TEM样品的制备方法及注意事项。
透射电镜生物样本制备流程及注意事项
透射电镜生物样本制备流程及注意事项透射电镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种使用电子束而不是光束进行成像的显微镜。
它可以提供高分辨率的图像，因此被广泛应用于生物样本的观察和研究。
然而，由于其特殊的工作原理和生物样本的复杂性，透射电镜生物样本的制备过程需要注意一些关键的步骤和细节。
下面将逐步介绍透射电镜生物样本制备流程及注意事项。
一、样品固定1.选择合适的固定剂：固定剂的选择应根据所研究的样本类型和要观察的细胞结构而定。
常用的固定剂包括戊二醛（glutaraldehyde）、乙酰化亚胺（acrolein）、纤维蛋白素（formaldehyde）等。
2.采取合适的固定时间和固定温度：固定时间和温度应根据固定剂的要求和样本的特性进行优化。
通常情况下，固定时间为数小时至数天，温度在4℃至25℃之间。
3.注意透射电镜样品的固定深度：样品应保持较小的厚度以便透射电子束的穿透。
二、样品剖解1.剖解细胞膜：通常采用超声波振荡或冷冻断裂等方法来剖解细胞膜。
超声波振荡可用于含有细胞膜的细胞或组织，而冷冻断裂则适用于脆弱细胞和膜脂体系。
2.剖解细胞核：利用离心裂解法可以将细胞核分离出来。
离心裂解可分为机械法和渗透法两种，机械法利用高速离心的作用将细胞核分离，而渗透法则是通过渗透剂将细胞核溶胀并破碎。
三、样品固化1.脱水：样品在固定后需要进行脱水处理，以便在后续的步骤中更好地渗透和浸透。
常用的脱水剂有乙醇、丙酮和乙醚等，脱水过程往往需要进行多次重复。
2.浸透：在脱水后，样品需要在树脂中进行浸透，使其固化为坚硬的样品。
通常采用环氧树脂或比较稳定的丙烯酸树脂来进行浸透。
这一步骤通常需要较长时间，如数小时甚至数天。
3.树脂填充：浸透后的样品需要在模具中进行树脂填充，并在适当的温度下进行固化。
树脂填充的过程需要注意排除气泡和避免过度填充。
四、样品切片1.选择合适的切割工具和方法：样品通常使用切片机和切片刀进行切割。
tem样品制备和烧成制度
tem样品制备和烧成制度石墨炉原子吸收光谱分析中样品制备的主要方法是什么?首先，样品制备的步骤。
样品的制备过程也就是石墨炉原子吸收光谱仪器分析测试之前所必须经历的一个过程。
一般情况下，为了保证进行样品的定量分析工作，常规需准备5~6个空坩埚和标准吸附器;另外，还应该配置好相关的其他设施如高温炉等。
其次，样品制备时注意事项。
1.根据被测组分的性质选择适当的干燥剂，使用后将干燥剂放入专门的容器内妥善处理。
2.样品装载不宜太满或太少，否则会影响检出限和灵敏度。
3.装载样品时，尽量避免混入杂质，尤其是挥发性强的杂质。
4.严格控制样品的称取量，防止由于样品过多而导致实验结果偏低。
最后，样品制备完成后的操作。
样品制备完毕后，接着便开始样品的测试工作。
在石墨炉原子吸收光谱分析中，样品测试包括样品的预处理及测试两部分。
通常来说，这些都是按照一定的流程依次执行的。
首先，将待测样品溶液转移至预处理系统中，然后再送往真空系统中抽去溶液中的气泡，并且同时加热到一定的温度，此即为样品的预处理阶段。
紧随其后，样品测试系统启动运行，利用专业的分析软件对已经处理好的样品进行分析测试。
从分析对象上看可以有四种类型：矿物、元素(金属)、化合物和气体。
每一种类型又细分为若干小类别，比如说矿物就可以划分为岩石、矿物集合体、脉石、矿物颗粒、矿物粉末、矿物薄膜、矿物晶体、矿物纤维、矿物碎屑、矿物微粒、矿物包裹体、矿物聚集体、自生矿物、共生矿物、次生矿物、副矿物、复合矿物、矿物表面包覆层、交代矿物、残余矿物、风化壳矿物、土壤矿物、水溶胶矿物、沉积物矿物、火山灰矿物、海底沉积物矿物、地球化学异常区域矿物等等。
