产品名称电率方块电阻测试仪
VOHL-100A回路电阻测试仪
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为了避免可能发生的危险，本产品只可在规定的范围内使用。
只有合格的技术人员才可执行维修。
—防止火灾或人身伤害使用适当的电源线。
只可使用本产品专用、并且符合本产品规格的电源线。
正确地连接和断开。
当测试导线与带电端子连接时，请勿随意连接或断开测试导线。
产品接地。
本产品除通过电源线接地导线接地外，产品外壳的接地柱必须接地。
为了防止电击，接地导体必须与地面相连。
在与本产品输入或输出终端连接前，应确保本产品已正确接地。
注意所有终端的额定值。
为了防止火灾或电击危险，请注意本产品的所有额定值和标记。
在对本产品进行连接之前，请阅读本产品使用说明书，以便进一步了解有关额定值的信息。
请勿在无仪器盖板时操作。
如盖板或面板已卸下，请勿操作本产品。
使用适当的保险丝。
只可使用符合本产品规定类型和额定值的保险丝。
避免接触裸露电路和带电金属。
产品有电时，请勿触摸裸露的接点和部位。
在有可疑的故障时，请勿操作。
四探针方块电阻原理
四探针方块电阻原理
四探针方块电阻原理是一种非常重要的表征材料电学性能的方法，广泛应用于物理、化学、材料等领域。
通过四探针原理，我们可以得到材料的电阻、导电性、膜的厚度等信息。
以下是对四探针方块电阻原理的详细介绍。
第一步，介绍仪器结构和工作原理：四探针仪器由四个平行排列的针头组成，针头间距相等且间隙很小。
除了外侧两个针头用于加电流和读取电压外，内侧的两个针头用于读取电压。
通过一个外部电源和一个电压检测仪器，可以将直流电流引入两个外侧针头中，并且每两个内侧针头之间的电势差可以测量。
第二步，讲解材料的准备。
研究材料必须是块状的，并且贴在平坦且一面打磨平整的表面上。
第三步，说明实验中的操作步骤。
首先，需将四探针放在材料上，四针头与材料表面垂直并紧密贴合。
接下来，通过电源引入设定好的直流电流，然后测量四个针头间的电势差。
电压计算公式为：V=IR。
其中，V是电压，I是电流，R是电阻。
第四步，分析结果。
通过测量四个针头间的电势差，可以计算出板材的电阻，导电性等信息。
其中，电阻随着材料的组成成分和结构变化而变化，因此可以测量不同条件下材料的电阻变化，进而研究材料结构和性能的关系。
总体来讲，四探针方块电阻原理在材料研究中起着重要作用。
通过这种方法，我们可以快速而准确地测量材料的电学性质，并进一步研究
不同条件下的材料差异，为物理、化学，材料等领域的研究提供更加准确、全面的数据。
方块电阻
方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。
方块电阻的大小与样品尺寸无关，其单位为Siements/sq，后增加欧姆/sq表征方式，该单位直接翻译为方块电阻或者面电阻，用于膜层测量又称为膜层电阻。
Sheet resistance [1]蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料，衡量它们厚度的最好方法就是测试它们的方阻。
什么是方阻呢？方阻就是方块电阻，指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，如图一所示，即B边到C边的电阻值。
方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。
方块电阻的大小与样品尺寸无关，其单位为Siements/sq，后增加欧姆/sq表征方式，该单位直接翻译为方块电阻或者面电阻，用于膜层测量又称为膜层电阻。
特性方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形测量值都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关，表征膜层致密性，同时表征对热红外光谱的透过能力，方块电阻测量数值愈大，则隔离热红外性能越差，方块电阻测量数值愈小则隔离热红外性能越好，对于建筑行业来讲低辐射玻璃的热红外性能测量的快速测量就必须选用方块电阻测量仪，测量值愈小则建筑材料就愈节能，在建筑材料行业具有很大的作用。
