07三极管测试指标
三极管检验规范
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三极管检验规范
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附表
序号
检验项目
缺陷内容 表面破损，规格、型号、标识错、漏，引脚严重氧化， 混料 表面脏污，标识不清晰，引线脚轻微氧化 外形尺寸及引脚尺寸严重超差且影响装配
判定 B
1
外观
C B C B B B B B B C
2
结构尺寸 外形尺寸及引脚尺寸严重偏差且不影响或断裂 Vbes参数超出规格范围
4
电气性能
Vces参数超出规格范围 BVceo参数超出规格范围 hFE参数超出规格范围 可焊性后,上锡面<80%
5
可焊性 可焊性后,上锡面80%~98%
检验项目 抽样方案 GB2828-03正常 检查一次抽样 GB2829-03一次 抽样 检查 水平 II II 判别 水平 AQL B=0.04 C=0.4 B=15 C=30 n=10，Ac=0，Re=1 n=10，Ac=1，Re=2 RQL 判定数组
5.1，5.4 5.2，5.3，5.5
8
处理方法:按《电子类元件检验标准总则》执行
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三极管检验规范
1 2 3 4 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 5 5.1 5.2 5.3 5.4 5.5 6 7
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目的：掌握三极管的检验标准，使来料质量更好的符合我公司的品质要求。 适用范围：讯歌科技所使用的三极管。 检验仪器和设备：半导体管特性图示仪、万用表、游标卡尺、锡炉。 检验项目及技术要求 外观:表面无破损，规格、型号标识清楚，无混料，引脚无氧化现象。 结构尺寸：各结构尺寸应符合装配或样品要求。 插件三极管引线脚抗折性：经抗折后，引脚无松动断裂现象。 电气性能：参见附表一。 可焊性：经焊接后，上锡面要求大于 98%。 检验方法 外观:目测法。 结构尺寸:试装或用游标卡尺测量。 插件三极管引脚抗折性:从引脚根部折引脚 900,来回折五次。 电气性能：电气性能测试参见《半导体管特性图示仪操作指导》 。 可焊性:将引脚在锡炉中浸锡 3-5S 后取出（锡炉温度为 245±5℃） 。 缺陷分类（见附表二） 抽样方案
三极管集电极电流这个指标
三极管集电极电流这个指标下载温馨提示：该文档是我店铺精心编制而成，希望大家下载以后，能够帮助大家解决实际的问题。
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如何测量三极管的好坏
如何测量三极管的好坏要测量三极管的好坏，可以通过以下几种方法进行测试:1.使用万用表进行基本测试:首先，将万用表调至电阻测量档位，并确保三极管处于断电状态。
然后，分别将三极管的基、发射器和集电器引脚连接到万用表的探针上。
测量三极管的各个引脚之间的电阻值，并与三极管参数手册中给出的标准值进行比较。
如果测量到的电阻值与标准值相差较大，则可能表示三极管出现了问题。
2.使用测试仪器进行功率放大测试:这种测试方法需要使用一个功率信号发生器，一个负载电阻和一个示波器。
首先，将功率信号发生器的信号源与三极管的基极接触，并将功率信号发生器的负载连接到三极管的集电极上。
然后，将示波器的探头分别接到三极管的基、发射极和集电极上。
接下来，通过改变功率信号发生器的输出信号频率和电平，可以观察到三极管放大的波形。
如果波形失真或幅度不正常，可能意味着三极管出现了问题。
3.使用电源和负载进行工作状态测试:将三极管正确连接到电源和负载电阻上，确保电源的电压和电流符合三极管的工作要求。
然后，通过观察三极管的工作状态来判断其好坏。
正常工作的三极管在工作时会有明显的电流和电压变化，而坏掉的三极管可能几乎没有变化或电流和电压不稳定。
