常用市场分析方法概述

常用市场分析方法概述
常用市场分析方法概述

市场分析方法概述

1. 分析方法概述

市场分析方法或者说分析工具,信息分析方法有以下12种:

1.数据分析基于公司已有的关于销售员,区域,客户,产品,时间的销售数据的分析。涉及产品,行业,区域三个维度,和饼图(现在的格局),趋势图(时间的变化),立方图(数量及增长)三种图形方式。通常进行整体和重点二级分析。

2. SWOT分析环境的优势,劣势,机会,威胁分析,是一种涉及四个维度的分析思路。

3. 波士顿矩阵分析产品组合的一种分析方法,有助于分析产品线的构成。

4. 4P分析经典的产品、价格、销售模式(渠道)、市场推广(促销)的四个方面的分析方法。

5. 4C分析站在客户角度的,客户,成本,便利,沟通的分析。

6. 产品生命周期分析判断产品所处的诞生、成长、成熟、衰退的不同阶段。

7. 目标市场STP,市场细分,目标市场,产品定位

8. 五力模型现有竞争者,潜在进入者,替代品,顾客,供应商

9. 战略群体分析这是对主要同行的一种分析。

10. 宏观环境分析经济,法律,政治,人文,科技

11. 微观环境分析行业,竞争者,下游客户,上游供应商,替代品,潜在进入者,

12. 专项分析涉及到具体的内容,如产品货期》供应链分析;产品价格》成本分析;产品质量》结构分析

2. 常用分析方法

五力模型,战略群体分析,宏观环境分析,微观环境分析是对环境的认识,这些分析方法偏理论性,是对企业所处环境的深入认识,是分析工作的底层信息基础,但是很难落实到真正的企业实践中。产品生命周期分析,从长远来看是有必要的,特别是在产品更新十分快的软件和电子行业。工业品领域在一定时间内(3-5年)产品的变化不大。专项分析的目的旨在专项问题,专项解决,并不是常规的分析方法。因而常用的有六种4P,4C,STP,数据分析,波士顿矩阵,SWOT。

4P分析包括产品(PRODUCT),价格(PRICE),渠道(PLACE),促销(PROMOTION),这是站在公司角度的分析。该分析起源于消费品行业,在自动化行业可以引申为产品组合,价值体系,销售模式,市场推广。

4C分析包括客户(CUSTOMER),成本(COST),便利(CONVENIENCE),沟通(COMMUNICATION)四个部分。这是站在客户角度上对市场的分析。

STP分析包括市场细分(Segmentation)、目标市场(Targeting) 、定位(Positioning),这是针对客户的市场定位。数据分析是源自于公司销售数据的分析,是最理性的市场信息。包括三种图:饼图(格局),折线图(趋势),立方图(同期);三级细分:整体,重点,特殊;三方面:产品,行业,地区。

波士顿矩阵包括销售增长率和市场占有率两个维度,形成了“问号(?)”、“明星(★)”、“现金牛(¥)”、“瘦狗(×)”四个象限。这是对公司的业务板块或者产品线组合的分析。

SWOT(态势分析法)包括strengths(优势)、weaknesses(劣势)、opportunities(机遇)、threats(威胁)四个维度,是对市场环境的整体把控。

产品生命周期分析,简称PLC产品从进入市场开始,直到最终退出市场为止所经历的市场生命循环过程。产品只有经过研究开发、试销,然后进入市场,它的市场生命周期才算开始。产品退出市场,则标志着生命周期的结束。分为:投入期、成长期、成熟期和衰退期四个阶段。

2.1 4P分析:站在企业的角度,从产品,价格,渠道,促销四个方面进行分析。

2.1.1 产品

产品是指能够提供给市场被人们使用和消费并满足人们某种需要的任何东西,包括有形产品、无形产品。产品包括产品线,产品分类,同行产品,产品的效用、质量、外观、式样、品牌、包装和规格, 还包括服务、人员、组织、观念或它们的组合等因素产品线包括产品的深度和广度。

产品分类包括常规产品、特殊产品、高端产品。

同行产品包括同行的相关的产品内容。

产品本身包括核心产品、形式产品、延伸产品。

核心产品是指整体产品提供给购买者的直接利益和效用。

形式产品是指产品在市场上出现的物质实体外形,包括产品的品质、特征、造型、商标和包装等。

延伸产品是指整体产品提供给顾客的一系列附加利益,包括运送(货期)、安装、维修、保证、技术支持、培训等在消费领域给予消费者的好处。

2.1.2 价格

价格是指顾客购买产品时的价格,包括折扣、支付期限等。价格或价格决策,关系到企业的利润、成本补偿、以及是否有利于产品销售、促销等问题。

价格包括产品定位,产品价格,价格格局,价格体系,价格管控,定价方法,定价策略。

产品定位是产品定价的基础,有高端、中端和低端之分。

产品价格包括基本价格、折扣价格、付款时间、借贷条件。

价格格局与产品定位相关,形成一级市场,二级市场,三级市场,有相应的价格区间。

价格体系是企业所有产品的价格组成,包括常规产品,特殊产品,高端产品的价格,通过价格将不同类型的产品区分出来。

价格管控是具体价格的管理机制,包括价格信息的分管,价格权限,合同价格审核,特价审批。

定价方法包括:1、成本导向定价法(成本加成定价法,目标定价法);2.竞争导向定价法(通行价格定价、密封投标定价、竞争价格定价等方法);3、需求导向定价法。

定价策略包括:1、新产品定价策略;2、商品阶段定价策略不同的时期定制不同的价格(新品导入期、成长期、成熟期、衰退期);3、折扣价格策略(现金折扣、数量折扣、功能折扣、季节折扣、价格折让)4、心理定价策略(常见的有声望定价、尾数定价);5、相关商品价格策略(根据市场相类似的定价);6、地理定价策略(原产地定价、统一交货定价、分区定价、运费免收定价)

2.1.3渠道

所谓销售渠道是指在商品从生产企业流转到消费者手上的全过程中所经历的各个环节和推动力量之和。渠道的起点是生产者,终点是消费者,是产品送达目标市场的方式,主要包括分销渠道、储存设施、运输设施、存货控制。分销渠道又称营销渠道可以根据主导成员的不同,分成——以制造商为主导、以零售商为主导、以服务提供者为主导的营销渠道。按照渠道的长度可以分为一级渠道,二级渠道,三级渠道。储存设施、运输设施、存货控制是与产品的仓储物流相关的内容。在工业品领域,渠道延伸为销售模式,主要包括直销、代理、和直销+代理这三种方式。评价渠道涉及渠道的长度、宽度和广度。

