XPS Peak分峰步骤 origin全新

实验条件：样品用VG Scientific ESCALab220i-XL型光电子能谱仪分析。激发源为AlKαX射线，功率约300 W。分析时的基础真空为3×10-9 mbar。

电子结合能用污染碳的C1s峰（284.6 eV）校正。

X-ray photoelectron spectroscopy data were obtained with an ESCALab220i-XL electron spectrometer from VG Scientific using 300W AlKα radiati on. The base pressure was about 3×10-9 mbar. The binding energies were referenced to the C1s line at 284.6 eV from adventitious carbon.

XPS数据考盘后的处理数据步骤

数据是.TXT文件，凡是可以打开TXT文件的软件都可以使用。下面以origin5.0为例：

1.open文件，可以看到一列数据，找到Region 1(一个Region 对应一张谱

图)。

2.继续向下找到Kinetic Energy，其下面一个数据为动能起始值，即谱图左

侧第一个数据。用公式BE

始=1486.6-KE

始

-ϕ换算成结合能起始值，ϕ是

一个常数值，即荷电位移，每个样品有一个值在邮件正文中给出。

3.再下面一个数据是步长值,如0.05或0.1或1，每张谱图间有可能不一样。

4.继续向下8行,可以找到401或801这样的数，该数为通道数，即有401

或801个数据点。

5.再下面的数据开始两个数据是脉冲，把它们舍去，接下来的401或801

个数据都是Y轴数据，将它们copy到B(Y)。

6.X轴：点A(X)，再点右键，然后点set column values，出现一个对话框，

在from中填1，在to中填401(通道数)，在col(A)中填BE

始

-0.05*(i-1)，最后点do it。

7.此时即可以作出一张图。

8.从Region 2可以作出第二张图。依此类推。

XPS Peak分峰步骤

1．将所拷贝数据转换成所需格式：把所需拟合元素的数据引入Origin后，将

column A和B中的值复制到一空的记事本文档中（即成两列的格式，左边为结合能，右边为峰强），并存盘。如要对数据进行去脉冲处理或截取其中一部分数据，需在Origin中做好处理。

2．打开XPS Peak，引入数据：点Data----Import(ASCII)，引入所存数据，则出现相应的XPS谱图。

3．选择本底：点Background，在所出现的小框中的High BE和Low BE下方分别选取本底的起始和终点位置，则本底将连接这两点，Type可据实际情况选择。

4．选峰：点Add peak，出现小框，在Peak Type处选择s、p、d、f等峰类型（如C1s峰则选s，S2p峰则选p），在Position处选择希望的峰位，需固定时则点fix前小方框，同法还可选半峰宽（FWHM）、峰面积等。各项中的constraints 可用来固定此峰与另一峰的关系，如Pt4f7/2和Pt4f5/2的峰位间距可固定为

3.45，峰面积比可固定为4:3等。点Delete peak可去掉此峰。然后再点Add peak

选第二个峰，如此重复。

5．选好所需拟合的峰个数及大致参数后，点Optimise region进行拟合，观察拟合后总峰与原始峰的重合情况，如不好，可以多次点Optimise region。6．拟合完成后，分别点另一个窗口中的Rigion Peaks下方的0、1、2等可看每个峰的参数，此时XPS峰中变红的为被选中的峰。如对拟合结果不满意，可改变这些峰的参数，然后再点Optimise region。

7．点Save XPS存图，下回要打开时点Open XPS就可以打开这副图继续进行处理。

8．点Data――Print with peak parameters可打印带各峰参数的谱图，通过峰面积可计算此元素在不同峰位的化学态的含量比。

9．点Data――Export to clipboard，则将图和数据都复制到了剪贴板上，打开文档（如Word文档），点粘贴，就把图和数据粘贴过去了。

10．点Data――Export （spectrum），则将拟合好的数据存盘，然后在Origin 中从多列数据栏打开，则可得多列数据，并在Origin中作出拟合后的图。11．

12．1.生活如意，事业高升。

2.前程似锦，美梦成真。

3.年年今日，岁岁今朝。

4.百事大吉，万事顺利。

5.愿与同僚，共分此乐。

6.事业有成，幸福快乐。

7.生日快乐，幸福安康。

8.幸福快乐，与君同在。13．

XPS能谱数据处理方法

XPS 能谱数据处理王博吕晋军齐尚奎能谱数据转化成ASC 码文件后可以用EXCEL 、ORIGIN 等软件进行处理。这篇文章的目的是向大家介绍用ORIGIN 软件如何处理能谱数据，以及它的优势所在。下面将分三部分介绍如何用ORIGIN 软件处理能谱数据：1、多元素谱图数据处理 2、剖面分析数据处理 3、复杂谱图的解叠一、多元素谱图的处理： 1、将ASC 码文件用NOTEPAD 打开： 2、复制Y 轴数值。打开ORIGIN ，将Y 轴数据粘贴到B （Y ）： 3、如图：点击工具栏plot ，选择line Y 轴数值 X 轴起始点 X 轴步长采集的数据点总数元素名称

