X射线衍射晶体结构分析
x射线晶体衍射实验报告
x射线晶体衍射实验报告X射线晶体衍射实验报告引言：X射线晶体衍射实验是一种重要的实验方法，通过将X射线照射到晶体上，利用晶体的结构特性，可以观察到衍射图样，从而了解晶体的结构和性质。
本文将介绍X射线晶体衍射实验的原理、实验装置和实验结果，并分析实验中的一些问题和改进方法。
一、实验原理X射线晶体衍射是基于布拉格方程的原理。
当X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行散射，形成衍射波。
根据布拉格方程，衍射波的相位差与入射波的入射角、晶格常数和衍射角有关。
通过测量衍射角和入射角的关系，可以计算出晶格常数和晶体结构的一些信息。
二、实验装置实验中使用的装置主要包括X射线发生器、单晶样品、衍射仪和探测器。
X射线发生器产生高能的X射线，单晶样品是实验中的研究对象，衍射仪用于收集和聚焦衍射波，探测器用于测量衍射波的强度。
三、实验步骤1. 准备工作：调整X射线发生器的参数，使其产生适合实验的X射线能量。
选择合适的单晶样品，并将其固定在衍射仪上。
2. 调整衍射仪：通过调整衍射仪的入射角和出射角，使得衍射波能够被探测器收集到。
3. 开始实验：打开X射线发生器，照射X射线到单晶样品上。
同时，探测器开始测量衍射波的强度。
4. 数据处理：根据探测器测得的衍射波强度，计算出衍射角，并绘制衍射图样。
5. 结果分析：根据衍射图样，计算出晶格常数和晶体结构的一些信息，并与已知数据进行对比。
四、实验结果在实验中，我们选择了某晶体样品进行研究。
通过测量和计算，得到了该晶体的衍射图样和晶格常数。
通过与已知数据对比，我们确认了该晶体的结构和性质。
五、问题与改进在实验过程中，我们遇到了一些问题，并提出了一些改进方法。
首先，由于X射线的能量和强度有限，可能会导致衍射图样的强度较弱，影响数据的准确性。
为了解决这个问题，可以尝试增加X射线的能量和强度，或者使用更灵敏的探测器。
其次，实验中的样品制备和固定也需要一定的技巧和经验，可以通过改进样品制备方法和优化固定装置来提高实验效果。
X射线衍射法分析聚合物晶体结构
实验16 X射线衍射法分析聚合物晶体结构1. 实验目的（1）掌握X射线衍射分析的基本原理。
（2）学习X射线衍射仪的操作与使用。
（3）对多晶聚丙烯进行X射线衍射测定。
（4）对实验结果进行处理，计算结晶度和晶粒度，并进行相分析。
2. 实验原理（1）X射线衍射基本原理X射线衍射基本原理是当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子有规则排列的晶胞所组成，而这些有规则排列的原子间距离与入射X射线波长具有相同数量级，迫使原子中的电子和原子核成了新的发射源，向各个方向散发X射线，这是散射，不同原子散射的X射线相互干涉叠加，可在某些特殊的方向上产生强的X射线，这种现象称为X射线衍射。
每一种晶体都有自己特有的化学组成和晶体结构。
晶体具有周期性结构，如图2－9所示。
一个立体的晶体结构可以看成是一些完全相同的原子平面网按一定的距离d平行排列而成，也可看成是另一些原子平面按另一距离d’平行排列而成。
故一个晶体必存在着一组特定的d值（如图2－9中的d，d’，d’’，…）。
结构不同的晶体其d值都不相同。
因此，当X射线通过晶体时，每一种晶体都有自己特征的衍射花样，其特征可以用衍射面间距d和衍射光的相对强度来表示。
面间距d与晶胞的大小、形状有关，相对强度则与晶胞中所含原子的种类、数目及其在晶胞中的位置有关。
可以用它进行相分析，测定结晶度、结晶取向、结晶粒度、晶胞参数等。
图2－9 原子在晶体中的周期性排列图2－10 原子面网对X 射线的衍射假定晶体中某一方向上的原子面网之间的距离为d，波长为λ的X射线以夹角θ射入晶体（如图2－10所示）。
在同一原子面网上，入射线与散射线所经过的光程相等；在相邻的两个原子面网上散射出来的X射线有光程差，只有当光程差等于入射波长的整数倍时，才能产生被加强了的衍射线，即：（2－7）这就是布拉格（Bragg）公式，式中n是整数。
知道了入射X射线的波长和实验测得了夹角，就可以算出等周期d。
图2－11 X射线衍射示意图图2－11是某一晶面以夹角绕入射线旋转一周，则其衍射线形成了连续的圆锥体，其半圆锥角为2θ。
X射线衍射晶体结构分析实验报告
X射线衍射晶体结构分析实验报告X射线衍射晶体结构分析实验预习报告摘要：本实验通过采⽤与X射线波长数量级接近的物质即晶体这个天然的光栅来作狭缝，从⽽研究X射线衍射。
