浅谈电子元器件的二次筛选

【摘要】元器件二次筛选指的是当元器件生产厂商进行的筛选不能满足用户应用要求时，由使用方或其委托单位在元器件生产厂商筛选基础上进行的筛选，是对元器件生产厂商筛选工作的补充和验证。二次筛选是针对不同的失效模式，进行一些试验以剔除早期失效产品，能够有效地提高系统的整体可靠性，因而使用十分广泛。本论文首先介绍二次筛选的原因及其适用范围，进而提出质量控制的概念、四种常用的元器件的二次筛选方法以及其发展方向。

【关键词】二次筛选；质量

1.电子元器件的二次筛选

1.1 进行二次筛选的原因

元器件二次筛选指的是当元器件生产厂商进行的筛选不能满足用户应用要求时，由使用方或其委托单位在元器件生产厂商筛选基础上进行的筛选，是对元器件生产厂商筛选工作的补充和验证。

进行二次筛选的原因，是在元器件的生产过程中由于人为的因素或原材料、工艺条件、设备条件的波动，最终生产出的产品不可能全部达到预期的固有可靠性水平，在一批成品中总有一部分产品存在各种潜在缺陷，其寿命远远低于产品的平均寿命，这种提前失效的产品称为早期失效产品。二次筛选就是针对不同的失效模式，进行一些试验以剔除早期失效产品，能够有效地提高系统的整体可靠性，因而使用十分广泛[1]。

1.2 二次筛选的适用范围

二次筛选主要适用于下列四种情况的元器件：

（1）元器件生产厂商并没有对元器件实施初步筛选，或者是筛选的步骤并不规范；

（2）已经实施“一次筛选”步骤的生产元器件厂商，由于工艺或者水平的限制，不符合使用者的高质量需求；

（3）元器件生产厂商的筛选条件无法满足使用者对器件特殊要求的筛选项目；

（4）使用者可能对元器件生产厂商的筛选及其有效性提出质疑，期望对元器件的质量进行验证。

1.3 二次筛选应注意的问题

电子元器件二次筛选中的质量管理

电子元器件二次筛选中的质量管理摘要：二次筛选是电子元器件装机使用前可靠性的重要保障过程，本文简要介绍了电子元器件二次筛选的基本概念，针对二次筛选过程中的质量管理和控制方面存在的问题，提出了使用5S现场管理法和流程管理予以改进，提高了元器件二次筛选的质量管理水平。关键词：电子元器件；二次筛选；5S现场管理；流程管理一、电子元器件的二次筛选筛选试验是指为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效的产品而进行的试验，它是针对产品进行全数检验的非破坏性试验，通过按照一定的程序施加环境应力，激发出产品潜在的设计和制造缺陷，以便剔除早期失效产品，降低失效率。元器件的筛选一般应由元器件生产方按照军用电子元器件规范或供需双方签订的合同进行。一般将元器件生产方进行的筛选称为“一次筛选”，如果当“一次筛选”的技术条件不能完全满足使用方对元器件的质量要求时，使用方或其委托单位可以进行再筛选以补充生产方筛选的不足。一般将使用方或委托单位进行的筛选称为“二次筛选”或者“补充筛选”，即二次筛选是指已采购的元器件在“一次筛选”试验没有满足使用方项目要求的技术条件时，由使用方进行的筛选。元器件的“一次筛选”和“二次筛选”的目的与试验方法基本相同，但“二次筛选”是在“一次筛选”的基础上剪裁而成的。具有高可靠性的电子元器件是通过设计并生产出来的，但是再好的生产控制程序和生产工艺也无法避免质量问题的存在。电子元器件的二次筛选已经被证明是有效保障电子元器件可靠性的重要手段。二次筛选的质量直接影响着型号产品的质量，近年来科研生产任务越来越重，送筛的元器件种类和数量也越来越多，因此如何严格把关保证筛选质量，同时在时间进度上按节点准时交付（即提高工作效率）是电子元器件二次筛选质量管理工作的重点。在二次筛选工作中，只有通过规范、有效的管理，才能保证元器件按照正确的试验条件和方法进行筛选，才能充分发挥二次筛选的把关作用，最终实现军用产品高可靠性的目标。二、电子元器件二次筛选试验现场5S管理（一）实行现场5S管理的原因电子元器件二次筛选工作涉及的环节比较多，随着筛选任务量的加重以及筛选人员队伍的不断壮大，存在以下几方面的问题：人员：每个人的工作习惯不同，可能导致测试、试验结果有差异，如果不对员工的测试、试验行为做统一规范的要求，极易忙中出错。样品：筛选样品种类多、数量多，通常是多批次样品同时投筛；不同种类及

电子元器件筛选岗位规范

岗位规范标准格式（可复制使用）电子元器件筛选岗位规范 1 范围本规范规定了电子元器件筛选岗位职责和岗位标准。。本规范适用于电子元器件筛选岗位的初级、中级、高级职务人员。 2 引用标准 Q/AG L07 1.1－2003职工政治思想和职业道德通用标准 3岗位职责（概括和列举该岗位的工作职责） 3.1在检测中心正、付主任领导下，由组长组织、实施，完成电子元器件的筛选工作； 3.2贯彻执行我所质量管理体系程序文件，严格执行各项检测、筛选规范； 3.3 负责按元器件筛选大纲完成各类电子元器件筛选工作； 3.4 负责外协筛选工作的业务联系、验收和经费结算工作； 3.5 负责试验、检测设备的使用、保养工作； 3.6 负责检测报告的出示； 3.7 负责不合格品处理单的传递工作； 3.8 负责不合格品的保管和参加处理工作； 3.9 负责温度试验部分元器件的交接工作； 3.10 负责筛选合格件的入库交接工作； 3.11 负责资料保管工作。 4 岗位标准 4.1 政治思想与职业道德执行Q/AG L07 1.1－2003职工政治思想与职业道德通用规范

