关于弱光栅测量方法的预习
使用光栅测量波长的实验技巧与方法
使用光栅测量波长的实验技巧与方法引言：光栅是一种广泛用于光学实验和测量中的工具，通过光栅的作用可以精确测量光波的波长。
本文将介绍使用光栅测量波长的实验技巧与方法，希望能为读者提供一些有用的指导。
一、实验器材准备在进行光栅测量波长的实验前，我们需要准备以下实验器材：1. 光源：可以使用激光器或者白光源，确保光源的稳定性和亮度。
2. 光栅：选择合适的光栅类型，常见的有光栅片和光栅光谱仪。
3. 光电探测器：用于接收并测量光信号的变化。
4. 适配器和支架：用于固定光源、光栅和光电探测器。
二、实验步骤1. 设定实验装置：将光源、光栅和光电探测器依次安装在适配器和支架上，确保它们之间的位置和方向稳定并能相互对齐。
2. 调整光栅位置：通过调整光栅的位置，使得光源的光束经过光栅后能够发生衍射并尽可能使衍射光束投射到光电探测器上。
3. 记录基准数据：在没有任何外界干扰的情况下，记录下光电探测器接收到的光信号的强度和波长。
4. 引入待测物质：将待测物质置于光源和光栅之间，记录下光电探测器接收到的光信号的强度和波长。
5. 分析数据：通过对基准数据和待测数据的对比，计算出待测物质的波长。
三、实验技巧与注意事项1. 对齐光路：在实验前，确保光源、光栅和光电探测器之间的光路完全对齐，以保证光线的准确进入光栅并投射到光电探测器上。
2. 控制环境条件：在进行实验时，应尽量减少外界干扰，避免光源、光栅或光电探测器受到其他光源的影响。
3. 多次测量取平均值：为了提高实验的准确性，可以进行多次实验测量，并取平均值作为最终结果。
4. 注意光电探测器的灵敏度：根据实际需求，选择合适的光电探测器灵敏度，以确保对光信号的测量能够达到所需的精度。
结论：通过使用光栅测量波长的实验技巧与方法，我们可以准确测量出光信号的波长。
在进行实验时，需要准备好合适的实验器材，并且注意实验步骤和技巧，以确保实验的准确性和可重复性。
在实验过程中，也应注意环境条件的控制和数据的分析，以获得可靠的实验结果。
光栅实验方法与注意事项
光栅实验方法与注意事项引言光栅实验是一种常见的光学实验，通过光的衍射和干涉现象，研究光的波动性质并测量物体的参数。
本文将介绍光栅实验的方法与注意事项，为实验者提供一定的指导和帮助。
一、光栅实验方法1. 实验器材准备在进行光栅实验之前，需要准备一些必要的器材。
首先，我们需要一块光栅，常见的有折射光栅和反射光栅两种。
其次，需要一束单色光，可以通过光源和光滤波器来获得。
最后，还需要一个光学仪器，例如光学平台和望远镜，用于实验测量。
2. 实验操作步骤（1）搭建实验平台：将光栅放置在光学平台上，并确保其垂直于光路。
（2）调节光源和光滤波器：使用光源和光滤波器来获得与光栅实验所需的单色光。
（3）调整入射角和出射角：使用望远镜观察光栅，通过调整入射角和出射角，使得观察到的干涉条纹清晰可见。
（4）测量光栅常数：通过观察干涉条纹的间距，可以计算出光栅的常数，即每个光栅带的宽度。
3. 实验数据处理在实验中，我们可以通过测量光栅条纹的位置和数量来获取相关的数据。
然后，根据光栅的常数和入射角度，可以计算出相关的参数，如波长、入射角和出射角等。
二、光栅实验注意事项1. 实验环境控制光栅实验对实验环境要求较高，需要尽量保持实验室的安静和稳定。
特别是在光源的选择上，应避免使用强光源，避免室内的干扰光线对实验结果的影响。
2. 光栅处理在操作光栅时要小心轻放，避免划伤或损坏。
使用前应检查光栅的表面是否清洁，以确保实验结果的准确性。
3. 入射角度控制光栅实验的测量精度与入射角度直接相关，因此在实验中要特别注意控制入射角度的精确度。
可以使用望远镜等辅助工具来帮助调节和测量入射角度。
