X射线荧光光谱仪技术要求_V2
xrf(x荧光光谱仪)技术指标
xrf(x荧光光谱仪)技术指标XRF 技术指标基本性能参数分辨率：能量分辨率，以电子伏特 (eV) 表示，描述仪器区分不同能量 X 射线的能力。
灵敏度：检测下限，以质量浓度或计量单位表示，描述仪器检测特定元素的最低水平。
稳定性：仪器在一段时间内保持稳定测量结果的能力，通常用计数率的变化表示。
重复性：相同样品在相同测量条件下多次测量的结果一致性，通常用相对标准偏差 (RSD) 表示。
线性范围：仪器测量结果与样品中元素浓度之间保持线性关系的浓度范围。
激发源：产生 X 射线辐射的组件，可以是 X 射线管或放射性同位素。
光学元件：柱状准直器、单色器和探测器，用于处理来自激发源的 X 射线，以提高分辨率和信噪比。
探测器：光电倍增管或半导体探测器，用于检测 X 射线并将其转换为电信号。
数据处理参数分析软件：用于处理和分析 XRF 谱数据的软件，包括定性和定量分析功能。
校准：使用已知浓度的标准样品建立测量结果与元素浓度之间的关系。
定量方法：用于计算样品中元素浓度的算法，例如基本参数法和校准曲线法。
尺寸：仪器的物理尺寸和重量。
功耗：仪器在运行期间消耗的电力。
工作温度：仪器正常运行所需的温度范围。
环境要求：仪器正常运行所需的相对湿度、气压和振动水平等环境条件。
其他考虑因素应用：仪器的适用范围，例如元素分析、材料表征或环境监测。
样品类型：仪器可以分析的样品类型，例如固体、液体或气体。
自动化程度：仪器自动执行测量、处理和分析的能力。
用户界面：仪器操作的难易程度和直观性。
技术支持：制造商提供的技术支持水平，例如维护、维修和软件更新。
x射线荧光光谱技术
x射线荧光光谱技术
X射线荧光光谱技术是一种分析材料成分的技术。
其基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，会放射出该原子所具有的特征X射线。
根据探测到该元素特征X射线的存在与否，可以定性分析材料的成分。
而在X射线荧光光谱分析中，多数采用高功率的封闭式X射线管为激发源，配以晶体波长色散法及高效率的正比计数器和闪烁计数器，并且用电子计算机进行程序控制、基体校正和数据处理。
此技术常用于元素定性分析、半定量分析和定量分析，可以进行无损分析，但灵敏度不高，只能分析含量在0.02%以上的元素。
试样应具备一定尺寸和厚度，表面平整，可放入仪器专用的样品盒中，同时要求制样过程具有良好的重现性。
荧光X射线的谱线简单，光谱干扰少。
荧光技术要求
x射线荧光光谱仪数量一套主要用于分析玻璃原材料、玻璃制品中的元素的含量及各元素的成分比例；能迅速准确的分析Be4～U92之间元素。
分析17种左右元素的样品从进样开始到出检测结果的分析时间应控制在5分钟以内。
一、总体要求1.1具有最高性能的、代表最新科技水平；1.2类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪；1.3元素分析范围：O(8)—铀(92)；1.4浓度范围从亚ppm到主含量；1.5可分析固体、粉末等样品。
二、分析项目要求仪器主要用于固体、粉末、薄膜等材料及特殊不规则小样品或少量样品检测。
三、环境要求3.1 温度：10—40 C3.2 电源：AC 220V±10%，或AC 380V±10%，50（±1）Hz四、系统组成X射线光管、晶体、测角仪、探测器、数据工作站、操作软件、无标样定量分析软件、辅助设备等。
五、技术要求*5.1 X射线管（质保期3年）5.1.1 形式：超尖锐端窗型，长寿命灯丝*5.1.2铍窗厚度：≤ 50μm5.1.3 阳极材料：铑靶*5.1.4最大功率：≥60KV，≥150mA，≥4.0KW5.2 高压发生器5.2.1 发生器类型：高频高压发生器。
*5.2.2最大功率：≥60KV，≥150mA，≥4.0KW*5.2.3 稳定性：外电压波动±10%时，输出电压波动≤±0.002%；8小时稳定性<1%。
5.2.4 电压允许波动：+10% 至 -10%5.3 样品方式*5.3.1X射线照射方式：上照射5.3.2 样品种类：固体、粉末压片、熔融片。
