XRD复习题(部分答案)
XRD考试题库及答案
XRD考试题库及答案1. 什么是X射线衍射（XRD）？A. 一种用于测量材料硬度的技术B. 一种用于分析材料微观结构的技术C. 一种用于测量材料密度的技术D. 一种用于测量材料导电性的方法答案：B2. XRD技术中，布拉格定律的公式是什么？A. \( n\lambda = 2d\sin\theta \)B. \( n\lambda = d\sin\theta \)C. \( n\lambda = d\cos\theta \)D. \( n\lambda = 2d\cos\theta \)答案：A3. 在XRD分析中，衍射峰的强度与哪些因素有关？A. 晶粒大小B. 晶体的取向C. 样品的厚度D. 所有以上因素答案：D4. 什么是XRD图谱中的2θ角？A. 入射X射线与样品表面的角度B. 衍射X射线与样品表面的角度C. 入射X射线与衍射X射线之间的角度D. 样品旋转的角度答案：C5. XRD图谱中，衍射峰的宽度与哪些因素有关？A. 晶粒大小B. 应力C. 样品的纯度D. 所有以上因素答案：D6. 如何通过XRD图谱确定晶体的晶格类型？A. 通过衍射峰的位置B. 通过衍射峰的强度C. 通过衍射峰的形状D. 通过衍射峰的宽度答案：A7. XRD分析中，如果样品是非晶态的，会观察到什么现象？A. 没有衍射峰B. 出现宽的漫反射峰C. 出现尖锐的衍射峰D. 衍射峰的位置会移动答案：B8. 在XRD分析中，如果样品中存在多种晶体结构，图谱中会如何显示？A. 出现多个尖锐的衍射峰B. 出现多个宽的漫反射峰C. 衍射峰的位置会重叠D. 衍射峰的强度会减弱答案：A9. XRD分析中，样品的制备对分析结果有何影响？A. 样品的表面粗糙度会影响衍射峰的强度B. 样品的厚度会影响衍射峰的强度C. 样品的取向会影响衍射峰的位置D. 所有以上因素都会影响分析结果答案：D10. XRD分析中，如何校准仪器以确保分析结果的准确性？A. 使用已知晶体结构的标准样品进行校准B. 调整仪器的电压和电流C. 更换X射线管D. 清洁仪器的表面答案：A结束语：通过以上题目及答案，可以对XRD技术有一个基本的了解和掌握。
XRD复习题(打印)第一个老师的作业
X射线衍射复习题习题一1．名词解释：相干散射（汤姆逊散射）：散射波的波长和频率与入射波完全相同，新的散射波之间将可以发生相互干涉-----相干散射不相干散射（康普顿散射）：散射辐射的波长λ₂应要比入射光束的波长λ₁长，波长的增量Δλ取决于散射角α，散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的，称之为非相干散射。
荧光辐射：能量较高的光子和原子作用后，转变为较低能量的光子时所发生的辐射。
俄歇效应：原子发射的一个电子导致另一个或多个电子（俄歇电子）被发射出来而非辐射X射线（不能用光电效应解释），使原子、分子成为高阶离子的物理现象，是伴随一个电子能量降低的同时，另一个（或多个）电子能量增高的跃迁过程吸收限：物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增大而增加至某一限度即骤然增大。
3．若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？4．讨论下列各组概念中二者之间的关系：1）同一物质的吸收谱和发射谱；答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。
任何材料对X 射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。
如 Ni 的吸收限为0.14869 nm。
也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。
而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。
Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。
5．为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。
7．欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？答：欲使Cu样品产生荧光X射线辐射，V =1240/λCu=1240/0.15418=8042，V =1240/λCu=1240/0.1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0.15418nm8．X射线的本质是什么？10．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片。
国科大XRD作业参考答案
X 射线晶体学作业参考答案第三章：晶体结构与空间点阵1. 六角晶系的晶面指数一般写成四个(h k -h-k l )，但在衍射的计算和处理软件中，仍然用三个基矢(hkl )。
计算出六角晶系的倒格基矢，并写出六角晶系的两个晶面之间的夹角的表达式。
