Xrd定性定量分析
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内标法
XRD应用实例1(k值法)
• 根据k值法法可以得到某物相的含量: M 1 Ii S X i K IS M Z
• MS---刚玉的质量 • MZ--- 原物总质量
• 计算结果如下:
XRD应用实例2(k值法)
Thank you!
外标法
• 外标法是用对比试样中待测的第j相的某条衍射线 和纯j相(外标物质)的同一条衍射线的强度来获 得第j相含量的方法。
• 标准物质不加到待测试样中,且通常以某纯待测 物相为标样,制成一系列外标试样,测绘出工作 曲线,进行定量相分析的方法叫外标法。
• 外标法优点是待测样中不混入标准物质。 缺点是强度不同时测量,会影响测量准确度。
衍射仪法的衍射强度:
I0 表示入射线强度,各参数都是单相物质的衍射参量。 对多相混合物,μl应为混合物的吸收系数μm 其余均与含量无m
W i
定量相分析的方法
物相定量分析的具体方法有: • 单线条法 • 外标法 • 内标法 • K值法 • 绝热法 • 直接比较法 • 联立方程法
《材料研究方法》第一次汇报
第八组 研究方法:XRD
XRD定量分析
XRD定量相分析
• X射线物相定量分析是根据混合相试样中各 相物质的衍射的强度来确定各相物质的相 对含量。
• 从衍射线的强度理论可知,多相混合物中 某一相的衍射强度,随该相的相对含量的 增加而增加。因而,可通过衍射强度的大 小求出混合物中某相参与衍射的体积分数 或重量分数。
化合物结构表征课件第二章XRD定量相分析

布拉格方程
衍射波的角度与晶面间距 、X射线波长和晶面取向有 关,可以用布拉格方程表
示。
晶体结构与XRD
晶体结构的周期性导致X射 线衍射现象的出现,不同 的晶体结构具有独特的衍
射图谱。
XRD定量相分析的方法
相对强度法
通过测量各衍射峰的强度,利用已知 纯物质的标准谱图进行对比,计算各 相的相对含量。
绝对强度法
晶体结构的解析
晶体结构类型
根据衍射数据确定晶体所属的晶系和 空间群。
晶胞参数
通过晶格常数计算晶胞参数,如晶格 类型、晶格常数等。
定量相分析的计算方法
峰面积法
通过测量各物相衍射峰的 面积或高度,计算各物相 的相对含量。
线性组合法
通过测量各物相衍射峰的 角度位置,利用线性组合 计算各物相的相对含量。
案例三:矿物材料的XRD定量相分析
总结词
通过XRD技术对矿物材料的晶体结构和相组成进行定量分析,有助于了解矿物的形成过程和演化历史 。
详细描述
矿物材料是由地质作用形成的天然矿石和矿物集合体,其晶体结构和相组成反映了地球的形成和演化 历史。XRD技术可以对矿物材料的晶体结构和相组成进行定性和定量分析,从而了解矿物的形成过程 和演化历史,为地质学和地球科学的研究提供重要依据。
案例二:陶瓷材料的XRD定量相分析
总结词
利用XRD技术对陶瓷材料的晶体结构和相组成进行定量分析,有助于优化陶瓷 材料的制备工艺和提高其性能。
详细描述
陶瓷材料广泛应用于电子、能源、环保等领域,其性能与晶体结构和相组成密 切相关。XRD技术可以对陶瓷材料的晶体结构和相组成进行定性和定量分析, 从而优化制备工艺,提高陶瓷材料的性能和稳定性。
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xrd定量分析ppt

• 计算结果如下:
XRD应用实例2(k值法)
Thank you!
用K值法进行定量相分析时 第一步是求出K值 第二步是求出混合试样中i相含量 Wi 第三步是从 Wi值算出原待测样中i相重量百分数 Wi 。
Wi Wi 1 - WS
XRD应用实例1(k值法)
• 根据k值法法可以得到某物相的含量: Ii MS 1 Xi K IS MZ
• MS---刚玉的质量 • MZ--- 原物总质量
外标法
• 外标法是用对比试样中待测的第j相的某条衍射线 和纯j相(外标物质)的同一条衍射线的强度来获 得第j相含量的方法。
• 标准物质不加到待测试样中,且通常以某纯待测 物相为标样,制成一系列外标试样,测绘出工作 曲线,进行定量相分析的方法叫外标法。
• 外标法优点是待测样中不混入标准物质。 缺点是强度不同时测量,会影响测量准确度。
K值法
• K值法也是内标法的一种,只是对内标法做 了修改,使常数C与标准物质的掺入量无关, 并称之为基体冲洗法,也就是k值法。 • k值法的优点: • 1.K值与内标物质加入量的多少无关; • 2.不用绘制定标曲线,分析手续简化。
• 研究方法》第一次汇报
第八组 研究方法:XRD
XRD定量分析
XRD定量相分析
• X射线物相定量分析是根据混合相试样中各 相物质的衍射的强度来确定各相物质的相 对含量。
• 从衍射线的强度理论可知,多相混合物中 某一相的衍射强度,随该相的相对含量的 增加而增加。因而,可通过衍射强度的大 小求出混合物中某相参与衍射的体积分数 或重量分数。
衍射仪法的衍射强度:
I0 表示入射线强度,各参数都是单相物质的衍射参量。 对多相混合物,μl应为混合物的吸收系数μm 其余均与含量无关(记为K,未知常数)。则:
XRD定量分析..

