材料的表征方法总结

材料的表征方法总结
材料的表征方法总结

材料的表征方法

2.3.1 X 一射线衍射物相分析

粉末X 射线衍射法,除了用于对固体样品进行物相分析外,还可用来测定晶体 结构的晶胞参数、点阵型式及简单结构的原子坐标。X 射线衍射分析用于物相分析 的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d 以及它们的相对强度Ilh 是物 质的固有特征。而每种物质都有特定的晶胞尺寸和晶体结构,这些又都与衍射强 度和衍射角有着对应关系,因此,可以根据衍射数据来鉴别晶体结构。此外,依 据XRD 衍射图,利用Schercr 公式:

θ

λθβc o s )2(L K = 式中p 为衍射峰的半高宽所对应的弧度值;K 为形态常数,可取0.94或0.89;为X 射线波长,当使用铜靶时,又1.54187 A; L 为粒度大小或一致衍射晶畴大小;e 为 布拉格衍射角。用衍射峰的半高宽FWHM 和位置(2a)可以计算纳米粒子的粒径,

由X 一射线衍射法测定的是粒子的晶粒度。样品的X 一射线衍射物相分析采用日本理 学D/max-rA 型X 射线粉末衍射仪,实验采用CuKa 1靶,石墨单色器,X 射线管电压 20 kV ,电流40 mA ,扫描速度0.01 0 (2θ) /4 s ,大角衍射扫描范围5 0-80 0,小角衍 射扫描范围0 0-5 0o

2.3.2热分析表征

热分析技术应用于固体催化剂方面的研究,主要是利用热分析跟踪氧化物制 备过程中的重量变化、热变化和状态变化。本论文采用的热分析技术是在氧化物 分析中常用的示差扫描热法(Differential Scanning Calorimetry, DSC)和热重法

( Thermogravimetry, TG ),简称为DSC-TG 法。采用STA-449C 型综合热分析仪(德 国耐驰)进行热分析,N2保护器。升温速率为10 0C.1

min - .

2.3.3扫描隧道显微镜

扫描隧道显微镜有原子量级的高分辨率,其平行和垂直于表面方向的分辨率 分别为0.1 nm 和0.01nm ,即能够分辨出单个原子,因此可直接观察晶体表面的近原 子像;其次是能得到表面的三维图像,可用于测量具有周期性或不具备周期性的 表面结构。通过探针可以操纵和移动单个分子或原子,按照人们的意愿排布分子 和原子,以及实现对表面进行纳米尺度的微加工,同时,在测量样品表面形貌时, 可以得到表面的扫描隧道谱,用以研究表面电子结构。测试样品的制备:将所制 的纳米Fe203粉末分散在乙醇溶液中,超声分散30 min 得红色悬浊液,用滴管吸取 悬浊液滴在微栅膜上,干燥,在离子溅射仪上喷金处理。采用JSM-6700E 场发射扫 描电子显微镜旧本理学),JSM-6700E 场发射扫描电子显微镜分析样品形貌和粒 径,加速电压为5.0 kV o

2.3.4透射电子显微镜

透射电镜可用于观测微粒的尺寸、形态、粒径大小、分布状况、粒径分布范 围等,并用统计平均方法计算粒径,一般的电镜观察的是产物粒子的颗粒度而不 是晶粒度。高分辨电子显微镜(HRTEM)可直接观察微晶结构,尤其是为界面原 子结构分析提供了有效手段,它可以观察到微小颗粒的固体外观,根据晶体形貌 和相应的衍射花样、高分辨像可以研究晶体的生长方向。测试样品的制备同SEM 样品。本研究采用 JEM-3010E 高分辨透射电子显微镜(日本理学)分析晶体结构, 加速电压为200 kV o

2.3.5 X射线能量弥散谱仪

每一种元素都有它自己的特征X射线,根据特征X射线的波长和强度就能得出定性和定量的分析结果,这是用X射线做成分分析的理论依据。EDS分析的元素范围Be4-U9a,一般的测量限度是0.01%,最小的分析区域在5~50A,分析时

间几分钟即可。X射线能谱仪是一种微区微量分析仪。用谱仪做微区成分分析的

最小区域不仅与电子束直径有关,还与特征X射线激发范围有关,通常此区域范μ. X射线谱仪的分析方法包括点分析、线分析和面分析。在TEM和

围为约1m

SEM里,通常结合使用特征X射线谱来分析材料微区的化学成分。

2.3.6傅里叶一红外光谱仪

傅里叶一红外光谱仪可检验金属离子与非金属离子成键、金属离子的配位等化学环境情况及变化。测试样品的制备:将合成的纳米Fe203粉末充分干燥,研细后与KBr以体积比为1:500混合,于200 MPa下压制成φ10*0.3 m的透明薄片。在

测定样品谱图之前,先测定空白KBr片的红外吸收光谱。室温下,将制备好的固

体样品置于红外样品池中的适当位置,使其透射率达到最佳,用真空机组将系统

抽至10-4 Pa的高空,然后扫描,扫面范围为4000 cm一400 cm 1 a FT-IR表征是

在Spectrum One B红外光谱仪(美国Perkin Elmer公司)上进行的。

2.3.7拉曼光谱

拉曼光谱是一种研究物质结构的重要方法,特别是对于研究低维纳米材料,它已经成为首选方法之一。拉曼光谱是分子的非弹性光散射现象所产生,非弹性光

散射现象是指光子与物质分析发生相互碰撞后,在光子运动方向发生改变的同时

还发生能量的交换(非弹性碰撞)。拉曼光谱产生的条件是某一简谐振动对应于

分子的感生极化率变化不为零时,拉曼频移与物质分子的转动和振动能级有关,

不同物质有不同的振动和转动能级,同时产生不同拉曼频移…拉曼光谱具有灵敏

度高、不破坏样品、方便快速等优点。利用拉曼光谱可以对材料进行分子结构分析、理化特性分析和定性鉴定等,可揭示材料中的空位、间隙原子、位错、晶界

和相界等方面信息。本研究采用Labram-O 10激光拉曼光谱仪(法国,Jobin Yvon ) 利用632.8 nm He-Ne激光激发,50倍的目标间距(8 nm ),夹缝和针孔的大小分

别为100 }m和1000 },m o

2.3.8 N:吸附脱附等温线分析和孔径分析

N2吸附平衡等温线是以恒温条件下吸附质在吸附剂上的吸附量为纵坐标,以压力为横坐标的曲线。通常用相对压力P/P。表示压力;P为气体的真实压力;尸。为气体在测量温度下的饱和蒸汽压。吸附平衡等温线分为吸附和脱附两部分。平衡等

