超声探头
超声探头的分类
超声探头是超声诊断中的关键部件，根据不同的应用和设计特点，可以将超声探头分为以 下几个常见的分类：
1. 线性探头（Linear Probe）：线性探头是最常见的超声探头类型之一。它具有平行排 列的多个发射和接收元件，可以提供高分辨率的图像，适用于浅部组织的成像，如血管、乳 腺等。
2. 凸面探头（Convex Probe）：凸面探头具有弧形的发射和接收元件，可以提供较大的 视野范围和较深的组织成像。它适用于腹部、心脏等深部组织的检查。
需要注意的是，不同类型的超声探头在成像特点、适用范围和价格等方面可能有所不同。 在选择超声探头时，需要根据具体的临床需求和应用场景进行选择。
5. 三维/四维探头（3D/4D Probe）：三维/四维探头可以在一个扫描周期内获取多个切面 的数据，从而生成三维或四维（即实时三维）图像。它适用于胎儿、乳腺等需要立体显示的应 用。
超声探头的分类
此外，还有一些特殊用途的超声探头，如微凸探头（微创手术中使用）、经食管探头（心 脏成像）等，它们根据具体的应用需求而设计。
超声探头的分类
3. 阵列探头（Phased Array Probe）：阵列探头由多个发射和接收元件组成，可以通过 变元件的激发顺序和时间来控制超声束的方向和焦点位置。它适用于心脏、血管等需要快速成 像和多普勒测量的应用。
4. 透视探头（Endocavity Probe）：透视探头是一种用于妇科和直肠检查的探头，通常较 小且易于插入体腔内。它具有较高的频率和分辨率，适用于妇科、泌尿系统等器官的检查。
医用超声探头的种类
医用超声探头的种类
医用超声探头是医学影像诊断中常用的一种设备，它能够通过
超声波来成像人体内部的器官和组织，帮助医生进行诊断和治疗。
根据不同的应用和需要，医用超声探头有多种不同的种类，每种都
有特定的用途和优势。
1. 线阵探头（Linear array transducer），线阵探头适用于
浅表部位的超声检查，如甲状腺、乳腺、肾脏等。
它具有高分辨率
和较宽的成像范围，适合于观察细小结构和进行定位测量。
2. 凸阵探头（Convex array transducer），凸阵探头适用于
深部器官的超声检查，如心脏、肝脏、膀胱等。
它具有较大的成像
深度和较宽的扫描范围，适合于观察大范围的解剖结构和进行动态
观察。
3. 阵列探头（Phased array transducer），阵列探头适用于
需要快速成像和动态观察的情况，如心脏超声检查和血管超声检查。
它具有快速成像和多普勒功能，可以观察心脏和血管的运动和血流
情况。
4. 便携式探头（Portable transducer），便携式探头适用于临床急救和移动医疗的场合，如急诊科、卫生院和野外医疗。
它具有小巧轻便、易于携带和操作的特点，可以在不同场合进行快速的超声检查和评估。
以上是一些常见的医用超声探头种类，它们在临床诊断和治疗中发挥着重要的作用。
随着科技的不断进步，医用超声探头的种类和功能还在不断地发展和完善，为医学影像诊断提供了更多的选择和可能。
超声探头的工作原理及结构
超声探头的工作原理及结构超声探头是医疗超声设备中的重要组成部分，主要用于产生和接收超声波信号。
它的工作原理和结构对于超声诊断的精确性和效果起着至关重要的作用。
本文将详细介绍超声探头的工作原理和结构。
超声探头的工作原理是利用声波的传播和回波来获取图像。
当超声波从探头的晶体发射出来时，它会在被检测物体内部产生声波反射，形成回波信号。
探头接收这些回波信号，并将其转化为电信号，经过放大和处理后再转换为声图像。
超声探头的具体工作原理主要取决于其内部的晶体和传感器。
超声探头的结构主要分为三部分：晶体、导电层和壳体。
晶体是探头内最重要的组成部分，通常由压电陶瓷材料制成，如铅锆钛酸盐（PZT）。
晶体的厚度和形状会影响探头的频率和焦距。
当晶体受到电信号的激励时，会产生机械振动，进而发射超声波。
晶体也具有接收回波信号的功能，将回波信号转换为电信号。
导电层位于晶体的表面，主要作用是为探头的电信号提供导电路径。
