制程能力CPK&PPK
CPK的含义
Cpk值的计算公式
Cpk=Cp(1－︱Ca︱)
式中：
Cp(Capability of Preof Accuracy) — 制程准确度。
注：计算Cpk时，取样数据至少应有20组数据，方具有一定代表性。
.
Cpk等级评定及处理原则
.
与Cpk值相关的几个重要概念
.
Minitab 15的应用
6.双击鼠标左键选择C1，填入“规格下限”和“规格上限”，然后点击” 确定”
.
.
Thanks
.
1.点击如图示，启动Minitab：
.
Minitab 15的应用
2.选择“文件”，点击“选择工作表”;
.
Minitab 15的应用
3.选择计算实例资料，点击“打开”；
.
Minitab 15的应用
4.打开之后得到：
.
Minitab 15的应用
→ 5.点击“统计” →“质量工具” →“能力分析” “组间/组内”；
(x1x)2(x2x)2...(xnx)2
n1
.
与Cpk值相关的几个重要概念
Ca (Capability of Accuracy)：制程准确度； Ca 在衡量“实际平均值“与“规格中心值”之一致性； ①对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca； ②对于双边规格:
Ca
(x U) T
2
单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限或
规格中心的规格；如考试成绩不得低80分，或浮高不得超过 0.5mm等；此时数据越接近上限或下限越好；
双边规格：有上下限与中心值,而上下限与中心值对称
的规格；此时数据越接近中心值越好；如600x600规格的仿古 砖厚度9.5±0.4mm；
什么是CPK
编辑词条CPKCPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。
制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。
制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。
当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。
CPK值越大表示品质越佳。
CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ，计算出制程准确度：Ca值9. 依据公式：Cp =T/6 ，计算出制程精密度：Cp值10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ，计算出制程能力指数：Cpk值11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 ＞Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级1.67 ＞Cpk ≥ 1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B 级1.33 ＞Cpk ≥ 1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 ＞Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多，必须提升其能力D 级0.67 ＞Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
制程能力CPK PPK
制程能力分析制程能力研究在于确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水平之上，作为制程持续改善的依据。
制程能力研究的时机分短期制程能力研究及长期制程能力研究，短期着重在新产品及新制程的试作、初期生产、工程变更或制程设备改变等阶段；长期以量产期间为主。
制程能力指标 C p 或 Cp k 之值在一产品或制程特性分配为常态且在管制状态下时，可经由常态分配之机率计算，换算为该产品或制程特性的良率或不良率，同时亦可以几 Si gma来对照。
计数值统计数据的数量表示缺点及不良(Def ects VS. De fect ives)缺点代表一单位产品不符要求的点数，一单位产品不良可能有一个缺点或多个缺点，此为计点的质量指针。
例如描述一匹布或一铸件的质量，可用每公尺棉布有几个疵点，一铸件表面有几个气孔或砂眼来表达，无尘室中每立方公尺含微粒之个数，一片PC B有几个零件及几个焊点有缺点，一片按键有几个杂质、包风、印刷等缺点，这些都是以计点方式表示一单位产品的特性值。
不良代表一单位产品有不符要求的缺点，可能有一个或一个以上，此将产品分类为好与坏、良与不良及合格与不合格等所谓的通过－不通过(Go-No Go)的衡量方式称为计件的质量指针。
例如单位产品必须以二分法来判定质量，不良的单位产品必须报废或重修，这是以计件方式来表示一单位产品的特值。
每单位缺点数及每百万机会缺点数(DPU VS. DPMO)一单位产品或制程的复杂程度与其发生缺点的机会有直接的关系，越复杂容易出现缺点；反之越简单越不容易出现缺点。
因此，以每单位缺点数(DP U)来比较复杂程度不同的产品或制程质量是不公平的，在管理上必须增加一个衡量产品或制程复杂程度的指标，Six Sig ma 以发生缺点的机会(Opp ort uni tie s)来衡量。
DPU 是代表每件产品或制程平均有几个缺点，而D PMO 是每检查一百万个机会点平均有几个缺点。
CPK是制程能力指数