已知六角晶系的基矢为解：根据倒格子的定义式，计算可得：()ka c jac b ji ac a 2***323Ω=Ω=+Ω=πππ任意两个晶面(hkl)和(h ’k ’l ’)的晶面夹角θ是：()()()()22222222222222222222222222'''''''3''''434'3)''(2)''(4'3''''434'3)'2')(2('3arccos l a k k h h c l a k hk h c ll a k h hk c kk hh c l a k k h h c l a k hk h c ll a k h k h c hh c G G G G l k h hkl l k h hkl +++⨯+++++++=+++⨯+++++++=⎪⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛∙= θ2. 分别以晶格常数为单位和以实际大小写出SrTiO 3晶胞中各离子的坐标，并计算SrTiO3的质量密度和电子数密度。
解：Sr 原子量87.62，电子数38；Ti 原子量47.9，电子数22；O 原子量15.999，电子数8 （数据取自国际衍射数据中心）。
质量密度： -2733330(87.6247.915.9993) 1.6610 5.11610/3.90510kg m -++⨯⨯⨯=⨯⨯ kc c j i a b i a a =+-==)2321(电子数密度：3031033822831.41110(3.90510)m --++⨯=⨯⨯3.*为什么位错不能终止于晶体内部？请说明原因。
材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析)
8. 什么是弱束暗场像？与中心暗场像有何不同？试用Ewald图解说明。
答：弱束暗场像是通过入射束倾斜，使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑，透射束和其他衍射束都被挡掉，利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。
与中心暗场像不同的是，中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像，即除直射束外只有一个强的衍射束，而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像，采用很大的偏离参量s。
中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件，衍射强度较强，而弱束暗场像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像，衍射束强度很弱。
采用弱束暗场像，完整区域的衍射束强度极弱，而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射，形成高分辨率的缺陷图像。
图：PPT透射电子显微技术1页10. 透射电子显微成像中，层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同？用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来？答：由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同，则层错区和与相邻区域形成了不同的衬度，相应地出现均匀的亮线和暗线，由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同，故所有亮线和暗线的衬度分别相同。
层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间距条纹。
孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同，或者还由于点阵类型不同，一边的晶体处于双光束条件时，另一边的衍射条件不可能是完全相同的，也可能是处于无强衍射的情况，就相当于出现等厚条纹，所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹，不同的是孪晶界是一条直线，而晶界不是直线。
反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。
层错条纹平行线直线间距相等反相畴界非平行线非直线间距不等孪晶界条纹平行线直线间距不等晶界条纹平行线非直线间距不等11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。
形成衍射衬度像和相位衬度像时，物镜在聚焦方面有何不同？为什么？答：质厚衬度：入射电子透过非晶样品时，由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异，导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同，对应各个区域的图像的明暗不同，形成的衬度。
南开大学材料学院结构分析课后题答案(XRD、中子衍射、电子衍射)
结构分析唐老师部分作业汇总第一次作业1、请写出晶体的定义。
试说明什么是单晶体?什么是多晶体？定义：质点（原子、离子或分子)在空间按一定规律周期性重复排列构成的固体物质。
基本为一个空间点阵所贯穿的整块固体称单晶体，简称单晶；由许多小单晶按不同取向聚集形成的固体称多晶。
2、晶格与点阵是何关系?晶体结构与点阵、结构基元是何关系？原子参数与阵点坐标是何关系？晶体是由原子、离子或分子在空间按一定规律周期性重复地排列所构成的固体物质，将其中周期性排列的重复单元抽象成在空间以同样周期性排列的相同几何点,这些点所构成的阵列称为点阵（lattice)，或空间点阵、空间格子。
沿三个不同的方向，通过点阵中的点阵点可以作许多平行的直线族和平行的晶面族，使点阵形成三维网格。
这些将点阵点全部包括在其中的网格称为晶格.带有原子、离子、分子或其集团的点阵就是晶格。