若被测试样含A、B、C等n个相,欲测A相,可掺内标物质 S,此时A相的体积分数分别为CA 和CA’ ,而Cs为标准 物质在复合试样中的体积分数,则在复合试样中: IA=K2CA’ /μ,
= K4xA ’ = KSxA
IS =K3CS /μ
因 xA’ = xA(1- xS)
IA / IS =K2CA’ /K3CS =K2xA’ ρs /K3xSρA 此时A相含量 xA与IA / IS 线性相关。
KS的处理:
I A / I S K S xA
做出A相与标准物质复合试样的定标曲线,即,事先测量出一
套由已知A相浓度的原始试样和恒定浓度的表征物质(即xS不
变)组成的复合试样,做出定标曲线,测定其IA / IS ,则KS就可 以确定。
3、K值法
原理:由内标法可得 Ii/IS=(Cixi/ρ i)/(CSxS/ρ S), 令 Ki = (Ci/ρ i)/(CS/ρ S), 则有 Ii/IS= Kixi/xS Ki的处理:纯待测物与参比物1:1混合。(以Al2O3为参比物质) 在待测样品中加入一定质量分数xS的参比物S,则任意相i和参比 物S而言有: xi = xS (Ii/IS)/Ki, 则i相在原始样品中的质量分数 Xi = xi/(1- xi)
外标法的特点
不必在试样中加入无关的相,可以定量计算 混合物中单相的含量。 需要配制不同α含量的样品做定标曲线,过程 较为复杂。
2、内标法
在被测粉末样品中加入一种恒定的标准物质制成复合试样。 通过测复合试样中待测相的某一衍射线强度与内标物质某一 衍射线强度之比,测定待测相含量。 标样:常用Al2O3, SiO2, NiO
β
,线吸收系数为μ
α
该公式表示了待测物相的在试样中的质量分数与衍射峰强度 之间的关系。
第四章XRD的定量分析

第四章XRD的定量分析
主讲:金祖权博士
土木工程学院
课堂复习
粉末照相法
德拜-谢勒法
X 射线仪
物相定性分析
主要内容X射线定量分析
物相定量分析定量分析原理
a相的衍射强度:混合物线吸收系数见公式a相的衍射强度公式见公式u Ca K Ia /*=
外标法原理:
混合物中的A相强度公式
纯物质强度公式:I=K/u
两者相除:得到公式
外标法测试方法
测出混合物和纯物质的衍射强度,
带入公式可求
测出纯A的衍射强度
测出不同A含量混合物的衍射强度
绘制定标曲线,然后依据曲线标定
内标法原理:
试样:
基本控制式:
内标法测试方法
内标和外标法制作标准曲线费事
Chung提出了标准化的内标法,也称为基体冲洗法—K值法
原理:利用预先测定好的参比强度K值,在定量分析时不需要做标准曲线,利用被测相质量含量和衍射强度的线性方程,通过数学计算而得到.