岗位规范标准格式（可复制使用） 4.2 文化程度 4.2.1 大专及以上学历。 4.3 专业理论知识 4.3.1 初级职务 4.3.1.1 了解电工、机械、热工、等方面的一般知识； 4.3.1.2 基本掌握电子学、高等数学基础知识； 4.3.1.3 基本掌握电子测试、数据处理、统计学一般知识； 4.3.1.4 计算机应用知识； 4.3.1.5 了解掌握我所质量管量程序、规范； 4.3.1.6 能查阅本专业一般外文资料。 4.3.2 中级职务 4.3.2.1 系统掌握电子学、高等数学、电子测量技术等专业知识； 4.3.2.2 较熟练掌握误差分析理论； 4.3.2.3 较熟练掌握计算机应用知识； 4.3.2.4 基本掌握我所质量管理程序、规范； 4.3.2.5 能查阅本专业的外文资料。 4.3.3 高级职务 4.3.3.1全面掌握电子学、电子测量技术等专业知识； 4.3.3.2 熟练掌握数据处理、误差分析理论及统计学理论； 4.3.3.3 全面系统掌握现代科学管理和我所质量管理程序； 4.3.3.4 熟练掌握检测设备的结构和原理； 4.3.3.5 熟练掌握计算机程序设计理论。 4.4 实际工作能力 4.4.1 初级职务 4.4.1.1 能按筛选大纲完成元器件筛选的基本试验；

浅谈电子元器件的二次筛选

浅谈电子元器件的二次筛选【摘要】元器件二次筛选指的是当元器件生产厂商进行的筛选不能满足用户应用要求时，由使用方或其委托单位在元器件生产厂商筛选基础上进行的筛选，是对元器件生产厂商筛选工作的补充和验证。二次筛选是针对不同的失效模式，进行一些试验以剔除早期失效产品，能够有效地提高系统的整体可靠性，因而使用十分广泛。本论文首先介绍二次筛选的原因及其适用范围，进而提出质量控制的概念、四种常用的元器件的二次筛选方法以及其发展方向。【关键词】二次筛选；质量 1.电子元器件的二次筛选 1.1 进行二次筛选的原因元器件二次筛选指的是当元器件生产厂商进行的筛选不能满足用户应用要求时，由使用方或其委托单位在元器件生产厂商筛选基础上进行的筛选，是对元器件生产厂商筛选工作的补充和验证。进行二次筛选的原因，是在元器件的生产过程中由于人为的因素或原材料、工艺条件、设备条件的波动，最终生产出的产品不可能全部达到预期的固有可靠性水平，在一批成品中总有一部分产品存在各种潜在缺陷，其寿命远远低于产品的平均寿命，这种提前失效的产品称为早期失效产品。二次筛选就是针对不同的失效模式，进行一些试验以剔除早期失效产品，能够有效地提高系统的整体可靠性，因而使用十分广泛[1]。 1.2 二次筛选的适用范围二次筛选主要适用于下列四种情况的元器件：（1）元器件生产厂商并没有对元器件实施初步筛选，或者是筛选的步骤并不规范；（2）已经实施“一次筛选”步骤的生产元器件厂商，由于工艺或者水平的限制，不符合使用者的高质量需求；（3）元器件生产厂商的筛选条件无法满足使用者对器件特殊要求的筛选项目；（4）使用者可能对元器件生产厂商的筛选及其有效性提出质疑，期望对元器件的质量进行验证。 1.3 二次筛选应注意的问题

