6微位移测量详解

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机械工程测试技术基础第6章位移测量

机械工程测试技术基础第6章位移测量

2、非接触式轮廓仪
国家标准中规定的评定 基准为轮廓中线,

1、最小二乘中线
n
yi2 min
i 1
2、算术平均中线。中 线上下部分所包含的轮 廓面积相等(常用)
n
n
Fi Fi'
i 1
i 1
表面粗糙度的高度评定 参数:
轮廓算术平均偏差:
Ra
1 l
l 0
y
dx
n
或 ( yi ) / n i 1
位移测量方法
位移测量包括线位移测量和角位移测量。位 移测量的方法多种多样,常用的有下述几种。
(1)积分法 (2)回波法 (3)线位移和角位移相互转换 (4)位移传感器法
(1)积分法
测量运动体的速度或加速度,经 过积分或二次积分求得运动体的位移。
例如在惯性导航中,就是通过测 量载体的加速度,经过二次积分而求得 载体的位移。
图 正余弦旋转变压器
当输出绕组接有负载时,就有电流通过输出绕组并产 生电枢反应磁通,使气隙中磁场发生畸变,输出电压 亦产生变化。为了减小这种变化,应将辅助绕组 D3D4短接,或在两输出绕组上接对称负载。为提高 旋转变压器的精确度,其负载阻抗应尽量大。
6.3 位移测量应用实例 1.回轴轴误差运动的测量 回转轴误差运动是指在回转过程中回转轴线偏离理想位置而 出现的附加运动。 径向误差运动的常用测量方法
分辨力高,寿命长, 后续电路较复杂
测量范围宽,使用方 便可靠,寿命长,动 态性能较差
结构简单,耐油污、
水,被测对象材料,
<3%
灵敏度不同,线性范
围须重校
变面




变间

(10-3 ~10)mm

结构力学——6位移法和力矩分配法

结构力学——6位移法和力矩分配法

△ △
4、5、6 三个固定端都是不动的点,结点1 、2、3均无竖向位移。又因两根横梁其长 度不变,故三个结点均有相同的水平位移 FP △ 。
1
2
3
4
5
6
(a)
事实上,图(a)所示结构的独立线位移数 将结构的刚结点(包括固定支座)都变成 目,与图(b)所示铰结体系的线位移数目 铰结点(成为铰结体系),则使其成为几何 是相同的。因此,实用上为了能简捷地确 不变添加的最少链杆数,即为原结构的独 定出结构的独立线位移数目,可以 立线位移数目(见图b)。
4
5
6
(a)
共有四个刚结点,结点线位移数目为二 ,基本未知量为六个。基本结构如图所 示。
7
10 返回
5
6
(b)
例:确定图a所示连续梁的基本结构。 D B A C D B A C
(图a)
A A
B B
基本结构 基本结构
C C
D (图b) D
在确定基本结构的同时,也就确定了基本未知量及其数目。
EI
第六章
位移法和力矩分配法
§6—1 位移法的基本概念 §6—2 位移法基本未知量的确定 §6—3 位移法典型方程计算步骤和示例 §6—4 力矩分配法的基本概念 §6—5 用力矩分配法计算连续梁 §6—6 用力矩分配法计算无接点线位移刚架
1
§6—1
位移法的基本概念
一、位移法的提出(Displacement Method)
M
A
B
0
2i
r11 4i 4i 0
8EI r11 8i l
2i
M1

