平板探测器知识
平板探测器的原理及应用
平板探测器的原理及应用1. 简介平板探测器是一种常用于科学研究和工业应用的探测器，其原理基于能量的转换和信号的放大，可以实现对多种物理量或信号的检测和测量。
本文将介绍平板探测器的原理和应用领域。
2. 原理平板探测器的工作原理基于能量的转换，通过将被测量的物理量转换为电荷或电压信号来实现信号的采集和处理。
2.1 材料选择平板探测器的材料选择非常重要，常见的材料有硅(Si)、镓(GaAs)、硅锗(Ge)等。
这些材料具有良好的导电性能和较高的灵敏度，能够实现高效的能量转换。
2.2 结构设计平板探测器通常由P型半导体和N型半导体组成的PN结构构成。
当外加电压施加于其上时，形成电场，当有质子或光子等粒子进入探测器时，引起PN结内的电离和电荷产生。
这些电荷会在电场的驱动下漂移至电极，产生电流或电压信号。
3. 应用领域平板探测器由于其灵敏度高、响应快等特点，在许多领域得到广泛应用。
3.1 核物理平板探测器在核物理研究中扮演着重要角色，因为它能够探测到高能粒子、射线等。
在核物理实验中，平板探测器可以用于测量实验样品中的粒子能谱、运动轨迹以及粒子的电荷和能量等信息。
3.2 生命科学在生命科学研究中，平板探测器可用于细胞测量、蛋白质分析，甚至用于药物研发和基因检测等领域。
平板探测器能够提供准确的数据，并帮助科学家更好地了解生命现象。
3.3 材料科学平板探测器在材料科学中被广泛应用于材料分析和性能测试等。
通过对材料中的粒子进行测量和分析，可以评估材料的成分、结构和性能，从而指导材料的制备过程和应用。
3.4 辐射检测平板探测器能够探测和测量各种辐射，包括射线、γ射线、X射线等。
在辐射监测和辐射治疗等领域，平板探测器可用于监测辐射剂量，确保人员和环境的安全。
4. 总结平板探测器是一种重要的科学仪器，其原理基于能量的转换和信号的放大。
通过选择适当的材料和合理的结构设计，可以实现高效、准确的信号检测和测量。
平板探测器在核物理、生命科学、材料科学和辐射检测等领域都有广泛的应用。
平板探测器的工作原理及优缺点1
平板探测器的工作原理及优缺点（一）碘化铯/非晶硅型：概括原理：X线先经荧光介质材料转换成可见光，再由光敏元件将可见光信号转换成电信号，最后将模拟电信号经A/D转换成数字信号。
具体原理：1、曝光前，先使硅表面存储阳离子而产生均一电荷，导致在硅表面产生电子场;2、曝光期间，在硅内产生电子-空穴对，且自由电子游离到表面，导致在硅表面产生潜在的电荷影像，在每一点上电荷密度与局部X线强度相当。
3、曝光后，X线图像被储存在每一个像素中；4、半导体转换器读出每一个素，完成模数转换。
优点：1、转换效率高；2、动态范围广；3、空间分辨率高；4、在低分辨率区X线吸收率咼（原因是其原子序数咼于非晶硒）；5、环境适应性强。
缺点：1、高剂量时DQE不如非晶硒型；2、因有荧光转换层故存在轻微散射效应；3、锐利度相对略低于非晶硒型。
（二）非晶硒型概括原理：光导半导体直接将接收的X线光子转换成电荷，再由薄膜晶体管阵列将电信号读出并数字化。
具体原理:1、X线入射光子在非晶硒层激发出电子-空穴对；2、电子和空穴在外加电场的作用下做反向运动，产生电流，电流的大小与入射的X 线光子数量成正比；3、这些电流信号被存储在TFT的极间电容上，每一个TFT和电容就形成一个像素单元。
优点：1、转换效率高；2、动态范围广；3、空间分辨率高；4、锐利度好；缺点：1、对X线吸收率低，在低剂量条件下图像质量不能很好的保证，而加大X线剂量，不但加大病源射线吸收，且对X光系统要求过高。
2、硒层对温度敏感，使用条件受限，环境适应性差。
（三）CCD型CCD感光原件是在晶圆上（Circular disk）藉由加工技术『蚀刻』出来（见上图）。
90年代初期CCD规格较没有统一，因此呈现混乱的局面，特别是发展厂商希望以不同的生产技术和切割方式创造最佳利润，以至于特殊规格出现导致例外的发展。
概括原理：由增感屏作为X线的交互介质，加CCD来数字化X线图像。
具体原理：以MOS!容器型为例：是在P型Si的表面生成一层SiO2,再在上面蒸镀一层多晶硅作为电极，给电极P型Si衬底加一电压，在电极下面就形成了一个低势能区，即势阱。
平板探测器的原理及应用
2012-02
CCD型和CMOS型 • CCD • CMOS
– 没有电荷转移功能， 需要经过X-Y选址电 路。 – PD：产生蓄积电荷 – MOS-Fet：控制读出