浅谈电子元器件的二次筛选

浅谈电子元器件的二次筛选发表时间：2016-06-08T15:20:23.490Z 来源：《基层建设》2016年4期作者：赵岩 [导读] 电子元器件生产后，由生产厂家进行初步筛选，但是由于受到各种因素的影响。黑河市第一人民医院摘要：电子元器件生产后，由生产厂家进行初步筛选，但是由于受到各种因素的影响，初步筛选后依然会有一些产品存在着质量问题，因此需要进行二次筛选。本文主要通过对电子元器件进行二次筛选的原因与适用范围的介绍，分析了电子元器件二次筛选的注意事项，最后探讨了二次筛选的质量控制措施，仅供参考借鉴。关键词：电子元器件；二次筛选现如今电子元器件在应用之前，都会进行二次筛选，这样能够最大程度的保证电子元器件安全可靠。二次筛选后可以将那些不满足于生产要求元器件淘汰，以此确保元器件在运行过程中不会出现任何的异常情况，企业或者是其他部门的经济效益不会因此受到影响。一、电子元器件进行二次筛选的原因与适用范围 1、原因所谓电子元器件二次筛选指的就是经过生产厂家筛选后，依然未能达到用户需求，使用方或者委托某一单位进行再次筛选，此次筛选实际上就是对第一次筛选的补充以及验证。之所以要进行二次筛选，主要是因为元器件生产期间受到各种因素的影响，比如生产人员水平不足、工艺条件不成熟等，以使产品无法达到预期效果。同一个批次元器件中，总有小一部分元器件存在质量缺陷，使用寿命自然不能与正常的元器件相比，人们通常将提前失去效能的元器件产品称之为早期失效产品。二次筛选主要是基于各种失效模式而言，工作人员通过实验将早期失效产品找到并剔除，以此保证整个系统更加可靠，可以应用在多个领域中。 2、适用范围第一，生产厂家未对元器件进行第一次筛选或进行了第一次筛选，但是程序并不符合规范要求；第二，生产厂商进行了初步筛选，但因为现有工艺以及水平有限，因此未能满足用户要求；第三，生产厂商所使用的筛选条件与用户对元器件的特殊要求并不相符；第四，用户对元器件初步筛选持怀疑态度，提出进行二次筛选，以此确保元器件达到使用要求。二、电子元器件二次筛选的注意事项第一，必须进行100%筛选，只有如此，才能够将失效元器件尽可能的全部找出来，保证筛选质量；第二，电子元器件二次筛选时要有选择性，因为用户对不同的电子元器件的性能要求重点不同，比如继电器就应该进行触点抖动实验，而电阻并不需要做这样的实验；如果是宇航电子设备就一定要对其元器件的抗辐照能力进行考核；第三，有些元器件因为技术水平有限不能展开二次筛选，此时就需要工作人员应用其他控制方式确保元器件没有质量缺陷，比如通过电路实验来判断元器件的性能优劣；第四，筛选人员要明白即便是二次筛选依然存在着一定的局限性，因此筛选时失效率的控制非常重要。二次筛选手段方法有很多，每种方法都只是针对特定的失效模式，某些方法应用效果还非常好，即便如此也不可能做到100%。为了保证电子元器件的有效性，国家制定了合格判据即筛选失效率，如果筛选时超出了这一数值，整个批次都要淘汰。二次筛选的应力选择主要是以使用要求来确定，筛选要求要适中，不能过于严格，因为这样可能会将那些符合要求的元器件淘汰，不仅需要花费更多的资金筛选，还可能会加大元器件应用成本，但是如果过于宽松那些不符合要求的元器件就会进入到市场，这对产品安全可靠性将会产生非常大的影响。因此二次筛选时要求制定非常关键。三、电子元器件二次筛选质量控制方法电子元器件二次筛选质量控制非常重要，若质量不达标，二次筛选的价值也会达到降低，因此有关人员必须采取相应的手段对电子元器件进行二次筛选。主要质量控制方法有如下两种： 1、对失效展开高效率分析元器件的失效分析是通过对失效元器件进行解剖分析，并采用物理和化学等技术手段找出其失效机理，提出改进办法，从而提高元器件的可靠性。失效分析既要从本质上研究元器件自身的不可靠因素，又要分析研究其工作条件、环境应力和时间等因素对器件发生失效所产生的影响。失效分析是一门新兴的分析元器件的技术，大体可以分为失效分析和良品分析两种。主要对十分关键的大规模集成电路在使用之前实施失效分析。国内外失效分析资料均表明，有相当多的元器件失效并非由于元器件本身的固有可靠性不高，而是由于使用者对元器件选择不当或使用有误。因此，元器件失效分析结果，既可以反馈给生产方以改进设计和工艺，还可以对制定元器件的二次筛选条件起指导作用。 2、实施质量责任控制实施落实责任制度，对整机中所采用的电子元器件各种相关参数的质量进行问责制度。在采购相应元器件的时候，应该着重考虑信誉较好、质量有保证的公司或者生产厂商进行合作，避免影响设计系统的整体性能。对厂商的选择还可以通过对平时进行日常工作中的电子元器件质量数据积累的分析进行，从这些积累的数据中也能问接地反映出生产厂家及其产品的生产质量、工艺和管理水平。必要时还应对生产厂家进行有关质量调研或质量认证，以保证电子元器件的质量控制。四、需要二次筛选的常用电子元器件 1、集成电路由于整机产品的质量与可靠性需求，集成电路器件的二次筛选虽起步较晚但发展很快，大多数器件在装机前进行了二次筛选，有效地控制了器件的上机质量。由于大规模集成电路的使用以及表贴元件的普及，二次筛选又有了新的问题，主要涉及测试程序、器件夹具、筛选设备、表面贴装要求、可焊性等因素的限制，使这些器件的二次筛选困难较 2、微波器件微波器件主要包括有源器件和混合器件等。这些器件的二次筛选尚未全面开展，如微波晶体管，由于结构的特殊性，以及对测试电路、仪器设备诸因素的要求较高，因此很难找到进行二次筛选的有效办法。对无源器件，如隔离器、衰减器、环行器等以及集成微波组件

电子元器件筛选专业技术

电子元器件筛选技术

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仪表与电气系统的可靠性设计电子元器件筛选技术摘要：电子元器件是电子设备的基础，是保证电子设备高可靠性的基本资源，其可靠性直接影响设备的工作效能的充分发挥。电子元器件是电子设备、系统的基础。随着电子技术的发展，电子元器件在设备中应用数量逐渐增多，对电子元器件的可靠性也提出了越来越高的要求。本文介绍电子元器件的筛选技术。关键词：电子元器件；可靠性；筛选 1、电子元器件筛选的目的和作用电子元器件筛选是设法在一批元器件中通过检验和试验剔除那些由于原材料、设备、工艺等（包括人的因素）方面潜在的不良因素所造成的有缺陷的元器件——早期失效元器件，而把具有一定特性的合格器件挑出来。检验包括在规定环境下的目视检查、功能测量等，某些功能测试是在强应力下进行的。电子元器件失效机理在元器件制造出来之后就已经固定。所以，可靠性筛选不能改变其失效机理，不能改变单个元器件的固有可靠性水平。但是，通过筛选，课剔除早期失效元器件，从而提高成批元器件总体的可靠性水平。或者说，筛选不能提高元器件的固有可靠性，只能提高使用可靠性。可靠性筛选对性能良好的元器件应该是一种非破坏性试验，即试验应力对好元器件的损伤要尽可能小。反映在整批元器件特性上，就是不应影响其失效机理、失效模式和正常工作。在此前提下，可考虑加大应力进行筛选，以提高筛选效果和缩短筛选时间。筛选的目的是有效地剔除早期失效产品，使失效率降低到可接受的水平。元器件筛选是提高电子元器件使用可靠性的有效手段。元器件经过筛选可以发现并剔除在制造、工艺、材料方面的缺陷和隐患。元器件筛选对空空导弹这样在飞行任务期间没有可能维修、可靠性指标要求又很高的产品尤为重要。 2、电子元器件筛选分类电子元器件按照筛选性质分类可以分为四大类： ①检查筛选：显微镜检查筛选；红外线非破坏性检查筛选；X射线非破坏性检查筛选。 ②密封性筛选：液浸检漏筛选；氦质谱检漏筛选；放射性示踪检漏筛选；湿度实验筛选。 ③环境应力筛选：振动、冲击、离心加速度筛选；温度冲击筛选。 ④寿命筛选：高温储存筛选；功率老化筛选。按照生产过程分类可以分为生产工艺筛选；成品筛选；装调筛选（即用模拟整机使用状态的筛选装置进行动态筛选）。按照筛选的复杂程度可以分为五类: ①分布截尾筛选：对元器件参数性能的分类； ②应力强度筛选：对元器件施加一定强度的应力后进行测量分选； ③老炼筛选：在规定的时间内对元器件施加各种应力后进行测试筛选； ④线性鉴别筛选：类似于老炼筛选，但要运用数理统计技术进行判别； ⑤精密筛选：在接近元器件使用条件下进行长期老炼并多次精确地测量参数

