光电检测技术实验讲义

光电检测技术实验指导书

电气工程学院

目录

实验一半导体激光器工作域值及输出功率特性的测量 (2)

实验二半导体激光器输出光谱特性曲线的测量 (9)

实验三光电探测原理及特性测试(综合性) (13)

实验四* CCD输出特性及二值化处理实验 (22)

实验五 PSD位移传感器特性实验 (28)

实验六反射式光纤位移传感器原理及定标实验 (32)

实验七光电报警系统设计(设计性) (38)

实验一 半导体激光器工作域值及输出功率特性的测量

一、实验目的

测试半导体激光器工作域值,测量输出功率-电流(P-I )特性曲线和输出功率的稳定性,从而对半导体激光器工作特性有个基本了解。

二、实验内容

1、测试YSLD3125型半导体激光器工作域值。

2、测试YSLD3125型半导体激光器输出功率与电流(P-I )特性曲线。

3、测试YSLD3125型半导体激光器注入电流为30mA 时输出功率的稳定性。

三、实验仪器

1、YSLD3125型半导体激光器(带尾纤输出,FC 型接口) 1只

2、ZY606型LD/ LED 电流源 1台

3、光功率计 1台

4、万用表 1只

四、实验原理

1、激光器一般知识

激光器是使工作物质实现粒子数反转分布产生受激辐射,再利用谐振腔的正反馈,实现光放大而产生激光振荡的。激光,其英文LASER 就是Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation (受激辐射的光放大)的缩写。

激光的本质是相干辐射与工作物质的原子相互作用的结果。尽管实际原子的能级是非常复杂的,但与产生激光直接相关的主要是两个能级,设E u 表示较高能级,E l 表示较低能级。原子能在高低能级间越迁,在没有外界影响时,原子可自发的从高能级越迁到低能级,并伴随辐射一个频率为

h E E l u /)(-=ν

的光子,这过程称自发辐射。

若有能量为l u E E h -≥ν的光子作用于原子,会产生两个过程,一是原子吸收光子能量从低能级越迁到高能级,同时在低能级产生一个空穴,称为受激越迁或受激吸收,此激发光子消失;二是原子在激发光子的刺激下,从高能级越迁到低能级,并伴随辐射一个频率

h E E l u /)(-=ν

的光子,这过程称受激辐射。

受激辐射激发光子不消失,而产生新光子,光子增加,而且产生的新光子与激发光子具有相同的频率、相位和偏振态,并沿相同的方向传播,具有很好的相干性,这正是我们所需要的。

受激辐射和受激吸收总是同时存在的,如果受激吸收超过受激辐射,则光子数的减少多于增加,总的效果是入射光被衰减;反之,如果受激辐射超过受激吸收,则入射光被放大。实现受激辐射超过受激吸收的关键是维持工作物质的原子粒子数反转分布。所谓粒子数反转分布就是工作物质中处于高能级的原子多于处于低能级的原子。所以原子的粒子数反转分布是产生激光的必要条件。

实现粒子数反转可以使受激辐射超过受激吸收,光在工作介质中得到放大,产生激光,但工作介质的增益都不足够大,若使光单次通过工作介质而要产生较强度的光,就需要很长的工作物质,实际上这

是十分困难,甚至是不可能的。于是就想到了用光学谐振腔进行光放大。所谓光学谐振腔,实际上是在激光器两端,面对面地装两块反射镜,如下图所示:

一块几乎全反射,一块为部分反射,激光可透过部分反射镜射出。被反射回到工作介质的光,可在工作介质中多次往返,设往返次数为m ,则有效长度为:

mL L eff 2= (m=1,2,3,4…)

L 为工作介质的的实际长度。

由于谐振腔内工作介质存在吸收,反射镜存在透射和散射,而且只有沿轴线方向的光才被放大,因此光受到一定损耗,当增益和损耗相当时,在谐振腔内建立起稳定的激光振荡。即一个激光器,m 有一个确定的值。

谐振腔的另一个作用是选模,光在谐振腔内反射时,反射波将和入射波发生干涉,为了能在腔内形成稳定的振荡,必须满足相干相长的条件,也就是沿腔的纵向(轴线方向)形成驻波的条件,这条件是:

n

q

L 2λ

= 或q

nL

2=

λ 式中,λ为波长,n 是工作介质的折射率,q=1,2,3,4,…,为某一整数,为驻波波幅的个数,它表征了腔内纵向光场的分布,称为激光的纵模,q=1称单纵模激光器,q ≥2称多纵模激光器。每个驻波的频率是不一样的,第q 个驻波的频率由:

L

c q

q 2=ν s m C /1038⨯=,为光速。

以上两式都说明,虽然由于导带和价带是由许多连续能级组成的有一定宽度的能带,两个能带中不同能级之间电子的跃迁会产生许多不同波长的光波,但只有符合激光振荡的相位条件的那些波长存在,不符合激光振荡的相位条件的那些波长的光将衰减掉,这些波长取决于激光器工作物质的纵向长度L 。

多纵模激光器输出q 个波长的光,但幅度不一样,幅度最大的称为主模,其余的称为边模。 2、半导体激光器的结构

半导体是由大量原子周期性有序排列构成的共价晶体,由于邻近原子的作用,电子所处的能态扩展成能级连续分布的能带,如下图(a )所示,能量低的能带称为价带,能量高的能带称为导带,导带底的能量Eu 和价带顶的能量E l 之间的能量差g

l u E E E =-称为禁带宽度或带隙,不同的半导体材料有

不同的带隙。本征半导体中导带和价带被电子和空穴占据的几率是相同的,N 型半导体导带被电子占据

的几率大,P 型半导体价带被空穴占据的几率大。如下图(b )、(c )所示。

半导体激光器的结构多种多样,基本结构是下图所示的双异质结平面条形结构。这种结构由三层不同类型半导体材料构成,中间层通常为厚度为0.1~0.3μm 的窄带隙P 型半导体,称为有源层,作为工作介质,两侧分别为具有较宽带隙的N 型和P 型半导体,称为限制层。具有不同带隙宽度的两种半导体单晶之间的结构称为异质结。有源层与右侧的N 层之间形成的是P--N 异质结,而与左侧的P 层之间形成的是P--P 异质结,故这种结构又称N-P-P 双异质结构,简称DH 结构。

施加正向偏压后,就能使左侧的N 层向有源层注入电子,右侧的P 层向有源层注入空穴,但由于右侧的P 层带隙宽,导带的能态比有源层高,对注入电子形成了势垒,注入到有源层的电子不可能扩散到P 层,同理,注入到有源层的空穴也不可能扩散到N 层。这样,注入到有源层的电子和空穴被限制在0.1~0.3μm 的有源层内,形成了粒子数的反转分布。

前后两个晶体解理面作为反射镜构成谐振腔。 给半导体激光器施加正向偏压,即注入电流是维持有源层介质的原子永远保持粒子数的反转分布,自发辐射产生的光子作为激发光子诱发受激辐射,受激辐射产生的更多新光子作为新的激发光子诱发更强的受激辐射。

3、半导体激光器的主要特性 (1)输出光功率特性

激光器光功率特性通常用输出光功率与激励电流I 的关系曲线,既P —I 曲线表示。给半导体激光器注入电流,就是给激光器有源层半导体工作介质注入能量,对价带上的载流子(电子)进行激发,当注入电流较小时,导带和价带间载流子不能形成反转分布,这时从导带上跃迁到价带上的载流子主要以自发辐射为主,产生的是荧光,即非相干光。当注入电流达到一定值时,导带和价带间载流子才能形成反转分布,产生受激辐射,激光器才有激光(即相干光)输出,这个一定值称为阈值电流。阈值电流以后,随着注入电流的增大,导带和价带间粒子数差值增大,激光增益系数增大,输出功率增加,并与注入电流近似成线性关系,如下式所示。

()e

hf

I I P P D th f th η⋅

-+=

式中I f 为注入电流,S J h ∙⨯=-34

10

628.6为普朗克常数,λ

c

f =

为入射光频率,s

m c /1038

⨯=为光速,λ为入射光波长,e 为电子电量,ηD 为外微分量子效率,I th 为阈值电流,P th 为阈值功率。图

线表示如下:

半导体激光器 LD 的P-I 特性曲线

根据P-I 曲线可以求出激光器的阈值电流I th 和外微分量子效率ηD :将P-I 曲线的线性部分作直线与横坐标相交,交点处的电流值即为激光器的阈值电流;曲线线性部分的斜率为e

hf

D η,由曲线求得斜率,

可计算ηD 。

(2)温度特性

激光器输出光功率是随温度而变化的,有两个原因:一是激光器阈值电流I th 随温度升高而增大,二是激光器外微分量子效率η

D

随温度升高而减小。温度升高时,I th 增大,η

D

减小,输出光功率明显下

降,达到一定温度时,激光器就不激射了。当以直流电流驱动时,阈值电流I th 随温度的变化更加明显。

五、设备简介

1、 ZY -YSLD3125型激光器

我们所用ZY -YSLD3125型半导体激光器是具有多量子阱F-P 腔激光器LD ,内置背景光探测器PD ,这种激光器使用时具有下图所示四种型式:

图中,LD 为激光器,PD 为背景光探测器。PD-N side dwon 的管是探测器PD 的负(N )与激光器LD 的负(N )或正(P )相连,PD-P side dwon 的管是探测器PD 的正负(P )与激光器LD 的负(N )或正(P )相连,与激光器LD 的负(N ))相连的称为DVD 型管,与激光器LD 的正(P )相连的称为POINT 型管。所用ZY -YSLD3125型激光器为PD-N side dwon 的POINT 型管,单模光纤同轴封装,带尾纤FC 连接。性能指标如下表所示

表中CW表示连续。管脚图如下

2、ZY606型LD/ LED电流源

本机为激光二极管(LD)专用测试设备,可广泛用于650nm、780nm、808nm、850nm、980nm、1310nm、1550nm等各种中小功率LD的电流测试及老化测试。设备内部带APC(Automatic Power Control)电路及ACC(Automatic Current Control)电路,可以实现以下三种功能:

1) LD电源

2) Iop及Im电流测试

3) LD恒功老化及恒流老化

性能指标

供给电流(Iop)max:150mA

反馈测量电流(Im)max:2000uA

Iop的测量准确度:±0.5mA

Iop分辨率:0.1mA

Im测量准确度:±5uA

Im分辨率:1uA

仪器的结构

仪器的前面板如下图所示

POWER 电源开关

IOP 激光器工作电流显示

Im 激光器探测电流显示

PD正、PD负、LD正、LD负待测激光器插入座

DVD、POINTER 待测激光器类型转换钮,按下测DVD型

恒功、恒流恒功或恒流测量转换钮

粗调、细调激光器工作电流调节钮

操作说明

1)本机只能对PD-N side down的LD进行测量,不能用来测量PD-P side down安装的激光器,否则会损坏激光器。

2)本机的一大特色是设备内部带APC(Automatic Power Control)电路,这种电路是LD在实际应用时通常采用的一种恒功控制电路。因此,一只LD在本机上所表现的直流特性,将与它在实际应用时的直流特性完全一致。有了这种恒功控制电路,就可以长期通电对LD进行寿命及稳定性考核。从而反映出LD在应用产品(如光通信模块、DVD激光头等)中工作时的稳定性。没有APC电路的设备,则不能实现上述功能。

操作步骤

1)通电之前,确保“粗调”旋钮在最小值位置。这样可防止冲击电流损坏LD。

2)确认LD已经插接良好后,打开电源开关。此时电源输出为零,LD尚未发光。

3)恒功测量:将切换开关拨到恒功档,顺时针缓慢调节输出功率“粗调”旋钮,LD射出激光。改调“细调”旋钮,可将LD输出调至要求的数值(用一台光功率计来测量LD的输出功率)。通过Iop显示窗口可以读出输出电流值,通过Im显示窗口可以读出探测电流值。

4)恒流测量:将切换开关拨到恒流档,该方式下“细调”旋钮无效,Im窗口显示读数也无效。只需要调节输出功率“粗调”旋钮即可,通过Iop显示窗口可以读出输出电流值。

5)恒功老化:将被测LD调到固定的功率输出(这个值由用户根据需要确定),并保持不断电,记录该LD在通电一定时间后工作电流的变化量,从而反映出LD产品在实际应用中的稳定性。

6)恒流老化:将被测LD调到固定的电流输出(这个值由用户根据需要确定),并保持不断电,记录该LD在通电一定时间后输出功率的变化量,从而反映出LD产品在实际应用中的稳定性。

五、实验装置及步骤

(一)ZY-YSLD3125型激光器测试实验装置如下

1、按图连接线路,连接图如下。关于ZY606型LD/ LED电流源的详细使用方法参见设备简介。

2、因YSLD3125型半导体激光器为Pointer型,将电流源“DVD、Pointer”管切换钮置于Pointer,

恒功恒流切换置于恒功,“粗调”和“细调”置于最小。开启电流源,缓慢调节电流旋纽使电流由0mA 逐渐增加到35mA ,每隔3mA 测输出光功率值,绘制P-I 曲线。切记电流最大不能超过40mA ,否会损坏激光器!!

3、通过P-I 曲线的线性部分作直线与横坐标相交,交点处的电流值即为激光器的阈值电流,计算外微分量子效率ηD 。

4、稳定性测量,将工作电流调到25mA ,每隔1分钟测一次输出功率,测20~30分钟。 输出功率稳定性S 按下式计算

__

____

P

P S ∆=

30

30

1

__

∑=

i

P

P 30

)

(30

1

__

___

∑-=

∆p p

p i

注意:插拔激光器之前,务必先把输出功率“粗调”旋钮调到最小,然后关闭电源开关,这是因为带电插拔LD 会造成LD 的劣化。

六、实验报告要求

1、 在坐标纸上作出P —I 曲线,并确定出阈值电流和外微分量子效率。

2、 计算工作电流为25mA 时输出功率的稳定性。

实验二 半导体激光器输出光谱特性曲线的测量

一、实验目的

测试半导体激光器输出光谱特性曲线与注入电流的关系,掌握测量方法,解释注入电流对谱线中心波长影响的原因。

二、实验内容

测试中心波长650nm 的半导体激光器的光谱特性。

三、实验仪器

1、中心波长650nm 半导体激光器 1只

2、ZY606型LD/ LED 电流源 1台

3、WGD3型组合式多功能光栅光谱仪 1台

4、微机 1台

四、实验原理

半导体激光器的发射波长取决于工作物质导带的电子跃迁到价带时所释放的能量,这个能量近似等于禁带宽度E g (eV ),由h E E l u /)(-=ν,λ

ν/c =可得

g

l u E hc

E E hc =

-=

λ 将光速s m C /1038

⨯=,普朗克常数S J h ∙⨯⋅=-34

106286,J eV 1910611-⨯⋅=代入得到

g

E 24

1⋅=

λ 不同的半导体材料有不同的禁带宽度E g ,因而有不同的发射波长。铝镓砷—镓砷(AlGaAs )材料适用于630--900nm 波段,铟镓砷磷—铟磷(InGaAsP —InP )材料适用于1300--1550nm 波段。

由前面的讨论已知,在直流驱动下,多纵模激光器输出q 个波长的光,幅度最大的主模和若干边模。其典型的光谱如下图所示:

随着驱动电流的增加,由于谐振腔对光波频率和方向的选择,使边模减少,主模增益增加,同时驱动电流增加时,半导体能带宽度变大,禁带宽度E g 变小,从而使纵模模数逐渐减少,谱线宽度变窄,同时中心波长变大。

五、设备简介

WGD3型组合式多功能光栅光谱仪由入射光源、光栅单色仪、控制箱、软件及计算机、光电探测器组成。

光栅单色仪:光栅单色仪光学系统原理如下图所示:

光源发出的复色光束入射到入射狭缝S1,经反射镜M1反射到准光镜M2上,经M2反射成平行光束投向平面光栅G上,衍射后的平行光束经物镜M3后可通过一转换开关从出射狭缝S2或S3射出。S2处可安装光电探测器探测出射光束,S3处用来观察出射光束。本仪器安装的光电探测器为光电倍增管。通过控制机构转动平面光栅G,则出射不同波长的光束。

控制箱前面板如下图所示

负高压调节:手动调节供光电倍增管的直流电压,调节范围0—1000V,用电压表指示;

倍增管:与光电倍增管探测器相连的接口,输出负高压到光电倍增管,输出通过软件产生的控制光

电倍增管增益的信号,共有1—7八档增益;

电机驱动:与光栅单色仪相连的接口,输出通过软件产生的控制光栅G转动的信号;

USB:与计算机相连的通信接口;

PWR:接通电源指示灯;

STA:计算机与控制箱通信的指示灯;

六、实验装置及方法

实验装置如下图

电流源供给激光器驱动电流,电流值可自身测量。激光器输出的光进入光栅单色仪进行分光,输出单一波长的光,用光电倍增管接收,光电倍增管输出的与接收光强成比例的电压信号由计算机显示。光栅单色仪的分光由计算机控制。

1、将激光器安装在S1狭缝,开启电流源电源,用“恒流”、“POINTER”档,调“粗调”,使驱动电流为35mA;

2、光谱仪转换开关拨至“观察”缝,调整S1狭缝宽度,从S3缝观察使有红光出现;

a)将光电倍增管探测器安装在S2,并按图接好电路,光电倍增管直流电压暂调至400V,初步调整S2狭缝宽度适当;

b)参数设置:仅供参考

S1、S2狭缝刻度调至2mm

工作方式栏中的间隔选0.1nm

工作范围栏中的起始波长选550 nm,终止波长选750 nm

工作状态栏中的增益(光电倍增管的增益)选1

当前寄存器选寄存器1

从工作界面上点击“单程”,则扫描出一条光谱曲线,横坐标是波长,纵坐标是相对能量。要求光谱曲线能观察到6~8个副峰,如果曲线能量轴过小或过大,可适当调整S2狭缝宽度或光电倍增管直流电压,使曲线高度适中。

c)从工作界面上点击“读取数据”,选择寻峰—自动寻峰,则出现寻峰/谷菜单,在此菜单中选择检峰、积存器1、适当设置最小峰高,然后点击“检峰/谷”钮,则给出各峰的波长和能量;此曲线说明了半导体激光器的多纵模特性;

d)将半导体激光器调驱动电流调为15mA,当前寄存器选寄存器2,从工作界面上点击“单程”,则扫描出一条光谱曲线,要求光谱曲线能观察到高度适中完整主峰。若过大(顶端出现平坦)或过小,可适当调整光电倍增管直流电压和工作状态栏中的增益(光电倍增管的增益),使曲线高度适中;

e)将半导体激光器调驱动电流调为20mA,当前寄存器选寄存器3,点击“单程”,则扫描出一条光谱曲线,要求此光谱曲线高度与驱动电流调为15mA时的曲线高度接近;

f)将半导体激光器调驱动电流调为25mA,当前寄存器选寄存器4,仿上扫描出调驱动电流为

25mA的光谱曲线;