4. 数据采集与处理在进行实验数据采集时，要重复测量多次以提高测量的准确性和可靠性。
同时，对于测量数据的处理，应注意采用适当的数据处理方法，例如平均值、标准差等，以减小误差和提高结果的可信度。
结论光栅实验是一种探究光的波动性质的重要实验方法。
通过合理的实验操作步骤和注意事项，可以获得准确可靠的实验结果。
实验十二衍射光栅预习
衍射光栅目的要求1．观察光栅衍射现象，了解衍射光栅的主要特性。
2．掌握在分光计上用透射光栅测定光波波长、光栅常数及角色散的方法。
实验原理1．光栅分光原理光栅是一种重要的分光元件，它不仅用于光谱学，还广泛用于计量、光通信、信息处理等方面。
光栅按不同分类方法可分为透射型和反射型光栅或振幅型和位相型光栅，本实验使用的是透射型振幅光栅，它相当于一组数目极多的等宽、等间距的平行排列的狭缝。
其结构如下图所示：光栅周期为d=a+b如下图，当一束波长为λ的平行光入射到光栅平面，透射光按衍射规律向各个方向传播，经透镜L会聚后，在透镜第二角平面上形成一组亮条纹，各级亮条纹产生的条件是：如果入射光不是单色光，则除k=0外，其余各级谱线将按波长的次序依次排开。
当平行光垂直入射时，i=0，光栅方程简化为这时在θ=0的方向上可以观察到中央谱线极强（称为零级谱线），其它级次的谱线则对称地分布在零级谱线的两侧。
在本实验中，所用的光源为汞灯，其衍射谱线如下图2．光栅的基本特性(1)角色散率。
光栅的角色散率是指在同级光谱中两条谱线衍射角之差Δθ与其波长Δλ之比，即，由上式可知，光栅的角色散率与光栅常数成反比。
但角色散率与光栅中衍射单元的总数N无关。
光衍射角θk很小时，cosθk ≈1,角色散率Dθ可以近似看做常数，此时Δθ与Δλ成正比，故光栅光谱称为匀排光谱。
(2)分辨本领。
分光仪器的分辨本领R定义为两条刚可被该仪器分辨开的谱线波长差Δλ去除它们的平均波长λ，即，根据瑞利判据可求得光栅的分辨本领R的表达式为：R=kN，上式说明光栅的分辨本领正比于有效使用面积内衍射单元总数N和光谱的级次k，与光栅常数d无关。
分辨本领R越大，表明刚刚能被分辨开的波长差Δλ越小，该光栅分辨细微结构的能力越高。
仪器用具分光计、平行平面反射镜、汞灯、透射光栅实验内容1．调节分光计至使用状态。
2．调节光栅。
调节光栅平面与平行光管垂直；调节光栅使其刻线与仪器转轴平行。
光栅测量技术
光栅测量技术光栅测量技术，听起来是不是有点高大上呢？其实啊，没那么神秘啦。
就好比咱们量东西，以前用尺子，一格一格的很直观。
光栅测量技术呢，也有点像用尺子量东西，只不过这个尺子超级特别。
光栅就像是一把有魔法的尺子，它上面有好多很细密的条纹，这些条纹就像小士兵一样，整整齐齐地排列着。
这光栅啊，它是怎么测量的呢？咱们先说说它的原理。
你可以把它想象成一种光的游戏。
光打到有条纹的光栅上，就会发生一些奇妙的事情。
光就像调皮的孩子，遇到光栅的条纹就开始走不同的路了。
有的光被挡住了，有的光就顺利通过了。
这一挡一通过啊，就产生了一些信号，这些信号就可以告诉我们很多信息，比如说物体的位移啊、形状啊啥的。
咱就说测量物体的位移吧。
假如有个小零件在机器上动来动去的，就像一个小虫子在地上爬。
我们想知道这个小虫子到底爬了多远。
这时候光栅测量技术就派上用场了。
光栅会根据小零件的移动，产生不同的光信号变化。
就好像小虫子每爬一点，地上就会留下一个小脚印，我们通过这些脚印就能知道小虫子爬了多远，多精确啊。
光栅测量技术的精度那可真是让人惊叹。
它能测量到非常微小的变化，就像你能看到蚂蚁头上那根小触须的摆动一样精细。
你说厉害不厉害？在一些高精度的制造行业，比如说制造那种超精密的芯片。
芯片里的电路啊，那可是超级精细的，就像在一粒沙子上画一幅超级复杂的画。