电子元器件二次筛选质量控制方法_0

电子元器件二次筛选质量控制方法为确保电子元器件的高效使用，在元器件正式投入使用前通常会进行二次筛选工作，通过二次筛选将存在一定质量问题的易出现早期失效电子元器件及时剔除出去，从而保证产品整机的使用可靠性。文章就以电子元器件二次筛选的作用及范围作为切入点，在此基础上，对筛选项目的确定以及在筛选过程中的质量控制方法进行探讨。标签：元器件；二次筛选；质量控制电子元器件在加工生产后需要首先经过制造单位的出厂筛选，也就是第一次筛选[1]。经过第一次筛选后，为进一步保障电子元器件的质量及性能，满足电子系统对元器件的可靠性及高性能要求，就需要根据更高的质量标准进行再次筛选，这个阶段即为二次筛选。电子元器件的二次筛选实际上就是针对元器件的质量及性能进行的筛选性试验，通过这一阶段筛选及时有效地将早期失效的电器元器件产品剔除，进而保障整个系统工作性能的可靠性。 1 二次篩选的应用范围（1）当电子元器件经过一次筛选之后，使用方还需进一步确保质量时，就需要进行二次筛选[2]。（2）一些元器件生产方在生产完成后没有对元器件进行性能筛选，此种情况，就需要通过加强二次筛选保证元器件性能。（3）使用方对筛选结果存在疑虑，可在强化监督的条件下，再次进行二次筛选。二次筛选的试验工作需要由整机研制方或委托的生产单位、元器件厂负责，具体操作就是通过各类性能检测试验，在第一次筛选标准的基础上，以更加严格的质量标准筛选出早期失效的器件。 2 二次筛选的方法及项目确定二次检查筛选的方法并不唯一，常用的有镜检、红外线、X射线、密封性筛选、环境应力筛选以及寿命筛选等[3]。不同筛选方法的针对内容不同，例如红外线筛选能够有效筛选出存在热缺陷的电子元器件，X射线则能够有效识别出管壳中存在外来物，或内部芯片、键合、封装等质量缺陷；密封性筛选是元器件管壳以及密封缺陷的检测手段，着重检测裂纹、漏孔、封装对位等质量缺陷。除筛选方法的针对性不同外，不同用途的电子元器件的筛选技术要求规范也存在差异，因此具体的筛选项目及流程应当结合被筛选项目的实际情况进行确定。以某军用集成电路为例，筛选项目的确定需要在最新的GJB7243-2011军用电子元器件的筛选技术规范基础上，结合需要强化质量的筛选试验内容，科学设计筛选项目及流程。 3 电子元器件二次筛选的质量控制方法 3.1 质量控制要点

(电子行业企业管理)电子元器件的可靠性筛选

电子元器件的可靠性筛选本文简述了电子元器件筛选的必要性，分析了电子元器件的筛选项目和应力条件的选择原则，介绍了几种常用的筛选项目和半导体的典型筛选方案设计。随着工业、军事和民用等部门对电子产品的质量要求日益提高，电子设备的可靠性问题受到了越来越广泛的重视。对电子元器件进行筛选是提高电子设备可靠性的最有效措施之一。可靠性筛选的目的是从一批元器件中选出高可靠的元器件，淘汰掉有潜在缺陷的产品。从广义上来讲，在元器件生产过程中各种工艺质量检验以及半成品、成品的电参数测试都是筛选，而我们这里所讲的是专门设计用于剔除早期失效元器件的可靠性筛选。理想的筛选希望剔除所有的劣品而不损伤优品，但实际的筛选是不能完美无缺的，因为受筛选项目和条件的限制，有些劣品很可能漏过，而有些项目有一定的破坏性，有可能损伤优品。但是，可以采用各种方法尽可能地达到理想状态。 1 元器件筛选的必要性电子元器件的固有可靠性取决于产品的可靠性设计，在产品的制造过程中，由于人为因素或原材料、工艺条件、设备条件的波动，最终的成品不可能全部达到预期的固有可靠性。在每一批成品中，总有一部分产品存在一些潜在的缺陷和弱点，这些潜在的缺陷和弱点，在一定的应力条件下表现为早期失效。具有早期失效的元器件的平均寿命比正常产品要短得多。电子设备能否可靠地工作基础是电子元器件能否可靠地工作。如果将早期失效的元器件装上整机、设备，就会使得整机、设备的早期失效故障率大幅度增加，其可靠性不能满足要求，而且还要付出极大的代价来维修。因此，应该在电子元器件装上整机、设备之前，就要设法把具有早期失效的元器件尽可能地加以排除，为此就要对元器件进行筛选。根据国内外的筛选工作经验，通过有效的筛选可以使元器件的总使用失效率下降1 - v 2个数量级，因此不管是军用产品还是民用产品，筛选都是保证可靠性的重要手段。 2 筛选方案的设计原则

电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术培训

电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术培训讲讲师师介介绍绍:: 费老师男，原信息产业部电子五所高级工程师,理学硕士,“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委，长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可靠性技术研究。分别于1989年、1992－1993年、2001年由联合国、原国家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI 失效分析技术”课题组荣获2003年度“国防科技二等奖”。他领导的“VLSI 失效分析与可靠性评价技术”课题组荣获2006年度“国防科技二等奖”。2001年起多次应邀外出讲学,获得广大学员的一致好评。【培训对象】系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠性管理和从事电子元器件（包括集成电路）失效分析工程师【主办单位】中国电子标准协会培训中心【协办单位】深圳市威硕企业管理咨询有限公司为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求，我司决定在全国组织召开“电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术”高级研修班。研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲，通过讲解大量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的可靠性试验方法和试验结果的分析方法．

