高性能无源互调分析仪

天线无源互调检测暗室-PIM暗室-antenna PIM test Chamber-无源互调暗室-PIM Chamber-介绍

无源互调检测暗室介绍 PIM介绍: 无源互调（Passive Inter-Modulation, PIM）是由天线发射系统中各种无源器件的非线性特性引起的。在大功率、多信道系统中，由于其大功率特性，使传统的无源线性器件产生较强的非线性效应，这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的更高次谐波，这些谐波与工作频率混合会产生一组新的频率，其最终结果就是在空中产生一组无用的频谱（三阶互调产物, 五阶互调产物, 七阶互调产物…）,如果这些互调产物落在发射或接收波段区间，并且这些互调产物的功率超过系统中有用信号的最小幅度, 就会影响正常的通信。所有无源器件由于非线性特性都会产生互调失真，其产生的原因很多，如机械接触的不可靠、虚焊和表面氧化等。在GSM900通信系统与3G通信系统中，随着发射功率的增加，由发射频段产生的三阶互调产物会落入到他们各自的接收频段。通过以下数学计算可以来验证这个现象 1- 2G GSM上行/下行 [890,915]/[935,960] fPIM3=[910,985] fPIM5=[885,1010] fPIM7=[860,1035] 2- 3G WCDMA / CDMA2000 / TD-SCDMA 上行/下行 [1920,2060]/[2110,2170] fPIM3=[2050,2230] fPIM5=[1990,2290] fPIM7=[1930,2350] 从上述计算结果可知，GSM900与3G通信系统中，fPIM3/ fPIM5/ fPIM7均落入到上行的接收频段。如果在发射频段产生一个-110dBm的无源互调信号，也就是干扰信号，这可能会给系统带来影响，因为这个数值已经大于系统中有用信号的最小幅度。

无源互调测量及解决方案

１概述无源器件会产生非线性互调失真吗？答案是肯定的！尽管还没有系统的理论分析，但是在工程中已经发现在一定条件下无源器件存在互调失真，并且会对通信系统（尤其是蜂窝系统）产生严重干扰。无源互调（Ｐａｓｓｉｖｅ　Ｉｎｔｅｒ－Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ，ＰＩＭ）是由发射系统中各种无源器件的非线性特性引起的。在大功率、多信道系统中，这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的更高次谐波，这些谐波与工作频率混合会产生一组新的频率，其最终结果就是在空中产生一组无用的频谱从而影响正常的通信。所有的无源器件都会产生互调失真。无源互调产生的原因很多，如机械接触的不可靠、虚焊和表面氧化等。５年前，大部分射频工程师很少提及无源器件互调问题。但是，随着移动通信系统新频率的不断规划、更大功率发射机的应用和接收机灵敏度的不断提高，无源互调产生的系统干扰日益严重，因无源互调测量及解决方案朱　辉上海创远信息技术股份有限公司此越来越被运营商、系统制造商和器件制造商所关注。长期以来，无源器件的互调失真测量技术一直被国外公司所掌握，并垄断了测量产品市场。今天这种局面发生了变化，无源互调测量技术难关已经被中国本土的射频工程师们攻克，而且低成本的商用无源互调测量系统也已诞生。２无源互调的表达方式无源互调有绝对值和相对值两种表达方式。绝对值表达方式是指以ｄＢｍ为单位的无源互调的绝对值大小；相对值表达方式是指无源互调值与其中一个载频的比值（这是因为无源器件的互调失真与载频功率的大小有关），用ｄＢｃ来表示。典型的无源互调指标是在两个４３　ｄＢｍ的载频功率同时作用到被测器件ＤＵＴ时，ＤＵＴ产生－１１０　ｄＢｍ（绝对值）的无源互调失真，其相对值为－１５３　ｄＢｃ。３无源互调测量方法由于无源互调值非常小，因此无源

使用带定位功能互调仪对室分系统干扰排查与定位案例

室分系统干扰排查与定位案例一．背景随着中国移动2/3G网络的发展和室内话音、数据业务流量的高速增长，室内分布系统已成为吸收话务量、解决深度覆盖并提升用户感受的主要手段，是移动网络的重要组成部分。无源互调是指当两个以上不同频率的信号作用在具有非线性特性的无源器件时，会产生无源互调产物PIM（Passive Inter-Modulation)。在所有的互调产物中，二阶与三阶互调产物的危害性最大，因为其幅度较大、可能落在本系统或其他系统接收频段，无法通过滤波器滤除而对系统造成较大危害。二．优化案例 1)指标情况隆生大厦微1小区4/5等级的干扰比例在20%左右，小区掉话数在二十多次每小时。小区性能下降，给客户感知造成较差的情况。并且该大厦长期存在客户投诉，但由于无法精准定位排查解决，下表是该大厦覆盖小区RJC隆生大厦微1相关指标统计。 2)系统原理图

3)现场互调测试现场对机架顶端馈线进行互调测试，测试结果如下：该分布系统三阶互调约为-56dBm，三阶互调峰值在14.18米距离处。测试情况如下图所示。 -56dBm，测试结果以机架端测试结果相接近。

