B1500A 半导体器件分析仪主机

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使用是德科技 B1500A 半导体器件分析仪 MFCMU 和 SCUU 进行 IV 和 CV 测量

使用是德科技 B1500A 半导体器件分析仪 MFCMU 和 SCUU 进行 IV 和 CV 测量

图 1. 机械手连接的基本电缆配置
延长 电缆
剩余电感是一个 固定值
延长 电缆
3T 配置
不同的电缆布设 会产生不同的剩余 电感。
即使您把电 缆移到被 测器件处,剩余电感
也 不会改 变,仍能 提 供 稳定和 精确的测量
ir
结果。
面积
屏蔽 2T 配置的剩余电感是固定的,因为保 护屏蔽中流过的感应电流与中心导体中流过 的电流大小相同而方向相反。这一感应电流 有助于屏蔽测量电流产生的磁通量,使剩余 电 缆电 感 保 持 一 个 较小的固定值。反 之,3 T 配置中没有形成返回电流路径。这种配置中 的剩余电感取决于电缆的随机布设状态。由 于电缆的布设不受控制,因此难以保持剩余 电感为稳定的固定量值。测试环境的振动也 会改变测量电缆的剩余电感,造成其不稳定 的量值。人们很难补偿 3T 配置中测量电缆 的剩余电感。这有时也被称作“返回路径问 题”,如果 3T 配置中电缆末端的保护屏蔽 不能 短 路 在一起,就 会产 生 这一问题。您可 按照图 2 所示的方法连接保护屏蔽来解决 这一问题。
SMU 1 SMU 2 电路公共端
三轴电缆
机械手 施压 保护端
三轴 连接器
机械手 施压
保护端
三轴 外部屏蔽
图 5 是一个与精确 CV 测量略有不同的测量 装置。使用 4TP-屏蔽 2T 转换之后的电缆路 径看起来类似于 IV 测量装置,但有两个重要 区别。第一,IV 测量装置中使用的是三轴电 缆,而 CV 测量装置中则使用同轴电缆。第 二,测量电缆与 CV 测量装置中的机械手探 针之间有一条保护连接线,而在 IV 测量装置 中没有这条保护连接线。
使用 Keysight B1500A MFCMU
和 SCUU 进行 IV 和 CV 测量

半导体参数分析仪技术参数

半导体参数分析仪技术参数

半导体参数分析仪技术参数
一、设备名称:半导体参数分析仪
二、采购数量:1台
三、技术参数及配置要求:
1. 半导体参数分析仪主机具有可扩展能力,可用插槽数目:不小于8个;
2. 具有4路SMU模块,可测量IV特性;其中2路中功率SMU模块输出能力:10mA@100V, 10mA@50V, 10mA@30V, 100mA@10V,其中2路高功率SMU模块输出能力:50mA@200V, 100mA@100V, 100mA@40V, 1A@20V, 1A@2V,SMU模块最小测量分辨率为:电流 50fA,电压 0.5uV;
3. 具有1路电容测量模块,电容测试模块测试频率范围:1kHz至5MHz,电容测试精度(1pF,1MHz)±1.2%;电容测量扫描方式:C-V(直流偏置),C-f(测试频率);
4. 提供用于TO,DIP封装器件的测试夹具;
5. 仪表内置Window7操作系统,带触摸式显示屏
6. 提供专用的测试软件对仪表进行控制和提取测试数据,具有曲线追踪功能,便于观察器件击穿和饱和情况;
四、安装、售后及培训:
1、交货期:合同正式生效后45天内到货。

2、质保期:自验收之日起,仪器设备至少免费保修三年。

保修期内维修上门取货送货;
3、包含该设备运输,上楼搬运。

仪器安装、验收:专业工程师提供免费的安装调试,并按照出厂指标验收。

4、培训:免费提供该仪器设备培训;提供本设备全套操作教学视频。

五、注意事项:
招标现场提供相关证据,证明能达到的功能和参数。

1。

半导体器件分析仪 (B1500A)

半导体器件分析仪 (B1500A)