课程提纲：第一部分电子元器件的可靠性试验 1 可靠性试验的基本概念 1．1 概率论基础 1．2 可靠性特征量 1．3 寿命分布函数 1．4 可靠性试验的目的和分类 1．5 可靠性试验设计的关键问题 2 寿命试验技术 2．1 加速寿命试验 2．2 定性寿命保证试验 2．3 截尾寿命试验 2．4 抽样寿命试验 3 试验结果的分析方法：威布尔分布的图估法 4 可靠性测定试验 4．1 点估计法 4．2 置信区间 5 可靠性验证试验 5．1 失效率等级和置信度 5．2 试验程序和抽样表 5．3 标准和应用 6 电子元器件可靠性培训试验案例

浅析元器件测试筛选先后次序的决定原则

浅析元器件测试筛选先后次序的决定原则摘要元器件是整机最为基础的组成部分，元器件的质量决定着整机的运行效率和使用寿命。本文针对元器件测试筛选先后次序原则进行详细的分析，其目的便是研究出元器件测试筛选先后次序的操作策略，以便于切实的保障元器件的质量。关键词元器件；测试筛选；先后次序自从1960年一来，我国科学技术产业也在积极的进步与发展，不断调整了元器件的测试标准，并开展了“实效机理研究”这一门新的学术研究机制。在实际开展元器件制造的过程中，往往会因为工艺环节操作的原因，影响着元器件质量的可靠性。元器件使用效率往往与“浴盆曲线”相同，会随着时间的增加而下降，其使用寿命与内失效基本不变。本文将针对元器件测试筛选先后次序的决定原则进行详细的分析。 1 元器件测试筛选作用开展元器件测试筛选的作用，便是在元器件参与整机组装之间，将实效的元器件进行筛选与剔除，切实的保障整机的实际使用效率。不同元器件的筛选都具有一定的标准，元器件的实效程度，针对元器件的测试与筛选也有一套完备的筛选规则。可以说，质量与可靠性是元器件筛选的必要内涵。当元器件的工程与的电学物理特质不满足规定标准时，变视为元器件实效。在研究的过程中，严格的针对失效的危害、失效的影响、失效的模式等内容进行了全面的分析，为增强元器件筛选效率提供了强大的动力支持保障。 2 元器件测试筛选先后次序原则元器件在测试筛选在实践与研究的过程中，必须按照以下几个重要方面选择。其一，便是选择失效率最大的元器件，及时地将失效率极大的元器件通过测试的手段，进行筛选与剔除，以便于保障整机的高效性。其二，针对元器件的失效模式关联性进行筛选。严格的在保障整机运行整体流畅、安全的情况下，选择失效模式相關联的元器件[1]。其三，若结合不同筛选方案，筛选失效模式时，一般往往会按照整机中，失效模式的概率，针对失效模式中的元器件进行筛选。其四，结合元器件的经济效益进行筛选。将造价相对便宜的元器件作为首先剔除的目标，考虑造价低的先做。其五，便是按照元器件的使用时间进行筛选。将使用时间较为久远的元器件首先进行剔除。严格按照元器件的使用寿命，做到使用寿命段的先做。其六，结合元器件的实际使用效率阐述，进行筛选。在实际针对元器件开展测试的过程中，首先应该针对元器件的耐电压能力和绝缘电阻进行测试。先针对元器件耐电压能力进行测试，再针对元器件绝缘电阻能力进行测试，其次，针对元器件穿击电压和漏电情况进行测试，向针对穿击电压进行测试，再针对漏电情况进行测试。当所有测试都未出现问题之后，最后测试元器件的实际功能参数。若在元器件实际效率测试的过程中，任何一个环节出现问题，那么便

电子元器件筛选方案的设计原则及筛选项目

电子元器件的固有可靠性取决于产品的可靠性设计，因此，应该在电子元器件装上整机、设备之前，就要设法把具有早期失效的元器件尽可能地加以排除，为此就要对元器件进行筛选。那么元器件筛选都有哪些方案？原则是什么？常见的筛选项目有哪些？安排测试筛选先后次序时的两种方案： a）方案1：将不产生连环引发效果的失效模式筛选放在前面，将可以与其他失效模式产生连环引发效果的失效模式筛选放在后面。 b）方案2：将可以与其他失效模式产生连环引发效果的失效模式筛选放在前面，将不产生连环引发效果的失效模式筛选放在后面。如果选择方案1，会发现将可以与其他失效模式产生连环引发效果的失效模式筛选放在后面时，出现本身失效模式没有被触发、其他关联的相关失效模式被触发的情况时，这种带有缺陷的元器件不能被准确地定位、剔除，因为该类失效模式的检测已经在前面做过了。而选择方案2就可以非常有效地避免上述问题的发生，使筛选过程优质、经济和高效。筛选方案的设计原则定义如下：筛选效率W＝剔除次品数/实际次品数筛选损耗率L＝好品损坏数/实际好品数筛选淘汰率Ｑ＝剔降次品数/进行筛选的产品总数理想的可靠性筛选应使W=1，L=０，这样才能达到可靠性筛选的目的。Q值大小反映了这些产品在生产过程中存在问题的大小。Q值越大，表示这批产品筛选前的可靠性越差，亦即生产过程中所存在的问题越大，产品的成品率低。筛选项目选择越多，应力条件越严格，劣品淘汰得越彻底，其筛选效率就越高，筛

