无机非金属材料测试方法复习

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无机非金属材料测试方法

无机非金属材料测试方法

1无机非金属材料测试技术是研究和解决如何测定无机非金属材料的成份、结构和性能的一门学科。

它是一门技术方法课,是无机非法金属材料专业的一门重要的专业技术课2利用光学显微镜可以对材料的显微结构(100-0.2μm的结构)进行研究。

超显微(0.2~0.01μm)的结构和微观结构(<0.01μm的结构)3测试技术是材料质量检测的必要手段,研制出来的材料、生产出来的材料其成分、结构、性能是否达到使用要求,是否达到用户要求,是否达到行业标准、国家标准、国际标准,必须采用一定的测试手段进行检测后才能得出结论。

4这种射线实际上是一种与无线电波、可见光、紫外线、γ射线类似的电磁波,它具有以下几个性质: 1. 波长极短 2. 具有波粒二象性 3. 穿透力极强 4.对生物细胞有很强的破坏作用5按成因可将X-Ray分为两类谱线:1连续X射线谱:成因:高速运动的电子撞到阳极时突然减速,动能转变为光能释放出来。

特点:有一个最短波长λ0,在大于最短波长的某一范围内,其波长连续变化。

用途:劳埃法用其作光源。

2特征X射线谱;成因:原子的内层电子被激发造成电子跃迁。

特点:由若干条特定波长的X-Ray构成,波长不连续。

用途:X-Ray衍射分析的主要光源;元素成分分析。

6当外层电子往内层空位跃迁时,其多余的能量不是以X-Ray的形式释放出来,而是传给原子的外层电子使之脱离原子,变成自由电子。

这个过程称为俄歇作用。

由俄歇作用产生的自由电子称为俄歇电子。

7X射线与物质相作用有散射(相干散射、不相干散射)、光电吸收、萤光散射、俄歇电子。

8相干散射:当X光子与原子内的紧束缚电子碰撞时,X光子仅改变运动方向,能量没有损失。

这种散射线的波长与入射线的波长相同,并具有一定的相位关系,它们可以互相干涉,形成衍射图样,故称相干散射。

X-Ray衍射分析就是利用这种散射。

9非相干散射:当X光子与自由电子或束缚很弱的电子碰撞时,不仅运动方向发生变化,而且能量也发生变化。

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无机非金属材料研究方法重点

无机非金属材料研究方法重点

材料研究方法重点一、光学显微分析(一)晶体光学基础1、自然光经过某些物体的反射、折射及吸收等作用,得到只在一个固定方向振动的光波,这种光波被称为偏振光,简称偏光。

2、光性均质体:在光学性质上显示各向同性的物体。

一切非晶质体,对称性极高的立方(等轴)晶系的晶体属于光性均质体。

特点:光波在均质体中的传播速度不因传播方向的变化而变化。

3、光性非均质体:在光学性质上显示各向异性的物体。

中级晶族和低级晶族的晶体属于光性非均质体,中级晶族的晶体有一根光轴,称为一轴晶;低级晶族的晶体有两根光轴,称为二轴晶。

4、光性非均质体光率体:一轴晶光率体为以c轴为旋转轴的旋转椭球体(二轴椭球体);二轴晶光率体为三轴椭球体,三个互相垂直的轴代表了二轴晶的三个主要光学方向,称为光学主轴(简称主轴)。

(二)偏光显微镜1、物镜的分辨率是物镜重要的性能指标,是指物镜分辨物体上细微特征的本领,具体来说就是能够分开两点之间的最短距离。

显微镜的分辨率取决于物镜的分辨率,而与目镜无关。

2、提高显微镜的分辨率的措施:(1)降低波长λ值;(2)增大观察试样与物镜前透镜间介质折射率N的值;(3)增大孔径半角α以提高数值孔径。

3、利用偏光显微镜系统研究透明矿物的光学性质,一般按下面三个光学系统和程序进行:单偏光、正交偏光和聚敛偏光(锥光)。

(1)单偏光系统是指只使用下偏光镜,推出上偏光镜、勃氏镜和拉索聚光镜的光学系统,它是其它光学系统的基础。

A、根据晶体不同的形貌特征划分为自形晶、半自形晶、他形晶。

B、矿物的解理:矿物晶体在外力作用下沿一定方向裂开成光滑平面的性质。

C、矿物的糙面:P24。

D、贝克线:当缓慢提升镜筒时,贝克线移向折射率较高的矿物一边;下降镜筒时,贝克线朝向折射率较低的矿物一边移动,根据贝克线的移动规律,可以比较相邻两种矿物的折射率大小。