温线的形状与材料的孔组织结构有着密切的关系。我们惯用的是IUPAC的吸附等温线6种分类,类型I表示在微孔吸附剂上的吸附情况;类型II表示在大孔吸附剂

上的吸附情况,此处吸附质与吸附剂间存在较强的相互作用;类型III表示为在大

孔吸附剂上的吸附情况,但此处吸附质分子与吸附剂表面存在较弱的相互作用,

吸附质分子之间相互作用对吸附等温线有较大影响;类型W是有毛细凝结的单层

吸附情况;类型V是有毛细凝结的多层吸附情况;类型VI是表面均匀非多孔吸附

剂上的多层吸附情况。毛细凝结现象,又称吸附的滞留回环,亦称作吸附的滞后

现象。吸附等温曲线与脱附等温曲线的互不重合构成了滞留回环。这种现象多发

生在介孔结构的吸附剂当中。IUPAC将吸附等温线滞留回环的现象分为4种情况。第一种H1情况,滞留回环比较窄,吸附与脱附曲线几乎是竖直方向且近乎平行。这种情况多出现在通过成团或压缩方式形成的多孔材料中,这种材料有着较窄的

孔径分布;第二种H2情况,滞留回环比较宽大,脱附曲线远比吸附曲线陡。这种

情况多出现在具有较多样的孔型和较宽的孔径分布的多孔材料当中;第三种H3情

况,滞留回环的吸附分支曲线在较高相对压力作用下也不表现极限吸附量,吸附

量随着压力的增加而单调递增,这种情况多出现在具有狭长裂口型孔状结构的片

状材料当中;第四种H4情况,滞留回环也比较狭窄,吸附脱附曲线也近乎平行,

但与H1不同的是两分支曲线几乎是水平的。

图2.1吸附等温曲线分类(IUPAC )

本研究采用的N:吸附一脱附比表面积和孔容分析仪(Beckman Coulter

SA3100 ) : N:吸附一脱附等温线在一196 0C下,利用L匕表面积和孔容分析仪(Beckman Coulter SA3100)进行测试。

2.3.9 X射线光电子能谱

X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面,使其原子或分子的电

子受激而发射出来,测量这些光电子的能量分布,从而获得所需的信息。随着微

电子技术的发展,XPS也在不断完善,目前,已开发出的小面积X射线光电子能谱,

大大提高了XPS的空间分辨能力。通过对样品进行全扫描,在一次测定中即可检测

出全部或大部分元素。因此,XPS已发展成为具有表面元素分析、化学态和能带结

构分析以及微区化学态成像分析等功能强大的表面分析仪器。X射线光电子能谱的

理论依据就是爱因斯坦的光电子发散公式。根据Einstein的能量关系式有:

by=Eb+Ek

式中,入射光子能量by是已知的,借助光电子能谱仪可以测出光电过程中被入射

光子所激发出的光电子能量Ek,从而可求出内层电子的轨道结合能Eb。由于各种

原子都有一定结构,所以知道Eb值后,即能够对样品进行元素分析鉴定。XPS作为

研究材料表面和界面电子及原子结构的最重要手段之一,原则上可以测定元素周

期表上除氢、氦以外的所有元素。其主要功能及应用有三方面:第一,可提供物

质表面几个原子层的元素定性、定量信息和化学状态信息;第二,可对非均相覆

盖层进行深度分布分析,了解元素随深度分布的情况;第三,可对元素及其化学

态进行成像,给出不同化学态的不同元素在表面的分布图像等。本文采用的是PHISSOOESCA能谱仪,主要的实验参数为:Mg Ka} 200 W,真空度1.0X10-}Paa

纳米氧化铁的形貌控制合成及性能

学位申请人姓名李莉莉

纳米氧化铁的制备及磁性能研究包跃宇2009年6月11日大连交通大学

1.1.1纳米材料简介

纳米是一种长度单位,一纳米等十十亿分之一米,大约是二四个原子的宽度。纳米材料又称为超微颗粒材料,由纳米粒子组成,一般是指尺寸在1100纳米之间的粒子,是处在原子簇和宏观物体的过渡区域,从通常的关十微观和宏观的观点看,这样的系统既非典型的微观系统亦非典型的宏观系统,是一种典型的介观系统。

纳米材料具有二个共同的结构特点【…]:C1)纳米尺度的结构单兀或特征维度尺寸

在纳米数量级(1}100} nm; C2)存在大量的界面或自由界面或自由表面;C3)各

纳米单兀之间存在着或强或弱的互相作用。纳米材料这些结构特点导致了它具有如下四个方面的效应并由此派生出传统固体所不具有的许多特殊性。

}1)体积效应f2-}l:由十纳米粒子体积极小,所包含的原子数很少,相应的质量极小。因此,许多现象就不能用通常有无限个原子的块状物质加以说明了,这种特殊的现

象通常称为体积效应。它表现为:当纳米粒子的尺寸与传导电子的德布罗意波长相当或

更小时周期性及熔点等都会较普通粒子发生了很大的变化。

(2)表面效应卜7]:表面效应是指纳米粒子表面原子与总原子数之比随粒径的变小

IfIJ急剧增大所引起的性质的变化。表1.1给出了纳米粒子尺寸与表面原子数的关系

表1.1说明随着粒径减小,表面原子数迅速增加,另外,随着粒径的减小,纳米粒子的表面积,表面能及表面活性能迅速增大。这主要是由十粒径越小,表面的原子数越多,表面原子的晶场环境和结合能与内部原子不同,表面原子周围缺少相邻的原子,有许多悬空键,具有不饱和性质,易与其它原子相结合Ifu稳定化,故具有很大的化学活性,晶体微粒化伴有这种表面原子的增多,其表面能增加。

C3)量子尺寸效应[fsl.粒子尺寸下降到接近或小十某一定值时(激子波尔半径),

费米能级附近的电子能级由连续能级变为分立能级的现象称为量子尺寸效应。半导体纳米微粒的电子态由体相材料的连续能带过渡到分立结构的能级,表现在光学吸收谱上从没有结构的宽吸收过渡到具有结构的特征吸收。量子尺寸效应带来的能级改变,能隙变宽,使微粒的发射能量增加,光学吸收发生红移,其表现为光吸收显著增加,超导相向正常相转变,金属熔点降低,增强微波吸收等。利用等离子共振频移与颗粒尺寸变化的性质,可以改变颗粒尺寸,控制吸收的位移,制造具有一定频宽的波吸收纳米材料,用十电磁波屏蔽,隐形飞机等。

C4)宏观量子隧道效应[f}l:微观粒子具有贯穿势垒的能力称为隧道效应。近年来,

人们发现一些宏观量,例如微颗粒的磁化强度,量子相干器件中的磁通量以及电荷等亦具有隧道效应,它们可以穿越宏观系统的势垒Ifu产生变化,故称为宏观量子的隧道CAcrosopic Quantum Tunneling)。Awschalom等人[io]采用扫描隧道显微镜技术抓…制纳

米尺度磁性粒子的沉淀,用量子相干磁强计((SQU})研究低温条件下微颗粒磁化率对

频率的依赖性,证实了在低温确实存在磁的宏观量子隧道效应。这一效应与量子尺寸效应一起,确定了微电子器件进一步的微型化的极限,也限定了采用磁带磁招…进行储存的最短时间。