9、比较并分析3条光谱曲线的异同,测量中心波长值。

六、实验要求

1、在坐标纸上做出650nm 的半导体激光器在调驱动电流为15 mA 、20 mA 、25mA的光谱曲线。

2、指出调驱动电流由小到大光谱曲线的不同,分析其原因。

实验三光电探测原理及特性测试

一、实验目的

了解两种探测器的工作原理及特性。

(一)内增益探测器

1.理解内增益探测器光电倍增管的基本特性。

2.学习光电倍增管基本参数的测量方法。

(二)四象限光电探测器

1.了解四象限探测器的性能及单脉冲定向原理。

2.通过该系统直接、间接地测定目标的方向,观测红外可见光辐射到四象限探测器上的位置和强度变化。

二、实验内容

(一)内增益探测器

测量光电倍增管的静态特性参数。

(二)四象限光电探测器

1.测量激光器脉冲驱动信号。

2.测量以四象限探测器做接收器,脉冲光信号的放大信号、展宽信号。

3.通过上位机显示每个象限的光强以及光斑的光心坐标,通过观察光斑在四个象限的显示情况验证四象限探测器原理。

三、实验原理

(一)内增益探测器

1.结构

光电倍增管是具有内增益的探测器,结构如图。K是光电阴极,D为聚焦极,它与阴极共同形成电子光学聚焦系统,将光电阴极发射的电子会聚成束并通过膜孔射向第一倍增极D1,D1~D10为倍增极,所加电压逐级增加。A为收集电子的阳极。这些电极封装在真空管内,光电阴极附近制作光入射窗口。在高速初电子的激发下,第一倍增极被激发出若干二次电子,这些电子在电场的作用下,又打第二倍增极,又引起更多的二次电子发射……,此过程一直继续D10。最后经倍增的电子被阳极A收集而输出光电流,在负载R L上产生信号电压。

图8 光电倍增管

2.供电分压器

为使光电倍增管能正常工作,需要在阴极K 和阳极A 加近千伏的电压。同时,还需要在阴极、聚焦极、倍增极、阳极之间分配一定的极间电压,才能保证光电子能被有效的收集,光电流通过倍增极系统得到放大。通常由上图所示的电阻链分压来完成。

随着光通量的增加,阳极电流I a 也相应增加。当光通量进一步增大并超过某一定值后,阳极电流与光通量之间会偏离线性关系,甚至使光电倍增管进入饱和状态,如图9所示

图9 阳极电流与光通量关系

*输出信号是直流情况下,当阳极电流为I a 时,末级倍增极Dn 的一次电流n a Dn I I ∂÷=,n ∂为倍增极的二次发射系数,从此倍增极经过R n 流向阴极的电流为a n Dn a I I I ⎪⎪⎭

⎫ ⎝⎛

∂-=-11,同理,其它倍增极也有一部分电流流向阴极,而且这些电流随光电流增大而增大,这些电流会使各极间电压重新分配。当I a 远小于流过分压电路的电流I b 时,极间电压的重新分配不明显,阳极电流I a 随光通量线性增加;如曲线A 段。当阳极电流增大到能与分压器电流相比拟时,极间电压的重新分配将很明显,导致阳极与后几级倍增极的极间电压下降,阴极与前几级倍增极的极间电压上升,结果光电倍增管的电流放大倍数明显增加,如曲线B 段。当阳极电流进一步增加时,阳极与末级倍增极的极间电压趋向零,阳极的电子收集率逐渐减小,最后阳极输出电流饱和,如曲线C 段。为防止极间电压的再分配以保证增益稳定,分压器电流至少为最大阳极电流的20倍。对于直线性要求很高的应用场合,分压器电流至少为最大阳极平均电流的100倍。*

3.输出电路

光电倍增管输出的是电荷,且其阳极可以看成是一个理想的电流发生器来考虑。因此,输出电流与负载阻抗无关。但实际上,对负载的输入阻抗却存在着一个上限。因为负载电阻上的电压降明显地降低了末极倍增管与阳极之间的电压,从而降低放大倍数。

对于直流信号,光电倍增管的阳极能产生达数十伏的电压输出。因此可以使用大的负载电阻;对于交流信号,光电倍增管的输出级可等效成阳极电流源、负载电阻R L 、阳极对地的等效电容C L 的并联电路,时间常数R L C L 应远小于脉冲宽度。

4.倍增管的主要特性和参数

光电倍增管的特性参数包括灵敏度、电流增益、伏安特性、暗电流等。

1)灵敏度

灵敏度是衡量光电倍增管探测光信号能力的一个重要参数,一般是指积分灵敏度。

阴极灵敏度S K

阴极光照灵敏度S K 是指光电阴极本身的积分灵敏度。定义为光电阴极的光电流I k 除以入射光通量Φ所得的商

)/(Lm A I S K k μΦ

= 侧光电倍增管阴极灵敏度,阴极为一极,其它各极连在一起为另一极。入射到阴极K 的光照度为E ,光电阴极的面积为A ,则光电倍增管接受到的光通量为

A E ⋅=Φ

若已知光照度E ,光电阴极的面积A ,用G 测得光电流I K ,则可计算出阴极灵敏度。

阳极灵敏度S p

阳极光照灵敏度S p 定义是指光电倍增管在一定工作电压下阳级输出电流与照射阴极上光通量的比值

)/(Lm A I S p

p Φ=

2) 放大倍数(电流增益)G

放大倍数G(电流增益)定义为在一定的入射光通量和阳极电压下,阳极电流I p 与阴极电流I K 间的比值。

K p

I I G =K p S S =

放大倍数G 取决于系统的倍增能力,因此它是工作电压的函数。

3) 暗电流I d

当光电倍增管在完全黑暗的情况下工作时,在阳极电路里仍然会出现输出电流,称为暗电流,暗电流与阳极电压有关,通常是在与指定阳极光照灵敏度相应的阳极电压下测定的。

4)伏安特性

有阳极伏安特性和阴极伏安特性之分

阴极伏安特性:定义为当光照度E 一定时,阴极电流I K 与阴极和第一倍增极之间的电压(阴极电压)V K 的关系。当V K 大于几十伏后,阴极电流开始趋向饱和,且与光照度成线性变化。

阳极伏安特性:定义为当光照度E 一定时,阳极电流I p 与最后一级倍增极之间的电压(阳极电压)V A 的关系。当V A 大于几十伏后,阳极电流开始趋向饱和,且与光照度成线性变化。如下图所示:

图10 阴极、阳极伏安特性

(二) 四象限光电探测器

由四象限探测器组成的光电定向是指用光学系统来测定目标的方位,该系统框图如下图:

图11 系统结构图

*系统电路框图如下

1.发射部分

发射部分主要由650nm激光器、NE555组成的脉冲发生器组成。

2.接收部分

接收部分主要由四象限探测器承担。四象限光电探测器是是将四个性能完全相同的探测器按照直角坐标排列成四个象限做在同一芯片上,通常称四象限管,如下图所示:

图13 四象限探测器

四个象限之间的间隔称为“死区”。在可见光和近红外波段,光电探测器目前广泛采用硅光电池和硅光电二极管。光电探测器有光照射时产生电信号。

二维方向上目标的方位定向原理如下图所示:

由光学系统和四象限探测器组成接收系统,目标光信号经光学系统后在四象限光电探测器上成像。四象限探测器放在光学系统后焦面附近,光轴通过四象限探测器的十字沟道中心,因四象限探测器的位置略有离焦,于是接收目标的像为一圆形光斑。当目标成像在光轴上时,圆形光斑中心与四象限探测器中心重合。因四象限探测器中四个探测器件受照的光斑面积相同,输出相等的脉冲电压。当目标成像不在光轴上时,目标像的圆形光斑的位置在四象限探测器上相应的有偏移,四个探测器件受照的光斑面积不同,输出不相等的脉冲电压。比较四个光电信号的幅度大小就可以知道目标成像在哪个象限上(也就知道了目标的方位)。

3、信号处理电路

信号处理电路包括四象限探测器的偏置与放大电路、展宽电路和运算电路:

(1)四象限探测器的偏置与放大电路

单脉冲定向系统中,光脉冲通常由激光产生,其脉冲宽度一般为几十纳秒级,也可作得更窄。而重复频率比较低,一般为几十赫兹。这种信号要用来指示与控制需要放大与展宽。另一方面由于探测器的性能不可能完全一致,放大器可以起补偿和均衡作用。偏置与放大电路通常都与探测器做在一起。

(2)展宽电路

窄脉冲展宽实质是峰值保持的一个特例。由于脉冲宽度极窄要求电路响应快而又要保持相对较长的时间,而且还需要有较高的线性输出,所以展宽电路实质是用于将目标脉冲信号在显示时有一个持续时间,以便观察。