导电层通常由银或其他导电性材料制成，以确保信号传输的可靠性和稳定性。
它也可以通过改变导电层的形状和布局来调整探头的工作频率和形状。
壳体是超声探头的外部保护层，通常由塑料或金属材料制成。
它起到了保护晶体和导电层的作用，同时还可以起到减少外界干扰的作用。
壳体还可以通过改变其形状和尺寸来调整探头的焦距和探测深度。
除了以上的基本结构，超声探头还可以有其他的功能组件，如阵列式探头、多普勒组件等。
阵列式探头由多个晶体排列组成，可以产生多个散射波束，从而得到更精确的图像。
多普勒组件可以对血流进行测量和分析，是超声心动图和血流图的重要组成部分。
总结起来，超声探头是超声设备中至关重要的组成部分，其工作原理和结构直接决定了超声图像的质量和准确性。
通过晶体的发射和接收声波信号，探头可以产生高频的超声波并获取回波信号。
探头的结构主要包括晶体、导电层和壳体，其中晶体是最关键的部分。
此外，超声探头还可以根据具体的应用需求进行设计和改进，添加其他功能组件，以提高超声诊断的效果。
超声探头的种类及常用手法
超声探头是超声诊断仪器中的重要组成部分，用于发射和接收超声波，以获取人体组织的图像信息。
根据不同的应用需求和扫描目标，有多种种类的超声探头可供选择。
以下是一些常见的超声探头种类及其常用手法：
线阵探头（Linear Array Probe）：
特点：具有多个发射和接收元素，可以产生长条形的图像区域。
应用：常用于浅部结构的检查，如肝脏、甲状腺、乳腺等。
手法：线性扫描、动态扫描、彩色多普勒等。
凸阵探头（Convex Array Probe）：
特点：具有凸面形状的发射和接收元素，可产生弧形图像区域。
应用：常用于腹部、心脏、妇科等部位的检查。
手法：扇形扫描、心脏四腔扫描、血流动力学评估等。
直线阵探头（Phased Array Probe）：
特点：具有可调节的扫描角度和深度，适用于深部组织的检查。
应用：常用于心脏、血管、深部肿瘤等部位的检查。
手法：脉冲多普勒、频谱多普勒、彩色多普勒等。
体表探头（Surface Probe）：
特点：适用于浅表器官和结构的检查，如甲状腺、淋巴结等。
应用：常用于皮肤、浅表器官和血管的超声检查。
手法：高频成像、高分辨率成像、超声引导穿刺等。
阴道探头（Transvaginal Probe）：
特点：设计为适合经阴道插入的探头，适用于妇科检查。
应用：常用于妇科、产科和生殖器官的超声检查。
手法：阴道超声、子宫附件检查、妊娠监测等。
这些是超声探头的常见种类及其常用手法，具体的选择和使用要根据患者的病情、扫描部位和诊断目的进行。
医用超声探头原理
医用超声探头原理
医用超声探头是医学超声成像系统的关键部分，它负责发射和接收超声波信号。
探头内部包含多个发射与接收元件（晶体），一般为聚焦式阵列，通过电信号的控制，能够将超声波束聚焦在感兴趣的区域。
发射元件工作时会产生超声波脉冲，然后通过透明介质如凝胶传入被检查的部位。
当超声波遇到组织或器官时，部分能量会被吸收、反射或折射，形成回波信号。
接收元件则会接收这些回波信号，并将其转化为电信号，再通过探头内部的电路传给超声机进行信号处理。
为了实现更好的成像效果，医用超声探头通常采用多晶元件的阵列形式。
这种设计可以在不同方向上发射和接收超声波，形成多个传感点，从而实现多角度、三维成像。
此外，为了提高成像分辨率和深度，探头通常会采用多频率的工作模式。
不同频率的超声波在组织中的传播速度和散射特性不同，通过组合使用不同频率的超声波可以获取更清晰的图像信息。
总之，医用超声探头通过发送和接收超声波信号，利用回波信号生成组织的图像。
其采用多晶元件的阵列形式，多频率的工作模式和聚焦技术等设计，能够实现更精准、高分辨率的成像效果，为医学诊断提供了重要的技术支持。
医用超声探头分类
医用超声探头分类医用超声探头是超声影像学诊断设备的重要组成部分，利用声波照射人体组织，从而生成影像资料，提供临床医师基于声像图像作出准确诊断的依据。