选出的元器件可靠性水平也越接近于产品的固有可靠性水平。但是要付出较高的费用、较长的周期，同时还会使不存在缺陷、性能良好的产品的可靠性降低。故筛选条件过高就会造成不必要的浪费，条件选择过低则劣品淘汰不彻底，产品的使用可靠性得不到保证。由此可见，筛选强度不够或筛选条件过严都对整批产品的可靠性不利。为了有效而正确地进行可靠性筛选，必须合理地确定筛选项目和筛选应力，为此，必须了解产品的失效机理。产品的类型不同，生产单位不同以及原材料及工艺流程不同时，其失效机理就不一定相同，因而可靠性筛选的条件也应有所不同。因此，必须针对各种具体产品进行大量的可靠性试验和筛选摸底试验，从而掌握产品失效机理与筛选项目间的关系。元器件筛选方案的制订要掌握以下原则：筛选要能有效地剔除早期失效的产品，但不应使正常产品提高失效率；为提高筛选效率，可进行强应力筛选，但不应使产品产生新的失效模式；合理选择能暴露失效的最佳应力顺序；对被筛选对象可能的失效模式应有所掌握；为制订合理有效的筛选方案，必须了解各有关元器件的特性、材料、封装及制造技术。此外，在遵循以上五条原则的同时，应结合生产周期，合理制定筛选时间。几种常用的筛选项目高温贮存电子元器件的失效大多数是由于体内和表面的各种物理化学变化所引起，它们与温度有密切的关系。温度升高以后，化学反应速度大大加快，失效过程也得到加速。使得

电子元器件的检测与筛选方法

电子元器件的检测与筛选方法在电子元器件的筛选中，要注意质量控制，统筹兼顾，科学选择，简化设计，合理运用元器件的性能参数，发挥电子元器件的功能作用。要控制元器件的质量。选择元器件做到统筹兼顾，按照不利条件进行台理选择，简化电路设计提高可靠性，降额使用以提高可靠性。一、检查外观质量这是简单可行的检验方法，能发现一些电子元器件的早期缺陷和采购过程中的损坏和隐患。因此我们在对电子元器件识别与检测进行时应按照如下操作进行： 1)要检查元器件的型号、规格、厂商、产地必须与设计要求相符合，外包装完好。 2)检查元器件的外观必须完好，表面没有无凹陷、划伤、裂纹等缺陷，外部如有涂层的元器件必须无脱落和擦伤。 3)元器件的电极引线要无压折和弯曲，镀层要完好光洁，无氧化锈蚀。 4)元器件上的型号、规格标记要清晰、完整，色标位置、颜色要满足标准，应认真检查集成电路上的字符。 5)机械结构的元器件尺寸要合格、螺纹灵活、转动手感合适。 6)开关类元件操作灵活，手感良好;接插件松紧要适宜，接触良好。各种电子产品中的元器件均有自身特点，检查时要按各元器件的具体要求确定检查内容。二、电气性能筛选为保证电子产品稳定可靠，对上机的元器件进行筛选是一个重要环节。筛选时要按元器件使用要求，对电子元器件施加一种或多种应力使其缺陷暴露，排除

早期失效。筛选试验及施加应力要在合适范围，使有缺陷元器件失效，质量好的元器件要通过试验。 1、元器件效能曲线电子元器件的效能曲线，即浴盆曲线，反映了元器件在使用中的失效规律。一般在元器件刚投入使用时，因元器件制造过程中原材料、设备、工艺等缺陷而导致失效率较高。元器件经一定时间的使用后，元器件的失效率较低，即偶然失效期。过了正常使用期后，元器件进入老化失效期，即损耗失效期，该元器件时间工作寿命结束在老化失效期，元器件的失效率增高。 2、电子元器件的筛选和老化元器件的老化的筛选，应人为制造元器件早期工作条件，使元器件处在模拟的工作伏态下，把早期失效的产品在使用前剔除，提高产品的可靠性。在生产过程中，筛选老化包括高温存储老化，高低温循环老化，高低温冲击老化和高温功率老化等。随着元器件生产水平的提高，要按不同产品要求，国家和企业标佳选择不同的老化筛选要求和工艺。对于可靠性要求极高的电子产品或设备中使用的典型元器件，需100%进行筛选，对要求不高的民品中使用的元器件，要采用抽样检测方式;对一般的电子产品研制和制造中使用的元器件，应采用自然老化和简易电老化方式。 3、参数性能检测经外观检查及老化的电子元器件，要进行性能指标的测试，淘汰已失效的元器件。要通过性能指标的检测进行挑选。检测前，应对电子元器件检测中常见问题及解决方案有一个全面的了解。要求有多种通用或专门测试仪器，一般性的电子设计或电子设备中使用的元器件，应运用万用表等普通仪表检测。在使用万用表进行检测时，要注意万用表的使用要求，正确地使用。 1)一般的万用表有模拟指针式和数字式两种。前者可靠耐用、直观，而读数不精确，分辨力低;后者读数精确直观，输入阻杭高，使用维护的要求也较高。 2)两种万用表使用时要求选择功能和插孔：指针式一般测大电流高电压时有专门插孔;数字式在测200mA以上电流时用专用插孔，一些型号的万用表的电流挡均用专用插孔。 3)选择量程时要注意指针式万用表指示在约为满刻度的30%~35%和 65%~70%处.误差较小。若被测量不好确定范围，要从最大量程逐步转换。 4)在使用万用表时，人体不可接触表笔的金属部分，确保测量准确和人身安全。