(3)显示电路

模拟显示:用四个探测器输出并被展宽的信号驱动发光二极管D1~D4,二极管亮表示光斑在此象限的面积最大。

数字显示:将四个探测器输出并被展宽的信号进行模/数转换。转换后的信号再送入单片机,然后通过RS232连接线与计算机相连。在计算机显示数字输出。显示方式如下图所示。

要精确显示光斑在X—Y坐标系中的位置,必须对四个探测器输出并被展宽的信号进行计算,得到

代表光斑沿X 或Y 方向的偏移量所对应的电压。

图16 和差运算电路

假设光斑得到的辐射是均匀的,每个光电探测器件收到的光功率,从而输出信号一定与每个探测器件接收到的光斑面积成比例,可以将探测器件接收到的光斑面积和光斑半径r 作为已知量计算出偏离量x 1,y 1。这里以A 、B 、C 、D 表示二极管接收到的光斑面积占总光斑面积的百分比,当

11<

y 时,通过求扇形面积的公式求得 [])()(4

1C B D A r

x +-+=π

[])()(41D C B A r y +-+=π 可见,只要能测出A 、B 、C 、D 和r 就可以求得目标直角坐标(x 1、,y 1)

,但实际系统中能测得的是各象限的光功率信号。若探测器件的材料是均匀的,则各象限的光功率信号与各象限的光斑面积成正比 ,各象限的输出信号也与各象限的光斑面积成正比,对和差运算,系统输出电压信号为

[])()(1C B D A KP V X +-+=

[])()(1D C B A KP V y +-+=

以上四式中,K 为电路放大系数,P 为探测器接收的总功率。显见,只要系统确定,则K 、P 、r 均是常数,偏离值只与光斑面积的百分比有关;但在实际系统中,P 和r 要随目标距离远近而变化,1x V 、1y V 并不能代表目标的实际坐标,若采用和差比幅式就可以解决这个问题 。

四、注意事项

1、连线之前要保证电源关闭。

2、若照度计表头显示为“1_”时说明超过量程,应改为合适的量程再测试。

3、光电倍增管对光的响应极为灵敏。因此,在没有完全隔绝外界干扰光的情况下,切勿对管施加

工作电压,否则会导致管内倍增极的损坏;

4、测量倍增管阴极电流时,加在其间的电压不可超过250V,否则容易烧坏光电倍增管。

5、PCB板右边部分为220V电源模块,切勿触摸,防止触电。

6、在插拔RS232接口前,必须切断电源开关。

7、不要用眼睛直接看激光,以免损伤眼睛。

五、实验步骤

(一)内增益探测器

1.暗电流测量

1)将电压调节逆时针调到最小,光源开关断开,阴极(阳极)开关拨到阳极位置,即正常分压供电。

2)缓慢调节电压调节开关,测电压分别为200V、400V、600V、800V、1000V时的暗电流值。

2.阳极伏安特性及灵敏度测量

1)将电压调节逆时针调到最小,阴极(阳极)开关拨到阳极位置,即正常分压供电合光强1,此时光照度E=10lx,所用光电倍增管光电阴极有效面积A=8mm×24mm。

2)缓慢调节电压调节开关,测电压分别为100V、200V、300V、400V、500V、600V、700V、800V、900V、1000V时的阳极电流值。

3)断开光强1,合上光强2,此时光照度E=50lx,重复2)的实验内容。

3.阴极伏安特性及灵敏度测量

1)将电压调节逆时针调到最小,阴极(阳极)开关拨到到阴极位置,既各倍增极和阳极接在一起作为一个电极。光照度调到E=150lx。

2)缓慢调节电压旋钮,从0开始,每隔50V记录电压和电流值,直到电压调至最大为止。

(二)四象限光电探测器

1.系统的安装:*安装好的示意图如下

图20 安装图*

激光器用四芯连接线与电路板右边的四芯航空插座相连,四象限探测器用六芯连接线与电路板上的六芯航空插座相连,串口与计算机相连。

2.将激光器和探测器在水平方向对准,调节激光器前端的旋,使激光器的光斑到满意程度后,对

实验二十一 光电定向实验讲义

实验二十一光电定向实验 光电定向作为光电子检测技术的重要组成部分,是指用光学系统来测定目标的方位,在实际应用中具有精度高、价格低、便于自动控制和操作方便的特点,因此在光电准直、光电自动跟踪、光电制导和光电测距等各个技术领域得到了广泛的应用。光电定向方式有扫描式、调制盘式和四象限式,前两种用于连续信号工作方式,后一种用于脉冲信号工作方式。 本光电定向实验装置采用激光器作为光源,四象限探测器作为光电探测接收器,采用目前应用最广泛的一种光电定向方式现直观,快速定位跟踪目标方位。定向原理由两种方式完成:1、硬件模拟定向,通过模拟电路进行坐标运算,运算结果通过数字表头进行显示,从而显示出定向坐标;2、软件数字定向,通过AD转换电路对四个象限的输出数据进行采集处理,经过单片机运算处理,将数据送至电脑,由上位机软件实时显示定向结果。 本实验系统是根据光学雷达和光学制导的原理而设计的,利用其光电系统可以直接、间接地测定目标的方向。采用650nm激光器做光源,用四象限探测器显示光源方向和强度。学生可以通过该系统了解四象限定向基本原理,并观测到红外可见光辐射到四象限探测器上的位置和强度变化。 一、实验目的 1、了解四象限探测器的工作原理及其特性 2、了解并掌握四象限探测器定向原理 二、实验内容 1、系统组装调试实验 2、激光器(650nm)脉冲驱动实验 3、四象限探测器输出脉冲信号放大实验 4、四象限探测器输出脉冲信号展宽实验(采样保持) 5、硬件定向实验(1)由电阻构成的硬件和差运算电路实验 (2)由运算放大器构成的硬件和差运算电路实验 (3)坐标计算实验

四、实验原理 1、系统介绍:光电定向是指用光学系统来测定目标的方位,在实际应用中具有精度高、价格低、便于自动控制和操作方便的特点,因此在光电准直、光电自动跟踪、光电制导和光电测距等各个技术领域得到了广泛的应用。采用激光器作为光源,四象限探测器作为光电探测接收器,根据电子和差式原理,实现可以直观、快速观测定位跟踪目标方位的光电定向装置,是目前应用最广泛的一种光电定向方式。该系统主要由发射部分,光电探测器,信号处 理电路,A/D 转换和单片机,最后通过计算机显示输出。该系统结构框图如图1: 图1 系统结构框图 1)激光器发射部分 光发射电路主要由光源驱动器、光源(主要是半导体光源,包括LED 、LD 等)、光功率 自动控制电路(APC )等部分组成。用NE555组成的脉冲发生电路来驱动650nm 的激光器。 2)接收部分 接收部分主要由四象限探测器组成。四象限光电探测器是把四个性能完全相同的光电二极管按照直角坐标要求排列而成的光电探测器件,目标光信号经光学系统后在四象限光电探测器上成像,如图2。一般将四象限光电探测器置于光学系统焦平面上或稍离开焦平面。当目标成像不在光轴上时,四个象限上探测器输出的光电流信号幅度不相同,比较四个光电信号的幅度大小就可以知道目标成像在哪个象限上(也就知道了目标的方位)。 Vx Vy

光电探测技术实验报告

光电探测技术实验报告 班级:08050341X 学号:28 姓名:宫鑫

实验一光敏电阻特性实验 实验原理: 光敏电阻又称为光导管,是一种均质的半导体光电器件,其结构如图(1)所示。由于半导体在光照的作用下,电导率的变化只限于表面薄层,因此将掺杂的半导体薄膜沉积在绝缘体表面就制成了光敏电阻,不同材料制成的光敏电阻具有不同的光谱特性。光敏电阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。 实验所需部件: 稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、 各种光源、遮光罩、激光器、光照度计(由用户选配) 实验步骤: 1、测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻 观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩 盖,用万用表测得的电阻值为暗电阻 R暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的 阻值为亮电阻,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光 电阻越大,则灵敏度越高。 在光电器件模板的试件插座上接入另一光敏电阻, 试作性能比较分析。 2、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图(3)接线,电源可从+2~+8V间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V暗和V亮则暗电流L暗=V暗/R L,亮电流L亮=V亮/R L,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 分别测出两种光敏电阻的亮电流,并做性能比较。 图(2)几种光敏电阻的光谱特性 3、伏安特性: 光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系。 按照图(3)分别测得偏压为2V、4V、6V、8V、10V、12V时的光电流,并尝试高照射光源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。将所测得的结果填入表格并作出V/I曲线。 注意事项: 实验时请注意不要超过光电阻的最大耗散功率P MAX, P MAX=LV。光源照射时灯胆及灯杯温度均很高,请勿用手触摸,以免烫伤。实验时各种不同波长的光源的获取也可以采用在仪器上的光源灯泡前加装各色滤色片的办法,同时也须考虑到环境光照的影响。