(2)同时使用上、下两个偏光镜,并使两者振动方向互相垂直,构成近似平行传播的正交偏光系统。

A、消光现象:在上、下偏光镜之间放置非均质体薄片时,对于垂直于光轴的切片,由于光率体的切面为圆切面。

无机非金属材料-研究方法-期末考试重点总结

无机非金属材料-研究方法-期末考试重点总结

X射线:波长很短的电磁波特征X射线:是具有特定波长的X射线,也称单色X射线.连续X射线:是具有连续变化波长的X射线,也称多色X射线。

荧光X射线:当入射的X射线光量子的能量足够大时,可以将原子内层电子击出,被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程,同时辐射出波长严格一定的特征X射线二次特征辐射:利用X射线激发作用而产生的新的特征谱线Ka辐射:电子由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线相干辐射:X射线通过物质时在入射电场的作用下,物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动,同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线,称之为经典散射。

由于散射波与入射波的频率或波长相同,位相差恒定,在同一方向上各散射波符合相干条件,称为相干散射非相干辐射:散射位相与入射波位相之间不存在固定关系,故这种散射是不相干的俄歇电子:原子中一个K层电子被激发出以后,L层的一个电子跃迁入K层填补空白,剩下的能量不是以辐射原子散射因子:为评价原子散射本领引入系数f (f≤E),称系数f为原子散射因子。

他是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子中所有电子散射波合成的结果结构因子:定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数,即晶体结构对衍射强度的影响多重性因素:同一晶面族{hkl}中的等同晶面数系统消光:原子在晶体中位置不同或种类不同引起某些方向上衍射线消失的现象吸收限1 x射线的定义性质连续X射线和特征X射线的产生X射线是一种波长很短的电磁波X射线能使气体电离,使照相底片感光,能穿过不透明的物体,还能使荧光物质发出荧光。

呈直线传播,在电场和磁场中不发生偏转;当穿过物体时仅部分被散射.对动物有机体能产生巨大的生理上的影响,能杀伤生物细胞。

连续X射线根据经典物理学的理论,一个带负电荷的电子作加速运动时,电子周围的电磁场将发生急剧变化,此时必然要产生一个电磁波,或至少一个电磁脉冲。

由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱.特征X射线处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向,此时外层电子将填充内层空位,相应伴随着原子能量的降低。

无机非金属材料测试方法

无机非金属材料测试方法

① X 射线的散射可分为想干散射和不相干散射。

射线的散射可分为想干散射和不相干散射。

② 滤波片的作用:除去和减弱K β谱线和连续光谱谱线和连续光谱 ③ X 射线衍射方法:劳厄法,转动晶体法,粉晶法,衍射仪法。

射线衍射方法:劳厄法,转动晶体法,粉晶法,衍射仪法。

④ 衍射线束的强度主要与晶体结构、晶体的完整性以及参与衍射的晶体的体积等有关衍射线束的强度主要与晶体结构、晶体的完整性以及参与衍射的晶体的体积等有关⑤ CsCl 结构是简单立方点阵,MgO 结构是面心立方点阵结构是面心立方点阵简单点阵简单点阵 无体心点阵体心点阵 h+k+l=2n+1(奇数) C 面带心点阵面带心点阵 h+k=2n+1 B 面带心点阵面带心点阵 h+l=2n+1 A 面带心点阵面带心点阵 k+l=2n+1 面心点阵面心点阵 h ,k ,l 奇偶混杂奇偶混杂三方点阵三方点阵 -h+k+l=3n ⑥ 粉末法中三种底片安装法:正装法、反装法、不对称装片法粉末法中三种底片安装法:正装法、反装法、不对称装片法⑦ 粉末衍射法是多晶体最常用的研究方法粉末衍射法是多晶体最常用的研究方法⑧ 连续扫描:是探测仪以一定的角速度在选定的范围内进行连续扫描,并将探测仪的输出通过计数仪输入到纸带计数仪,把各个角度下的衍射强度记录在纸带上,画出衍射图谱。