1.1.2纳米材料的性质

由十纳米粒子具有特殊效应,使纳米材料在光学、催化、化学活性方面具有不同十普通材料的优良性能【川,具体表现在:

C1)热学性能:纳米颗粒的熔点、开始烧结和晶化温度均比常规粉体的低得多。

由十颗粒小,纳米微粒的表面能高,比表面原子数多,使得这些表面原子近邻配位不全,活性大以及体积远小十大块材料的纳米粒熔化所需的内能小得多,这就使得纳米微粒熔点急剧下降:纳米微粒尺寸小,表面能高,压制成块材后的界面具有高能量,在烧结中

高的界面能成为原子运动的驱动力,有利十界面中的孔洞收缩,空位团的湮没,因此,在较低的温度下烧结就能达到致密化的目的,即烧结温度降低。

C2)磁学性能:纳米微粒小到一定临界值时,纳米微粒具有超顺磁性。所谓超顺

磁性,简单的讲就是,当外加磁场减小到零时,纳米微粒的矫顽力和剩磁均趋近十零。纳米微粒尺寸高十超顺磁临界尺寸时,通常呈现出高的矫顽力。居里温度Tc为物质磁性

的重要参数,通常与交换积分Je成正比,并十原子构型和间距有关。对十纳米微粒,由十小尺寸效应和表面效应}fu导致纳米粒子的本征和内享的磁性变化,因此一般具有较低的居里温}变[…2]。

C3)光学性能【is-m}.①纳米微粒具有宽频带强吸收性。一个明显的例子就是当尺

寸减小到纳米级时,各种金属纳米微粒几乎都呈黑色。这是由十纳米微粒对可见光波有

低的反射率和高的吸收率,从Ifu导致粒子变黑。②与大块材料相比,纳米微粒普遍存在“蓝移”现象,即吸收带移向短波方向。在一些情况下,粒径减小到纳米级时,可以观察

到光吸收带相对粗晶材料呈现“红移”现象,即吸收带移向长波方向。③量子限域效应,

即激子带的吸收系数随粒径下降}fu增加,即出现激子增强吸收并蓝移。④当纳米微粒的尺寸小到一定值时可以在一定波长的光激发下发光。当纳米微粒分散在分散介质时会发

生丁达尔现象。

C4)催化效应:由十表面效应的影响纳米粒子的比表面积大,表面活性原子数多,

催化效率高。另外,纳米粒子作为光催化剂时,其光催化效率与光致激发产生的电子或

空穴到达催化剂表面的电子,空穴到达表面之前,大部分不会重新结合,因此电子空穴

能够到达表面的数量多,则化学反应活性高【…习。所以光催化的粒径越小,其光催化活性往往越高,当粒径大十200nm时,催化活性大大降低。

CS)化学反应能:纳米粒子的粒径小,表面原子所占比例很大,吸附能力强,因

此表面活性高。无机材料的纳米粒子暴露在大气中会吸附各种离子形成吸附层。也正是

利用纳米粒子的这种气体吸附性,做成气敏兀件,可对不同离子进行检测。

除上述五方面物理化学特性外,与宏观物质相比纳米粒子在熔点,蒸气压,相变

温度,烧结,超导及塑性形变等许多方面亦可显示出特殊性能。

纳米氧化铁的制备及磁性能研究

Studies on Preparation and Magnetic Properties of

Nanometer Iron Oxides 包跃宇

材料分析方法课后答案(更新至第十章)

材料分析方法课后练习题参考答案 2015-1-4 BY:二专业の学渣 材料科学与工程学院

3.讨论下列各组概念的关系 答案之一 (1)同一物质的吸收谱和发射谱; 答:λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射 (2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答:λkβ发射(靶)〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射(靶)。任何材料对X射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。如Ni 的吸收限为0.14869 nm。也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。 (3)X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。 答:Z靶≤Z样品+1 或Z靶>>Z样品 X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱,或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。在进行衍射分析时,总希望试样对X射线应尽可能少被吸收,获得高的衍射强度和低的背底。 答案之二 1)同一物质的吸收谱和发射谱; 答:当构成物质的分子或原子受到激发而发光,产生的光谱称为发射光谱,发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱,吸收光谱则决定于物质的化学结构,与分子中的双键有关。 2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答:可以选择λK刚好位于辐射源的Kα和Kβ之间的金属薄片作为滤光片,放在X射线源和试样之间。这时滤光片对Kβ射线强烈吸收,而对Kα吸收却少。 6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少? 答:eVk=hc/λ Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中h为普郎克常数,其值等于6.626×10-34 e为电子电荷,等于1.602×10-19c 故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 7、名词解释:相干散射、非相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应 答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。

材料测试分析方法(究极版)

绪论 3分析测试技术的发展的三个阶段? 阶段一:分析化学学科的建立;主要以化学分析为主的阶段。 阶段二:分析仪器开始快速发展的阶段 阶段三:分析测试技术在快速、高灵敏、实时、连续、智能、信息化等方面迅速发展的阶段4现代材料分析的内容及四大类材料分析方法? 表面和内部组织形貌。包括材料的外观形貌(如纳米线、断口、裂纹等)、晶粒大小与形态、各种相的尺寸与形态、含量与分布、界面(表面、相界、晶界)、位向关系(新相与母相、孪生相)、晶体缺陷(点缺陷、位错、层错)、夹杂物、内应力。 晶体的相结构。各种相的结构,即晶体结构类型和晶体常数,和相组成。 化学成分和价键(电子)结构。包括宏观和微区化学成份(不同相的成份、基体与析出相的成份)、同种元素的不同价键类型和化学环境。 有机物的分子结构和官能团。 形貌分析、物相分析、成分与价键分析与分子结构分析四大类方法 四大分析:1图像分析:光学显微分析(透射光反射光),电子(扫描,透射),隧道扫描,原子力2物象:x射线衍射,电子衍射,中子衍射3化学4分子结构:红外,拉曼,荧光,核磁 获取物质的组成含量结构形态形貌及变化过程的技术 材料结构与性能的表征包括材料性能,微观性能,成分的测试与表征 6.现代材料测试技术的共同之处在哪里? 除了个别的测试手段(扫描探针显微镜)外,各种测试技术都是利用入射的电磁波或物质波(如X射线、高能电子束、可见光、红外线)与材料试样相互作用后产生的各种各样的物理信号(射线、高能电子束、可见光、红外线),探测这些出射的信号并进行分析处理,就课获得材料的显微结构、外观形貌、相组成、成分等信息。 9.试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施 衍射花样要素:衍射线的峰位、线形、强度 答:(I)花材的选用影晌背底; (2)滤波片的作用影响到背底;(3)样品的制备对背底的影响 措施:(1)选靶靶材产生的特征x射线(常用Kα射线)尽可能小的激发样品的荧光辐射,以降低衍射花样背底,使图像清晰。(2)滤波,k系特征辐射包括Ka和kβ射线,因两者波长不同,将使样品的产生两套方位不同得衍射花样;选择浪滋片材料,使λkβ靶<λk滤<λkα,Ka射线因因激发滤波片的荧光辐射而被吸收。(3)样品,样品晶粒为50μm左右,长时间研究,制样时尽量轻压,可减少背底。 11.X射线的性质; x射线是一种电磁波,波长范围:0.01~1000à X射线的波长与晶体中的原子问距同数量级,所以晶体可以用作衍射光栅。用来研究晶体结构,常用波长为0.5~2.5à 不同波长的x射线具有不同的用途。硬x射线:波长较短的硬x封线能量较高,穿透性较强,适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。软x射线:波长较长的软x射线的能量较低,穿透性弱,可用干分析非金属的分析。用于金属探伤的x射线波长为0.05~0.1à当x射线与物质(原子、电子作用时,显示其粒子性,具有能量E=h 。产生光电效应和康普顿效应等 当x射线与x射线相互作用时,主要表现出波动性。 x射线的探测:荧光屏(ZnS),照相底片,探测器