5.3.2 样品最大尺寸：直径：50mm，高：30mm5.3.3 样品旋转：不小于30rpm/min5.4 光路设计*5.4.1 初级准直器：3位置以上程序控制，自动切换，配置适合超轻、轻、重元素的至少3个准直器。
5.4.2 独特的光学系统：适应特殊不规则小样品的分析，配置准直器面罩或多孔径光阑或孔径交换器：至少6种孔径以上：φ0.5mm,φ1mm, φ10mm, φ20mm, φ30mm,φ35mm，电脑程序控制，自动切换。
X射线荧光光谱仪技术参数
X射线荧光光谱仪技术参数1.应用范围：适用于地质、农业、环境等领域固体、粉末及特殊不规则小样品元素含量分析及科学研究。
2供货要求：2.1仪器类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪2.2数量：一台2.3内容：2.3.1主机（包括光管、测角仪、探测器、数据工作站、自动进样器、操作软件、无标样定量分析软件等）。
2.3.2循环冷却水系统2.3.3UPS带稳压功能的延迟电源2.3.4计算机及打印机2.3.5两年消耗件3.技术指标3.1仪器工作环境3.1.1工作温度：18-32︒C3.1.2工作湿度：20-80%（20︒C）3.1.3适用电源：单相，220V（±10%），或380V（±10%），50Hz。
3.1.4接地电阻：≤10Ω3.1.5P10（氩/甲烷气：99.999%）3.1.6P10气瓶减压阀及压力表：主量程0-25MPa，分表量程0-0.4Mpa。
3.1.7国内直拨电话线：1根，用于远程诊断。
3.1.8持久性：仪器设计为连续工作，可长期开机使用。
3.2仪器功能与组成3.2.1适用于地质、农业、环境等领域样品分析及科学研究。
3.2.2采用最新设计，具备快速半定量、定量测定元素含量的功能，覆盖8O-92U元素范围，适用于固体、粉末及特殊不规则小样品或微量杂质的含量分析，分析方法包含校正曲线法和无标样分析法。
3.2.3系统由X-射线光管、晶体、测角仪、探测器、数据工作站、操作软件、无标样定量分析软件、UPS电源(1小时)、循环冷却水系统等运行必备部件组成。
3.3技术规格3.3.1总体要求3.3.1.1仪器类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪*3.3.1.2元素分析范围：8O-92U3.3.1.3浓度范围：ppm-100%3.3.1.4样品类型：固体、粉末、不规则小块等。
3.3.2X-光源系统3.3.2.1最大功率≥4kW3.3.2.2最大电压≥60kV3.3.2.3最大电流≥150mA3.3.2.4光管类型：超尖锐端窗型陶瓷X-射线光管，长寿命灯丝。
X射线荧光光谱分析技术简介2
9
光分析法
非光谱分析法 光谱分析法
圆 折 二 射 色 法 性 法
X 射 干 线 涉 衍 法 射 法
39
全固态检测器
40
仪器结构和微区分析系统 专利]
可以在30mm直径内的任意位置进行分析。
41
250um成图分析，世界首创
实用的详细显示
岩石样品
Ba 250μm 成图
Ba 1mm 成图
42
滤光片
初级滤光片 次级滤光片
43
初级滤光器(光源滤光片)
作用
–降低背景 –改善荧光
样品
初级滤光片 检测器 X射线源
6
7
波长λ(ｍ) 10-13 10-12 10-11 10-10 10-9 10-8 10-7 10-6 10-5 10-4 10-3 10-2 10-1 1Å
pm nm μm
1 10 1 10 2 10 3
10 4
m
km
射 线
射 线
紫 可 外 见 线 光
红 外 线
微 波
超 短 中 短 波 波 波
X射线荧光光谱仪
1
基础知识简介
2ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
什么是仪器分析？
仪器分析是一大类分析方法的总称，一般的说，仪 器分析是指采用比较复杂或特殊的仪器设备，通过 测量物质的某些物理或物理化学性质的参数及其变 化来获取物质的化学组成、成分含量及化学结构等 信息的一类方法。或者说通过施加给测试样品一定 的能量，然后分析其对声、光、电等物理或物理化 学信号的响应程度或变化大小。分析仪器即测量这 些信号及变化的装置。根据待测物质在分析过程中 被测量或用到的性质，仪器分析可分为光分析方法、 电分析方法、分离分析方法等。