优点是快速而方便,但由于机械设备及计数率仪等的滞后效应和平滑效应,是记录纸上扫描出得衍射信息总是落后于探测器接收到的,造成衍射线峰位想扫描方向移动、分辨力降低、线性畸变等缺点。

当扫描速度快时,这些缺点尤为显著。

些缺点尤为显著。

⑨ 步进扫描:使探测器以一定的角度间隔逐步移动,对衍射峰强度进行逐点测量。

步进扫描无滞后及平滑效应,因此衍射线峰位正确、分辨力好。

而且由于每步停留时间是任选的,顾可选的足够长,使总计数的值也足够大,以使计数的均方偏差足够小,减少统计涨落对强度的影响使总计数的值也足够大,以使计数的均方偏差足够小,减少统计涨落对强度的影响⑩ 物相定性分析基本原理:进行定性相分析时,必须先将试样用粉晶法或衍射仪法测定个衍射线条的衍射角,将它换算为晶面间距d ,再用显微黑度计、计数管或肉眼估计等办法,测出各条衍射线的相对强度,然后与各种结晶物质的标准衍射花样惊醒比较鉴别相对强度,然后与各种结晶物质的标准衍射花样惊醒比较鉴别11 PDF 卡片使用的基本原理:每张卡片上记录着一种结晶物质的粉末衍射数据,查阅卡片,就可知道这一物质的粉末衍射数据和其它很多信息。

考点14无机非金属材料(原卷版)

考点14无机非金属材料(原卷版)

测试14 无机非金属材料一、选择题1.文物是传承文化的重要载体,下列主要成分不是硅酸盐的文物是( )2.下列物品或设备主要成分中含有单质硅的是( )A.光导纤维B.水晶项链C.门窗玻璃D.太阳能电池3.我国古代在材料方面取得了突出的成就。

下列材料主要成分不是硅酸盐的是()A.陶俑B.琉璃瓦C.汉白玉D.青花瓷4.下列物质中按其成分能与玻璃、水泥、陶瓷归于一类的是()A.硅石B.碳化硅C.硅酸钠D.二氧化硅5.制取下列物质,无须用到二氧化硅的是()A.玻璃B.水泥C.粗硅D.光导纤维6.《天工开物》记载:“凡埏泥造瓦,掘地二尺余,择取无砂粘土而为之”,“凡坯既成,干燥之后,则堆积窖中燃薪举火”,“浇水转釉(主要为青色),与造砖同法”。

下列说法错误的是A.粘土是制作砖瓦和陶瓷的主要原料B.“燃薪举火”使粘土发生复杂的物理化学变化C.沙子和粘土的主要成分均为硅酸盐D.烧制后自然冷却成红瓦,浇水冷却成青瓦7.工业制粗硅的反应为SiO2+2C Si+2CO↑。