探头的选择直接影响到诊断效果，因此探头的分类是医用超声技术应用的重要内容之一。
1. 点阵探头点阵式超声探头跟踪被检查物体时，其发出的每个声束均相互平行且均呈同一入射角度，形成了一组平行的声束，从而能够快速依次照亮被探测物的任意部位。
最终形成的声像图像素较高，分辨率高，可供医生对被检查器官进行详细观察和判断。
2. 线阵探头一维线阵式超声探头只能够发射一根声束，但通过不断旋转，得以快速扫过被探查物体的各个部位，形成图像。
它的缺点是成像速度较慢，建议应用于心脏、血管和骨骼关节等器官的检查。
3. 二维阵列探头二维阵列式超声探头由若干个小的发射器和接收器组成，它们互相垂直排列，这种构造方式可以将声波信号发射到任意方向，形成真正意义上的三维图像。
其矩阵密度大，像素及分辨率优越，可对不同深度及方向部位做连续扫描，速度快、成像清晰，非常适合检查胎儿、肝、肾及其他内脏器官。
4. 立体探头立体探头是一种适合于三维成像的探头，它是通过旋转传感器来生成三维图像，这样可以得到更准确、更完整的图像。
其特点是通过快速旋转和非限制性的面积扫描很快就可以生成高质量的三维图像，而且扫描过程中时间很短，极大地减少了对患者的刺激。
5. 内窥镜探头内窥镜探头是一种专用于体腔内脏器官检查的探头，它采用柔性材质制作，并通过细小的气孔缝隙来令声波震动并进行检查。
这种探头使用于检查胃肠道、鼻腔、口腔及阴道等部位。
6. 放大探头放大式超声探头能够放大被探查器官上的硬化度异常，这就有助于医生更准确地确定病灶的位置和大小。
放大式超声探头采用低频和高分辨率技术，有效降低了噪声和影响因素，查看结果更为清晰。
它适用于心脏、肝脏、肾脏和乳腺等器官的检查。
7. 外科探头外科探头适用于外科手术中进行术中超声，目的是探测患者的器官、病变的位置及大小，辅助医生进行手术。
超声探头原理
超声探头原理超声探头是超声波传感器的核心部件，是超声波传感器的发射和接收装置，也是超声波传感器能够实现测距、测厚、探伤等功能的关键部件。
超声探头的原理是基于超声波在不同介质中传播时的特性，通过超声波的发射和接收来实现对被测物体的检测和测量。
超声探头的原理主要包括超声波的发射和接收原理、超声波在材料中的传播原理以及超声波的检测原理。
首先，超声探头的发射原理是利用压电效应将电能转换为机械能，通过压电陶瓷产生超声波。
当施加电压时，压电陶瓷会发生形变，产生超声波。
而超声探头的接收原理则是利用压电效应的逆过程，将超声波转换为电信号。
当超声波作用于压电陶瓷时，压电陶瓷会产生电荷，从而生成电信号。
通过这种方式，超声探头可以实现超声波的发射和接收，从而实现对被测物体的检测和测量。
其次，超声波在材料中的传播原理是超声探头能够实现测距、测厚、探伤等功能的基础。
超声波在材料中传播时会发生折射、反射、衍射等现象，这些现象会受到材料的声速、密度、弹性模量等因素的影响。
通过对超声波在材料中传播过程的分析和处理，可以实现对材料性能的检测和测量。
最后，超声探头的检测原理是利用超声波在材料中传播时的特性，通过对超声波的发射和接收信号进行分析和处理，来获取被测物体的信息。
通过对超声波的传播时间、幅度、频率等参数的测量和分析，可以实现对被测物体的缺陷、厚度、密度等信息的获取。
总的来说，超声探头是超声波传感器的核心部件，其原理是基于超声波在材料中传播的特性，通过超声波的发射和接收来实现对被测物体的检测和测量。
超声探头的原理包括超声波的发射和接收原理、超声波在材料中的传播原理以及超声波的检测原理。
通过对超声探头原理的深入理解，可以更好地应用超声波技术进行检测和测量。
第三章医用超声探头
医学超声诊断设备
26
步进电机驱动的摆动式机械扇扫探头
优点: 结构简化，磨损小， 寿命长； 体积和重量较小； 传动误差小，光栅均 匀。
2019/12/8
医学超声诊断设备
27
特点: 压电振子固定，声反 射镜摆动。
缺点: 声束形状和扫描角度 等指标不理想。
2019/12/8
医学超声诊断设备
23
2. 基本要求