电子元器件的筛选与电子元器件质量控制

电子元器件的筛选与电子元器件质量控制摘要：随着我国经济建设和电子技术的持续发展，电子行业也得到了相应的促进和快速的发展，电子元器件在业内也受到了广泛地运用，其质量控制问题和筛选技术受到了越来越多的重视，相关的分析研究和试验应用不断地在开展。关键词：元器件；选择；质量引言电子元器件进行科学筛选的同时对电子元器件的质量也进行有效的控制来使其性能得到充分的发挥。也就是说，电子元器件在厂家进行筛选之后其质量仍不能满足使用者的要求，或者一些生产厂家根本就没有对电子元器件进行筛选等。所以在对电子元器件进行筛选和质量控制就必须要重视，使其筛选的力度能进一步得到提升，同时也能促进质量控制工作的完善。 1电子元器件的筛选概述对电子元器件进行筛选的原因是厂家在进行筛选之后，没有满足用户对其质量上的要求，因此就要对电子元器件在厂家筛选的基础上再一次进行筛选，同时这也是对厂家筛选工作的补充和验证。电子元器件在成产时会受很多因素的影响，比如：人为因素、原材料、设备条件的限制、工艺条件等，这些因素都会使产品无法全部满足用户要求的水平，同时这些因素也会导致部分电子元器件存在缺陷，而这些存在缺陷的产品，其使用寿命就会大大缩减，使之成为早期失效产品。因此在对电子元器件进行筛选时就要选用不同的模式，使其通过有关的试验，进一步来提高电子元器件在使用时的可靠性。电子元器件进行筛选的范围为厂家生产的电子元器件没有规范使用筛选技术和相关流程，还有用户对电子元器件有特殊的要求，但生产厂家自身的筛选条件和技术无法使用户得到满足，因此用户对厂家电子元器件筛选的有效性和筛选技术有了质疑，要求对其使用科学的筛选方式进行质量上的验证，从而实现对电子元器件质量上的控制。 2筛选概述 2.1原因在元器件生产厂商进行相关元器件的筛选后，其质量仍不能达到用户的实际应用要求时，会在其筛选的基础上让其他相关单位或使用方对元器件进行进一步的筛选，这是对元器件生产厂商所做的筛选工作的进一步验证和补充。由于在元器件的生产过程中存在许多的影响因素，如：原材料、工艺条件、人为因素、设备条件的波动等，这造成了最终的元器件成品无法全部达到固定的用户预期的要求水平，其中仍会有一部分存在缺陷或是不可靠因素的产品，而且其使用寿命也会低于实际应用要求的使用寿命，成为早期失效产品。所以应对不同的失效模式进行筛选并通过相关的试验进行剔除，从而对元器件的使用可靠性予以提高。 2.2适用范围进行元器件筛选适用于元器件厂商对相关的元器件已经进行了一次筛选的情况下仍不符合使用者的要求。对生产厂商提供的元器件根本没有进行筛选。生产厂商所提供的元器件相关的筛选技术和流程不规范。使用者对元器件有着特殊的需要，元器件厂商的筛选技术和条件无法得到满足。使用者对生产厂商的筛选技术及筛选的有效性持有一定的质疑并需要进一步进行质量验证。所以需要通过科学地方式选择筛选方式对电子元器件进行筛选，对其质量实现有效地控制。 3筛选方法 3.1功率老化

军用电子元器件二次筛选试验

军用电子元器件二次筛选试验当前，世界正在进行着一场新的军事变革，信息化是这场新军事变革的本质和核心，实现军事装备信息化的必要条件是高水平、高可靠的军用电子元器件。电子元器件尤其是微电子器件在军事装备上的应用越来越广泛，电子元器件的选型和应用就日益显得重要。本文着重就军用电子元器件选型和使用过程中的采购、筛选、破坏性物理分析以及失效分析进行探讨，列出了元器件的选择和使用准则以及全过程流程图。电子元器件是电子系统的基础部件，是能够完成预定功能且不能再分割的电路基本单元。由于电子元器件的数量、品种众多，因此它们的性能、可靠性等参数对整个军用电子产品的系统性能、可靠性、寿命周期等技术指标的影响极大。所以正确有效地选择和使用电子元器件是提高军用产品可靠性水平的一项重要工作。电子元器件的可靠性分为固有可靠性和使用可靠性固有可靠性主要由设计和制造工作来保证，这是元器件生产厂的任务。但是国内外失效分析资料表明，有近一半的元器件失效并非由于元器件的固有可靠性不高，而是由于使用者对元器件的选择不当或使用有误造成的。因此为了保证军用电子产品的可靠性，就必须对电子元器件的选择和应用加以严格控制。 1、电子元器件的分类顾名思义，元器件可分为元件和器件2大类。元件中有电阻、电容、电感、继电器和开关等；器件可分为半导体分立器件、集成电路以及电真空器件等。表1为元器件分类表。 2、电子元器件的质量等级元器件的质量等级是指元器件装机使用之前，按产品执行标准或供需双方的技术协议，在制造、检验及筛选过程中对其质量的控制等级。质量等级越高，其可靠性等级就越高。为了保证军用元器件的质量，我国制订了一系列的元器件标准，在八十年代初期制订的“七专”8406 技术条件（以下统称“七专”条件），“七专”技术条件是建立我国军用元器件标准的基础，目前按“七专”条件或其加严条件控制生产的元器件仍是航天等部门使用的主要品种。（注：“七专”指专人、专机、专料、专批、专检、专技、专卡）。根据发展的趋势，“七专”条件将逐步向元器件的国家军用标准（GJB）过渡，我国军用标准化组织参照美国军用标准（MIL）体系建立了国军标GJB体系。 3、电子元器件的选择元器件的选择不当会造成所购买的元器件可靠性水平不符合要求，从而影响到系统的可靠性，因此必须对元器件的选择进行控制。 3.1 元器件的选择原则（1）元器件的技术性能应满足产品要求。环境适应性应符合军品要求，一般为-55~C～125~C。（2）元器件的质量等级应符合产品的要求。（3）考虑降额的要求。（4）优先选用成熟的、质量稳定的、可靠性高的、有发展前途的和能持续供货的标准元器件。