手持式x射线荧光光谱仪标准
手持式X射线荧光光谱仪标准一、仪器性能手持式X射线荧光光谱仪应具备稳定性好、灵敏度高、抗干扰能力强等性能特点。
仪器应具有可靠的防护设施，确保操作安全。
仪器应具备较高的分辨率和能量分辨率，以获得更准确的分析结果。
仪器应具备多种测量模式，以满足不同样品的分析需求。
二、样品制备样品制备过程应遵循无损检测原则，尽量减少样品污染。
样品制备时应根据不同材质和厚度选择合适的研磨方法和材料，以保证样品表面的平整度和光洁度。
样品制备时应避免过度热处理或冷处理，以免引入额外的元素或改变元素含量。
样品制备时应记录所有处理步骤和参数，以便后续数据分析。
三、数据分析数据分析应基于合适的分析方法和数据处理技术，以获得准确的分析结果。
数据分析时应考虑背景校正、基线校正、扣背景等处理方法，以消除干扰因素的影响。
数据分析时应比较分析结果与标准值或预期值，以确保分析结果的可靠性。
数据分析时应记录所有数据处理步骤和分析结果，以便后续评估和验证。
四、仪器校准仪器校准应定期进行，以确保仪器的准确性和稳定性。
仪器校准时应使用标准样品或参考样品，以评估仪器的性能指标。
仪器校准时应记录所有校准步骤和参数，以便后续评估和验证。
仪器校准时应根据需要调整仪器参数，以提高分析结果的准确性。
五、测量不确定度测量不确定度应通过实验方法和统计分析方法进行评估。
测量不确定度应包括随机不确定度和系统不确定度两部分。
测量不确定度应符合相关标准和规范的要求。
测量不确定度应在分析结果中进行评价和报告。
六、安全性使用手持式X射线荧光光谱仪时应遵循安全操作规程，确保人员安全和设备安全。
使用时应确保仪器周围无明火或易燃物品，以免发生火灾或爆炸等危险情况。
使用时应避免过度暴露于电磁辐射或X射线等有害因素中，以免对人员和环境造成不良影响。
使用时应配备适当的防护装置，如手套、护目镜、防护服等，以保护人员免受伤害。
七、使用环境手持式X射线荧光光谱仪应使用在干净、干燥、无尘的环境中，以确保仪器的正常运行和使用寿命。
X射线荧光光谱仪制样要求
X射线荧光光谱仪制样要求1、定量分析定量分析是对样品中指定元素进行准确定量测定。
定量分析需要一组标准样品做参考。
常规定量分析一般需要5个以上的标准样品才能建立较可靠的工作曲线。
常规X射线荧光光谱定量分析对标准样品的基本要求：(1)组成标准样品的元素种类与未知样相似(最好相同)；(2)标准样品中所有组分的含量应该已知；(3)未知样中所有被测元素的浓度包含在标准样品中被测元素的含量范围中；(4)标准样品的状态(如粉末样品的颗粒度、固体样品的表面光洁度以及被测元素的化学态等)应和未知样一致，或能够经适当的方法处理成一致。
标准样品可以向研制和经营标准样品的机构(如美国的NIST等)购买，如果买不到合适的标准样品，可以委托分析人员研制，但应考虑费用和时间的承受能力。
2、定性分析与半定量分析定性分析和半定量分析不需要标准样品，可以进行非破坏分析。
半定量分析的准确度与样品本身有关，如样品的均匀性、块状样品表面是否光滑平整、粉末样品的颗粒度等，不同元素半定量分析的准确度可能不同，因为半定量分析的灵敏度库并未包括所有元素。
同一元素在不同样品中，半定量分析的准确度也可能不同。
大部分主量元素的半定量分析结果相对不确定度可以达到10%(95%置信水平)以下，某些情况下甚至接近定量分析的准确度。
半定量分析适用于：对准确度要求不是很高，要求速度特别快(30min以内可以出结果)，缺少合适的标准样品，非破坏性分析等情况。
另外，分析样品中，除要求分析的感兴趣元素外，其他元素或组分的含量也必须预先知道。
如Li2O-B2O3-SiO2系的玻璃，由于常规不能分析Li2O和B2O3，所以必须用其他方法(如AA，ICP-AES等)测出它们的含量，然后用X射线荧光光谱法测定其他元素。
波长色散X射线荧光光谱仪技术指标