光电探测实验指导书

目录 目录.................................................................................................................................................... - 1 - 光电探测原理综合实验箱说明................................................................................................. - 3 - 实验一光敏电阻特性测试 ............................................................................................................. - 4 - 1、光敏电阻的暗电阻、暗电流测试实验......................................... - 7 - 2、光敏电阻的亮电阻、亮电流、光电阻、光电流测试实验......................... - 7 - 3. 光敏电阻伏安特性测试..................................................... - 8 - 4.光敏电阻的光电特性测试实验................................................ - 8 - 5、光敏电阻的光谱特性测试实验............................................... - 8 - 6、光敏电阻时间特性测试..................................................... - 9 -实验二光电二极管特性测试 .................................................................................................... - 10 - 1、光电二极管暗电流测试.................................................... - 10 - 2、光电二极管光电流测试.................................................... - 11 - 3、光电二极管光照特性...................................................... - 12 - 4、光电二极管伏安特性...................................................... - 13 - 5. 光电二极管时间响应特性测试.............................................. - 14 - 6、光电二极管光谱特性测试.................................................. - 14 -实验三光电三极管特性测试....................................................................................................... - 17 - 1、光电三极管光电流测试实验................................................ - 18 - 2、光电三极管光照特性测试.................................................. - 19 - 3、光电三极管伏安特性...................................................... - 19 - 4. 光电三极管时间响应特性测试.............................................. - 20 -实验四硅光电池特性测试 ........................................................................................................... - 22 - 1、硅光电池短路电流特性测试................................................ - 26 - 2、硅光电池开路电压特性测试................................................ - 27 - 3、硅光电池光照特性........................................................ - 27 - 4、硅光电池伏安特性........................................................ - 28 - 5.硅光电池负载特性测试实验................................................. - 29 - 6、硅光电池光谱特性测试.................................................... - 30 - 7、硅光电池时间响应特性测试................................................ - 31 -实验五 PIN光电二极管特性测试............................................................................................... - 32 - 1、PIN光电二极管暗电流测试................................................ - 34 - 2、PIN光电二极管光电流测试................................................ - 35 - 3、PIN光电二极管光照特性.................................................. - 35 -

光电实验讲义(谢一、2)

光电传感器实验讲义 顾定安编 河海大学物理实验中心 2003.10

光电传感器应用实验仪器介绍 光电传感器是一种将光信号转变成电信号的光电转换器件。由于光电器件灵敏度高、响应速度快、靠得住性高、结构简单、利用方便,而且具有“非接触测量”的特点,因此在自动检测和控制系统中有着十分普遍的应用。 光电器件工作的物理基础是光电效应。在光的作用下,电子逸出物体表面的现象称为外光电效应,如光电管、光电倍增管等。受光照的物体导电率发生转变,或产生必然方向电动势的现象称为内光电效应,如光敏电阻、光敏晶体管、光电池等。 光电传感器应用实验主要利用CSY10G型光电传感器系统实验仪完成一系列基于内光电效应的光电器件的应用实验。比较简单的光电器件包括光敏电阻、光敏二极管、光敏三极管、光电池、光断续器等;特殊用途的光电器件有PSD光电位置传感器、热释电红别传感器、光纤传感器、CCD电荷耦合图象传感器等。 光电传感器系统实验仪将各类光电传感器、被测体、信号源、仪表显示、信号收集、处置电路及实验所需的温度、位移、光源、旋转装置等集中于一机。仪器顶部工作台上安装各类传感器和测试部件,包括热释电红别传感器、温度源、慢速电机、衍射光栅、固体激光器、PSD光电位置传感器、CCD电荷图象传感器、位移平台、光电器件安装板、莫尔条纹光栅位移传感器、光纤传感器、光电断续器、旋转电机等,其布局如图1;正面面板为控制操作和测量显示面板,包括直流稳压电源、电压/频率表、微安表、电机开关及调速旋钮、光源和热源开关等,布局如图2上半部份;水平面板用于各类传感器件和相应的检测电路模块的连接,其接口布局如图2的下半部份。 图1 工作台布局图 工作台的光电器件板上已装有七个器件和一个备用试件插座,器件散布如图2的右上角所示。其中a b为光敏二极管、c d为红外光敏管、e f为光敏三极管、g h为红外接收管、i j为光电阻、k l为光电池、m n为发光二极管、o p为试件插座。上述器件的引脚别离与

实验讲义-光电效应和普朗克常数的测量

实验--光电效应和普朗克常数的测量 1887年德国物理学家H.R.赫兹发现电火花间隙受到紫外线照射时会产生更强的电火花。赫兹的论文《紫外光对放电的影响》发表在1887 年《物理学年鉴》上。论文详细描述了他的发现。赫兹的论文发表后,立即引起了广泛的反响,许多物理学家纷纷对此现象进行了研究,用紫外光或波长更短的X 光照射一些金属,都观察到金属表面有电子逸出的现象,称之为光电效应。 对光电效应现象的研究,使人们进一步认识到光的波粒二象性的本质,促进了光量子理论的建立和近代物理学的发展,现在光电效应以及根据光电效应制成的各种光电器件已被广泛地应用于工农业生产、科研和国防等各领域。 【实验目的】 ① 通过实验加深对光的量子性的认识; ② 验证爱因斯坦方程,并测量普朗克常数以及阴极材料的“红限”频率。 【实验原理】 一、光电效应及其实验规律 当一定频率的光照射到某些金属表面上时,可以使电子从金属表面逸出,这种现象称为光电效应,所产生的电子称为光电子。 研究光电效应的实验装置如图4.3.1所示,入射光照射到阴极K 时,由光电效应产生的光电子以某一初动能飞出,光电子受电场力的作用向阳极A 迁移而构成光电流。一定频率的光照射阴极K 所得到的光电流I 和两极间的电压U 的实验曲线如图4.3.2所示。随着光电管两端电压的增大,光电流趋于一个饱和值m I ,当U ≤S U 时,光电流为零,S U 称为反向遏止电压。 总结所有的实验结果,光电效应的实验规律可归纳为: (1) 对于一种阴极材料,当照射光的频率确定时,饱和光电流m I 的大小与入射光的强度 成正比。 k A G V 入射光 光电管 图4.3.1光电效应实验装置示意图 0 U S U 图4.3.2 U ——I 特性曲线

LM2000C光速测量实验讲义

光拍法测量光速 光在真空中的传播速度是一个极其重要的基本物理量,许多物理概念和物理量都与它有密切的联系,因此光速的测量是物理学中的一个十分重要的课题。本实验的目的是通过测量光拍的波长和频率来确定光速,掌握光拍频法测量光速的原理和实验方法。 <实验目的> 1. 理解光拍频的概念。 2. 掌握光拍法测光速的技术。 <实验原理> 1.光拍的产生和传播: 根据振动迭加原理,频差较小、速度相同的二同向传播的简谐波相迭加即形成拍。考虑频率分别为f 1 和f 2(频差Δf = f 1 – f 2较小)的光束(为简化讨论,我们假定它们具有相同的振幅): E 1=E cos( ω1t – k 1x + φ1 ) E 2=E cos( ω2t – k 2x + φ2 ) 式中:k 1 = ω1 / c ,k 1 = ω2 / c ,ω1 = 2π f 1,ω2 = 2π f 2。 它们的迭加: ??? ???++??? ??-+??????-+?? ? ??--=+=22c o s 22c o s 22121212121??ωω??ωωc x t c x t E E E E s (1) 是角频率为 2 2 1ωω+,振幅为?? ? ? ??-+??? ??--22cos 22121??ωωc x t E 的前进波。注意到s E 的振幅以频率π ωω22 1-= ?f 周期地变化,所以我们称它为拍频波,f ?就是拍频,如图一所示: ????+?? ?-22cos 2121c t 我们用光电检测器接收这个拍频波。因为光电检测器的光敏面上光照所产生的光电流系光强(即电场强度的平方)所引起,故光电流为: 2s c gE i = (2) 图一 光拍频的形成

光电检测技术

光电检测技术 第一章: 信息技术主要包括:1.电子信息技术、2.光学信息技术、3.光电信息 技术。 图1-2光电系统框图 图1-2中,光源产生的光是信息传递的媒介。 某光源与照明用光学系统一起获得测量所需的光载波,如点照明、平 行 光照明等。 某光学变换:光载波与被测对象相互作用而将被测量载荷到光载波上。 某光学变换是用各种调制方法来实现的。 某光信息:光学变换后的光载波上载荷的各种被测信息。 某光电转换:光信息经光电器件实现由光向电的信息转换。 某电信息处理:解调、滤波、整形、判向、细分,或计算机处理等。 光学变换与光电转换是光电测量的核心部分。 某光学变换通常是用各种光学元件和光学系统来实现的,如平面镜、 光狭缝、光楔、透镜、角锥棱镜、偏振器、波片、码盘、光栅、调制器、 光成像系统、光干涉系统等,实现将被测量转换为光参量(振幅、频率、 相位、偏振态、传播方向变化等)。