技术概述B1500A 半导体器件分析仪加快基本的电流-电压(IV )和电容-电压(CV )测量 以及业界领先的超快速 IV 器件表征脉冲 IV 测量(IV )和电容-电压(CV )表征到快速、精准的脉冲 IV 测试的全方位测量。

此外,B1500A 的 10 槽模块化体系结构使您可以添加或升级测量模块,适应不断变化的测量需求。

综合解决方案满足您的 所有器件表征需求B1500A 半导体器件分析仪将多种测量和分析功能整合到一台仪器中,可精确快速地进行器件表征。

它是目前唯一能够提供广泛的器件表征功能以及出色测量可靠性和可重复性的多功能参数分析仪。

它能够执行从基本的电流 - 电压Keysight EasyEXPERT group+ 软件是 B1500A 自带的 GUI 界面软件,可在 B1500A 的嵌入式 Windows 10 平台上运行,支持高效和可重复的器件表征。

B1500A 拥有几百种即时可用的测量(应用测试),为测试执行和分析提供了直观和功能强大的操作环境。

它可以帮助工程师对器件、材料、半导体、有源/无源元器件或几乎任何其他类型的电子器件进行精确和快速的电子表征和 测试。

关键特性优势精密电压和电流测量(0.5 µV 和 0.1 fA 分辨率)–低电压和小电流的精确表征。

用于多频率(1 kHz 至 5 MHz )电容测量(CV 、C-f 和 C-t )与电流/电压(IV )测量 切换的高精度和低成本解决方案。

–无需重新连接电缆即可在 CV 和 IV 测量之间进行切换– 保持出色的小电流测量分辨率(使用 SCUU 时最小为 1 fA ,使用 ASU 时最小为 0.1 fA )– 为被测器件提供完整的 CV 补偿输出超快速 IV 测量,100 ns 脉冲和 5 ns 采样率–捕获传统测试仪器无法精确测量的超快速瞬态现象超过 300 种应用测试即时可用–缩短从学习仪器使用、进行测量到熟练操作仪器所需的时间包含示波器视图的曲线追踪仪模式–交互式地开发测试,并即时查看器件特征–无需使用任何其他设备便可对电流和电压脉冲进行验证(MCSMU 提供示波器视图)功能强大的数据分析和稳定可靠的数据管理–自动分析测量数据,无需使用外部 PC– 自动存储测量数据和测试条件,日后快速调用此信息让所有人都变成器件表征专家EasyEXPERT group+ 使器件 表征变得像 1、2、3 计算一样简单B1500A 的 EasyEXPERT group+ 软件包括 300 多种可以即时使用的应用测试,您只需简单的 3 步便可进行测量。

安捷伦仪器使用说明书中文

安捷伦仪器使用说明书中文

Alpha安捷伦B1500A半导体器件分析仪用户!ˉ的GUID安捷伦科技公司声明?安捷伦科技公司2005年,2006年,2007年,2008本手册的任何部分不得转载任何形式或通过任何手段(包括电子电子存储和检索或翻译成外国语言)事先同意MENT和安捷伦的书面同意作为由美国科技公司在美国和国际版权法。

手册部件号B1500-90000版2005年7月第1版,第2版,2005年12月2006年4月第3版第4版,2007年1月2007年6月5日,版第6版,2007年11月2008年10月7日,版安捷伦科技公司5301史蒂文斯溪大道95051美国加利福尼亚州圣克拉拉保证本文档中所含的物质是提供MENT!°为是,±,是苏如有更改,恕不另行通知,在以后的版本。

此外,最大而且,在适用法律法律,安捷伦提供任何保证,明示或暗示,关于本手册的任何信息所载,包括但不不限于隐含保证为杆的适销性和适用性特定用途。

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应该安捷伦与用户有一个单独的与保修的书面协议在这个物质的范围,涵盖记录与这些冲突条款,在保修则以协议arate中的协议为准。

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Amprobe AM-500-EUR 数字多功能电测仪系列说明书