2.1.4促销

促销是公司或机构用以向目标市场通报自己的产品、服务、形象和理念,说服和提醒他们对公司产品和机构本身信任、支持和注意的任何沟通形式。广告、宣传推广、人员推销、销售促进是一个机构促销组合的四大要素。促销是营销者向消费者传递有关本企业及产品的各种信息,包括促销手段,促销管理,效果评估。

促销手段包括:1.代金券,或折扣券;2.附加交易;3.特价或折扣;4. “回扣”式促销;5、抽奖促销;6、派发“小样”;7、现场演示;8、有奖竞赛;9、礼品;10、购物消费卡;11、批量折让;

促销管理包括:人员管理,经销商管理,窜货控制,促销预算,经费控制。

效果评估包括:1、活动所设定目标的达成;2、活动对销售的影响;3、活动的利润评估;4、品牌价值的建立;

5、结果分析:统计、分析、诊断;

6、信息反馈

在工业品领域,促销可以延伸为市场推广,包括推广方案,推广渠道,销售工具,方案落实几个方面。推广方案,涉及到产品、区域、时间规划三个方面的安排,包括产品信息(产品特点,产品规格,典型应用,客户利益),竞争信息(产品对外定位,产品对内定位,产品对比,同行应用概况,产品比较优势),销售策略(价格体系,产品货期,产品策略)三个方面的内容。

推广渠道,主要有1.媒体2.展会3.样本4.电话 5.拜访6.技术交流7.礼品8.报刊9.服务(货期,解决方案,故

障排查)10.手机报11.网络(微薄,博客)。

销售工具包括1. 产品选型样本;2.产品宣传彩页(特点,价值,应用);3.公司宣讲PPT(历史,产品,实力);

4.产品宣讲PPT(系列,优势,价值,比较);

5.产品认证资料;方案落实包括时间进度表,进程跟踪,效果反馈,问题汇总,方案改善。这是一个不断进行的闭环改良系统。

化学分析试题及答案

化学分析试题及答案 一、判断题。10分 1、(× )在化学定量分析中,常采用的分析方法是微量分析。 2、(√ )金属指示剂与金属离子生成的配合物的稳定性应比金属EDTA配合物的稳定性要差一些。 3、(√ )指示剂的变色范围越窄越好。 4、(× )酸碱滴定中溶液愈浓,突跃范围愈大,可供选择的指示剂愈多。 5、(√ )当金属离子与指示剂形成的显色配合物的稳定性大于金属离子与EDTA 形成的配合物的稳定性时,易产生封闭现象。 6、(× )高锰酸钾法通常在强酸性溶液如HNO 溶液中进行。 3 7、(√ )使用酸式滴定管时,应大拇指在前,食指和中指在后。 8、(√ )随机误差具有重复性,单向性。 9、(× )滴定分析中,指示剂颜色突变时停止滴定,这一点称为化学计量点。 10、(× )有两组分析数据,要比较它们的测量精密度有无显着性差异,应当用Q验。 二、选择题。20分

1、分析化学依据分析的目的、任务可分为:…………………………………………( A ) A:定性分析、定量分析、结构分析 B:常量分析、半微量分析、微量分析C:无机分析、有机分析 D:化学分析、仪器分析 2、下列误差属于系统误差的是:……………………………………………………( B ) A:天平零点突然变化 B:读取滴定管的度数量偏高 C:环境温度发生变化 D:环境湿度发生变化 3、用于反应速度慢或反应物是固体,加入滴定剂后不能立即定量完成或没有适当的指示剂的滴定反应,常采用的滴定方法是:………………………………………………( B ) A:直接滴定法 B:返滴定法 C:置换滴定法 D:间接滴定法 4、以下试剂不能作为基准物质的是:…………………………………………… ( D ) A:优级纯的Na 2B 4 O 7 ·10H 2 O B:99.99%的纯锌 C:105-110。C烘干2h的Na 2C 2 O 4 D:烘干的Na 2 C0 3

材料现代分析方法试题及答案1

一、单项选择题(每题 2 分,共10 分) 3.表面形貌分析的手段包括【 d 】 (a)X 射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)(b) SEM 和透射电镜(TEM) (c) 波谱仪(WDS)和X 射线光电子谱仪(XPS)(d) 扫描隧道显微镜(STM)和 SEM 4.透射电镜的两种主要功能:【b 】 (a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构 (c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键 二、判断题(正确的打√,错误的打×,每题2 分,共10 分) 1.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。(×)2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。(√)4.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。(×)5.在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。(√) 三、简答题(每题5 分,共25 分) 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小,产生信号的区域也小,分辨率就高。 1.透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像? 答:如果让透射束进入物镜光阑,而将衍射束挡掉,在成像模式下,就得到明场象。如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑,而把透射束挡掉,就得到暗场像,将入射束倾斜,让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行,且通过物镜光阑就得到中心暗场像。 2.简述能谱仪和波谱仪的工作原理。 答:能量色散谱仪主要由Si(Li)半导体探测器、在电子束照射下,样品发射所含元素的荧光标识X 射线,这些X 射线被Si(Li)半导体探测器吸收,进入探测器中被吸收的每一个X 射线光子都使硅电离成许多电子—空穴对,构成一个电流脉冲,经放大器转换成电压脉冲,脉冲高度与被吸收的光子能量成正比。最后得到以能量为横坐标、强度为纵坐标的X 射线能量色散谱。 在波谱仪中,在电子束照射下,样品发出所含元素的特征x 射线。若在样品上方水平放置一块具有适当晶面间距 d 的晶体,入射X 射线的波长、入射角和晶面间距三者符合布拉格方程时,这个特征波长的X 射线就会发生强烈衍射。波谱仪利用晶体衍射把不同波长的X 射线分开,即不同波长的X 射线将在各自满足布拉格方程的2θ方向上被检测器接收,最后得到以波长为横坐标、强度为纵坐标的X射线能量色散谱。 3.电子束与试样物质作用产生那些信号?说明其用途。 (1)二次电子。当入射电子和样品中原子的价电子发生非弹性散射作用时会损失其部分能量(约30~50 电子伏特),这部分能量激发核外电子脱离原子,能量大于材料逸出功的价电子可从样品表面逸出,变成真空中的自由电子,即二次电子。二次电子对试样表面状态非常敏感,能有效地显示试样表面的微观形貌。 (2)背散射电子。背散射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子。既包括与样品中原子核作用而形成的弹性背散射电子,又包括与样品中核外电子作用而形成的非弹性散射电子。利用背反射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征,也可以用来显示原子序数衬度,进行定性成分分析。 (3)X 射线。当入射电子和原子中内层电子发生非弹性散射作用时也会损失其部分能量(约

