LED芯片寿命测试
LM80测试报告的要求说明
LM80测试报告的要求说明一、LM80测试报告的目的二、测试项目1.LED芯片的光通量衰减测试：测试LED产品在规定时间内的光通量衰减情况，比较测试前后的光通量数据，计算光通量衰减率。
2.温度测量：测量LED产品的表面温度、周围环境温度和接触材料的温度，以了解产品在正常工作条件下的温度情况。
3.电流和电压测量：测量LED产品的工作电流和电压，确保产品在额定电流和电压范围内正常工作。
4.光衰测量：测试LED产品在规定时间内的光衰情况，测量其初始光通量和测试后的光通量，计算光衰率。
5.寿命测试：通过对LED产品进行加速寿命测试，模拟长时间使用的情况，以评估产品的可靠性和寿命。
三、测试方法1.LM80测试要使用符合国际电工委员会（IEC）或美国照明工程学会（IES）的标准测试方法。
2.测试设备要符合国际标准，并保持校准状态，确保测试数据的准确性和可信度。
3.测试需在恒定的温度环境和电流条件下进行，以确保测试结果的可比性。
四、测试报告的内容1.产品信息：包括产品型号、生产日期、生产厂商等信息。
2.测试环境：包括测试设备、温度条件、电流和电压设置等信息。
3.测试结果：包括光通量衰减率、光衰率、温度测试结果、电流和电压数据等详细结果。
4.比较分析：将测试数据与产品规格进行比较和分析，评估产品的性能和质量。
5.结论和建议：根据测试结果，对LED产品的寿命和性能做出结论，并提出相关的改进建议。
六、报告的准确性和可靠性1.LM80测试报告应由经过相关培训和资质认证的测试人员进行，确保测试过程的准确性和可靠性。
2.测试报告应尽可能提供详尽的测试数据和结果，并保持数据的真实和可验证性。
3.如果有其他相关测试报告或认证报告，应将其与LM80测试报告一并提供，以进一步验证产品的可靠性和性能。
led寿命测试标准
led寿命测试标准
LED寿命测试标准通常包括以下几个方面：
1. L70寿命测试： L70寿命是指LED光输出衰减到初始光通量的70%所需要的时间。
测试时，LED灯具需要持续点亮，并记录每隔一定时间的光通量数据，通过拟合曲线来确定L70寿命。
2. Lumen维持率测试：LED灯具在使用一段时间后，其光输出会发生衰减，而Lumen维持率是指LED光输出衰减到初始光通量的百分比。
测试中通常使用恒流电源点亮LED灯具，然后每隔一定时间测量光通量，并计算Lumen维持率。
3. 环境温度测试：高温会对LED的寿命产生影响，因此测试中需要将LED置于高温环境下进行使用，并记录不同温度下的光通量变化。
通过分析光通量和温度之间的关系，可以预测LED在不同温度下的寿命。
4. 可靠性测试：可靠性测试主要包括高温寿命测试、低温寿命测试、湿热循环测试等，以模拟不同环境下的使用情况，评估LED在各种应力条件下的寿命。
以上是LED寿命测试的一些常见标准，具体的测试标准可能因产品类型和用途而有所不同，需要根据实际情况进行具体确定。
led老化测试标准
led老化测试标准LED老化测试标准。
LED作为一种新型的光源，其在照明行业中的应用越来越广泛。
然而，LED产品在长时间使用后会出现老化现象，影响其使用寿命和光效。
因此，LED老化测试成为了必不可少的环节，而LED老化测试标准的建立和执行对于保证LED产品质量具有重要意义。
首先，LED老化测试标准应包括测试的环境条件。
这些条件包括温度、湿度、电压等因素，这些因素会直接影响LED产品的老化速度和效果。
在测试中，需要对这些环境条件进行模拟，以确保测试结果的准确性和可靠性。
其次，LED老化测试标准应明确测试的时间和周期。
LED产品的老化过程是一个渐进的过程，需要经过一定的时间才能观察到明显的老化现象。
因此，测试标准应规定测试的时间和周期，以便对LED产品的老化情况进行全面和准确的评估。
另外，LED老化测试标准还应包括测试的方法和指标。
测试方法应包括恒流老化、脉冲老化等，以模拟LED产品在不同工作状态下的老化情况。
而测试指标则应包括光通量衰减、颜色温度漂移、色坐标漂移等，这些指标可以客观地反映LED产品老化的程度和影响。
此外，LED老化测试标准还应考虑到不同类型LED产品的特性和应用场景。
不同类型的LED产品在老化过程中可能表现出不同的特点，因此测试标准应根据LED产品的特性进行相应的调整，以确保测试结果的准确性和适用性。
最后，LED老化测试标准的建立还需要考虑到国际标准的统一和参考。
LED产品在国际市场上具有广泛的应用，因此LED老化测试标准的制定应考虑到国际标准的统一性，以便LED产品在国际市场上具有竞争力。
综上所述，LED老化测试标准的建立和执行对于保证LED产品质量具有重要意义。