材料的表征方法总结

材料的表征方法 2.3.1 X 一射线衍射物相分析 粉末X 射线衍射法,除了用于对固体样品进行物相分析外,还可用来测定晶体 结构的晶胞参数、点阵型式及简单结构的原子坐标。X 射线衍射分析用于物相分析 的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d 以及它们的相对强度Ilh 是物 质的固有特征。而每种物质都有特定的晶胞尺寸和晶体结构,这些又都与衍射强 度和衍射角有着对应关系,因此,可以根据衍射数据来鉴别晶体结构。此外,依 据XRD 衍射图,利用Schercr 公式: θ λθβcos )2(L K = 式中p 为衍射峰的半高宽所对应的弧度值;K 为形态常数,可取0.94或0.89;为X 射线波长,当使用铜靶时,又1.54187 A; L 为粒度大小或一致衍射晶畴大小;e 为 布拉格衍射角。用衍射峰的半高宽FWHM 和位置(2a)可以计算纳米粒子的粒径, 由X 一射线衍射法测定的是粒子的晶粒度。样品的X 一射线衍射物相分析采用日本理 学D/max-rA 型X 射线粉末衍射仪,实验采用CuKa 1靶,石墨单色器,X 射线管电压 20 kV ,电流40 mA ,扫描速度0.01 0 (2θ) /4 s ,大角衍射扫描范围5 0-80 0,小角衍 射扫描范围0 0-5 0o 2.3.2热分析表征 热分析技术应用于固体催化剂方面的研究,主要是利用热分析跟踪氧化物制 备过程中的重量变化、热变化和状态变化。本论文采用的热分析技术是在氧化物 分析中常用的示差扫描热法(Differential Scanning Calorimetry, DSC)和热重法 ( Thermogravimetry, TG ),简称为DSC-TG 法。采用STA-449C 型综合热分析仪(德 国耐驰)进行热分析,N2保护器。升温速率为10 0C.1min - . 2.3.3扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜有原子量级的高分辨率,其平行和垂直于表面方向的分辨率 分别为0.1 nm 和0.01nm ,即能够分辨出单个原子,因此可直接观察晶体表面的近原 子像;其次是能得到表面的三维图像,可用于测量具有周期性或不具备周期性的 表面结构。通过探针可以操纵和移动单个分子或原子,按照人们的意愿排布分子 和原子,以及实现对表面进行纳米尺度的微加工,同时,在测量样品表面形貌时, 可以得到表面的扫描隧道谱,用以研究表面电子结构。测试样品的制备:将所制 的纳米Fe203粉末分散在乙醇溶液中,超声分散30 min 得红色悬浊液,用滴管吸取 悬浊液滴在微栅膜上,干燥,在离子溅射仪上喷金处理。采用JSM-6700E 场发射扫 描电子显微镜旧本理学),JSM-6700E 场发射扫描电子显微镜分析样品形貌和粒 径,加速电压为5.0 kV o 2.3.4透射电子显微镜 透射电镜可用于观测微粒的尺寸、形态、粒径大小、分布状况、粒径分布范 围等,并用统计平均方法计算粒径,一般的电镜观察的是产物粒子的颗粒度而不 是晶粒度。高分辨电子显微镜(HRTEM)可直接观察微晶结构,尤其是为界面原 子结构分析提供了有效手段,它可以观察到微小颗粒的固体外观,根据晶体形貌 和相应的衍射花样、高分辨像可以研究晶体的生长方向。测试样品的制备同SEM

材料表征的方法(英语)

材料表征的方法 1.Elemental Analysis 元素分析 Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光谱 Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇电子能谱 Electron probe microanalysis (EPMA) 电子探针微分析 Electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA) 化学分析电子能谱 Energy dispersive spectroscopy (EDS) 能量色散谱 Flame photometry 火焰光度法 Wavelength dispersive spectroscopy (WDS) X-ray fluorescence X射线荧光 2. Molecular and Solid State Analysis 分子与固态分析 Chromatography [gas chromatography (GC), size exclusion chromatography (SEC)] 色谱[气相色谱,体积排除色谱] Electron diffraction 电子衍射 Electron microscopy [scanning electron microscopy (SEM), transmission electron microscopy (TEM), scanning TEM (STEM)] 电子显微镜 Electron spin resonance (ESR) 电子自旋共振 Infrared spectroscopy (IR) 红外光谱 Mass spectrometry 质谱 Mercury porosimetry 压汞法 Mossbauer spectroscopy 穆斯堡尔谱 Nuclear magnetic resonance (NMR) 核磁共振 Neutron diffraction 中子衍射 Optical microscopy 光学显微镜 Optical rotatory dispersion (ORD) 旋光色散 Raman spectroscopy 拉曼光谱 Rutherford back scattering (RBS) 卢瑟福背散射 Small angle x-ray scattering (SAXS) 小角X射线散射 Thermal analysis [differential scanning calorimetry (DSC), thermal gravimetric analysis (TGA), differential thermal analysis (DTA) temperature desorption spectroscopy (TDS), thermomechanical analysis (TMA)] 热分析[差示扫描量热计法,热-重分析,微分热分析,升温脱附,热机械分析] UV spectroscopy 紫外光谱 X-ray techniques [x-ray photoelectron spectroscopy (XPS), x-ray diffraction (XRD), x-ray emission, x-ray absorption] X射线技术[x射线光电子能谱,x射线衍射,x射线发射,x射线吸收] 3. Surface Characterization Techniques 表面表征技术