本实验将了解到X射线的产⽣、特点和应⽤；理解X射线管产⽣连续X射线谱和特征X射线谱的基本原理；⽤三种个⽅法研究X射线在NaCl单晶上的衍射，并通过测量X射线特征谱线的衍射⾓测定X射线的波长和晶体的晶格常数。
关键词：布拉格公式晶体结构波长衍射 X射线引⾔：1895年德国科学家伦琴（W.C.R?ntgen）在⽤克鲁克斯管研究阴极射线时，发现了⼀种⼈眼不能看到，但可以使铂氰化钡屏发出荧光的射线，称为X射线。
X射线是⼀种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透⼀定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、⽓体电离。
在⽤⾼能电⼦束轰击⾦属“靶”材产⽣X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X射线。
如通常使⽤的靶材对应的X射线的波长⼤约为1.5406埃。
考虑到X射线的波长和晶体内部原⼦⾯间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出⼀个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当⼀束 X射线通过晶体时将发⽣衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些⽅向上加强，在其他⽅向上减弱。
分析在照相底⽚上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。
这⼀预见随即为实验所验证。
X射线衍射在⾦属学中的应⽤X射线衍射现象发现后，很快被⽤于研究⾦属和合⾦的晶体结构，出现了许多具有重⼤意义的结果。
如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是⽴⽅结构，β-Fe并不是⼀种新相;⽽铁中的α─→γ转变实质上是由体⼼⽴⽅晶体转变为⾯⼼⽴⽅晶体，从⽽最终否定了β-Fe硬化理论。
随后,在⽤X射线测定众多⾦属和合⾦的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。
如对超点阵结构的发现，推动了对合⾦中有序⽆序转变的研究，对马⽒体相变晶体学的测定，确定了马⽒体和奥⽒体的取向关系；对铝铜合⾦脱溶的研究等等。
X射线晶体衍射实验：确定某种晶体的结构
X射线晶体衍射实验：确定某种晶体的结构X射线晶体衍射实验是确定晶体结构的重要实验方法之一。
下面是基本的步骤：1.准备样品：需要制备足够的纯晶体样品，并将其放在衍射仪中的样品架上。
晶体的质量和纯度对实验结果有很大的影响。
2.进行衍射实验：将X射线束照射到晶体样品上，然后观察衍射图案。
衍射图案的形状和位置可以提供有关晶体结构的信息。
3.解析衍射图案：使用衍射图案中的数据计算晶体的结构参数。
这个过程需要使用复杂的数学公式和计算方法。
4.模拟衍射图案：根据计算得到的结构参数，模拟一个新的衍射图案，并与实际测量得到的衍射图案进行比较。
如果两个图案非常相似，则可以确定晶体的结构参数。
X射线晶体衍射实验需要非常精确的仪器和技术，以及对晶体结构的深入理解。
因此，它通常由经验丰富的科学家或专业实验室来执行。
再写一个X射线晶体衍射实验是确定晶体结构的一种重要手段，其基本步骤如下：1.制备晶体样品：制备纯度高、结晶质量好的晶体样品。
晶体样品需要符合晶体学中的结晶学规律，否则将影响衍射实验的结果。
2.进行X射线衍射实验：将制备好的晶体样品置于衍射仪中，通过X射线照射样品，观察衍射图样，记录衍射数据。
衍射图案的形状和强度分布提供了晶体中原子或离子排列的信息。
3.数据处理和分析：将记录的衍射数据进行处理和分析，计算出晶体中的结构参数，如晶格常数、晶胞参数、原子位置、键长、键角等。
这个过程需要使用复杂的数学公式和计算方法。
4.结构解析：通过计算得到的晶体结构参数，利用晶体学知识和模拟方法，解析出晶体的结构，包括原子或离子的排列方式和结构的空间组合。
5.结构验证和修正：将解析出的晶体结构和实验数据进行比较和验证，确定晶体结构的正确性和准确性。
如果存在结构偏差，需要进行修正和调整。
X射线晶体衍射实验需要精密的仪器设备和高水平的科学技术，对晶体结构的深入理解和掌握也是必要的。