测定计算方法方块电阻：Rs=ρ/t(其中ρ为块材的电阻率,t为块材厚度）或者写成电导率的表达式：Rs = 1/(σt)这样在计算块材电阻的时候，我们就可以利用方块电阻乘以长宽比例得到，计算过程与维度无关：R=Rs*L/W(L为块材长度，W为块材宽度）测试方法方块电阻如何测试呢，可不可以用万用表电阻档直接测试图一所示的材料呢？不可以的，因万用表的表笔只能测试点到点之间的电阻，而这个点到点之间的电阻不表示任何意义。
重锤式静电电阻测试仪的具体参数介绍
重锤式静电电阻测试仪的具体参数介绍静电电阻测试仪是一种检测物料表面表面电阻和体积电阻的仪器。
它广泛应用于电子、半导体、航空、航天、化工、纺织、医药、食品等各个领域，随着近年来各行业对防静电控制要求越来越严格，重锤式静电电阻测试仪应运而生。
重锤式静电电阻测试仪是一种使用重锤在物料表面敲击后，通过测量其体积电阻和表面电阻大小，判定物料是否符合防静电要求的仪器。
接下来，我们将分别介绍它的具体参数。
1. 体积电阻测试参数1.1 测试范围重锤式静电电阻测试仪可以测量物料的体积电阻范围为0.1Ω·cm ~ 10^12Ω·cm，适用于不同种类的物料，包括塑料、橡胶、涂料、油漆、金属、陶瓷等。
1.2 精度测试精度可以达到 ±10% 或 ±1 量级，具有高度的可靠性和准确性。
1.3 测试电极重锤式静电电阻测试仪的测试电极分为内部电极和外部电极，外部电极由导电材料制成，并覆盖了一层绝缘材料，用于测试表面电阻，内部电极则是放置在物料中的，用于测量体积电阻。
1.4 电流测试电极的电流为50nA，可靠并可控制，确保测试过程的安全性。
2. 表面电阻测试参数2.1 测试范围重锤式静电电阻测试仪测试表面电阻的范围为1Ω ~ 1×10^14Ω，可以应用于各种材料的表面测试，如塑料、橡胶、涂料、油漆、地面材料等。
2.2 精度测试精度可以达到 ±10% 或 ±1 量级，成为防静电控制的重要保证。
2.3 测试电极重锤式静电电阻测试仪的测试电极分为内部电极和外部电极，外部电极由导电材料制成，并覆盖了一层绝缘材料，用于测试表面电阻，内部电极则是放置在物料中的，用于测量体积电阻。
2.4 电流测试电极的电流为20nA，可靠并可控制，确保测试过程的安全性。
3. 附加功能除了基本的体积电阻和表面电阻测试功能，重锤式静电电阻测试仪还有一些附加功能：3.1 数据存储测试结果可以存储在测试仪中，做到数据的集中存储和查阅，方便用户随时随地进行数据分析和比对。
四探针测试电阻率和方块电阻的实验教案
四探针测试电阻率和方块电阻的实验教案第一篇：四探针测试电阻率和方块电阻的实验教案《四探针测试电阻率和方块电阻》的实验教案一、实验教学目的通过该实验，通过让学生测试不同样品的电阻率和方块电阻。
增强学生的实际动手能力，加深对电阻率和方块电阻的认识，为将来从事微电子相关的研究和测试方面的工作打好基础。
二、实验教学原理及要求1、实验教学原理电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数，它为自由载流子浓度和迁移率的函数。
半导体材料电阻率的测量方法有多种，其中四探针法具有设备简单、操作方便、测量精度高，以及对样品的形状无严格的要求等优点，是目前检测半导体材料电阻率的主要方法。
直线型四探针法是用针距为s（通常情况s=1mm）的四根金属同时排成一列压在平整的样品表面上，如图1所示，其中最外部二根（图1中1、4两探针）与恒定电流源连通，由于样品中有恒电流I通过，所以将在探针2、3之间产生压降V。
图1测量方阻的四探针法原理对半无穷大均匀电阻率的样品，若样品的电阻率为ρ，点电流源的电流为I，则当电流由探针流入样品时，在r处形成的电势V(r)为V(r)=Iρ………………………(1)2πr同理，当电流由探针流出样品时，在r处形成的电势V(r)为V(r)=-Iρ...........................(2)2πr可以看到，探针2处的电势V2是处于探针点电流源+I 和处于探针4处的点电流源-I贡献之和，因此：Iρ11V2=(-) (3)2πs2s同理，探针3处的电势V3为V3=Iρ11(-)……………………(4)2π2ss 探针2和3之间的电势差V23为V23=V2-V3=Iρ………………..(5)2πs由此可得出样品的电阻率为V ρ=2πs23 (6)I从式（1）至式（6），对等距直线排列的四探针法，已知相连探针间距s，测出流过探针1和探针4的电流强度I、探针2和探针3之间的电势差V23，就能求出半导体样品的电阻率ρ。
