多弧离子镀

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多弧离子镀硬质膜的抗空蚀性能研究

多弧离子镀硬质膜的抗空蚀性能研究

多弧离子镀硬质膜的抗空蚀性能研究本文旨在研究多弧离子镀硬质膜的抗空蚀性能。

空蚀是表面材料在高温、低压条件下受到气体或离子的侵蚀而引起的表面损伤现象。

多弧离子镀硬质膜具有高硬度、低摩擦和优异的抗氧化性能,因此被广泛应用于航空航天、汽车和切削工具等领域。

本研究首先选取了不同的离子镀工艺参数,包括离子镀时间、离子能量和离子流密度等进行优化。

然后,通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)等表征技术对材料进行表面形貌和微观结构的分析。

在抗空蚀性能测试方面,我们采用了惯性热气体撞击实验和离子束烧蚀实验来评估多弧离子镀硬质膜的耐气体侵蚀性能。

实验结果显示,在经过优化的离子镀工艺参数下,多弧离子镀硬质膜具有较高的抗空蚀性能,能够有效地减轻气体撞击和离子烧蚀引起的表面损伤。

此外,我们还对多弧离子镀硬质膜的微观结构和化学成分进行了分析。

结果显示,该膜具有致密的结构和高纯度的化学成分,这也是其优异抗空蚀性能的重要因素之一。

综上所述,本研究通过优化离子镀工艺参数,研究了多弧离子镀硬质膜的抗空蚀性能。

实验结果表明,该膜具有较高的抗气体侵蚀性能,可望在实际工程应用中发挥重要作用。

同时,为了更深入地了解多弧离子镀硬质膜的抗空蚀性能,我们还对其机理进行了探究。

首先,通过分析表面形貌和结构特征,发现多弧离子镀硬质膜具有致密的结构和光滑的表面,这可以有效地减少气体和离子的侵入,从而提高抗空蚀性能。

此外,膜的结晶度和晶粒尺寸也对抗空蚀性能起到了重要影响。

我们发现,通过调整离子能量和离子流密度,可以改变膜的结晶度和晶粒尺寸,从而实现对抗空蚀性能的调控。

其次,我们还研究了多弧离子镀硬质膜的化学成分对抗空蚀性能的影响。

实验结果显示,含有一定量的硅和氮的镀层具有更优异的抗空蚀性能。

这是因为硅和氮元素的加入可改善膜的化学惰性和氧化抗性,减少表面氧化物的形成,从而提高抗气体和离子侵蚀能力。

此外,我们还研究了多弧离子镀硬质膜的温度和压力对抗空蚀性能的影响。

多弧离子镀工作原理

多弧离子镀工作原理

多弧离子镀工作原理
嘿,朋友!今天咱们来聊聊超酷的多弧离子镀工作原理。

你知道吗,多弧离子镀就像是一场奇妙的微观舞会!在这个“舞会”上,有好多“演员”呢!那些被气化的靶材粒子,就像是活力四射的舞者,它们在电场的作用下,欢快地跳动着、飞舞着。

比如说,就像一群快乐的小鸟在空中自由翱翔!
离子源就像是这个舞会的指挥家,它发出强有力的指令,让这些“舞者”按照特定的节奏和方式运动。

瞧,这多神奇啊!
然后呢,工件就像是等待着精彩表演的观众席。

那些飞舞的靶材粒子纷纷落在工件上,给它披上一层独特的“外衣”,是不是很酷炫?这就好比给一件普通的物品穿上了华丽的盛装!
而整个过程中,真空环境就像是一个安静的大剧院,确保了这场“舞会”能够顺利进行,没有任何干扰,多棒啊!
哇塞,多弧离子镀的工作原理真的是太有意思了!你是不是也被深深吸引了呢?现在你对它有更深刻、更有趣的理解了吧!。