通过明确测试的环境条件、时间和周期、方法和指标，考虑到不同类型LED产品的特性和应用场景，以及国际标准的统一和参考，可以确保LED产品在长时间使用后依然具有良好的性能和质量，从而满足用户的需求和期望。
LED的寿命试验方法
LED的寿命试验方法LED（发光二极管）是一种半导体器件，可以将电能转化为可见光能量。
相比传统的光源，LED具有更长的寿命，更低的能耗和更高的亮度。
但是，为了确保其质量和可靠性，需要进行寿命试验。
下面将介绍一种常见的LED寿命试验方法。
一、理论背景LED的寿命测试是通过长时间的运行来模拟使用条件，以观察LED光衰和颜色偏移。
寿命测试主要以光通量衰减和光色变化为指标进行评估。
光通量衰减是指LED发出的光强度随时间的增加而减少，光色变化是指LED的光谱分布在寿命期间发生变化。
二、测试方法1.设定运行条件：根据实际应用情况，设置LED的工作电流、工作温度和工作时间。
2.制作测试样品：根据所需测试的LED型号和数量，制作测试样品。
3.安装测试样品：将测试样品安装在测试装置中，确保良好的散热条件以保证测试结果的精确性。
4.运行测试样品：将测试样品通电运行，记录初始的光通量和光色参数。
5.定期测试：每隔一定时间，如1000小时、2000小时等，对测试样品进行测试。
测试项目包括光通量衰减和光色变化。
6.测试数据分析：将每次测试的数据记录下来，根据光通量衰减和光色变化的情况进行分析，得出寿命测试结果。
7.统计处理：根据测试结果，计算出平均寿命和故障率等指标。
三、注意事项1.温度控制：在进行寿命测试时，需要严格控制测试样品的工作温度，因为温度是影响LED寿命的关键因素之一2.典型样品选择：在进行寿命测试时，应选择具有代表性的典型样品进行测试，以保证测试结果的准确性和可靠性。
3.测试记录：对每次测试的数据进行详细的记录，包括测试时间、光通量、光色参数等，以便进行后续的数据分析和处理。
4.测试环境：为确保测试结果的可靠性，需要在恒温、湿度和尘埃等影响因素较小的环境中进行测试。
5.寿命评估：通过光通量衰减的情况可以评估LED的寿命，一般认为光通量衰减到初始值的70%时为LED的寿命。
综上所述，LED寿命试验方法包括设定运行条件、制作测试样品、安装测试样品、运行测试样品、定期测试、数据分析和统计处理等步骤。
led老化测试标准原理
led老化测试标准原理
LED老化测试是指通过将LED光源长时间连续运行，以模拟真实使用环境下LED的老化过程，从而评估其在使用寿命、光输出、颜色稳定性等方面的性能。
LED老化测试的原理主要基于以下几个方面：
1. 光衰减测试：LED老化测试会持续对LED光源进行长时间运行，并测量其光输出的衰减情况。
通过不断记录和比对测量结果，可以评估LED的光衰减速率以及其寿命预测。
2. 颜色稳定性测试：LED的颜色稳定性是指其光谱特性和颜色点在使用寿命中是否保持稳定。
LED老化测试会监测LED光源的颜色参数，如色温、色坐标等，以评估LED在长期使用过程中颜色是否发生变化。
3. 温度影响测试：LED的性能受环境温度的影响较大。
LED老化测试通常会模拟不同温度条件下的使用环境，以评估LED在不同温度下的光输出和寿命表现。
通过LED老化测试，可以对LED产品的品质进行验证，提前发现潜在的问题，优化产品设计，确保其在实际使用中的可靠性和稳定性。
同
时，LED老化测试还可以为制定产品质量标准和性能参数提供参考依据。
led芯片检验
led芯片检验LED芯片检验LED芯片是LED灯的核心部件，其质量的好坏直接影响到LED灯的性能和寿命。
为了确保LED芯片的质量，需要进行严格的检验。
下面将从外观检验、电性能检验和光参数检验三个方面介绍LED芯片的检验方法。
一、外观检验外观检验是LED芯片检验的基础，合格的LED芯片其外观应该无明显的损伤、氧化、污染等情况。
具体的外观检验方法如下：1.目测检验：用肉眼检查LED芯片的外观是否正常，是否有氧化、污染或者磨损。
2.显微镜检验：将LED芯片放在显微镜下观察，检查是否有划痕、裂纹等缺陷。
3.颜色检验：通过目测或者使用色差仪等工具检验LED芯片的颜色是否正常。
二、电性能检验LED芯片的电性能检验主要包括电流、电压和功率等参数的测试。
下面是常用的电性能检验方法：1.电流测试：使用电流表或者万用表测量LED芯片在标准电流下的电流值，检查是否符合设计要求。
2.电压测试：使用电压表或者万用表测量LED芯片在标准电压下的电压值，检查是否符合设计要求。
3.功率测试：通过测量电流和电压计算出LED芯片的功率值，检查是否符合设计要求。
三、光参数检验LED芯片的光参数检验是判断其光电转换效率和光质量的重要手段。