因此，这个实验通常由专业的晶体学家或实验室进行操作和解析。
XRD晶体结构分析
XRD晶体结构分析X射线衍射（XRD）是一种常用的晶体结构分析技术，通过测量固体样品对入射X射线的散射模式，可以获得样品的晶体结构信息。
本文将详细介绍XRD晶体结构分析的原理、仪器以及应用。
首先，我们来看一下XRD晶体结构分析的原理。
当入射X射线遇到晶体样品时，它们会与晶体中的原子发生相互作用，散射出来。
这个散射过程可以分为布拉格衍射和多普勒散射两个部分。
布拉格衍射是由于入射X射线与晶体中的原子发生相互作用后，形成反射或折射。
根据布拉格衍射定律，n\lambda=2dsinθ，其中n是整数，λ是入射X射线的波长，d是晶体的晶面间距，θ是衍射角。
通过测量衍射角，我们可以计算出晶面间距，从而了解晶体的结构。
多普勒散射是由于入射X射线与晶体中电子的相互作用而发生的。
相比于布拉格衍射，多普勒散射更加复杂，并且难以精确计算。
因此，在XRD晶体结构分析中，我们通常只考虑布拉格衍射。
为了实现XRD晶体结构分析，我们需要使用X射线衍射仪器。
X射线衍射仪器主要包括X射线发生器、样品支撑装置、X射线探测器以及数据处理系统。
X射线发生器是产生入射X射线的设备。
常见的X射线发生器包括X 射线管和同步辐射装置。
X射线管通过加热阴极来产生电子，这些电子在阳极上产生高速冲击，从而产生X射线。
同步辐射装置则利用高能电子加速器，使电子在加速过程中释放出X射线。
样品支撑装置用于将晶体样品放置在入射X射线路径上。
在XRD晶体结构分析中，我们通常使用平行面支撑法来固定样品，以确保样品的位置稳定和精确。
X射线探测器用于测量样品对入射X射线的散射情况。
常用的X射线探测器有点式探测器和面阵探测器。
点式探测器将散射X射线聚焦到一个小面积上，以获得高空间分辨率的数据。
而面阵探测器则可以同时收集多个数据点，加快数据采集速度。
数据处理系统是将X射线衍射的散射数据转换为晶体结构信息的关键部分。
一般来说，我们会使用计算机软件对数据进行处理和分析。
常见的软件包括XDS、CCP4、PHENIX等。
XRD数据与晶体结构分析
XRD数据与晶体结构分析X射线衍射(XRD)是一种常用的技术工具，用于确定晶体结构。
它相关的理论基础是布拉格定律，即X射线会被晶体中的原子散射，形成衍射图样。
通过分析这些衍射数据，可以揭示晶体的结构信息，如晶胞参数、晶体的对称性以及原子间的排列方式等。
本文将介绍XRD数据的分析方法以及如何利用这些数据进行晶体结构分析。
首先，进行XRD实验时，需要使用X射线源照射样品，并收集散射到不同角度的X射线。
这些散射射线会形成一个特定的衍射图样，被称为XRD图谱。
一般来说，XRD图谱的横坐标表示散射角度，即2θ角，纵坐标则表示散射强度。
通过测量不同晶面的衍射角度，我们可以确定晶胞的长度和夹角，进而推断晶体的结构。
对于XRD数据的分析，首先需要解析衍射峰的位置和强度。
理论上，当X射线照射到晶体上时，会产生一系列的衍射峰，每个峰对应着一组晶面的衍射。
通过测量衍射角度2θ，可以计算出晶面间的距离d，利用布拉格定律nλ=2dsinθ（其中n是整数，λ是入射X射线波长），我们可以得到晶胞参数。
对于多晶样品，可能会产生很多衍射峰，需要通过谱峰匹配和定量分析来解析这些峰。
其次，对于详细的晶体结构分析，需要将实验衍射数据与已知的参考模式进行比较。
许多晶体结构数据库都会提供XRD图谱的参考模式，包括峰位和强度等信息。
通过比较实验数据和参考模式，我们可以确定晶胞参数和晶体的对称性。
同时，利用Rietveld法和结构拟合技术，可以进一步优化模型，得到更准确的晶体结构信息。
总结起来，XRD数据分析是一种强大的手段，用于确定晶体的结构信息。
通过解析衍射峰的位置和强度，比较实验数据与参考模式，并利用结构拟合技术，可以得到准确的晶体结构。
然而，需要注意的是，XRD数据分析也存在一些挑战和误差，需要结合实际情况进行判断和修正。
因此，在进行XRD数据分析时，需要有扎实的理论基础和丰富的实验经验，才能得到可靠的结果。
X射线衍射晶体结构分析实验报告
近代物理实验报告X射线衍射晶体结构分析学院数班级姓名学号时间 2013年10月12日--------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改---------------------------X射线衍射晶体结构分析【摘要】本实验通过采用与X射线波长数量级接近的物质即晶体这个天然光栅来作狭缝，从而研究X射线衍射。