CPK是制程能力指数:反映設備(模具)的穩定性和可靠性,根據加工成形產品尺寸的變差,來驗證設備(模具)的加工能力和改善能力:计算公式是Cpk =(min| x - USL/LS L| )/3δ提高制程Cpk的主要途径是,1提高设备和模具的加工精度,消除制程中的不稳定因素带来的变差,2.加强设备和模具的点检和保养工作及时发现可能会在加工过程中带来的变差3.方法上的改进减少设备,模具的磨损. 提高Cpk只是一种理念,它只是制程过程中的确保品质的前提,但具体的做如何提高Cpk主要还是在工艺的改进和管理办法的改进,失败的案例,“宽放公差标准”。
1.CPK是长期的过程能力，适合于批量生产过程CPK是有偏移情况下的过程能力指数，产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用；2.无偏移时CP表示过程加工的质量能力，CP越大，质量能力越强，有偏移时，CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况，CPK越大，两者偏离越小，表示的是质量能力与管理能力的综合结果。
C系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数，P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数，使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态，而不要求在稳态下才可以进行计算。
3.PPK是短期的过程能力，适合于试生产过程，确定上下控制线，进行现场控制PPK是QS9000提出的一个新概念，物理含义是不论分布在公差范围内任何位置，它对于上规范限都可以计算出一个上单侧过程性能指数PPU和下单侧过程性能指数PPL，取两者之间最小的一个，就是PPK。
4.CMK也是短期的过程能力指数，是针对设备能力的，主要在新采购的设备、设备调试结束后、出现产品质量问题等时候进行cmk测定，它是vda的要求。
2Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
CPK是什么意思
最佳答案 - 由投票者9个月前选出Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；8. 依据公式：，计算出制程准确度：Ca值9. 依据公式：Cp = ，计算出制程精密度：Cp值10. 依据公式：Cpk=Cp ，计算出制程能力指数：Cpk值11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级 Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多，必须提升其能力D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
电子产品中的“CPK”是什么值
电子产品中的"CPK"是什么值CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标。
CPK值越大表示品质越佳。
CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；8. 依据公式：，计算出制程准确度：Ca值9. 依据公式：Cp = ，计算出制程精密度：Cp值10. 依据公式：Cpk=Cp ，计算出制程能力指数：Cpk值11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 ＞Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级1.67 ＞Cpk ≥ 1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B 级1.33 ＞Cpk ≥ 1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 ＞Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多，必须提升其能力D 级0.67 ＞Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
CPK制程能力
参考文件（一）页次:1/5 文件编号：QJC01015-2 版次：1.0
参考文件（一）2/5
参考文件（一）3/5
在双边规格时：
()Zlsl Zusl Min Z LSL
X Zlsl X
USL Zusl ⋅=-=
-=min σ
σ
从上可以知道Z=3×CPK PZUSL=超过上限的不良率 PZLSL=超过下限的不良率 PtotaI=PZUSL+PZLSL
PZUSL&PZLSL 可通过附表（1）予以查出，即可得出CPK 相对应的PPM 。
4．3 CPK 在1.00以下→需要广泛的管制，存在大量的检验、重工和报废。
（成本高、品
质低、生产力受损）
1.00～1.33→品质好转，良性循环。
>1.33z →检验工作可以中止，代之低成本制程监督作业。
CPK 值上升的利益：1．成本减少，包含品质成本，内、外部失败成本。
2．顾客满意→超越规格。
3．缩短交期。
4．进步螺旋。
※存在问题点：
1．人为造成过严的规格界限。
→应符合实用。
2．管理人员坚持改善却没有提供方法。
3．认为减少变异性会增加成本。
4．缺乏优先顺序。
5．拙劣的制造标准。
四、实行CPK 管制的条件：
满足下列条件才可进行制程能力分析： 1．制程处于稳定状态； 2．制程呈常态分布； 3．规格满足客户之要求； 4．设计目标位于规格中心； 5．特殊变异少；
参考文件（一） 4/5
参考文件（一）5/5