多弧离子镀DLC涂层的结构与力学性能文献综述

多弧离子镀DLC涂层的结构与力学性能文献综述

多弧离子镀DLC涂层的结构与力学性能文献综述1.1多弧离子镀概述1.1.1多弧离子镀概念多弧离子镀与一般的离子镀相比有很大区别。

多弧离子镀采用弧光放电,而不是传统离子镀的辉光放电以进行沉积。

简单说,多弧离子镀的原理就是将阴极靶作蒸发源,通过靶与阳极壳体之间的弧光放电,使靶材蒸发,从而在空间中形成等离子体,对基体进行沉积。

离子镀技术是结合了蒸发与溅射技术而发展的一种 PVD 技术。

它对产品,特别是刃具之类的工具表面起着装饰和提高寿命的作用。

多弧离子镀最早起源于苏联,美国于1980 年由 Multi-arc 公司引进,是上世纪 80 年代兴起的高新表面处理技术,Multi-arc 公司推广并使之实用化,它的发明使薄膜技术进入了一个崭新的阶段。

在随后的几十年的时间里,该技术有了突飞猛进的发展。

至今欧美国家仍然大力发展多弧离子镀膜技术。

[1]1.1.2多弧离子镀的基本结构多弧离子镀的基本组成包括真空镀膜室,阴极弧源,基片,负偏压电源,真空系统等。

阴极弧源是多弧离子镀的核心,它所产生的金属等离子体自动维持阴极和镀膜室之间的弧光放电。

微小狐班在阴极靶面迅速徘徊,狐班的电流密度很大,电压为20V左右。

由于微弧能量密度非常大,狐班发射金属蒸汽流的速度可达到10的8次方m/s.阴极靶本身既是蒸发源,又是离化源。

外加磁场可以改变阴极狐班在靶面的移动速度,并使狐班均匀,细化,以达到阴极靶面的均匀烧蚀,延长靶的使用寿命。

[1]在靶面前方附近形成的金属等离子体,有电子,正离子,液滴和中性金属蒸汽原子组成,由于金属蒸汽原子仅占很小部分(低于百分之二),因而在基片上沉积的粒子束流中几乎全部由粒子和液滴组成。

为了解释这种高度离化的过程,已建立了一种稳态的蒸发离化模型。

该模型认为,由于阴极狐班的能流密度非常大,在阴极的表面上形成微小熔池,这些微小熔池导致阴极靶材的剧烈蒸发。

热发射和场至发射共同导致电子发射,而且电子被阴极表面的强电场加速,以极高的速度飞离阴极表面,在大约一个均匀自由程之后,电子与中性原子碰撞,并使之离化,这个区域称之为离化区。

多弧离子镀膜技术的主要工艺参数与涂层性能的关系

多弧离子镀膜技术的主要工艺参数与涂层性能的关系

多弧离子镀膜技术的主要工艺参数与涂层性能的关系由于影响涂层质量的因素多而复杂,因此研究工艺参数与涂层性能指标之间的关系,以实现涂层性能预测与工艺优化设计,始终是研究人员致力的目标。

国内外研究表明多弧离子镀膜的主要工艺参数有:基体沉积温度、反应气体压强与流量、靶源电流、基体负偏压、基体沉积时间等。

实验对多弧离子镀制备TiC薄膜的工艺与性能进行了研究,得出各工艺参数对涂层显微硬度和涂层/基体结合力的影响程度。

对显微硬度影响程度的主次顺序是反应气体流量、沉积时间、基体负偏压、靶源电流;对涂层/基体结合力影响程度的主次顺序是沉积时间、反应气体流量、基体负偏压、靶源电流。

实验采用多弧离子镀方法制备了TiN/Cu纳米复合涂层,研究了工艺参数对涂层硬度的影响,结果表明对显微硬度影响程度的主次顺序是反应气体压强、沉积时间、基体沉积温度、基体负偏压。

基体沉积温度基体沉积温度对涂层的生成、生长及涂层的性能产生直接的影响。

根据吉布斯的吸附原理可知,温度越高基体对气体杂质的吸附越少。

因此,一般说来,基体沉积温度高,有利于涂层的生成、生长,增大沉积速率;也有利于提高涂层与基体的附着力,使涂层晶粒长大,表面平整光亮。

但温度太高,会引起晶粒粗大,强度和硬度下降。

实验采用多弧离子镀技术在高速钢表面沉积了TiN涂层,研究了不同沉积温度下TiN涂层的表面硬度与涂层/基体的结合力,结果表明在保证基体材料不过热的前提下,提高沉积温度有利于提高TiN涂层的性能。

