能降低,是自发过程。

问题2.1.9 MgO 、CaO 都具有NaCl 结构,但两者之间的互相溶解度很小,请给予解释。

提示:(1)Ca 的离子半径为0.106nm ;Mg 的离子半径为0.078nm (2)CaO –MgO 构成典型的共晶相图。

见第一章问题1.5.8问题2.1.10空位浓度与金属的导电率有什么关系?问题2.1.11 如何理解S T U G ∆-∆=∆中的负号?答:在自然界中,物质的运动都趋于Gibbs 能减少,混乱度增加(即熵增加),可见ΔG 的增加与ΔS 的增加是两个相反的基本趋势,因此应取负号。

问题2.1.12 式S T U G ∆-∆=∆中的∆表示变化,而物理化学的变化一定涉及起始状态与终了状态的概念。

请具体指出这一小节中起始状态与终了状态的含义,即举例说明。

注意,这个问题看似简单,但非常重要。

答:在这一小节中的起始状态是“理想晶体”,而终了状态是“存在n 个空位的晶体”。

例如,对Al 2O 3溶入MgO(具有NaCl 结构)中,形成的非禀性点缺陷,起始状态是晶体理想结构,终了状态是铝离子取代镁离子后,有正离子空位产生,形成有点缺陷的离子晶体结构。

问题2.1.13 高温下有可能产生空位对,即两个空位复合在一起。

为什么会有这种情况?注意,要结合低温的情形进行全面的分析。

答:①从能量角度:复合形成空位对会导致结合能降低(断键数减少),应变能升高(空位变大使周围原子偏离平衡位置更多),总体来看能量升高;②从熵的角度:在高温下,熵起主导作用。

当高温时,空位浓度(n)非常大,而组态数n NC 在n 较大时变化小,因此空位复合后空位数的减少对于剩余单个空位组态数的影响较小。

而另一方面,空位复合引起了空位形式种类的增加,当将其与单个空位再次组合时,使得总独立组态数的增加很多,即总体上看熵是增大的,自由能减小,是自发过程。

(以“牺牲数量”来换取熵的增加)问题2.1.14 金属的空位形成能与其熔点有何关系?为什么?答:金属的空位形成能越大,熔点越高。

因为空位的形成能是原子在体内的总结合键能与表面之差(问题2.1.1),因此结合能越高,空位形成能越大。

而另一方面,结合能越大,原子间结合得越牢固,越难以融化,即熔点越高。

问题2.1.15 Ge 晶体从600℃降低到300℃时,平衡空位浓度降低了6个数量级,计算Ge 的空位形成能。

问题2.1.16 当式2-3中的e C 超过怎样的数值,你认为该式就不适用了?答:超过10%,该式不再适用。

在e C 计算过程中,其假设空位形成能为常数,这就要求各个空位在形成过程中,相互独立,无影响,这在空位浓度较低时才能近似满足。

因此该式仅适用于空位浓度较低的情况,大约在1%~10%之间。

问题2.1.17 “高能粒子辐照”几个字中,高能粒子除能量高外有无别的隐性含义? 答:高能粒子受散射小,穿透能力强,能够深入材料内部,形成足够的空位浓度。

问题2.1.18 点缺陷存在会增加材料的比热容。

请予以解释。

问题2.1.19 什么是振动熵?理想晶体中的振动熵与含空位的振动熵有什么差异?参考:3ln v kT S Nk hv=。

答:1、振动熵是指由于不同原子振动形式的多样性而造成的独立微观状态数。

2、在简谐近似下,晶格原子的振动可以用一系列简谐振子来描述。

对于谐振子有,⎪⎭⎫ ⎝⎛+=21n E n ω 且m βω=。

在含空位的晶体中劲度系数(恢复力常数)β比较小,因此含空位晶体中能级差ω (即νh )小于理想晶体。

可从两个角度来看:①由振动熵公式可知,Sv (理想晶体)< Sv (含空位晶体)。

②从物理上理解,当温度一定时,总能量一定。

而又由于理想晶体中νh 大于含空位晶体中的νh ,因此理想晶体中声子数小于含空位晶体,即振动形式少于含空位晶体,也就是Sv (理想晶体)< Sv (含空位晶体)。