15
求自由项R1P,作出基本结构在荷载作用时的弯矩 图(MP图)。 取结点B为隔离体

微小尺度位移的测量

微小尺度位移的测量

微小尺度位移的测量概述微小尺度位移的测量是现代科技中不可或缺的一个重要环节。

从先进的检测设备到精密的医疗治疗,都需要进行微小尺度位移的测量,而这个领域已经成为了一个独特的、应用广泛的交叉学科。

在本文中,我们将探讨微小尺度位移的测量的相关知识。

微小尺度位移微小尺度位移的概念是非常基础的一个概念,它指的是一个物体在空间运动时移动的距离非常小,往往需要高精度、高灵敏度的测量手段来进行检测。

在物理学中,微小尺度位移通常是用亚微米(10^-6 米)作为单位来测量。

一般而言,微小尺度位移测量包括两个方面:静态位移和动态位移。

静态位移通常主要涉及到结构变形和误差改正等本质上是慢速过程的测量,而动态位移则是指在一定周期内快速发生、易受外界干扰,例如震动、旋转等复杂运动状态下的位移测量。

微小尺度位移的测量方法微小尺度位移的测量通常需要经过一系列复杂的操作,包括仪器的选择、信,号处理、数学模型、数据记录等等。

目前应用最广泛的微小尺度位移测量方法有以下几种:激光干涉法激光干涉法是一种应用非常广泛的、接触式的微小位移测量技术。

它通过测量干涉条纹的移动量来判断物质的位移量大小。

激光干涉法的特点是可以实时测量位移,而且精度高,所需设备简单、灵敏度强。

光学衍射法光学衍射法也是一种非常常用的微小位移测量方法,它主要利用衍射规律和光的相干性原理进行测量。

常见的光学衍射法有海拔法、索曼斯衍射法等,并且往往采用计算机图像处理技术进行数据分析。

电容式微小位移测量仪电容式位移测量仪是利用物体的微小尺度位移而变化的电容来计量物体移动距离,通过测量电容的-size来测量物体的位移量。

这种方法精度高,但是受制于电容变化范围较小,灵敏度较弱的问题。

应用展望微小尺度位移测量作为一种新兴的、技术含量高的技术,在未来的应用中还有非常广泛的发展空间。

例如在制造业中,微小尺度位移测量可以用于工件精度检测;在医疗领域中,微小尺度位移测量则可以用于治疗精密手术等方面。

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法在物理实验中,微小位移量的测量是一个重要的环节。

纳米级的位移量可以帮助我们研究非常微小的事物。

而光学测量方法是一种高精度、非接触式的测量方法,被广泛应用于微小位移量的测量中。

本文将介绍几种常用的光学测量方法。

一、白光干涉法白光干涉法是一种常用的测量光程差的方法。

在实验中,利用Michelson干涉仪产生干涉条纹,通过计算干涉条纹的移动距离,可以得到微小位移量的数值。

在白光干涉法中,由于光波长的分散性质,光源的发光波长不同,因而干涉条纹的颜色也随着移动位置的改变而改变。

通过光谱技术,可以将光源发的不同波长的光分离开来,进一步减小误差。

白光干涉法的优点是光源便宜易得,采样快速;缺点是对光源的光谱性质要求较高,需要对光源进行调整。

二、激光干涉法与白光干涉法相比,激光干涉法具有光源单色性好、光强稳定等优点。

激光干涉法也是一种非常重要的光学测量方法。

激光干涉法的原理与白光干涉法相同,所不同的是,激光干涉法使用的是激光的单色性,因此绝大部分的激光干涉仪是由He-Ne激光器作为光源。

激光干涉法的优点是可使干涉条纹清晰明显,易于处理数据;缺点是激光器使用成本较高。

三、莫尔条纹法莫尔条纹法是利用干涉现象测量表面形状和表面变形的方法。

在莫尔条纹法中,将一系列的‘条纹’透射到平整或有形状的表面上,通过观察条纹的特殊布局和消失位置等,可以得到表面的变化信息。

莫尔条纹法的主要优点是测量精度高、分辨能力强,其测量原理基于光学干涉,不易受到外界干扰,具有快速、高效等特点。

四、激光视轮法激光视轮法是一种利用激光束对物体进行带有方向的扫描,然后依据扫描的结果来测量物体表面形状和位移量等的方法。