4.进行信号放大测试:这项测试需要使用一个信号源、一个负载电阻和一个示波器。
首先，将信号源的信号线与三极管的基极接触，并将负载电阻连接到三极管的集电极上。
然后，通过改变信号源的频率和幅度，观察示波器上的输出信号波形。
正常的三极管应该能够放大和传输输入信号，如果波形失真或幅度不正常，可能表示三极管出现了问题。
需要注意的是，在测试三极管之前，确保正确连接引脚，并了解三极管的工作电压和电流范围，以避免对测试仪器造成损坏。
此外，还应该参考三极管的参数手册，以了解其特定的测试方法和标准值。
总结起来，测量三极管的好坏可以通过万用表测试电阻、使用测试仪器进行功率放大测试、通过电源和负载测试工作状态和进行信号放大测试等方法进行。
三极管来料检验标准
三极管来料检验标准
三极管是一种常见的半导体器件，广泛应用于电子设备中的放大、开关、稳压等功能。
为了确保生产出质量稳定的三极管产品，对来料进行严格的检验是非常重要的。
本文将介绍三极管来料检验的标准和方法，以帮助文档创作者更好地了解和掌握这一过程。
首先，对于三极管来料检验，我们需要关注以下几个方面：
1.外观检查。
外观检查是最基本的检验步骤之一。
我们需要检查三极管的外壳是否完整，有无损坏或变形，引脚是否齐全，焊接是否良好等。
同时，还需要检查产品标识是否清晰可见，以确保产品的可追溯性。
2.封装参数检查。
三极管的封装参数对其性能有着重要的影响，因此需要对封装参数进行检查。
这包括对封装材料、尺寸、引脚布局等进行检验，以确保符合相关标准要求。
3.电性能检查。
电性能是三极管最重要的指标之一。
在来料检验中，需要对三极管的电参数进行检查，包括静态特性和动态特性。
静态特性包括漏极电流、饱和电压等参数，而动态特性包括开关特性、频率响应等参数。
4.可靠性检查。
可靠性是三极管产品质量的重要保证。
在来料检验中，需要对三极管的可靠性进行检查，包括对温度、湿度、振动等环境条件下的性能进行测试，以确保产品在各种条件下都能正常工作。
综上所述，三极管来料检验标准涉及外观检查、封装参数检查、电性能检查和可靠性检查等多个方面。
只有严格按照相关标准进行检验，才能保证生产出质量稳定的三极管产品。
希望本文能够帮助文档创作者更好地了解和掌握三极管来料检验的标准和方法，以提高产品质量和生产效率。
三极管检测方法范文
三极管检测方法范文三极管也称为晶体三极管，是一种具有三个控制区域的半导体器件，广泛应用于电子电路中的放大、开关和稳压等功能。
在使用三极管之前，我们需要对其进行测试和检测，以确保其正常工作并符合设计要求。
下面是三种常用的三极管检测方法。
一、参数检测法参数检测法是通过测量三极管的电流放大倍数、输入电阻和输出电阻等参数来判断其性能是否正常。
具体步骤如下：1.测量电流放大倍数（β）：将三极管的基极与发射极短接，然后通过一个串联的电阻将集电极与正极连接，再接上直流电压。
使用万用表测量电压并记录下来。
然后将基极与发射极用一个电阻分开，同时再给集电极通电。
通过测量集电极电压和基极电压的比值（即电压放大倍数），可以得到三极管的电流放大倍数。
2. 测量输入电阻（Rin）：将三极管的集电极与正极短接，然后通过一个串联的电阻将基极与负极连接，再接上直流电压。
使用万用表测量电流并记录下来。
然后将集电极与正极用一个电阻分开，同时再给基极通电。
通过测量集电极电流和基极电流的比值，可以得到三极管的输入电阻。
3. 测量输出电阻（Rout）：将三极管的基极与发射极短接，然后通过一个串联的电阻将集电极与正极连接，再接上直流电压。
使用万用表测量电流并记录下来。
然后将基极与发射极用一个电阻分开，同时再给集电极通电。
通过测量基极电流和集电极电流的比值，可以得到三极管的输出电阻。
通过以上步骤，我们可以得到三极管的相关参数，并根据规格书中的要求进行比较和判断。
二、特性曲线测量法特性曲线测量法是通过测量三极管的电压-电流特性曲线，来分析其工作状态和性能。
具体步骤如下：1.准备一台特性曲线测试仪或者对应的测试电路，用于实时测量电压和电流。