材料现代分析方法

《材料现代分析方法》课程教学大纲 一、课程基本信息 课程编号:13103105 课程类别:专业核心课程 适应专业:材料物理 总学时:54学时 总学分: 3 课程简介: 本课程介绍材料微观形貌、结构及成分的分析与表面分析技术主要方法及基本技术,简单介绍光谱分析方法。包括晶体X射线衍射、电子显微分析、X射线光电子谱仪、原子光谱、分子光谱等分析方法及基本技术。 授课教材:《材料分析测试方法》,黄新民解挺编,国防工业出版社,2005年。 参考书目: [1]《现代物理测试技术》,梁志德、王福编,冶金工业出版社,2003年。 [2]《X射线衍射分析原理与应用》,刘粤惠、刘平安编,化学工业出版社,2003年。 [3]《X射线衍射技术及设备》,丘利、胡玉和编,冶金工业出版社,2001年。 [4]《材料现代分析方法》,左演声、陈文哲、梁伟编,北京工业大学出版社,2001年。 [5]《材料分析测试技术》,周玉、武高辉编,哈尔滨工业大学出版社,2000年。 [6]《材料结构表征及应用》,吴刚编,化学工业出版社,2001年。 [7]《材料结构分析基础》,余鲲编,科学出版社,2001年。 二、课程教育目标 通过学习,了解X射线衍射仪及电子显微镜的结构,掌握X-射线衍射及电子显微镜的基本原理和操作方法,了解试样制备的基本要求及方法,了解材料成分的分析与表面分析技术的主要方法及基本技术,了解光谱分析方法,能够利用上述相关仪器进行材料的物相组成、显微结构、表面分析研究。学会运用以上技术的基本方法,对材料进行测试、计算和分析,得到有关微观组织结构、形貌及成分等方面的信息。 三、教学内容与要求 第一章X射线的物理基础 教学重点:X射线的产生及其与物质作用原理 教学难点:X射线的吸收和衰减、激发限 教学时数:2学时 教学内容:X射线的性质,X射线的产生,X射线谱,X射线与物质的相互作用,X射线的衰减规律,吸收限的应用

材料现代分析方法练习题及答案

8. 什么是弱束暗场像?与中心暗场像有何不同?试用Ewald图解说明。 答:弱束暗场像是通过入射束倾斜,使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑,透射束和其他衍射束都被挡掉,利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。 与中心暗场像不同的是,中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像,即除直射束外只有一个强的衍射束,而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像,采用很大的偏离参量s。中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件,衍射强度较强,而弱束暗场像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像,衍射束强度很弱。采用弱束暗场像,完整区域的衍射束强度极弱,而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射,形成高分辨率的缺陷图像。图:PPT透射电子显微技术1页 10. 透射电子显微成像中,层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同?用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来? 答:由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同,则层错区和与相邻区域形成了不同的衬度,相应地出现均匀的亮线和暗线,由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同,故所有亮线和暗线的衬度分别相同。层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间距条纹。 孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同,或者还由于点阵类型不同,一边的晶体处于双光束条件时,另一边的衍射条件不可能是完全相同的,也可能是处于无强衍射的情况,就相当于出现等厚条纹,所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹,不同的是孪晶界是一条直线,而晶界不是直线。 反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。 层错条纹平行线直线间距相等 反相畴界非平行线非直线间距不等 孪晶界条纹平行线直线间距不等 晶界条纹平行线非直线间距不等 11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。形成衍射衬度像和相位衬度像时,物镜在聚焦方面有何不同?为什么? 答:质厚衬度:入射电子透过非晶样品时,由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异,导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同,对应各个区域的图像的明暗不同,形成的衬度。 衍射衬度:由于样品中的不同晶体或同一晶体中不同部位的位向差异导致产生衍射程度不同而形成各区域图像亮度的差异,形成的衬度。 相位衬度:电子束透过样品,试样中原子核和核外电子产生的库伦场导致电子波的相位发生变化,样品中不同微区对相位变化作用不同,把相应的相位的变化情况转变为相衬度,称为相位衬度。 物镜聚焦方面的不同:透射电子束和至少一个衍射束同时通过物镜光阑成像时,透射束和衍射束相互干涉形成反应晶体点阵周期的条纹成像或点阵像或结构物象,这种相位衬度图像的形成是透射束和衍射束相干的结果,而衍射衬度成像只用透射束或者衍射束成像。

市场调查中常用的数据分析方法和手段

第四编 市场调查中的数据分析 第十五章 市场调查数据的录入与整理 第一节 调查问卷 的回收与编辑 数据资料的处理过程是从回收第一份问卷开 始的。 按照事先调查方案的计划,尽量确保每份问 卷都是有效 问卷(所谓 “有效 ”问卷,指的是在调查 过程中按照 正确的方式执行完成的问卷) 。问卷回 收以后,督导员 必须按照调查的要求,仔细的检查 问卷。检查问卷的目 的在于将有错误填写, 或者是挑出不完整或不规 范的问卷, 保证数据的准 确性。 所谓错误填写即出现了那些不合逻辑 或根本不可能的结果, 通过对 调查员的复核, 可以检查出哪些调查员 没有按照调查的要求去访问, 那 么,该调查员完成的问卷可能存在很 多问题。还有可能出现漏答了某些必须 回答的问题, 比如被访者的人 口特征等基本情况,造成问卷回答不完整。 鉴于这些情况, 不管是由于调查员造成的还是被访者的原因, 通 常 有两种方式进行补救: 对于出现漏答的问卷, 通常要求调查员对受 访者进 行重访, 以补充未答的问题; 如果不便于重访或重访后的问卷 还有问题, 数目不是很多,可以当作缺失值计。如果数量非常大,这 份问卷就只能当作 废卷处理, 并且按照被访对象的抽样条件, 补作相 关的样本。 问卷检查 问卷的检查一般是指对回收问卷的完整性和访问质量的检查,目 的是要 确定哪些问卷可以接受,哪些问卷要作废。检查的要点包括: 本编重点 变量类型 频数(百分比) 众数、中位数 均值、标准差 卡方分析 单因素方差分析 简单相关系数 因子分析 调查报告的结构