以下是几种常用的检验方法：1.亮度测试：使用光度计测量LED芯片的光亮度，检查是否符合设计要求。
2.色彩坐标测试：使用色度计测量LED芯片的色彩坐标，判断其颜色是否符合设计要求。
3.色温测试：使用色温计测量LED芯片的色温，检查是否符合设计要求。
4.发光角度测试：使用光度计测量LED芯片的发光角度，判断其光散射范围是否符合设计要求。
在LED芯片检验过程中，需要使用一些专业的测试仪器和设备，比如电流表、电压表、万用表、光度计、色度计等。
同时，还需要制定一套完善的LED芯片检验标准和流程，以确保检验的准确性和可靠性。
总之，LED芯片的检验工作是确保LED灯质量的关键环节。
通过外观检验、电性能检验和光参数检验等多方面的检验手段，可以有效评估LED芯片的质量，并对不合格的芯片进行淘汰，以提高LED灯的品质和可靠性。
LED寿命测试标准
•LM-80-08 手册里提及业界所采用的两种不同标准，一种规定灯泡流明数低于原本的70%及不适合继续使用，另一种则规定流明数低于原本的50%就不再使用。
第一种标准(L70)主要是一般照明的LED 灯具所采用的，第二种标准(L50)则是装饰性的LED灯具采用。
这两种LED寿命标准是由照明研究中心的固态照明系统和技术联盟小组(ASSIST)所制定的。
举例来说，一个通过LM-80-08检测的LED灯具和宣称通过检测的LED样品使用超过30,000小时后，流明数仍比原本光输出量的70%高，这代表通过LM 80不但是达成基本的光衰要求，甚至还有更好的表现。
目前市场上的LM80测试项目，费用都十分高昂，大约要1.5万美元，原因是要点亮数千个小时，来做好光衰测试的参数和精确资料，能够花钱去做的厂商，普遍是中型以上、大型厂商为主。
LED寿命方面，LM-80-08制定了标准测试环境和变动参数。
测试报告须涵盖重要数据及测试的过程。
典型的白帜灯泡寿命为1,000小时；CFL则为8,000至10,000小时；最好的萤光灯管则可达30,000小时。
一般的金属卤素灯平均寿命为7,500至20,000小时(寿命标准采用L50)，而一般的LED灯泡寿命为30,000至50,000小时(寿命标准采用L70)。
LM-80-08 并没有提供估算LED寿命的方法。
IES 的技术备忘录-TM-21-11Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Light Sources建议从LM-80-08检测过程中得到的数据去计算LED 光源的维持率。
此份备忘录是用来估计LED光源维持率和高过6,000小时的寿命。
IES LUMENS-80手册中规定三种不同的检测环境温度。
而TM-21则可基于三种检测结果估计LED光源的维持率。
验证和测试工程师应该依据IES 指南方针LUMENS-79-08和 LUMENS-80-08确认LED制造商光源是否真的通过检测标准。
led老化测试标准
led老化测试标准LED老化测试标准。
LED（Light Emitting Diode）作为一种新型的照明光源，具有节能、环保、寿命长等优点，被广泛应用于室内照明、户外广告、汽车照明等领域。
然而，LED作为一种电子元件，其使用寿命与老化特性是需要进行严格测试和评估的。
因此，LED老化测试标准成为LED行业中的重要标准之一。
LED老化测试标准旨在评估LED在长时间使用后的性能衰减情况，以确定其使用寿命和稳定性。
在LED老化测试中，通常会考虑以下几个方面的指标：1. 亮度衰减，LED在长时间使用后，其亮度是否会逐渐衰减，以及衰减的速度如何；2. 色温变化，LED的色温是否会随着使用时间的增加而发生变化，以及变化的趋势如何；3. 光通量衰减，LED的光通量是否会随着使用时间的增加而逐渐减小，以及减小的速度如何；4. 色均匀性，LED发光面积内的颜色均匀性是否会随着使用时间的增加而发生变化，以及变化的程度如何；5. 光电参数变化，LED的电流、电压等光电参数是否会随着使用时间的增加而发生变化，以及变化的趋势如何。
在进行LED老化测试时，需要制定一系列的测试方法和标准，以确保测试结果的准确性和可比性。
一般来说，LED老化测试标准应包括以下内容：1. 测试设备，包括LED老化测试台、光度计、色温计、电流电压测试仪等测试设备的规格和型号；2. 测试条件，包括测试环境的温湿度、测试时间、测试电流等条件的设定；3. 测试方法，包括LED老化过程中各项指标的测试方法和步骤，以及测试数据的采集和处理方法；4. 测试要求，包括LED老化测试过程中各项指标应满足的要求和标准数值；5. 测试报告，包括测试结果的记录和分析，以及对测试结果的评价和结论。
