方块电阻测量方法.

一、检验项目:纳米银线导电膜方块电阻

二、定义:利用四探针法在一定的压力之下测得的面电阻值。

三、适用范围:本标准检验方法适用于纳米银线导电材料方阻的测量。

四、目的:测量纳米银线导电材料的方阻以判定其品质。

五、检验方法: Ⅰ、原理及方法※方法一

1. 样品准备:SNW Film

2. 使用装置:四探针测试头、导线、万用表、稳压电源

3. 测量原理

a 给四探针测试头两探针施加 DC 1V电压,另外两探针接万用表直流电流挡,如图 2

b 依公式算出方块电阻计算公式:

R S =2π*V/(l n2*I R S :方块电阻Ω/□ V :施加的电压 I :测得的电流

注意:探头的表面弧度为 SR0.9mm

探头压力 0.45±0.15N 或 50±15gf 探头间距 3mm ,如图 1

图 1

图 2

4. 操作步骤:

a Film 按 TD*355mm切割材料

b 将稳压电源调至 ON ,电压调至 1V

c 将稳压电源正极接至探针一端、负极接至探针另一端,如图

d 将万用表置直流电流档,一表笔接至探针一端,一表笔接至探针另一端,如图

e 将试片有效区域等距分成 N 点,开始测试并记录数值。

f 将所测得数值输入表(一 ,计算其方阻。

※方法二

1. 样品准备:SNW Film

2. 使用装置:方阻仪

3. 操作步骤:

a Film 按 TD*300mm切割

b 将稳压电源调至 ON ,电压调至 1V

c 将方阻仪置 ON 挡

d 将试片有效区域等距分成 N 点,开始测试并记录数值。

e 将所测得数值输入表(一 ,计算其方阻。