定量分析应注意问题实验设备、测试条件和方法
试样的要求
定性图谱
无标定量在水泥中的应用。
XRD分析

研究X射线波长和一般晶体晶格参数发现,两者的尺寸是数值相当或比较接近,从而有科学家断言,晶体晶格是X射线发生衍射现象的天然栅栏!后来果然得到了验证。
晶体是这样;非晶体的物质没有这种有规律的格子排列格局,当然就不能获得X射线衍射现象了。
物质有没有固定的熔点、沸点,并没有验证是一个纯净物、包括晶体的独有的予以可区别其它物质的测试属性。
晶体的熔点、沸点是相对比较固定,熔程也是比较窄,但拥有这一熔点、沸点的物质未必仅此一个;有些非晶体的纯净物,其熔点沸点也会在一定数值、熔程也会很窄。
总之,可能在二十世纪初期还可以这样做,但现在更科学的大型精密仪器分析法出现后,就不被认同了。
X射线衍射原理及应用介绍:特征X射线及其衍射X射线是一种波长很短(约为20~0.06 nm)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。
考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离(10^(-8)cm)相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将会发生衍射;衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强、而在其它方向上减弱;分析在照相底片上获得的衍射花样,便可确定晶体结构。
这一预见随后为实验所验证。
1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格定律:2d sinθ=nλ,式中,λ为X射线的波长,衍射的级数n为任何正整数。
当X射线以掠角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)入射到某一具有d点阵平面间距的原子面上时,在满足布拉格方程时,会在反射方向上获得一组因叠加而加强的衍射线。
xrd定量分析

Ii由实验可得,关键求出 KCi 和 mi
Ii KCi
i
n
mii
i 1
或
Ii
KCi
i M
Ii由实验可得,关键求出 KCi 和 M,混合物
质量吸收系数。
M
mi
基本依据:混合物中各物相衍射强度随该相
含量的的增加而提高,但由于各相吸收系数
的不同,其衍射强度 I 并不正比于含量,而
需要修正。
§2 . X射线定量分析方法 2.1 直接分析法(外标法、纯品标准法)
e2 C 2m
2
N
F
2 P 1 Cos 2 2 Sin 2Cos
e 2M
1
2 l
…… (1)
I
I 0 S3 32R
e2 C 2m
2
N
F
2 P 1 Cos 2 2 Sin 2Cos
e 2M
1
2 l
令物理常数K:
K
I0 S3 32R
e2 C 2m
2
令与结构有关的部分R: R N F 2 P 1 Cos 2 2 e 2M Sin 2Cos
加入量原则上按参考物定量线与待测相定量线 强度相近,一般以5~20%为宜。必须混合均匀。
参考物定量线选择除除不重叠最强线原则外, 应尽量靠近待测相定量线。
常用参考物:NaCl, CaF2, MgO, ZnO,Al2O3,quartz等
内标法优点
➢原则上不受实验条件变化的影响,但保持一致更好;
X射线的吸收
通过物质时,X射线能量转变为其它形式的能量而衰
减损耗。
衰减的程度与所经过物质中的距离成正比
Ix
I xdx
I
dI
x
关于XRD物相定量分析

关于XRD物相定量分析X射线衍射(X-ray diffraction,XRD)是一种常见的物相分析技术,可以用于准确测定材料中的晶体结构、晶格参数和晶体取向。
它是通过将束缚在一个固定平面的晶体样品,用X射线进行照射,并测量和分析散射的X射线来实现的。
XRD物相定量分析是一种将XRD技术与定量分析方法相结合的技术,旨在确定材料中各种不同晶相的存在量。
这种分析方法在材料科学、地质学、矿物学和结构化学等领域具有重要的应用价值。
XRD物相定量分析主要分为两个步骤:第一步是通过X射线衍射图谱的处理和分析来确定各种晶相的存在和优先方向。
第二步是根据衍射峰的强度和峰面积来定量计算每个晶相的相对含量。
下面将详细介绍这两个步骤。
在XRD物相定量分析的第一步中,需要进行X射线衍射图谱的处理和分析,以确定各种晶相的存在和优先方向。
通常使用的工具是X射线衍射图谱,可以通过它来获得物样品的晶格常数和相位辅助信息。
在这一步中,需要使用的方法包括傅立叶变换、谱分析和红外线色散等。
这些方法可以将衍射峰的波长与晶体结构的特征相结合,以确定晶体中晶格参数和晶相的存在。
在第二步中,根据衍射峰的强度和峰面积来定量计算每个晶相的相对含量。
通常使用的方法是相对强度法和内部标定法。
相对强度法是通过比较不同晶相的强度峰来计算相对含量。