4、出现下图：点击B（Y），再点击<->Y，使B（Y）成为Y轴数据。然后在“set X values”中输入起始值和步长。 5、点击OK，得到下图：

6、利用ORIGIN提供的工具可以方便的进行平滑、位移。 A.位移： 1）如图：选择analysis→translate→vertical或horizontal可以进行水平或垂直方向的位移。我们以水平位移为例进行讲解。 2）在图中双击峰顶，如图示（小窗口给出的是此点的X，Y值） 3）然后在图中单击其他位置找到合适的X值（小窗口给出的是红十字的X，Y值） 4）双击红十字的位置，峰顶就会位移到此处：

位移可以反复多次的进行，垂直方向的位移和水平方向的一样。 B、平滑 1）如图选择： 2）出现下面的小窗口

3）点击settings出现下面的界面（如果想用平滑后的代替原始的，选择”replace original”,如果想重新做图选”add to worksheet”，下面的数值不用改变） 4）点击operation,选择savizky-golay进行平滑。得到下图：二、剖面分析数据处理： 1、用写字板打开ASC码文件，选取所需要的元素元素名称剖面分析中的CYCLE 数起始值及步长 Y轴数据

origin分峰拟合原理 -回复

origin分峰拟合原理-回复什么是分峰拟合原理？分峰拟合原理是一种数学算法，用于在一组实验数据中找出不同峰的位置、形状和强度。峰是指数据集中的一个局部最大值，通常表示为钟形曲线。这种曲线通常与实验测量中的某种物质或现象相关联，因此通过拟合峰的参数，我们可以获得有关实验样品的重要信息。分峰拟合原理的主要思想是将实验数据表示为峰的叠加。将数据拟合为多个峰函数的总和，每个峰函数由一些参数（如峰的位置、宽度和高度）来定义。通过对这些参数进行优化，我们可以获得最佳拟合曲线，从而找出数据中的不同峰。下面将详细介绍分峰拟合原理的具体步骤。第一步：准备数据首先，我们需要收集实验数据。这可以是使用仪器进行测量得到的数据，也可以是通过其他方法获得的数据。数据通常以表格或矩阵的形式表示，其中包含了不同变量（如时间、浓度等）下的实验观测值。第二步：选择合适的峰函数

在拟合过程中，我们需要选择适合实验数据的峰函数。常用的峰函数包括高斯峰函数、洛伦兹峰函数和泊松峰函数等。选择合适的峰函数取决于实验的特点和需求。例如，高斯峰函数适用于对称峰的拟合，而洛伦兹峰函数适用于非对称峰的拟合。第三步：拟合过程通过选择适当的峰函数，我们可以开始拟合过程。拟合过程包括确定每个峰的起始参数值，并使用数值优化算法来调整这些参数，使得拟合曲线最好地与实验数据吻合。优化算法的选择也很重要，常用的算法包括最小二乘法、非线性最小二乘法和遗传算法等。每个算法都有自己的优点和限制，选择适当的算法取决于数据的性质和拟合的目标。第四步：评估拟合结果在拟合完成后，我们需要评估拟合结果的质量。这可以通过比较拟合曲线与实验数据的残差来完成。残差是实验数据与拟合曲线之间的差异，较小的残差表示拟合曲线更好地适应实验数据。

S分峰的分析实例

材料Ｘ射线光电子能谱数据处理及分峰的分析实例例：将剂量为1107ions/cm2，能量为45KeV的碳离子注入单晶硅中，然后在1100C退火2h进行热处理。对单晶硅试样进行XPS测试，试对其中的C 1s 高分辨扫瞄谱进行解析，以确定各种可能存在的官能团。分析过程： 1、在Origin中处理数据图1 将实验数据用记事本打开，其中C 1s 表示的是C 1s 电子，表示起始结合能，表示结合能递减步长，81表示数据个数。从15842开始表示是光电子强度。从15842以下数据选中Copy到Excel软件B列中，为光电子强度数据列。同时将到Excel软件A列中，并按照步长及个数生成结合能数据，见图2 图2 将生成的数据导入Origin软件中，见图3。图3 此时以结合能作为横坐标，光电子强度作为纵坐标，绘出C 1s 谱图，检查谱图是否有尖峰，如果有，那是脉冲，应把它们去掉，方法为点Origin 软件中的Data-Move Data Points，然后按键盘上的或箭头去除脉冲。本例中的实验数据没有脉冲，无需进行此项工作。将column A和B中的值复制到一空的记事本文档中（即成两列的格式，左边为结合能，右边为峰强），并存盘，见图4。图4 2、打开XPS Peak，引入数据：点Data--Import (ASCII)，引入所存数据，则出现相应的XPS谱图，见图5、图6