(完整版)材料分析方法期末考试总结

材料分析方法 1.x射线是一种波长很短的电磁波,具有波粒二相性,粒子性往往表现突出,故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。X射线有可见光无可比拟的穿透能力,可使荧光物质发光,可使气体或其它物质电离等。 2.相干散射:亦称经典散射,物质中的电子在X射线电场的作用下,产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。 3.不相干散射:亦称量子散射,X射线光子与束缚力不大的外层电子,或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子,X射线光子离开原来方向,能量减小,波长增加。 4.吸收限:物质原子序数越大,对X射线的吸收能力越强;对一定的吸收体,X射线的波长越短,穿透能力越强,表现为吸收系数的下降,但随着波长的的降低,质量吸收系数并非呈连续的变化,而是在某些波长位置上突然升高,出现了吸收限。 5.荧光辐射:由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射(荧光X 射线,二次X射线)。 6.俄歇效应:由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式,及俄歇效应。原子中一个K层电子被入射光量子击出后,L层一个电子跃入K层填补空位,此时多余的能量不以辐射X光量子放出,而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体,这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应,跃出的L层电子称为俄歇电子。 7.光电子:当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时,此光量子就很容易被电子吸收,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子,称为光电子。原子则处于激发态,这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。8.滤波片的作用:滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的,用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。 9.布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。 10.晶面(hkl)的n级反射面(nh nk nl),用符号(HKL)表示,称为反射面或干涉面。 11.掠射角是入射角(或反射角)与晶面的夹角,可表征衍射的方向。 12.衍射极限条件:在晶体中,干涉面的划取是无极限的,但并非所有的干涉面均能参与衍射,因存在关系dsinθ=λ/2,或d>=λ/2,说明只有间距大于或等于X 射线半波长的那些干涉面才能参与反射。 13.劳埃法:采用连续X射线照射不动的单晶体,因为X射线的波长连续可变,故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。 14.周转晶体法:采用单色X射线照射转动的单晶体,并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。 15.粉末法:采用单色X射线照射多晶体,试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。 16.吸收因数:由于试样本身对X射线的吸收,使衍射强度的实测值与计算值不符,为了修正这一影响,则在强度公式中乘以吸收因数。 17.温度因数:原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏,使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差,从而使衍射强度减弱。为修正实验温度给衍射强度带来的影响,需要在积分强度公式中乘以温度因数。

材料表征方法思考题答案

第一章XRD 1.X射线的定义、性质、连续X射线和特征X射线的产生、特点。 答:X射线定义:高速运动的粒子与某种物质相撞击后猝然减速,且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。性质:看不见;能使气体电离,使照相底片感光,具有很强的穿透能力,还能使物质发出荧光;在磁场和电场中都不发生偏转;当穿过物体时只有部分被散射;能杀伤生物细胞。 连续X射线产生:经典物理学解释——由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。量子力学解释——大量的电子在到达靶面的时间、条件均不同,而且还有多次碰撞,因而产生不同能量不同强度的光子序列,即形成连续谱。特点:强度随波长连续变化 特征X射线产生:当管电压达到或高于某一临界值时,阴极发出的电子在电场的加速下,可以将物质原子深层的电子击到能量较高的外部壳层或击出原子外,使原子电离。此时的原子处于激发态。处于激发态的原子有自发回到激发态的倾向,此时外层电子将填充内层空位,相应伴随着原子能量降低。原子从高能态变为低能态时,多出的能量以X射线的形式释放出来。因物质一定,原子结构一定,两特定能级间的能级差一定,故辐射出波长一定的特征X射线。特点:仅在特定的波长处有特别强的强度峰。 2.X射线与物质的相互作用 答:X射线与物质的相互作用,如图所示 一束X射线通过物体后,其强度因散射和吸收而被衰减,并且吸收是造成强度衰减的主要原因。 散射分为两部分,即相干散射和不相干散射。当X射线照射到物质的某个晶面时可以产生反射线,当反射线与X射线的频率、位相一致时,在相同反射方向上的各个反射波相互干涉,产生相干散射;当X射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,产生波长比入射X射线波长长的X射线,且波长随着散射方向的不同而改变,这种现象称为不相干散射。其中相干散射是X射线在晶体中产生衍射现象的基础。 物质对X射线的吸收是指X射线通过物质时,光子的能量变成了其它形式的能量,即产生了光电子、俄歇电子和荧光X射线。当X射线入射到物质的内层时,使内层的电子受激发而离开物质的壳层,则该电子就是光电子,与此同时产生内层空位。此时,外层电子将填充到内层空位,相应伴随着原子能量降低,放出的能量就是荧光X射线。当放出的荧光X射线回到外层时,将使外层电子受激发,从而产生俄歇电子而出去。产生光电子和荧光X射线的过程称为光电子效应,产生俄歇电子的过程称为俄歇效应。示意图见下:

最新材料结构表征重点知识总结

第一章,绪论 材料研究的四大要素:材料的固有性质,材料的结构,材料的使用使用性能。 材料的固有性质大都取决于物质的电子结构,原子结构和化学键结构。 材料表征的三大任务及主要测试技术:1、化学成分分析:质谱,色谱,红外光谱,核磁共振;2、材料结构的测定,X射线衍射,电子衍射,中子衍射;3、形貌观察:光学显微镜,电子显微镜,投射显微镜。 第二章,红外光谱及激光拉曼光谱 2.1红外光谱的基本原理 红外光谱的定义:当一束具有连续性波长的红外光照射物质时,该物质的分子就有吸收一定的波长红外光的光能,并将其转变为分子的振动能和装动能,从而引起分子振动—转动能级的跃迁,通过仪器记录下来不同波长的透射率的变化曲线,就是该物质的红外吸收光谱。中红外去波数范围(4000—400cm-1) 简正振动自由度(3n-6或3n-5)及其特点:3n-6是分子振动自由度3n-5是直线分子的振 动自由度 特点:分子质点在振动过程中保持不变,所有的原子都在同一瞬间通过各自的平衡位置。每 个简谐振动代表一种振动方式,有它自己的特 征频率 简正振动的类型:1、伸缩振动2、弯曲振动 分子吸收红外辐射必须满足的条件:主要振动过程中偶极矩的变化、振动能级跃迁几率 2.2红外光谱与分子结构 红外光谱分区:官能团去(4000-1330cm-1)指纹区(1330-400cm-1) 基团特征频率定义:具有相同化学键或官能团的一系列化合物有共同的吸收频率,这种频率就叫基团特征频率 影响因素,内部因素:诱导效应,共振效应,键应力的影响,氢键的影响,偶合效应,费米共振;外部因素:物态的变化的影响,折射率和粒度的影响,溶剂的影响 诱导效应:在具有一定极性的共价键中,随着取代基的电负性不同而产生不同程度的静电诱导作用,引起分子中电荷分布的变化,从而改变了键的常熟,使振动的频率发生改变,这就是诱导效应。 2.3红外光谱图的解析方法 普带的三个特征:1位置:基因存在的最有用的特征;2形状:有关基因存在的一些信息;3相对强度:把红外光谱中一条普带的强度和另一条谱带相比,可以得出一个定量的概念 影响谱图质量的因素:1仪器参数的影响;2环境的影响:空气湿度,样品污染等;3厚度的影响(要求10——50um) 2.7激光拉曼光谱 基本概念: 拉曼散射:人射光照射在样品上,人射光子与样品之间发生碰撞有能量交换称为拉曼散射斯托克斯线:拉曼散射中,散射光能量减少,在垂直方向测量到散射光中,可以检测到频率为()的线,称为斯托克斯线。 反斯托克斯线:相反,若样子分子获得能量,在大于人射光频率出收到散射光线 拉曼位移:斯托克斯线或反斯托克斯线与人射光频率之差称了拉曼位移