晶体结构= 点阵+ 结构基元对于点阵点坐标和原子参数，它们对于3个坐标轴的方向是相同的，但是点阵点坐标的度量单位是点阵周期，而原子参数的度量单位是晶胞参数.3、晶体的晶胞类型共分为哪几种？空间格子（点阵)可分为几类？每一类晶系各有多少种空间点阵格子形式?请分别写出.晶胞是描述晶体微观结构的基本单元,有素晶胞和复晶胞之分。
如果点阵点都处于平行六面体的顶点,每个平行六面体只有一个点阵点，此空间格子称为素格子,以P表示；如果体心还有点阵点，则此空间格子称为体心格子，以I表示；如果所有平面格子中心有点阵点，则称为面心格子，以F表示;如果仅一对相对的平面格子中心有点阵点，则此空间格子称为底心格子,视相对面位置分别以A, B或C表示。
晶体分为7个晶系(立方、六方、四方、三方、正交、单斜和三斜），依据特征对称元素和正当点阵单位的划分规则,晶体的点阵分为14种空间点阵型式：简立方(cP)、体心立方（cI）、面心立方(cF)、简六方（hP)、简四方（tP)、体心四方(tI）、R心六方(hR)、简正交(oP)、C心正交(oC)、体心正交（oI)、面心正交（oF）、简单斜(mP)、C心单斜（mC）和简三斜(aP)）。
XRD思考题
XRD思考题思考题1.六⾓结构的晶体内在的择优⽣长沿着什么⽅向？2.除了结构缺陷和应⼒等因素外，为什么粒径越⼩，衍射峰越宽？3.XRD衍射强度和峰的宽度与样品颗粒⼤⼩，还是与晶体颗粒⼤⼩有关？4.XRD峰整体向右偏移是什么原因造成的？5.X射线衍射的基本原理是什么？6.证明：X射线衍射产⽣的条件：d≥λ/27.从布拉格公式说明在什么⾓度范围内测量粉末相XRD能得到⽐较精确的格⼦常数值。
为什么X射线有时⽆法确定晶体的确切空间群？8.X射线波长的选择过程中应注意什么？为什么?9.XRD定量分析中最⼤的障碍之⼀是测试强度和理论强度不⼀致，其主要原因有哪些？内应⼒分类？10.精修时，粉末样品制备需注意什么？11.物相定量分析的原理是什么？试述⽤K值法进⾏物相定量分析的过程。
12.什么是Rietveld全谱拟合结构精修？该⽅法修能解决材料中哪些结构问题？F的物理意义。
结构因数与哪些因素有关系? 13.试述原⼦散射因数f和结构因数2HKL分析题1.Ce离⼦是发光材料经常使⽤的发光中⼼之⼀，主要是利⽤Ce3+离⼦的5d-4f跃迁宽带发光，然⽽，Ce的＋4价态（Ce4+离⼦）同样可以稳定存在。
现假定可以提供⼀批Ce取代的YBO3产物，能否直接利⽤粉末衍射技术判断化合物中Ce的价态？要提⾼精确度有什么建议？2.理论上XRD谱图具有指纹效应——不同化合物的谱图不同，但实际上在物相分析时却经常出错，请举例⼦说明会出错的情况，并且根据布拉格⽅程提出改善的办法。
3. 已知⽴⽅Yb3Ga5O12的晶胞参数a=12.19886(6)?和XRD图谱寻峰后的前5条峰的d值和强度，求它们的⾯指数。
h k l mult d_hkl(A) 2theta(deg)1 24 4.98016 17.7962 12 4.31295 20.5773 48 3.26028 27.3334 6 3.04972 29.2615 24 2.72775 32.8064. α-Fe属于体⼼⽴⽅，a=0.2866nm，欲对其进⾏X射线衍射分析，射线源的阳极靶材应如何选择？5. GaS晶体具有NaCl型结构（a）在100、110、111、200、210、211、220、222衍射中哪些是允许的。
XRD作业1-标准答案
XRD作业1-标准答案一、电子束与样品作用1 为什么电子显微分析方法在材料研究中非常有用？电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生各种物理信号，分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成。
与其他的形貌、结构和化学组成分析方法相比，具有以下特点：1）具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、结构和化学成分。
2）为一种微区分析方法，具有很高的分辨率达到0.2—-0.3nm(TEM)，可直接分辨原子，能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析。
3）各种仪器日益向多功能、综合性方向发展。
电子显微镜用于电子作光源，波长很短，且用电磁透镜聚焦，显著提高了分辨率，比光学显微镜提高了1000倍，可以对很小范围内的区域进行电子像、晶体结构、化学成分分析研究；样品不必复制，直接进行观察，可以观察试样表面形貌，试样内部的组织与成分。
综上所诉，所以电子显微分析方法在材料研究中非常有用。
另一个较好的答案：答：因为电子显微分析能够1）观察材料的表面形貌；2）可以用来研究样品的晶体结构和晶体取向分布；3）可以进行能固体能谱分析。
以上三个方面对于研究材料的性能与微观组织和成分的关系有很大的帮助。
另一个较好的答案：电子显微分析技术采用电子束代替传统的可见作为光源，其波长很小，因此相对于可见光，它的分辨率更高，可以观察更微小的物质，便于分析；同时SEM对于容易制样，同时也可以在不损坏样品的情况下观测和分析样品的形貌，配合能谱仪等探针还可以对其化学成分进行分析，因此在材料研究中非常有用。
2. 电子与样品作用产生的信号是如何被利用的？扫描电镜利用了那几个信号？高能电子束与试样物质相互作用，产生各种信号，这些信号被相应的接收器接收，经过放大器和处理后，可以获得样品成分和内部结构的丰富信息。
背散射电子和二次电子主要应用于扫描电镜；透射电子用于透射电镜；特征X射线可应用于能谱仪，电子探针等；俄歇电子可应用于俄歇电子能谱仪。
吸收电子也可应用于扫描电镜，形成吸收电子像。
xrd-sem等材料分析方法试题库.
