五种方法全面缓解芯片功耗问题

五种方法全面缓解芯片功耗问题
五种方法全面缓解芯片功耗问题

五种方法全面缓解芯片功耗问题

功耗过高已经成为半导体制程尺寸进一步微缩的主要障碍,并且严重威胁到所有电子领域的一切进展──从推动行动设备更加微型化到开发超级电脑均包含在内。

虽然根本原因在于永恆不变的物理和化学原理,但工程师们已经开发出一系列的创新技术,以用于减轻目前所面临的问题,并可望对振兴未来的芯片产业有所助益。

以下讨论五种可用于降低未来IC功耗的技术。这些技术目前已经在开发中,可望共同解决未来十年内将会面临的功耗问题。

拥抱协同设计

电子设计自动化(EDA)工具可让设计团队从一开始就进行协同设计,从而实现最佳化低功耗设计。事实上,业界最低功耗的处理器和系统级芯片开发人员不仅透过最佳化架构和材料来实现优势,也采用协同设计封装、电源、射频电路和软体来降低功耗,而不至于降低性能或增加成本。

“实现低功耗必须采用覆盖技术、设计方法、芯片架构和软体的全面性方法。”德州仪器(TI)公司设计技术与EDA部门总监David Greenhill表示。

TI已经使用了许多先进技术为每个子系统进行最佳化,从而为低功耗元件提升了新标准,例如打造自有的制程技术来平衡关断模式的漏电流与主动电流性能,或使用电压与频率扩展技术来定义各种省电工作模式。

“第一步是从性能和功耗的观点来确认产品的目标。一旦这些目标确定后,就可以开始采用专用的制程技术,以提供所需的性能,而不至于超出设备的功耗预算。”TI公司28nm平台经理Randy Hollingsworth指出。

EDA工具一直是实现这些更低功耗目标的关键,但有时需要围绕设计迴路进行一些反覆,因为采用传统EDA工具进行功耗估计只在接近设计周期结束时才比较精确。对于未来的IC来说,必须在设计周期初期便进行精确的功耗估算。

一些专用工具的供应商已经拾起了接力棒。例如美国加州Atrenta公司推出一款名为Spyglass Power的工具,它可采用标准的暂存器传输级(RTL)描述来执行功耗估计、功耗降低与验证。这些RTL描述在较早的设计周期就能从每种主要EDA工具获得。

“而今,工程师希望能在较早的设计周期展开功耗估计。”Atrenta公司资深工程总监Peter Suaris表示,“你不能再等到设计临近结束时才去估计功耗。你必须在RTL级就针对功耗进行协同设计,并为设计进行改动,以便能从一开始就实现节能效果。”

Atrenta公司宣称,其专用的节能工具能以20%以内的精密度估计最终功耗预算,而功耗降低工具还可使最终设计功耗减少达50%。

降低工作电压

微缩芯片尺寸通常能够降低工作电压,从而实现节能。例如,三星公司(Samsung)最新的20nm‘绿色记忆体’芯片透过将工作电压从1.5V降低至1.35V,以节省67%的功耗。

处理器和逻辑电路的工作电压甚至低于记忆体元年,但工作电压降低至1V以下时就不可避免地必须进一步改善半导体制程。IBM、英特尔(Intel)、三星、TI、台积电(TSMC)和其他每家半导体制造商均持续改善制程,以便能在更低电压下作业,不过,过去几个制程世代以来的进展速度已开始减缓。

其关键在于电晶体导通的阈值电压在使用不同晶圆时是不一致的,因为在更大尺寸时制程的变化可以忽略。而由于在特定电压下关断状态的漏电流在不同阈值时有很大的变化,因此理想芯片实际上要使用根据其特性定制的供电电压。

英特尔公司声称已具有更好的解决方案──这是该公司花费近十年时间进行完善的一种方案。英特尔采用了所谓三闸(tri-gate)的3D FinFET电晶体架构,这种架构以三维方式在电晶体通道周围环绕三个金属闸极,使电晶体处于这些闸极的电场之下。这种技术可以抵销阻止工作电压低于1V的制程变化。

“我们已经成功地展示我们的三闸电晶体结构,可将工作电压减少到0.7V範围,而且还能做得更低。”英特尔公司资深工程师Mark Bohr指出,“这些都是具有更陡峭次阈值斜率的完全耗尽型电晶体,可以更小的漏电流更快切断,同时以更低阈值导通电压。”

资金雄厚的半导体制造商们专注于模拟英特尔公司的3D架构,但一些新创企业则致力于研发新型平面制程,针对缺乏时间和资金来完善3D架构的半导体制造商重启电压调整进程。例如SuVolta公司已经发明出一种用于标准C MOS产品线的超低电压平面制程。

SuVolta并未使用3D闸极耗尽型电晶体,改而采用一种未掺杂通道(带掺杂的阈值和保护带)以避免掺杂中的变化。深度耗尽型通道制程可在标准的平面CMOS 产品线上实现。

“透过使用平面深度耗尽型通道制程,我们已成功展示供电电压可降低到0.6V,未来还能够降得更低。”SuVolta公司技术长Scott Thompson透露。

SuVolta还取得了第一个授权协议──富士通半导体,该公司将在今年稍晚进行量产。有关该重要授权交易的进一步声明可望在2012年稍晚发佈。

智能调节功能

一般来说,供电电压和时脉速度越低,功耗就越低。然而性能也受到影响。因此,最新的微控制器和SoC开始寻求运用智能电源管理单元,自动调整工作电压与时脉速度来搭配工作负载。

“电源管理的基本思路是单独立地调整芯片不同部份的供电电压和时脉速度,以便在任何特定时间点都能匹配其工作负载,同时关闭未使用的电路。”即将接任Silicon Laboratories公司CEO的Tyson Tuttle表示。

电源管理单元通常以状态机模组的方式建置,能够选择性地降低非关键功能的电压和时脉速度。但随着半导体节点变得更先进,芯片中填入更多的电晶体,一种所谓「暗场硅晶」(dark silicon)的概念──大部份的芯片在需要使用以前均处于断电状态──这或许会是未来半导体的先驱设计理念。

“在未来更先进的制程节点,如22nm,SoC将整合进更多能同时导通的电晶体。”Rambus公司CTO Ely Tsern表示,“暗硅的概念就是在芯片上制作许多特殊用途的功能,但在任何时刻都只启动所需的功能,让其它功能则保持黑暗的断电状态,什么事也不做。”

英特尔在芯片电源管理方面处于领先地位,能够随时时详细地监视核心的温度,允许透过提升时脉(turbo模式)以提高性能或降低速度来节省功耗。

但并不是所有的电源管理功能都能十分经济地移植到芯片上。事实上,最智能化的电源管理方案是在芯片上和外部电源管理单元之间划分任务。“针对外部电源管理存在经常性的需求,因为从功率密度来说,能够加进芯片上的内容是有限的。”Enpirion公司CTO兼共同创办人Ashraf Lotfi表示。

