光学薄膜的制备技术

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

光学薄膜的制备技术

材料学院无机0701 15 周劲竹

摘要:光学薄膜泛指在光学器件或光电子元器件表面用物理化学等方法沉积的、利用光的干涉现象以改变其光学特性来产生增透、反射、分光、分色、带通或截止等光学现象的各类膜系。它可分为增透膜、高反膜、滤光膜、分光膜、偏振与消偏振膜等。光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代,光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域,制造各种光学仪器。

关键词:特点基本原理制备应用及市场前景

正文:光学薄膜的特点是:表面光滑,膜层之间的界面呈几何分割;膜层的折射率在界面上可以发生跃变,但在膜层内是连续的;可以是透明介质,也可以是吸收介质;可以是法向均匀的,也可以是法向不均匀的。

光学薄膜的基本原理:

1.利用光线的干涉效应,当光线入射於不同折射系数物质所镀成的薄膜,

产生某种特殊光学特性。

分类:光学薄膜就其所镀材料之不同,大体可分为金属膜和非金属膜。

a.金属膜:主要是作为反射镜和半反射镜用。在各种平面或曲面反射

镜,或各式稜镜等,都可依所需镀上Al、Ag、Au、Cu等各种不同的材料。

不同的材料在光谱上有不同的特性。AI的反射率在紫外光、可见光、近红

外光有良好的反射率,是镀反射镜最常使用的材料之一。Ag膜在可见光和

近红外光部份的反射率比AI膜更高,但因其易氧化而失去光泽,只能短暂

的维持高反射率,所以只能用在内层反射用,或另加保护膜。

b.非金属膜:用途非常广泛,例如抗反射镜片.单一波长滤光片、长或

短波长通过滤光片、热光镜、冷光镜、各种雷射镜片等,都是利用多种不同

的非金属材料,蒸镀在研磨好之镜杯上,层数由单层到数十、百层不等,视

需要的不同,而有不同的设计和方法。目前这些薄膜中被应用得最广泛,最

商业化,也是一般人接触到最多的,就是抗反射膜。例如眼镜、照相机镜头、

显微镜等等都是在镜片上镀抗反射膜。因为若是不加以抗反射无法得到清晰

明亮的影像了,因此如何增加其透射光线就是一个非常重要的课题。

2.利用光波干涉原理,在镜片的表面镀上一层薄膜,厚度为1/4 波长的光

学厚度,使光线不再只被玻璃—空气界面反射,而是空气—薄膜、薄膜—玻

璃二个界面反射,因此产生干涉现象,可使反射光减少。若镀二层的抗反射

膜,使反射率更低,但是镀一层或二层都有缺点:低反射率的波带不移宽,

不能在可见光范围都达到低反射率。1961年Cox、Hass和Thelen三位首先

发表以1/4一1/2一1/4波长光学厚度作三层抗反射膜可以得到宽波带低反

射率的抗反射膜。多层抗反射膜除了宽波带的,也可做到窄波带的。也就是

针对其一波长如氨氟雷射632.8nm波长,要求极高的透射,可使63Z.8nm

这一波长透射率高达99.8%以上,用之於雷射仪器。但若需要对某一波长的

光线有看极高的反射率需要用高低不同折射系数的材料反覆蒸镀数十层才

可达到此效果。

制备光学薄膜通常采用物理气相沉积法(Physical Vapor Deposition,PVD):有传统的真空蒸镀法(Vacuum Evaporation,VE),包括电阻蒸镀、电子束蒸镀;也有新出现的荷能离子镀方法,包括离子辅助沉积(Ion Assisted Deposition,IAD)、低压反应离

子镀(Low-voltage Reactive Ion Plating,LVRIP orRLVIP)、等离子辅助沉积(Plasma Assisted Deposition,PAD)、磁控溅射、离子束溅射(Ion Beam Sputtering,IBS)等。制备技术的优劣是通过薄膜产品的性能来体现的,一般是看薄膜的光学常数(n,k)、附着力、硬度、应力和稳定性等。好的制备技术,其介质膜产品的折射率n、消光系数k应达到或接近块体材料的数值,附着力强,硬度高,应力在不可能消除的情况下最好是压应力,能够适应长期存放和不同的使用环境。考虑到生产效率的问题,在保证薄膜厚度和光学常数均匀的情况下,沉积面积应尽量大,沉积速率不能过低。

1电阻蒸镀与电子束蒸镀

真空蒸镀法是在真空(~10-3Pa)条件下通过加热使薄膜初始材料气化,材料的蒸汽沉积在温度较低的基片上,形成所需要的薄膜(图1),是最基本的成膜方法之一。它的发展主要体现在蒸发源技术上:早期用的都是电阻蒸发源,即用钨、钼、钽等难熔金属或石墨做成电阻蒸发器,材料放在蒸发器中,由于温度有限和高温下材料与蒸发器化学反应的原因,可供使用的镀膜料很少;后来出现了电子枪蒸发源,材料放在有水冷的坩埚里,通过聚焦的高能电子束轰击进行局部加热,解决了温度和反应的问题,扩大了材料的选择范围。

通常,真空蒸镀选用与薄膜组分相同的初始材料。例如为了得到铝膜,使用纯铝作初始材料,通过提高蒸发室的真空度来抑制材料与残余气体的化学反应,以减少膜层中的杂质。这种做法对镀金属膜一般是有效的,对化合物薄膜,由于各化学组分的蒸发速率和沉积速率不同,薄膜组分往往偏离正常的化学当量(如氧化物失氧),这是造成光学吸收较大的一个重要原因。为了解决这个问题,在蒸镀时可通入适量的O2、N2等活性气体,利用化学反应来补充因材料热分解而易失去的O、N 等成分,这称为反应蒸镀(Reactive Evaporation,RE),其工作气压略高,约(8~9)×10-3Pa。这种工艺扩大了初始材料的选择范围,例如为了得到TiO2薄膜,不仅可以用TiO2,还可以用Ti3O5、Ti2O3、TiO等。

真空蒸镀法具有较长的历史,在实验室里研究得比较透彻,形成了许多成熟的工艺。这种方法沉积速率高,沉积面积大,生产效率高,另外设备和操作也比较简单,是实验室和工业生产中制备薄膜的主要技术手段。不过,真空蒸镀法的缺点也是非常突出的,用这种方法制备的薄膜

1)聚集密度小(0.8~0.95),折射率比块体数值偏低;

2)容易吸附残余气体和水汽,光学吸收大,时效性差;

3)表面、界面不平整,体内散射、表面散射大;

4)应力高,各向异性;

5)硬度低,附着力小,牢固性差。

薄膜的宏观性质取决于其微观结构。研究证实,在真空蒸镀法中,大部分材料的薄膜采取的是岛状生长模式,在形成薄膜的过程中,单体在基片表面的迁徙能力非常关键,它对薄膜的结构有直接影响。由于蒸气粒子的入射动能很低(仅具有热运动动能,~0.1eV),在基片表面的迁移率非常有限,再加上有择优生长方向和阴影效应(当蒸汽斜入射时,已沉积的原子对未填充点的遮挡),最后形成的膜层内部呈“柱体+孔洞”状疏松结构,与块体材料大相径庭,这是造成上述薄膜性能缺陷的根本原因。

为了改善薄膜的性能,通常在蒸镀时给基片加热或照射紫外线,镀后在空气中进行烘烤处理,不过这些措施的使用范围和效果都非常有限,无法从根本上解决问题。后面将要介绍的几种荷能离子技术由于在材料气化、飞行、入射、沉积成膜的某

相关文档
最新文档