在LED老化测试标准中，需要特别注意的是测试条件的设定和数据的采集处理方法。
测试条件的设定应尽可能接近实际使用环境，以确保测试结果的真实性和可靠性。
同时，数据的采集和处理方法应符合统计学原理，以确保测试结果的准确性和可比性。
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LED芯片寿命试验
摘要：介绍了LED芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。
采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试验台不但操作简便、安全，而且试验容量大。
1、引言
作为电子元器件，发光二极管（Light Emitting Diode-LED）已出现40多年，但长久以来，受到发光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的LED和兰光LED，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等，提供了作为照明光源的可能性。
随着LED应用范围的加大，提高LED可靠性具有更加重要的意义。
LED具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量，为此我司在实现全色系LED产业化的同时，开发了LED芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等，以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。
2、寿命试验条件的确定
电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工作试验称为寿命试验，又称耐久性试验。
随着LED生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观，LED的理论寿命为10万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价，而我们试验的主要目的是，通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况，进而推断其寿命。
我们根据LED器件的特点，经过对比试验和统计分析，最终规定了0.3×～0.3mm2以下芯片的寿命试验条件：
● 样品随机抽取，数量为8～10粒芯片，制成ф5单灯；
● 工作电流为30mA；
● 环境条件为室温（25℃±5℃）；
● 试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种；
工作电流为30mA是额定值的1.5倍，是加大电应力的寿命试验，其结果虽然不能代表真实的寿命情况，但是有很大的参考价值；寿命试验以外延片生产批为母样，随机抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片，封装成ф5单灯器件，进行为96小时寿命试验，其结果代表本生产批的所有外延片。
一般认为，试验周期为1000小时或以上的称为长期寿命试验。
生产工艺稳定时，1000小时的寿命试验频次较低，5000小时的寿命试验频次可更低。
3、过程与注意事项
对于LED芯片寿命试验样本，可以采用芯片，一般称为裸晶，也可以采用经过封装后的器件。
采用裸晶形式，外界应力较小，容易散热，因此光衰小、寿命长，与实际应用情况差距较大，虽然可通过加大电流来调整，但不如直接采用单灯器件形式直观。
采用单灯器件形式进行寿命试验，造成器件的光衰老化的因素复杂，可能有芯片的因素，也有封装的因素。
在试验过程中，采取多种措施，降低封装的因素的影响，对可能影响寿命试验结果准确性的细节，逐一进行改善，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。
3.1样品抽取方式
寿命试验只能采用抽样试验的评估办法，具有一定的风险性。
首先，产品质量具备一定程度的均匀性和稳定性是抽样评估的前提，只有认为产品质量是均匀的，抽样才具有代表性；其次，由于实际产品质量上存在一定的离散性，我们采取分区随机抽样的办法，以提高寿命试验结果准确性。