(1)规定详细的检查规则,一份问卷哪些问题是必须填写完整的,哪些问题出现缺失时可以容忍等,使督导员明确检查问卷的每一项流程。 (2)对于每份调查员交回来的问卷必须彻底地检查,以确认调查员或者被访者是否按照相关的要求完成了访问,并且完整的记录在问卷恰当的位置。 (3)应该将问卷分成三种类型,一种是完成的问卷,一种是作废的问卷,第三种是有问题的问卷,但是通过追访还可以利用的问卷。 (4)如果抽样中有配额的要求,那么应将完成的问卷中的配额指标进行统计分析,确定问卷是否完成配额的要求,以便及时的补充不足的样本。 (5)通常有下面的情况的问卷是不能接受的:所回收的问卷明显不完整,缺了一页或者多页;问卷中有很多内容没有填答;问卷的模式说明调查员(被访者)没有理解或者遵循访问指南回答等;问卷的答案几乎没有什么变化,如在态度的选项上全部选择第x项的情况;问卷的被访者不符合抽样要求;问卷的回收日期超过了的访问的时限等。 问卷的校订 为了加强问卷的准确性,对那些初步接受的问卷还要进行进一步的检查和校订,在校订的过程中,通常会发现问卷中存在有字迹模糊、问题漏选的、前后回答不一致的、答案模棱两可的和跳答错误的问题。 问卷的某些问题答案可能出现字迹模糊的情况,特别是碰上无结构的开放式的问题时,因为调查员记录的不好,答案不容易识别。如果发现这样

《材料现代分析方法》练习与答案修改

一、选择题 1.用来进行晶体结构分析的X 射线学分支是( B ) A.X 射线透射学; B.X 射线衍射学; C.X 射线光谱学; 2. M 层电子回迁到K 层后,多余的能量放出的特征X 射线称( B ) A. K α; B. K β; C. K γ; D. L α。 三、填空题 1. 当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 连续 X 射线和 特征 X 射线。 2. X 射线与物质相互作用可以产生 俄歇电子 、 透射X 射线 、 散射X 射线 、 荧光X 射线 、 光电子 、 热 、 、 。 3. X 射线的本质既是 波长极短的电磁波 也是 光子束 ,具有 波粒二象 性 性。 5. 短波长的X 射线称 ,常用于 ;长波长的X 射线称 ,常用于 。 一、选择题 1.有一倒易矢量为*+*+*=*c b a g 22,与它对应的正空间晶面是( )。 A. (210); B. (220); C. (221); D. (110);。 2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm ,用铁靶K α(λK α=0.194nm )照射该晶体能 产生( )衍射线。 A. 三条; B .四条; C. 五条;D. 六条。 3.一束X 射线照射到晶体上能否产生衍射取决于( )。 A .是否满足布拉格条件; B .是否衍射强度I ≠0; C .A+B ; D .晶体形状。 4.面心立方晶体(111)晶面族的多重性因素是( )。 A .4; B .8; C .6; D .12。 二、填空题 1. 倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 ;倒易矢量的长度等于对应 。 2. 只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上,就表示该 满足 条件,能产生 。 3. 影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还 有 , , , 。 4. 考虑所有因素后的衍射强度公式为 ,对于粉末 多晶的相对强度为 。 5. 结构振幅用 表示,结构因素用 表示,结构因素=0时没有衍射我们称 或 。对于有序固溶体,原本消光的地方会出现 。 三、选择题 1.最常用的X 射线衍射方法是( )。 A. 劳厄法; B. 粉末多法; C. 周转晶体法; D. 德拜法。 2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( )。 A. 正装法; B. 反装法; C. 偏装法; D. A+B 。 3.德拜法中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为( )。 A. <325目; B. >250目; C. 在250-325目之间; D. 任意大小。 4.测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是( )。 A. 保持同步1﹕1 ; B. 2﹕1 ; C. 1﹕2 ; D. 1﹕0 。 5.衍射仪法中的试样形状是( )。

材料现代分析方法北京工业大学

材料现代分析方法北京工业大学 篇一:13103105-材料现代分析方法 《材料现代分析方法》课程教学大纲 一、课程基本信息 课程编号:13103105 课程类别:专业核心课程 适应专业:材料物理 总学时:54学时 总学分:3 课程简介: 本课程介绍材料微观形貌、结构及成分的分析与表面分析技术主要方法及基本技术,简单介绍光谱分析方法。包括晶体X射线衍射、电子显微分析、X射线光电子谱仪、原子光谱、分子光谱等分析方法及基本技术。 授课教材:《材料分析测试方法》,黄新民解挺编,国防工业出版社,20XX年。 参考书目: [1]《现代物理测试技术》,梁志德、王福编,冶金工业出版社,20XX 年。 [2]《X射线衍射分析原理与应用》,刘粤惠、刘平安编,化学工业出

版社,20XX年。 [3]《X射线衍射技术及设备》,丘利、胡玉和编,冶金工业出版社,20XX年。 [4]《材料现代分析方法》,左演声、陈文哲、梁伟编,北京工业大学出版社,20XX年。 [5]《材料分析测试技术》,周玉、武高辉编,哈尔滨工业大学出版社,2000年。 [6]《材料结构表征及应用》,吴刚编,化学工业出版社,20XX年。 [7]《材料结构分析基础》,余鲲编,科学出版社,20XX年。 二、课程教育目标 通过学习,了解X射线衍射仪及电子显微镜的结构,掌握X-射线衍射及电子显微镜的基本原理和操作方法,了解试样制备的基本要求及方法,了解材料成分的分析与表面分析技术的主要方法及基本技术,了解光谱分析方法,能够利用上述相关仪器进行材料的物相组成、显微结构、表面分析研究。学会运用以上技术的基本方法,对材料进行测试、计算和分析,得到有关微观组织结构、形貌及成分等方面的信息。 三、教学内容与要求 第一章X射线的物理基础 教学重点:X射线的产生及其与物质作用原理 教学难点:X射线的吸收和衰减、激发限 教学时数:2学时