在实验中,将激发的光束反射到物体表面,同时维持一定角度的斜向照射,通过扫描预先设定区域,生成一个三维物体的表面形状的图像。

激光视轮法的优点是测量精度高、成像速度快、测量能力强等,目前已被广泛应用于工程领域、生物医学领域等多个领域。

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法在物理实验中,测量微小位移量是非常重要的。

微小位移量的测量可以用来研究物体的运动规律和性质,同时也可以应用到各种不同的领域,例如工程、医学、空间科学等。

光学测量方法是一种常用的方法,它采用光学原理来测量微小位移量,具有非接触性、高精度和高灵敏度等优点。

本文将介绍几种常用的光学测量方法,包括差动测量法、干涉测量法、激光测量法和数字全息测量法,并对它们的原理、应用和优缺点进行详细介绍。

差动测量法是一种基于两束光的相位差来测量微小位移量的方法。

它的基本原理是将两束光沿不同的光路传播,然后再将它们进行合并,通过比较两束光的相位差来测量位移量。

差动测量法在实际应用中有多种实现方式,例如双臂激光干涉仪、激光多普勒测速仪等。

双臂激光干涉仪是最常见的一种实现方式,它采用激光作为光源,通过将激光分为两束,分别沿不同的光路传播,并最终在相位板上进行叠加来进行测量。

在测量时,当被测物体发生微小位移时,两束光的相位差会发生变化,通过测量这种相位差的变化就可以得到位移量。

差动测量法在很多领域都有广泛的应用,例如机械工程、光学工程、材料科学等。

它具有非接触性、高精度和稳定性的优点,在微小位移量的测量中有着很高的应用价值。

但是,差动测量法也有一些缺点,例如对环境条件要求较高,需要较长的测量时间,同时对系统的稳定性和复杂性也有一定要求。

干涉测量法是一种基于光的干涉现象来测量微小位移量的方法。

干涉测量法的基本原理是利用干涉仪的干涉图样来测量光的相位差,从而得到被测物体的位移量。

干涉测量法在实际应用中有多种实现方式,例如薄膜干涉法、多束干涉法和全息干涉法等。

薄膜干涉法是一种常见的实现方式,它采用薄膜反射镜或衍射光栅等器件来产生干涉图样,通过测量干涉图样的变化来测量位移量。

在测量时,通常需要通过对干涉图样进行处理,例如通过解调或者数字图像处理等方式,来得到被测物体的位移量。

干涉测量法在很多领域都有广泛的应用,例如半导体制造、光学显微镜、生物医学等。

情境六、位移的检测

情境六、位移的检测
情境六 位移的检测
【情境描述】
位移的检测是指测量位移、距离、位置、尺寸、角 度、角位移等几何量,是机械加工的重要参数。许 多参数如力、形变、厚度、间距、振动、速度、加 速度等非电量的测量也可以转换为位移的测量。根 据这类传感器的信号输出形式,可以分为模拟式和 数字式两大类,参见表6-1所示。
任务一 电感式接近开关用于物位的检测
1.正确使用光敏电阻
二、位移传感器的使用
2.正确使用增量式光电编码器
1) 机床纵向进给速度控制 2) 高速旋转测速 3) 低转速测速 4) 注意点
二、位移传感器的使用
3.正确使用光栅传感器
1) 辨向电路 2) 细分技术
一、位移传感器的选型
◆ 任务实施
二、直线光栅位移传感器的实际应用
1.传感器的安装
1.自感式传感器
1)变间隙型电感传感 器
2)变面积型电感传感 器
3)螺管型电感传感器 4)差动式电感传感器
一、认识电感传感器
一、认识电感传感器
2.差动变压器式传感器
一、认识电感传感器
3.电涡流式传感器
1) 高频反射式电涡流传感器 2) 低频透射式电涡流传感器
二、电感传感器的使用
电感传感器能实现信息的远距离传输、记录、显示和控制, 在工业自动控制系统中被广泛采用。它主要用于测量微位 移,凡是能转换成位移量变化的参数,如压力、力、压差、 加速度、振动、应变、流量、厚度、液位等都可以用电感 式传感器来进行测量。其应用范围主要包括:可测量弯曲 和偏移;可测量振荡的振幅高度;可控制尺寸的稳定性; 可控制定位;可控制对中心率或偏心率。
一、认识光电传感器
5) 光敏三极管 6) 光电池
一、认识光电传感器
一、认识光电传感器