透射电镜制样步骤以及注意事项
透射电镜制样步骤以及注意事项透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是目前最常用的高分辨率电子显微镜，可以用于观察物质的微观结构。
制备TEM样品的过程非常重要，下面将详细介绍TEM制样的步骤以及需要注意的事项。
制备TEM样品的步骤一般包括样品的选择、固定与固化、切片、薄化、网格制备和贴膜等。
第一步是样品的选择，样品应具有研究价值且适合观察。
例如，生物样品可以是细胞、组织或器官的薄片，金属样品可以是扁平的块状、粉末或薄膜等。
第二步是固定与固化。
对于生物样品，常用的固定方法包括浸泡法、灌注法和切片冷冻法；对于无机样品，可以使用固定剂将样品固定在固定剂中。
第三步是切片。
将固定好的样品切割成薄片，一般要求薄片的厚度在100 nm以下，通常使用超薄切片机来进行切割。
第四步是薄化。
将切割好的样品进行薄化处理，使其达到TEM观察所需的薄度。
常见的薄化方法有机械薄化、电化学薄化和离子薄化等。
第五步是网格制备。
将薄化好的样品放置在铜网格上，网格的选取应该根据所研究样品的性质和需要进行选择。
最后一步是贴膜。
将组织切片或带有样品的网格进行贴膜，以保护样品并提高图像的对比度。
在以上步骤中，需要注意的事项有：1.样品在制备过程中要避免受到污染或氧化，尽量在纯净无尘的环境中进行操作。
2.固定剂的选择要合理，不同的样品可能需要使用不同的固定剂，应根据需要进行选择。
3.切片时要注意刀片的尖锐度和切割角度，以免对样品造成损伤或变形。
4.薄化过程中要控制好加工参数，以保证样品的均匀薄化。
5.制作网格时应选择合适的网格尺寸和类型，以适应观察需求。
6.贴膜时要使薄膜均匀平整，并避免出现气泡或杂质。
总之，TEM制样是一项复杂而关键的过程，要保证样品的质量和可观察性，需要仔细选择方法、控制操作参数、注意样品的保护与处理。
合理的样品制备能够获得高质量的TEM图像，并提供准确的实验数据和结论。
tem试样制备方法
tem试样制备方法
以下是制备TEM试样的三种主要方法：
1. 切割法：对于大块样品，可以使用切割机或电离子切割机将其切割成薄片。
切割时，需要控制切割角度和速度，以确保切割出的薄片表面光滑。
切割后的薄片需要进行抛光和清洗，以去除表面污染和毛刺。
2. 磨薄法：对于小样品或脆性样品，可以使用磨薄机将其磨成薄片。
磨薄时，需要控制磨头和样品之间的距离和速度，以避免破坏样品。
磨薄后的样品需要进行抛光和清洗。
3. 离子蚀刻法：对于某些材料，如半导体材料和金属材料，可以使用离子蚀刻法制备TEM样品。
离子蚀刻可以将样品表面逐渐去除，直到获得透明的
薄片。
离子蚀刻过程需要控制离子束的能量和流量，以避免样品表面的损伤。
在制备TEM试样之后，需要将其固定在网格上，以便放置到TEM中进行分析。
网格应该是无污染的，通常使用碳膜或氧化亚铜薄膜制成。
将样品放置在网格上时，需要控制样品和网格之间的距离和角度，以确保样品位于
TEM光束路径。
以上方法仅供参考，具体操作需要根据不同的材料和实验需求进行选择和调整。
透射电镜细胞样品制备流程
透射电镜细胞样品制备流程透射电镜细胞样品制备流程概述透射电镜（TEM）是一种常用于观察细胞结构和超微结构的高分辨率显微镜。
样品制备是进行TEM观察的关键步骤，正确的制备流程能够保证样品的质量和结构完整性。
流程步骤1.选择适合的细胞样品–根据研究目的选择不同类型的细胞样品，如培养细胞、动物细胞组织或植物细胞等。
–样品选择要考虑细胞生长状态、形态和结构的要求。
2.采集样品–从培养皿中取出细胞，或从动物或植物组织中切取适当大小的样品。
–注意避免样品受到污染或损坏。