保证振子高速摆动，摆动幅度足够大； 摆速均匀稳定； 体积小、重量轻、便于手持操作； 外形适合探查需要，灵活改变扫查方式； 机械振动及噪音小； 对于旋转式，要求压电振元特性一致。
2019/12/8
医学超声诊断设备
24
3. 结构
典型的摆动式机械扇扫探头
2019/12/8
医学超声诊断设备
17
1.3 声学绝缘层
作用：防止超声能 量传到探头外壳引 起反射，造成对信 号的干扰。
材料：软木、橡皮 和尼龙。
2019/12/8
医学超声诊断设备
18
1.4 保护层
防磨损，保护层应 该选择衰减系数低 并耐磨的材料
声阻抗应接近人体 组织的声阻，其厚 度应为λ/4
医学超声诊断设备
13
§3.4 柱形单振元探头
柱形单振元探头主要用于A超和M超，又称 笔杆式探头。
目前在经颅多普勒（TCD）及胎心监护仪 器中亦用此探头。
它是各型超声成像仪用探头的结构基础。
2019/12/8
医学超声诊断设备
14
1. 结构
压电振子 垫衬吸声材料 声学绝缘层 外壳 保护面板
• 探头标称频率通常指换能器的机械谐振频率。
• 衰减大的组织用低频探头； 反之，用高频探头。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
超声波探头探头一、压电效应与压电材料某些单晶体和多晶体陶瓷材料在应力（压缩力和拉伸力）作用下产生异种电荷向正反两面集中而在晶体内产生电场，这种效应称为正压电效应。
相反，当这些单晶体和多晶体陶瓷材料处于交变电场中时，产生压缩或拉伸的应力和应变，这种效应称为负压电效应，如图所示。
负压电效应产生超声波，正压电效应接收超声波并转换成电信号。
常用的压电单晶有石英又称二氧化硅（SiO2）、硫酸锂（LiS04H20）、碘酸锂LiIO3）、铌酸锂（LiNbO3）等，除石英外，其余几种人工培养的单晶制造工艺复杂、成本高。
常用的压电陶瓷有钛酸钡（BaTi03）、锆钛酸铅（PZT）、钛酸铅（PbTiO3)、偏铌酸铅（PbNb2O4）等。
二、探头的编号方法三、探头的基本结构压电超声探头的种类繁多，用途各异，但它们的基本结构有共同之处，如图所示。
它们一般均由晶片、阻尼块、保护膜（对斜探头来说是有机玻璃透声楔）组成。
此外，还必须有与仪器相连接的高频电缆插件、支架、外壳等。
四、直探头（一）直探头的保护膜1.压电陶瓷晶片通常均由保护膜来保护晶片不与工件直接接触以免磨损。
常用保护膜有硬性和软性两类。
氧化铝（刚玉）、陶瓷片及某些金属都属于硬性保护膜，它们适用于工件表面光洁度较高、且平整的情况。
用于粗糙表面时声能损耗达20～30dB。
2.软性保护膜有聚胺酯软性塑料等，用于表面光洁度不高或有一定曲率的表面时，可改善声耦合，提高声能传递效率，且探伤结果的重复性较好，磨损后易于更换，它对声能的损耗达6～7dB。
3.保护膜材料应耐磨、衰减小、厚度适当。
为有利于阻抗匹配，其声阻抗Zm应满足一定要求。
4.试验表明：所有固体保护膜对发射声波都会产生一定的畸变，使分辨率变差、灵敏度降低，其中硬保护膜比软保护膜更为严重。
因此，应根据实际使用需要选用探头及其保护膜。
与陶瓷晶片相比，石英晶片不易磨损，故所有石英晶片探头都不加保护膜。
（二）直探头的吸收块为提高晶片发射效率，其厚度均应保证晶片在共振状态下工作，但共振周期过长或晶片背面的振动干扰都会导致脉冲变宽、盲区增大。
为此，在晶片背面充填吸收这类噪声能量的阻尼材料，使干扰声能迅速耗散，降低探头本身的杂乱的信号。
目前，常用的阻尼材料为环氧树脂和钨粉。
五、斜探头（一）结构与类型（二）透声楔斜探头都习惯于用有机玻璃作斜楔，以形成一个所需的声波入射角，并达到波型转换的目的。
一发一收型分割式双直探头和双斜探头也都以有机玻璃作为透声楔，这是因为有机玻璃声学性能良好、易加工成形，但它的声速随温度的变化有所改变又易磨损，所以对探头的角度应经常测试和修正。
水浸聚焦探头常以环氧树脂等材料作为声透镜材料。
六、晶片的厚度压电晶片的振动频率f即探头的工作频率，它主要取决于晶片的厚度T和超声波在晶片材料中的声速。