Amprobe AM-500-EUR 数字多功能电测仪系列说明书

Announcing the Amprobe AM-500-EUR Digital Multimeter Series, a full line of digital multimeters that offer functions for every application. These tough meters are designed to be a reliable, feature-rich, and rugged solution for taking critical measurements in residential, HVAC, electrical and industrial www.Amprobe.euAM-510-EUR, AM-520-EUR, AM-530-EUR, AM-540-EURAM-510-EURAM-530-EUR AM-520-EUR AM-540-EURAM-550-EURAM-510-EUR AM-520-EUR AM-530-EUR AM-540-EUR AM-550-EURCAT III 600V CAT III 600VCAT II 1000V CAT III 600VCAT II 1000VCAT IV 600VCAT III 1000V ■7507501000 100010001000 101010 101010 404060■■■■■■■■■Amprobe ®info@ Everett, WA 98203Tel: 877-AMPROBE (267-7623)Amprobe ® Europe In den Engematten 14, 79286 Glottertal, Germany Tel.: +49 (0) 7684 8009 - 0For detailed specifications and ordering info go to www.amprobe.eu4148103 A©2012 Amprobe Test Tools. All rights reserved.www.Amprobe.euModelAM-510-EUR AM-520-EUR AM-530-EUR AM-540-EUR AM-550-EURGeneral Specifications Display3999 Digits3999 Digits3999 Digits5999 Digits5999 DigitsMeasurement ranges AC voltage 1 mV...600V 1 mV...750V 1 mV...750V 1 mV...1000 V 1 mV...1000 V Basic accuracy *± (1.0 % rgd. + 3 digits)± (1.0 % rgd. + 3 digits)± (1.0 % rgd. + 3 digits)± (1.0 % rgd. + 3 digits)± (1.0 % rgd. + 3 digits)Frequency range 45 Hz...400 Hz 45 Hz...400 Hz 45 Hz...400 Hz 45 Hz...1 kHz 45 Hz...1 kHz DC voltage 1 mV...600V 0.1 mV...1000 V 0.1 mV...1000 V 0.1 mV...1000 V 0.1 mV...1000 V Basic accuracy *± (0.8 % rgd. + 1 digits)± (0.8 % rgd. + 1 digits)± (0.8 % rgd. + 1 digits)± (0.5 % rgd. + 2 digits)± (0.5 % rgd. + 2 digits)Input resistance 10 M Ω10 M Ω10 M Ω10 M Ω10 M ΩCurrent AC 0.1 μA...10A 0.1 μA...10A 0.1 μA...10A 0.1 μA...10A 0.1 μA...10A Basic accuracy *± (1.2 % rgd. + 2 digits)± (1.2 % rgd. + 2 digits)± (1.2 % rgd. + 2 digits)± (1.2 % rgd. + 2 digits)± (1.2 % rgd. + 2 digits)Frequency range 45 Hz...400 Hz 45 Hz...400 Hz 45 Hz...400 Hz 45 Hz...1 kHz 45 Hz...1 kHz Current DC 0.1 μA...10A 0.1 μA...10A 0.1 μA...10A 0.1 μA...10A 0.1 μA...10A Basic accuracy *± (1.0 % rgd + 2 digits)± (1.0 % rgd + 2 digits)± (1.0 % rgd + 2 digits)± (1.0 % rgd + 2 digits)± (1.0 % rgd + 2 digits)Resistance 0.1 Ω...40 M Ω0.1 Ω...40 M Ω0.1 Ω...40 M Ω0.1 Ω…60 M Ω0.1 Ω…60 M ΩBasic accuracy *± (1.2 % rgd. + 2 digits)± (1.2 % rgd. + 2 digits)± (1.2 % rgd. + 2 digits)± (1.2 % rgd. + 2 digits)± (1.2 % rgd. + 2 digits)Continuity R < 10 ΩR < 10 ΩR < 10 ΩR < 10 ΩR < 10 ΩCapacitance 10 pF ...100.0 μF 10 pF ...4000 μF 10 pF ...4000 μF 60.00 nF ...60 mF 60.00 nF ...60 mF Basic accuracy *± (3 % rgd. + 5 digits)± (3 % rgd. + 5 digits)± (3 % rgd. + 5 digits)± (3 % rgd. + 5 digits)± (3 % rgd. + 5 digits)Frequenz 1,00 Hz...10 MHz 1,00 Hz...10 MHz 1,00 Hz...10 MHz 1,00 Hz...60 MHz 1,00 Hz...60 MHz Basic accuracy *± (0.1 % rgd. + 4 digits)± (0.1 % rgd. + 4 digits)± (0.1 % rgd. + 4 digits)± (0.1 % rgd. + 3 digits)± (0.1 % rgd. + 3 digits)Temperature --40...1000 °C -40...1000 °C -40...1000 °C -40...1000 °C Basic accuracy *-± (1.0 % rgd. + 8 digits)± (1.0 % rgd. + 8 digits)± (1.0 % rgd. + 8 digits)± (1.0 % rgd. + 8 digits)Measurement category CAT III / 600VCAT III / 600V,CAT II / 1000VCAT III / 600V,CAT II / 1000VCAT III / 600V,CAT II / 1000VCAT III / 600V,CAT II / 1000VPollution degree 2Safety EN 61010, IEC 61010Power supply 9 V (6F22)Dimensions 182 x 90 x 45 mm Weightapprox. 354 g (incl. battery)Scope of supply2 x test leads, 1 x 9 V battery, 1 x user manual 2 x test leads, 1 x temperature probe, 1 x strap, 1 x 9 V battery, 1 x user manual 2 x test leads,1 x temperature probe,1 x strap, 1 x 9 V battery,1 x user manual2 x test leads, 2 x temperature probe, 1 x temperature adaptor 1 x strap, 1 x 9 V battery, 1 x user manual 2 x test leads,2 x temperature probe,1 x temperature adaptor1 x strap, 1 x 9 V battery,1 x user manual* Basic accuracy refers to the best accuracy in the respective functionOrder numberDescriptionAM-510-EUR Digital Multimeter AM-520-EUR Digital Multimeter AM-530-EUR Digital Multimeter TRMS AM-540-EUR Digital Multimeter AM-550-EURDigital Multimeter TRMStEchnicAl dAtA AM-500-EUR sERiEsoRdER infoRMAtion。