冷轧厂波纹度检测仪技术要求1. 设备名称及数量波纹度检测仪9台2. 技术指标与参数要求2.1 设备为便携式，仪器无须借助平台支撑，即可满足冷轧厂现场不同工位使用要求；2.2 示值误差≤±5％，示值变动性≤3％，测量范围800μm（无导头测量方式），波纹度取样长度8毫米，波纹度行程≥50mm；2.3 设备满足PV 1054:2015-02 《钢板车身外表面波纹度检测》标准和SEP1941-2012《冷轧金属扁平轧材浪形特征值Wsa (1-5)的测量标准》的测量要求要求，并保证Wsa1-5测量点距离 30mmWa0,8测量点距离 50mmX-方向横向步宽≤ 5 μm (相当于10 000 个测量点在 50 mm的测量区间内) 3. 设备配置3.1 可测Wca、Wsa、Wsa1-5、Wa0.8、Wa、Wp、Wv、Wt、Wz（ISO）、Wq、Wsk、Wc、WS、WSm、Wlo、WHSC、Wpc、Wmr(c)、Wz(JIS)等波纹度参数；可进行断面曲线、波纹度曲线的评价。
能够分辨出Wa0.8≤ 0.5 μm 或者 Wsa1-5≤ 0.35 μm指标。
设备最好能够具备粗糙度与PC值测量能力（不做强制要求）。
3.2 传感器方式：差动变压；测针：插换式；测针半径：5μmR, 90°圆锥。
3.3 软件系统能够对各种微观的波纹度参数进行解析。
测量计算机可直接显示测量数据和图形，通过打印机打印测量结果，具备USB内存接口，方便数据的存储以及外部数据处理装置再解析。
3.4 每台设备至少配备一个标准样板，要求提供中国计量院出具检定证书。
3.5 安全装置：配有紧急停止引擎按钮，确保设备操作安全。
3.6未尽事宜满足SEP1941-2012《冷轧金属扁平轧材浪形特征值Wsa (1-5)的测量标准》标准、JIS B0601、JIS B0610和PV 1054:2015-02 《钢板车身外表面波纹度检测》标准要求。
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X射线荧光光谱仪技术要求
1.顺序扫描加波长色散式X射线荧光光谱仪。
2.用途：
3.测量元素：Na, Mg, Al, Si, P, S, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Nb, Mo, Sn, Sb,
Ta, W, Pb, Bi
4.最大功率3600W, 最大输出电压60KV，最大电流120mA。
最大线电压变化-15%~ +10%；
电压每变化1%，稳定性为±0.0001%。
5.X射线管：铑靶X射线管, 铍窗厚度75µm。
6.通过液/气热交换器的内置去离子水循环。
7.配置外水冷机，温度<20ºC，压力≥2巴；根据发生器功率设定，调节流量在0.5 ~ 4.5
升/分。
8.光谱室：真空室温度波动控制在±0.3ºC，晶体温度波动控制在±0.1ºC，保证分析数据
的稳定可靠。
9.高精度的测角仪：全自动、无齿轮、可编程微处理器控制的光学编码测角仪
∙元素范围：O ~ U
∙4位可编成准直器转换器, 至少带3个准直器
∙9位晶体转换器，至少带4块晶体
∙2个探测器：闪烁计数器和流气正比计数器（Ar/CH410%：流量5~10毫升/分），通过光学编码器保证达到晶体和探测器的θ/2θ关系，不需要任何机械调整，无摩
擦，无磨损
最大转动速度：4800º2θ/分
线性响应：流气正比计数器，2Mcps；闪烁计数器，1.5Mcps
10.样品转换器和样品盒：12位自动进样器，双向任意驱动，可设置优先分析位置。
样品最
大高度40mm，最大直径60mm；样品盒在分析位置旋转速度：60rpm。
11.无标样分析软件包，用于各种样品分析，对多元素单层和单元素多层的厚度和浓度计算。
12.软件：提供运行稳定的、用于仪器正常工作和常规分析的标准软件、无标样分析软件包、
数据传输软件及其他必要的软件。
最先进的用户图形界面，中文操作界面；完整的Microsoft SQL Server Desktop Engine 关系数据库，储存数据和分析结果；使用分析参数模板的定量分析；对多种样品灵活的批量自动分析和测量，并支持优先权样品和时序；完整的分析助手工具包，建立测量方法和修正参数；建立校正曲线；结果确认和编辑、浓度结果重新结算、结果存储和后处理、
统计、导出到其它应用软件；仪器检查；仪器标准化；类型标准化；样品管理；监控；
在线文件帮助；密码保护、数据库维护工具。
13.工作曲线与校正样品：由仪器制造厂家应用工程师帮助建立相关工作曲线并协助购置校
正样品。
14.计算机、打印机：配置一套计算机硬件系统，以及激光打印机。