附表1计算30控制极限的因数
参考文件（一）6/6。
CPK
CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。
制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。
制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。
当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。
CPK值越大表示品质越佳。
Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系：Cpk = Cp ×( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2；8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ，计算出制程准确度：Ca值(X为所有取样数据的平均值)9. 依据公式：Cp =T/6σ ，计算出制程精密度：Cp值10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ，计算出制程能力指数：Cpk值11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 ＞Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A级1.67 ＞Cpk ≥ 1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B 级1.33 ＞Cpk ≥ 1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 ＞Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多，必须提升其能力D 级0.67 ＞Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
製程能力分析
製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。
製程能力研究的時機分短期製程能力研究及長期製程能力研究，短期著重在新產品及新製程的試作、初期生產、工程變更或製程設備改變等階段；長期以量產期間為主。
製程能力指標 Cp 或 Cpk 之值在一產品或製程特性分配為常態且在管制狀態下時，可經由常態分配之機率計算，換算為該產品或製程特性的良率或不良率，同時亦可以幾 Sigma 來對照。
計數值統計數據的數量表示
缺點及不良(Defects VS. Defectives)
缺點代表一單位產品不符要求的點數，一單位產品不良可能有一個缺點或多個缺點，此為計點的品質指標。
例如描述一匹布或一鑄件的品質，可用每公尺棉布有幾個疵點，一鑄件表面有幾個氣孔或砂眼來表達，無塵室中每立方公尺含微粒之個數，一片PCB有幾個零件及幾個焊點有缺點，一片按鍵有幾個雜質、包風、印刷等缺點，這些都是以計點方式表示一單位產品的特性值。
不良代表一單位產品有不符要求的缺點，可能有一個或一個以上，此將產品分類為好與壞、良與不良及合格與不合格等所謂的通過－不通過(Go-No Go)的衡量方式稱為計件的品質指標。
例如單位產品必須以二分法來判定品質，不良的單位產品必須報廢或重修，這是以計件方式來表示一單位產品的特值。
每單位缺點數及每百萬機會缺點數(DPU VS. DPMO)
一單位產品或製程的複雜程度與其發生缺點的機會有直接的關係，越複雜容易出現缺點；反之越簡單越不容易出現缺點。
因此，以每單位缺點數(DPU)來比較複雜程度不同的產品或製程品質是不公平的，在管理上必須增加一個衡量產品或製程複雜程度的指標，Six Sigma 以發生缺點的機會
(Opportunities)來衡量。
DPU 是代表每件產品或製程平均有幾個缺點，而DPMO 是每檢查一百萬個機會點平均有幾個缺點。
一個機會點代表一產品或製程可能會出現缺點的機會，它可能是一個零件、特性、作業等等。
先進的Six Sigma推廣機構建義下列幾個規則依其複雜程度來計算一個產品或製程出現缺點的機會數(Opportunities)。
單位缺點數 (DPU) ：DPU=總缺點數/總檢驗單位數=Defects/Units
一般產品只要有一個缺點就應視為不良品，但是一個不良品可能有一個以上的缺點，因此以平均每件幾個缺點較能完全表示品質，以DPU（Defects Per Unit）為單位。
DPMO=(總缺點數/總缺點機會數)×106=Defects/(Opportunities/Unit×Units) ×106
一般不同產品的每件檢點數不同，檢點數愈多，出現缺點的機會越多，DPU就可能愈大，以DPU的大小來比較產品品質的好壞似乎不太合理，除非這些產品的複雜程度差不多，因此用總出現缺點的機會數數與總缺點數之比來比較品質會客觀一點，以DPMO（Defects Per Million Opportunities）為單位。
DPU 是代表每件產品或製程平均有幾個缺點，而DPMO 是每檢查一百萬個機會點平均有幾個缺點。
一個機會點代表一產品或製程可能會出現缺點的機會，它可能是一個零件、特性、作業等等。
製程能力指數Ca或ｋ(準確度；Accuracy)：
表示製程特性中心位置的偏移程度，值等於零，即不偏移。
值越大偏移越大，越小偏移越小。
製程準確度Ca(Capability of Accuracy)
標準公式:
簡易公式:
T=USL-LSL=規格上限-規格下限=規格公差