2.将三极管正确接入测试仪或测试电路，并设置相应的电压和电流范围。
3.逐渐调节电源电压或信号频率，同时记录下相应的电流和电压值。
4.根据测量得到的数据，绘制出三极管的电流-电压特性曲线。
5.根据特性曲线分析，可以判断三极管是否正常工作和是否符合设计要求。
三极管htrb试验标准
三极管htrb试验标准三极管HTRB（High Temperature Reverse Bias）试验是一种电器元件可靠性测试的方法之一，其目的是测试三极管在高温反向偏置条件下的可靠性特性。
本文将从试验原理、试验设备、试验步骤以及试验结果分析等方面进行详细介绍。
一、试验原理三极管HTRB试验是在高温条件下给三极管的基极与发射极之间施加反向偏置电压，以了解三极管在高温条件下的可靠性表现。
在正常工作状态下，基极与发射极之间是正向偏置的，而在HTRB试验中则是反向偏置，这样能够模拟出电路中可能出现的反向电压冲击或者高温环境下的电压条件。
二、试验设备进行三极管HTRB试验需要一些特殊的设备，包括高温箱、高压电源和数据采集系统等。
其中，高温箱用于提供高温环境，高压电源用于给三极管施加所需的反向电压，数据采集系统用于记录和分析试验中的各项数据。
三、试验步骤1.设定试验条件：首先根据所需的试验要求，设定好试验的温度和反向电压等参数。
2.预热高温箱：将高温箱预热至设定的试验温度，通常可以设定在100℃以上。
3.安装三极管：将待测的三极管安装在试验夹具中，并连接好高压电源和数据采集系统。
4.施加反向电压：根据试验要求，将高压电源输出的反向电压施加到三极管的基极和发射极之间。
5.记录数据：在试验过程中，使用数据采集系统记录和保存关键数据，如电流、电压以及温度等。
6.进行试验：根据设定的试验时间，让三极管在高温反向偏置状态下运行。
7.试验结束与数据分析：试验时间到达后，停止施加反向电压，并进行数据分析，包括分析电流、电压以及温度的变化等。
四、试验结果分析通过对三极管HTRB试验的结果进行分析，可以评估三极管在高温环境下的可靠性特性。
常见的试验指标包括关键参数的变化情况、发生故障的状况以及试验后测试指标的对比等。
根据分析结果，可以对产品的设计和制造过程进行改进，提高产品的可靠性。
总结：三极管HTRB试验是一种用于测试三极管可靠性的重要方法。
三极管检测方法
三极管检测方法三极管是一种常用的电子元件，广泛应用于电子电路中。
它具有放大、开关和稳压等特性，被称为电子领域的"万能元件"。
而三极管检测方法就是用来判断三极管性能的一种技术手段。
下面我们来详细介绍一下三极管检测的方法。
我们需要了解一下三极管的基本结构和工作原理。
三极管由三个区域组成，分别为基区、发射区和集电区。
当输入信号加在基极上时，三极管就会工作起来。
它的工作可以分为三种模式：放大模式、截止模式和饱和模式。
在放大模式下，三极管可以对输入信号进行放大，起到信号放大的作用。
在截止模式下，三极管不对输入信号进行放大，输出电流几乎为零。
在饱和模式下，三极管的输出电流达到最大值，不再随输入信号的变化而变化。
针对不同的检测需求，可以采用以下几种方法对三极管进行检测。
第一种方法是静态检测法。
这种方法主要通过测量三极管的静态工作点来判断其工作状态。
静态工作点可以通过测量三极管的电流和电压来确定。
一般来说，通过在基极、发射极和集电极之间分别接入电阻，然后测量这些电阻两端的电压，再结合一些计算公式，就可以获得静态工作点的相关参数。
通过对比这些参数与标准值的差异，可以判断三极管是否正常工作。
第二种方法是动态检测法。
这种方法主要通过对三极管输入和输出信号的波形进行观察和分析来判断其工作状态。
一般来说，可以通过示波器来观察信号波形。
在放大模式下，输入信号经过三极管放大后，输出信号会有明显的变化。
通过观察输入和输出信号的波形，可以判断三极管是否处于放大模式。
第三种方法是参数检测法。
这种方法主要通过测量三极管的一些参数来判断其工作状态。
常用的参数包括电流放大倍数、最大集电极电流和最大功耗等。
通过测量这些参数的数值，可以判断三极管是否正常工作。