材料现代分析方法实验报告

力学与材料学院 材料现代分析方法实验报告二 XRD图谱分析 专业年级:1 姓名:1 指导老师:1 学号:1 2016年12月 中国南京 目录 实验名称:XRD图谱分析…………………………………………… 一、实验目的……………………………………………………

二、实验要求…………………………………………………… 三、操作过程…………………………………………………… 四、结果分析与讨论……………………………………………… 实验名称:XRD图谱分析 一、实验目的 了解XRD基本原理及其应用,不同物相晶体结构XRD图谱的区别,熟练掌握如何来分析利用X射线测试得到的XRD图谱。 二、实验要求

1、熟练掌握如何来利用软件打开、分析XRD图谱,以及输出分析结果。 2、明确不同物质的XRD图谱,掌握XRD图谱包含的晶体结构的关系,通过自己分析、数据查找和鉴别的全过程,了解如何利用软件正确分析和确定不同物相的XRD图谱,并输出分析结果。 3、实验报告的编写,要求报告能准确的反映实验目的、方法、过程及结论。 三、操作过程 1、启动Jade 6.0,并打开实验数据。 2、点击图标使图谱平滑后,再连续两次点击图标扣除背景影响。 3、右击工具栏中的图标,全选左侧的项目,取消选择右侧中的Use Chemistry Filter,最后在下方选择S/M Focus on Major Phases(如图一),并点击OK。 图一

4、得到物相分析,根据FOM值(越小,匹配性越高)可推断出该物相为以ZnO为主,可能含有CaF2、Al2O3、Mg(OH)2混合组成的物质(如图二),双击第一种物质可以得到主晶相的PDF卡片(如图三),点击图三版面中的Lines可以观察到不同角度处的衍射强度(如图四)。 图二

(完整版)材料现代分析方法考试试卷

班级学号姓名考试科目现代材料测试技术A 卷开卷一、填空题(每空1 分,共计20 分;答案写在下面对应的空格处,否则不得分) 1. 原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为_辐射跃迁__ 跃迁或_无辐射跃迁__跃迁。 2. 多原子分子振动可分为__伸缩振动_振动与_变形振动__振动两类。 3. 晶体中的电子散射包括_弹性、__与非弹性___两种。 4. 电磁辐射与物质(材料)相互作用,产生辐射的_吸收_、_发射__、_散射/光电离__等,是光谱分析方法的主要技术基础。 5. 常见的三种电子显微分析是_透射电子显微分析、扫描电子显微分析___和_电子探针__。 6. 透射电子显微镜(TEM)由_照明__系统、_成像__系统、_记录__系统、_真空__系统和__电器系统_系统组成。 7. 电子探针分析主要有三种工作方式,分别是_定点_分析、_线扫描_分析和__ 面扫描_分析。 二、名词解释(每小题3 分,共计15 分;答案写在下面对应的空格处,否则不得分) 1. 二次电子二次电子:在单电子激发过程中被入射电子轰击出来的核外电子. 2. 电磁辐射:在空间传播的交变电磁场。在空间的传播遵循波动方程,其波动性表现为反射、折射、干涉、衍射、偏振等。 3. 干涉指数:对晶面空间方位与晶面间距的标识。 4. 主共振线:电子在基态与最低激发态之间跃迁所产生的谱线则称为主共振线 5. 特征X 射线:迭加于连续谱上,具有特定波长的X 射线谱,又称单色X 射线谱。 三、判断题(每小题2 分,共计20 分;对的用“√”标识,错的用“×”标识) 1.当有外磁场时,只用量子数n、l 与m 表征的原子能级失去意义。(√) 2.干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面,即干涉指数表示的晶面上不一定有原子分布。(√) 3.晶面间距为d101/2 的晶面,其干涉指数为(202)。(×) 4.X 射线衍射是光谱法。(×) 5.根据特征X 射线的产生机理,λKβ<λK α。 (√ ) 6.物质的原子序数越高,对电子产生弹性散射的比例就越大。(√ ) 7.透射电镜分辨率的高低主要取决于物镜。(√ )8.通常所谓的扫描电子显微镜的分辨率是指二次电子像的分辨率。(√)9.背散射电子像与二次电子像比较,其分辨率高,景深大。(× )10.二次电子像的衬度来源于形貌衬度。(× ) 四、简答题(共计30 分;答案写在下面对应的空格处,否则不得分) 1. 简述电磁波谱的种类及其形成原因?(6 分)答:按照波长的顺序,可分为:(1)长波部分,包括射频波与微波。长波辐射光子能量低,与物质间隔很小的能级跃迁能量相适应,主要通过分子转动能级跃迁或电子自旋或核自旋形成;(2)中间部分,包括紫外线、可见光核红外线,统称为光学光谱,此部分辐射光子能量与原子或分子的外层电子的能级跃迁相适应;(3)短波部分,包括X 射线和γ射线,此部分可称射线谱。X 射线产生于原子内层电子能级跃迁,而γ射线产生于核反应。

常用市场分析方法概述

市场分析方法概述 1. 分析方法概述 市场分析方法或者说分析工具,信息分析方法有以下12种: 1.数据分析基于公司已有的关于销售员,区域,客户,产品,时间的销售数据的分析。涉及产品,行业,区域三个维度,和饼图(现在的格局),趋势图(时间的变化),立方图(数量及增长)三种图形方式。通常进行整体和重点二级分析。 2. SWOT分析环境的优势,劣势,机会,威胁分析,是一种涉及四个维度的分析思路。 3. 波士顿矩阵分析产品组合的一种分析方法,有助于分析产品线的构成。 4. 4P分析经典的产品、价格、销售模式(渠道)、市场推广(促销)的四个方面的分析方法。 5. 4C分析站在客户角度的,客户,成本,便利,沟通的分析。 6. 产品生命周期分析判断产品所处的诞生、成长、成熟、衰退的不同阶段。 7. 目标市场STP,市场细分,目标市场,产品定位 8. 五力模型现有竞争者,潜在进入者,替代品,顾客,供应商 9. 战略群体分析这是对主要同行的一种分析。 10. 宏观环境分析经济,法律,政治,人文,科技 11. 微观环境分析行业,竞争者,下游客户,上游供应商,替代品,潜在进入者, 12. 专项分析涉及到具体的内容,如产品货期》供应链分析;产品价格》成本分析;产品质量》结构分析 2. 常用分析方法 五力模型,战略群体分析,宏观环境分析,微观环境分析是对环境的认识,这些分析方法偏理论性,是对企业所处环境的深入认识,是分析工作的底层信息基础,但是很难落实到真正的企业实践中。产品生命周期分析,从长远来看是有必要的,特别是在产品更新十分快的软件和电子行业。工业品领域在一定时间内(3-5年)产品的变化不大。专项分析的目的旨在专项问题,专项解决,并不是常规的分析方法。因而常用的有六种4P,4C,STP,数据分析,波士顿矩阵,SWOT。 4P分析包括产品(PRODUCT),价格(PRICE),渠道(PLACE),促销(PROMOTION),这是站在公司角度的分析。该分析起源于消费品行业,在自动化行业可以引申为产品组合,价值体系,销售模式,市场推广。 4C分析包括客户(CUSTOMER),成本(COST),便利(CONVENIENCE),沟通(COMMUNICATION)四个部分。这是站在客户角度上对市场的分析。

