贴片三极管-来料检验规范
三极管来料检验标准
三极管来料检验标准
三极管是一种常见的半导体器件，广泛应用于电子设备中的放大、开关、稳压等功能。
为了确保生产出质量稳定的三极管产品，对来料进行严格的检验是非常重要的。
本文将介绍三极管来料检验的标准和方法，以帮助文档创作者更好地了解和掌握这一过程。
首先，对于三极管来料检验，我们需要关注以下几个方面：
1.外观检查。
外观检查是最基本的检验步骤之一。
我们需要检查三极管的外壳是否完整，有无损坏或变形，引脚是否齐全，焊接是否良好等。
同时，还需要检查产品标识是否清晰可见，以确保产品的可追溯性。
2.封装参数检查。
三极管的封装参数对其性能有着重要的影响，因此需要对封装参数进行检查。
这包括对封装材料、尺寸、引脚布局等进行检验，以确保符合相关标准要求。
3.电性能检查。
电性能是三极管最重要的指标之一。
在来料检验中，需要对三极管的电参数进行检查，包括静态特性和动态特性。
静态特性包括漏极电流、饱和电压等参数，而动态特性包括开关特性、频率响应等参数。
4.可靠性检查。
可靠性是三极管产品质量的重要保证。
在来料检验中，需要对三极管的可靠性进行检查，包括对温度、湿度、振动等环境条件下的性能进行测试，以确保产品在各种条件下都能正常工作。
综上所述，三极管来料检验标准涉及外观检查、封装参数检查、电性能检查和可靠性检查等多个方面。
只有严格按照相关标准进行检验，才能保证生产出质量稳定的三极管产品。
希望本文能够帮助文档创作者更好地了解和掌握三极管来料检验的标准和方法，以提高产品质量和生产效率。
三极管来料抽样检验规范
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（ISO9001-2015）
1.0目的
本检验规范的目的是保证本公司所购三极管的质量符合要求。
2.0定义
2.1缺陷类别分为：严重缺陷缺陷（CR ）、主要缺陷（MA ）和次要缺陷（MI ）；
2.2严重缺陷（CR ）：不符合安全规范或可能对使用者、维护者造成人身危害的缺陷；
2.3主要缺陷（MA ）：关键质量特性不合格，影响生产并可能导致故障或降低产品性能的缺陷；
2.4次要缺陷（MI ）：一般质量特性不合格，但不影响使用功能及性能的缺陷。
3.0检验条件
3.1光照度：300-400LX(相当于40W 日光灯500mm~600mm 距离的光源)
3.2检验距离：550mm-650mm
3.3检验人员视力要求在0.8以上
4.0抽样方案与判定标准
外观检验抽样方案按GB/T2828.1-2013标准，正常检验一次抽样方案，一般检验水平Ⅱ，AQL:致命缺陷（CR ）=0 重缺陷（MA ）=0.65 轻缺陷（MI ）=1.5。
尺寸及其他特性测试5-10PCS ，0收1退。
取样方式：采取分散取样方式，5箱以内，每箱都应取样；超出10箱，按（5+总箱数÷5）箱进行分散取样。
三极管来料抽样检验规范
数量检验
MA
可接受； 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合
目检 点数
不可接 受。
Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；
来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
目检
检验时，必
外观检验
MA
组件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积 10 倍以上的 须佩带静电
b) 截止电流 Icbo：在常温条件下，设定好各参数后
进行测试，其截止电流要符合产品规格书的要求。
c) 饱和电压 Vces：在常温条件下，设定好各参数后
进行测试，其饱和电压要符合产品规格书的要求。
d) 集电极-发射极的击穿电压 Vceb：在常温条件下， 晶体管测试
设定好各参数后进行测试，其击穿电压要符合产品规 仪
三极管来料抽样检验规范
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（ISO9001-2015）
1. 目的
作为 IQC 人员检验三极管类物料之依据。
2. 适用范围 适用于本公司所有三极管之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允收水准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参考文件 无