例如，如果电流放大倍数明显低于标准值，就说明三极管可能存在故障。
除了以上几种常用的检测方法外，还有一些其他的方法，如热测法、噪声测试法、频率响应测试法等。
这些方法主要适用于特定的检测需求和特殊的工作环境。
三极管检验标准
一.技术要术
〔一〕外观
1.三极管外形尺寸封装形式符合本公司选用规定见图1。
.包装正规，标识清晰，封装表面光洁，引脚光亮，无氧化现象，可焊性好。
〔二〕耐压BV CE0
1.开启QT2晶体管特性图示仪，将各个开关设置在如下档位:
输出电压：500V、（50V）Y轴：50uA/div、X轴：50V/div、（5V V/div）功耗限制电阻：50KΩ（5 K Ω）、输入键：零电流、作用键：正常。
2.将图示仪显示屏上的光点调至座标的0点，三极管脚按型号插入e、b、c孔，调节输出电压旋钮，读取座标
曲线在X轴上转折点的耐压, 耐压必须符合下页附表规定。
二．验收规则
交收试验是从同一批量的产品中随机抽取，参见缺陷分类表，并按GB2828中的一次抽样方案进行。
对元器件用游标卡尺或电参数测量部分，每批次记录10个数据，但不合格数据必须如实记录。
三极管技术要求附表。
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三极管测试指标
Q/CM . ZY03-07
规格型号 技术要求
13001 13003 13003BR 13003B 13005 13007 9014 6822 120A
放大倍数
饱和压降
正向压降
开关时间
Ic = 100mA 0.3 ~ 0.6us Ic= 500mA 0.3 ~ 0.8us Ic= 330mA 0.6 ~ 1.6us Ic= 330mA 0.3 ~ 1.4us Ic= 500mA 0.7 ~ 1.6us Ic= 500mA 0.3 ~ 0.8us Ic= 10 mA 0.3 ~ 0.6us Ic= 100mA 0.3 ~ 1.0us Ic= 100mA 0.3 ~ 1.0us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us Ic= mA ~ us
Ib=20mA Ic=100mA Ib= 20mA Ic=100mA Ib= 20 mA 测试条件 0.3 V 1.2 V 控制范围 10<β <30 以5分档 Ib=50mA Ic=件 0.3 V 1.2 V 控制范围 10<β <30 以5分档 Ib=100mA Ic=330mA Ib=100mA Ic=330mA Ib= 100mA 测试条件 0.3 V 1.2 V 控制范围 10<β <30 以5分档 Ib=100mA Ic=330mA Ib=100mA Ic=330mA Ib= 100mA 测试条件 0.3 V 1.2 V 控制范围 10<β <30 以5分档 Ib= 50mA Ic=500mA Ib= 50mA Ic=500mA Ib= 50 mA 测试条件 0.3 V 1.2 V 控制范围 10<β <30 以5分档 Ib= 50mA Ic= 500mA Ib= 50mA Ic=500mA Ib= 50 mA 测试条件 0.3 V 1.2 V 控制范围 10<β <30 以5分档 Ib=0.01mA Ic= 10 mA Ib=0.01mA Ic= 10 mA Ib=0.01mA 测试条件 0.15 V 0.8 V 控制范围 200<β <400以50分档 Ib= 20mA Ic= 100mA Ib= 20mA Ic= 100mA Ib= 20 mA 测试条件 0.3 V 1.2 V 控制范围 10<β <30 以5分档 Ib= 20mA Ic= 100mA Ib= 20mA Ic= 100mA Ib= 20 mA 测试条件 0.3 V 1.2 V 控制范围 10<β < 30 以5分档 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围 Ib= mA Ic= mA Ib= mA Ic= mA Ib= mA 测试条件 V V <β < 以 分档 控制范围