ST2253数字式四探针测试仪技术使用说明书
欢迎使用 ST2253 型数字式四探针测试仪！ 由衷地感谢您加入本公司的用户队伍！
一、概述
ST2253 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可 以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块 电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量。
ST2253 型数字式四探计测试仪能够测量普通电阻器的电阻（修正系数 1.000）、体 电阻率、薄片电阻率、扩散层的方块电阻，（后三项需调整不同的修正系数）。 1. 操作概述：
⑴测试准备：将电源插头插入电源插座，电源开关置于断开位置，。 将测试探头的插头与主机的输入插座连接起来，测试样品应进行喷砂和清洁处理， （选配测试台的将样品放在样品架上），调节室内温度使之达到要求的测试条件。将电 源开关置于开启位置，数字显示亮。 ⑵测量： 将探针与样品良好接触，注意压力要适中。 选择显示电流，置于样品测量所适合的电流量程范围，电流调节电位器调到适合的 电流值（方法见“注意事项”）。 选择显示电阻率或方块电阻，即可由数字显示窗直接读出测量值，如果显示“F”， 表示超出量程范围，应降低电流量程。 按下电流极性按键，从数字显示窗和单位显示灯可以读出负极性的测量值；将两次 测量获得的电阻率值取平均，即为样品在该处的电阻率或方块电阻值。 2. 注意事项： (1)棒状、块状样品电阻率测量(厚度>3.5mm):
品的厚度、形状和测量位置的修正系数。
其电阻率值可由下面公式得出：
V
W
d
W
d
ρ=C I G（ S ）D（ S ）=ρ0G（ S ）D（S ） ……………（3-3）
式中：ρ0——为块状体电阻率测量值
W G（ S ）——为样品厚度修正函数，可由附录 1A 或附录 1B 查得。
方块电阻测试仪
方块电阻测试仪简介方块电阻测试仪是一种用于测试电路中元器件电阻值的仪器。
它可以通过测量电路中特定位置的电压、电流，计算出元器件的电阻值，并显示在仪器的显示屏上。
原理方块电阻测试仪的原理是基于欧姆定律的。
欧姆定律指出，电阻为常数，电流与电压成正比，即电流和电压之比等于电阻。
因此，我们可以通过测量电路中特定位置的电压、电流，计算出元器件的电阻值。
具体地说，在测试元器件电阻时，我们将元器件与方块电阻测试仪的测试引脚连接起来。
通过调整方块电阻测试仪的工作模式，让它在测试电阻时，将元器件作为电路的一部分，通过电流计、电压计等传感器，测量电路中的电流和电压值。
通过欧姆定律，我们就可以计算出元器件的电阻值，并将其显示在方块电阻测试仪的屏幕上。
特点方块电阻测试仪具有以下几个特点：1.精度高。
方块电阻测试仪采用高精度的传感器来测量电流和电压值，因此测试出的电阻值比较准确。
2.显示直观。
方块电阻测试仪通过直观的数字显示，将测试出的电阻值直接呈现在屏幕上，方便用户观察。
3.操作简便。
方块电阻测试仪的操作界面简单明了，用户只需要按照提示操作即可完成测试。
4.适用范围广。
方块电阻测试仪可以测试多种元器件的电阻值，包括电阻、电容、电感等。
使用方法使用方块电阻测试仪进行电阻测试，需要注意以下几点：1.连接测试引脚。
将方块电阻测试仪的测试引脚连接到元器件的两端，确保测试引脚与元器件接触良好。
2.调整工作模式。
将方块电阻测试仪的工作模式调整为电阻测试模式，并设置相关参数（如电流值、电压值）。
3.测量电阻值。
根据提示，进行测量操作，并读取测试结果。
需要注意的是，在进行测试时，应注意避免以下情况：1.测量时发生短路。
在测试元器件电阻时，应避免测试引脚发生短路，否则会影响测试结果。
2.测量时电路断开。
在测试元器件电阻时，应确保电路是完整的，否则也会影响测试结果。
结论方块电阻测试仪是一种实用的测试仪器，可以用于测试电路中的元器件电阻值。