材料结构与表征

基本概念集锦 1、材料(materials):人类能用来制作有用物件的物质。 2、材料的四大家族 A. 金属材料 B. 无机非金属材料 C. 高分子材料 D. 复合材料 3、材料的结构与组成 第一层次:原子结构(电子构型、化学键、原子与电子性缺陷)。 第二层次:原子在空间的排列(单晶、多晶、非晶)。 第三层次:材料的显微组织形貌(各种缺陷)。 4、简正振动: 整个分子质心不变、整体不转动、各原子在原地作简谐振动且频率及相位相同、所有的原子都在同一瞬间通过各自的平衡位置,此时分子中的任何振动可视为所有上述简谐振动的线性组合。 将振动形式分成两类: a. 伸缩振动(νs、νas) b. 变形振动(又称弯曲振动或变角振动,用符号δ表示) 同一键型: ?反对称伸缩振动的频率大于对称伸缩振动的频率; ?伸缩振动频率远大于弯曲振动的频率; ?面内弯曲振动的频率大于面外弯曲振动的频率。 vas > vs >>δ面内>δ面外 5、分子吸收红外光谱的条件 (1)振动必须能够引起分子偶极矩的变化 (2)红外辐射光的频率与分子振动的频率相当 6、红外光谱信息区 ① 4000~2500 cm-1 X—H伸缩振动区 ② 2500~2000 cm-1 叁键、累积双键伸缩振动区 ③ 2000~1500 cm-1 双键伸缩振动区 ④ 1500~ 670 cm-1 单键振动(X—Y伸缩,X—H变形振动区)及指纹区

7、振动偶合: 当两个振动频率相同或相近的基团相邻并由同一原子相连时,两个振动相互作用(微扰)产生共振,谱带一分为二(高频和低频)。 8、Fermi(费米)共振: 当一振动的倍频或组频与另一振动的基频接近时,由于发生相互作用而产生很强的吸收峰或裂分分裂成两个不同频率的峰。 9、 1. >3200:O—H(1个峰,强,宽)或N—H(H个峰,中强,锐) 2. 3000左右:C—H 3. Ω≥4:苯环(单取代双峰、邻位单峰、间位三峰、对位单峰兰移) 4. 3050、1600、1500:苯环 5. 1700:C=O 6. -CH3:4个峰(2960、2870、1460、1380) 7. -CH2-:3个峰( 2930、2850、1460) 8. 异丙基:1385、1375等强双峰 9. C=C:单取代双峰,多取代单峰;顺式(690)、反式(970)

材料分析方法部分课后习题答案(供参考)

第一章X 射线物理学基础 2、若X 射线管的额定功率为1.5KW,在管电压为35KV 时,容许的最大电流是多少? 答:1.5KW/35KV=0.043A。 4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。 答:因X 光管是Cu 靶,故选择Ni 为滤片材料。查表得:μ m α=49.03cm2/g,μ mβ=290cm2/g,有公式,,,故:,解得:t=8.35um t 6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少? 答:eVk=hc/λ Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中h为普郎克常数,其值等于6.626×10-34 e为电子电荷,等于1.602×10-19c 故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 7、名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应 答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。 ⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K 电子,当外层电子来填充K 空位时,将向外辐射K 系χ射线,这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程,称荧光辐射。或二次荧光。 ⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量,如入射光子的能量必须等于或大于将K 电子从无穷远移至K 层时所作的功W,称此时的光子波长λ称为K 系的吸收限。 ⑸原子钟一个K层电子被光量子击出后,L层中一个电子跃入K层填补空位,此时多余的能量使L层中另一个电子获得能量越出吸收体,这样一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应。 第二章X 射线衍射方向 2、下面是某立方晶第物质的几个晶面,试将它们的面间距从大到小按次序重新排列:(123),(100),(200),(311),(121),(111),(210),(220),(130),(030),(221),(110)。 答:立方晶系中三个边长度相等设为a,则晶面间距为d=a/ 则它们的面间距从大小到按次序是:(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(121)、(220)、(221)、(030)、(130)、

《材料分析测试方法A》作业

材料物理专业2013级《材料分析测试方法A 》作业 第一章 电磁辐射与材料结构 一、教材习题 1-1 计算下列电磁辐射的有关参数: (1)波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长(μm ); (2)5m 波长射频辐射的频率(MHz ); (3)588.995nm 钠线相应的光子能量(eV )。 1-3 某原子的一个光谱项为45F J ,试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。 1-5 下列原子核中,哪些核没有自旋角动量? 12C 6、19F 9、31P 15、16O 8、1H 1、14N 7。 1-8 分别在简单立方晶胞和面心立方晶胞中标明(001)、(002)和(003)面,并据此回答: 干涉指数表示的晶面上是否一定有原子分布?为什么? 1-9 已知某点阵∣a ∣=3?,∣b ∣=2?,γ = 60?,c ∥a ×b ,试用图解法求r *110与r *210。 1-10 下列哪些晶面属于]111[晶带? )331(),011(),101(),211(),231(),132(),111(。 二、补充习题 1、试求加速电压为1、10、100kV 时,电子的波长各是多少?考虑相对论修正后又各是多 少? 第二章 电磁辐射与材料的相互作用 一、教材习题 2-2 下列各光子能量(eV )各在何种电磁波谱域内?各与何种跃迁所需能量相适应? 1.2×106~1.2×102、6.2~1.7、0.5~0.02、2×10-2~4×10-7。 2-3 下列哪种跃迁不能产生? 31S 0—31P 1、31S 0—31D 2、33P 2—33D 3、43S 1—43P 1。 2-5 分子能级跃迁有哪些类型?紫外、可见光谱与红外光谱相比,各有何特点? 2-6 以Mg K α(λ=9.89?)辐射为激发源,由谱仪(功函数4eV )测得某元素(固体样品) X 射线光电子动能为981.5eV ,求此元素的电子结合能。 2-7 用能级示意图比较X 射线光电子、特征X 射线与俄歇电子的概念。 二、补充习题 1、俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同?为什么? 2、简述X 射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 第三章 粒子(束)与材料的相互作用 一、教材习题 3-1 电子与固体作用产生多种粒子信号(教材图3-3),哪些对应入射电子?哪些是由电子 激发产生的?