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平板探测器类型的选择
• 观察和区分不同组织的密度，因此对密度 分辨率的要求比较高。宜使用非晶硅平板 探测器的DR，这样DQE比较高，容易获得 较高对比度的图像 • 需要对细节要有较高的显像，对空间分辨 率的要求很高，因此宜采用非晶硒平板探 测器的DR，以获得高空间分辨率的图像。
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调制传递函数（MTF）
• 一种便于理解的MTF的图解方法
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噪声
• 平板探测器的噪声主要来源于两个方面： a：探测器电子学噪声 （小） b：X射线图像量子噪声
– RQA5测试标准下一个大小为150μm的像素 通常可以吸收1400个X光子，此时量子噪 声约为37个X光子，而读出噪声则仅相当于 3—5个X光子
线阵扫描探测器
• 相对于线阵探测器
– 提高图像的读出速度 – 减少X线曝光时间
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平板探测器
平板探测器的应用
2012-02
平板探测器的典型结构
2012-02
典型的平板型DR组成 • X线高压发生器
– 产生高压（高压，灯丝，高压整流，交换闸）
• X线球管
– 产生X射线
• 准直器
– 减少散射线控制照射野
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碘化铯/非晶硅型
• 优点： 1、转换效率高； 2、动态范围广； 3、空间分辨率高； 4、在低分辨率区X线吸收率高（原子序数 高）； 5、环境适应性强。 • 缺点： 1、高剂量时DQE不如非晶硒型； 2、因有荧光转换层故存在轻微散射效应； 3、锐利度相对略低于非晶硒型。
平板探测器的原理及应用
平板探测器的原理及应用
平板探测器中的电离辐射会通过探测电极产生电离电子和正离子，电离电子和正离子分别向两个不同的方向运动，由于探测电极上的电位差，会使得电离电子和正离子受到电场力的作用向探测电极移动。
当电离粒子通过探测电极时，会引起电荷耦合效应，形成电子-空穴对，从而产生一个电荷脉冲信号。
在核科学上，平板探测器被用于测量原子核的衰变，分析放射性同位素的特性和测量核反应截面等。
在医学诊断上，平板探测器被用于放射性核素的摄取和分布的测量，如核医学诊断中的放射性核素显像。
在辐射防护中，平板探测器被用于监测环境中的辐射水平，评估辐射安全性。
在生物学研究中，平板探测器被用于研究辐射对生物体的影响，如细胞辐射治疗和基因突变的研究。
在材料分析中，平板探测器被用于测量材料中的辐射损伤和材料中的杂质。
此外，平板探测器还可以用于探测宇宙线、太阳风和宇宙微射线等天文学研究。
总之，平板探测器通过测量电离辐射产生的电荷脉冲信号来实现对电离辐射能量和粒子数目的测量。
由于其结构紧凑、易于制造和使用以及精确的测量能力，平板探测器被广泛应用于核科学、医学诊断、辐射防护、生物学研究和材料分析等领域中。
直接平板探测器的工作原理
直接平板探测器的工作原理
直接平板探测器是一种广泛应用于粒子探测的探测器，其工作原理如下：
1. 探测介质：直接平板探测器一般由半导体材料（如硅）制成。
硅具有较高的电子运动率和较小的禁带宽度，适合用于粒子探测。
2. 探测电荷：当粒子进入探测器并与探测介质发生相互作用时，会产生电离效应。
这些电离效应会导致探测介质中的原子或分子失去或获得电荷。
3. 电荷收集：探测器内部设置有电场，可以将电离效应引起的电子和正孔分离。
由于电子和正孔具有相反的电荷，它们会朝着相反的方向移动。
4. 电流测量：探测器两端设置了电极，可以测量电子和正孔在探测介质中移动产生的电流。
电流信号的大小与粒子在探测介质中产生的电离效应数量有关，从而可以反映粒子的能量和轨迹等信息。
5. 信号处理：探测器测得的电流信号会经过放大、滤波和数字化等处理，进而可以通过计算机或其他数据采集系统处理和分析，得到粒子的相关信息。
DR技术比较及平板探测器知识
平板探测器知识（一）在数字化摄片中，X线能量转换成电信号是通过平板探测器来实现的，所以平板探测器的特性会对DR图像质量产生比较大的影响。
选择DR必然要考虑到平板探测器的选择。
平板探测器的性能指标会对图像产生很大的影响，医院也应当根据实际需要选择适合自己的平板探测器。