电子元器件的检测与筛选方法

电子元器件的检测与筛选方法 IMB standardization office【IMB 5AB- IMBK 08- IMB 2C】

效。筛选试验及施加应力要在合适范围，使有缺陷元器件失效，质量好的元器件要通过试验。 1、元器件效能曲线电子元器件的效能曲线，即浴盆曲线，反映了元器件在使用中的失效规律。一般在元器件刚投入使用时，因元器件制造过程中原材料、设备、工艺等缺陷而导致失效率较高。元器件经一定时间的使用后，元器件的失效率较低，即偶然失效期。过了正常使用期后，元器件进入老化失效期，即损耗失效期，该元器件时间工作寿命结束在老化失效期，元器件的失效率增高。 2、电子元器件的筛选和老化元器件的老化的筛选，应人为制造元器件早期工作条件，使元器件处在模拟的工作伏态下，把早期失效的产品在使用前剔除，提高产品的可靠性。在生产过程中，筛选老化包括高温存储老化，高低温循环老化，高低温冲击老化和高温功率老化等。随着元器件生产水平的提高，要按不同产品要求，国家和企业标佳选择不同的老化筛选要求和工艺。对于可靠性要求极高的电子产品或设备中使用的典型元器件，需100%进行筛选，对要求不高的民品中使用的元器件，要采用抽样检测方式;对一般的电子产品研制和制造中使用的元器件，应采用自然老化和简易电老化方式。 3、参数性能检测经外观检查及老化的电子元器件，要进行性能指标的测试，淘汰已失效的元器件。要通过性能指标的检测进行挑选。检测前，应对电子元器件检测中常见问题及解决方案有一个全面的了解。要求有多种通用或专门测试仪器，一般性的电子设计或电

电子元器件筛选技术

仪表与电气系统的可靠性设计电子元器件筛选技术摘要：电子元器件是电子设备的基础,是保证电子设备高可靠性的基本资源,其可靠性直接影响设备的工作效能的充分发挥。电子元器件是电子设备、系统的基础。随着电子技术的发展，电子元器件在设备中应用数量逐渐增多,对电子元器件的可靠性也提出了越来越高的要求。本文介绍电子元器件的筛选技术。关键词：电子元器件；可靠性;筛选 1、电子元器件筛选的目的和作用电子元器件筛选是设法在一批元器件中通过检验和试验剔除那些由于原材料、设备、工艺等(包括人的因素)方面潜在的不良因素所造成的有缺陷的元器件——早期失效元器件,而把具有一定特性的合格器件挑出来。检验包括在规定环境下的目视检查、功能测量等,某些功能测试是在强应力下进行的。电子元器件失效机理在元器件制造出来之后就已经固定。所以，可靠性筛选不能改变其失效机理，不能改变单个元器件的固有可靠性水平。但是，通过筛选，课剔除早期失效元器件,从而提高成批元器件总体的可靠性水平。或者说，筛选不能提高元器件的固有可靠性,只能提高使用可靠性。可靠性筛选对性能良好的元器件应该是一种非破坏性试验,即试验应力对好元器件的损伤要尽可能小。反映在整批元器件特性上，就是不应影响其失效机理、失效模式和正常工作。在此前提下,可考虑加大应力进行筛选,以提高筛选效果和缩短筛选时间。筛选的目的是有效地剔除早期失效产品,使失效率降低到可接受的水平。元器件筛选是提高电子元器件使用可靠性的有效手段。元器件经过筛选可以发现并剔除在制造、工艺、材料方面的缺陷和隐患。元器件筛选对空空导弹这样在飞行任务期间没有可能维修、可靠性指标要求又很高的产品尤为重要。 2、电子元器件筛选分类电子元器件按照筛选性质分类可以分为四大类: ?①检查筛选:显微镜检查筛选；红外线非破坏性检查筛选;X射线非破坏性检查筛选。 ②密封性筛选:液浸检漏筛选;氦质谱检漏筛选；放射性示踪检漏筛选；湿度实验筛选。 ③环境应力筛选:振动、冲击、离心加速度筛选;温度冲击筛选。 ④寿命筛选:高温储存筛选；功率老化筛选。按照生产过程分类可以分为生产工艺筛选；成品筛选；装调筛选(即用模拟整机使用状态的筛选装置进行动态筛选）。按照筛选的复杂程度可以分为五类： ?①分布截尾筛选：对元器件参数性能的分类； ?②应力强度筛选：对元器件施加一定强度的应力后进行测量分选； ③老炼筛选:在规定的时间内对元器件施加各种应力后进行测试筛选; ④线性鉴别筛选:类似于老炼筛选,但要运用数理统计技术进行判别； ?⑤精密筛选:在接近元器件使用条件下进行长期老炼并多次精确地测量参数变

元件检验规范

1范围电子元器件、器件和组件，在本规范中，均统称为电子元器件。本规范主要针对汽车系统中所使用的电子元器件。电子元器件的种类繁多。就安装方式而言，目前可分为传统安装（又称通孔装即DIP）和表面安装两大类（即又称SMT或SMD）。 2目的确定了对设计、生产中所使用的电子元器件进行检验的一般方法和指导。由于器件的种类繁多，应用目的不同，适用的试验方法上也有区别，具体可查阅相关标准。 3参考文件适合于微电子器件组件的试验检测标准： MIL-STD-883E美国国防部-微电子器件试验方法标准试验、检测方法及标准适用于军用及宇航用的，单片、多片、厚膜薄膜混合微电路、微电路阵列，以及构成微电路和阵列的各类元器件。对于恶劣环境下的应用，也可以参考本标准对所用器件进行试验和检测。适合于汽车电子器件的试验标准： VW80101：2005大众-汽车中的电气和电子组件通用试验条件。GMW3172：2006通用工程标准-汽车电子器件的环境、可靠性、及性能要求符合性分析、开发及验证总规范。

MES PW67600：1995马自达工程标准-汽车器件试验标准。主要检验标准有： GB/T5729—94《电子设备固定电阻器第一部分：总规范》； GB/T2693-2001《电子设备用固定电容器第1部分：总规范》； GB/T8554—1998《变压器和电感器测量方法及试验程序》； GB/T4023－1997《半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二级管》； GB/T6571－1995《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二级管》； GB/T4587－94《半导体器件分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》； GB/T4586－94《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》； GB/T15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》； GB/T15291－94《半导体器件第6部分晶闸管》； GB3442－86《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》； GB/T6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》； GB/T4377－1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》；