晶片的共振频率（即基频）是其厚度的函数。
可以证明，晶片厚度T为其传播波长一半时即产生共振，此时，在晶片厚度方向的两个面得到最大振幅，晶片中心为共振的驻点。
七、晶片的厚度通常把晶片材料的频率f和厚度T的乘积称为频率常数Nt，若T=λ/2，则Nt = f T = C/2式中：C为晶片材料中的纵波声速。
常用晶片材料如PZT的Nt=1800～2000m/s，石英晶片的Nt＝285Om/s，钛酸钡晶片的Nt＝2520m/s，钛酸铅晶片的Nt=2120m/s。
由式（2.65）可知，频率越高，晶片越薄，制作越困难，且Nt小的晶片材料不宜用于制作高频探头。
八特殊探头（一）水浸聚焦探头（二）可变角探头（三）充水探头（四）双晶探头：a.双晶纵波探头 b.双晶横波探头（纵波全反射)（五）表面波探头第四节：试块一、试块的用途1.测试或校验仪器和探头的性能；2.确定探测灵敏度和缺陷大小；3.调整探测距离和确定缺陷位置；4.测定材料的某些声学特性。
二、试块的分类（主要分二类）1.标准试块2.对比试块（参考试块）3.其他叫法：校验试块、灵敏度试块；平底孔试块、横孔试块、槽口试块；锻件试块、焊缝试块等。
三、试块简介1.荷兰试块1.1955年荷兰人提出；1958年国际焊接学会通过并命名为IIW试块；ISO组织推荐使用。
2.类似的有：中国CSK-IA、日本STB-A1、英国BS-A、西德DIN54521……2.IIW2试块（三角形试块、牛角试块）1.适用于现场检验（体积小、轻、方便）；2.用途较IIW少3.CSK-IA试块：中国的改型试块三、试块简介1.荷兰试块1.1955年荷兰人提出；1958年国际焊接学会通过并命名为IIW试块；ISO组织推荐使用。
2.类似的有：中国CSK-IA、日本STB-A1、英国BS-A、西德DIN54521……2.IIW2试块（三角形试块、牛角试块）1.适用于现场检验（体积小、轻、方便）；2.用途较IIW少3.CSK-IA试块：中国的改型试块1.CSK-IA试块的主要用途:① R50、R100圆弧：-斜探头入射点、前沿测定；-扫描线比例校准；②上下表面刻度：斜探头K值校准；③φ50、φ44、φ40孔：斜探头分辨率测定；④89、91、100mm 台阶：直探头分辨率测定；⑤φ50孔：盲区测定。
4.CS-1和CS-21.1986年通过，CS-1全套26块，CS-2全套66块；2.要求：（1）D/L比不能太小，否则产生侧壁效应；（2）平底孔应足以分辨；（3）材质衰减要小。
注：铸钢件试块与此形状相同、尺寸不同5.CSK-IIA / CSK-IIIA6.RB-1、RB-2、RB-37. 钢板试块8. 半圆试块9. 管子试块3.4第四节：组合性能测试（检测系统的校准）一、水平线性1.定义：仪器水平线性是示波屏上时基线的水平刻度与实际声程之间成正比的程度，即示波屏上多次底波等距离的程度。
水平线性对缺陷定位有较大的影响。
水平线性用水平线性误差表示。
2.测试步骤：（1）将直探头置于CSK--1A试块的25mm厚大平底面上；（2）通过[微调][水平][脉冲位移]等按钮，使屏上出现5次底波B1--B5，当底波B1和B5的幅度分别为50％满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度2.0和10.0。
B1和B6的前沿位置在调整中如相互影响，则应反复进行调整。
a2、a3、a4分别为B2、B3、B4与4.0、6.0、8.0的偏差。
（3）水平线性误差计算：ZBY230--84规定：仪器的水平线性误差≤2%例：用IIW或CSK-1A试块测仪器的水平线性，现测得B1对准2.0，B5对准10.0时，B2、B3、B4与4.0、6.0、8.0的偏差分别为0.5、0.6、0.8;求其水平误差为多少？解：0.8δ=------×100%=1%0.8×100二、垂直线性1.定义：仪器垂直线性是示波屏上波高与探头接收的信号幅值之间成正比的程度。
它取决于仪器放大器的性能。
垂直线性用垂直线性误差表示。
垂直线性影响缺陷的检出和定量。