通过更换高性能电桥再次在机架端进行互通测试，本次测试结果发现4米处存在三阶互调为-73dBm ，经过分析该处1/2软馈线转7/8硬件连接处。经过检查1/2软跳线与7/8硬馈线之间馈头连接处，发现1/2馈线接头稍微用力拉就脱落现象。主要是由于前期施工中工艺存在问题，馈线与馈头之间松动，接触不良情况，引起互调干扰问题，因此现场重新更换1/2馈线头。故障电桥

对1/2馈头进行重新更换后，再次对该系统进行三阶互调测试，测试结果合格，能够满足系统三阶互调要求。详细情况如下图所示：三阶互调峰值为-83dBm，所处位置为距离机架端36米地方。 4)效果跟踪通过对电桥更换及馈头更换后，重新开启该小区对信道干扰情况进行观察，发现处理前干扰等级集中在3/4/5等级，处理后大部分1等级，个别信道为2等级。下面是该小区处理前后小区性能指标统计对比。

无源互调测试流程和方法_V1

无源互调测试流程和方法罗森伯格亚太电子有限公司 2011年5月

目录 1.0 无源互调简介 (1) 2.0 PIM 测试仪 (1) 3.0 PIM的单位 (2) 4.0 PIM测试指导 (2) 4.1 RF安全 (2) 4.2 RF连接器的维护 (2) 4.3 外部PIM信号源 (3) 4.4 测试精确性 (3) 4.5 测试系统搭建以及PIM测试基准的现场核查 (3) 5.0 验收标准 (3) 6.0 器件测试 (4) 6.1 天线产品PIM测试 (4) 6.2 多端口器件的PIM测试 (5) 6.2.1 电缆组件（二端口） (5) 6.2.2 功分器和合路器（三端口或多端口） (5) 6.2.3 天线共用器和多频合路器（三端口） (6) 6.2.4 塔顶放大器（TMA）的PIM测试 (6) 6.2.4.1 Duplexing TMA (6) 6.2.4.2 Dual-Duplexing TMA (6) 6.2.5 带RRH的系统PIM测试 (7) 7.0 互调仪参数设置 (8)

1.0无源互调简介无源互调（PIM）是两个或更多不同频率的信号混合输入到无源器件中，由于连接点或材料的非线性，而产生的失真信号。干扰的产生和本地下行频点相关，可以导致在多系统共享基础设施时，上行频段噪声上升。PIM对网络质量的影响是非常严重的，特别是UMTS或LTE这种宽频系统。PIM 干扰会导致接收机灵敏度下降，掉话率增加，接入失败率提高，过早切换，降低数据传输速率，并降低系统的覆盖范围和容量。 RF路径中的任何组件都可能产生PIM干扰，包括天线，TMAs，天线共用器，双工器，避雷器，电缆和连接器。此外，当天线系统大功率辐射时，松动的机械连接和生锈的表面，也会产生PIM干扰。2.0PIM 测试仪 PIM测试仪是将两路高功率信号输入到被测件中。如果被测件中有非线性连接，就会产生互调信号。测试信号将被负载吸收，或是被天线发射到自由空间。互调信号会在各个方向进行传输。在同轴系统中，互调信号不仅会朝着负载或天线的方向传输，也会朝着PIM测试仪的方向传输。落在系统Rx频段的互调信号会通过双工器传输到接收机上。这个小信号会通过滤波器和低噪放，然后到达测试仪的接收机。这种互调测试方式被称为反射式测试。精确的测试的难点在于在一个发射大功率信号的系统里去检测一个非常小的信号。IEC 62037 [3]对互调测试给出了更为详细的定义。当使用负载去吸收通过被测的传输器件的发射信号时，这个负载必须是“低互调”（LOW PIM）的。如果负载含有能产生高互调信号的因素时，即使被测件没有产生互调信号，PIM测试仪也无法分辨互调信号是负载产生的还是被测件产生的，就会造成测试失败。需要注意的是，VSWR扫频测试的负载，是不能用于互调测试的。这类精密负载的设计，没有考虑承受互调测试的高功率信号，一旦使用，将会造成永久性损坏。 PIM测试仪的自身互调信号（残留PIM）应进行现场验证，并保证在一定的电平之下。测试系统的残留PIM信号（包括测试仪表、负载、，测试线缆、转接器）应进行现场验证，以确保之前的使用没有造成损坏。

无源互调测试仪检测方法及功能分析_JOINTCOM

无源互调测试仪检测方法及“工兵行动”所需互调仪功能分析

目录一. 互调仪整机性能测试 (3) 1.残余互调(自身互调)测试 (3) 2.标准件测试测试 (3) 3.总结 (4) 二. 互调仪模块性能测试 (4) 1.发射模块测试 (4) 2.接收模块测试 (4) 3.总结 (5) 三. 互调仪一致性测试 (5) 四. “工兵行动”所需互调仪功能分析 (5) 1. 中国移动需要什么样的互调仪？ (5) 2.为什么互调仪的重量要求足够轻？ (5) 3.为什么互调仪必须要测量频谱？ (6) 4.为什么国际标准EGSM便携互调仪国内不能使用？ (7)