而内部标定法则是将一种已知晶相作为内部标定物质,通过测量其相对峰强来计算其他晶相的相对含量。
这种方法需要准确的内部标定物质来进行校准。
除了这两个步骤外,还需要考虑一些影响XRD物相定量分析的因素。
例如,样品制备和衍射仪的性能等。
样品制备需要保证样品的纯度、颗粒大小和十分的均匀性,以避免峰重叠和多相分析误差。
而衍射仪的性能则涉及到亮度、解析度和角度精确度等因素,对结果的准确性和精度有着重要的影响。
总体来说,XRD物相定量分析是一种重要的材料表征技术,可以准确测定材料中各种晶相的相对含量,并为材料的特性和性能提供重要的信息。
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WA = WA’/ (1-WS ); WA’ = WA× (1-WS ) 根据X射线定量分析的普适公式,复合试样中A与S的衍射强度分别为:
I A = CK A
W
' A
n +1
; I S = CK S
WS
n +1
∑ 2 ρ A W j (µ m ) j
∑ 2 ρ S W j (µ m ) j
j =1
j =1
IA IS
=
KA ρA
•
ρS KS
•W 'A WS
=
KA KS
•
ρS ρA
•
(1
− WS WS
)
•
WA
令:
KA KS
•
ρS ρA
•
(1 − WS WS
)
=
K,
它是与WA无关的常数,
于是得到内标法的基本方程:
IA IS
=
K •WA
复 合 试 样 中 A 与 S 相 的 强 度 比 IA/IS 与 待 测 试 样 中 A 相 的 重 量 分 数 WA 呈 线 性 关 系,K为其斜率。
目前,最先进的衍射仪公司提供60集卡片,采用计算机自动检索
每种结晶物质都具有自己特有的晶体结构。在一定波长的X射线 作用下,每种晶体物质给出自己特有的衍射花样。衍射花样与物质种 类一一对应
多相试样的衍射花样所有组成物相的衍射花样机械叠加而成 定性相分析采用d--晶面间距和I--衍射线相对强度的数据代表衍射 花样,用d-I数据作为定性相分析的基本判据 定性相分析的方法:将试样衍射得到的一组d-I数据与标准的PDF 卡片手册中的d-I数据组进行比对,以判定试样中存在的物相
的含量为Ws,j相的含量变为W'j。复合试样中选测的j相的某条衍射线强度为
IA,选测的S相的某条衍射线强度为IS ,可分别表示为:
I j = CK j
W
' j
n +1
∑ 2ρ j
W(j µ
)
mj
j =1
Is = CK s
Ws
n+1
∑ 2ρs W j (µm ) j
j =1
Ij
=
Kj
•
ρs
•
W
' j
物理性质:εα、nωβ、εγ—折射率;Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D—密度;mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料
试样来源:制备方法;化学分析,有时亦注明升华点(S.P.),分解温度(D.T.),转变点(T.P.),摄照温度等。
2. PDF检索手册
Hanawalt J. D.等人于1938年首先发起,以d-I数据组代替衍射花 样,制备衍射数据卡片的工作
8 X射线物相分析
8.1 定性相分析
1. PDF卡片 2. PDF检索手册 3. 定性分析实例
8.2 定量相分析
1. 内标法;2. K值法 3. 绝热法;4. 直接对比法 5. 无标样法
8.1 定性相分析
1. PDF卡片
物相的化学式和名称:其后常有一个数字和 大写英文字母的组合说明。数字表示单胞中 的原子数;英文字母表示布拉菲点阵类型:
1 − 吸收因子 2µ
将与相含量无关的物理量与强度因子分别用常数C及K表示:
C
=
1 32πR
I0
e4 m2c4
λ3
K
=
1 V02
F2 hkl
Phkl
1+ cos2 2θ sin2 θ cosθ
e−2M
衍射线强度公式可简化为:
I = CK V 2µ
对于由n个相组成的多相混合物,设第j相为待测相,假定该相参加衍射
待测相(第j相)的衍射线强度与其含量关系的普适公式为:
I j = CK j
Vj
n
∑ 2 ρ W j ( µ m ) j
j =1
或 I j = CK j
Wj
n
∑ 2 ρ j W j ( µ m ) j
j =1
一般情况下,待测相的衍射线强度与其含量(Vj或Wj )间没有简单的线性关 系。因此发展了多种定量相分析方法。
3. 定性分析实例
8.2 X射线定量相分析
任务:在定性相分析的基础上测定多相混合物中各相的含量 理论基础:物相的衍射强度与该物相参加衍射的体积成正比
用衍射仪测定(平板试样)时,单相物质的衍射强度公式为:
I
=
1 32πR
I0
e4 m2c4
λ3 V02
VFh2kl
Phkl
1+ cos2 2θ sin 2 θ cosθ