3、选择本底：点Background，因软件问题， High BE和Low BE的位置最好不改，否则无法再回到Origin，此时本底将连接这两点，Type可据实际情况选择，一般选择Shirley 类型，见图7。图7 4、加峰：点Add peak，出现小框，在Peak Type处选择s、p、d、f等峰类型（一般选s），在Position处选择希望的峰位，需固定时则点fix前小方框，同法还可选半峰宽（FWHM）、峰面积等。各项中的constraints可用来固定此峰与另一峰的关系。点Delete peak可去掉此峰。然后再点Add peak选第二个峰，如此重复。

XPS_峰拟合规则

XPS Peak软件拟合数据的简单步骤: 1. Excel中的数据转换成TXT格式从Excel中的数据只选择要进行拟合的数据点，copy至txt文本中，即ABC三列数据(其中B列为空的,只包含两列数据) 2.XPS Peak41中导入数据打开xps peak 41分峰软件,在XPS Peak Fit窗口中,从Data菜单中选择Import (ASCII),即可将转换好的txt文本导入,出现谱线

3.扣背底在打开的Region 1窗口中，点击Backgrond，选择Boundary的默认值，即不改变High BE和Low BE的位置，Type一般选择Shirley类型扣背底 4.加峰选择Add Peak，选择合适的Peak Type(如s,p,d,f),在Position处选择希望的峰位，需固定时点fix前的小方框,同时还可选半峰宽（FWHM）、峰面积等。各项中的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系。如W4f中同一价态的W4f7/2和W4f5/2的峰位间距可固定为2.15eV，峰面积比可固定为4:3等，对于% Lorentzian-Gaussian 选项中的fix先去掉对勾，点击Accept完成对该峰的设置。点Delete Peak可去掉此峰。再选择Add Peak可以增加新的峰，如此重复加峰界面

举例：对峰的限制constraints，峰1的峰位=峰0峰位+1.5 5.拟合选好所需拟合峰的个数及大致参数后，点XPS Peak Processing中的Optimise All进行拟合，观察拟合后总峰与原始峰的重合情况，如不好，可多次点Optimise All 合适图谱

origin分峰的峰面积比例-概述说明以及解释

origin分峰的峰面积比例-概述说明以及解释 1.引言 1.1 概述在科学研究和数据分析中，Origin分峰是指对实验数据进行峰的检测和分析，以确定数据中存在的峰值及其性质。峰面积比例则是指不同峰的面积之间的比例关系，这一比例关系在许多领域都具有重要的意义，例如在化学分析中可以用于定量分析，而在生物学研究中则可以用于了解不同成分在生物体内的相对含量。本文将重点讨论Origin分峰的峰面积比例，介绍了该概念的定义以及其在实际应用中的重要性。我们还将探讨测量峰面积比例的方法，以帮助读者更好地理解和应用这一概念。通过深入研究Origin分峰的峰面积比例，我们可以更好地理解数据背后的信息，并为未来的研究和应用提供有益的参考和指导。 1.2文章结构文章结构部分内容如下： "1.2 文章结构：本文将首先介绍Origin分峰的定义，以便读者对本文的主题有一个清

晰的理解。接着，我们将探讨峰面积比例在科学研究中的重要性，以及为什么测量峰面积比例是必要的。最后，我们将介绍几种常用的方法来测量峰面积比例，包括其优缺点和适用场景。通过这些内容的介绍，读者将能够对Origin分峰的峰面积比例有一个全面的了解，并在实际应用中更好地利用这一指标。" 1.3 目的本文的目的是探讨Origin分峰的峰面积比例对于化学分析和数据处理的重要性。通过分析峰面积比例，我们可以更准确地确定不同组分在样品中的相对含量，从而帮助我们更好地理解样品的组成和特性。同时，了解峰面积比例的方法和计算原理也有助于我们在实际应用中对数据进行正确的解释和分析。通过本文的研究，我们希望读者能够更全面地了解Origin分峰的峰面积比例，在化学分析领域中的实际应用和意义。 2.正文 2.1 Origin分峰的定义 Origin分峰是指在实验数据中找出各个不同的峰所在的位置，并对这些峰进行分析和处理的过程。在Origin软件中，通过使用Peak Analyzer 工具可以对数据进行峰识别和分峰操作，将数据中的峰识别出来，并显示出每个峰的位置、峰高、峰面积等信息。