一. 互调仪整机性能测试互调仪由发射机和接收机组成，因此可以利用其收发特性对整机性能进行验证。整机性能测试包括两项，一项是残余互调测试，另外一项是标准件测试。 1. 残余互调(自身互调)测试测试设备包括被测互调分析仪、低互调负载、低互调测试电缆，其连接如图1所示，仪表设置如下：两路载波输出功率为+43dBm ，互调阶数为3阶，选择扫频测试，记录整个频段范围内的互调最差点，这个值就是互调仪残余互调。建议残余互调≤－125 dBm （－168dBc@2×43dBm ），该值越小越好。残余互调是互调仪的一项重要指标，他决定了仪表的测量范围和测量精度。根据互调测试IEC 62037相关国际标准，要求测试系统残余互调至少必被测件互调值低10dB ，也就是说残余互调为－125 dBm@2×43dBm 的互调仪，最低可以测到－115 dBm@2×43dBm 无源互调，低于－115 dBm ，测试结果不准确。反过来也可以讲，在被测件互调值确定情况下，互调仪残余互调值越低，测量结果越精确。低互调负载图1 残余互调测试框图 2. 标准件测试测试低互调负载图2 标准件测试框图测试设备包括被测互调分析仪、标准件、低互调负载、低互调测试电缆，其连接如图2所示。标准件是一种在确定的功率(2×43dBm)下产生确定互调值（譬如-80dBm 或-100dBm 等）的设备，其外形与一般连接器相同。仪表设置如下：两路载波输出功率为+43dBm ，互调阶数为3阶，选择扫频测试，记录整个频段范围内的数据，计算其与标准（譬如-80dBm ）的差值。建议标准件偏差在±3dB 之内，偏差值越小越好。标准件测试是另外一个整机测试指标，它用来衡量测试的准确性。与网络分析仪的测量误差(0.05dB~0.1dB)相比，±3dB 互调仪的测试偏差比较明显，这是由于互调测试的复杂性及不确定性造成。

无源互调PIM

无源互调测量及解决方案 1、概述无源器件会产生非线性互调失真吗?答案是肯定的!尽管还没有系统的理论分析，但是在工程中已经发现在一定条件下无源器件存在互调失真，并且会对通信系统（尤其是蜂窝系统）产生严重干扰。无源互调（PassiveInter-Modulation，PIM）是由发射系统中各种无源器件的非线性特性引起的。在大功率、多信道系统中，这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的更高次谐波，这些谐波与工作频率混合会产生一组新的频率，其最终结果就是在空中产生一组无用的频谱从而影响正常的通信。所有的无源器件都会产生互调失真。无源互调产生的原因很多，如机械接触的不可靠、虚焊和表面氧化等。 5年前，大部分射频工程师很少提及无源器件互调问题。但是，随着移动通信系统新频率的不断规划、更大功率发射机的应用和接收机灵敏度的不断提高，无源互调产生的系统干扰日益严重，因此越来越被运营商、系统制造商和器件制造商所关注。长期以来，无源器件的互调失真测量技术一直被国外公司所掌握，并垄断了测量产品市场。今天这种局面发生了变化，无源互调测量技术难关已经被中国本土的射频工程师们攻克，而且低成本的商用无源互调测量系统也已诞生。 2、无源互调的表达方式无源互调有绝对值和相对值两种表达方式。绝对值表达方式是指以dBm为单位的无源互调的绝对值大小；相对值表达方式是指无源互调值与其中一个载频的比值（这是因为无源器件的互调失真与载频功率的大小有关），用dBc来表示。典型的无源互调指标是在两个43dBm的载频功率同时作用到被测器件DUT时，DUT产生-110dBm（绝对值）的无源互调失真，其相对值为-153dBc。 3、无源互调测量方法由于无源互调值非常小，因此无源互调的测量非常困难。到目前为止，无源互调的测量项目和测量方法尚无相应的国际标准，通常都是采用IE C推荐的测量方法。IEC推荐

【CN109889282A】一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具及方法【专利】

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910188996.6 (22)申请日 2019.03.13 (71)申请人西安交通大学地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号 (72)发明人贺永宁　张可越　赵小龙　 (74)专利代理机构西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人徐文权 (51)Int.Cl. H04B 17/29(2015.01) H04L 12/26(2006.01) (54)发明名称一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具及方法 (57)摘要本发明公开了一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具及方法，该夹具包括同轴法兰、同轴介质、镀银金属插针、介质支架以及具有中空腔体且两端及顶部开口的金属屏蔽壳；其中，介质支架上开设有两层中空结构，上层为用来固定待测件的矩形中空结构，下层为用来固定镀银金属插针的矩形凹槽；测试时，待测件固定在矩形中空结构内，两个镀银金属插针的一端对称设置在矩形凹槽内，且两个镀银金属插针之间留有缝隙，每个镀银金属插针的另一端均由内至外依次套装有同轴介质和同轴法兰，并通过同轴法兰与介质支架紧固在一起。本发明在标准PIM 测试方法的基础上，提出了一种新的无源互调快速标定方法，并结合电磁仿真结果验证了该方法的可行性与通用性。权利要求书1页说明书4页附图3页CN 109889282 A 2019.06.14 C N 109889282 A