3.固定样品–使用适当的固定剂，如戊二醛、冰醋酸或凝胶固定剂，对样品进行固定处理。
–固定剂的选择要根据样品类型和所需观察结构的特点。
4.去除固定剂–使用缓冲液或盐水洗涤样品，去除多余的固定剂。
–洗涤时间和次数需根据固定剂的种类和浓度进行调整。
5.后续处理–为了进一步增强对样品的对比度和分辨率，可以对样品进行染色处理。
–常用的染色剂包括重质金属盐、乙酸铀和铅染色剂等。
6.样品包埋–涂覆样品表面的浸渍剂，如环氧树脂或丙烯酸树脂。
–用于支撑样品的网格可以放置在浸渍剂中。
7.制备超薄切片–使用超薄切片机将包埋的样品切割成透明的超薄切片。
–切片的厚度通常控制在70-100纳米之间。
8.将切片转移到网格上–使用特殊工具将切片转移到电子显微镜用的网格上。
–要小心操作，避免切片受到损坏或污染。
9.干燥和稳定–将转移到网格上的切片进行脱水和干燥处理，以提高稳定性。
–常见的方法包括用醇溶液进行脱水，然后使用气体吹干。
10.开始透射电镜观察–将处理完的样品装入透射电镜，调整参数和放大倍数。
–进行细胞结构和超微结构的观察和拍摄。
结论透射电镜细胞样品制备是进行TEM观察的关键步骤。
通过选择合适的细胞样品、适当的固定、去固定剂和染色处理，以及正确的样品包埋和超薄切片制备，可以确保样品的质量和结构完整性。
准确无误的制备流程能够为细胞学研究提供可靠的数据支持。
注意事项1.样品的选择要根据研究目的和所需观察结构的特点进行。
tem截面样品的制备
tem截面样品的制备
TEM（透射电子显微镜）截面样品的制备通常包括以下步骤：
1. 样品选择：选择需要观察的材料，并根据研究目的确定采样位置。
2. 机械切割：使用机械切割工具（如钢丝锯、金刚石刀片等）将样品切割成较小的块状或薄片。
3. 粗磨和打磨：使用研磨机、砂纸或研磨液对样品进行粗磨和打磨，以去除切割过程中引入的痕迹和不平整表面。
4. 薄化：使用离心切割机、电解腐蚀或离子蚀刻等方法使样品变得足够薄。
这一步旨在减小样品的厚度，以便光线能够透过并进入透射电子显微镜。
5. 悬浮和转移：将薄片从切割基底上悬浮并转移到供应载玻片或网格碳膜上。
可以使用特殊夹持装置或粘贴剂来帮助悬浮和转移过程。
6. 电子束刻蚀：使用电子束蚀刻机对样品进行细微的刻蚀
处理，以去除可能存在的氧化物或其他杂质，并提高样品表面的平整度。
7. 清洗和干燥：用溶剂或超声波清洗样品，以去除表面的污染物。
然后将样品在低压条件下干燥，避免水分残留。
8. 检验和观察：使用透射电子显微镜观察和记录样品的截面形貌和微结构信息。
需要注意的是，TEM截面样品制备过程中的每个步骤都需要谨慎操作，以确保样品的质量和可观察性。
具体的制备方法和工艺参数可能会因不同的样品类型和研究需求而有所差异。
TEM制样方法范文
TEM制样方法范文TEM(Transmission Electron Microscopy)是一种高分辨率电子显微镜技术，可用于观察和分析材料的微观结构。
TEM利用电子束传输样品并收集透射电子图像，通过显微镜的透射系统产生高分辨率图像。
在TEM制样过程中，样品的制备是非常关键的步骤，因为正确的制备样品对于获得高质量、准确的TEM图像至关重要。
以下是几种常见的TEM制样方法：1.切片法切片法是TEM制样的最常见方法之一、首先，样品通常是固态或半固态的，被嵌入到一种硬化树脂中，使其变得坚固。
然后，使用超微薄切片器将样品切成非常薄的切片，通常在50-100 nm的范围内。
这些切片随后会被转移到一小块碳膜上，并收集在TEM网格上。
最后，将TEM网格放置在TEM样品室中进行显微观察。
2.离子薄化法离子薄化法是一种常用的制备TEM样品的方法，尤其适用于研究金属、合金和陶瓷等材料。
首先，将样品切片制备成片上约厚10-100μm的样品。