并得出了最佳的沉积温度为500℃,此时TiN涂层的硬度、涂层/基体结合力与刀具性能最佳。

对刀具进行涂层时,为使涂层与基体牢固结合,提高涂层质量,需在涂层前将基体加热到一定温度。

对于高速钢刀具一般为500℃左右,硬质合金刀具一般在900℃左右。

反应气体压强与流量反应气体的压强与流量大小直接影响涂层的化学成分、组织结构及性能。

实验在W18Cr4VCo5高速钢基体上采用多弧离子镀技术制备了TiAlN涂层,研究了N2分压对熔滴形成的影响,结果表明随N2分压的增加,涂层中颗粒和熔滴的密度、直径减小,主要是通过靶材表面零中毒,不形成氮化物从而提高材料的熔点引起的。

多弧离子镀

多弧离子镀


improve the maximal life of workpiece.












Key words: Arc ion plating, TiAlN coating, Taguchi method
共4页 第2页
安徽工业大学
毕业设计(论文)报告纸
目录


引 言 .................................................................. 1
┊ ┊
1.1.2 多弧离子镀的基本原理和特点 ................................... 2

1.1.3 多弧离子镀工艺参数 ........................................... 4


1.1.4 多弧离子镀的应用 ............................................. 6

pared to the hardness, the parameters of adhesion have some differences. The

differences were substrate temperature 320 ℃, arc power 100 A, pretreated voltage bias –100

arc ion plating



Abstract



The purpose of this research is to optimize the process of multi-arc ion plating TiAlN coating.

多弧离子镀

多弧离子镀


XRD,Linear scratch tester and nano-indentation tester. The deposition efficiency,

microhardness, roughness and adhesion of TiAlN coting was optimized by Taguchi

bias, pretreatment time and voltage bias.The TiAlN coating is consist of (Ti, Al)N phase (FCC).


The coating is mainly grown with a preferred (111) orientation of the (Ti, Al)N phase.The
3.3.3 TiAlN 薄膜粗糙度分析 ........................................ 24

3.3.4 TiAlN 薄膜结合力分析 ........................................ 25

3.4 TiAlN 薄膜截面形貌分析 ............................................ 29


2.2.2 试验仪器 .................................................... 17

2.3 试验数据 .......................................................... 17


3 试验结果分析............................................................ 20

多弧离子镀制备TiAlN和DLC涂层的工艺方法及其对线齿轮副摩擦学性能的影响

多弧离子镀制备TiAlN和DLC涂层的工艺方法及其对线齿轮副摩擦学性能的影响

多弧离子镀制备TiAlN和DLC涂层的工艺方法及其对线齿轮副摩擦学性能的影响多弧离子镀(Muti-Arc Ion Plating,简称MAIP)是一种先进的表面处理技术,其制备复合涂层的过程具有高效、环保、可控等优点。

MAIP制备的TiAlN和DLC涂层对于线齿轮副的摩擦学性能具有显著影响。

本文将从MAIP工艺方法出发,探讨TiAlN和DLC涂层对线齿轮副摩擦学性能的影响,并回顾5个相关研究的案例。

1. MAIP工艺方法MAIP是一种在真空环境下利用电子束或离子束轰击材料表面,使工件表面原子释放,同时在工件表面注入镀层原子的技术。

MAIP所能制备的复合涂层包括吸氢氮化钛涂层(TiN-H),碳化钨涂层(WC),碳化金属涂层(MeC),二元合金涂层(TiAlN),硬炭化物涂层(TiC-C),含肽涂层(TiSiN)和Diamond-Like Carbon(DLC)涂层等。

其中TiAlN和DLC涂层在线齿轮副的摩擦学性能上的应用最为广泛。

制备TiAlN复合涂层时,MAIP通常使用弧源发生器,利用瞬时高能电弧的发射物质原子轰击目标材料表面,同时通过氮气化学反应在表面形成Ti-Al-N原子排列的复合层。