浅谈化学分析方法的选择

浅谈化学分析方法的选择 发表时间:2019-09-11T09:42:24.687Z 来源:《科技新时代》2019年7期作者:吴兴健 [导读] 作为一项重要的技术性工作,化学分析表现出较强的严谨性,因此对工作过程提出了非常高的要求。 东莞市大成环境检测有限公司广东东莞 523000 摘要:作为一项重要的技术性工作,化学分析表现出较强的严谨性,因此对工作过程提出了非常高的要求。鉴于诸多因素均会影响对化学分析方法的选择,故以全面考虑各方面的因素,选出适合的分析方法,以控制化学分析的效果。基于此,本文概述了化学分析,探讨了对化学分析方法合理选择的过程,仅供参考。 关键词:方法选择;化学分析;质量控制 当今时代,随着中国社会经济的不断发展,对产品质量的要求也日益增高,从检测原材料、控制生产工艺一直到新品试验、检测成品等,均离不开严格的质量监督,以控制生产线高效运行。为切实控制生产产品的质量,则应系统地分析各个流程中的原材料,由此便产生了很多种分析方法,这样在日常的生产中,对分析方法的正确选择便显得极为关键。 一、概述化学分析 化学分析的实用性较强,是实践应用中的理论代表之一。通常化学分析包括重量与滴定这两种分析。在当今社会,作为独立的科技之一,化学分析获得了广泛的应用,比如,针对新研发出的药物,通过化学分析,便可以知晓分量不一样的药品经过搭配后,会获得怎样的效果等。化学分析往往会从定量化学反应来探讨计量关系,属于一个不断测试的过程,且任一步骤出现偏差,均会导致相应的连带效果,要想获得准确的测试数据,则要精心做好每个步骤。这整个过程之中,最初对分析方法的选择、对分析过程的准确把握、控制试剂和仪器精度、对实验条件的充分利用等,均会影响到最终的测量结果,这些也均是导致误差出现的根源。作为经济发展所需,化学分析也化学技术优化的关键所在。对化学分析方法的合理选择,能控制化学结果,值得引起重视。 二、对化学分析方法的合理选择 1、明确分析目的、准确度 在分析产品时,应弄清具体的分析目的,以做好产品检测,确保生产的顺利运行。在研究分析实践中,也不免会出现一定的意外问题,这时就需要分析人员充分利用自己的专业知识与平常积累的工作经验,来确保生产的顺畅性。通过化学分析,除了检验产品质量外,在日常的生活实践中也有涉及。应用化学分析,也并不是很简单,一般需要耗费大量的精力与时间。因此,在选用化学分析方法时,宜根据一定的标准,来控制分析的准确性,减小分析难度。例如,在分析产品质量过程中,以一一检验产品的各项特性,严格控制产品质量,以确保出厂产品质量均合格。这样方才可促进产品销售,提升企业效益。通常情况下,化学分析均会用到仪器,如自动检测仪以及光谱与碳硫等分析仪,可以充分控制产品质量。但是,并不是实验室均有配备足够化学分析仪器,在规模较小的实验室,还可考虑利用湿法系统化这种分析方法,比如电化学等分析方法。 2、确定好准确度 通过化学分析能控制产品质量等,其中分析的准确度便显得尤为重要,由此准确度控制也变成分析产品质量环节的难题之一。现阶段,以利用一件标准物来衡量具体的化学分析准确度最为常见,但往往却难以确定这个标准物。这样加标回收法便为大量的化学分析人员所套用,但在应用该方法的过程中却无法保障科学性。这主要是由于即使回收完全时,也有可能会出现误差。只能某个侧面显示标准检测足够准确,但化学分析却无法加以全面明确。 3、全面分析物料物性 为了选择更好的化学分析方法,来分析物质的基本化学性质,则宜先认真查找相关文献或各种化工词典,来全面了解这种物质的物料物性,以及其中含有的有机物成分、无机物成分,还有具体的化工用途等,以上这些均有助于分析人员的分析工作。这是因为全面了解基本的物质属性,能确保分析数据的可靠性,也唯有深入了解该物质,方才可选择出正确的分析方法。 4、深入了解各种化学分析方法 为了选择好化学分析方法,除了要全面了解基本的物质属性外,还要切实了解具体的化学分析方法。先宜了解分析方法的种类,然后学会、熟悉各种分析方法。在化学分析工作中,常常要用到两种或以上种方法,这便需要工作人员可以灵活、熟练地使用各种分析方法,而且化学分析法常常适合常量分析。此外,通过微量分析获得数据的准确度,一般不如其他分析的结果,在对比常量成分分析时,该化学分析方法的误差往往较大。例如,在进行滴定时,鉴于反应不完全的原因,最终结果便会不符合预计数据,又或尚未控制好条件,或副反应出现等,均会导致大量的测定误差。所以,应从实际情况出发,学会正确选择分析方法,以降低误差,同时所选的样品更要适用。 5、注意控制好质量 作为分析人员必须完全理解分析方法的原理,以便在实验中防止返工出现。首先,分析室应制定健全的质量控制机制,在经过专业培训后,分析人员应可以熟练操作日常的分析项目;其次,切不可局限在规定的条条框框上,应能灵活变通,严格控制质量。 实际上,任一分析方法均有缺陷和优点。因此,任一分析方法均无法被应用在全部的分析工作中。在每个标准化的化学分析实验室,均应购置几种分析方法下的设备,以便提供给分析利用。一般应结合材料的基本特性、实验成本、现有技术水平等,来正确选择分析方法。分析人员应擅长比较,以保障最终选择出的方法最为适合。然后根据所选的分析方法,来分析影响分析过程质量的因素,并就分析方法,及时采取有效的控制措施。 三、选择最优化学分析方法的重大实践意义 一方面,在现代社会,各种竞争愈演愈烈,更加体现出工作的速度和工作效率的重要性。倘若分析工作并不存在意义,则定会在浪费不必要资金的同时,甚至会令工作人员自己也失去了工作的机会。通过优质的研发工作,可以在某种程度上,缩短工作所需的时间,以节省生产的成本。所以,作为分析人员以将分析做好,选择最优的化学分析方法,以获取准确的结果,以辅助对研发合理性的判断。一旦错误选择了分析方法,工艺研发甚至会被引向误区,不仅研发工作无法获得预期效果,而且整个企业也会深陷困境之中。