PS.單邊規格 (設計規格) 因沒有規格中心值，故不計算Ca
製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格, 如此方可計算Ca
Ca(k)=(Xbar - μ)/(T/2)=(實績平均值－規格中心值)/ (規格公差／2)
T＝USL－LSL= 規格上限－規格下限 = 規格公差
PS.製程特性定義
單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值，故不計算Ca
製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca
當Ca ＝ 0 時，代表量測製程之實績平均值與規格中心相同；無偏移
當Ca ＝±1 時，代表量測製程之實績平均值與規格上或下限相同；偏移100%
評等參考：Ca值愈小，品質愈佳。
依Ca值大小可分為四級
製程精密度Cp (Capability of Precision)
製程能力指數Cp、Pp、CPU、CPL（精密度；Precision）：表示製程特性的一致性程度，值越大越集中，越小越分散。
或：雙邊能力指數(長期)
：雙邊績效指數(短期)
：單邊上限能力指數
：單邊下限能力指數
USL：特性值之規格上限；即產品特性大於USL在工程上將造成不合格LSL：特性值之規格下限；即產品特性小於LSL在工程上將造成不合格
：製程平均數估計值；即製程目前特性值的中心位置
：製程標準差估計值；即製程目前特性值的一致程度
PS.製程特性定義
單邊規格 (設計規格) 因沒有規格上限或下限
沒有規格下限 Cp ＝ CPU ＝ Cpk
沒有規格上限 Cp ＝ CPL ＝ Cpk
綜合製程能力指數Cpk：
同時考慮偏移及一致程度。
Cpk＝ (1 － k) ｘ Cp 或 MIN {CPU,CPL}
Ppk＝ (1 － k) ｘ Pp 或 MIN {PPU,PPL}
K＝|Ca|=(X –μ) / (T/2)
PS.製程特性定義
單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限
沒有規格下限 Cp ＝ CPU ＝ Cpk
沒有規格上限 Cp ＝ CPL ＝ Cpk
評等參考
當Cpk值愈大，代表製程綜合能力愈好。
等級判定：依Cpk值大小可分為五級
估計製程不良率ppm ：
製程特性分配為常態時，可用標準常態分配右邊機率估計。
Z U S L ＝ CPU x 3, Z L S L
估計標準差 (Estimated Standard Deviation)
1.當 STD TYPE=TOTAL；製程變異存有特殊原因及共同原因時，以此估計標準差。
2.當 STD TYPE=sbar/c4；使用XBAR-s管制圖分析製程，製程顯示在管制狀態下且特性的分配為常態
時，以此估計標準差。
3.當 STD TYPE=Rbar/d2 ；使用XBAR-R管制圖分析製程，製程顯示在管制狀態下且特性的分配為常態
時，以此估計標準差。
組標準差 (Subgroup Standard Deviation):
標準差平均:, k = 樣本組數
組中位數 (Subgroup Median):
中位數平均:
組全距 (Subgroup Range): Ri ＝ Xmax － Xmin
全距平均:
簡易公式
估計標準差(Estimated Standard Deviation)
1.當 STD TYPE=TOTAL；製程變異存有特殊原因及共同原因時，以此估計標準差。
2.當 STD TYPE=sbar/c4；使用XBAR-s管制圖分析製程，製程顯示在管制狀態下且特性的分配為常態
時，以此估計標準差。
σ＝sbar／c4
3.當 STD TYPE=Rbar/d2 ；使用XBAR-R管制圖分析製程，製程顯示在管制狀態下且特性的分配為常
態時，以此估計標準差。
σ＝Rbar／d2
＝
組標準差(Subgroup Standard Deviation) s
i
／k k = 樣本組數
標準差平均 sbar＝∑s
i
組中位數(Subgroup Median)
中位數平均
組全距(Subgroup Range) Ri ＝ Xmax － Xmin
全距平均 Rbar ＝∑ R
／k
i
製程能力分析圖(Process Capability Analysis)
數據常因測定單位不同，而無法相互比較製程特性在品質上的好壞。
因此，定義出品質指標來衡量不同特性的品質，在工業上是很重要的一件事情。
製程能力指數是依特性值的規格及製程特性的中心位置及一致程度，來表示製程中心的偏移及製程均勻度。
基本上，製程能力分析必須先假設製程是在管制狀態下進行，也就是說製程很穩定，以及特性分配為常態分配；如此，數據的分析才會有合理的依據。
∙製程能力指數Cp、Pp、CPU、CPL（精密度 Precision）：
表示製程特性的一致性程度，值越大越集中，越小越分散。
或：雙邊能力指數(長期)
：雙邊績效指數(短期)
：單邊上限能力指數
：單邊下限能力指數
USL：特性值之規格上限；即產品特性大於USL在工程上將造成不合格
LSL：特性值之規格下限；即產品特性小於LSL在工程上將造成不合格
：製程平均數估計值；即製程目前特性值的中心位置
：製程標準差估計值；即製程目前特性值的一致程度
∙製程能力指數Ca或ｋ(準確度；Accuracy)：
表示製程特性中心位置的偏移程度，值等於零，即不偏移。
值越大偏移越大，越小偏移越小。
∙綜合製程能力指數Cpk：
同時考慮偏移及一致程度。
Cpk＝( 1 － k ) ｘ Cp 或 MIN {CPU,CPL}
Ppk＝( 1 － k ) ｘ Pp 或 MIN {PPU,PPL}
製程特性在不同的工程規格其定義亦不相同，請參考本附錄前段的「計量值之統計數值解說」。