PC36c直流电阻测试仪
PC36c直流电阻测试仪使用说明书上海汉仪电气科技有限公司一、用途PC36 c直流低电阻测试仪是一种由高稳定精密恒流源、带自校的高精度数字电压表和CPU 微处理器组成的5位半台式数字式直流电阻测试仪，其测量结果用6位VFD荧光显示。
该仪器具有价格低廉、测量精度高、性能稳、使用方便等特点，它适用于测量各种电线、电缆的电阻值、各类线圈、电动机、变压器绕组的电阻，特别是具有自校功能（用户备用BZ3标准电阻，就可以校准），提高仪器的精度，省去了操作人员的送检时间。
因此该仪器广泛应用工厂、科研单位的工作场地和实验室。
二、技术指标2．1 使用条件：2．1．1环境温度：20±15℃（校准温度：20±1℃）2．1．2相对湿度：不大于75％RH2．1．3供电电源：220V±10%，50Hz±1Hz2．1．4无剧烈震动和机械冲击2．1．5环境周围无强电磁场干扰2．1．6空气中不含腐蚀气体、灰尘和有害杂质2．1．7通风条件良好2．1．8总技术指标2．2 量程、测量范围、分辨力及基本误差产品在标准条件(20±1℃)下符合表 1规定2．3 温度的影响产品在(20±5℃)条件下，误差如表 2所示如用BZ3标准电阻进行现场标定，PC36c的精度可以大大提高2．4 温度附加误差产品在偏离20±1℃的情况下工作，环境温度每变化多端10℃所引起的附加误差应不超出基本误差值。
2．5 倍功率的影响（×0.707I、×1.414I）产品在(20±5℃)条件下，误差如表 2所示2．6 极性、量程过载指示2．6．1在电阻测量时不显示极性2．6．2当输入电阻值超过仪表测量范围时仪表显示 <LCE>2．7 采样速度：2～3次/s2．8 消耗功率：≤30W2．9 重量：≤7kg三、工作原理和特点本仪器是由5 1/2位，具有0.1μV灵敏度的数字电压表和一个精密恒流源组成，如图 1所示：I00.1m A～10A图1由精密恒流源流出的电流I0在被测电阻RX产生一电压降，同时用5 1/2位数字电压表去测试这个电压降，其测量结果用电阻值反应出来。
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产品名称：电阻率/方块电阻测试仪
产品型号：HAD-DB1
电阻率/方块电阻测试仪型号：HAD-DB1
本HAD-DB1方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。
由于新型薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此HAD-DB1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头，仪器的测试电流分7档，可由0.4μA增加到最大为1000mA，测试电压可由8V增加到80V，测试电压和测试电流均可连续调节，给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索最佳测试条件的宽阔空间。
由于仪器设有恒流源开关，并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能，充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。
HAD-DB1仪器性能
方阻测量范围：1×10-5～2×106Ω/□，最小分辨率1×10-5Ω/□；
电阻率测量范围：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，最小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；
探针压力：25g～250g；
探针曲率半径：25μm～450μm
（注：探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制）；
测试电流分7档：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；
测试电压：（1μA～10 mA档）12～80V连续可调
（100mA档） 8～36V连续可调
（1000mA档） 8～15V连续可调；。