要是没有光栅测量技术这么精确的测量，那可怎么能制造得出来呢？再讲讲光栅测量技术在机械加工方面的应用。
你看那些大的机械零件，像是汽车发动机的某个大部件。
这个部件的尺寸要非常精准才行，就像盖房子，每一块砖都得严丝合缝。
光栅测量技术就能在加工这个部件的时候，时刻监控着尺寸的变化，就像有个小眼睛一直在盯着，一旦有一点点偏差，马上就能发现，就像你炒菜的时候，盐放多了一点，舌头马上就能尝出来一样。
在科学研究里，光栅测量技术也像是一个得力的助手。
比如说研究微观世界里细胞的运动。
细胞在显微镜下动来动去的，要知道它具体的移动轨迹，这时候光栅测量技术就能像一个精确的追踪器，把细胞的一举一动都记录得清清楚楚。
光栅检测方法
光栅检测方法
光栅检测方法：
① 在准备阶段首先确保实验室环境符合要求避免强烈光照振动等因素干扰测量结果准确性；
② 根据被测光栅类型选择合适仪器如光谱仪干涉仪等并检查其状态确保各个部件完好无损；
③ 使用高精度游标卡尺测量光栅物理尺寸包括宽度厚度以及刻线间距等参数作为后续计算依据；
④ 将待测样品固定在专用夹具上调整位置直至平行于入射光线方向保证测量过程中稳定不动；
⑤ 通过调节光源位置角度使得单色光垂直照射到光栅表面并观察屏幕上衍射条纹分布情况；
⑥ 记录下各级主极大位置角度以及强度分布信息这些数据反映了光栅周期性结构特征；
⑦ 利用布拉格定律λ=2dsinθ计算出光栅常数d其中λ为入射光波长θ为主极大衍射角；
⑧ 对于多级衍射现象还需进一步分析条纹间隔强度比等参数综合判断光栅质量好坏；
⑨ 在实际应用中有时需要检测特定波段内光栅透过率反射率此时需使用分光光度计进行测试；
⑩ 对于全息光栅还需评估其再现图像质量如清晰度对比度色彩还原度等指标是否达到预期效果；
⑪ 完成所有测试后整理记录数据并与理论值或标准样品进行对比分析找出偏差原因所在；
⑫ 最后撰写详细实验报告列出测试条件方法结果分析存在问题及改进建议等内容供同行参考使用；。
光栅测试
光柵測試鏡面法測試時，光柵可以放置在光源的左或右任何一方，兩者要盡量接近，光柵可略後於光源，方便眼睛貼近光柵進行觀察，試鏡用的鏡座與光軸調整等步驟與佛科相同，這裏不再重覆。
找出聚焦點後，將光柵移至焦點位置，應看見光柵膠片上聚焦光點，眼睛貼近聚光點，透過光柵就可以觀察到鏡面出現影像，這時鏡面出現或多或少排列線影，前後移動光柵( 保持光柵平面與光軸垂直)，令鏡面出現 4 至 5 條黑線影，便最適合觀察和作出判斷。
主鏡開始拋光過程半小時後，就可以進行試鏡。
假如手法正確（1/3 Ｗ打光法）及瀝青模正常，應看見鏡面呈現平行直線影像（表示球面），保持手法，繼續打光。
拋光過程中，最少 15 至 20 分鐘測試鏡面一次。
這樣，如有不正常的進展，亦可及時矯正，常見的問題及所呈現的光柵圖像參考表一。
上表所列為常見的光柵像，修正較易。
有些初用佛科法的同好，因判斷錯誤，致鏡面愈打愈畸形，光柵法很易分析這類鏡面情況（例如左圖）。
修正這鏡面很費時間，最佳方法是重返幼磨。
二重球面是模不吻合所致，再重新做模時就須特別留意。
鏡面拋物線化鏡面經過足夠拋光及完成球面後，就要進行拋物線化。
由於不同焦比( 光圈值) 的反射主鏡，中央要打深的程度亦不同，利用光柵法測試拋物面時，我們是直接判斷影像的彎曲程度，表二提供了幾種不同焦比的圖像給作鑑定。
要注意，在拋物線化過程中，測試要頻密一些（約10 分鐘一次），以控制避免矯正過多而成為雙曲面。
在這裏再給讀信心，只要鏡面打至符合的圖像，一般可以達到1/4 波長的鏡面。
最後，再提供讀者一個“標準檢定法”。
是將主鏡裝上鏡筒內（副鏡及目鏡座齊全），利用平行光源檢定（一等星或遙遠成點狀燈光），光柵則放置在目鏡座位置（除去目鏡），如鏡面反映出平行直線影像，你的主鏡便是一標準的拋物面鏡，相信讀者都明白這方法的原理（圖四）。