材料分析方法 考前复习总结(一)

一X射线基础 1 X射线:是一种波长很短的电磁波(0.05-0.25nm,可见光390-760nm)。X射线能使气体电离,使照相底片感光,能穿过不透明的物体,还能使荧光物质发出荧光。呈直线传播,在电场和磁场中不发生偏转;当穿过物体时仅部分被散射。 产生条件:产生自由电子;使电子做定向高速运动;在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 产生方式:利用类似热阴极二极管装置,用一定材料制作的板状阳极(靶)和阴极(灯丝)密封在一个玻璃-金属管壳内,阴极通电加热,在两极间加直流高压U,则阴极产生的热电子将在高压电场作用下飞向阳极,在碰撞的瞬间产生X射线。 连续X射线:强度随波长连续变化的谱线,波长从一最小值(短波限)向长波伸展,并在一波长处有强度最大值。受管电压U、管电流I和阳极靶材原子序数Z的作用。U提高,强度提高,短波限和强度最大值对应的波长减小;I提高,强度提高;Z越高,强度越大。根据量子力学,在管电压作用下电子动能为eU,若电子碰撞时把全部能量给予一个光子,则使其获得最大能量,,此光量子的波长即为短波限。。绝大多数到达阳极靶面的电子经多次碰撞消耗能量,每次碰撞产生一个光量子,并以均大于短波限的波长辐射,产生连续谱。 特征X射线:管电压增高到一定值时,在连续谱的某些特定的波长位置会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱,其波长只取决于阳极靶材元素的原子序数,可作为阳极靶材的标志或特征。莫塞莱定律:(Z越大,特征谱波长越短)。经典原子模型,电子分布在一系列量子化壳层上,内层电子被激出后原子将处于激发状态,必然自发向稳态过渡,此时外层电子将填充内层空位,相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时,多出的能量以X射线形式辐射出来。物质一定,原子结构一定,两特定能级间的能量差一定,故辐射出的特征X射波长一定。特征谱强度随U和I的提高而增大。 2 X-ray与物质的相互作用 1)散射:相干散射:当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时,光子方向改变但能量无损失,产生波长不变的散射线,可发生干涉,是x射线衍射的基础。(汤姆逊散射) 非相干散射:当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞,电子被撞离原子带走一部分光子的能量成为反冲电子,损失了能量的光子被撞偏一个角度。散布于各方向的散射波波长不等,不能发生干涉。(康-吴效应) 2)真吸收(光电效应、俄歇效应和热效应消耗):入射x射线能量足够大时,可将内层电子击出,产生光电效应。被击出的电子为光电子;外层电子向内层跃迁,辐射出波长严格一定的特征x射线,因属于光致发光的荧光现象,成为荧光X射线。 原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位,这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收,受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。(荧光效应用于表层重元素>20的成分分析;俄歇效应用于表层轻元素的成分分析) 3)衰减X射线吸收规律:强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例,即-dI/I=μdx 。 线吸收系数:即为上式中的μ,指在X射线传播方向上,单位长度上的X射线强弱衰减程度。 质量吸收系数:X射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量,拜托密度影响。 吸收限:当吸收物质一定时,波长越长越容易被吸收,但吸收系数并不随波长减小单调下降,会有几个跳跃台阶(对应荧光辐射吸收)。 ①根据样品化学成分选择靶材:要求尽可能少激发荧光辐射,入射线波长略长于样品的吸收线或短很多。Z靶≤Z样+1或Z靶>>Z样 ②滤片选择:滤去K系谱线中的Kβ线,使其吸收线位于K系谱线直接,尽可能靠近Kα线。Z靶<40,Z滤=Z靶-1;Z靶>40,Z滤=Z靶-2 1分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? 答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。最内层能量最低,向外能量依次增加。根据能量关系,M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差,K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以K?的能量大于Ka的能量,Ka能量大于La的能量。因此在不考虑能量损失的情况下:CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同)CuK?能激发CuKa荧光辐射;(K?>Ka)CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la)2为什么出现吸收限?K吸收限只有一个而L吸收限有三个?当激发K系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L系?当L系激发时能否伴生K系? 一束X射线通过物体后,其强度将被衰减,它是被散射和吸收的结果。并且吸收是造成强度衰减的主要原因。物质对X射线的吸收,是指X射线通过物质对光子的能量变成了其他形成的能量。原子系统中的电子遵从泡利不相容原理不连续地分布在K,L,M,N等不同能级的壳层上,当外来的高速粒子(电子或光子)的动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出原子系统之外,从而使原子处于激发态。这时所需的能量即为吸收限,它只与壳层能量有关。即吸收限只与靶的原子序数有关,与管电压无关。 因为L层有三个亚层,每个亚层的能量不同,所以有三个吸收限,而K只是一层,所以只有一个吸收限。 激发K系光电效应时,入射光子的能量要等于或大于将K电子从K层移到无穷远时所做的功Wk。从X射线被物质吸收的角度称入K 为吸收限。当激发K系荧光X射线时,能伴生L系,因为L系跃迁到K系自身产生空位,可使外层电子迁入,而L系激发时不能伴生K系。3计算当管电压为50 kv时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。 电子静止质量:m0=9.1×10-31kg 光速:c=2.998×108m/s电子电量:e=1.602×10-19C 普朗克常数:h=6.626×10-34J.s 电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为 E=eU=1.602×10-19C×50kv=8.01×10-18kJ 由于E=1/2m0v02 所以电子与靶碰撞时的速度为v0=(2E/m0)1/2=4.2×106m/s 所发射连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压λ0(?)=12400/v(伏) =0.248? 辐射出来的光子的最大动能为 E0=h?0=hc/λ0=1.99×10-15J

东华大学材料结构表征及其应用作业答案

“材料研究方法与测试技术”课程练习题 第二章红外光谱法 1.为什么说红外光谱是分子振动光谱?分子吸收红外光的条件是什 么?双原子基团伸缩振动产生的红外光谱吸收峰的位置主要与哪些因素有关? 答案:这是由于红外光谱是由样品分子振动吸收特定频率红外光发生能级跃迁而形成的。分子吸收红外光的条件是:(1)分子或分子中基团振动引起分子偶极矩发生变化;(2)红外光的频率与分子或分子中基团的振动频率相等或成整数倍关系。双原子基团伸缩振动产生的红外光谱吸收峰的位置主要与双原子的折合质量(或质量)和双原子之间化学键的力常数(或键的强度;或键的离解能)有关。 2.用诱导效应、共轭效应和键应力解释以下酯类有机化合物的酯羰 基吸收峰所处位置的范围与饱和脂肪酸酯的酯羰基吸收峰所处位置范围(1735~1750cm-1)之间存在的差异。 芳香酸酯:1715~1730cm-1 α酮酯:1740~1755cm-1 丁内酯:~1820cm-1 答案:芳香酸酯:苯环与酯羰基的共轭效应使其吸收峰波数降低;α酮酯:酯羰基与其相连的酮羰基之间既存在共轭效应,也存在吸电子的诱导效应,由于诱导效应更强一些,导致酯羰基吸收峰的波数上升;丁内酯:四元环的环张力使酯羰基吸收峰的波数增大。