Enpirion公司专门生产独立式电源管理单元,这些电源管理单元能从处理器接收命令,例如当处理器进入睡眠模式时降低处理器的电压,当处理器被唤醒时再迅速恢復电压。

采用3D/光学互连

透过缩短互连线的长度并降低其电线,就能支援更小的驱动器电晶体,从而降低IC的功耗。缩短互连线长度的传统方法是增加金属层,因此目前有些芯片的金属层多达10层。

然而,互连层设计最新创新成果是三维硅穿孔(TSV),允许将记忆体芯片堆叠在处理器之上。这种技术将互连长度减少到芯片间的距离,因此不需要大功耗的驱动电晶体和长的印刷电路板互连线。然而,TSV的经济性比较差,目前大多数芯片制造商的TSV时程都处于延后状态。

“虽然硅穿孔(TSV)确实可透过缩短走线长度来降低功耗,但这是一种成本非常高的解决方案。”TI公司的Greenhill表示,“为了更具经济性,TSV需要能够弥补其它不足(如介面性能),才能让它的成本较为合理。”

赛灵思公司(Xilinx nc.)是一家非常瞭解如何为TSV成本/性能取得平衡的公司,该公司正提供第一款使用TSV的商用芯片。相较于在PCB板上焊接独立元件的方式,赛灵思公司采用这种具成本效益的方案不仅能降低芯片功耗,同时也提升了性能。此外,它还可为赛灵思公司的客户降低BOM成本,赛灵思公司资深总监Ephrem Wu表示。

赛灵思公司透过使用硅中介层(interposer)迴避了在PCB板上焊接各个FPGA 的问题。这种硅中介层可在单一封装内互连4个高密度的FPGA。

这种技术不仅能提升性能,还能使功耗降低到19W,相形之下,传统的PCB解决方案功耗还高达112W。另外一种前端技术是使用光学收发器。例如,IBM公司的Power7超级电脑使用从传统光学元件产生的板载光子互连。未来的芯片很可能使用Kotura公司和其它公司提供的专用光学解决方案,将光子功能转移到能够附加处理器与记忆体芯片的微型光学芯片上。

“我们的低功耗硅锗元件整合了透镜、滤波器、调变器以及你需要的所有其它光学元件于单颗芯片上。”Kotura公司行销副总裁Arlon Martin指出。

Kotura公司的硅光子制程使其得以将大约香烟盒大小约1万美元的传统光学收发器单元整合进最新款iPhone大小的500美元封装中,使用的功耗更低4至20倍。Kotura公司还展示该公司的SiGe收发器可透过堆叠式C MOS芯片间的气隙传送光学讯号,最终在堆叠芯片之间形成一个高速、低功耗的光学资料通道,适用于代替PCB走线。

试用新材料

采用更高迁移率的材料也能降低功耗。例如在标准CMOS产品线中已经加进了磁性材料,而像碳纳米管和石墨烯等‘神奇’的材料也开始浮出檯面。

为了以铁电RAM(FRAM)制造嵌入式微控制器,TI在CMOS产品线中增加了磁性材料。从Ramtron International公司获得授权的FRAM比起快闪记忆体更方便,因为它们既具有非挥发性,还支援随机存取。

“与快闪记忆体相较,我们非挥发性的FRAM在读写能耗方面更高效。”TI无线事业部CTO Baher Haroun指出。

Enpirion公司也在其CMOS产品线中导入磁性材料,并计划于2012年开始为其电源管理芯片制造整合型电感与变压器。目前,电感和变压器还无法更经济地整合在必须于高频作业的芯片上,但Enpirion公司专有的磁性材料已经着眼于解决这方面的问题。

“我们已经整合了不同的金属合金,使我们的磁性材料可在很高的频率下执行作业,同时还能保持高能效。”Enpirion公司的Lotfi透露。

与此同时,Semiconductor Research公司最近资助了IBM和美国哥伦比亚大学共同进行的一项研究计划──将电感整合于处理器上。该公司声称能透过芯片稳压功能在奈秒级时间内调节供电电压,实现工作负载匹配,因而使能耗降幅高达20%。

在不远的将来,CMOS产品线还可能增加的其它近期材料包括砷化铟镓(InGaAs)。英特尔公司计划使用InGaAs增强未来三闸电晶体上的通道,据称此举可望使工作电压降低至0.5V。

然而,长期来看,碳纳米管和平面版的石墨烯很可能成为未来超低功耗元件的首选材料。

在乔治亚理工学院(Georgia Tech)的实验室中,已经证明石墨烯的互连性能超过铜。IBM公司也已经展示使用碳纳米管或石墨烯材料,可制造出低功耗、超高速的电晶体。TI最近则展示石墨烯可望在晶圆级制造出来。

英特尔公司针对以碳材料实现更高电迁移率方面进行研究,但其结论则是这些材料的商用时机未到。

“使用纳米碳或石墨烯的碳互连结构具有非常吸引人的特性。”英特尔公司的Bohr指出,“不过,儘管大体积材料具有更低电阻,连接路径的电阻却不低。不过这是一种非常具有前景的材料,因此我希望在今后几年能够见到更多的业界相关研究。”