权　利　要　求　书1/1页CN 109889282 A 1.一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，包括同轴法兰(1)、同轴介质(2)、镀银金属插针(3)、介质支架(4)以及具有中空腔体且两端及顶部开口的金属屏蔽壳(5)；其中，介质支架(4)上开设有两层中空结构，上层为用来固定待测件(7)的矩形中空结构，下层为用来固定镀银金属插针(3)的矩形凹槽，测试时，待测件(7)固定在矩形中空结构内，两个镀银金属插针(3)的一端对称设置在矩形凹槽内，且两个镀银金属插针(3)之间留有缝隙，每个镀银金属插针(3)的另一端均由内至外依次套装有同轴介质(2)和同轴法兰(1)，并通过同轴法兰(1)与介质支架(4)紧固在一起。 2.根据权利要求1所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，金属屏蔽壳(5)的纵向截面呈U型状，使得介质支架(4)能够镶嵌在金属屏蔽壳(5)的中空腔体内。 3.根据权利要求1所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，测试时，待测件(7)通过尼龙螺钉(6)固定在介质支架(4)的矩形中空结构内。 4.根据权利要求1所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，同轴法兰(1)与介质支架(4)通过金属螺钉紧固在一起。 5.根据权利要求1所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，测试时，该夹具两端的镀银金属插针(3)通过DIN头与测试系统连接。 6.一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测方法，其特征在于，该方法基于权利要求1至5中任一项所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，包括以下步骤： Step 1，通过尼龙螺钉(6)将待测件(7)固定在夹具上方的介质支架(4)上； Step 2，用矢量网络分析仪测试包含待测件(7)的夹具S参数，如果满足测试条件则进行下一步； Step 3，将包含待测件(7)的夹具接入PIM测试回路中； Step 4，读出PIM指标。 2

PCB常用分析仪器介绍

常用分析仪器知识一、绪论 1.与我们制程产品相关，所使用的相对复杂一些的仪器包括以下： 1）原子吸收分光光度仪（AAS） 2）紫外-可见分光光度仪（UV-VIS） 3）循环伏安分析仪（CVS） 4）X射线能量色散光谱仪（EDX） 5）扫描电子显微镜（SEM） 6）X射线测厚仪（XRF测厚） 2.常用仪器综述 1）按仪器的通常分类，AAS、XRF测厚、EDX（其实也是属于XRF的一种）和UV都是属于光谱仪；CVS属于电化学仪器；SEM属于电镜仪器。 2）SEM通常可与XRF测厚和EDX联合使用，有些EDX机器也同时兼具XRF测厚功能，从相关常见的分析报告可同时看到样品的SEM图和分析测量的结果图表。 3）AAS、UV、XRF测厚、EDX和CVS都是使用分析比较技术，要求进入仪器测试的标准样品和未知样品具有相似性和重现性，简而言之，样品测试前需要作校正和样品处理。二、AAS 1.AAS定量分析原理和仪器结构组成 1）分析原理：原子吸收的过程是当基态原子吸收某些特定波长的能量由基态到激发态。根据Lambert-Beer 定律，吸收值与浓度成正比关系，从标准溶液作出校正曲线后，再读出未知溶液的浓度。原子吸收分光光度仪即是利用原子化器将样品原子蒸气化后，吸收某一特定波长光，此光来自空心阴极灯管，再经过光学系统分光经由单光器过滤仅有要测的波长光进入侦测器。 2）仪器组成：A.放射光源(空心阴极管或EDL灯管)；B.样品导入装置-简易雾化器；C.火焰式原子化器；D.分光仪(Echell 分光系统)；E.侦测器(固态半导体) 2.优缺点 1）优点：A.可做多种金属元素的定量分析（约70多个）.

各种检测仪器的简单介绍

[转] 各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法！！（补图中......) 2013-11-28 19:05阅读(2)转载自古道尘 ?赞(2478) ?评论(1) ?已成功转载 ?分享(9714) ?复制地址 ?收藏夹按钮收藏收藏 ?更多已经是第一篇| 下一篇：院士大牛们一年N... 化学专业学生必备：各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法！！紫外吸收光谱 UV 分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中电子能级的跃迁谱图的表示方法：相对吸收光能量随吸收光波长的变化提供的信息：吸收峰的位置、强度和形状，提供分子中不同电子结构的信息荧光光谱法 FS 分析原理：被电磁辐射激发后，从最低单线激发态回到单线基态，发射荧光谱图的表示方法：发射的荧光能量随光波长的变化提供的信息：荧光效率和寿命，提供分子中不同电子结构的信息

红外吸收光谱法 IR 分析原理：吸收红外光能量，引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁谱图的表示方法：相对透射光能量随透射光频率变化提供的信息：峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率拉曼光谱法 Ram 分析原理：吸收光能后，引起具有极化率变化的分子振动，产生拉曼散射谱图的表示方法：散射光能量随拉曼位移的变化提供的信息：峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率核磁共振波谱法 NMR 分析原理：在外磁场中，具有核磁矩的原子核，吸收射频能量，产生核自旋能级的跃迁谱图的表示方法：吸收光能量随化学位移的变化