下列说法中正确的是( )A.硅在自然界中主要以单质形式存在B.Si是光导纤维的主要成分C.SiO2是半导体材料D.每生成1molSi理论上转移的电子数目约为4×6.02×10238.下列关于无机非金属材料的说法中,不正确的是( )A.高纯硅可用于制造半导体材料B.水泥、玻璃、陶瓷属于传统无机非金属材料C.氮化硅陶瓷属于新型无机非金属材料,可用于制造陶瓷发动机的受热面D.纳米材料直径1~100nm之间,能产生丁达尔现象9.下列所涉及的材料不属于无机非金属材料的是( )A.北京冬奥会滑雪大跳台“雪飞天”使用了大量首钢自主研发新型钢材B.中国第一艘深海载人潜水器“蛟龙号”使用的氨化硅陶瓷发动机C.我国具有独立知识产权的“龙芯”使用的晶体硅芯片D.“嫦娥五号”成功着陆月球时使用碳化硅作钻杆材料10.中国是瓷器的故乡,下列关于陶瓷的说法正确的是( )A.高品质的白瓷晶莹剔透,属于纯净物B.瓷器中含有大量的金属元素,因此陶瓷属于金属材料C.氮化硅陶瓷属于传统无机非金属材料D.“窑变”是高温下釉料中的金属化合物发生氧化还原反应导致颜色的变化11.下列关于硅材料的说法不正确的是()A.钢化玻璃与普通玻璃的主要成分基本相同B.制普通玻璃的原料是石灰石、纯碱和石英砂C.陶瓷是人类应用很早的硅酸盐材料D.水玻璃是纯净物,可用于生产黏合剂和防火剂12.我国具有独立知识产权的电脑芯片“龙芯一号”的问世,填补了我国计算机制造史上的一项空白。

无机非金属材料工学知识点总结

无机非金属材料工学知识点总结

1. 为什么北方常采用烧氧化焰而南方烧还原焰?答:我国北方制瓷原料大多采用二次高岭土与耐火粘土,含铁较少而含氧化钛、有机物较多,坯体粘性和吸附性较强,适宜用氧化气氛烧成。

南方制瓷原料大多采用原生高岭土和瓷石,含铁量较多而含氧化钛、有机物较少,粘性和吸附性较小,适宜用还原气氛烧成。

2. 与金属材料相比,无机非金属材料在性能上有那些特点?原因是什么?答:无机非金属材料的化学组分主要由元素的氧化物、碳化物、氮化物、卤素化合物、硼化物、以及硅酸盐、铝酸盐、磷酸盐、硼酸盐和非氧化物等物质,其化学键主要为离子键或离子一共价混合键。

因此,无机非金属材料的基本属性主要体现为高熔点、高硬度、耐腐蚀、耐磨损、高抗压良好的抗氧化性、隔热性,优良的介电、压电、光学、电磁性能及其功能转换特性等。

但大多数无机非金属材料具有抗拉强度低、韧性差等缺点。

3. 玻璃浮法成型的原理?答:玻璃液从池窑连续流入并浮在有还原气氛保护的锡液上,由于各物相界面张力和重力的综合作用,摊成厚度均匀,上下两平面平行,平整和火抛光的玻璃带,经冷却硬化后脱离锡液,再经退火、切割而得到浮法玻璃。