图1:Atrenta公司的工具可以很早就估计功耗;此处指出设计周期开始之初的

潜在热点。

图2:透过采用未掺杂电晶体通道(位于中间的白色区域,在浅绿色的轻掺杂阈值区以及深绿色的重掺杂筛选区上方),SuVolta公司的平面C MOS制程可望使

半导体电压进一步降低。

图3:英特尔的turbo模式可在高负载期间提升时脉以增加速度,并监控核心温

度,在开始过热时逐渐降低时脉速度。

图4:赛灵思公司能够使用台积电的硅插入器在封装内互连4个FPGA,从而使功

耗从112W降低到19W。

图5:Enpirion公司的芯片上电感是采用专用制程以及独特的磁合金材料在硅晶

圆上制造而成的。

Nordic超低功耗蓝牙芯片nRF8001

Nordic超低功耗蓝牙芯片nRF8001 11月18日,2010年中国无线世界暨物联网大会在京正式举行,C114中国通信网为本届会议的独家战略合作媒体,进行现场全程直播报道。 主持人:下面有请来自Nordic Semiconductor ASA的Sebastien Mackaie-Blanchi先生做演讲,题目是《纽扣电池续航的蓝牙技术》。 Sebastien Mackaie-Blanchi:今天早晨大家听到了关于蓝牙技术的演进路线,下面我给大家更多地介绍一下蓝牙技术低功耗的特点,特别是在纽扣上面低功耗的技术。 今天我给大家介绍一下纽扣电池为什么需要蓝牙技术呢?在设计这样的设备的时候要有什么考虑呢? 首先我们可以看到纽扣电池已经存在很多年了,比如像你的手表上也会用到纽扣电池,有一些体育运动设备,比如说测量仪表也会使用这个纽扣技术,现在蓝牙技术,特别是4.0的规范给我们提供了很多可能性。无论是什么样的规范我们都在看,而且蓝牙技术也是其中一个选择。蓝牙的低功耗技术将会更好地支持我们的纽扣电池,比如说一些玩具、体育用品以及其他的东西,可能使用的不仅仅是蓝牙技术。我们来看一看到底这个纽扣电池是什么样的呢?它有不同的类型,它们有时候容量很大,有时候容量很小。 请看一下我们的CR1216,它是25毫安,它的容量非常好,这是表标准使用的纽扣电池。大家可以看到,它的平均电流对寿命有着非常大的影响。其中一个非常重要的特征请大家记住,基于25毫安,如果使用这样的功耗的话,每天24小时运行,每周7天来运行,它可以用一年的时间,我们要保证它的平均电流要尽量地低,如果要使用一年的时间,你要保证它的电流要低于25毫安,而且它的峰值电流也是非常重要的,有的时候峰值电流可能是比较高的,如果峰值电流比较高的话,会影响电池的容量。如果它的峰值电流越高的话,它的电池寿命越短。大家在使用纽扣电池的时候,如果它的峰值电流低的话,也意味着它的功耗比较低。在温度不同的情况下使用,它的寿命也是不一样的。所以说在设计纽扣电池的时候我们要考虑两个重要的指标,一个是平均电流,一个是峰值电流。 我们有一个中心的设备,大家可以看到在中间,还有其他的一些外设设备,关键的是可以看到中间的设备它将会保证和传感器的连接,将这个设备连接的时候,中央的设备将会是连接的核心,因为中心的设备将会影响连接的参数,它会决定比如说和传感器多长时间交换一下数据,要和交换器交换多少数据。所以不仅要看传感器的问题,也取决于你的设备,它是不是使用屏幕或者是其他的功能,它的功耗肯定会有所不同。关键的要素在于,如果来看手机的话,它有应用在运行,它就会决定你的连接参数,它会确定出来多快的时间会影响你的功耗。蓝牙技术应该尽量少地使用电能,它们也可以增加包交换的时延,它并不是针对大流量的应用设计的。所以说纽扣电池并不是要以这样的应用,我们只是针对一些非常简单的应用,尽量频率要少的交换数据,比如一些远程的控制或者是其他的一些非常简单的设备。像耳机之类的,这些可能只能使用可充电电池而不能使用纽扣电池。如果从一个设备到另外一个设

集成电路的功耗优化和低功耗设计技术

集成电路的功耗优化和低功耗设计技术 摘要:现阶段各行业的发展离不开对能源的消耗,随着目前节能技术要求的不 断提升,降低功耗成为行业发展的重要工作之一。本文围绕集成电路的功耗优化 以及低功耗设计技术展开分析,针对现阶段常见的低功耗设计方式以及技术进行 探究,为集成电路功耗优化提供理论指导。 关键词:集成电路;功耗优化;低功耗 目前现代节能技术要求不断提升,针对设备的功耗控制成为当前发展的主要问题之一。 针对数字系统的功耗而言,决定了系统的使用性能能否得到提升。一般情况下,数字电路设 计方面,功耗的降低一直都是优先考虑的问题,并且通过对整个结构进行分段处理,同时进 行优化,最后总结出较为科学的设计方案,采用多种方式降低功耗,能够很大程度上提升设 备的使用性能。下面围绕数字电路的功耗优化以及低功耗设计展开分析。 一、设计与优化技术 集成电路的功耗优化和低功耗设计是相对系统的内容,一定要在设计的每个环节当中使 用科学且合理的技术手段,权衡并且综合考虑多方面的设计策略,才能够有效降低功耗并且 确保集成电路系统性能。因为集成电路系统的规模相对较大且具有一定的特殊性,想要完全 依靠人工或者手动的方式来达到这些目的并不现实且缺少可行性,一定要开发与之对应的电 路综合技术。 1 工艺级功耗优化 将工艺级功耗应用到设计当中,通常情况下采取以下两种方式进行功耗的降低: 首先,根据比例调整技术。进行低功耗设计过程中,为了能够实现功耗的有效降低会利 用工艺技术进行改善。在设计过程中,使用较为先进的工艺技术,能够让设备的电压消耗有 效缩减。现阶段电子技术水平不断提升,系统的集成度也随之提高,目前采用的零件的规格 也逐渐缩小,零件的电容也实现了良好的控制,进而能够很大程度上降低功耗。借助比例技术,除了能够将可见晶体管的比例进行调整,而且也能够缩小互连线的比例[1]。目前在晶体 管的比例缩小方面,能够依靠缩小零件的部分重要参数,进而在保持性能不被影响的情况下,通过较小的沟道长度,确保其他的参数不受影响的栅压缩方式,进而将零件的体积进行缩减,同时也缩短了延长的用时,使功耗能够有效降低。针对互连线缩小的方式主要将互连线的整 个结构进行调整,工作人员在进行尺寸缩减的过程中,会面临多方面的难题,比如系统噪音 无法控制,或者降低了电路使用的可靠性等等。 其次,采用封装技术进行降低。采用封装技术,能够让芯片与外部环境进行有效的隔离,进而避免了外部环境给电气设备造成一定的破坏与影响,在封装阶段,芯片的功耗会受到较 大的影响,因此需要使用更加有效的封装手段,才能够提升芯片的散热性,进而有效降低功 耗[2]。在多芯片的情况下,因为芯片与其他芯片之间的接口位置会产生大量的功耗,因此针 对多芯片采取封装技术,首先降低I/0接口的所有功能,接着解决电路延迟的问题,才能够 实现对集成电路的优化。 2 电路功耗优化 一般情况下,对电路级的功耗会选择动态的逻辑设计。在集成电路当中,往往会包含多 种电路逻辑结构,比如动态、静态等等,逻辑结构从本质上而言具有一定的差异性,这种差 异性也使得逻辑结构有着不同作用的功能。动态逻辑结构有着较为典型的特性[3]。静态的逻 辑结构当中所有的输入都会对接单独的MOS,因此逻辑结构功耗更大,动态的逻辑结构当中 电路通常具备N、M两个沟道,动态电路会利用时钟信号采取有效的控制,进而能够实现预