XPS分峰软件的使用和数据处理

XPS分峰软件的使用和数据处理 XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy，X射线光电子能谱）是一种常用的表面分析技术，广泛应用于材料科学、催化剂研究、纳米科学等领域。XPS分峰软件是对XPS数据进行分析和处理的工具，能够提取有关样品表面元素化学状态、化学成分和电子结构等信息。 1.数据导入：将XPS仪器获得的原始数据导入软件中。数据通常以文本文件或仪器专用格式存储，分峰软件可以识别并导入这些数据。在导入数据之前，应该先了解数据格式，并确定所需的数据范围和区域。 2. 背景修正：数据导入后，需要进行背景修正，以去除实验过程中的仪器背景和杂散光等干扰。背景修正方法通常包括线性减法、谐波函数、Shirley函数等，具体方法根据实验条件和样品性质选择。 3. 峰形拟合：在背景修正后，需要对数据中的峰进行拟合。峰拟合是将实验数据与已知的峰形函数进行匹配，以确定化学元素的存在和化学状态。通常情况下，可以使用高斯-Lorentzian混合函数对峰进行拟合，拟合过程可以手动进行，也可以使用软件自动拟合功能。 4.能量标定：在进行峰形拟合之前，需要对X射线束进行能量标定。能量标定是将X射线能量与测量数据进行关联，以确定化学元素的能级位置和化学键结构。能量标定通常使用已知元素的能级作为标准，例如碳、氧、铜等元素。 5.数据处理和结果输出：在峰形拟合步骤完成后，可以根据需要进行数据处理和结果输出。常见的数据处理包括计算元素丰度、化学键价、化学迁移率等。结果输出可以以图表形式展示，也可以导出为表格或文本文件。

在使用XPS分峰软件时，有一些细节需要注意： 1.导入数据前，应该了解数据的格式和采集参数，确保数据和软件相兼容。 2.在进行峰形拟合时，应该根据样品的特性和实验要求选择合适的峰形函数和拟合范围。 3.在选择背景修正方法时，应该根据数据的特点，选择适合的修正方法，并进行必要调整。 4.在能量标定时，应该使用合适的能级标准，并进行修正，以达到更准确的能量标定效果。 5.在数据处理和结果输出时，应该根据具体实验目的和需求，选择合适的处理方法和结果展示方式。最后，不同的XPS分峰软件有其各自的特点和操作方式。使用特定软件前，应该先学习软件的使用手册或参考相关专业书籍，掌握软件的基本操作和分析功能。此外，由于XPS分析是一项复杂的工作，对专业背景和实验技巧也有一定要求，因此在使用XPS分峰软件时，最好具备一定的XPS分析基础和经验。

xps分峰处理

xps分峰处理摘要：一、XPS分峰处理简介 1.XPS技术背景 2.XPS分峰处理的重要性二、XPS分峰处理方法 1.基本原理 2.常用方法 a.手动分峰 b.自动分峰 c.基于模型的分峰三、XPS分峰处理应用案例 1.案例一 2.案例二 3.案例三四、XPS分峰处理结果分析 1.影响因素 2.结果解读 3.结果应用五、XPS分峰处理技术发展趋势 1.现有问题与挑战