由布拉格公式以及实验中采用的NaCl晶体的结构特点即可在知道晶格常数条件下测量计算出X射线的波长。
并通过已知波长来测定其他晶体的晶格结构。
主要是测量氯化钠的特定的晶面距。
【引言】 X射线是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。
由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线。
波长小于0.1埃的称超硬X射线，在0.1～1埃范围内的称硬X射线，1～10埃范围内的称软X射线。
伦琴射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。
这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应，波长越短的X射线能量越大，叫做硬X射线，波长长的X射线能量较低，称为软X射线。
实验室中X射线由X射线管产生，X射线管是具有阴极和阳极的真空管，阴极用钨丝制成，通电后可发射热电子，阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨，用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）。
用几万伏至几十万伏的高压加速电子，电子束轰击靶极，X射线从靶极发出。
电子轰击靶极时会产生高温，故靶极必须用水冷却，有时还将靶极设计成转动式的。
本实验通过对X 射线衍射实验的研究来进一步认识其性质。
【实验方案】一、实验原理1、布拉格公式：光波经过狭缝将产生衍射现象。
狭缝的大小必须与光波的波长--------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改-----------------------------------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改---------------------------同数量级或更小。
x射线衍射分析实验报告
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的，通过X射线衍射分析，了解晶体结构的性质和特点，掌握X射线衍射仪器的使用方法，提高实验操作能力。
实验仪器，X射线衍射仪、标本夹、标本台、X射线管、样品旋转台等。
实验原理，X射线衍射是一种通过晶体对入射X射线的衍射现象来研究晶体结构的方法。
当入射X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行衍射，形成衍射图样。
通过分析衍射图样的特点，可以推断晶体的晶格结构和晶面间距。
实验步骤：1. 将待测样品放置在X射线衍射仪的标本夹上，固定好。
2. 调整X射线管的位置和角度，使得X射线能够正常照射到样品上。
3. 启动X射线衍射仪，进行衍射图样的采集。
4. 对采集到的衍射图样进行分析，推断样品的晶格结构和晶面间距。
实验结果分析：通过X射线衍射实验，我们成功获取了样品的衍射图样，并进行了分析。
根据衍射图样的特点，我们推断出样品的晶格结构为立方晶系，晶面间距为2.5 Å。
这与样品的实际晶体结构相符，说明X射线衍射分析是一种有效的手段，可以准确地研究晶体结构。
实验总结：通过本次实验，我们深入了解了X射线衍射分析的原理和方法，掌握了X射线衍射仪器的使用技巧。
实验结果表明，X射线衍射分析是一种可靠的手段，可以用于研究晶体结构。
在以后的科研工作中，我们将进一步运用X射线衍射分析技术，深入研究材料的晶体结构和性质，为材料科学领域的发展做出贡献。
结语：通过本次实验，我们对X射线衍射分析有了更深入的了解，也提高了实验操作能力。
希望通过不断的实践和学习，能够更好地运用X射线衍射分析技术，为科学研究做出更多的贡献。
以上就是本次X射线衍射分析实验的实验报告，谢谢阅读。
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（222）C
（111）C
刘广耀 博士学位论文
有序度
19º 衍射峰（与序度有关）和32º 最强衍射峰
I19 º/ I32 º
0.95
x
刘广耀 博士学位论文
’单胞9个原子
单胞2各个原子 最小重复点数2，Ag和Ga无序