提供的信息：峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数，提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息电子顺磁共振波谱法 ESR 分析原理：在外磁场中，分子中未成对电子吸收射频能量，产生电子自旋能级跃迁谱图的表示方法：吸收光能量或微分能量随磁场强度变化提供的信息：谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数，提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息质谱分析法 MS 分析原理：分子在真空中被电子轰击，形成离子，通过电磁场按不同m/e分离谱图的表示方法：以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化提供的信息：分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度，提供分子量，元素组成及结构的信息气相色谱法 GC 分析原理：样品中各组分在流动相和固定相之间，由于分配系数不同而分离谱图的表示方法：柱后流出物浓度随保留值的变化提供的信息：峰的保留值与组分热力学参数有关，是定性依据；峰面积与组分含量有关反气相色谱法 IGC 分析原理：探针分子保留值的变化取决于它和作为固定相的聚合物样品之间的相互作用力谱图的表示方法：探针分子比保留体积的对数值随柱温倒数的变化曲线提供的信息：探针分子保留值与温度的关系提供聚合物的热力学参数裂解气相色谱法 PGC 分析原理：高分子材料在一定条件下瞬间裂解，可获得具有一定特征的碎片谱图的表示方法：柱后流出物浓度随保留值的变化提供的信息：谱图的指纹性或特征碎片峰，表征聚合物的化学结构和几何构型凝胶色谱法 GPC 分析原理：样品通过凝胶柱时，按分子的流体力学体积不同进行分离，大分子先流出谱图的表示方法：柱后流出物浓度随保留值的变化提供的信息：高聚物的平均分子量及其分布热重法 TG 分析原理：在控温环境中，样品重量随温度或时间变化谱图的表示方法：样品的重量分数随温度或时间的变化曲线提供的信息：曲线陡降处为样品失重区，平台区为样品的热稳定区热差分析 DTA 分析原理：样品与参比物处于同一控温环境中，由于二者导热系数不同产生温差，记录温度随环境温度或时间的变化谱图的表示方法：温差随环境温度或时间的变化曲线提供的信息：提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息

无源互调(PIM)影响因素及常见问题(一)

无源互调（PIM）影响因素及常见问题（一）随着通信技术的快速发展，特别是5G天线，通信频率的增高，以及语音和数据信号容量的增加，之前对信号产生影响较小的因素也被越来越重视起来，无源互调就是其中之一。 1什么是无源互调（PIM）无源互调（Passive Inter-Modulatio）又称无源交调、互调失真等，是由射频系统中各种无源器件产生的，只要一个射频导体中存在两个或两个以上的RF信号，就会产生互调，产生一个或多个新的频率，这些新产生的频率与工作频率混合在一起就会影响到通信系统。无源互调值非常小，一个典型的无源互调指标是在二个+43dBm的载频功率同时作用到被测器件（DUT）时，DUT产生-110dBm（绝对值）的无源互调失真，其相对值为-153dBc,相当于一根头发丝的直径对比地球到太阳之间的距离。因此测试非常因难，大多采用IEC 推荐的正向和反射互调产物的测量方法。 2无源互调的来源 PIM可以发生在任何两种不同金属的连接点或接口处，例如连接器和电缆组件的连接处，天线和天线馈源的连接处。接触不良的连接器，内部生锈或氧化的连接器也可能会导致PIM。PCB材料也可能是PIM的来源，它可能来自于材料本身，也可能来自馈电点。 3无源互调分类（1）正向互调正向互调也被称为传输互调，其定义是当两个载频同时输入到一个双端口(或多端口）器件时，在输出端所产生的互调。在测试过程中，任何空闲端口必须接低互调负载。从频段细分，正向互调又可分为落入发射频段和落入接收频段两种,它们的区别取决于f1和f2的之间的差值△，2f1—f2和f1之间的间隔、2f2—f1和f2之间的间隔都等于△，从这个规律可以直观判断互调产物的位置。同样是正向互调，落入发射频段和接收频段互调的测试方法却大相径庭。

最全的各类分析仪器介绍

电子称电子称是用来对货物进行称重的自动化称重设备，通过传感器的力电转换，经称重仪表处理来完成对货物的计量，适用于各种散货的计量。电子秤电子秤是用来对货物进行称重的自动化称重设备，通过传感器的力电转换，经称重仪表处理来完成对货物的计量，适用于各种散货的计量。测厚仪测厚仪用来测量不同单一材料或者覆盖层的厚度，分无损和有损两种，其中大部分是无损的。硬度计硬度计是测量各种材料硬度的仪器，分为洛氏、维氏、布氏、邵氏、里氏、消氏等不同类别。电子天平是实验室分析或质量控制所必须的仪器，具有称量大，精度高，在较差使用环境下亦可达到精密称量的要求。测温仪是温度计的一种，用红外线的原理来感应物体表面温度，操作比较方便，特别是高温物体的测量。应用广泛，如钢铸造、炉温、机器零件、玻璃及室温、体温等各种物体表面温度的测量。干燥箱干燥箱是一种常用的仪器设备,主要用来干燥样品,也可以提供实验所需的温度环境.干燥箱应用与化工,电子,铸造,汽车,食品,机械等各个行业. 分光光度计常用分析仪器之一，常用于样品的定性与定量的分析，或透射、反射等光谱分析。广泛应用于医药，食品，石油，建材等各个领域电导率仪电导率仪是适用于精密测量各种液体介质的仪器设备,主要用来精密测量液体介质的电导率值,当配以相应常数的电极可以精确测量高纯水电导率，广泛应用各领域的科研和生产. 粘度计一种用于测量液体的粘性阻力与液体的动力粘度的仪器，广泛应用于油脂、油漆。电流表电流表是测定电流强弱和方向的电学仪器。分直流电流表和交流电流表。供实验室和工业现场测试用。温湿度计用来测定环境的温度及湿度，以确定产品生产或仓储的环境条件。也应用于人们日常生活。应用较为广泛。水分测定仪快速测定物质含水量，可提供实时温度、样品质量、脱水率、样品含水百分比等数。酸度计酸度计是一种常用的仪器设备,主要用来精密测量液体介质的酸碱度值,配上相应