数字集成电路物理设计阶段的低功耗技术

数字集成电路物理设计阶段的低功耗技术 张小花(200XXXXXXXX) 2011年六月 摘要:通过一个图像处理SoC的设计实例,着重讨论在物理设计阶段降低CMOS功耗的方法。该方法首先调整 PAD摆放位置、调整宏单元摆放位置、优化电源规划,得到一个低电压压降版图,间接降低CMOS功耗;接着,通过规划开关活动率文件与设置功耗优化指令,直接降低CMOS功耗。最终实验结果表明此方法使CMOS功耗降低了 10.92%。基于该设计流程的图像处理SoC已经通过ATE设备的测试,并且其功耗满足预期目标。 关键词: 集成电路; 物理设计; 电压降; 低功耗 Digital integrated circuit physical design phase of the low power technology luo jiang nan(2008102041) June, 2011 Abstract: through a image processing of SoC design examples, the paper discuss the physical design stage reduce power consumption method. CMOS This method firstly PAD put the position, adjusting adjustment macro unit put the position, optimizing power planning, get a low voltage pressure drop, reduce the power consumption of the CMOS indirect territory; Then, through the planning activities rate documents and set switch power optimization, reduce the power consumption of the CMOS setup instructions directly. Finally the experimental results show that the method that CMOS power consumption was reduced by 10.92%. Based on the design process of the image processing has been through the ATE the SoC test equipment, and its power consumption to meet expectations. Keywords: IC; physical design; voltage drop; low power consumption 1 引言 随着集成电路规模的扩大以及便携式和嵌入式应用需求的增长,低功耗数字集成电路设计技术日益受到重视,已成为集成电路设计的研究热点.通常低功耗设计技术包括三个方面:设计中的低功耗技术、封装的低功耗技术和运行管理的低功耗技术.其中设计中的低功耗技术包括前端设计阶段的 体系结构级低功耗技术、RTL级低功耗技术、门级低功耗技术和物理设计阶段的低功耗 技术.

一种低功耗系统芯片的实现流程

一种低功耗系统芯片的实现流程 一种低功耗系统芯片的实现流程 0引言 随着CMOS半导体工艺的进步,集成电路进入系统芯片(System on Chip,SoC)设计时代,极大地提高了集成度和时钟频率,导致芯片的功耗急剧增加。功耗成为集成电路设计中除面积和时序之外的又一个重要因素,因此低功耗设计成为学术界和产业界关注的焦点。低功耗技术的引入,给芯片的设计和实现提出了新的挑战。这些挑战包括电压域的划分、EDA工具之间数据的交换和管理等。本文基于IEEEl801标准Uni-fied Power Format(UPF),采用Synopsys和Mentor Graphics的EDA工具实现了包括可测性设计在内的“从RTL到GDSII”的完整低功耗流程设计。本论文第1部分描述了低功耗技术和术语。第2部分描述了本文设计的系统芯片的情况。第3部分描述了整个设计的流程和采用的EDA 工具。第4部分为总结。 1低功耗技术数字CMOS电路的功耗主要有三个来源,分别是开关功耗Pswitching、短路功耗Pshort-circuit和泄漏功耗Pleakage,分为动态功耗(Psw itching+Pshort-circuit)和静态功耗(Pleakage)两大类,如式(1)所示。其中,α是开关活动因子,CL是有效电容,VDD是工作电压,fclk是时钟频率,ISC是平均短路电流,Ileak是平均漏电流。目前提出了各种降低功耗的方法,主流的技术有门控时钟(Clock-Gating)、多阈值电压(Multi-threshold),先进的技术包括多电压

(Mulit-Voltage,MV)电源关断(MTCMOS Pwr Gating)、多电压和带状态保持功能的电源关断(MV&Pwr Gating with State Retention)、低电压待机(Low-VDD Stan-dby)、动态或自适应电压和频率调整(Dynamic or Adaptive Voltage&Frequency Scaling,DVS、DVFS、AVS、AVFS)、阱偏置(Well Biasing,VTCMOS)等。为了实现这些技术,需要在设计的时候划分电压域(Power Domain,PD),组成不同的工作模式(Power Mode,PM)和加入特殊器件,比如电源关断器件(Power Switches)、电平转换器件(Level Shifter,LS)、隔离器件(Isolation Cell)和状态保持器件(State Ret-ention Cell)等。在本文的芯片设计中采用了门控时钟、多电压和电源关断技术。 2本次设计的概括本文的芯片设计,有4万个寄存器、20万逻辑门,共分七个电压域,PD TOP(顶层)、PD1、PD2、PD3、PD4、PD5和PD6,其中PD6工作在1.2V,其余的工作在1.8V。在正常工作模式下有三种电压模式,分别为PM1(PD1关断,其余开启)、PM2(PD TOP和PD1开启,其余关断)和PM3(PD TOP开启,其余关断)。电源关断器件和隔离器件的使能信号(ps en和iso en)由处于常开区PD TOP的功耗模式控制器(PMC)产生。 3低功耗设计流程,每个关断电压域的输出要插入隔离器件,以防止该电压域电源关断后输出的不定态影响别的电压域正常工作,由于PD6的工作电压是1.2V,其余的是1.8V,因此要在PD6的输入和输出插入电平转换器件。这些低功耗的设计意图写入UPF文件,EDA工具根据

PST72XX超低功耗高压500mA稳压芯片

PST72XX Series 0.5A Low Power LDO Features ●Low voltage drop:0.17V@100mA ●High input voltage:15V ●Low temperature coefficient ●Large Output Current:>0.5A ●Low Quiescent Current:1.0uA ●Output voltage accuracy:tolerance±2%●Built-in current limiter ●SOT89,SOT89-5,SOT23-3and SOT23-5 packages Applications ●Battery-powered equipment ●Hand-Hold Equipment ●GRS Receivers ●Wireless LAN General Description The PST72XX series is a group of positive voltage output,three-pin regulators,that provide a high current even when the input/output voltage differential is small.Low power consumption and high accuracy is achieved through CMOS and laser trimming technologies.The consists of a high-precision voltage reference,an error amplification circuit,and a current limited output driver.Transient response to load variations have improved in comparison to the existing series.SOT89,SOT89-5,SOT23-3 and SOT23-5packages are available. Selection Table Part No.Output Voltage Package Marking PST7218xx 1.8V SOT89 SOT89-5 SOT23 SOT23-5 SOT23-5B Refer to Marking rule 7228xx 2.8V 7230xx 3.0V 7233xx 3.3V 7236xx 3.6V 7240xx 4.0V 7245xx 4.5V 7250xx 5.0V Order Information PST72①②③④ Designator Symbol Description 1②Integer Output Voltage(1.8~5.0V) ③ P Package:SOT89 P5Package:SOT89-5 M Package:SOT23-3 M5Package:SOT23-5 M5B Package:SOT23-5B ④R RoHS/Pb Free G Halogen Free PST72XX PST PST PST PST PST PST PST