材料现代分析方法试题库一、填空1、第一个发现X射线的科学家是，第一个进行X射线衍射实验的科学家是。
2、X射线的本质是，其波长为。
3、X射线本质上是一种______________，它既具有_____________性，又具有____________性，X射线衍射分析是利用了它的__ ____________。
4、特征X射线的波长与和无关。
而与有关。
5、X射线一方面具有波动性，表现为具有一定的，另一方面又具有粒子性，体现为具有一定的，二者之间的关系为。
6、莫塞来定律反映了材料产生的与其的关系。
7、从X射线管射出的X射线谱通常包括和。
8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类X射线，它们是_____________和_____________，其中在X射线粉末衍射中采用的是____ _______ 。
9、特征X射线是由元素原子中___________引起的，因此各元素都有特定的___________和___________电压，特征谱与原子序数之间服从_____ ______定律。
10、同一元素的入Kα1、入Kα2、入Kβ的相对大小依次为___________；能量从小到大的顺序是_______________。
(注：用不等式标出)11、X射线通过物质时，部分X射线将改变它们前进的方向，即发生散射现象。
X射线的散射包括两种：和。
12、hu+kv+lw=0关系式称为______________ ,若晶面(hkl)和晶向[uvw]满足该关系式，表明__________________________________ 。
15、倒易点阵是由晶体点阵按照式中，为倒易点阵基矢，为正点阵基矢的对应关系建立的空间点阵。
在这个倒易点阵中，倒易矢量的坐标表达式为，其基本性质为。
14、X射线在晶体中产生衍射时，其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线方位间的关系可用_ _____ ______、____ ___________、________________和____________________四种方法来表达。
XRD一班部分参考答案
ＸＲＤ一班部分参考答案要求：每个班的同学请完成规定作业中的至少6个题。
作业成绩将作为平时成绩的一部分。
由于网课程软件今年初次使用，问题较多，尤其是涉及版式的变化，所以本部分作业请提交纸质版给族老师。
注意：答案仅供参考1、用铜靶X射线照射纯铜样，已知Cu的K系激发电压为V k=8.86KV, CuKα波长λ=0.1542nm，请解答下列问题：（1）CuKα光子的频率和能量各有多大？已知光速c=2.998×108m / s，普朗克常数h=6.626×10－34 J·s（2）当管电压分别取7.0 KV和14.0 KV时，所产生的X射线谱有何差别（绘图示意并说明之）？（3）对铜试样来说，在以上两种入射线照射下，是否会激发出K系荧光X射线? 为什么?4.由A、B二元素组成的某种合金固溶体为体心正方晶格结构，平均原子浓度比为1：1，在完全有序化时, A原子占据正方晶胞的顶角, 而B原子占据体心位置, 试计算其结构因数F HKL.5、能否用一个元素的K α标识射线激发本元素的二次标识射线（荧光辐射）K α？用本元素的K β标识射线去激发行不行？为什么？说明理由。
用一个元素的K α标识射线激发本元素的二次标识射线（荧光辐射）L α是否可以？根据本题的计算，讨论说明激发二次标识射线的必要和充分条件。
；而其他情况下，相差，于是各个电子的散射波无位，这时时，每个的函数，当也是一般说来，振幅一个电子的相干散射波振幅一个原子的相干散射波原子散射因子为：射线能力的大小，定义为了表征原子散射Z f Z f f E E f X ZE E j ea ea 〈=====≤00sin ϕθλθ9．多晶体衍射的积分强度表示什么？今有一张用CuK α摄得的钨（体心立方）的德拜图相，试计算出头4根线的相对积分强度（不计算A （θ）和e -2M ，以最强线的强度为100）。
头4根线的θ值如下：线 条 θ1 20.202 29.203 36.704 43.60答：多晶体衍射的积分强度表示晶体结构与实验条件对衍射强度影响的总和。
XRD复习题(打印)第一个老师的作业.doc
X射线衍射复习题习题1.名词解释：相干散射（汤姆逊散射）：散射波的波长和频率与入射波完全相同，新的散射波之间将可以发生相互干涉——相干散射不相干散射（康普顿散射）：散射辐射的波长A 2应耍比入射光束的波长A，长，波长的增量A X取决于散射角ci，散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的，称之为非相干散射。
荧光辐射：能量较高的光子和原子作用后,转变为较低能量的光子时所发生的辐射。
俄歇效应：原子发射的一个电子导致另一个或多个电子（俄歇电子）被发射出来而非辐射X射线（不能用光电效应解释），使原子、分子成为高阶离子的物理现象，是伴随一个电子能量降低的同时，另一个（或多个）电子能量增高的跃迁过程置］物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增大而增加至某一限度即骤然增大。
3.若X射线管的额定功率为1.5kW,在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？4.讨论下列各组概念中二者之间的关系：1）同一物质的吸收谱和发射谱；答：入k吸收〈Akf3发則‘〈入ka发射2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
答：入k P发射（靶）＜Xk吸收（滤波片）＜入k a发射（靶）Q任何材料对X 射线的吸收都有一个Ka线和KP线。
如Ni的吸收限为0. 14869 nm。
也就是说它对0. 14869™波长及稍短波长的X射线冇强烈的吸收。
而对比0. 14869稍长的X 射线吸收很小。
Cu 靶X 射线:Ka=0. 15418nm K P =0. 13922nm。
5.为使Cti靶的K。