相比于传统的物理气相沉积和磁控溅射等制备工艺,MAIP制备TiAlN涂层具有较高的沉积速度和良好的附着性,并能够控制涂层厚度和成分,可作为改进型覆盖层的备选项。

制备DLC涂层时,MAIP常常使用离子源发生器,利用工件表面的离子注入苯环等被镀涂原料来形成薄膜,随后在真空箱内制备硬质涂层,将单质石墨或者石墨相邻聚氢化碳等原材料形成离子束来进行物理沉积,最后通过化学反应使得形成的膜形成高碳和非金属元素化合物。

DLC涂层具有优异的低摩擦性、耐磨性和较高的化学惰性,适合用于恶劣工况下的摩擦副件。

2. MAIP制备的TiAlN和DLC涂层对线齿轮副摩擦学性能的影响2.1 TiAlN涂层对线齿轮副的影响(1)摩擦学性能Chunlei Liu等人使用MAIP技术制备不同厚度的TiAlN涂层,并将其用于线齿轮副表面。

多弧离子镀tin和tialn硬质薄膜的制备及性能研究

多弧离子镀tin和tialn硬质薄膜的制备及性能研究

AbstractIn this work,TiN coating and TiAlN coating was deposited on high-speed steel substrate by arc ion olating.The influences of flux ratio N2/Ar and negative bias voltage on film topography,film thickness,phase structure,hardness,corrosion resistance of films have been investigated by SEM,EDS,XRD,metalloscope,micro hardness and electrochemistry tester respectively.Also studied the high temperature oxidation resistance of TiAlN films under the best technical parameters. The main conclusion are as follows:(1)TiN film mainly contained TiN phase,preferred orientation along the (200) plane.The optimized parameters of preparing TiN film were 9:1 ratio of N2 to Ar and 150V negative bias voltage.The maximum microhardness of TiN film was 2188.2HV and the maximum thickness of the film was 2.73um.(2) With the increase of flux ratio N2/Ar, the preferred orientation of TiAlN films turned (200)to (111).When the flux ratio N2/Ar was 8:2,the microhardness of TiAlN films were highest which reached 2720HV. When the flux ratio N2/Ar was 9:1, the corrosion resistance of TiAlN films were best,19 times better than uncoated.(3)The negative bias voltage has significant influence on the surface topography of TiAlN films.When the negative bias voltage was 150V, the microhardness of TiAlN film was highest which reached 2724.6HV.And at the same time, the corrosion resistance of TiAlN films were best, 9 times better than uncoated.