我们通过查找相关资料和进行大量的对比试验，提出了较为科学的样品抽取方式：将芯片按其在外延片的位置分为四区，分区情况参见图一所示，每区2～3粒芯片，共8～10粒芯片，对于不同器件寿命试验结果相差悬殊，甚至矛盾的情况，我们规定了加严寿命试验的办法，即每区4～6粒芯片，共16～20粒芯片，按正常条件进行寿命试验，只是数量加严，而不是试验条件加严；第三，一般地说，抽样数量越多，风险性越小，寿命试验结果的结果越准确，但是，抽样数量越多抽样数量过多，必然造成人力、物力和时间的浪费，试验成本上升。
如何处理风险和成本的关系，一直是我们研究的内容，我们的目
标是通过采取科学的抽样方法，在同一试验成本下，使风险性下降到最低。
3.2光电参数测试方法与器件配光曲线
在LED寿命试验中，先对试验样品进行光电参数测试筛选，淘汰光电参数超规或异常的器件，合格者进行逐一编号并投入寿命试验，完成连续试验后进行复测，以获得寿命试验结果。
为了使寿命试验结果客观、准确，除做好测试仪器的计量外，还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试仪测试，以减少不必要的误差因素，这一点对光参数尤为重要；初期我们采用测量器件光强的变化来判断光衰状况，一般测试器件的轴向光强，对于配光曲线半角较小的器件，光强值的大小随几何位置而急剧变化，测量重复性差，影响寿命试验结果的客观性和准确性，为了避免出现这种情况，采用大角度的封装形式，并选用无反射杯支架，排除反射杯配光作用，消除器件封装形式配光性能的影响，提高光参数测试的精确度，后续通过采用光通量测量得到验证。
3.3封装工艺对寿命试验的影响
封装工艺对寿命试验影响较大，虽然采用透明树脂封装，可用显微镜直接观察到内部固晶、键合等情况，以便进行失效分析，但是并不是所有的封装工艺缺陷都能观察到，例如：键合焊点质量与工艺条件是温度和压力关系密切，而温度过高、压力太大则会使芯片发生形变产生应力，从而引进位错，甚至出现暗裂，影响发光效率和寿命。
引线键合、树脂封装引人的应力变化，如散热、膨胀系数等都是影响寿命试验的重要因素，其寿命试验结果较裸晶寿命试验差，但是对于目前小功率芯片，加大了考核的质量范围，寿命试验结果更加接近实际使用情况，对生产控制有一定参考价值。
3.4树脂劣变对寿命试验的影响
现有的环氧树脂封装材料受紫外线照射后透明度降低，是高分子材料的光老化，是紫外线和氧参与下的一系列复杂反应的结果，一般认为是光引发的自动氧化过程。
树脂劣变对寿命试验结果的影响，主要体现1000小时或以上长期寿命试验，目前只能通过尽可能减少紫外线的照射，来提高寿命试验结果的果客观性和准确性。
今后还可通过选择封装材料，或者检定出环氧树脂的光衰值，并将其从寿命试验中排除。
4、寿命试验台的设计
寿命试验台由寿命试验单元板、台架和专用电源设备组成，可同时进行550组（4400只）LED寿命试验。
根据寿命试验条件的要求，LED可采用并联和串联两种连接驱动形式。
并联连接形式：即将多个LED 的正极与正极、负极与负极并联连接，其特点是每个LED的工作电压一样，总电流为ΣIfn，为了实现每个LED的工作电流If一致，要求每个LED的正向电压也要一致。
但是，器件之间特性参数存在一定差别，且LED的正向电压Vf随温度上升而下降，不同LED可能因为散热条件差别，而引发工作电流If的差别，散热条件较差的LED，温升较大，正向电压Vf下降也较大，造成工作电流If上升。
虽然可以通过加入串联电阻限流减轻上述现象，但存在线路复杂、工作电流If差别较大、不能适用不同VF的LED等缺点，因此不宜采用并联连接驱动形式。
串联连接形式：即将多个LED的正极对负极连接成串，其优点通过每个LED的工作电流一样，一般应串入限流电阻R，如图二为单串电路，当出现一个LED开路时，将导致这串8个LED熄灭，从原理上LED芯片开路的可能性极小。
我们认为寿命试验的LED，以恒流驱动和串联连接的工作方式为佳。
采用常见78系列电源电路IC构成的LED恒流驱动线路，其特点是成本低、结构简单、可靠性高；通过调整电位器阻值，即可方便调整恒流电流；适用电源电压范围大，驱动电流较精确稳定，电源电压变化影响较小。
我们以图二电路为基本路线，并联构成寿命试验单元板，每一单元板可同时进行11组（88只）LED寿命试验。
台架为一般标准组合式货架，经过合理布线，使每一单元板可容易加载和卸载，实现在线操作。
专用电源设备，输出为5路直流36V安全电压，负载能力为5A，其中2路具有微电脑定时控制功能，可自动开启或关闭，5路输入、输出分别指示，图三为寿命试验台系统接线图。
本寿命试验台设计方案的优点：
● 寿命试验电流准确、可调、恒定；
● 具有微电脑定时控制功能，可自动开启或关闭；
● 可同时适用不同VF的LED，而不必另外调整；
● 采用单元组合结构，可随时增加寿命试验单元，实现在线操作；
● 采用低压供电，保障安全性能。