检验项目
缺陷属性 缺陷描述
检验方式
备注
根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物
包装检验
MA
是否都正确,任何有误,均不可接受。
目检
包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不
三极管检验规范
1.0目的
规范三极管检验标准及检验方法，确保来料符合要求。
2.0范围
适用于小功率三极管的来料品质验证。
3.0定义
Na
4.0责任
4.1IQC负责来料检验；
4.2MRB负责异常物料的处置。
5.0参考：
QP－B－002品质管制程序
6.0程序
6.1抽样方案
依据MIL—STD—105E按LEVELⅡ级标准抽样，样品必须是随机从不同的最好
包装单元中抽取规定数量的样品，不允许只在一个包装单元中抽取样品，除非只
有一个包装单元。
特殊要求另有说明除外。
6.2检验项目及检验标准：
检验目
检验标准
AQL
检验方法
外
观
1、包装内（外）均须有正规标签，且标识一致；
2、表面平整光滑，无破损现象，封装牢固；
3、丝印标识清晰且与外标鉴一致，符合BOM要求；
4、引脚光洁平直，无弯曲、断痕、氧化脱皮现象。
1.0
20cm处目视检测
尺
寸
1、管身尺寸与样品相符，厚度允差±0.05mm;
2、引脚尺寸与样品相符，长度允差±0.1mm，
直径允差±0.05mm，间距允差±0.5mm
0.4
游标卡尺检测
特
性
1、电流放大系数β符合订单要求；
※2、极间反向电流，符合分供方技术资料（Icbo、Iceo）；
※3、极限参数符合分供方技术资料
（pcm）集电极最大耗散功率
（Icm）集电极允许过最大电流
U（br）ceo C-E极击穿电压
4、管脚可焊性良好。
0.4
△精确万用表测量β
△可焊性试验用锡炉检测
带※号表示此项暂不检测
三极管检验规范
QA-WI-578
版本
A/0
页序
3of3
检验
项目
检验标准
缺陷判定
检验方法
Min
Maj
Cri
特性
1．电路良好,无损坏,(断路或短路)
2．引脚极性分布正确,符合零件规格书要求
3．集电极-发射极和集电极-基极击穿电压,集电极-发射极饱和压降,集电极-发射极穿透电流,额定工作电流,电流放大系数均符合零件规格书要求
5．引脚无变形、压痕、披锋等迹象
×
×
×
×
×
以内臂长在70%左右对照样品目视检验
尺寸
1．体长、宽、厚符合国际标准件要求
2．引脚尺寸规格符合零件规格书要求
3．允许公差按零件规格书要求检测,若无要求时则
*一般情况下,尺寸公差:±0.1mm
×
×
×
参照样品检验，用游标卡尺、千分尺测量
制定
审核
批准
标准
三极管检验规范
标准
三极管检验规范
文件编号
QA-WI-578
版本
A/0
页序
1of3
版本
首版发行
制定
审核
日期
A/0
版本变更
批准:生效-578
版本
A/0
页序
2of3
1.0目的
规范三极管的检验内容与方法，以确保来料品质符合产品生产要求。
2.0范围
仅适用于非贴片型三极管的一般检验。
×
×
×
用晶体管特性图示仪、万用表、晶体管测试仪测量
实验
可焊性:*表面光泽,无毛刺/凹凸点
*表面着锡均匀,无发黑或不沾锡
×
锡槽法可焊性实验(温度380℃±20℃)
贴片三极管IQC来料检验作业指导书
类别
1
外观
2
尺寸
3
特性
4 焊接性能
检验项目
外观质量
结构尺寸 ★附着力 可焊性
电子元器件评价检验标准
物料类别
名
称
技术要求
检验方法
1.盘式结构的支架应完好无破损，器件保护带整洁完好； 2.支架上应有(供应商名称.产品名称.规格型号.数量.生产日期）。且应符合确认书要求； 3.元器件无损伤，引出端镀层无氧化、无锈迹、无污物. 4.对应的三个脚正确. 5.元器件上丝印应与样品一致. 6.附有供应商的出厂检验报告，报告内容必须与实物一致。 7.要求用防静电包装，|静电电压|≤0.2KV。 8.外包装及最小包装要求贴有 RoHS 标记，并提供合格 RoHS 报告。
5
电气性能
★★放大倍数 Cpk 值
放大倍数 Cpk 值≥1
饱和电压 Vces
Ices 应符合产品规格书要求（见附表）
按其规格书要求取其放大倍数范围，算 Cpk 输入条件 Ie,Ic 后，用万用表测出 Vces.