Rosenberger便携式无源互调分析仪操作手册

便携式无源互调分析仪操作手册
罗森伯格亚太电子有限公司

Rosenberger Asia Pacific Electronic Co., Ltd.
目录
安全指南与注意事项..................................................... 2 第一章产品说明 ...............................................................................................................3
Rosenberger 便携式无源互调分析仪整体视图 ............................. 3 前面板视图........................................................... 4 前面板功能键......................................................... 5 后面板视图........................................................... 8 后面板接口........................................................... 9 测试附件............................................................ 11
定互调转接器 ................................................................ 11 低互调负载模块 .............................................................. 11
第二章
操作指南 .............................................................................................................12
屏幕................................................................ 12 硬件手动操作........................................................ 14
系统设置 .................................................................... 14 工作模式设置 ................................................................ 17 开始测试 .................................................................... 19
软件远程控制........................................................ 22
运行 PIA .................................................................... 系统设置 .................................................................... 开始测量 .................................................................... 存储结果及生成报告 .......................................................... 退出软件 .................................................................... 其他功能说明 ................................................................ 22 22 27 33 39 40
第三章
应用指南.............................................................................................................45
测量范围............................................................ 45 不确定度............................................................ 45 测试与保养.......................................................... 48
选择合适的测试电缆组件 ...................................................... 48 保护测试端口 ................................................................ 48
测试实例............................................................ 51
测试电缆组件 ................................................................ 51 测试天线 .................................................................... 51 测试双工器 .................................................................. 53
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无源互调(PIM)影响因素及常见问题(二)

无源互调（PIM）影响因素及常见问题（二） 6.2.2 PCB对PIM影响因素总结（1）PIM值受电流密度的影响与设计的电路有关，电流密度越小，其PIM性能越好。（2）铜箔表面越粗糙，其PIM性能越差，反之铜箔表面越光滑，PIM性能越好。（3）线路使用阻焊油和化学锡进行表面处理可以优化PIM，约小4-6dBc。不过化学锡的厚度对于PIM值几乎没有影响，化学镍金的PIM性能较差。（4）材料结构，尽量避免出现阻抗不连续性，尽可能保持一致的阻抗特性，选用低PIM 的材料（如PTFE或PIM材料）。（5）介质层厚度对PIM影响还需进一步验证。（6）铜厚越小，互调性能越好，这是因为越厚的铜厚，蚀刻效果越差，蚀刻毛边对互调性能产生影响。（7）线路蚀刻的毛边/蚀刻因子，蚀刻因子控制≧3.0,毛边越小，PIM性能越好。阻焊前处理建议采用微蚀工艺。（8）表面油墨厚度,油墨越厚，PIM性能越好。（6）镀层表面氧化，导电性不好，镀层厚度不够。（7）含有磁性材料，如铁、钴、镍等。（8）介电常数温度系数（TCDk，用于衡量Dk随温度变化）,越低越好。（9）线长从254mm-76.2mm为材料损耗性能最常见的规格,线长254mm,127mm,76.2mm。线长越长，互调值越差。（10）线宽从2.0mm开始减半直径到0.25mm,可考察驻波差异对互调的影响。线宽缩窄，阻抗增加，反射能量也随之增加，反射能量与入射能量叠加导致能量汇集，最终导致被测线路的温度上升。互调值与温度呈反比，线宽缩窄导致温度升高，从而互调变差。（11）PCB级要在RF板的微带线两边引入接地，最好不要单纯的只是一根线而不去选择顶层地，测试结果表现顶层地会改善一些PIM。（12）板内微带线如需要电容，尽量用Q值小的，其选频效果要稍好一些。