物理实验技术中的光栅测量与分析方法
物理实验技术中的光栅测量与分析方法引言：光栅作为一种常见的光学元件，广泛应用于物理实验中的测量与分析。
本文将探讨物理实验技术中的光栅测量与分析方法，包括光栅测量原理、实验步骤以及数据分析方法等。
通过深入了解这些方法，可以提高物理实验的精确度和可靠性，推动科学研究的进步。
一、光栅测量原理光栅是一种具有周期性结构的光学元件，通过光栅的衍射效应可以测量物体的性质和参数。
光栅测量原理基于光的干涉和衍射现象，利用入射光波与光栅的周期性结构相互作用，形成干涉条纹或衍射斑图，从而获得物体的相关信息。
光栅测量原理有多种方法，其中最常见的是利用光栅衍射测量物体的角度或长度。
当入射光通过光栅时，栅片上的每个刻线都会成为衍射源，产生一系列干涉条纹。
通过测量干涉条纹的位置和形态变化，可以计算出物体的角度或长度信息。
二、实验步骤进行光栅测量实验需要以下步骤：1. 准备实验材料和仪器：包括光源、光栅、光学元件（透镜等）、光电二极管等。
2. 调整实验装置：将光源和光栅装置固定好，并调整透镜和光电二极管的位置，使得光线能够准确射到光电二极管上。
3. 开始实验：打开光源，通过光栅衍射形成干涉条纹，将光电二极管调整到最大输出状态。
4. 记录数据：使用光电二极管输出的电流值来衡量干涉条纹的亮度，测量不同参数下的电流值。
5. 数据处理：将电流值与物体的参数进行关联，使用适当的公式和方法，计算出物体的角度或长度。
6. 分析结果：根据实验结果，绘制相关图表或进行数据分析，得出结论。
三、数据分析方法在光栅测量实验中，进行数据分析是十分重要的一步。
以下是常用的几种数据分析方法：1. 平均值计算：根据多次测量的结果，计算得到平均值，提高实验结果的准确度。
2. 误差分析：对实验数据进行误差分析，包括随机误差和系统误差，评估实验结果的可靠性。
3. 拟合与回归分析：利用拟合和回归分析等数学方法，将实验数据与理论模型进行比较和匹配，得到更准确的结果。
4. 数据可视化：使用图表或图像等方式将实验数据展示出来，更直观地观察和分析数据间的关系。
实验13 双光栅测量微弱振动位移量实验
实验13 双光栅测量微弱振动位移量实验实验重点预习内容：1.在实验中怎样产生光拍？2.如何计算波形数？（画图表示）3.如何计算微弱振动的位移振幅？写出公式并对每个量进行逐一解释。
4.如何听拍频信号?多普勒效应：多普勒路过铁路交叉处，发现火车从远而近时汽笛音调变尖，而火车从近而远时，音调变低。
提出“多普勒效应”。
拍：根据振动迭加原理，两列速度相同、振动面相同、频差较小而同方向传播的简谐波叠加即形成拍。
本实验是运用多普勒效应与拍效应对振动位移进行测量一、实验目的1. 理解利用光的多普勒频移形成光拍的原理；2. 理解双光栅衍射干涉位移测量原理；3. 应用双光栅微弱振动测量仪测量音叉振动产生的微小振幅。
二、实验仪器双光栅微弱振动测量仪、模拟示波器、数字示波器三、实验原理1. 位移光栅的多普勒频移多普勒效应是指光源、接收器、传播介质或中间反射器之间的相对运动所引起的接收器接收到的光波频率与光源频率发生的变化，由此产生的频率变化称为多普勒频移。
由于介质对光传播时有不同的相位延迟作用，对于两束相同的单色光，若初始时刻相位相同，经过相同的几何路径，但在不同折射率的介质中传播，出射时两光的位相则不相同，对于位相光栅，当激光平面波垂直入射时，由于位相光栅上不同 图1 出射的摺曲波阵面的光密和光疏媒质部分对光波的位相延迟作用，使入射的平面波变成出射时的摺曲波阵面，见图1。
激光平面波垂直入射到光栅，由于光栅上每缝自身的衍射作用和每缝之间的干涉，通过光栅后光的强度出现周期性的变化。
