电子元器件失效分析及技术发展

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电子元器件失效分析及技术发展

作者:恩云飞, 罗宏伟, 来萍, EN Yun-fei, LUO Hong-wei, LAI Ping

作者单位:元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610

刊名:

国外金属加工

英文刊名:Journal of International Metal Working

年,卷(期):2006,1(1)

被引用次数:18次

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本文链接:/Periodical_gwjsjg200601009.aspx

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