某光电转换是用各种光电变换器件来完成的,如光电检测器件、光电摄像器件、光电热敏器件等。 第二章: 2.人眼对光的视觉效能也称为视见函数。人眼的视网膜上布满了大量的感官细胞:杆状细胞和锥状细胞。某杆状细胞灵敏度高,能感受微弱光刺激。某锥状细胞感光灵敏度低,但能很好地区别颜色和辨别被视物的细节。 3.光度学中,为了表示人眼对不同波长辐射的敏感度差别,定义了一个函数V(λ),称为“视见函数”(“光谱光视效能”)。 在明视情况,即光亮度大于3cd/m2时,人眼的敏感波长λ=555nm 的视见函数(光谱光视效率)规定为1,即V(555)=1。 4..照度(EV):照度是投射到单位面积上的光通量,或者说接受光的面元上单位面积被辐射的光通量。若辐射光通量为dΦV,接收面元的面积是dA,那么照度EV=dΦV/dA,单位为勒克斯l某=lm·m-2。 5.光通量Φv:光通量又称为光功率,单位:流明[lm]。 光通量是按人眼视觉强度来度量的辐射量。与电磁辐射的辐射通量Φe相对应。光通量与辐射通量之间的关系可以用下式表示:0.78 VKme()V()dV(λ)是视见函数;0.38 Km是光功当量,它表示人眼在明视条件下,在波长为555nm时,光辐射所产生的光感觉效能,按照国际温标IPTS-68理论计算值 Km=680(lm/W)。

光电检测技术知识点

1、光电效应应按部位不同分为光电效应和外光电效应,光电效应包括〔光电导〕和〔光生伏特效应〕。 2、真空光电器件是一种基于〔外光电〕效应的器件,它包括〔光电管〕和〔光电倍增管〕。构造特点是有一个真空管,其他元件都放在真空管中 3、光电导器件是基于半导体材料的〔光电导〕效应制成的,最典型的光电导器件是〔光敏电阻〕。 4、硅光电二极管在反偏置条件下的工作模式为〔光电导〕,在零偏置条件下的工作模式为〔光生伏特模式〕。 5、变象管是一种能把各种〔不可见〕辐射图像转换成为可见光图像的真空光电成像器件。 6、固体成像器件〔CCD〕主要有两大类,一类是电荷耦合器件〔CCD〕,另一类是〔SSPD〕。CCD电荷转移通道主要有:一是SCCD〔外表沟道电荷耦合器件〕是电荷包存储在半导体与绝缘体之间的界面,并沿界面传输;二是BCCD称为体沟道或埋沟道电荷耦合器件,电荷包存储在离半导体外表一定深度的体,并沿着半导体一定方向传输 7、光电技术室〔光子技术〕和〔电子技术〕相结合而形成的一门技术。 8、场致发光有〔粉末、薄膜和结型三种形态。 9、常用的光电阴极有正电子亲合势光电阴极〔PEA〕和负电子亲合势光电阴极〔NEA〕,正电子亲和势材料光电阴极有哪些〔Ag-O-Cs,单碱锑化物,多碱锑化物〕。 10、根据衬底材料的不同,硅光电二极管可分为〔2DU〕型和〔2CU〕型两种。 11、像增强器是一种能把微弱图像增强到可以使人眼直接观察的真空光电成像器件,因此也称为〔微光管〕。 12、光导纤维简称光纤,光纤有〔纤芯〕、〔包层〕及〔外套〕组成。 13、光源按光波在时间,空间上的相位特征可分为〔相干〕和〔非相干〕光源。 14、光纤的色散有材料色散、〔波导色散〕和〔多模色散〕。 15、光纤面板按传像性能分为〔普通OFP〕、〔变放大率的锥形OFP〕和〔传递倒像的扭像器〕。 16、光纤的数值孔径表达式为,它是光纤的一个根本参数、它反映了光纤的〔集光〕能力,决定了能被传播的光束的半孔径角 17、真空光电器件是基于〔外光电〕效应的光电探测器,他的构造特点是有一个〔真空管〕,其他元件都置于〔真空管〕。 18、根据衬底材料的不同,硅光电电池可分为2DR〔以P型硅作基底〕型和〔2CR〕型两种。 19、根据衬底材料的不同,硅光点二、三级管可分为2CU和2DU、3CU和3DU 20、为了从数量上描述人眼对各种波长辐射能的相对敏感度,引入视见函数V〔f〕, 视见函数有〔明视见函数〕和〔暗视见函数〕。 21、PMT由哪几局部组成?入射窗口D、光子阴极、电子光学系统、电子倍增系统和光电阳极。 22、电子光学系统的作用是:〔1〕是光阳极发射的光电子尽可能全部会聚到第一倍增级上,而将其他部的杂散热电子散射掉,提高信噪比。〔2〕使阴极面上各处发射的光电子在电子学系统的中渡越时间尽可能相等 23、P MT的工作原理 1.光子透过入射窗口入射在光电阴极K上 2.光电阴极K受光照激发,外表发射光电子 3.光电子被电子光学系统加速和聚焦后入射到第一倍增极D1上,将 发射出比入射电子数更多的二次电子。入射电子经N级倍增后,

光电探测实验报告

光电探测技术 实验报告 班级:10050341 学号:05 姓名:解娴

实验一光敏电阻特性实验 一、实验目的 1.了解一些常见的光敏电阻的器件的类型; 2.了解光敏电阻的基本特性; 3.测量不同偏置电压下的光敏电阻的电压与电流,并作出V/A曲线。 二、实验原理 伏安特性显示出光敏电阻与外光电效应光电元件间的基本差别。这种差别是当增加电压时,光敏电阻的光电流没有饱和现象,因此,它的灵敏度正比于外加电压。 光敏电阻与外光电效应光电元件不同,具有非线性的光照特性。各种光敏电阻的非线性程度都是各不相同的。 大多数场合证明,各种光敏电阻均存在着分析关系。这一关系为 =Φ I kα Φ 式中,K为比例系数;是永远小于1的分数。 光电流的增长落后于光通量的增长,即当光通量增加时,光敏电阻的积分灵敏度下降。 这样的光照特性,使得解算许多要求光电流与光强间必需保持正比关系的问题时不能利用光敏电阻。 光照的非线性特性并不是一切光敏半导体都必有的。目前已有就像真空光电管—样,它的光电流随光通量线性增大的光敏电阻的实验室试样。光敏电阻的积分灵敏度非常大,最近研究出的硒—鎘光敏电阻达到12A/lm,这比普通锑、铯真空光电管的灵敏度高120,000倍。 三、实验步骤 1、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图1接线,电源可从+2V~+8V间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V暗和V亮。则暗电流L暗=V暗/RL,亮电流L亮=V亮/RL,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 2、伏安特性

光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系即为伏安特性。按照图1接线,分别测得偏压为2V、4V、6V、8V、10V时的光电流,并尝试高照度光源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。将所测得的结果 填入表格并做出V/I曲线。 图1光敏电阻的测量电路 偏压2V4V6V8V10V12V 光电阻I 四、实验数据 实验数据记录如下: 光电流: E/V246810 U/V0.090.210.320.430.56 I/uA1427.54255.270.5 暗电流:0.5uA 实验数据处理: 拟合曲线如下:

实验一光电效应讲义

实验一光电效应 1887年,赫兹在研究电磁辐射时意外发现,光照射金属表面时,在一定的条件下,有电子从金属的表面溢出,这种物理现象被称作光电效应,所溢出的电子称光电子。由此光电子的定向运动形成的电流称光电流。 1888年以后,W.哈尔瓦克斯、A.Γ.斯托列托夫、P.勒纳德等人对光电效应进行了长时间的研究,并总结出了光电效应的基本实验事实: 1.光强一定时,光电管两端电压增大时,光电流趋向一饱和值。对于同一频率不同光强时,光电发射率(光电流强度或逸出电子数)与光强P成正比,见图1(a)、(b)。 2.对于不同频率的光,其截止电压不同,光电效应存在一个阈频率(截止频率、极限频率或红限频率),当入射光频率 低于某一阈值时,不论光的强度如何,都没有光电子产生,见图1(c)、(d)。 3.光电子的动能与入射光强无关,但与入射光的频率成线性关系。 4.光电效应是瞬时效应,一经光束照射立即产生光电子。 图1 光电效应规律

上述实验事实用麦克斯韦的经典电磁理论无法作出圆满的解释。1905年,爱因斯坦用光量子理论圆满解释了光电效应,并得出爱因斯坦光电效应方程。后来密立根对光电效应展开全面的实验研究,证明了爱因斯坦光电效应方程的正确性,并精确测出普朗克常数h。因为在光电效应等方面的杰出贡献,爱因斯坦和密立根分别于1921年和1923 年获得诺贝尔物理学奖。 光电效应和光量子理论在物理学的发展史上具有划时代的意义,量子论是近代物理的理论基础之一。而光电效应则可以给量子论以直观鲜明的物理图像。随着科学技术的发展,利用光电效应制成的光电元件在许多科技领域得到广泛的应用,并且至今还在不断开辟新的应用领域,具有广阔的应用前景。 本实验利用“减速电势法”测量光电子的动能,从而验证爱因斯坦方程,并测得普朗克常数。经过本实验有助于进一步理解量子理论。 【实验目的】 1.通过实验了解光的量子性。 2.测量光电管的弱电流特性,找出不同光频率下的截止电压。 3.验证爱因斯坦方程,并由此求出普朗克常数。 【实验原理】 当一定频率的光照射某些金属表面时,可以使电子从金属表面逸出,这就是光电效应现象。1900年德国物理学家普朗克(Plank)在研究黑体辐射时,提出辐射能量不是连续的的假设。1905年爱因斯坦在解释光电子效应时,将普朗克(Plank)的辐射能量不连续的假设作了重大发展。提出光并不是由麦克斯韦(Maxwell)电磁场理论提出的传统意义上的波。而是由能量为hv的光电子(简称光子)构成的粒子流。他认为光是 E 的光量子的形式一份一份向外辐射。具有能量hv的一个光子作用于金属以能量hv 中的一个自由电子,光子能量hv或者被完全电子吸收,或者完全不吸收。电子吸收光 子能量hv后,一部分用于逸出功A,剩余部分成为逸出电子的最大动能,如果此能量大于或等于电子摆脱金属表面约束的逸出功,电子就能从金属中逸出。按照能量守恒定律有:

光电检测实验

实验一、光照度计设计实验 一、实验目的 1、了解和掌握光电池在光照度计上的应用原理 2、了解和掌握光照度计结构原理 3、了解和掌握光照度计电路设计原理 二、实验内容 1、光照度计测量光照度实验 2、光照度计设计性实验 三、实验仪器 1、光电创新实验仪主机箱 2、光照度计&光功率计设计模块 3、照度计探头 4、连接线 4、万用表 四、实验原理 光照度是光度计量的主要参数之一,而光度计量是光学计量最基本的部分。光度量是限于人眼能够见到的一部分辐射量,是通过人眼的视觉效果去衡量的,人眼的视觉效果对各种波长是不同的,通常用V(λ)表示,定义为人眼视觉函数或光谱光视效率。因此,光照度不是一个纯粹的物理量,而是一个与人眼视觉有关的生理、心理物理量。 光照度是单位面积上接收的光通量,因而可以导出:由一个发光强度I的点光源,在相距L处的平面上产生的光照度与这个光源的发光强度成正比,与距离的平方成反比,即: 2 E /L I 式中:E——光照度,单位为Lx; I——光源发光强度,单位为cd; L——距离,单位为m。 光照度计是用来测量照度的仪器,它的结构原理如下图所示: 图 1-1 图中D为光探测器,图3-2为典型的硅光探测器的相对光谱响应曲线;C为余弦校正器,在光照度测量中,被测面上的光不可能都来自垂直方向,因此照度计必须进行余弦修正,使光探测器不同角度上的光度响应满足余弦关系。余弦校正器使用的是一种漫透射材料,当入射光不论以什么角度射在漫透射材料上时,光探测器接收到的始终是漫射光。余弦校正器的透光性要好;F为V(λ)校正器,在光照度测量中,除了希望光探测器有较高的灵敏度、较低的噪声、较宽的线性范围和较快的响应时间等外,还要求相对光谱响应符合视觉函数V (λ),而通常光探测器的光谱响应度与之相差甚远,因此需要进行V(λ)匹配。匹配基

光电定向实验讲义

光电定向实验(313实验室) 一、实验仪器 光电定向实验电箱四象限光电探测器650nm激光器旋转架 四维调节架(需配计算机) 二、实验目的 1 了解四象限探测器的性能。测量以四象限探测器做接收器,光信号的放大信号。 2该系统直接、间接地测定目标的方向,观测可见光辐射到四象限探测器上的位置和强度变化。通过上位机显示每个象限的光强以及光斑的光心坐标,观察光斑在四个象限的显示情况验证四象限探测器原理。 三、实验原理 1光电定向及四象限探测器原理 光电定向是指用四象限探测器组成的光学系统来测定二维方向上目标的方位,关键器件是四象限探测器。 四象限探测器是反向偏置的半导体二极管阵列,由于器件是象限化的,因此当被测物体的光幅射到器件各个象限的辐射通量相等时,则各个象限输出的光电流相等。而当目标发生偏移时,由于象限间辐射通量的变化,引起各个象限的输出光电流的变化,由此可测出物体的方位,从而起到跟踪、制导的作用。 四象限光电探测器是将四个性能相同的光电探测器按照直角坐标排列成四个象限做在同一芯片上,通常称四象限管,如图1所示。四个象限之间的间隔称为“死区”。在可见光和近红外波段,光电探测器目前广泛采用硅光电池和硅光电二极管。光电探测器在有光照射时产生电信号。 图1四象限探测器示意图 用四象限光电探测器作为二维方向上目标的方位定向原理如图2所示。

脉冲激光器 四象限探幽瓣光学成笛系藐 图2定向原理示意图 脉冲激光器发出脉冲宽度极窄而功率很高的激光脉冲,照射远处目标,目标对光脉冲发生漫反射,反射回来的光由光电接收系统接收。 光电接收系统由光学成像系统和四象限探测器组成,如图3所示, 图3光学成像系统和四象限探测器示意图 目标光信号经光学成像系统后在四象限光电探测器上成像。四象限探测器放在光学系统后焦面附近,光轴通过四象限探测器的十字沟道中心,因四象限探测器的位置略有离焦,于是接收目标的像为一圆形光斑。当目标成像在光轴上时,圆形光斑中心与四象限探测器中心重合。因四象限探测器中四个探测器件受照的光斑面积相同,输出相等的脉冲电压。当目标成像不在光轴上时,目标像的圆形光斑的位置在四象限探测器上相应的有偏移,四个探测器件受照的光斑面积不同,输出不相等的脉冲电压。对四个探测器输出的信号进行运算处理,就可以知道目标在直角坐标系X-Y中用电压VX和VY表示的方位。 运算电路实现方式有和差式、和差比幅式、对差式和对数相减式。 所谓和差式就是如图4所示先计算探测器件输出信号的和,再计算和的差,原理如图4所示。 图4和差式原理示意图

光电效应实验讲义

光电效应法测定普朗克常数 实验及应用背景介绍 光电效应是指必然频率的光照射在金属表面时会有电子从金属表面逸出的现象。1887年物理学家赫兹用实验验证电磁波的存在时发觉了这一现象,可是这一实验现象无法用那时人们所熟知的电磁波理论加以说明。 1905年,爱因斯坦斗胆地把普朗克在进行黑体辐射研究进程中提出的辐射能量不持续观点应用于光辐射,提出“光量子”概念,从而成功地说明了光电效应现象。1916年密立根通过光电效应付普朗克常数的精准测量,证明了爱因斯坦方程的正确性,并精准地测出了普朗克常数。爱因斯坦与密立根都因光电效应等方面的杰出奉献,别离于1921年和1923年取得了诺贝尔奖。 光电效应实验关于熟悉光的本质及初期量子理论的进展,具有里程碑式的意 义。随着科学技术的进展,光电效应已普遍用于工农业生产、国防和许多科技领域。利用光电效应制成的光电器件,如光电管、光电池、光电倍增管等,已成为生产和科研中不可缺少的器件。 二、实验目的和教学要求 1、定性分析光电效应规律,通过光电效应实验进一步明白得光的量子性; 2、学习验证爱因斯坦光电方程的实验方式,并测定普朗克常数h; 3、进一步练习利用线性回归和作图法处置实验数据。 三、实验原理 光电效应的实验原理如图1所示。入射光照射到光电管阴极K上,产生的光电子在电场的作用下向阳极A迁移组成光电流,改变外加电压"K,测量出光电流I的大小,即可得出 光电管的伏安特性曲线。

光电效应的大体实验事实如下:

(1)对应于某一频率,光电效应的I-U AK关系如图2所示。从图中可见,对必然的频率,有一电压出当UK三S时,电流为零,那个相关于阴极的负值的阳极电压U P,被称为截止电压。 (2)当“K三山后,I迅速增加,然后趋于饱和,饱和光电流I M的大小与入射光的强度P成正比。 (3)关于不同频率的光,其截止电压的值不同,如图3所示。 (4)截止电压U与频率的关系如图4所示,U与成正比。当入射光频率低于某极限值o(0随不同金属而异)时,不论光的强度如何,照射时刻多长,都没有光电流产生。 (5)光电效应是瞬时效应。即便入射光的强度超级微弱,只要频率大于o, 在开始照射后当即有光电子产生,所通过的时刻最多为10一9秒的数量级。 依照爱因斯坦的光量子理论,光能并非像电磁波理论所想象的那样,散布在波阵面上,而是集中在被称之为光子的微粒上,但这种微粒仍然维持着频率(或波长)的概念,频率为的光子具有能量E=h,h为普朗克常数。当光子照 射到金属表面上时,一次被金属中的电子全数吸收,而无需积存能量的时刻。电子把这能量的一部份用来克服金属表面对它的吸引力,余下的就变成电子离开金属表面后的动能,依照能量守恒原理,爱因斯坦提出了闻名的光电效应方程: .1—2 h-m o A(1) 2 式中,A为金属的逸出功,1m o2为光电子取得的初始动能。 由该式可见,入射到金属表面的光频率越高,逸出的电子动能越大,因此即便阳极电位比阴极电位低时也会有电子落入阳极形成光电流,直至阳极电位低于 截止电压,光电流才为零,现在有关系: 12 el0-m o(2) 2 阳极电位高于截止电压后,随着阳极电位的升高,阳极对阴极发射的电子的搜集作用越强,光电流随之上升;当阳极电压高到必然程度,已把阴极发射的光电子几乎全搜集到阳极,再增加gK时I再也不转变,光电流显现饱和,饱和光电流I M的大小与入射光的强度P成正比。 光子的能量h0VA时,电子不能离开金属,因此没有光电流产生。产生光电效应的最低频率(截止频率)是o=A/h。 将(2)式代入(1)式可得: eUa=h—A(3) 此式说明截止电压U是频率的线性函数,直线斜率k=h/e,只要用实 验方式得出不同的频率对应的截止电压,求出直线斜率,就可算出普朗克常数h0爱因斯坦的光量子理论成功地说明了光电效应规律。