讨论晶格常数联系 ‘ 7.771 推导 7.810 ,无序体积膨胀 每个原子12配位，原子间距2.878 Ag＝1.44 结构主要由银决定
尝试法 （模型法） 帕特逊函数 （向量空间法） 电子密度函数法 直接法 同晶置换 重原子 反常散射
参考书 周公度 著 晶体结构测定 科学出版社 张绍辉 傅亨 著 X射线晶体结构分析导论 武汉大学出版社
程序：SHELX97
尝试法—模型法
问题？ 1.KCl衍射峰偏向低角度 2.(100) 衍射峰消失 3.全奇指标衍射峰弱于全偶 4.KCl (111) 弱于 NaCl (111)
金红石（二氧化钛，TiO2）
四方晶系 d 3.24 2.49 2.29 2.19 2.05 a=4.58 Å， c=2.98 Å TiO2 Z＝2 I相对 80 60 4 30 12 hkl 110 101 200 111 210 d 1.69 1.62 1.485 1.449 1.355 I相对 100 30 20 20 30 hkl 211 220 002 310 301 d 1.245 1.170 1.147 1.091 1.040 P42/mnm I相对 4 8 4 8 8 hkl 202 321 400 222 312
（200）的反射强度极低，说明x的数值离开 ¼ 不远，因此 可以将x=0.25附近的若干数值代入结构因数式中，然后再计 算各个反射线条的相对强度，与观测的强度相对比，结果发 现以x=0.31时最为符合。 Ti O 2a 4f 0.0 0.302 0.0 0.302 0.0 0.0000
Ti O
举例: 确定新相（新化合物，新材料）
Structure of Caz[Al1-xSix]2N2(N1-xOx):0.02Eu
Cmc21
atom Ca Al/Si NI NII/O
site 4a 8b 8b 4a 0
x 0.1743 0.2269 0
y 0.3494 0.8512 0.8668 0.2350
z 0.9200 0.9636 0.3284 0.4082
ZnS结构与热稳定性
Z.Lin, Q.L. Liu，F. Huang, et al., J Am Chem Soc 128，6126（2006）
Z.Lin, Q.L. Liu，F. Huang, et al., J Am Chem Soc 128，6126（2006）
Sr2FeMoO6
Cu Kα
尝试法 同构型法，重原子置换法 Rietveld全谱拟合法 从头计算法（分峰直接法） 最大熵法 蒙特卡洛法 遗传算法
粉末衍射法测定晶体结构 （第二版） 梁敬魁 科学出版社
Shi Ying, Liang JingKui, Liu Quanlin and Chen Xiaolong, Unknown Crystal Structure Determination From X-ray Powder Diffraction Data, Science in China 41A (2), 191-197 (FEB 1998)
注意：实验数据采集：实验注意事项，准确，精确
基于粉末衍射数据分析
衍射数据的指标化(数据分析) 晶格常数精确测量
晶格常数分析及应用
精确测定晶格常数
仪器光路校准
高角度衍射线
指标化计算机软件
TREOR （TREOR90）
全谱拟合法
内标法：Si， LaB6
指标化，精确测定晶体点阵常数
DICVOL
《粉末衍射法测定晶体结构》梁敬魁 编著
（Y 1-xCex )4Si2O7N2
（Y 1-xCex )4Si2O7N2
F.C. Lu, Q.L. Liu et al,0pt. Mater. 33(2010)91
(Ca1-xEux)m/2Si12-mAlmN16 phosphors for white LEDs
R.-J. Xie et al., J. Am. Ceram. Soc. 85 (2002) 1229
VN A V Z A 1.66 1024 A
Z＝1.9952 其次将其衍射花样线条进行指数化，发 现所有出现的线条指数（h+k+l）全为偶 数，因此其点阵型式系属于体心的。
氧化镁（MgO）
氧化镁的分子量为40.62, 其密度为3.65克/厘米3 立方晶系 a=4.203 Å 线条 1 2 3 4 5 6 7 8 d 2.42 2.10 1.49 1.27 1.22 1.05 0.965 0.94 Z＝4 hkl 111 200 220 311 222 400 331 420 强度（观测） 弱 很强 强 很弱 中 很弱 极弱 中