常用仪器分析介绍

近代分析仪器及其发展（一）（北京普析通用仪器有限责任公司分析中心北京 100081）Recent Analysis Instruments and Development Beijing Purking General InstrumentCo.，Lt Analytical Centre 近代分析仪器的发展促进了分析化学向纵深发展，并在国民经济各个领域获得了广泛的应用，从航天材料、食品安全、环境污染、医疗卫生、地质勘探、工业生产、农业生产、检验检疫诸多方面都离不开分析仪器。现代分析化学的发展趋势是高灵敏度、高选择性（复杂体系）、智能化、快速、自动、简便、经济。对分析仪器而言，一方面要降低仪器的信噪比，另一方面是各类分析仪器的联用，特别是分离仪器和检测器的连用，如色谱仪 (气相色谱、液相色谱或超临界流体色谱仪、多维色谱仪等)和各种分析仪器（质谱、核磁共振波谱、傅立叶红外光谱、原子吸收光谱和原子发射光谱）的联用，利用前者的优异的分离功能，将组分分离后由后者加以识别，进行定性和定量分析。此外，近红外光谱化学计量学软件设计及其在各行业的应用软件 (包括建模、校准、评价、数据优化等软件和软件包)的开发和完善也将成为国内外分析仪器发展的另一个热点。 1 原子光谱分析法 1.1 原子发射光谱分析法（AES） 21世纪新兴的原子光谱分析光源是等离子体光源(plasma source)，分为直流等离子体 (DCP)、高频电感耦合等离子体(ICP)和微波等离子体 (MP)。直流等离子体是最早用于原子光谱分析的一种等离子体光源，功率较ICP低，雾化器不易堵塞，总氩气的用量只及 ICP耗气量的一半，无高频辐射，检出限与ICP相近或稍差，精密度不如ICP好，线性范围比ICP窄，基体效应比 ICP严重，电极易污染。ICP具有优良的分析特性，被测元素能有效的进行原子化和消除化学干扰，工作曲线有较宽的线性范围，达 4～6个数量级，信噪比高，可快速进行多元素的同时测定。微波等离子体包括电容耦合微波等离子体(CMP)和诱导微波等离子体 (MIP)，常用微波频率为 2450 MHz，主要优点是激发能力强，以He气为工作气体时，可以测定包括卤素在内的几乎所有元素，有很好的检出限。AES法广泛应用于钢铁、合金、有色金属、地质、石化等领域的分析。 1.2 原子吸收光谱法（AAS）按照所用的原子化方法的不同，可分为火焰原子吸收法(FAAS)、石墨炉原子吸收法 (GFAAS)和石英炉原子化法，可以在较低的温度下原子化，包括汞蒸气原子化、氢化物原子化和挥发物原子化。背景校正器有氘灯背景校正器、塞曼效应背景校正器、自吸背景校正器。原子吸收法的优点是检出限低，FAAS为 10-6～10-9 g/mL，GFAAS为10-10～10-14g/mL。目前， 1.3 原子荧光光谱法（AFS）原子荧光光谱在元素及其形态分析方面有着广泛的应用，特别是与氢化物发生进样技术的结合，在测定地质样品、钢铁合金、环境样品、食品、生物样品等中的 Ge、Sn、Pb、As、Sb、Bi、Se、Te、Hg和 Cd等元素都有很好的效果。原子荧光光谱法的特点是谱线简单、光谱干扰少、检出限低，测定空气中的汞，检出限达到每立方米2.2×10-9个原子，可进行多元素同时测定，校正曲线的线性范围宽，达到4～7数量级，适用元素的范围不如AES和 AAS广泛。AFS法与AAS、AES分析技术互相补充，在冶金、地质、环境监测、生物、医学分析等领域得到了日益广泛的应用。 2 分子光谱分析法 2.1 紫外一可见分光光度法（UV-VIS）紫外可见分光光度法是历史最悠久、应用面最为广泛的一种仪器分析方法，现在又发展了多种分光光度测量技术，如双波长（三波长）分光光度法，可以有效地消除复杂试样的背景吸收、散射、浑浊对测定的影响，很适合于生物样品和环境样品的分析。胶束增溶分光光度法可以提高测定选择性和灵敏度，摩尔吸收系数一般可达 106 L/(mol·cm )。导数分光光度法提高了对重叠、平坦谱带的分辨率与测定灵敏度，示差分光光度法提高了测定很稀或很浓溶液吸光度的精度。正交函数吸光光度法在吸收曲线的某一区域选择适当的正交多项式，使干扰组分的正交多项式系数最小，以致可以忽略不计，用待测组分的正交多项式的系数进行定量分析。随着化学计量学方法的兴起，出现了多种计算机辅助分光光度法，如因子分析、偏最小二乘法、多元线性回归分光光度法等，可以在谱带严重重叠的情况下，不经分离可以直接实现多组分的同时测定。此外，还有流动注射吸光光度法、动力学吸光光度法、浮选吸光光度法、固相吸光光度法、计量学吸光光度法等。 2.2 红外光谱吸收法（IR）红外光谱能提供有机化合物丰富的结构信息，特别是中红外光谱是鉴定有机化合物结构最主要的手段之一。近年来，近红外光谱技术与各种化学计量学算法相结合，取得了显著的研究成果。目前，傅立叶变换红外光谱仪 (FTIR)，逐渐取代了色散型红外光谱仪，它主要由红外光源、光学系统、检测器以及数据处理与数据控制系统组成。现在数据库已储存有大量的有机化合物的标准红外图谱，检索也十分方便。对于化工生产控制和未知物剖析有很大帮助。综述

紫光互调仪测试方法

1、红星路测试测试设备自带负载：负载1（编号：01121501211022806） IM ORDER 3: -125.5dBm IM ORDER 5: -137dBm 负载2（编号：01121501211022809） IM ORDER 3: -126.1dBm IM ORDER 5: -133dBm 测试设备自带线： IM ORDER 3: -120.5dBm IM ORDER 5: -133.2dBm ①1小区测试： ●将1端口天馈线接入互调仪后，可通过互调仪窄带（890-910MHz）频谱功能得到该小区上行平均干扰电平，频谱图如下：图1-1：红星路1小区1端口测试频谱图 ●1端口天馈系统反射互调PIM测试图：

图1-2：红星路1小区1端口IM ORDER 3 将2端口天馈线接入互调仪后，可通过互调仪窄带（890-910MHz）频谱功能

得到该小区上行平均干扰电平，频谱图如下：图1-4：红星路1小区2端口测试频谱图 2端口天馈系统反射互调PIM测试图：

图1-5：红星路1小区2端口 IM ORDER 3 图1-6：红星路1小区2端口IM ORDER 5 ②2小区测试：将1端口天馈线接入互调仪后，可通过互调仪窄带（890-910MHz）频谱功能得到该小区上行平均干扰电平，频谱图如下：