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法

物理实验中微小位移量的几种光学测量方法光学测量是物理实验中常用的一种测量方法,它可以精确的测量微小的位移量。

在物理实验中,微小的位移量是非常重要的,因为它们可以提供关于物体运动和形状的关键信息。

在光学测量中有多种方法可以用来测量微小的位移量,这些方法包括干涉法、衍射法、激光测量法等。

本文将对这些光学测量方法进行详细介绍。

1.干涉法干涉法是一种光学测量方法,它利用光的干涉现象来测量微小的位移量。

当一个物体发生微小的位移时,会导致其表面或表面附近的光程发生变化,从而引起干涉条纹的移动。

通过观察干涉条纹的移动,可以测量出物体的位移量。

干涉法有许多种实现方式,常见的有薄膜干涉、朗伯干涉、迈克尔逊干涉等。

薄膜干涉是一种利用薄膜表面反射光产生干涉现象的方法。

当薄膜表面发生微小的位移时,会引起薄膜的光程发生变化,从而引起干涉条纹的移动。

通过测量干涉条纹的移动,可以计算出薄膜的位移量。

朗伯干涉是一种利用透过两个旋转角度不同的偏振镜的光产生干涉现象的方法。

当光通过两个旋转角度不同的偏振镜时,会产生两束光,这两束光之间会发生干涉现象。

通过测量干涉条纹的移动,可以计算出物体的位移量。

迈克尔逊干涉是一种利用分束镜将一束光分为两束光,并使其经过不同的光程,然后再通过合束镜使其重新合并产生干涉的方法。

通过改变一个光程使得两束光之间产生相位差,从而产生干涉现象。

通过测量干涉条纹的移动,可以计算出物体的位移量。

2.衍射法衍射法是一种利用光的衍射现象来测量微小的位移量的方法。

当光通过一个狭缝或者物体边缘时,会产生衍射现象。

当物体发生微小的位移时,会导致其衍射图样发生变化,从而可以通过测量衍射图样的变化来计算出物体的位移量。

衍射法有许多种实现方式,如菲涅尔衍射、菲索衍射等。

菲涅尔衍射是一种利用衍射光产生的干涉现象来测量微小的位移量的方法。

当光通过一个狭缝或者物体边缘时,会产生衍射现象,而衍射光会产生干涉现象。

通过测量干涉条纹的移动,可以计算出物体的位移量。

物理实验中位移的测量与分析方法

物理实验中位移的测量与分析方法

物理实验中位移的测量与分析方法在物理实验中,位移是一个非常重要的物理量,它描述了物体在空间中的位置变化。

而准确测量位移对于研究物体的运动规律以及验证理论模型具有关键性的意义。

本文将介绍几种常见的物理实验中位移的测量与分析方法。

一、直观测量法直观测量法是指通过肉眼或仪器直接观察目标物体的移动情况,并对其位移进行估计和记录。

这种方法通常适用于需要较粗略测量的情况,比如通过目视观察来测量物体的长度或移动距离。

然而,由于人眼视觉的限制以及人为误差的存在,直观测量法在测量精度方面存在一定的局限性。

二、刻度尺测量法刻度尺测量法是一种基础的位移测量方法,通过使用标有等距刻度的尺子或测量仪器,可以直接读取目标物体在直线方向上的位移。

这种方法常用于测量长度、高度或位移较小的物体,如螺旋测微器可用于测量微小位移。

三、位移传感器测量法位移传感器测量法是一种使用物理传感器来测量物体位移的方法。

常见的位移传感器包括光电、电感、电容和压阻传感器等。

例如,光电传感器通过检测光线的反射或透射来测量物体的位移,电阻变化传感器则通过测量电阻的变化来计算位移。