IGZO薄膜晶体管的制备及其光电特性的研究

IGZO薄膜晶体管的制备及其光电特性的研究

科学技术创新2021.10编号 短路电流(A)开路电压(V)效率(%) 填充因子(%)A 0.272 2.712 28.45 84.39 B0.2732.72129.1885.70表2样品电性能参数3结论采用了两种国产光刻胶进行了工艺优化实验,观测分析了两种光刻胶的表面、截面特性,证明两种光刻胶均可以优化到较好的显影图形。

光刻图形进一步制备了金属栅线,并进行了牢固度实验,发现A 光刻胶制备的电池栅线发生了脱落现象,而B 光刻胶制备的电池栅线未发生脱落。

证明B 光刻胶的可靠性比A 光刻胶要好。

通过电致发光实验,我们发现A 电池表面存在阴影,而B 电池表面不存在阴影。

这说明A 电池发生电极脱落现象的原因是栅线与太阳电池基体未形成良好的接触。

进一步的电性能测试发现,A 电池的串联电阻比B 电池更大,验证了我们的分析。

综合分析得知,B 光刻胶工艺优于A 光刻胶工艺,更适合用于空间用太阳电池的栅线制备。

参考文献[1]铁剑锐,李晓东,孙希鹏.高效超薄空间用三结砷化镓太阳电池研制[J].电源技术,2018,42(08):86-88.[2]陈光红,于映,罗仲梓等.AZ5214E 反转光刻胶的性能研究及其在剥离工艺中的应用[J].功能材料,2005(03):113-115+122.[3]李雯,谭智敏,薛昕,等.紫外线厚胶光刻技术研究及应用[J].微纳电子技术,2003(08):151-153.IGZO 薄膜晶体管的制备及其光电特性的研究刘璐高晓红孟冰付钰孙玉轩王森刘羽飞胡顶旺(吉林建筑大学电气与计算机学院,吉林长春130000)众所周知,薄膜晶体管(TFT )在平板显示(FPDs )领域充当着重要的角色,尤其是有源矩阵液晶显示器件(AMLCD )和有源矩阵有机发光二极管显示器件(AMOLED )中[1]。