大规模集成电路应用

《大规模集成电路应用》论文姓名:谭宇 学号: 20104665 学院: 计算机与信息工程学院 专业班级: 自动化3班

大规模集成电路的体会 摘要:信息飞速发展时代,半导体、晶体管等已广泛应用,大规模集成电路也 成为必要性的技术,集成电路诞生以来,经历了小规模(SSI)、中规模(MSI)、大规模(LSI)的发展过程,目前已进入超大规模(VLSI)和甚大规模集成电路(ULSI)阶段,进入片上系统(SOC)的时代。 关键字:大规模集成;必要性;体会; 1 大规模集成的重要性 集成电路产业是衡量一个国家综合实力的重要重要指标。而这个庞大的产业主要由集成电路的设计、芯片、封装和测试构成。在这个集成电路生产的整个过程中,集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。如:集成电路设计原型的验证测试、晶圆片测试、封装成品测试,只有通过了全部测试合格的集成电路才可能作为合格产品出厂,测试是保证产品质量的重要环节。 集成电路测试是伴随着集成电路的发展而发展的,它为集成电路的进步做出了巨大贡献。我国的集成电路自动测试系统起步较晚,虽有一定的发展,但与国外的同类产品相比技术水平上还有很大的差距,特别是在一些关键技术上难以实现突破。国内使用的高端大型自动测试系统,几乎是被国外产品垄断。市场上各种型号国产集成电路测试,中小规模占到80%。大规模集成电路测试系统由于稳定性、实用性、价格等因素导致没有实用化。大规模/超大规模集成电路测试系统主要依靠进口满足国内的科研、生产与应用测试,我国急需自主创新的大规模集成电路测试技术,因此,本文对集成电路测试技术进行了总结和分析。 2 集成电路测试的必要性 随着集成电路应用领域扩大,大量用于各种整机系统中。在系统中集成电路往往作为关键器件使用,其质量和性能的好坏直接影响到了系统稳定性和可靠性。 如何检测故障剔除次品是芯片生产厂商不得不面对的一个问题,良好的测试流程,可以使不良品在投放市场之前就已经被淘汰,这对于提高产品质量,建立生产销售的良性循环,树立企业的良好形象都是至关重要的。次品的损失成本可以在合格产品的售价里得到相应的补偿,所以应寻求的是质量和经济的相互制衡,以最小的成本满足用户的需要。 作为一种电子产品,所有的芯片不可避免的出现各类故障,可能包括:1.固定型故障;2.跳变故障;3.时延故障;4.开路短路故障;5桥接故障,等等。测试的作用是检验芯片是否存在问题,测试工程师进行失效分析,提出修改建议,从工程角度来讲,测试包括了验证测试和生产测试两个主要的阶段。 一款新的集成电路芯片被设计并生产出来,首先必须接受验证测试。在这一阶段,将会进行功能测试、以及全面的交流(AC)参数和直流(DC)参数的测试等,也可能会探测芯片的内部结构。通常会得出一个完整的验证测试信息,如芯片的工艺特征描述、电气特征(DC参数、AC参数、电容、漏电、温度等测试条件)、时序关系图等等。通过验证测试中的参数测试、功能性测试、结构性测试,可以诊断和修改系统设计、逻辑设计和物理设计中的设计错误,为最终规范(产品手册)测量出芯片的各种电气参数,并开发出测试流程。 当芯片的设计方案通过了验证测试,进入生产阶段之后,将利用前一阶段设

数字集成电路低功耗分析

数字集成电路低功耗分析 摘要: 电子产品功耗的大小不仅限制了便携设备电池使用时间,也在一定程度上影响着设备性能。研究如何降低功耗己经成为所有IC设计者必须考虑的重要问题,对功耗的优化也是目前每个IC设计企业的必要环节。本文主要对数字集成电路功耗的优化方法进行了分析,分别从工艺级、电路级、版图级、门级、寄存器级、算法级和系统级分析了低功耗的优化方法。 关键词:低功耗;集成电路;优化 引言: 随着移动设备快速大量的增加和芯片处理速度的提高,芯片的功耗己成为集成电路设计者必须考虑的重要问题,于此同时对芯片的整体性能评估己经由原来的面积和速度变成了面积、时序、可测性和功耗的综合考虑,而且功耗所占的比重越来越大。 低功耗技术的研究背景: 集成电路是一个二十世纪发展起来的高技术产业,也是二十一世纪世界进入信息化社会的前提和基础。在1958年德克萨斯仪器公司生产出第一块集成电路,集成电路产业就一直保持着快速的发展速度,处在数字化和信息化时代的今天,数字集成电路的应用和改进显得尤为重要,从电子管到晶体管再到中小规模集成电路和超大规模集成电路,到现在市场上主流的专用集成电路(ASIC),以及现处于快速发展的系统级芯片,数字集成电路始终朝着速度更快,集成度更高,

规模更大的方向不断发展。从目前状况来看,数字集成电路基本上仍然遵循摩尔定律来发展—集成度几乎每18个月增长一倍。但是随着芯片规模的不断扩大,功耗问题变得越来越突出,并且成为制约数字集成电路发展的重要因素。长期以来,面积最小化和处理的高速度是数字集成电路设计中最主要的问题。现在,因为新的IC技术工艺的使用和集成度越来越高,降低芯片功耗逐渐成为了非常重要的一个因素。在亚微米和深亚微米的技术中,由于能量消耗而产生的余热使电路中的某些功能受到了不同程度的影响。功耗的增加意味着电迁移率的增加。当芯片温度上达到一定的程度时,电路就无法正常工作,因此复杂系统的性能就会被严重的影响到,并且整个系统的可靠性将会降低,尤其对于要求具有长生命周期和高可靠性的电子产品来说,降低功耗是必然的选择。从产品市场需求来看,近年来依靠电池供电的数码产品的大量使用如便携电脑、移动通讯工具等,这些产品的功耗严重影响着用户的使用体验,为了使产品具有更长的使用时间,迫切需要降低产品功耗。目前,功耗的优化方法有很多种,也越来越具有针对性,但大体思路都是通过降低工作电压和工作频率、减少计算量等方法来实数字集成电路的功耗优化。数字集成电路低功耗优化的下一个研究方向是结合多个层次的功耗分析及优化方法。 数字集成电路低功耗优化方法: 低功耗设计技术大致可以分为两类:动态技术和静态技术。静态技术是指从系统构造、工作原理方面入手,降低系统功耗,如选用低功耗器件,采用异步电路体系设计等。而动态技术则是通过改变系统