位移传感器测量法在测量精度和稳定性方面具有优势,适用于对位移要求较高的实验。

四、干涉法测量位移干涉法是一种基于光波干涉原理来测量物体位移的方法。

常见的干涉法包括光栅干涉、迈克尔逊干涉和薄膜干涉等。

这些方法利用光的干涉现象可以非常精确地测量物体位移,其测量精度可以达到亚微米甚至纳米级别。

干涉法广泛应用于精密加工、光学测量以及材料力学等领域。

五、图像处理法测量位移图像处理法是一种利用图像信息进行位移测量的方法。

通过对物体的图像进行采集和处理,通过计算图像中物体位置的变化来测量位移。

这种方法通常使用在无法直接接触物体的测量场景中,例如流体力学实验、机器视觉和运动分析等。

图像处理法在位移测量方面具有高灵敏度和非接触性的优势,但对于图像的质量和算法的准确性有一定的要求。

总结起来,物理实验中位移的测量与分析方法多种多样。

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电位器式传感器的转换原理 根据电工知识,我们很容易理解电位器的电压转换原理。
设电阻体的长度为l,电阻值为R,两端所加(输入)电压为Ui,
则滑动端输出电压为
Ui Uo x l
式中,x为位移量。
电位器式传感器的结构与类型 电位器由电阻元件、 电刷、 骨架等组成。 其形式有直滑
式和旋转式, 旋转式有单圈和多圈两种。 电刷由触头、 臂、
应变效应与应变灵敏度
1. 金属导体的电阻应变灵敏度 金属导体的电阻与材料、长度、截面积和温度有关。在温 度一定时, 其电阻定律为
l R S
式中,R为导体的电阻值;l为导体的长度;S为导体的截面积; ρ 为导体的电阻率。
当沿金属丝长度方向施加力时,其几何尺寸和电阻率都会 变化,从而导致电阻值的变化。经证明可得

线位移是指

角位移是指

在机械工程中经常要精确测量零部件的位移或位置, 并且力、压力、扭矩、速度、加速度、温度、流量 等参数也可经转换为位移进行测量。
位移传感器的分类
电阻式位移传感器
电位器式传感器 电位器式传感器
线绕式电阻传感器 线绕式
非线绕式电阻传感器 非线绕式
薄膜电位器
导电塑料电位器
R K R
式中,K为应变灵敏度系数。
2. 半导体的压阻效应与压阻系数
对于半导体材料, 在某一晶向施加一定应力σ时, 其电阻 率将产生较大的变化, 而几何尺寸变化很小,这种现象称为压 阻效应。 相应的, 半导体应变电阻也常称为压阻元件。 半导体 材料压阻灵敏度为
K 1E
式中,E为半导体材料的弹性模量;π l为半导体材料的压阻系 数。 半导体应变片的K约为几十甚至几百, 远大于金属电阻的 应变灵敏度。 但其温度稳定性远不如金属电阻应变片。
导向及轴承等装置组成; 触头常用银、 铂铱、 铂铑等金属; 电刷臂用磷青铜等弹性较好的材料; 骨架常用陶瓷、 酚醛树脂
及工程塑料等绝缘材料。 电阻元件有线绕电阻、 薄膜电阻、
导电塑料电阻、 导电玻璃釉电阻等。
电位器式传感器的应用
1、航空飞行高度传感器
2、液面高度测试仪
应变式传感器
应变式传感器是根据应变原理, 通过应变片和弹性元件将 机械构件的应变或应力转换为电阻的微小变化再进行电量测量 的装置。 其基本构成如图所示。
点是灵敏度高, 允许通过大的电流。
图3-4 金属电阻应变片
2) 半导体应变片 半导体应变片有体型、 薄膜型和扩散型等形式。 图3-5是
体型半导体应变片结构示意图, 它由基片1、 条状半导体2、
几何量电子传感测量
测量工程研究所 叶晓明
微位移测量