TFT 作为一种重要的开关器件,其性能的高低在很大程度上受到其半导体沟道层的影响。

与其它沟道层材料相比,氧化物沟道层可以在较低的工艺温度实现更均匀更平整的薄膜、更高的迁移率和更低的开启电压。

B1505A 功率器件分析仪 - 精确和高效地表征 (是德科技))

B1505A 功率器件分析仪 - 精确和高效地表征 (是德科技))

应用指南精确和高效地表征3000 V/20 A 功率器件B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪引言提高能效和降低碳排放量是半导体行业目前面临的两大要求,因此对功率器件进行精确表征变得越来越重要。

工程师们在不断改进半导体器件结构和制造工艺的同时,为了支持更高的电压并实现更低的导通电阻,还围绕碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)和氧化镓(Ga2O3)等新型宽带隙(WBG)半导体材料展开了大量研究。

为此,他们需要一种能够同时处理高电压和大电流的测量仪器。

过去,工程师们通常使用曲线追踪仪来表征功率器件,但是这种仪器的电压和电流测量精度比较低,在进行小电流测量时分辨率也无法令人满意。

像 Keysight B1500A 这样的参数分析仪虽然具有非常好的电压和电流测量精度,但其电压和电流量程却不适合用于评测功率器件。

为了解决这些问题,是德科技推出了 B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪。

它具有出色的电压和电流测量精度以及小电流测量分辨率,支持高电压和大电流测量,是一款简单易用的综合解决方案。

B1505A 配有新型 HVSMU(高电压源表模块)和 HCSMU(大电流源表模块),两者可分别输出最高 3000 V 电压和最高 20 A 电流。

B1505A 还支持 MFCMU(多频率电容测量单元),可以在 1 kHz 至 5 MHz 频率范围内进行电容测量。

此外,B1505A 还支持偏置 T 型接头,该接头与 HVSMU 配合使用,可以在最高 3000 V 的直流偏置下进行电容测量。

B1500A 和 B1505A 均自带 Keysight EasyEXPERT 软件,使您能够通过图形用户界面(GUI)便捷地控制所有这些测量资源。

EasyEXPERT 具有十分出色的自动分析、图形显示和数据处理能力,是这个功率器件表征和分析综合解决方案的重要组成部分。

使用 EasyEXPERT,您再也无需自行开发控制软件,也无需在定制的机架和堆叠系统中配备多台仪器。

半导体测试设备简介介绍

半导体测试设备简介介绍
度的测试需求。
产业链协同发展
半导体测试设备与半导体产业链密切相关 ,随着整个产业链的协同发展,半导体测
试设备也将迎来更大的发展空间。
市场需求驱动发展
随着半导体市场的不断扩大,半导体测试 设备的需求也将不断增加,进一步推动其 发展。
国际化趋势
随着全球化的加速发展,半导体测试设备 也将逐渐走向国际化,与全球市场接轨, 为全球半导体产业提供更优质的服务。
测试流程
操作人员将待测芯片放置在探针台上,通过探针卡与测试主 机连接,然后运行测试程序,对芯片进行性能和功能测试。 测试完成后,测试结果会显示在显示模块上,操作人员可以 根据结果判断芯片是否合格。
04
半导体测试设备的选型与使用 注意事项
选型原则与依据
测试需求
根据产品特性、生产流程和测试要求,选择 适合的测试设备。
作用
通过对半导体器件进行测试,可 以确保其性能和质量符合设计要 求,为半导体产业的发展提供有 力支持。
半导体测试设备的重要性
确保产品质量
半导体测试设备能够准确检测半 导体器件的性能参数,及时发现 并处理潜在的问题,确保产品的
质量和可靠性。
提高生产效率
通过自动化测试和数据分析,半导 体测试设备可以大幅提高生产效率 ,降低生产成本。
推动产业发展