光电检测试验讲义2

实验一光敏电阻特性参数测量及暗光街灯实验 一、实验目的: 1、了解光敏电阻的电阻特性,掌握光敏电阻的伏安特性及其随光照强度的变化规律。 2、利用光敏电阻的电阻变化特性,将之作为街灯自动点亮与熄灭的传感器件,掌握基于光敏电阻的暗光街灯的工作原理及应用。 二、实验原理: 光敏电阻是最典型的光电效应器件,即其电导率随光照强度而发生变化。半导体光电导器件是利用半导体材料的光电导效应制成的光电探测器件。本实验旨在测定光敏电阻在不同光照环境下的电阻值,并测定其伏安特性随光照强度的变化规律。 根据实验测定,光敏电阻的电阻值随光亮度的增大而迅速减小。利用这一特性,设计了暗光街灯演示实验。其原理是当环境变暗时光敏电阻的阻值增大,当亮度降低到一定值时,即光敏电阻值增大到某一阈值时,光电传感电路系统自动点亮小灯泡,从而达到与暗光街灯相似的目的。 三、实验所需单元: 直流稳压电源,光敏电阻,数字电压表,电流(毫安)表,暗光街灯电路,小灯泡(负载),万用表。 四、实验步骤: (一)光敏电阻特性测试 图暗、亮电阻的测定图伏安特性测量电路

(1) 光敏电阻的暗、亮电阻测定。如图所示,用万用表从光敏电子两端测定它在不同光照条件下的电阻值,将测得的结果填入表格。 (2) 光敏电阻伏安特性测定。按图所示连接各元件和单元,检查连接无误后,开启电源。用一挡光物(如黑纸片或瓶盖)遮住光敏电阻(视为全暗),分别接插不同的电压U值(可调电压的获取:通过面板“电机控制1”或“电机控制2”的Vin输入5V,V out可输出如,,,,,,,,,等不同电压值),利用电流表测定流过光敏电阻的电流值I,数字电压表测定U值。改变光敏电阻的光照强度(如全暗、日光灯、手电筒、激光照射),重复测定I与U的关系,可得到图所示的伏安特性关系曲线族。 (3) 分析上述测量结果,进一步了解光敏电阻的光敏特性,掌握其中的变化规律。 图光敏电阻的伏安特性 注意:5V电源

光电效应讲义

光电效应讲义LT

2)时,光电流将为零,此时的U 称为截止电压。式 中e为电子电量。 光电管的伏安特性曲线(光电流与所加电压的I—U关系)如图3.2所示。当用一定强度的光照射在光电管阴极K上时,光电流I随两极间的加速电压改变而改变,开始光电流I随两极间的加速电压增加而增加,当加速电压增加到一定值后,光电流不再增加.这是因为在一定照度下,单位时间 图3.2光电管的伏安特性曲线图3.3截止电压U0 是入射光频率 的线性关系图线 内所产生的光电子数目一定,而且这些电子在电

场的作用下已全都跑向阳极A ,从而达到饱和。我们称此时的电流为饱和电流I m 。由于光电子从阴极表面逸出时具有一定的初速度,所以当两极间电势差为零时,仍有光电流I 存在。若在两极间施加一反向电压,光电流随之减小;当反向电压达到截止电压U 0时,光电流为零。将式(3.2)代人式(3.1)可得 eU 0 = h ν - W 即 U 0 =()0 ννν-=-e h e W e h (3.3) 上式表明,截止电压U 0 是入射光频率ν 的线性函数,其直线的斜率等于h /e 。可见,只要用实验方法,测量不同频率光的截止电压,作出U 0 — ν 图线,如图3.3所示。从图中求得直线的斜率e h ,即可求出普朗克常数h 。另外,从直线和横坐标的交点还可求出极限频率ν0。 因此,由光电效应测定普朗克常数h 的关键是正确地测定截止电压U 0 。需要指出的是,实际的光电管由于制作工艺等原因,给测定截止电压带来一些困难。对测量产生影响的主要因素如下: (1) 暗电流和本底电流

光电管在没有受到光照时,也会产生电流,称为暗电流。它是由阴极在常温下的热电子发射形成的热电流和封闭在暗盒里的光电管在外加电压下因管子阴极和阳极间绝缘电阻漏电而产生的漏电流两部分组成。本底电流是周围杂散光射入光电管所致。 (2)反向电流 由于制作光电管时阳极上往往溅有阴极材料,所以当光照到阳极上或杂散光漫射到阳极上时,阳极上也往往有光电子发射;此外,阴极发射的光电子也可能被阳极的表面所反射。当阳极A加负电势,阴极K加正电势时,对阴极K上发射的光电子而言起减速作用,而对阳极A发射或反射的光电子而言却起了加速作用,使阳极A发出的光电子也到达阴极K,形成反向电流。 由于上述种种原因,实测的光电管伏安特性(I—U)曲线与理想曲线是有区别的。 图3.4中实线表示实测曲线,虚线表示理想曲线即阴极光电流曲线,点划线代表影响较大的反向电流及暗电流曲线。实测曲线上每一点的电流值是以上三个电流值的代数和。显然,实测曲线上光电流I为零的点所对应的电压值

光速测定讲义

实验八 光拍法测量光速 一、实验目的 1、理解光拍频的概念。 2、掌握光拍法测光速的技术。 二、实验原理 1.光拍的产生和传播: 根据振动迭加原理,频差较小、速度相同的二同向传播的简谐波相迭加即形成拍。考虑频率分别为f1和f2(频差△f = f1 - f2较小)的光束(为简化讨论,我们假定它们具有相同的振幅): E1=Ecos( ω1t – K1X +ф1 ) E2=Ecos( ω2t – K2X +ф2 ) 它们的迭加 ⎥⎦ ⎤ ⎢⎣⎡++⎪⎭⎫ ⎝⎛-+⨯⎥⎦⎤⎢ ⎣⎡-+⎪⎭⎫ ⎝⎛--=+=22cos 22cos 22121212121ϕϕωωϕϕωωc x t c x t E E E E s (1) 是角频率为 2 2 1ωω+,振幅为⎥⎦⎤ ⎢ ⎣⎡++⎪⎭ ⎫ ⎝⎛-+22 cos 2212 1ϕϕωωc x t E 的前进波。注意到s E 的振幅以频率 π ωω22 1+= ∆f 周期地变化,所以我们称它为拍频波,f ∆ 就是拍频,如图一所示: ⎥⎦⎤ ⎢ ⎣⎡-+⎪⎭ ⎫ ⎝⎛--22 cos 22121ϕϕωωc x t E [包络] 我们用光电检测器接收这个拍频波。因为光检测器的光敏面上光照反应所产生的光电流系光强(即电场强度的平方)所引起,故光电流为 2 s o gE i = (2) g 为接收器的光电转换常数。把(l )代入(2),同时注意:由于光频甚高(Hz f o 14 10>), 光敏面来不及反映频率如此之高的光强变化,迄今仅能反映频率Hz 8 10左右的光强变化,并产生光电流;

将io 对时间积分,并取对光检测器的响应时间)11(f t f t o ∆<<的平均值。结果,i 。积分中高频项为零,只留下常数项和缓变项。即: ⎰⎭⎬⎫⎩⎨⎧⎥⎦⎤⎢⎣⎡∆+-∆+=⋅= t t o c x t gE d i t i ϕω)(cos 112 (3) 其中Δω是与Δf 相应的角频率,Δф=ф1-ф2为初相。可见光检测器输出的光电流包含有直流和光拍 信号两种成分。滤去直流成分,即得频率为拍频Δf ,位相与初相和空间位置有关的输出光拍信号。 图二是光拍信号i 。在某一时刻的空间分布,如果接收电路将直流成分滤掉,即得纯粹的拍频信号在空间的分布。这就是说处在不同空间位置的光检测器,在同一时刻有不同位相的光电流输出。这就提示我们可以用比较相位的方法间接地决定光速。 事实上,由(3)可知,光拍频的同位相诸点有如下关系: πω n c x 2=∆ 或 f nc x ∆= (4) n 为整数,两相邻同相点的距离nf c = Λ即相当于拍频波的波长。测定了Λ和光拍频Δf ,即可确定光速C 。 2.相拍二光束的获得 光拍频波要求相拍二束具有一定的频差。使激光束产生固定频移的办法很多。一种最常用的办法是使超声与光波互相作用。超声(弹性波)在介质中传播,引起介质光折射率发生周期性变化,就成为一位相光栅。这就使入射的激光束发生了与声频有关的频移。[2] [3]后者实现了使激光束频移的目的。 利用声光相互作用产生频移的方法有二。一是行波法。在声光介质的与声源(压电换能器)相对的端面上敷以吸声材料,防止声反射,以保证只有声行波通过,如图三所示。互相作用的结果,激光束产生对称多级衍射。第1级衍射光的角频率为 ω1 =ω0 + 1Ω。其中ω0为入射光的角频率,Ω为声角频率,衍射级l = ±1、±2······[2],如其中十 l 级行射光频为ω0 + 1Ω,衍射角为Λ = λ α,λ和Λ分别为介质 中的光和声波长。通过仔细的光路调节,我们可使十l 与零级二光束平行迭加,产生频差为Ω的光拍频波。

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