2.未来发展方向正文： XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy，X射线光电子能谱）是一种分析材料表面化学组成和电子状态的先进技术。在XPS分析中，分峰处理是一个关键步骤，它能够帮助我们更好地理解样品的化学成分和结构信息。本文将对XPS分峰处理进行详细介绍，包括处理方法、应用案例以及结果分析等。首先，XPS分峰处理是根据样品在X射线照射下产生的光电子能谱进行定性和定量分析的过程。通过分峰处理，我们可以得到各个元素的峰面积和相对丰度等信息，从而为材料分析提供依据。 XPS分峰处理方法主要包括手动分峰、自动分峰和基于模型的分峰。手动分峰是基于专家经验和直觉进行分峰，这种方法对操作者要求较高，但能够获得较高的分峰准确度。自动分峰是利用计算机程序自动识别并分离出各个元素的光电子峰，这种方法对操作者要求较低，但可能受到计算机算法和数据的限制。基于模型的分峰方法则通过建立数学模型来预测各个元素的光电子峰，这种方法对数据要求较高，但能够实现快速、准确的分峰。 XPS分峰处理在材料分析领域具有广泛的应用，如案例一：在半导体材料分析中，通过XPS分峰处理可以获得衬底、杂质和表面氧化物的相关信息；案例二：在金属材料分析中，可以用于评估金属的氧化状态和环境暴露程度；案例三：在生物医学领域，可以用于分析生物组织中的元素组成和化学状态。在分析XPS分峰处理结果时，需要考虑多种影响因素，如仪器分辨率、峰形状和样品制备等。正确解读分峰处理结果有助于我们更好地理解样品的化学成分和结构信息，从而为材料研究提供有价值的参考。

XPS能谱处理数据的方法(中国科院)

XPS 能谱数据处理能谱数据转化成ASC 码文件后可以用EXCEL 、ORIGIN 等软件进行处理.这篇文章的目的是向大家介绍用ORIGIN 软件如何处理能谱数据,以与它的优势所在. 下面将分三部分介绍如何用ORIGIN 软件处理能谱数据：1、多元素谱图数据处理 2、剖面分析数据处理 3、复杂谱图的解叠一、多元素谱图的处理： 1、将ASC 码文件用NOTEPAD 打开： 2、复制Y 轴数值.打开ORIGIN,将Y 轴数据粘贴到B 〔Y 〕： 3、如图：点击工具栏plot,选择line 4、出现下图：点击B 〔Y 〕,再点击<->Y,使B 〔Y 〕成为Y 轴数据.然后在"set X values"中输入起始值和步长. 5、点击OK,得到下图： 6、利用ORIGIN 提供的工具可以方便的进行平滑、位移. A. 位移： 1〕如图：选择analysis →translate →vertical 或horizontal 可以进行水平或垂直方向的位移.我们以水平位移为例进行讲解. 2〕在图中双击峰顶,如图示〔小窗口给出的是此点的X,Y 值〕 Y 轴数值 X 轴起始点 X 轴步长采集的数据点总数元素名称

3〕然后在图中单击其他位置找到合适的X 值〔小窗口给出的是红十字的X,Y 值〕 4〕双击红十字的位置,峰顶就会位移到此处：位移可以反复多次的进行,垂直方向的位移和水平方向的一样. B 、平滑 1〕如图选择： 2〕出现下面的小窗口 3〕点击settings 出现下面的界面〔如果想用平滑后的代替原始的,选择"replace original",如果想重新做图选"add to worksheet",下面的数值不用改变〕 4〕点击operation,选择savizky-golay 进行平滑.得到下图：二、剖面分析数据处理： 1、用写字板打开ASC 码文件,选取所需要的元素 2、打开ORIGIN 软件,如图示：选择column add new columns 元素名称剖面分析中的CYCLE 数起始值与步长 Y 轴数据

XPS分峰处理备课讲稿

XPS 分峰处理

实验条件：样品用VG Scientific ESCALab220i-XL型光电子能谱仪分析。激发源为Al K a X射线，功率约300 W。分析时的基础真空为3X10"9 mbar。电子结合能用污染碳的C1s峰（284.8 eV）校正。 X-ray photoelectr on spectroscopy data were obta ined with an ESCALab220i-XL electron spectrometer from VG Scientific using 300W AlK a radiation. The base pressure was about 310-9 mbar. The binding en ergies were refere need to the C1s line at 284.8 eV from adve ntitious carb on. 处理软件：Ava ntage 4.15 XPS数据考盘后的处理数据步骤 Origin 作图： 1. open Excel文件，可以看到多组数据和谱图，一个sheet对应一张谱图及相应的数据（两列）。 2. 将某一元素的两列数据直接拷贝到Origin中即可作出谱图。（注意：X 轴为结合能值，丫轴为每秒计数） 3. 如果某种元素有两种以上化学态，需要进行分峰处理时，按“ XPS Peak分峰步骤”进行。 XPS Peak分峰步骤 1 •将所拷贝数据转换成所需格式：把所需拟合元素的数据引入Origin后，将 column A和C中的值复制到一空的记事本文档中（即成两列的格式，左边为结合能，右边为峰强），并存盘。如要对数据进行去脉冲处理或截取其中一部分数据，需在Origin中做好处理。 2•打开XPS Peak,引入数据：点Data----lmport（ASCII），引入所存数据，则出现