半导体测试设备在半导体产业的发 展中具有重要地位,为新产品的研 发、生产和应用提供了有力支持。
半导体测试设备的发展趋势
智能化
随着人工智能、机器学习等技术的发 展,半导体测试设备将越来越智能化 ,实现更高效、更精准的测试和分析 。
模块化与集成化
为了满足不同应用场景的需求,半导 体测试设备将更加模块化和集成化, 便于用户根据实际需求进行定制和扩 展。
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B1500A 半导体器件分析仪主机/EasyEXPERT 软件
主要特性与技术指标
测量功能
∙在0.1 fA - 1 A / 0.5 µV - 200 V 范围内执行精确的电流-电压(IV)测量,支持点测量、扫描测量、采样和脉冲测量
∙在1 kHz 至5 MHz 频率范围内执行交流电容测量,支持准静态电容-电压(QS-CV)测量
∙先进的脉冲IV 测量和超快IV 测量,最低采样间隔为5 ns(200 MSa/s)
∙高达40 V 的高压脉势,适用于非易失存储器测试
∙测量模块可升级至10 插槽配置
工作环境(包含EasyEXPERT)
∙EasyEXPERT 软件(链接至EasyEXPERT)在嵌入式Windows 7 中运行
∙数百种测量程序库在需要时即可使用(应用测试)
∙15 英寸触摸屏支持您在器件表征时采取直观的操作、分析与探测
∙自动数据记录功能支持测试数据和测试条件的恢复,可使您轻松地进行探测
∙利用曲线追踪(旋钮操作)和自动记录特性来实现实时交互表征
∙利用便捷的在线/离线测试环境完成测试开发与分析(台式EasyEXPERT),从而最大限度地发挥仪器效用
描述
Agilent B1500A 半导体器件分析仪是一款用于器件表征的综合解决方案。

它支持IV、CV、脉冲IV 及快速IV 测量,可对器件、材料、半导体、有源/无源元件以及任意电气器件进行各种电气表征和评测。

模块化结构可使您根据测试需求随时把仪器升级到10 插槽配置。

嵌入式Windows 7 和功能强大的EasyEXPERT 软件借助先进的图形用户界面(GUI),可让您执行高效、数据可恢复的器件表征。

Agilent B1500A 是唯一一款能够适应多种测量需要的参数分析仪,具备极高的测量可靠性和易于使用的测试环境,可实现高效、数据可恢复的器件表征。

Agilent EasyEXPERT 是一款基于图形用户界面的必备软件,在B1500A 嵌入式Windows®7 中运行。

它支持所有类型的参数测试,从基本的IV 和CV 扫描到超快速IV 和脉冲IV 测量等等。

数百种即用型程序库(应用测试)可使您非常轻松地立即开始进行复杂测量。

仪器的全部操作通过15 英寸触摸屏、简单的键盘和鼠标操作来实现。

EasyEXPERT 软件还提供高效测试环境,支持您在器件表征时采取直观的操作、分析与探测。

测试条件和测量数据可以自动保存到工作区内,使您毫不费力地完成器件表征。

EasyEXPERT 主要特性:
∙支持所有类型的参数测试,从基本的IV 和CV 扫描到超快速IV 和脉冲IV 测量等等
∙数百种测量程序库在需要时即可使用(应用测试)
∙个性化工作区和测试数据自动记录特性便于您进行器件探测,无需考虑数据文件管理∙适用于数据分析和记录的图形显示/分析/打印功能
∙利用曲线追踪(旋钮操作)和自动记录特性来实现实时交互表征
∙借助Quick Test 工具,无需编程即可排列测试顺序
∙EasyEXPERT 典型测试模式提供Agilent 4155/4156 参数分析仪的外面、风格和术语∙导入/导出器件定义、测量设置、常用设置、测量数据和应用程序库
∙基于GUI 的开关矩阵控制面板
∙自测、自校准、故障诊断
即用型应用程序库
EasyEXPERT 的出众功能。

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