UM1550系列超低功耗LDO

超低功耗、低压差、小封装LDO 上海英联电子科技有限公司杨永华徐宁一、前言 传统的LDO功耗较大,静态工作电流在100uA左右。对于电池供电的设备,由于大部分时间处于休眠状态,MCU的工作电流仅为几微安,传统LDO的功耗显然不能满足设计要求。 上海英联电子采用低功耗的CMOS工艺,推出了UM1550、UM1560系列,8V静态工作电流仅为2.5uA(V IN=8V),输入电压范围很宽,1.8V~ 8V,输出电流可达250mA。1.8V的超低输入电压,250mV的低压差(I OUT=200mA)可最大限度的使用电池。该系列产品可用于电池供电和电源供电两种模式,为客户省去一个LDO,最小封装仅为DFN 1mmX1mm,降低成本、节省空间、延长电池的使用寿命。 二、UM1550、UM1560的重要参数 英联的UM1550、UM1560系列是超低静态工作电流的电压稳压器,可使用1μF以上的陶瓷电容器作为输出电容。输入电压范围:1.8V~8V,输出电压范围为1.2V~5V。 UM1550系列提供两种封装供客户选择,SOT23-3、SOT89-3、DFN 1X1、DFN 2X2,与市面同类型芯片兼容。UM1560系列带有使能管脚,封装为SOT23-5、DFN 1X1、DFN 2X2。其主要参数如表1所示: 表1 特性参数表 Symbol Parameter Test conditions Min Typ Max Unit V IN Input Voltage Range 1.8 8 V V OUT Output Voltage Range 1.2 5.0 V I Q Quiescent Current I OUT=0mA,V IN=8.0V 2.5 3.5 μA △V DO Dropout Voltage IOUT=200mA 250 330 mV V IH SHDN Input Hi gh Voltage VIN=1.8V to 8V 1.2 I SHDN SHDN Input Current SHDN=VIN or GND 1 μA I OUT Output C urrent 250 mA I LIIMT Current Limit R L=1Ω 280 360 500 mA 1、静态电流Iq 静态电流为输出电流与输如电流的差,LDO的效率与输入、输出电压和静态工作电流有关。效率可由以下公式算出: 效率=Vo×Io (Io+Iq)×Vin×100% 由公式可看出,当LDO处于轻负载情况下,静态电流就显得尤为重要,Iq值越小,效率越高。图1为UM1550、UM1560系列LDO在不同输入电压情况下的Iq值。

集成电路技术及其发展趋势

集成电路技术及其发展趋势 摘要目前,以集成电路为核心的电子产业已超过以汽车、石油、钢铁为代表的传统工业成为第一大产业,成为改造和拉动传统产业迈向数字时代的强大引擎和雄厚基石。作为当今世界竞争的焦点,拥有自主知识产权的集成电路已日益成为经济发展的命脉、社会进步的基础、国际竞争的筹码和国家安全的保障。 关键词集成电路系统集成晶体管数字技术

第一章绪论 1947年12月16日,基于John Bardeen提出的表面态理论、Willianm Shockley给出的放大器基本设想以及Walter Brattain设计的实验,美国贝尔实验室第一次观测到具有放大作用的晶体管。1958年12月12日,美国德州仪器公司的Jack 发明了全世界第一片集成电路。这两项发明为微电子技术奠定了重要的里程碑,使人类社会进入到一个以微电子技术为基础、以集成电路为根本的信息时代。50多年来,集成电路已经广泛地应用于军事、民用各行各业、各个领域的各种电子设备中,如计算机、手机、DVD、电视、汽车、医疗设备、办公电器、太空飞船、武器装备等。集成电路的发展水平已经成为衡量一个国家现代化水平和综合实力的重要标志[1]。 现代社会是高度电子化的社会。在日常生活中,小到电视机、计算机、手机等电子产品,大到航空航天、星际飞行、医疗卫生、交通运输等行业的大型设备,几乎都离不开电路系统的应用。构成电路系统的基本元素为电阻、电容、晶体管等元器件。早期的电路系统是将分立的元器件按照电路要求,在印刷电路板上通过导线连接实现的。由于分立元件的尺寸限制,在一块印刷电路板上可容纳的元器件数量有限。因此,由分立元器件在印刷电路板上构成的电路系统的规模受到限制。同时,这种电路还存在体积大、可靠性低及功耗高等问题。 半导体集成电路是通过一系列特定的加工工艺,将晶体管、二极管等有源器件和电阻、电容等无源器件,按照一定的电路规则,互连“集成”在一块半导体单晶片上。封装在一个外壳内,执行特定的电路或系统功能。与印刷电路板上电路系统的集成不同,在半导体集成电路中,构成电路系统的所有元器件及其连线是制作在同一块半导体材料上的,材料、工艺、器件、电路、系统、算法等知识的有机“集成”,使得电路系统在规模、速度、可靠性和功耗等性能上具有不可比拟的优点,已经广泛的应用于日常生活中。半导体集成电路技术推动了电子产品的小型化、信息化和智能化进程。它彻底改变了人类的生活方式,成为支撑现代化发展的基石[2]。 1959年,英特尔(Intel)的始创人,Jean Hoerni 和Robert Noyce,在Fairchild Semiconductor开发出一种崭新的平面科技,令人们能在硅威化表面铺上不同的物料来制作晶体管,以及在连接处铺上一层氧化物作保护。这项技术上的突破取代了以往的人手焊接。而以硅取代锗使集成电路的成本大为下降,令

中南大学大规模集成电路考试及答案合集

中南大学大规模集成电路考试及答案合集

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---○---○ --- 学 院 专业班级 学 号 姓 名 ………… 评卷密封线 ……………… 密封线内不要答题,密封线外不准填写考生信息,违者考试成绩按0分处理 ……………… 评卷密封 中南大学考试试卷 时间110分钟 题 号 一 二 三 合 计 得 分 评卷人 2013 ~2014 学年一学期大规模集成电路设计课程试题 32 学时,开卷,总分100分,占总评成绩70 % 一、填空题(本题40分,每个空格1分) 1. 所谓集成电路,是指采用 ,把一个电路中 所需的二极管、 、电阻、电容和电感等元件连同它们之间的电气连线在一块或几块很小的 或介质基片上一同制作出来,形成完整电路,然后 在一个管壳内,成为具有特定电路功能的微型结构。 2. 请写出以下与集成电路相关的专业术语缩写的英文全称: ASIC : ASSP : LSI : 3. 同时减小 、 与 ,可在保持漏源间电流不变的前提下减小器件面积,提高电路集成度。因此,缩短MOSFET 尺寸是VLSI 发展的趋势。 4. 大规模集成电路的设计流程包括:需求分析、 设计、体系结构设计、功能设计、 设计、可测性设计、 设计等。 5. 需求规格详细描述系统顾客或用户所关心的内容,包括 及必须满足的 。系统规格定义系统边界及系统与环境相互作用的信息,在这个规格中,系统以 的方式体现出来。 6. 根据硬件化的目的(高性能化、小型化、低功耗化、降低成本、知识产权保护等)、系统规模/性能、 、 、 等确定实现方法。 7. 体系结构设计的三要素为: 、 、 。 8. 高位综合是指从 描述自动生成 描述的过程。与人工设计相比,高位综合不仅可以尽可能地缩短 ,而且可以生成在面积、性能、功耗等方面表现出色的电路。 9. 逻辑综合就是将 变换为 ,根据 或 进行最优化,并进行特定工艺单元库 的过程。 10. 逻辑综合在推断RTL 部品时,将值的变化通过时钟触发的信号推断为 , 得 分 评卷人