(4) The optimized parameters of preparing TiAlN films were 8:2 ratio of N2 to Ar and 150V negative bias voltage. By studying the high temperature oxidation resistance,when the oxidation temperature was under 700℃, the protective layer which consist of Al2O3 and TiO can prevent the film being oxidized. When the oxidation temperature reached 900℃, Fe had infiltrated in the thin film surface ,and generated Fe2O3, TiAlN film had start to fail.Key words: TiN; TiAlN;Flux ratio N2/Ar; Negative bias voltage;High temperature oxidation resistance目录第1章绪论 (1)1.1课题背景 (1)1.2硬质薄膜 (1)1.2.1硬质薄膜的简介 (1)1.2.2硬质薄膜的分类 (2)1.3多弧离子镀技术概述 (2)1.3.1多弧离子镀的原理 (2)1.3.2多弧离子镀的特点 (3)1.3.3多弧离子镀的工艺参数 (4)1.3.4多弧离子镀技术的应用 (5)1.3.5多弧离子镀的发展 (6)1.4薄膜生长 (6)1.4.1 薄膜的形核与生长 (6)1.4.2 离子镀的成膜过程与薄膜结构 (8)1.4.3 薄膜的择优取向 (9)1.5TiN和TiAlN硬质膜的研究现状 (9)1.6 选题意义及研究内容 (11)1.6.1 选题意义 (11)1.6.2 研究内容 (11)第2章试验材料及方法 (12)2.1 试验材料 (12)2.1.1 基体材料 (12)2.1.2 基体材料的预处理 (12)2.2 试验设备 (12)2.3 薄膜的制备 (13)2.4 性能测试仪器及方法 (15)2.4.1 薄膜表面形貌、成分及组织结构的分析测试 (15)2.4.2 薄膜性能的测试 (16)第3章多弧离子镀TiN薄膜的沉积工艺研究 (18)3.1氮氩比对TiN薄膜结构和性能的影响 (18)3.1.1 氮氩比对TiN薄膜表面形貌的影响 (18)3.1.2 氮氩比对TiN薄膜厚度的影响 (19)3.1.3 氮氩比对TiN薄膜显微硬度的影响 (21)3.2基体负偏压对TiN薄膜的影响 (21)3.2.1 基体负偏压对TiN薄膜表面形貌的影响 (21)3.2.2 基体负偏压对TiN薄膜厚度的影响 (22)3.2.3基体负偏压对TiN薄膜显微硬度的影响 (24)3.3 最佳制备工艺下TiN薄膜的物相及成分分析 (25)3.4本章小结 (26)第4章多弧离子镀TiAlN薄膜的制备与耐腐蚀性能分析 (27)4.1 氮氩比对TiAlN薄膜组织及性能的影响 (27)4.1.1 氮氩比对TiAlN薄膜表面形貌的影响 (27)4.1.2 氮氩比对TiAlN薄膜物相结构的影响 (28)4.1.3 氮氩比对TiAlN薄膜硬度的影响 (29)4.1.4 氮氩比对TiAlN薄膜耐腐蚀性的影响 (30)4.2 基体负偏压对TiAlN薄膜组织及性能的影响 (31)4.2.1 基体负偏压对TiAlN薄膜表面形貌的影响 (31)4.2.2基体负偏压对TiAlN薄膜物相结构的影响 (33)4.2.3 基体负偏压对TiAlN薄膜硬度的影响 (33)4.2.4 基体负偏压对TiAlN薄膜耐腐蚀性能的影响 (35)4.3 本章小结 (36)第5章多弧离子镀TiAlN薄膜高温抗氧化性能研究 (37)5.1 高温氧化后TiAlN薄膜的表面形貌及表面能谱成分分析 (37)5.2高温氧化后TiAlN薄膜的物相结构分析 (41)5.3 高温氧化后TiAlN薄膜的硬度及重量分析 (42)5.4 本章小结 (43)第6章结论 (44)致谢 (45)参考文献 (46)攻读学位期间主要的研究成果 (50)第1章绪论第1章绪论1.1课题背景材料、信息和能源是当今社会发展的三大支柱产业,是各国高新技术发展的重要组成。