DR平板探测器可以分为两种：非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器，从能量转换的方式来看，前者属于直接转换平板探测器，后者属于间接转换平板探测器。
非晶硒平板探测器主要由非晶硒层TFT构成。
入射的X射线使硒层产生电子空穴对，在外加偏压电场作用下，电子和空穴对向相反的方向移动形成电流，电流在薄膜晶体管中形成储存电荷。
每一个晶体管的储存电荷量对应于入射X 射线的剂量，通过读出电路可以知道每一点的电荷量，进而知道每点的X线剂量。
由于非晶硒不产生可见光，没有散射线的影响，因此可以获得比较高的空间分辨率。
非晶硅平板探测器由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管或电荷耦合器件或互补型金属氧化物半导体构成它的工作过程一般分为两步，首先闪烁晶体涂层将X线的能量转换成可见光；其次TFT或者CCD，或CMOS将可见光转换成电信号。
由于在这过程中可见光会发生散射，对空间分辨率产生一定的影响。
虽然新工艺中将闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射，但散射光对空间分辨率的影响不能完全消除。
Ø 不同平板探测器的比较评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个：量子探测效率和空间分辨率。
DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力；而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。
考察DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能力。
（1）影响平板探测器DQE的因素在非晶硅平板探测器中，影响DQE的因素主要有两个方面：闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。
首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力，因此对DQE 会产生影响。
目前常见的闪烁体涂层材料有两种：碘化铯和硫氧化钆。
平板探测器的原理及应用
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其他参数
• 探测器图像获取时间
– 探测器预备时间 – 曝光等待时间 – 曝光窗口 – 图像读出时间
对于非晶硅探测器典型值为2.8S左右 实际一般为5～6 S
2012-02
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其他参数
• 温度稳定性（Stability）
– 表示探测器可达到线性度要求的剂量范围 上限
• 非线性度(Non-linearity)：
– 用百分比来表示在０－Ｄmax最大的线性剂
量之间输出的非线性程度
• 微分非线性度（Linearity-differential-FT） • 积分非线性度(Linearity-integral-FT） • 空间非线性度(Linearity-spatial-FT）
调制传递函数（MTF）
MTF对比
500μm层厚结构化碘化铯晶体 和 粉末状增感屏
2012-02
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注：图像上亮度 分布相邻的黑线 或白线的距离定 义为空间周期
调制传递函数（MTF）
空间频率优化 通过滤波器改善调制传递函数
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• 相对于线阵探测器
– 提高图像的读出速度 – 减少X线曝光时间
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线阵扫描探测器
平板探测器
平板探测器的应用
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平板探测器的典型结构
2012-02
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DR平板探测器参数解释