然后，将样品放入一个离子薄化装置中，在真空环境中通过离子束装置加速产生高能离子束。
这些高能离子会剥离样品表面的原子，逐渐将其薄化。
通过定期检查样品的厚度，可以控制薄化的过程，直到达到所需的厚度。
最后，将薄样品转移到TEM网格上进行观察。
3.冻结切片法冻结切片法适用于需要观察生物样品或水溶液中的材料的TEM制样。
在这个方法中，样品首先被冷冻，通常是通过液氮或液氮气体冷冻。
然后，使用特殊的微波冻结设备将样品顺利地冻结。
接着，从冷冻样品中制备出非常薄的切片，这样可以保留样品的原始结构和化学性质。
最后，将这些冻结切片转移到TEM网格上进行显微观察。
4.真空沉积法真空沉积法是一种用于制备包含不透明溶液或薄膜样品的TEM样品的方法。
首先，将样品溶液或薄膜放置在TEM网格上。
然后，在真空室中将样品置于高温下，使之脱水并形成固体表面。
最后，在低温下，以较高速度蒸发样品周围的水分子，制备出干燥的样品。
TEM样品的制备方法及注意事项。
第一节概述由于电子束的穿透能力比较低（散射能力强），因此用于TEM分析的样品厚度要非常薄，根据样品的原子序数大小不同，一般在5～500nm之间。
要制备这样薄的样品必须通过一些特殊的方法。
第二节复型技术•衬度：眼睛能观察到的或者其它媒介能记录到的光强度或感光度的差异；•质厚衬度就是样品中不同部位由于原子序数不同或者密度不同、样品厚度不同，入射电子被散射后能通过物镜光阑参与成像的电子数量不同，从而在图像上体现出的强度的差别。
2.1 影响质厚衬度的因素：•与原子序数的关系：物质的原子序数越大，散射电子的能力越强，在明场像（物镜光阑只允许散射角小的电子通过）中参与成像的电子越少，图像上相应位置越暗。
•与试样厚度的关系：设试样上相邻两点的物质种类和结构完全相同，只是电子穿越的厚度不同，则在明场像中，暗的部位对应的试样厚，亮的部位对应的试样薄。
•与物质密度的关系：试样中不同的物质或者不同的聚集状态，其密度一般不同，也可形成图像的反差，但这种反差一般比较弱。
2.2 复型技术复型就是表面形貌的复制（其原理与侦破案件时用的石膏复制罪犯鞋底花纹相似）。
通过复型制备出来的样品是真实样品表面形貌组织结构细节的薄膜复制品。
2.3 用于复型制备材料的要求：（1）必须是非晶材料；（ 2）粒子尺寸必须很小；（ 3）应具备耐电子轰击的性能。
2.4 主要采用的复型方法：一级复型法、二级复型法、萃取复型法。
2.4.1一级复型•一级复型是指在试样表面的一次直接复型。
•一级复型复型主要分为塑料（火棉胶）一级复型和碳膜一级复型，以及氧化膜复型。
塑料（火棉胶醋酸戊酯溶液或者醋酸纤维素丙酮溶液－AC纸）一级复型，相对于试样表面来讲，是一种负复型，即复型与试样表面的浮雕相反；其形成的示意图如下图所示。
从图中可以看出，一级塑料复型是对样品表面形貌的简单的复制，它表面的形貌与样品的形貌刚好互补，所以称之为负复型。
其厚度可以小到100纳米。
碳膜一级复型是一种正复型，它与塑料一级复型的区别是：1.碳膜复型的厚度基本上相同，而塑料复型的厚度随试样位置而异。
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第一节概述
由于电子束的穿透能力比较低（散射能力强），因此用于TEM分析的样品厚度
要非常薄，根据样品的原子序数大小不同，一般在5～500nm之间。
要制备这样薄的样品必须通过一些特殊的方法。
第二节复型技术
•衬度：眼睛能观察到的或者其它媒介能记录到的光强度或感光度的差异；
•质厚衬度就是样品中不同部位由于原子序数不同或者密度不同、样品厚度不同，入射电子被散射后能通过物镜光阑参与成像的电子数量不同，
从而在图像上体现出的强度的差别。
2.1 影响质厚衬度的因素：