Blue-shifting of emission bands of Ca0.875-0.5x[Al0.75Si1.25]N2(N1-xOx):0.02Eu
T.Wang, Q.L.liu et al.,J. Lumin. 137, 173-179 (2013)
晶体结构分析：应用举例
衍射峰位分析：指标化，晶格常数精确测定及应用举例 衍射强度分析：原子位置测定及应用举例
科学出版社 第五，六章
Mn-doped ZnO
J. Luo, Q.L. Liu, J.K. Liang, et al, J. Applied Physics 97(2005) No. 086106
Mn-doped ZnO
Zn2+ (6) 0.74 Å Mn2+ (6) 0.83Å Mn3+ (6) 0.65 Å
2 A 2 B
金刚石
111 333 444 555 出现 222消失
400 800 强 200 消失
W.L. Bragg 1913年《皇家学会议事录》
Ca 2+ F-
200 222 消失
ZnS
222 出现 弱
金属钼（Mo）
粉末衍射花样得出钼属于立方晶系，其点阵常数a=3.1466 Å 钼的密度为10.2克/厘米3，原子量为95.95，根据
d值的精确度 ~ 0.00001 nm
(hkl)
NaCl Fm3m a=5.64 KCl d (Å) I 3.2600 13 2.8210 1.9940 1.7010 1.6280 100 55 2 15 d(Å) 3.6330 3.1460 2.2251 1.8972 1.8169
Fm3m a=6.293 I 1 100 37 <1 10
CaAlSiN3:Eu2+ phosphors for white LEDs
Need blue-shift
CaAlSi(N,O)3:Eu2+ Crystal Chemical Formula (Ca,Eu)z[Al1-ySiy]2N2(N1-xOx)
Cmc21
atom Ca Al/Si NI NII/O
J. Luo, Q.L. Liu et al, J. Applied Physics 97(2005) No. 086106
Ti1-xSnxO2体系化合物晶胞体积随成分的变化
B.J. Sun, Q.L. Liu et al., J. Alloys Compounds, 455, 265 (2008)
高温
低温
G=H-TS, Ga-Ga 熔点 302 K
Ag-Ag 1235 K
低温有序，避开Ga与Ga之间直接接触。
Y. Zhang, J.K. Liang，Q.L. Liu， et al., J. Alloys Compd. 399 (2005) 155
基于单晶衍射数据结构分析
尝试法 （模型法） 帕特逊函数 （向量空间法） 电子密度函数法 直接法 同晶置换 重原子 反常散射
Containing Oxygen
XRD pattens of CaAlSiN3:Eu and CaAlSi（N,O)3:Eu
Structure of Caz[Al1-xSix]2N2(N1-xOx):0.02Eu
T.Wang, Q.L.liu et al.,J. Lumin. 137, 173-179 (2013)
111 200 220 311 222
布拉格：晶体的三维衍射
2d hkl sin
布拉格方程
2d hkl sin
问题？ 1.(100) 衍射峰消失 2.全奇指标衍射峰弱于全偶 3.KCl (111) 弱于 NaCl (111)
(mA mB )2 m m 2mA mB cos(2 h / n)
a=7.752+0.045m+0.009n c=5.620+0.048m+0.009n Fig. Relationship of lattice parameters (a, c) with m and n values
J.J.Yang, Q.L. Liu et al, J. Lumin. 132, 2390(2012)
X射线晶体衍射结构分析基础
晶体结构 空间点阵 ＋ 结构基元
晶胞参数 原子位置
n i 2 ( hx j + ky j + lz j )
2d hkl sin
衍射峰位置
F (hkl ) f j e
i 1
衍射峰强度
实验数据
晶体结构分析：应用举例
衍射峰位分析：指标化，晶格常数精确测定及应用举例 衍射强度分析：原子位置测定及应用举例
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