对半导体技术、微电子技术、集成电路技术三者的浅略认识

对半导体技术、微电子技术、集成电路技术三者的浅略认识 一、半导体技术、微电子技术、集成电路技术三者的联系与区别 我们首先从三者的概念或定义上来分别了解一下这三种技术。 半导体技术就是以半导体为材料,制作成组件及集成电路的技术。在电子信息方面,绝大多数的电子组件都是以硅为基材做成的,因此电子产业又称为半导体产业。半导体技术最大的应用便是集成电路,它们被用来发挥各式各样的控制功能,犹如人体中的大脑与神经。 微电子技术是随着集成电路,尤其是超大型规模集成电路而发展起来的一门新的技术,是建立在以集成电路为核心的各种半导体器件基础上的高新电子技术,为微电子学中的各项工艺技术的总和。 集成电路技术,在电子学中是一种把电路小型化的技术。采用一定的工艺,把一个电路中所需的各种电子元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。(以上三者概念均来源于网络)这般看来,三者概念上互相交叉,却也略有区别。依我这个初次接触这三个名词、对电子信息几乎一窍不通的大一新生来看,半导体技术是其他二者技术的基础,因为半导体是承载整个电子信息的基石,不管是微电子还是集成电路,便是以半导体为材料才可以建造、发展。而微电子技术,个人感觉比较广泛,甚至集成电路技术可以包含在微电子技术里。除此之外,诸如小型元件,如纳米级电子元件制造技术,都可以归为微电子技术。而集成电路技术概念上比较狭窄,单单只把电路小型化、集成化技术,上面列举的小型元件制造,便不能归为集成电路技术,但可以归为微电子技术。以上便是鄙人对三者概念上、应用上联系与区别的区区之见,如有错误之处还望谅解。 二、对集成电路技术的详细介绍 首先我们了解一下什么是集成电路。 集成电路是一种微型电子器件或部件。人们采用一定的工艺,把一个电路中所需的各种元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。集成电路具有体积小,重量轻,引出线和焊接点少,寿命长,可靠性高,性能好等优点,同时成本低,便于大规模生产。 而简单来说,集成电路技术便是制造集成电路的技术方法。它涉及半导体器件物理、微电子学、电子学、无线电、光学以及信息学等学科领域的知识。 从产业分工角度,集成电路技术可以分为集成电路加工技术、集成电路测试封装技术以及集成电路设计技术等几方面。 1. 集成电路加工技术 集成电路加工技术主要是通过物理或化学手段在硅材料上生成半导体器件(比如场效应管)以及器件之间的物理互连。这些器件以及器件之间的互连构成的电路功能要符合系统设计要求。集成电路加工技术涉及的知识包括半导体器件物理、精密仪器、光学等领域,具体应用在工艺流程中,包括注入、掺杂、器件模型、工艺偏差模型、成品率分析以及工艺过程设计等。在近十几年的时间里,集成电路加工工艺水平一直按照摩尔(Moore)定律在快速发展。 2.集成电路测试、封装技术 集成电路测试包括完成在硅基上产生符合功能要求的电路后对裸片硅的功能和性能的

常用低功耗设计

随着半导体工艺的飞速发展和芯片工作频率的提高,芯片的功耗迅速增加,而功耗增加又将导致芯片发热量的增大和可靠性的下降。因此,功耗已经成为深亚微米集成电路设计中的一个非常重要的考虑因素。为了使产品更具有竞争力,工业界对芯片设计的要求已从单纯的追求高性能、小面积,转换为对性能、面积、功耗的综合要求。微处理器作为数字系统的核心部件,其低功耗设计对降低整个系统的功耗具有非常重要的意义。 本文首先介绍了微处理器的功耗来源,重点介绍了常用的低功耗设计技术,并对今后低功耗微处理器设计的研究方向进行了展望。 1 微处理器的功耗来源 研究微处理器的低功耗设计技术,首先必须了解其功耗来源。高层次仿真得出的结论如图1所示。 从图1中可以看出,时钟单元(Clock)功耗最高,因为时钟单元有时钟发生器、时钟驱动、时钟树和钟控单元的时钟负载;数据通路(Datapath)是仅次于时钟单元的部分,其功耗主要来自运算单元、总线和寄存器堆。除了上述两部分,还有存储单元(Mem ory),控制部分和输入/输出 (Control,I/O)。存储单元的功耗与容量相关。 如图2所示,C MOS电路功耗主要由3部分组成:电路电容充放电引起的动态功耗,结反偏时漏电流引起的功耗和短路电流引起的功耗。其中,动态功耗是最主要的,占了总功耗的90%以上,表达式如下: 式中:f为时钟频率,C1为节点电容,α为节点的翻转概率,Vdd为工作电压。

2 常用的低功耗设计技术 低功耗设计足一个复杂的综合性课题。就流程而言,包括功耗建模、评估以及优化等;就设计抽象层次而言,包括自系统级至版图级的所有抽象层次。同时,功耗优化与系统速度和面积等指标的优化密切相关,需要折中考虑。下面讨论常用的低功耗设计技术。 2.1 动态电压调节 由式(1)可知,动态功耗与工作电压的平方成正比,功耗将随着工作电压的降低以二次方的速度降低,因此降低工作电压是降低功耗的有力措施。但是,仅仅降低工作电压会导致传播延迟加大,执行时间变长。然而,系统负载是随时间变化的,因此并不需要微处理器所有时刻都保持高性能。动态电压调节DVS (Dynarnic Voltage Scaling)技术降低功耗的主要思路是根据芯片工作状态改变功耗管理模式,从而在保证性能的基础上降低功耗。在不同模式下,工作电压可以进行调整。为了精确地控制DVS,需要采用电压调度模块来实时改变工作电压,电压调度模块通过分析当前和过去状态下系统工作情况的不同来预测电路的工作负荷。 2.2 门控时钟和可变频率时钟 如图1所示,在微处理器中,很大一部分功耗来自时钟。时钟是惟一在所有时间都充放电的信号,而且很多情况下引起不必要的门的翻转,因此降低时钟的开关活动性将对降低整个系统的功耗产牛很大的影响。门控时钟包括门控逻辑模块时钟和门控寄存器时钟。门控逻辑模块时钟对时钟网络进行划分,如果在当前的时钟周期内,系统没有用到某些逻辑模块,则暂时切断这些模块的时钟信号,从而明显地降低开关功耗。图3为采用“与”门实现的时钟控制电路。门控寄存器时钟的原理是当寄存器保持数据时,关闭寄存器时钟,以降低功耗。然而,门控时钟易引起毛刺,必须对信号的时序加以严格限制,并对其进行仔细的时序验证。 另一种常用的时钟技术就是可变频率时钟。根据系统性能要求,配置适当的时钟频率,避免不必要的功耗。门控时钟实际上是可变频率时钟的一种极限情况(即只有零和最高频率两种值),因此,可变频率时钟比门控时钟技术更加有效,但需要系统内嵌时钟产生模块PLL,增加了设计复杂度。去年Intel公司推出的采用先进动态功耗控制技术的Montecito处理器,就利用了变频时钟系统。该芯片内嵌一个高精度数字电流表,利用封装上的微小电压降计算总电流;通过内嵌的一个32位微处理器来调整主频,达到64级动态功耗调整的目的,大大降低了功耗。