(完整word版)材料现代分析测试方法总结(2)汇总

名词解释: 晶带:晶体中,与某一晶向[uvw]平行的所有(HKL)晶面属于同一晶带,称为[uvw] 晶带。 辐射的吸收:辐射通过物质时,其中某些频率的辐射被组成物质的粒子(原子、离子或分子等)选择性地吸收,从而使辐射强度减弱的现象。 辐射被吸收程度对ν或λ的分布称为吸收光谱。 辐射的发射:物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。 辐射的散射:电磁辐射与物质发生相互作用,部分偏离原入射方向而分散传播的现象 光电离:入射光子能量(hν)足够大时,使原子或分子产生电离的现象。 光电效应:物质在光照射下释放电子(称光电子)的现象又称(外)光电效应。 点阵消光:因晶胞中原子(阵点)位置而导致的|F|2=0的现象 系统消光:晶体衍射实验数据中出现某类衍射系统消失的现象。 结构消光:在点阵消光的基础上,因结构基元内原子位置不同而进一步产生的附 加消光现象,称为结构消光。 衍射花样指数化:确定衍射花样中各线条(弧对)相应晶面(即产生该衍射线条的晶面)的干涉指数,并以之标识衍射线条,又称衍射花样指数化(或指标化)。 背散射电子:入射电子与固体作用后又离开固体的总电子流。 特征X射线:射线管电压增至某一临界值,使撞击靶材的电子具有足够能量时,可使靶原子内层产生空位,此时较外层电子将向内层跃迁产生辐射即是特征X 射线。 俄歇电子:由于原子中的电子被激发而产生的次级电子,在原子壳层中产生电子空穴后,处于高能级的电子可以跃迁到这一层,同时释放能量。当释放的能量传递到另一层的一个电子,这个电子就可以脱离原子发射,被称为俄歇电子。 二次电子:入射电子从固体中直接击出的的原子的核外电子和激发态原子退回基态时产生的电子发射,前者叫二次电子,后者叫特征二次电子。 X射线相干散射:入射光子与原子内受核束缚较紧的电子发生弹性碰撞作用,仅其运动方向改变没有能量改变的散射。 X射线非相干散射:入射光子与原子内受到较弱的电子或者晶体中自由电子发生非弹性碰撞作用,在光子运动方向改变的同时有能量损失的散射。 K系特征辐射:原子K层出现空位,较外的L层电子向内的K层辐射跃迁,发

材料现代分析方法试题 6

材料现代分析方法试题 一、基本概念题(共10题,每题5分) 1.什么是光电效应?光电效应在材料分析中有哪些用途? 2.当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的 波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少? 3.测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30 0角,则计数管 与入射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面是何种几何关 系? 4.宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么?衍射仪法测定宏观应力的方法 有哪些? 5.薄膜样品的基本要求是什么? 具体工艺过程如何? 双喷减薄与离子减薄 各适用于制备什么样品? 6.图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。 7.说明透射电子显微镜成像系统的主要构成、安装位置、特点及其作用。 8.何为晶带定理和零层倒易截面? 说明同一晶带中各晶面及其倒易矢量与 晶带轴之间的关系。 9.含苯环的红外谱图中,吸收峰可能出现在哪4个波数范围? 10.陶瓷纳米/微米颗粒的红外光谱的分析样品该如何制,为什么? 二、综合及分析题(共5题,每题10分) 1.请说明多相混合物物相定性分析的原理与方法? 2.对于晶粒直径分别为100,75,50,25nm的粉末衍射图形,请计算由于晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度B(设θ=450,λ=0.15nm)。对于晶粒直径为25nm的粉末,试计算θ=100、450、800时的B 值。 3.二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 4.何为波谱仪和能谱仪?说明其工作的三种基本方式及其典型应用,并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量,应选用哪种电子探针仪? 为什么? 5.分别指出谱图中标记的各吸收峰所对应的基团? 材料现代分析方法试题(参考答案) 一、基本概念题(共10题,每题5分) 1.什么是光电效应?光电效应在材料分析中有哪些用途? 答:光电效应是指:当用X射线轰击物质时,若X射线的能量大于物质原子 对其内层电子的束缚力时,入射X射线光子的能量就会被吸收,从而导致其内层 电子被激发,产生光电子。材料分析中应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和 荧光光谱仪,对材料物质的元素组成等进行分析。 2.什么叫干涉面?当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl) 晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少? 答:晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波 长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ, 相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。

市场调研方案分析报告

市场调研(市场研究部) 抽样系统培训资料

2003年 目录 一抽样概述 1、抽样定义 (3) 2、抽样作用 (3) 3、抽样原则 (3) 4、抽样误差 (3) 5、几个基本概念 (3) 6、抽样步骤 (3) 二抽样前期工作 1、抽样准备 (4) 2、应答策略 (4) 三实地抽样 1、抽样方法 (5) 2、注意事项 (5) 3、填表画图要求 (7) 4、交表要求 (7) 四项目管理 1、前期准备 (8) 2、实施流程 (8) 3、后期工作 (9)