4. 采用陶瓷注浆成型时坯料应满足哪些要求?为什么?答:1)流动性好。

保证泥浆浇注成形时要能充满模型的各个部位。

2)悬浮性好。

浆料中各种固体颗粒能在较长的一段时间悬浮而不沉淀的性质称为泥浆的悬浮性。

它是保证坯体组分均匀和泥浆正常输送、贮放的重要性能之一。

3)触变性适当。

受到振动和搅拌时,泥浆粘度会降低而流动性增加,静置后又恢复原状,此外,泥浆放置一段时间后,在维持原有水分的情况下也会变稠,这种性质称为触变性。

泥浆触变性过大,容易堵塞泥浆管道,且坯体脱模后易塌落变形;触变性过小,生坯强度较低,影响脱模和修坯。

4)滤过性好。

滤过性也称渗模性,是指泥浆能够在石膏模中滤水成坯的性能。

滤过性好,则成坯速率较快。

当细颗粒过多时,易堵塞石膏模表面的微孔脱水通道,不利于成坯。

熟料和瘠性原料较多时有利于泥浆的脱水成坯。

无机非金属材料测试方法复习资料

无机非金属材料测试方法复习资料

一、 名词解释 拉曼位移:拉曼散射光与入射光频率之差.. 相对强度:同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值..必考 积分强度:扣除背影强度后衍射峰下的累积强度..必考 系统消光:把由于F HKL =0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光..重点 X 射线衍射方向:是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向..重点 明暗场像:用物镜光栏挡去衍射束;让透射束成像;有衍射的为暗像;无衍射的为明像;这样形成的为明场像;用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束;让一束强衍射束成像;则无衍射的为暗像;有衍射的为明像;这样形成的为暗场像..重点 透射电镜的点线分辨率:点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离;线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离..重点 拉曼效应:散射光中散射强度中约有1%的光频率与入射光束的频率不同..除在入射光频率处有一强的瑞利散射线外;在它的较高和较低频率处还有比它弱得多的谱线.. 二次电子:二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子.. 背散射电子:背散射电子是指入射电子与试样的相互作用经多次散射后;重新逸出试样表面的电子.. 差热分析:是指在程序控制温度下;测量物质和参比物的温度差与温度关系的一种方法.. 差示扫描量热法:是把试样和参比物的温度差保持为零时;所需要的能量对时间关系的一种技术.. 光电效应:当具有一定能量hv 的入射光子与样品的原子互相作用时;单个光子把全部能量交换给原子某壳层上一个受束缚的电子;这个电子就获得能量..如果该能量大于该电子的结合能Eb;该电子就将脱离原来受束缚的能级;若还有多余的能量可以使电子克服功函数W;则电子就成为自由电子、并获得一定的动能Ek 并且hv=Eb+Ek+W..该过程为光电效应.. 化学位移:由于原子所处的化学环境不同而引起的原子内壳层电子结合能的变化;在谱图上表现为谱线的位移;这种现象成为化学位移.. Moseley 定律:对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系.. 二、简答题 1.X 射线谱有哪两种类型其含义是什么 重点 两种类型:连续X 射线谱和特征X 射线谱 连续X 射线谱: 指X 射线管中发出的一部分包含各种波长的光的光谱..从管中释放的电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同;绝大多数电子要经历多次碰撞;产生能量各不相同的辐射;因此出现连续X 射线谱 特征X 射线谱:也称标识X 射线谱;它是由若干特定波长而强度很大的谱线构成的;这种谱线只有当管电压超过一定数值Vk 激发电压时才能产生;而这种谱线的波长与X 射线管的管电压、管电流等工作条件无关;只取决于阳极材料;不同金属制成的阳极将发出不同波长的谱线;并称为特征X 射线谱 3.何谓K α射线何谓K β射线这两种射线中哪种射线强度大哪种射线波长短X 射线衍射用的是哪种射线为什么K α射线中包含K α1和K α2重点 K α是L 壳层中的电子跳入K 层空位时发出的X 射线;K β射线是M 壳层中的电子跳入K 层空位时发出的X 射线;K α比K β强度大;因为L 层电子跳入K 层空位的几率比M 层电子跳入K 层空位的几率大;K β波长短;X 射线衍射用的是K α射线;K α射线是由K α1和K α2组成;它们分别是电子从L3和L2子能级跳入K 层空位时产生的.. 