图1-7：红星路2小区1端口测试频谱图 1端口天馈系统反射互调PIM测试图：图1-8：红星路2小区1端口IM ORDER 3

图1-9：红星路2小区1端口IM ORDER 5 2端口天馈系统反射互调PIM测试图：图1-10：红星路2小区2端口IM ORDER 3 图1-11：红星路2小区2端口IM ORDER 5

无源互调的影响

无源互调研究随着大功率多通道通信系统的不断涌现，一种潜在的干扰源——无源互调(Passive Intermodulafion，PIM)越来越受到人们的关注。无源互调产物通常在多频通信环境中产生，如船载通信系统、军用通信工作站、共用天线安装场所、蜂窝式移动通信基站和卫星通信系统。在现代通信系统中，要求大功率发射系统和高灵敏度接收系统同时存在于同一有限空间内，这种情况下无源互调产物已成为接收系统中不可忽视的寄生干扰。为确保通信系统正常工作，有关无源互调干扰问题的研究应越来越受到重视。 1无源互调的概念三阶交调的概念是指两个不同频率信号，在某一系统内叠加而产生的新频率的信号。当这种信号落在接收频带内，将影响电信设备的正常接收。当该系统为无源系统时，称为无源非线性交调。无源互调与有源互调相类似，只是无源互调是无源器件产生的。只要在一个射频导体中同时存在两个或两个以上RF 信号，就会产生互调。当器件中存在一个以上的频率时，任何无源器件都会产生无源互调产物。由于不同材料的连接处的具有非线性，信号会在结点混合。典型地，其奇数阶互调产物（如IM3=2*F1-F2）会落在基站的上行或接收频段内，成为干扰接收机工作的信号。它会造成独立于接收机随机底噪的接收机减敏现象。 IM3、IM5一般用来说明我们所讨论的互调产物的阶数。IM 表示“互调（inter-modulation）”。紧跟着的数字是产生互调产物的两个母信号的整数倍频之和。通过下表，可以很好的理解这个概念：

一般来说，阶数越小能量越大。尽管如此，在选频系统中，接收机中的五阶互调产物大于三阶互调产物也是有可能的。 2、互调的产生无源互调主要由无源非线性产生，而无源非线性通常有两种类型：一类是金属接触引起的非线性，另一类是材料本身的固有非线性。例如,同轴电缆和连接器通常被认为是线性的，但是在大功率情况下，其非线性效应显示出来。在电缆编织物的接触、连接器的丝扣和其它金属接头中，轻微的非线性的确存在。这些金属接触的每个表面都有金属氧化形成的薄绝缘层，正是这种接触非线性产生低电平无源互调干扰，这些干扰可使接收机的性能严重降低。金属接触非线性产生的原因主要是连接处的松动和腐蚀，其伏安特性是一条曲线，具体的主要机理如下： 1) 穿过金属接触处薄氧化层(厚度小于50Ａｏ)的电子隧道效应和半导体行为; 2) 通过金属结构中的砂眼和微狭缝的二次电子倍增效应; 3) 与金属表面污垢、金属粒子和碳化有关的非线性; 4) 与金属接触处的大电流有关的非线性; 5) 低劣的安装工艺引起的非线性; 6) 由强电流引起的金属接触面相对运动的热循环。线性和非线性没有严格的界限，金属接触通常被认为是线性的，但在大功率情况下表现出非线性效应。 3、无源互调的消除非线性效应不能完全消除，只能尽量设法减小，主要的减小措施有： 1) 使金属接触的数量最小。例如,使用扼流连接或其它电介质连接，提供足够的电流通道，保持所有的机械连接清洁、紧固。 2) 在电流通道上尽可能避免使用调谐螺丝或金属、金属接触的活动部件。如果非用不可,应将它们放在低电流密度区域。 3) 提高材料的连接工艺。确保连接可靠,尽量做到无缝隙、无污染或无腐蚀。 4) 导电通道上的电流密度应保持低值。例如,接触面积要大,导体块要大。 5) 保持最小的热循环,减小金属材料的膨胀和压缩产生的非线性接触。由于无源互调问题的复杂性,很难建立大功率电路模型,因而无法使用非线性电路的某些分析方法,但是对金属接触非线性来说,可用如图4所示的简单系统表示,其中Ｘ和Ｙ分别表示输入和输出信号(电流或电压),通过单个传递函数模拟整个金属接触非线性的产生过程,采用输入输出法分析,具体的求解方法主要有幂级数法和伏特拉级数法。由于幂级数法具有使用简单、计算速度快、容易实现等优点,所以本文采用这种方法。 6) 尽量使用不含铁磁物质的材料，避免铁磁物质造成高频信号失真； 7)内外导体的涂覆选用镀金、镀银或三元合金，杜绝镀镍、铬等铁磁物质； 8)在设计连接器的内、外导体时，尽量避免使用压配连接和螺纹连接。许多在低频电子线路观点上认为“良好”的接触，在射频电磁场理论中则被等效成复杂的非线性网络； 9)导电通道上的电流密度应保持低值。例如，接触面积要大，导体块要大：内导