线透射系数是K…线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。
7.欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？答：欲使Cu样品产生荧光X射线辐射，=1240/入Cu=1240/0.15418=8042,V =1240/入Cu=1240/0. 1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0. 15418nm 8. X射线的本质是什么？10. 实验屮选择X 射线管以及滤波片的原则是什么？己知一个以Fc 为主要成分 的样品，试选择合适的X 射线管和合适的滤波片。
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X射线衍射复习题
习题一
1．名词解释：相干散射（汤姆逊散射）、不相干散射（康普顿散射）、荧光辐射、俄歇效应、吸收限、俄歇效应。
3．若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？
4．讨论下列各组概念中二者之间的关系：
1）同一物质的吸收谱和发射谱；
答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射
2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。
任何材料对X 射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。
如 Ni 的吸收限为0.14869 nm。
也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。
而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。
Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。
5．为使Cu靶的K
β线透射系数是K
α
线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。
7．欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？
答：欲使Cu样品产生荧光X射线辐射，
V =1240/λCu=1240/0.15418=8042，V =1240/λCu=1240/0.1392218=8907
激发出荧光辐射的波长是0.15418nm
8．X射线的本质是什么？
10．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片。
11．计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X射线振动频率和能量。
12．为使CuKα的强度衰减1/2，需要多厚的Ni滤波片？（Ni的密度为
8.90）。
15．X射线实验室用防护铅屏，若其厚度为1mm，试计算其对CuK
α、MoK
α
辐射的
透射因子（I
透射/I
入射
）各为多少？
习 题 二 1．名词解释：晶面指数与晶向指数、晶带、干涉面、X 射线散射、衍射与反射
3．下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（12-3），（100），（200），（-311），（121），（111），（-210），（220），（130），（030），（2-21），（110）。
4．证明（011-）、（121-）、（213-
）晶面属于[111]晶带。
5．判别下列哪些晶面属于[-111]晶带：（-1-10），（-2-31），（231），（211），（-101），（1-33），（1-12），（1-32），（0-11），（212）。
、 答：（0）（1）、（211）、（12）、（01）、（01）晶面属于[
11]晶带，因为它们符合晶带定律：hu+kv+lw=0。
答：（
0）（1）、（211）、（12）、（01）、（01）晶面属于[11]晶带，因为它们符合晶带定律：hu+kv+lw=0。
8．试述布拉格公式2dHKLsinθ=λ中各参数的含义，以及该公式有哪些应用？
9．试述获取衍射花样的三种基本方法？它们的应用有何不同？
10．当X射线在原子例上发射时，相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍，则此方向上必然不存在放射，为什么？
11．当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？
12．“一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”，此种说法是否正确？
习题三
1．名词解释：结构因子、多重因子、罗仑兹因子、系统消光
2．原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？
4．洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几个方面考虑而得出的？
答：洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。
洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。
5．多重性因数的物理意义是什么？某立方系晶体，其{100}的多重性因数是多少？如该晶体转变成四方晶系，这个晶面族的多重性因数会发生什么变化？为什么？
8．对于晶粒直径分别为100，75，50，25nm的粉末衍射图形，请计算由于晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度B。
（设θ=45°，λ=0.15nm）。
对于晶粒直径为25nm的粉末，试计算：θ=10°、45°、80°时的B值。