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图4 阴极电弧产物组成示意图
2 减少液滴的措施
2.1 减少液滴的产生
降低放电功率密度,提高弧斑运动速度,降低高电荷态含量,提 高电离度,以及加强冷却措施等方法可有效地减少液滴的产生。
2.1.1 降低放电功率密度
放电功率密度大小直接影响液滴的产生,降低放电功率密度可 有效地减少液滴的产生。平均放电功率密度 P 为:
图9 不同偏压下的薄膜表面AFM形貌图 a)0,b)-100,c)-200,d)-300,e)-500
举例
• 黄美东研究了脉冲偏压电弧离子低温沉积TiN硬质薄膜的 力学性能。 • 实验方法
实验在AIP型电弧离子镀膜系统上进行,偏压电源系统由一台直流恒 压偏压电源和一台直流脉冲偏压电源组成。直流偏压电源可提供01200V的电压,脉冲偏压电源的占空比τ(定义为每个脉冲周期中, 脉冲作用时间与一个脉冲周期的比值)在10%-40%之间连续可调,电 压幅值0-1500V,采用热电偶直接接触法来测量TiN薄膜沉积过程中的 基体温度。基体是尺寸为15mm×10mm×5mm的高速钢,经金相砂纸研 磨后抛光,在丙酮中用超声波清洗10min,用热风快速吹干后放置于 真空沉积室中的试样台上,与弧靶的距离为240mm。薄膜沉积过程中, 两个弧靶(99.99%Ti)电弧电流均为70A,真空室镀膜气压维持在 0.35-0.40Pa,试样随基体平台转动,对基体施加不同的偏压。
4 多弧离子镀的应用
自20世纪80年代以来,随着离子镀氮化钛超硬耐磨镀层 工艺逐渐完善和镀膜质量的提高多弧离子镀在冶金、机械 加工、高温防护、装饰材料等众多行业得到广泛的实际应 用。
举例
• 牛二午研究了基体偏压对沉积ZrN薄膜表面形貌的影响。 表1 薄膜沉积工艺参数
基体偏压直接决定了离子的 能量,在薄膜沉积过程中, 具有一定能量的离子与基体 表面沉积原子产生碰撞,产 生声子、碰撞原子、空位等。 随着离子能量的增加,碰撞原 子可能进入到膜内部,占据晶 格间隙位置和前期产生的空位。 因此在一定程度上提高了薄膜 的致密度。然而随着离子能量 的增加,入射离子的背散射效 果增强。这使得低偏压作用下 薄膜沉积速率缓慢降低。 图8 沉积速率随偏压的变化关系
在脉冲偏压下沉积的TiN膜 在低幅值及低占空比下, 与基体的结合强度稍低于 直流偏压时的膜基结合力。 当幅值和占空比较大时, 膜基结合强度比直流偏压 时的大。
图12 不同偏压下TiN膜与基体的结合强度
• 总结
基底偏压的变化影响沉积到薄膜上的离子的能量,进而影 响薄膜的表面形貌和粗糙度、硬度和膜基结合力。
金属靶与真空室之间用一 条弯曲的金属管子相连接。 在弯管壁上绕有螺旋线圈, 以便在通电时形成磁力线偏 转的弯曲磁场。
图5 磁过滤器结构示意图
在基底上施加负偏压时, 金属等离子体在弯曲磁的 约束下,沿着磁力线方向 以螺旋轨迹走出弯管飞向 基底并经过形核,生长直 至生成薄膜。而不带电的 液滴或固态的大颗粒不受 磁场约束只作直线运动大 部分都将撞向弯管壁,而 失去动能沉积在弯管壁上 或掉落在真空室中。
图1 多弧离子镀结构示意图
• 工作原理是:在真空 条件下,金属阴极和 触发电极在10KV脉冲 高压下,触发放电, 在阴极表面形成产生 金属等离子体的阴极 斑点,放电产生的大 量热量使阴极斑点处 金属被局部蒸发,电 离,形成高密度的金 属等离子体。
图2 多弧离子镀示意图
• 在靶面前方附近形成的金属等 离子体,由电子、正离子、液 滴和中性金属蒸气原子所组成。 为了解释这种高度离化的过程, 已经建立了一种稳态的蒸发离 化模型,见图3。该模型认为, 由于阴极弧斑的能流密度非常 大,在阴极的表面上形成微小 熔池,这些微小熔池导致阴极 靶材的剧烈蒸发。电子被阴极 表面的强电场加速,以极高的 速度飞离阴极表面,并且电子 会与中性原子碰撞,并使之离 化,这个区域称为离化区。由 于电子比重离子轻得多,所以 电子飞离离化区的速度要比重 离子高得多,这样在离化区就 出现正的空间电荷云。
2.1.2 提高弧斑的运动速度
提高约束磁场强度和降低残余气体压力,可减少弧斑运动阻力,提 高弧斑运动速度,降低斑在靶材上的停留时间可以减少液滴的产生。
2.1.3 降低高电荷态离子含量
电荷态为Z的高电荷态离子动能是单电荷态离子动能的Z倍,它们传 给阴极液面的能量和作用力就增加了Z倍,所以它们产生液滴的能力比 单电荷态离子增加了Z倍。采取低于第二电离电位的放电电压,就可以 适当地减少高电荷态离子含量,从而减少液滴的产生。