•与原子序数的关系：物质的原子序数越大，散射电子的能力越强，在明场像（物镜光阑只允许散射角小的电子通过）中参与成像的电子越少，图像上相应位置越暗。
•与试样厚度的关系：设试样上相邻两点的物质种类和结构完全相同，只是电子穿越的厚度不同，则在明场像中，暗的部位对应的试样厚，亮的部位对应的试样薄。
•与物质密度的关系：试样中不同的物质或者不同的聚集状态，其密度一般不同，也可形成图像的反差，但这种反差一般比较弱。
2.2 复型技术
复型就是表面形貌的复制（其原理与侦破案件时用的石膏复制罪犯鞋底花纹相似）。
通过复型制备出来的样品是真实样品表面形貌组织结构细节的薄膜复制品。
2.3 用于复型制备材料的要求：
（1）必须是非晶材料；
（ 2）粒子尺寸必须很小；
（ 3）应具备耐电子轰击的性能。
2.4 主要采用的复型方法：
一级复型法、二级复型法、萃取复型法。
2.4.1一级复型
•一级复型是指在试样表面的一次直接复型。
•一级复型复型主要分为塑料（火棉胶）一级复型和碳膜一级复型，以及氧化膜复型。
塑料（火棉胶醋酸戊酯溶液或者醋酸纤维素丙酮溶液－AC纸）一级复型，相对于试样表面来讲，是一种负复型，即复型与试样表面的浮雕相反；其形成的示意图如下图所示。
从图中可以看出，一级塑料复型是对样品表面形貌的简单的复制，它表面的形貌与样品的形貌刚好互补，所以称之为负复型。
其厚度可以小到100纳米。
碳膜一级复型是一种正复型，它与塑料一级复型的区别是：
1.碳膜复型的厚度基本上相同，而塑料复型的厚度随试样位置而异。
2.塑料复型不破坏样品；而碳膜复型破坏样品（分离膜与样品时要电解腐蚀样品）。
3.塑料复型因塑料分子较大，分辨率低（10-20nm)；碳离子直径小，碳膜复型
分辨率高(2nm)。
下面是碳膜一级复型的形成示意图：
2.4.2 二级复型
在塑料一级复型上再制作碳复型，就是一种二级复型。
下图是二级复型的制作
示意图。
首先在样品上制作一级塑料复型（如图a所示），然后在一级复型的
基础上，垂直镀上一层碳膜（如图b所示），然后用重金属（图b中是用的Cr）沿一定角度镀到碳膜上，以增加复型的衬度；最后用丙酮将塑料溶解掉即可得
到二级复型样品（如图c所示）。
塑料－碳二级复型的特点：
（1）制备复型时不破坏样品的原始表面；
（ 2）最终复型带有重金属投影；
（ 3）衬度高，稳定性、导热电性好；
（ 4）分辨率低，与一级塑料复型相当；
（ 5）膜的厚度薄。
下图是合金钢回火组织及低碳钢冷脆断口的二级复型照片，其中图a是合金钢回火组织的二级复型照片，可以清楚地看到回火组织中析出的颗粒状碳化物；图b是低碳钢冷脆断口的二级复型照片，可以看到解理断口上的河流花样。
a) 30CrMnSi钢回火组织二级复型照片； b) 低碳钢冷脆断口的二级复型照片
2.4.3 萃取复型
用于对第二相粒子形状、大小和分布以及物相和晶体结构进行分析，复型方法和碳一级复型类似。
在萃取样品上可在观察样品基体组织形态的同时，观察第二相颗粒的大小、形状、分布以及晶体结构分析。
下图是萃取复型的制备示意图，首先将存在第二相析出相的样品深腐蚀，以使第二相裸露出来，然后在样品上镀上一层碳膜，最后用电解腐蚀的方法，除去样品基体，得到的就是只有碳膜和第二相粒子的萃取复型样品。
第三节粉末样品的制备
3.1 胶粉混合法
在干净玻璃片上滴火棉胶溶液，然后在玻璃片胶液上放少许粉末并搅匀，再将
另一玻璃片压上，两玻璃片对研并突然抽开，稍候，膜干。
用刀片划成小方格，将玻璃片斜插入水杯中，在水面上下空插，膜片逐渐脱落，用铜网将方形膜捞出，待观察。
一般用于磁性粉末样品且观察倍数不高。
3.2 支持膜分散粉末法
常用的支持膜有火棉胶膜和碳膜，将支持膜放在铜网上，再把粉末均匀分散地
捞在膜上制成待观察的样品。
为了防止粉末被电子束打落污染镜筒，可在粉末
上再喷一层碳膜，使粉末夹在中间。