在远场，我们可以用大家熟知的y xvd激光平面波 位相光栅出射折面波光栅衍射方程即(1)式来表示主极大位置：d sin θ=±k λ k =0,1,2,… (1) 式中：整数k 为主极大级数，d 为光栅常数，θ为衍射角，λ为光波波长。
如果光栅在y 方向以速度v 移动，则从光栅出射的光的波阵面也以速度v 在y 方向移动。
因此在不同时刻，对应于同一级的衍射光射，它从光栅出射时，在y 方向也有一个vt 的位移量，见图2。
微弱光探测及光谱分析实验预习报告
微弱光探测与光谱分析实验1. 平面光栅的分光原理光学多通道分析器原理为平行光束入射到平面光栅G（光栅平面的方位可由精密机械调节）时, 将发生衍射, 衍射时有光栅方程：sin,0,1,2dkk（3.4-1）式中d是光栅常数, λ是入射光波长, k是衍射级次, θ为衍射角。
由光栅方程可知, 当光栅常数d一定时, 不同波长的同一级主最大, 除零级外均不重合, 并且按波长的大小, 自零级开始向左右两侧, 由短波向长波散开。
每一波长的主最大, 在光栅的衍射图样中都是很细、很锐的亮线。
由dsinθ=kλ可知, 级次间距对应cos,/(cos)dd, 当角度θ较小的时, 角度间隔∆θ最小, 当角度θ增加时, 角度间隔∆θ增加。
所以光谱排列并非按角度θ线性分布。
当角度θ较小时可以简化为线性, 即可采用线性定标, 更进一步可以从级数展开的角度采用2次、3次、或4次定标。
2. 谱线定标定标: 是指在相同的衍射级次（一般取第1级次）下, 采集已知谱线, 然后对已知谱线定标, 随即将横坐标由CCD的通道转化为波长；在已定标的波长坐标下, 采集未知的谱线, 可直接通过读取谱线数据、读取坐标数据或寻峰的方式获取未知谱线的波长。
定标和采集未知谱线必须有相同的基础, 那就是起始波长或中心波长。
在本实验中的起始波长或中心波长是一个参考数据, 是通过转动光栅到某一个位置来实现的, 但由于是机械转动, 重复性比较差, 因此需要定定标也是有误差的。
定标使用谱线位置的远近, 以与采用的是几次定标, 都会影响到数据的准确性。
由于CCD的敏感波长为300nm-900nm, 由公式dsinθ=kλ可知, 得θ取值为10.4º~32.7º之间。
我们在测量未知波长时是通过已知的两个或多个（本实验仪器最多允许选择5个已知波长做四次定标）波长定标。
定标涉与到以下的问题:（1）参考波长是否可靠（2）参考波长就是光谱采集系统显示的中心波长或起始波长, 该参数既然是参考波长, 一般就有误差, 不准确, 差10nm左右都不会对测量结果带来影响。
使用光栅测量物体厚度的方法
使用光栅测量物体厚度的方法使用光栅测量物体厚度的方法是一种常见且有效的测量技术。
光栅是一种具有均匀分布的透明或不透明条纹的光学元件。
通过观察和分析光栅在物体上的影子或反射光，可以得出物体的厚度信息。
本文将介绍两种使用光栅测量物体厚度的方法：干涉法和阴影法。
一、干涉法干涉法是一种基于光的干涉现象来测量物体厚度的方法。
它利用光波在不同介质中传播时会发生折射和反射的特性。
当光波通过一个厚度不均匀的透明物体时，不同位置的光波将会有不同的光程差，从而发生干涉现象。
为了使用干涉法测量物体厚度，首先需要准备一个光源、一个透明光栅和一个接收器。
将光源照射在物体上，并利用光栅使光波形成干涉条纹。
接收器可以是一个光敏元件，用于接收干涉条纹产生的光信号。
通过观察干涉条纹的变化，可以得出物体的厚度信息。
当物体较薄时，干涉条纹间距较小，而当物体较厚时，干涉条纹间距较大。
通过测量干涉条纹的间距，并结合光栅的参数，可以准确计算出物体的厚度。
干涉法测量物体厚度的优点是测量精度高，可以达到亚微米级别。
但同时也存在一些限制，如只能测量透明物体、要求物体表面较平整等。
二、阴影法阴影法是一种基于光的投影现象来测量物体厚度的方法。
它利用物体对光的吸收、透射和反射的特性来形成阴影。