DR平板探测器参数解释1、调制传递函数(MTF)MTF的涵义:就就是描述系统再现成像物体空间频率范围的能力,理想的成像系统要求100%再现成像物体细节,但现实中肯定存在不同程度的衰减,所以MTF 始终<1,它说明成像系统不能把输入的影像全部再现出来,换句话说,凡就是经过成像系统所获得的图像都不同程度损失了影像的对比度。
MTF值越大,成像系统再现成像物体细节能力越强。
系统的MTF就是必须要测定的。
要评价数字X线摄影系统的固有成像质量,必须计算出不受主观影响的、系统所固有的预采样MTF2、空间分辨率DR的空间分辨率指图像空间范围内的解像力或解像度,以能够分辨清楚图像中黑白相间线条的能力来表示。
黑白相间的线条简称线对一对黑白相间的线条称之为一个线对,分辨率的线性表达单位就是线对l毫米(LPlmm)。
在单位宽度范围内能够分辨清楚线对数越多,表示图像空间分辨率越高。
图像分辨率可用分辨率测试卡直接测出。
但空间分辨率的提高不就是无限的,其与探测器对X线光子的检测灵敏度、动态范围信噪比等有密切关系。
厂商在DR宣传材料中标注的分辨率很多都就是根据像素大小计算出来的而不就是临床上真正关心的系统分辨率。
但在实际临床X线成像过程中影响分辨率的因素有很多;例如X线焦点、SID(胶片距)、患者运动、曝光时间、探测器感光灵敏度、像素大小、计算机图像处理、显示器性能等。
系统中的每一个子系统发生变化都会影响整个系统的分辨率(所谓”木桶效应“)。
尤其要注意的就是监视器分辨率,DR系统探测器本身的分辨率一般高于系统所配监视器的分辨率。
目前临床所用最高档CRT型与LCD型显示器显示像素为2K×2、5K。
这些监视器都就是当作选件卖的,而DR系统本身所带监视器都为128O×1O24或1600×1200的普通计算机用监视器。
从提高工作效率讲,屏读电子闯片就是发展方向。
所以在追求高分辨率的时候不要忘记监视器这一环。
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（一）在数字化摄片中，X线能量转换成电信号是通过平板探测器来实现的，所以平板探测器的特性会对DR图像质量产生比较大的影响。
选择DR必然要考虑到平板探测器的选择。
平板探测器的性能指标会对图像产生很大的影响，医院也应当根据实际需要选择适合自己的平板探测器。
DR平板探测器可以分为两种：非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器，从能量转换的方式来看，前者属于直接转换平板探测器，后者属于间接转换平板探测器。
非晶硒平板探测器主要由非晶硒层TFT构成。
入射的X射线使硒层产生电子空穴对，在外加偏压电场作用下，电子和空穴对向相反的方向移动形成电流，电流在薄膜晶体管中形成储存电荷。
每一个晶体管的储存电荷量对应于入射X射线的剂量，通过读出电路可以知道每一点的电荷量，进而知道每点的X线剂量。
由于非晶硒不产生可见光，没有散射线的影响，因此可以获得比较高的空间分辨率。
非晶硅平板探测器由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管或电荷耦合器件或互补型金属氧化物半导体构成它的工作过程一般分为两步，首先闪烁晶体涂层将X线的能量转换成可见光；其次TFT或者CCD，或CMOS将可见光转换成电信号。
由于在这过程中可见光会发生散射，对空间分辨率产生一定的影响。
虽然新工艺中将闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射，但散射光对空间分辨率的影响不能完全消除。
Ø 不同平板探测器的比较评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个：量子探测效率和空间分辨率。
DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力；而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。
考察DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能力。
（1）影响平板探测器DQE的因素在非晶硅平板探测器中，影响DQE的因素主要有两个方面：闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。
首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力，因此对DQE会产生影响。