耐压测试仪 晶体管测试仪
万用表
B AQL=0.4
Ⅱ
放大倍数 hFE
hFE 应符合产品规格书要求（见附表）
B AQL=0.4
B (5;0,1)
S-4 特殊
将贴片三极管用红胶粘贴在专用的实验板，先过一次回流焊，然后再过波峰焊。沾锡面积应大于总 沾锡面积的 90%。
波峰焊 放大镜
B (5;0,1)
特殊
集电极-基极截止 电流 Icbo
ICBO 应符合产品规格书要求（见附表）
输入测试条件 Vcb,Ie=0 后，用耐压测试仪测出截止 电流 Icbo.
编制/日期
来料检验作业指导书-三极管来料检验作业指导.doc
二极管来料检验作业指导芯片来料检验作业指导2.4引脚长短一致，封装无松动。
2.5可焊性良好。
3、性能检验放大倍数，反向击穿电压应符合供方产品手册。
4、引出端强度引脚弯Illi、扌II转、拉力应无松动，无可见损伤，测试性能仍符合允许值范围。
四、检验方法8、所用仪器、仪表、工具：YB4810A半导器管特性图示仪、万用表、卡尺、稳压源一台、电烙铁等。
9、以设计文件提供的型号、规格或样品件为准，参照产品手册逐项检验。
10、外观质量以目测为主。
11、外形尺寸用卡尺测量。
12、引脚用手轻扳两下，目测松动与否。
13、可焊性采用手工烙铁焊法则。
14、性能测试7.1用半导体管特性图示仪测试发射板疋向电流传输电的静态值，符号HFE。
电流放大系数用0表示：3=ATC/ATB7.2集电极发射极反向击穿电压VCEO。
8、引出端强度：电容来料检验作业指导•、检测依据电阻来料检验作业指导2.4引脚长短一致，封装无松动。
2.5可焊性良好。
3、性能检验标称电阻值和允许偏差应符合供方产品手册。
4、引出端强度引脚弯Illi、扌II转、拉力应无松动，无可见损伤，测试性能仍符合允许值范围。
5、检验方法1、所用仪器、仪表、工具：万用表，电烙铁等2、以设计文件提供的型号、规格或样品件为准，参照产品手册逐项检验。
3、外观质量以目测为主。
4、外形尺寸用卡尺测量。
5、引脚用手轻扳两下，目测松动与否。
6、可焊性采用手工烙铁焊法则。
7、性能测试用万用表测出电阻阻值，符号用R表示引脚弯曲、扭转、拉力应无松动，无可见损伤，测试性能仍符合允许值范围。
四、检验方法-、检测依据。
作业指导书(贴片三极管)
本检验规范的目的是保证本公司所购贴片三极管的质量符合要求本检验规范适用于汉王制造有限公
司无特殊要求的贴片三极管。
2参照文件：
本作业规范参照本公司程序文件《进货检验控制程序》，《可焊性、耐焊接热实验规范》《电子产品（包括元器件）外观检查和尺寸检验规范》以及相关可靠性试验和相关技术、设计
参数资料及GB2828和GB2829抽样程序。
3规范内容：
3.1测试工量具及仪表：半导体管特性图示仪X J4810，游标卡尺，恒温铬铁，浓度不低于95%的
酒精
3.2缺陷分类及定义：
A类：单位产品的极重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性极严重不符合规定B类：单位产品的重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性严重不符合规定。
C类：单位产品的一般质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。
3.3判定依据：抽样检验依GB2828标准，取特殊检查水平S-3 ；AQL : A类缺陷为0,
B类缺陷为0.4, C类缺陷为1.0。
标有♦号的检验项目抽样检验依GB282标准，规定RQL 为30, DL 为III，抽样方案为：n = 6，Ac = 0，Re = 1。
3.4检验项目、标准、缺陷分类一览表
批准人签名审核人签名制定人签名
批准日期审核日期制定日期。
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1目的
本检验规范的目的是保证本公司所购贴片三极管的质量符合要求。
2 适用范围
本检验规范适用于本公司生产产品无特殊要求的贴片三极管。
3 规范内容：
3.1测试工量具及仪表：晶体测试特性仪，恒温铬铁，浓度不低于95%的酒精3.2缺陷分类及定义：
A类：单位产品的极重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性极严重不符合规定。
B类：单位产品的重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性严重不符合规定。
C类：单位产品的一般质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。
3.3判定依据：抽样检验依样品为标准：
3.4检验项目、标准、缺陷分类一览表。