问题2.1.20 考虑了振动熵概念之后,平衡空位浓度增加,即A 是大于1的,为什么? 答:由下图可见,当考虑了振动熵之后,S T ∆-曲线应该向下移,平衡处与之抗衡的U ∆也应该相应增大,则由图可见,平衡空位浓度'e n 增加,即A 是大于1的。

(熵的作用能力越强,越易于空位的形成)?问题2.1.21 图2-5中,代表S T ∆-的曲线在原点附近下降得特别快(与代表U ∆=nu v 的曲线对比)。

这一现象说明了什么?答:空位浓度很小时,组态数在n 较小时变化很大,多增加一个空位S T ∆-比U ∆更大。

问题2.1.22 “由于自间隙原子的形成能是空位形成能的几倍,实际晶体中的空位浓度远大于自间隙原子浓度”,这句话可以理解为“自间隙原子现象可以忽略不计”吗?请给予说明。

答:可以。

自间隙原子的形成能是空位形成能的几倍,但由⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-==T k u N n C e e B v exp 可知,其是以指数的形式影响着浓度的变化,因此空位浓度远大于自间隙原子,自间隙原子现象可以忽略不计。

问题2.1.23 NaCl 与MgO 的结构相同,但肖脱基缺陷形成能分别为2.2eV/个与6eV/个。

1.为什么数据差异如此之大?2.请根据这两个数据对它们的肖脱基缺陷的浓度情况做出判断。

答:1、肖脱基缺陷形成能与结合能成正比。

NaCl 与MgO 晶体都是通过离子键相结合的离子晶体。

而在材料物理基础的离子结合一节中,我们可以得知,离子键是由正、负离子通过库仑力而形成的,其平衡时晶体结合能∝-+Z Z 。

而Na 和Cl 离子为一价离子,Mg 与O 离子均为二价离子,因此MgO 的结合能大于NaCl ,即肖脱基缺陷形成能前者大得多。

2、肖脱基形成能越大,越难以形成,因此NaCl 中肖脱基缺陷的浓度大于MgO 。

问题2.2.1略。

仍为晶体。

问题2.2.2 有一个位错环(即位错线呈环状)存在于某一晶面内,该位错环的各个部分可能都是刃位错吗?可能都是螺位错吗?为什么?答:可能是刃位错,一定不是螺位错。

因为①刃位错的伯氏矢量垂直于位错线,而螺位错的伯氏矢量平行于位错线。

②同一根位错线上的伯氏矢量相同。

所以显见,对于位错环容易做到各处伯氏矢量垂直于位错线,而各处都平行于位错环(如图,当A 处为螺位错,B 处为刃位错,)却无法办到。

问题2.2.3位错对材料的密度有何影响?答:(1):刃位错会使材料的密度降低;虽然(正刃位错)位错线上方受压应力,α下降,下方受拉应力,α升高,但是由于压应变能量大于拉应变,因此拉应变的程度更大,所以材料密度降低。

(2)螺位错不影响材料的密度。

因为螺位错只产生剪切应力,剪切应力体现在原子间角度的变化,没有晶格常数的变化。

?问题2.2.4刃位错也可以看成是下半个原子面被抽取后,再合起来所致。

请说明合起来之前的能量,高于合起来之后(即形成刃位错)的能量。

注意,合起来的过程中,前后物质没有变化。

答:合起来以后结合能变小而应变能变大,且结合能的变化大于应变能的变化,因此合起来之前的能量高于合起来之后的能量。

(见余永宁教材 沃特兰函数)问题2.3.1 从几何的角度分析,为什么刃位错中的x σ总是大于y σ。

参考图2-6。

答:从图2-5可见,插入半原子面后在x 方向上晶格常数发生了明显的压缩预拉伸,而y 方向上则几乎无变化。

问题2.3.2 从几何的角度分析,为什么刃位错中的0==zx yz ττ。

参考图2-6。

答:参看图2-5,想象纵向劈开该晶体,从侧面观察露出来的晶面,原子间角度无变化,因此yz τ=0,同理可得zx τ=0.问题*从几何的角度分析,为什么在刃位错中,当y x =或0x =时,0xy τ=。

参考图2-6。

答:参看图2-6可见,在y x =和0x =方向上,原子间角度无变化,因此0xy τ=。

问题2.3.3 从几何的角度分析,为什么在刃位错中,当y >0时,0x σ<;当y <0时,0x σ>。

参考图2-5。

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