目前常见的闪烁体涂层材料有两种：碘化铯和硫氧化钆。
碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高；将碘化铯加工成柱状结构，可以进一步提高捕获X线的能力，并减少散射光。
使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快，性能稳定，成本较低，但是转换效率不如碘化铯涂层高。
其次将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响。
在碘化铯(或者硫氧化钆)+薄膜晶体管(TFT)这种结构的平板探测器中，由于TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大，因此可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上，中间没有可以光子损失，因此DQE也比较高；在碘化铯+CCD(或者CMOS)这种结构的平板探测器中，由于CCD(或者CMOS)的面积不能做到与闪烁体涂层一样大，所以需要经过光学系统折射、反射后才能将全部影像投照到CCD(或者CMOS)上，这过程使光子产生了损耗，因此DQE比较低。
在非晶硒平板探测器中，X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对，DQE的高低取决于非晶硒层产生电荷能力。
总的说来，CsI+TFT这种结构的间接转换平板探测器的极限DQE高于a-Se 直接转换平板探测器的极限DQE。
（2）影响平板探测器空间分辨率的因素在非晶硅平板探测器中，由于可见光的产生，存在散射现象，空间分辨率不仅仅取决于单位面积内薄膜晶体管矩阵大小，而且还取决于对散射光的控制技术。
总的说来，间接转换平板探测器的空间分辨率不如直接转换平板探测器的空间分辨率高。
在非晶硒平板探测器中，由于没有可见光的产生，不发生散射，空间分辨率取决于单位面积内薄膜晶体管矩阵大小。
矩阵越大薄膜晶体管的个数越多，空间分辨率越高，随着工艺的提高可以做到很高的空间分辨率。
Ø 量子探测效率与空间分辨率的关系对于同一种平板探测器，在不同的空间分辨率时，其DQE是变化的；极限的DQE高，不等于在任何空间分辨率时DQE都高。
DQE的计算公式如下：DQE=S2×MFT2/NSP×X×CS：信号平均强度；MTF：调制传递函数；X：X线曝光强度；NPS：系统噪声功率谱；C：X线量子系数从计算公式中我们可以看到，在不同的MTF值中对应不同的DQE，也就是说在不同的空间分辨率时有不同的DQE。
非晶硅平板探测器的极限DQE比较高，但是随着空间分辨率的提高，其DQE下降得较多；而非晶硒平板探测器的极限DQE不如间接转换平板探测器的极限DQE高，但是随着空间分辨率的提高，其DQE下降比较平缓，在高空间分辨率时，DQE反而超过了非晶硅平板探测器。
这种特性说明非晶硅平板探测器在区分组织密度差异的能力较强；而非晶硒平板探测器在区分细微结构差异的能力较高。
Ø 不同类型的平板探测器在临床上的应用由于DQE影响了图像的对比度，空间分辨率影响图像对细节的分辨能力。
在摄片中应根据不同的检查部位来选择不同类型平板探测器的DR。
对于象胸部这样的检查，重点在于观察和区分不同组织的密度，因此对密度分辨率的要求比较高。
在这种情况下，宜使用非晶硅平板探测器的DR，这样DQE比较高，容易获得较高对比度的图像，更有利于诊断；对于象四肢关节、乳腺这些部位的检查，需要对细节要有较高的显像，对空间分辨率的要求很高，因此宜采用非晶硒平板探测器的DR，以获得高空间分辨率的图像。
目前绝大多数厂家的数字乳腺机都采用了非晶硒平板探测器，正是由于乳腺摄片对空间分辨率要求很高，而只有非晶硒平板探测器才可能达到相应的要求。
由此可见，不同类型的平板探测器由于材料、结构、工艺的不同而造成DQE和空间分辨率的差异。
DQE影响了对组织密度差异的分辨能力；而空间分辨率影响了对细微结构的分辨能力。
目前还没有一款DQE和空间分辨率都做得很高的平板探测器，因此需要在两者间做一个平衡。
所以在购买和使用DR时，应该根据购买DR的主要用途和具体的检查部位去选择和使用不同类型平板探测器的DR，只有这样才能拍摄出最有利于诊断的图像。
量子探测效率在影像学上是探测器（增感屏，胶片，IP,FPD)探测到的光量子与球管发射到探测器上的量子数目比（二）密度分辨率和空间分辨率是决定平板探测器的图像质量的两大重要参数。