概述 电阻式位移传感器 电阻应变式位移传感器 电容式位移传感器 电感式位移传感器 容栅式位移传感器 感应同步器 磁栅式位移传感器
概述


前边所介绍的多半用于大尺度的几何量测量, 而在工程领域常常需要对一些相对微小的位 移尺度进行测量,这通常由位移传感器来实 现。 位移传感器包括:
应变式传感器原理框图
应变式传感器具有以下优点: (1) 测量范围宽、精度高,如测量力可达 10-1 ~106N 、 0.05% F.S,测量压力可达10~1011Pa、0.1% F.S,测量应变可
达με~kμε级;
(2) 动态响应好,一般电阻应变片响应时间为10-7s, 半 导体式应变片响应时间达10-11s; (3) 结构简单使用方便,体积小,重量轻;品种多,价 格低, 耐恶劣环境, 易于集成化和智能化。
箔式电阻应变片是用光刻技术将康铜或镍铬合金箔腐蚀成 栅状而成。 其丝栅形状可与应力分布相适应, 制成各种专用应
变片。它的电阻值分散度小, 可做成任意形状, 易于大量生产,
成本低, 散热性好, 允许通过大的电流, 灵敏度高, 耐蠕变 和耐漂移能力强。 薄膜应变片是采用真空镀膜技术在很薄的绝
缘基底上蒸镀金属电阻材料薄膜, 再加上保护层形成的。 其优
1. 电阻应变片的类型与结构
1) 金属电阻应变片 金属电阻应变片的类型和结构如图所示, 它有丝式、 箔式 和薄膜式。 其中,图(a)为其结构示意图, 敏感栅粘贴在基 底上, 上面覆盖保护层。 基底有纸基和胶基两种。 应变片的 纵向尺寸为工作长度, 反映被测应变, 其横向应变将造成测量 误差。 圆角丝栅横向应变灵敏度高, 误差较大, 但耐疲劳性 好, 一般用于动态测量。 直角丝栅横向应变灵敏度小, 因而 精度高, 但耐疲劳性差, 适用于静态测量。

线位移传感器 角位移传感器

而倾斜传感器则是以重力线为参照基准的角 位移传感器
位移传感器

按形式分:

线位移 角位移 电阻式、 电容式、 涡流式、 压电式、 感应同步式、 磁栅式、 光电式等等

按物理原理分:






位移是指

物体的某个表面或某点相对于参考表面或参考点位置的变 化。 物体沿着某一条直线移动的距离; 物体绕着某一定点旋转的角度。
光电电位器
电位器式传感器


电位器是常用的一种电子元件, 它可以将机械位移或其他能变换 成位移的非电量变换为电阻值的 变化, 并容易转换成电压的变化。 电位器式传感器的优点:

结构简单, 价格低廉, 性能稳定, 对环境条件要求不高, 输出信号大, 易于转换, 便于维修。 存在摩擦, 分辨力有限, 精度不够 高, 动态响应较差,

其缺点:


仅适于测量变化较缓慢的量, 常 用作位置信号发生器。
结构和工作原理
线圈绕于绝缘骨架上,滑动触点(电刷)在移动过程中, 从一匝滑到另一匝时,电阻值随位移发生变化。
b x
R
a
b
c
l R A




电阻体是由电阻系数很高的极细均匀导线,按照一 定的规律整齐地绕在一个绝缘的骨架上制成的。 在它与电刷相接触的部分,将导线表面的绝缘去掉, 然后加以抛光,形成一个电刷可在其上滑动的接触 道。 电刷通常是由具有弹性的金属薄片或金属丝制成, 其末端弯曲成弧形,利用电刷与电阻本身的弹性变 形产生的弹性力,使电刷与电阻元件有一定的接触 压力,以使两者在相对滑动过程中保持可靠的接触 和导电。 电位器常用的电阻丝材料为铜镍合金(铜60%、镍 40%),电刷为磷青铜,骨架为陶瓷酚醛树脂等。
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