使用阴影法测量物体厚度需要准备一个光源、一个光栅和一个接收器。
将光源照射在物体上，形成一个阴影。
通过调整光源、光栅和接收器的位置，可以获得清晰的阴影图像。
利用阴影图像，可以测量物体厚度的变化。
当物体较薄时，阴影较浅，而当物体较厚时，阴影较深。
通过观察和分析阴影的灰度变化，可以得出物体的厚度信息。
阴影法测量物体厚度的优点是简单易行，不受物体材料和表面形状的限制。
但与干涉法相比，其测量精度相对较低。
结论使用光栅测量物体厚度的方法包括干涉法和阴影法。
干涉法利用光的干涉现象，通过观察干涉条纹的变化来测量物体厚度；阴影法则利用光的投影现象，通过观察阴影图像的变化来测量物体厚度。
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一种弱光栅测量方法
弱光栅是指反射率较弱的光栅，不同的工程应用和光栅应用人员对弱光栅的定义不同。
通常强反射率光栅是指反射率在90%以上的光栅。
相对而言，反射率小于90%以下就为弱光栅。
而我们这里所指的弱光栅是指反射率小于1%，乃至于反射率至0.01%及以下的光栅。
光栅的用途多样，目前主要用途之一是传感用，用于温度和应力的检测。
其原理我以简单介绍给大家，如果不懂可以看上传的PPT或自己查阅资料，这点很重要，因为接下来的几个实验都与光纤光栅有关。
随着光纤光栅传感技术的发展，对光栅传感应用的需求越发广泛以及要求也越来越高，主要表现在大容量、长距离传感在大型工程中的应用，要求光栅的数量成千上万。
传统强光栅因一个光栅就把特征波长的光能量全部反射回去了（大家自己看PPT,不懂地方可以QQ问我），所以一个波长上只能复用一个光栅；受光源带宽的影响，采用波分复用传感技术，一根光纤上往往只能复用几十个光栅，远远满足不了工程应用的需求。
弱光栅因反射率弱，特征波长处反射回去的光功率只占总功率的一少部分，因此，同一波长上可以复用（即可以反复使用的意思）多个光栅，当光栅反射率下降至万分之一时，在不考虑光纤损耗的前提下，实际上所有光栅上分配的光功率几乎是相同的（大家可以用公式推导一下）。
因此，使用弱光栅实施传感可以大大增加光栅传感容量，这也是目前我们中心重点开发的领域，也引领了国际上在弱光栅研究的热点。
在相同波长的前提下，弱光栅反射率大小是严重影响到复用光栅的数量多少的。
主要是有以下几方面原因：1、因光栅反射率弱，对后端信号探测单元的灵敏度提出高要求，往往其动态检测范围较小（即信号饱和到信号探测不到的范围），这就要求光栅阵列（相同波长的大量光栅串在一根光纤上）中的各光栅反射回探测器的光功率尽量要一致。
光栅反射率越大，上游光栅和下游光栅反射回的光功率差异越大，从而限制光栅的复用数量。
2、光栅之间的串扰信号（即多级反射信号，相关概念在我上传的大容量光栅阵列的鬼影及串扰的那篇文章里）强弱是与光栅数量以及光栅反射率大小密切相关，通常可以理解，光栅反射率越弱，信号串扰也越弱，这光栅复用数量可以越大。
3、光栅之间的阴影效益（文章中也与介绍）。
因此，对光栅反射率大小检测非常重要。
需要根据不同工程对光栅数量要求，设计制备不同反射率大小的光栅阵列。
传统光栅反射率检测方法是采用透射方法（希望大家查阅资料，列出表达式），然而，此方法对弱光栅不使用，因为对于反射率在1%以下的光栅，在其透射谱上根本看不到光栅反射谷。
因此，我们提出了一种基于垂直端面参考的弱光栅反射率测量方法，大家可以看我上传的文献。
以下问题希望大家认真思考，这有利于周六实验中遇到问题的解决。
1、影响该方法测量准确性的因素有哪些，希望大家找出至少3个因素（比方参考因素，设备的因素等等）
2、文献中公式成立的条件。
什么情况下，公式是不正确。
3、采用不同参考液，会有什么不同的现象出现。