2.测试步骤：（1）[抑制]至零，[衰减器]保留30dB衰减余量；（2）将直探头置于CSK--1A试块的25mm厚大平底面上，????? 恒定压力压住；（3）调节仪器使试块上某次底波位于示波屏中央，并达到100%幅度，作为“0”dB;（4）固定[增益]和其他旋钮，调衰减器，每次衰减2dB,并记下相应的波高H 填入表中，直到底波消失；上表中：理想相对波高是△i=2、4、6dB……时的波高比（如△i=6dB时的理想相对波高是50.1%）三、计算垂直线性误差D=（|d1|+|d2| ）式中：d1--实测值与理想值的最大正偏差d2--实测值与理想值的最大负偏差ZBY230--84规定：仪器的垂直线性误差D≤8%三.探头灵敏度1.调节灵敏度的几个旋钮1.[发射强度] 调节发射脉冲的输出幅度，发射强度大灵敏度高，但分辨率低；2.[增益] 调节接收放大器的放大倍数，增益大灵敏度高；3.[抑制]限制检波后信号的输出幅度，主要用于抑制杂波、提高信噪比。
使用[抑制]会使仪器的垂直线性变坏，动态范围变小。
[抑制]增加，灵敏度降低，尽量不要用[抑制]；4.[衰减器] 电路内专用器件，用于定量地调节示波屏上的波高，它是步进旋钮。
分：[粗调][细调]二档，[粗调]步长10-20dB,[细调]步长1-2dB。
CTS-6型总衰减量50db;CTS-22型则为80dB;调节灵敏度的几个旋钮1.《ZB Y230--84? A型脉冲反射超声探伤通用技术条件》中规定：总衰减量不小于60dB;衰减误差：1dB/12dB.四、直探头+ 仪器的灵敏度余量测试1.探头对准200 / Φ2平底孔；2.[抑制]：0；[发射强度] [增益]：最大；3.调[衰减器]使Φ2孔最高回波达满刻度的50%（基准高），这时衰减量为N1dB;4.提起探头，用[衰减器]将电噪声电平衰减到10%以下，这时衰减量为N2dB;5.灵敏度余量N=N1-N2（dB）;直探头的灵敏度余量要求≥30dB五、斜探头+ 仪器的灵敏度余量测试1.探头对准IIW试块R100园弧面；2.[抑制]：0；[发射强度] [增益]：最大；3.调[衰减器]使R100回波达满刻度的50%（基准高），这时衰减量为N1dB;4.提起探头，用[衰减器]将电噪声电平衰减到10%以下，这时衰减量为N2dB;5.灵敏度余量N=N1-N2（dB）;斜探头的灵敏度余量要求≥40dB七、探头盲区测定1 概念1.盲区是指从探测面到能够发现缺陷处的最小距离，即始脉冲宽度覆盖区的距离。
2.盲区与近场区的区别：盲区是始脉冲宽度与放大器引起的，而近场区是波的干涉引起的。
盲区内缺陷一概不能发现，而近场区内缺陷可以发现但很难定量。
2 测定方法方法（1）：1.先将直探头在灵敏度试块上用φ1平底孔调80%基准高。
2.将直探头放于盲区试块上，能独立显示φ1平底孔回波的最小深度为盲区。
方法（2）：1.用IIW试块估算2.将直探头放于IIW上方：能独立显示回波的，盲区≤5mm。
无独立回波的，盲区＞5mm。
3.将直探头放于IIW左侧：能独立显示回波的，盲区5～10mm。
无独立回波的，盲区＞10mm。
八探头分辨率一、概念：示波屏上区分相邻二缺陷的能力，能区分的相邻二缺陷的距离愈小，分辨率就愈高。
分辨率与仪器和探头的质量有关。
二、纵波直探头分辨率测定1.直探头放于IIW试块85、91、100处，[抑制]为0，左右移动探头，使屏上出现A、B、C波；2.若A、B、C不能分开，先将A、B等高，并取a1、b1值求：a1X=20 lg---- (dB)b1然后用[衰减器]使B、C等高，取相应的a2、b2值求：a2Y=20 lg---- (dB)b2X、Y值愈大分辨率愈高，一般X、Y ≥ 15dB九、横波斜探头分辨率测定1.如图,平行移动探头，使A、B等高则分辨率：h1X=20lg-------(dB)h21.平行移动探头，使B、C等高则分辨率：h3Y=20lg------ (dB)h4要求：X或Y≥ 6dB实测时，[衰减器]将h1衰减到h2即为X值，将h3衰减到h4即为Y值。