[ ] ( ) I A
= CK
A 2ρA
µm
WA A WA +WB)
=
CK
A
WA
2 ρ A (µ m )A
一般情况下,待测相的衍射线强度与其含量(Vj或Wj )间没有简单的线性关 系。已发展了多种定量相分析方法。
Ä 内标法
Ä K值法(基体冲洗法)
Ä 绝热法
Ä 直接对比法
Ä 无标样法
Ä 其它新方法
一、 内标法
计算得:
W M′
=
922 • 0.69 4829 2.47
= 0.05334,
WM
=
0.05334 1− 0.69
= 17.21%
W Q′
=
8604 4829
•
0.69 8.08
=
0.15215,
WQ
=
0.15215 1− 0.69
=
49.08%
W C′
=
6660 4829
•
0.69 9.16
=
0.10389,
洗法。另外其推导的K值与内标物质加入量的多少无关,且测算容易,因此也
常称为K值法。
K值法与内标法的主要区别在于对比而K值法的比例常数K与内标物质含量无关。
公式推导: 设待测试样中含有n个相,要测其中j相的含量(Wj) 在待测样品中掺入内标物质为S制备成复合试样。复合试样中内标物质S相
实验步骤: (1) 测定Kjs值 制备一个待测相(j相)和内标物质(S相)重量为1:1的两相复合 试样,测量此复合试样中j及S相某选测峰的衍射强度Ij和IS。因为此复合试样中 W’j/Ws=1,故Kjs = Ij/IS (2) 制备待测相的复合试样 向待测试样中掺入与测Kjs时相同的内标物质(掺入 量不限),混合均匀,即为待测相的复合试样
(3) 测量待测相的复合试样 所选测的衍射峰及实验条件与测定Kjs时完全相同 (4) 计算待测相的含量 由测量待测相的复合试样所得的Ij和IS、S相的掺入量 Ws、预先测出的Kjs计算出W’j ,再利用关系式W’j=Wj/(1-Ws) 即可求出Wj。
W
' j
=
Ij Is
•
Ws
K
j s
;
Wj
=
W
' j
三、绝热法
Chung F. H. , J. Appl. Cryst. 8(1975),17
方法概要: 1975年由Chung F. H.在K值法的基础上提出。测量时,内标物质由
待测试样中某一组分充当,而不另外加入,好像与系统外隔绝,借用物理学名 词称为“绝热法”。 公式推导: 设待测试样由n个已定性鉴定的相组成,没有非晶相或未鉴定相存 在(即使有,其含量就少到可以忽略)。采用待测试样中的j相作为内标物质, 按K值法计算公式可写出:
C—简单立方;B—体心立方; F—面心立方;T—简单正方; U—体心正方;R—简单菱方; H— 简 单 六 方 ; O 简 单 斜 方 ; Q—底心斜方;S—面心斜方; M—简单单斜;N—底心单斜; Z—简单三斜。
矿物学名称: «—数据高度可靠 i—已指标化和估计强度,但可 靠性不如« O—可靠性较差 C—衍射数据来自理论计算。
实验条件:Rad.—辐射种类(如Cu Kα);λ—波长;Filter—滤波片;Dia.—相机直径;Cut off—相机或测角仪能测得 的最大面间距;Coll—光阑尺寸;I/I1—衍射强度的测量方法;d corr. abs.?—所测值是否经过吸收校正; Ref—参考资料
晶体学数据:Sys.—晶系;S.G—空间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞参数;A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原 子或分子的数目; Ref—参考资料
的体积为Vj,强度因子为Kj(C为物理常量),由该相产生的衍射线强
度为:
Ij
=
CK
j
Vj 2µ
待测相的含量通常用体积分数Vj或重量分数Wj表示。若多相试样的密度为ρ, 第j相试样的密度为ρj,Vj与Wj的关系为:
Vj
=Wj
ρ ρj
多相试样的线吸收系数μ可用各组成相的质量吸收系数(μm)j表示:
n
∑ µ = ρµ m = ρ W j ( µ m ) j =1
I s K s ρ j Ws
令:K
j s
=
Kj Ks
•
ρs ρj
Ij Is
=
K
j s
•
W
' j
Ws
Kjs仅与j相及S相的密度、X射线波长(λ)及选测衍射峰的衍射角 (2θ)有关,与相的含量无关。在两相衍射线强度Ij和IS所对应的衍射角 2θj和2θS一定的情况下Kjs为常数。
测定出 Kjs 后,就可求出W’j后,再利用关系式W’j=Wj/(1-Ws) 即可 求出Wj。
方法概要:在被测的粉末试样中加入一种含量恒定的标准物质,混合均匀后制成 复合试样,测量复合试样中待测相的某一衍射峰强度与内标物质某一衍射峰强 度,根据两个强度之比来计算待测相的含量。 公式推导:设被测试样由n个相组成,待测相为A,在试样中掺入内标物质S,混 合均匀后制成复合试样。 令: WA ---A在被测试样中的重量百分数;