3.从以下FTIR谱图中的主要吸收峰分析被测样品的化学结构中可能 存在哪些基团?分别对应哪些吸收峰? 答案:3486cm-1吸收峰:羟基(-OH);3335cm-1吸收峰:胺基(-NH2或-NH-);2971cm-1吸收峰和2870cm-1吸收峰:甲基(-C H3)或亚甲基(-CH2-);2115cm-1吸收峰:炔基或累积双键基团(-N=C=N-);1728cm-1吸收峰:羰基;1604cm-1吸收峰、1526cm-1吸收峰和1458cm-1吸收峰:苯环;1108cm-1吸收峰和1148cm-1吸收峰:醚基(C-O-C)。1232cm-1吸收峰和1247cm-1吸收峰:C-N。 第三章拉曼光谱法 1. 影响拉曼谱峰位置(拉曼位移)和强度的因素有哪些?如果分子的同一种振动既有红外活性又有拉曼活性,为什么该振动产生的红外光谱吸收峰的波数和它产生的拉曼光谱峰的拉曼位移相等?

材料分析方法复习总结

X射线:波长很短的电磁 X射线的本质是什么? 答:X射线是一种电磁波,有明显的波粒二象性。 特征X射线:是具有特定波长的X射线,也称单色X射线。 连续X射线:是具有连续变化波长的X射线,也称多色X射线。 荧光X射线:当入射的X射线光量子的能量足够大时,可以将原子内层电子击出,被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程,同时辐射出波长严格一定的特征X射线 x射线的定义性质连续X射线和特征X射线的产生 X射线是一种波长很短的电磁波 X射线能使气体电离,使照相底片感光,能穿过不透明的物体,还能使荧光物质发出荧光。呈直线传播,在电场和磁场中不发生偏转;当穿过物体时仅部分被散射。对动物有机体能产生巨大的生理上的影响,能杀伤生物细胞。 连续X射线根据经典物理学的理论,一个带负电荷的电子作加速运动时,电子周围的电磁场将发生急剧变化,此时必然要产生一个电磁波,或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。 特征X射线处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向,此时外层电子将填充内层空位,相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时,多出的能量以X射线形式辐射出来。因物质一定,原子结构一定,两特定能级间的能量差一定,故辐射出的特征X射波长一定。 4 简述材料研究X射线试验方法在材料研究中的主要应用 精确测定晶体的点阵常数物相分析宏观应力测定测定单晶体位相测定多晶的织够问题. X 射线衍射分析,在无机非金属材料研究中有哪些应用?(8分) 答:1. 物相分析:定性、定量2. 结构分析:a、b、c、α、β、γ、d 3. 单晶分析:对称性、晶面取向—晶体加工、籽晶加工 4. 测定相图、固溶度 5. 测定晶粒大小、应力、应变等情况 X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式?写出数学表达式,并说明d、θ、λ的意义。(5分) 答:. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。(1分)其数学表达式:2dsin θ=λ(1分)其中d是晶体的晶面间距。(1分)θ是布拉格角,即入射线与晶面间的交角。(1分)λ是入射X 射线的波长。(1分) 在X射线衍射图中,确定衍射峰位的方法有哪几种?各适用于什么情况?(7分) 答:(1).峰顶法:适用于线形尖锐的情况。(1分) (2).切线法:适用于线形顶部平坦,两侧直线性较好的情况。(1分) (3).半高宽中点法:适用于线形顶部平坦,两侧直线性不好的情况。(1分) (4).7/8高度法:适用于有重叠峰存在,但峰顶能明显分开的情况。(1分) (5).中点连线法:(1分) (6).抛物线拟合法:适用于衍射峰线形漫散及双峰难分离的情况。(1分) (7).重心法:干扰小,重复性好,但此法计算量大,宜配合计算机使用。(1分) 什么叫干涉面?当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl) 晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少? 答:晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波 长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ, 相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。

纳米材料的表征方法

纳米材料的表征及其催化效果评价方式纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、等电点、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。 纳米材料催化效果评价方式主要是在光照(紫外、可见光、红外光或者太阳光)条件下纳米材料对一些污染物质(甲基橙、罗丹明B、亚甲基蓝和Cr6+等)的降解或者对一些物质的转化(用于选择性的合成过程)。评价指标为污染物质的去除效率、物质的转化效率以及反应的一级动力学常数k的大小。

1 、结构表征 XRD,ED,FT-IR, Raman,DLS 2 、成份分析 AAS,ICP-AES,XPS,EDS 3 、形貌表征 TEM,SEM,AFM 4 、性质表征-光、电、磁、热、力等 … UV-Vis,PL,Photocurrent

1. TEM TEM为透射电子显微镜,分辨率为~,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于微米、光学显微镜下无法看清的结构。TEM是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器,一般纳米材料的文献中都会用到。 The morphologies of the samples were studied by a Shimadzu SSX-550 field-emission scanning electron microscopy (SEM) system, and a JEOL JEM-2010 transmission electron microscopy (TEM)[1]. 一般情况下,TEM还会装配High-Resolution TEM(高分辨率透射电子显微镜)、EDX(能量弥散X射线谱)和SAED(选区电子衍射)。High-Resolution TEM用于观察纳米材料的晶面参数,推断出纳米材料的晶型;EDX一般用于分析样品里面含有的元素,以及元素所占的比率;SAED用于实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。

材料分析方法试题及答案10

材料现代分析方法试题10(参考答案) 一、基本概念题(共10题,每题5分) 1.“一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可 能产生衍射线”,此种说法是否正确? 答:不正确,因为一束X射线照射一个原子列上,原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线,只要符合光的干涉三个条件(光程差是波长的整数倍),不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。镜面反射,其光程差为零,是特殊情况。 2.什么叫干涉面?当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是多少?相邻两个(HKL)晶面的波程差是多少? 答:晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。 3.谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B、λ、t、θ分别表示什么? 该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题? 答:B为半高宽或峰的积分宽度,λ为入射X射线波长,t为粒径大小,θ 为表示选用X射线位置 ①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。B为衍射峰的宽,t表示晶粒的大小。可见当晶粒变小时,衍射峰产生宽化。一般当晶粒小于10-4cm 时,它的衍射峰就开始宽化。因此式适合于测定晶粒<10-5cm ,即100纳米以下晶粒的粒径。因此,它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。虽然精度不很高,但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。 ②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末,但实际上理想的晶体是不存在的,即使是较大的晶体,它经常也具有镶嵌结构在,即是由一些大小约在10-4cm,取向稍有差别的镶嵌晶块组成。它们也会导到X射线衍射峰的宽化。 4.试述极图与反极图的区别? 答:极图是多晶体中某{hkl}晶面族的倒易矢量(或晶面法线)在空间分布的极射赤面投影图。它取一宏观坐标面为投影面,对板织构可取轧面,对丝织构取与丝轴平行或垂直的平面。图7-13是轧制纯铝{111}极图,投影面为轧面。在极

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