在分散粉末时要特别注意，如果分散不好的，在电镜下将观察不到单个的粉末颗粒。
为了确保粉末分散，一般用小的容
器盛满酒精或丙酮，然后往里面放入极少量的粉末样品，之后将其置于超声波
振荡器中振动15分钟以上，再用带支持膜的铜网在溶液中轻轻地捞一下即可。
下图是分散较好的粉末样品实例。
第四节薄膜样品的制备
4.1 薄膜样品的要求：
1.薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同；
2.样品相对电子束而言必须有足够的“透明度”；
3.薄膜样品应有一定强度和刚度；
在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀。
4.2 薄膜样品制备的一般工艺：
首先从块状样品中切下厚度约为0.5毫米的薄片，然后经过薄片的预减薄后
（手工研磨加挖坑和抛光），最后最终减薄。
最终减薄的方法视材料而定，对
于塑性较好而又导电的材料，一般采用双喷电解减薄法，而对于瓷等脆性较大，又不导电的材料一般用离子减薄的方法。
有机材料一般采用切片的方法，这里
不予讨论。
4.2.1 金属薄膜样品的制备
首先用线切割或者电火花切割的方法将块状金属样品切成0.5mm的薄片，然后
用手工的方法将其研磨到0.2mm左右，接着用特制的冲头将其冲成直径为3mm
的小圆片（也可以直接切成厚0.5mm，直径为3mm的小圆片），接着将其研磨
到0.1~0.15mm，接下来就可以用双喷电解抛光的方法制备出金属薄膜样品了。
电解双喷时，一般要进行冷却，常用液氮加酒精的方法来冷却，尤其是钢铁材料，必须冷却，而且最好用液氮；不过有的材料也可以不用冷却。
电解双喷时，要调好电流和电压的值，只有电流和电压的值处于电解抛光的平
台时，才能制造出好的样品。
下图是电解又喷示意图。
常用电解减薄仪
4.2.2 非金属材料薄膜样品的制备
首先一般是用金刚石锯将块状样品切成0.5~1mm的薄片，接下来用手工研磨的
方法将薄片研磨到50μm左右，然后用小刀片将其划为略小于3毫米的小块，
用树脂胶或者A、B胶将小块样品粘于铜环或者钼环上，接着用手工研磨的方法将其研磨至小于20μm之后，用挖坑仪将其减薄至小于10μm，然后用离子减
薄仪将其减薄至穿孔为止。
离子减薄是采用高能量的Ar离子轰击样品表面，把样品表面上的原子团或分子团剥离样品。
对于用离子减薄好了样品，可以先放到光学显微镜下检查，一般减薄好的样品
在穿孔附近会产生衍射环，如下图a所示，而减薄不好的样品，就观察不到这
种衍射环，如下图b所示。
a) 减薄好的样品b) 过减薄的样品
4.2.3 横截面样品的制备
１. 选样品
低倍立体显微镜下选样品，表面平坦，没有损伤，不选样品的边缘。
用线锯或
解理刀把样品切成小块，样品的对角线不超过 3mm即可。
２. 清洁处理
无水乙醇 ------丙酮------两次超声清洗，每次2至3分钟。
３. 对粘样品
清洗后的样品从丙酮里捞出来，自然干燥后，在样品的生长表面里涂上少量胶（ MBond610），将两块样品的生长面，面对面粘在一起，快速放入夹具中加压，固定，在130℃左右的加热炉上固化两小时以上，冷却后取出，用线切割机切
成薄片，进一步机械减薄。
下图是横截面样品的制备示意图，如图a所示，首先将多块具有生长薄膜的晶
片对粘在一起，然后用特殊的装置将其压紧，经过长时间固化后，再用线切割
或者其它方法切出一个略小于3mm的小圆柱（如图b所示），确保小圆柱的纵
向接近轴线的地方存在横截面，接下来用金刚石锯片将小圆柱切成小的薄片，
接下来的工作与非金属材料的制备相同。
不过需要注意的是，横截面样品的制
备要难得多，因此制备的过程中一定要小心仔细，最好在挖坑以后再用抛光轮再抛光一次，不然的话在离子减薄时，生长薄膜很容易被减掉。