P = IU / S
W/cm2
I为平均放电电流,U为放电电压,S为阴极发射面积。 放电电流正比于膜的沉积速率,在一定沉积速率限定下,放电电流也 是一定的。要降低放电功率密度就只有降低放电电压和扩大阴极发射 面积,但是放电电压一般不能小于3-5倍电离电位,增加阴极发射面 积也必须考虑到结构上是否允许,我们根据此原则确定放电功率密度。
多弧离子镀技术
苗志岭
1 基本原理
• 多弧离子镀的基本原理就是把金属蒸发源(靶源)作为阴 极,通过它与阳极壳体之间的弧光放电,使靶材蒸发并离 化,形成空间等离子体,对工件进行沉积镀覆。
• 多弧离子镀的基本组成包括 真空镀膜室、阴极弧源、基 片、负偏压电源、真空系统 等,如图1所示。 • 1-阴极弧源(靶材);2、3进气口;4-真空系统;5-基 片(试样);6-偏压电源。
图6 弯曲磁过滤弧离子镀膜沉积原理
图7 不同镀膜方式的TiN与Ti膜的表面形貌
3 多弧离子镀的技术特点
(1)金属阴极蒸发器不融化,可以任意安放使涂层均 匀,基板转动机构简化。 (2)外加磁场可以改善电弧放电,使电弧细碎,旋转 速度加快,细化膜层微粒,对带电粒子产生加速作用。 (3)金属离化率高,有利于涂层的均匀性和提高附着 力,是实现离子镀膜的最佳工艺。 (4)一弧多用,既是蒸发源,又是加热源,预轰击净 化源和离化源。 (5)设备结构简单,可以拼装,适于镀各种形状的零 件,包括细长杆,如拉刀等。 (6)但会降低零件表面的光洁度。
扩大阴极冷却面积和提高冷却剂流速等措施可明显加强阴极冷却, 从而减少液滴发射。
2.2 提高液滴过滤效果和等离子体传输效率
磁过滤的原则:
在轴向磁场中,电子的运动是沿着磁力线方向螺旋前进的,直到 受到其他粒子的碰撞。如果磁场是弯曲的。正如在一个弯曲的螺线管内 部的磁场,电子会沿着曲率运动。这样的电子可认为是磁化的,相反, 离子通常不被磁化,因为它们的旋转半径比电子要大得多,比过滤器的 特征尺寸也要大。但是,离子也会被迫沿着磁力线方向运动,由于电子 和离子间存在的电场,当离子被电子推出去时电场就会存在。因此,等 离子体宏观上是电中性的,等离子体沿着磁力线方向的输运是磁的(电 子)和电的(离子)复合机制。 大颗粒会轻微带电,但是质量和电荷之比与电子和离子相比是很 大的,因此,大颗粒由于它们的惯性所以沿着直的轨迹运动。如果等离 子体(电子和离子)从阴极表面出来后不沿直线引导,大颗粒将与等离子 体分离,如果没有其他问题,通过磁过滤将大颗粒完全去除将可以完成。 但是,还有一些问题会影响大颗粒的去除,这些问题是:大颗粒从壁的 反弹,等离子体在过滤器中的大量失去等。
2.1.4 提高放电电离度
对于一定的沉积速率,提高电离度就意味着降低放电功率,也就 是减少阴极熔池深度及熔融金属含量,从而减少液滴发射。在维持一 定的放电电压时,提高真空度,降低残余气体压强可明显地减少残余 气体的碰撞,电荷交换与离子复合等损失,减少发散角以及提高约束 和传输能力也是很有效的方法。
2.1.5 加强阴极冷却措施
• 实验结果
随直流偏压增大,温升速率越快, 最终稳定温度也越高。在相同的脉 冲偏压下,占空比越大,基体的沉 积温度越高。由图中可以看出脉冲 偏压Up下基体温度明显低于相同幅 值时直流偏压Udc下的温度,表明利 用脉冲偏压可以有效降低镀膜过程中 基体的温度。
图10 直流和脉冲偏压下的基体温度变化
无偏压时TiN薄膜的硬度较 低。这是由于离子自由沉积 到基体表面,膜的组织结构 比较疏松。加直流偏压后离 子有较强的轰击作用,薄膜 结构致密,显微硬度增大。 当直流偏压在100-500V之间 变化时,薄膜的显微硬度为 2100-2500HV。使用脉冲偏压后, 在不同的偏压和占空比时有所 不同。 图11 不同偏压下TiN膜的硬度
图3 阴极靶表面离化区域示意图

• 离化区域的空间电荷,是导致加 速区强电场的主要原因,该电场 一方面使电子加速离开阴极表面, 另一方面也使得离子回归阴极表 面,该回归的离子流可能导致阴 极表面温度在一定程度上的增加。 此外,回归的离子流对熔池表面 的冲击作用可能是液滴喷溅的原 因,按照这种解释,在基片上只 能接收到离子和液滴,而无中性 原子。
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