空间分辨率是指图像每个像素点的大小，这个相信各位都很清楚，平板探测器技术介绍中的像素200μm，160μm，143μm，100μm，还有线对数2.5lp/mm，3.1lp/mm，3.6lp/mm，5lp/mm等，分辨率2K*2K，2.6K*2.6K，3K*3K，4K*4K也是空间分辨率的指标，这三个数量间是可以互相换算的，多数厂家在广告宣传的时候一般只注重突出空间分辨率的大小，而忽略了密度分辨率。
密度分辨率是指图像上每两个相临像素点的黑白对比关系，此项指标在诊断中有着非常大的意义，尤其是密度变化不大的病变的图像，以正位胸片为例，普通平片上和CR片上都无法看到肺野外带的肺纹理，而高量子探测率的DR片上外带的纹理清晰可见。
这也是DR逐步淘汰CR的一个重要原因，同样也是非晶硅平板逐步淘汰CCD、非晶硒以及其他平板的一个重要原因。
另外很多人都有一个误区，DR的像素点大小越小，DR的性能就越好，这个误区就是因为不了解密度分辨率造成的，如果单纯的靠像素点大小决定DR的性能，而CR以及CCD DR的像素都超过1000万。
从显示角度考虑，人的肉眼是有极限的，达到了一定的分辨率，即使像素点再小，超过一定数量后，对人的观察没有任何影响，另外现在的5M 竖屏价格已经非常昂贵了，也可能是我孤陋寡闻，至今尚未听说那个医院应用的是5M以上的竖屏，5M其实就是2K*2.5K的分辨率。
因此在选择DR的时候应该综合考虑空间分辨率和密度分辨率。
最后再做个广告性质的介绍，前面有帖子中有人说佳能的DR图像较差，分辨率较低，我有点不明白，从空间分辨率角度考虑，为什么不说像素点200μm的Revolution平板，而说160μm的佳能平板，从密度分辨率角度考虑，佳能平板因为独家应用了X吸收率最高的硫氧化钆做为闪烁体，量子探测率在所有DR中最高，高达66.5%。
另外，佳能平板中有款CXDI-31的，像素点大小100μm，也是所有DR中空间分辨率最高的，佳能的通用DR平板选择160μm的像素大小，并非生产工艺无法做得更小，而是综合考虑生产工艺、空间分辨率、密度分辨率、实际应用等等诸多因素选择的。
（三）20世纪70年代兴起的介入放射学（interventional radiology）是在影像监视下对某些疾病进行治疗的新技术，使一些用内科药物治疗或外科手术治疗难以进行或难以奏效的疾病得到有效的医治。
纵观30年来介入放射学的应用与发展，可以看出介入放射学在临床工作中的地位明显提高，已成为医院中作用特殊、任务重大、不可或缺的重要临床科室，已成为同内科和外科并列的三大治疗体系之一［1］。
介入医学的发展与影像设备和临床医学密切相关，而影像设备是介入医生的“眼睛”。
介入医生所使用的最重要的影像设备是数字减影血管造影（digital subtraction angiogrphy,DSA）系统。
本文就目前国内外DSA设备的新技术发展及其应用的新进展，结合大量文献进行综述，重点介绍介入医生密切关注的平板探测器（flat panel detectors,FPD）在DSA设备的应用原理及技术特点，及其在临床医学应用中的技术优势。
1 平板探测器（FPD）在DSA设备的应用原理随着心脑血管疾病和肿瘤发病率的不断提高，介入治疗医生的工作负担逐步加重，而医生在进行介入治疗时必须长时间的接触放射线；治疗技术的发展，如血管支架向小型化的发展，使其在X线下越来越不容易被发现。
但随着数字X线成像技术的日臻完善以及计算机技术的发展，FPD应用到最新DSA设备中，有效解决了上述问题。
由FPD取代传统的影像增强器（I.I TV）影像链，省去了中间环节（I.I、光学系统、摄像头、模/数转换器）的多次转换，整个过程均在FPD内进行，直接获取数字化图像，避免了传统影像链多个环节传输所造成的失真、噪声及分辨率下降，减少了复杂的外围控制部分，使控制更为直接简单，显示出传统DSA无法比拟的技术优势［2］。
新一代的FPD与影像增强器相比，扩展了数字化采集的能力，在呈现优质临床图像的同时，达到降低X线剂量的效果，提高了对医生和患者的保护。
DSA设备中的FPD技术有直接方式与间接方式2种类型：直接方式的检测元件采用光电导材料非晶体硒（a Se）层（非荧光层）加薄膜晶体管（thin film transistor,TFT）阵列构成，它可以将X射线直接转换成电信号、产生数字信号。
优点在于检测晶体的厚度较薄，转换速度会较快；缺点在于量子检测效率（DQE）略逊于间接型FPD，并且在应用时外加数千伏的电压，对薄膜晶体开关形成极大的威胁，引起较大的噪声。