大规模集成电路设计答案(1)

`CMOS反相器电路图、版图、剖面图

CMOS的广泛使用,是由于解决了latch-up效应 Latch-up效应解释、原理、解决方法(略) 避免栅锁效应方法:用金掺杂或中子辐射,降低少数载流子寿命;深阱结构或高能量注入形成倒退阱;将器件制作于高掺杂衬底上的低掺杂外延层中;沟槽隔离。 在基体(substrate)上改变金属的掺杂,降低BJT的增益 ?避免source和drain的正向偏压 ?增加一个轻掺杂的layer在重掺杂的基体上,阻止侧面电流从垂直BJT到低阻基体上的通路 ?使用Guard ring: P+ ring环绕nmos并接GND;N+ ring环绕pmos 并接VDD,一方面可以降低Rwell和Rsub的阻值,另一方面可阻止栽子到达BJT的基极。如果可能,可再增加两圈ring。 ? Substrate contact和well contact应尽量靠近source,以降低Rwell和Rsub的阻值。?使nmos尽量靠近GND,pmos尽量靠近VDD,保持足够的距离在pmos 和nmos之间以降低引发SCR的可能 ?除在I/O处需采取防Latch up的措施外,凡接I/O的内部mos 也应圈guard ring。? I/O处尽量不使用pmos(nwell) 门级电路图(AOI221) AOI221=(AB+CD+E)’

伪NMOS: 伪NMOS的下拉网络和静态门的下拉网络相似,上拉网络是用一个PMOS管,且此管输入接地,因此PMOS管总是导通的。 动态电路: 动态电路用一个时钟控制的PMOS管取代了总是导通的PMOS管,克服了有比电路的缺点。动态电路速度快,输入负载小,切换时不存在竞争电流,而且动态电路没有静态功耗。 动态电路存在的根本性问题就是对输入单调性的要求。 多米诺电路: 多米诺电路由一级动态门和一级静态CMOS反相器构成。典型结构: 下拉网络+上拉预充值网络+反相器构成 过程就是充值+求值的过程 在多米诺电路中,所有门的预充、求值都可以用一个时钟控制。求值期间,动态门的输出单调下降,所以静态反相器的输出单调上升。多米诺电路是同时进行预充,但求值是串行的。逻辑功效(logic effort) 逻辑功效定义为门的输入电容与能够提供相同输出电流的反相器的输入电容的比值。也就是说逻辑功效表示某个门在产生输出电流时相比反相器的糟糕程度。逻辑功效不仅使我们能容易计算时延,它也向我们展示了如何确定晶体管的尺寸以优化路径中的延时。

超低功耗控制电路及程序设计思路

浅谈低功耗控制电路和程序设计思路 一:首先了解芯片的内部功耗 芯片制作完整过程包括芯片设计、晶片制作、封装制作、成本测试等几个环节,其中晶片片制作过程尤为的复杂。首先是芯片设计,根据设计的需求,生成的"图样"开发一个手持设备,有一个设计重点问题是必须要重视和解决的。那就是在待机状态下如何做到最省电,即在待机状态下如何做到尽可能的低功耗,比如用芯唐科技的Cortex-M0内核的NUC100做手持电台的开发, 1、首先要了解的就是该芯片在深度休眠或睡眠模式下功耗是多少(即该模式下的工作电流时多大,注一般的芯片都是uA级别的)。 通过查看NUC100芯片资料(在每个芯片手册电气特性或DC电气特性一节会有说明)了解到该芯片的工作最大电流(体积小、低功耗、效率高、低闸极数、指令精简的处理器,8位机价格,32位机效能,C-语言,与Cortex-M3开发工具以及二进制程序代码兼容,便利的开发环境Keil?RVMDK和IAR EWARM,180uLL制程并运用ARM标准单元资源库,低闸极数的空间内,功耗低到85microwatts/MHz以下,NUC1xx系列包括:NUC100/ NUC120/NUC130/NUC140,NUC100Cortex?-M0内核系列最高可运行至50MHz外部时钟。)和深度休眠模式下的最低功耗(最低功耗有Ipwd1,Ipwd2,Ipwd3,Ipwd4,表示NUC100内部的模块工作需要外部提供四个VDD接口,计算功耗时要把他们累加起来,这里给出了每个VDD接口的休眠模式下最低功耗值,当然如果芯片可以关闭某个模块的对应的VDD,那就可以降低更多不必要的功耗了)

《超大规模集成电路设计》考试习题(含答案)完整版分析

1.集成电路的发展过程经历了哪些发展阶段?划分集成电路的标准是什么? 集成电路的发展过程: ?小规模集成电路(Small Scale IC,SSI) ?中规模集成电路(Medium Scale IC,MSI) ?大规模集成电路(Large Scale IC,LSI) ?超大规模集成电路(Very Large Scale IC,VLSI) ?特大规模集成电路(Ultra Large Scale IC,ULSI) ?巨大规模集成电路(Gigantic Scale IC,GSI) 划分集成电路规模的标准 2.超大规模集成电路有哪些优点? 1. 降低生产成本 VLSI减少了体积和重量等,可靠性成万倍提高,功耗成万倍减少. 2.提高工作速度 VLSI内部连线很短,缩短了延迟时间.加工的技术越来越精细.电路工作速度的提高,主要是依靠减少尺寸获得. 3. 降低功耗 芯片内部电路尺寸小,连线短,分布电容小,驱动电路所需的功率下降. 4. 简化逻辑电路 芯片内部电路受干扰小,电路可简化. 5.优越的可靠性 采用VLSI后,元件数目和外部的接触点都大为减少,可靠性得到很大提高。 6.体积小重量轻 7.缩短电子产品的设计和组装周期 一片VLSI组件可以代替大量的元器件,组装工作极大的节省,生产线被压缩,加快了生产速度. 3.简述双阱CMOS工艺制作CMOS反相器的工艺流程过程。 1、形成N阱 2、形成P阱 3、推阱 4、形成场隔离区 5、形成多晶硅栅 6、形成硅化物 7、形成N管源漏区 8、形成P管源漏区 9、形成接触孔10、形成第一层金属11、形成第一层金属12、形成穿通接触孔13、形成第二层金属14、合金15、形成钝化层16、测试、封装,完成集成电路的制造工艺 4.在VLSI设计中,对互连线的要求和可能的互连线材料是什么? 互连线的要求 低电阻值:产生的电压降最小;信号传输延时最小(RC时间常数最小化) 与器件之间的接触电阻低 长期可靠工作 可能的互连线材料 金属(低电阻率),多晶硅(中等电阻率),高掺杂区的硅(注入或扩散)(中等电阻率)

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