五日常管理 1、样本库的建立与完善 (10) 2、抽样的后勤管理 (10) 六抽样种类 1、异地抽样 (11) 2、办公室抽样 (11) 3、农村抽样 (12) 4、居委抽样 (12) 第一部分抽样概述 抽样定义 在指定的范围内选取一起点,以一定间隔,以右手原则抽取居民户。 抽样作用 1、用少量样本反映总体情况,使研究具有代表性。 2、访问员可以按照指定的居民户进行访问。 抽样原则 1、客观性原则:样本确定不以主观意志为转移。 2、连续性原则:整个区域上的行走路线都是不间断的连续。 3、机会均等原则:任和样本者均有机会被抽到。 抽样误差 误差是固有的,只能减少。误差越大,调查研究的准确性越差,从而导致企业得到错误信息。 几个基本概念 1、居委――抽样的基本单位。(用于确定抽样的具体范围) 2、样本――抽样对象。 3、间隔――样本间相隔的户数 4、抽样数――所要抽取的样本数目。

5、等距抽样――根据一定的间隔在抽样范围内抽取要进行访问 的地址。 6、全面抽样――即普查,在整个抽样范围内,一个不漏的逐一 抽取可进行访问的地址。 抽样步骤 1、明确抽样的居委(地段)及方法。包括居委总户数,抽样 的间隔。 2、实施抽样。实地抽样,按要求填写抽样表,并画出详细的 路线行走图。 3、交表。按督导要求时间交回《抽样地址登记表》和《入户情 况登记表》,及《行走路线图》。 第二部分抽样前期工作 抽样准备 1、听取内容:居委地址与范围;抽样数;间隔数;交表时间。 2、访问工具:有效证件;胸卡;白纸(画行走路线图);笔; 手表;地址表。 应答策略 如果在访问过程中遇到盘问,可按照如下原则回答。 1、你们公司是干什么的? 答:我们公司的工作就是收集消费者的意见,并将它们反馈给厂家, 使厂家能生产更好的产品给消费者使用。 2、想了解什么问题? 答:我们只想了解一下消费者的购买习惯以及他们对某些产品的意

材料现代分析方法.doc

第一章 6.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”?答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。 ⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子,当外层电子来填充K空位时,将向外辐射K系χ射线,这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程,称荧光辐射。或二次荧光。 ⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量,如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W,称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。 ⑸当原子中K层的一个电子被打出后,它就处于K激发状态,其能量为E k。如果一个L 层电子来填充这个空位,K电离就变成了L电离,其能由Ek变成El,此时将释Ek-El的能量,可能产生荧光χ射线,也可能给予L层的电子,使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所替代,这种现象称俄歇效应。 (6)俄歇电子: (7)光电子: 第二章 2. 下面是某立方晶系物质的几个晶面,试将它们的面间距从大到小按次序重新排列:(12-3), (100),(200),(- 311),(121),(111),(-210),(220),(130),(030),(2-21),(110)。 答:它们的面间距从大到小按次序是:(100)、(110)、(111)、(200)、(- 210)、(121)、 (220)、(2- 21)、(030)、(130)、( - 311)、(12 - 3)。 3. 什么叫干涉面?当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少? 答:晶面间距为d/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X 射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。 4.a-Fe属于立方晶系,点阵参数啊a=0.2866nm。如用CrKaX射线(入=0.2291nm)照射,试求(110)(200)及(211)晶面可发生衍射的掠射角。

材料现代分析方法知识点

材料现代分析方法知识点 1.什么是特征X射线? 当管压增至与阳极靶材对应的特定值U k时,在连续谱的某些特定波长位置上出现一系列陡峭的尖峰。该尖峰对应的波长λ与靶材的原子序数Z存在着严格的对应关系,尖峰可作为靶材的标志或特征,故称尖峰为特征峰或特征谱。 2.什么是电子探针的点分析、线分析、面分析? ①点分析:将电子束作用于样品上的某一点,波谱仪分析时改变分光晶体和探测器的位置,收集分析点的特征X射线,由特征X射线的波长判定分析点所含的元素;采用能谱仪工作时,几分钟内可获得分析点的全部元素所对应的特征X射线的谱线,从而确定该点所含有的元素及其相对含量。②线分析:将探针中的谱仪固定于某一位置,该位置对应于某一元素特征X射线的波长或能量,然后移动电子束,在样品表面沿着设定的直线扫描,便可获得该种元素在设定直线上的浓度分布曲线。改变谱仪位置则可获得另一种元素的浓度分布曲线。③面分析:将谱仪固定于某一元素特征X射线信号(波长或能量)位置上,通过扫描线圈使电子束在样品表面进行光栅扫描(面扫描),用检测到的特征X射线信号调制成荧光屏上的亮度,就可获得该元素在扫描面内的浓度分布图像。 3. XRD对样品有何要求? 粉末样品应干燥,粒度一般要求约10~80μm,应过200目筛子(约0.08mm),且避免颗粒不均匀。块状样品应将其处理成与窗孔大小一致,可扫描宽度宜大于5mm,小于30mm,至少保证一面平整。 4.电子探针分析原理? 电子探针是一中利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器。其结构与扫描电竞基本相同,所不同的只是电子探针检测的是特征X射线,而不是二次电子或背散射电子。 5.结构因子的计算?P68 (1)简单点阵:简单点阵的晶胞仅有一个原子,坐标为(0,0,0),即X=Y=Z=0,设原子的散射因子为f,则(公式3-69) (2)底心点阵:底心点阵的晶胞有两个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,0)各原子的散射因子为f,则(公式3-70) (3)体心点阵:体心点阵的晶胞有两个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,1/2)各原子的散射因子为f,则(公式3-71) (4)面心点阵:面心点阵的晶胞有4个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,0),(1/2,0,1/2),(0,1/2,1/2)各原子的散射因子为f,则(公式3-72) 6.X射线衍射与电子衍射的关系(比较)?P150 (1)电子波的波长短,远远小于X射线,同等衍射条件下,它的衍射半角很小,衍射束集中在前方额,而x射线的衍射半角可接近90度。 (2)电子衍射反射球半径大 (3)电子衍射散射强度高,物质对电子的散射比对x射线散射强约1000000倍 (4) 电子衍射不仅可以进行微区结构分析,还可以进行形貌观察,而x射线衍射却无法进行形貌分析 (5)薄晶样品的倒易点阵为沿厚度方向的倒易杆,大大增加了反射球与倒易杆相截的机会,即使偏离布拉格方

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