4.晶体对X 射线的散射有哪两类四种基本类型的空间点阵是什么重点 晶体对X 射线的散射有相干散射和不相干散射..简单立方、体心立方、面心立方、底心立方.. 5.结构因子的概念和影响因素..重点 结构因子的绝对值为一个晶胞的想干散射振幅与一个电子的想干散射振幅的比值..结构因子只与原子的种类和在晶胞中的位置有关;而不受晶胞形状和大小的影响.. 6.晶体使X 射线产生衍射的充分条件是什么何谓系统消光重点 充分条件是同时满足布拉格方程和F HKL ≠0.系统消光:把由于F HKL =0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光..7.粉晶X 射线衍射卡片JCPDS 或PDF 卡片检索手册的基本类型有哪几种 字母索引 按物质英文名称的字母顺序 哈那瓦尔特索引 8条强线按d 值相对强度递减顺序排列 芬克索引8条最强线以按d 值递减顺序排列8.对一张混合物相的X 射线衍射图进行定性分析时;应注意哪几个问题优先考虑哪些衍射线为什么衍射仪用粉末试样的粒度是多少重点 1d 值比相对强度更为重要;核对时d 值必须相当符合;一般只能在小数点后第二位有分歧;2重视小角度区域的衍射线;即低角度的d 值比高角度的d 值更重要;3强线比弱线重要;4特征线即不与其它线重叠的线重要;5结合其它信息;如成份、热处理过程等等;6借助其它分析测试方法共同表征..优先考虑小角度区域的衍射线;强线及特征线..粉末粒度是10~40μm. 9.电子束与物质相互作用可以获得哪些信息 a;透射电子b;二次电子c;背散射电子d;特征X 射线e;阴极荧光 f;俄歇电子 g;吸收电子 10.扫描电镜的放大倍数重点 扫描电镜的放大倍数:电子束在荧光屏上扫描振幅与入射电子束在样品表面的扫描振幅之比 11.简述电子透镜缺陷的种类及产生的原因. 重点 a;球差——由于电磁透镜近轴区和远轴区对电子束汇聚能力不同引起..b;色差——由于成像电子波长不同引起..c;轴上像散——由于透镜磁场不是理想旋转对称磁场引起.. d;畸变 12.透射电子显微镜的电子显微图像包括哪几种类型重点 相位衬度、质厚衬度、衍射衬度 13.散射衬度与什么因素有关这种图像主要用来观察什么 散射衬度也称为质厚衬度;它是指穿过样品且散射角度小的那些电子即弹性散射所形成的衬度; 散射衬度与样品的密度、原子序数、厚度等因素有关.. 这种图像主要用来观察非晶试样和复形膜样品所成图像.. 14.衍衬象的衬度是怎么产生的利用这种图像可观察干什么 衍射衬度是由晶体薄膜内各部分满 足衍射条件的程度不同而形成的衬度..根据衍射衬度原理形成的电子图像称为衍射衬度像.. 利用这种图像可观察晶体缺陷;如位错、层错等.. 15.何谓明场象何谓暗场象中心暗场像与偏心暗场像哪个分辨率高重点 明场象是指用物镜光栏挡去衍射束;让透射束成像;有衍射的为暗象;无衍射的为明象.. 暗场像指用物镜光栏挡去透射束及其余衍射束;让一束强衍射束成像;则无衍射的为暗像;有衍射的为明像..因为偏心暗场像衍射束偏离光轴;暗场像朝一个方向拉长;分辨率低;中心暗场像无畸变;分辨率高.. 16.何谓二次电子扫描电镜中二次电子像的衬度与什么因素有关为什么最适宜观察什么重点 二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子;二次电子的衬度与两个因素有关: 1入射电子的能量;入射电子能量在2-3KW 时;二次电子发射系数达到最大;衬度明显 2入射电子束在试样表面的倾斜角度;因为δθ=δ0/cos θ;当倾斜角度增加时;二次电子发射系数增大;衬度也明显..二次电子像也最适宜观察试样的表面形貌.. 17.何谓背散射电子扫描电镜中背散射电子衬度与什么因素有关为什么最适宜观察什么重点 背散射电子是指入射电子与试样的相互作用经多次散射后;重新逸出试样表面的电子..背散射电子衬度与试样的形貌及成分有关;因为背散射电子的产额随试样原子序数的增大而增大;其来自试样表面几百纳米的深度范围..背散射电子衬度最适宜观察试样的平均原子序数兼形貌.. 18. X 射线显微分析方法有哪三种重点 分析方法:定点分析、线扫描分析、面扫描分析 19.差热分析DTA 的定义是什么重点 差热分析DTA 是指在程序控制温度下;测量物质和参比物的温度差与温度关系的一种方法.. 20.差示扫描量热分析DSC 的定义是什么重点 差示扫描量热分析是把试样和参比物的温度差保持为零时;所需要的能量对温度或时间关系的一种技术.. 21.在差热分析曲线上一个峰谷的温度主要用什么来表征哪个受实验条件影响小 主要用外推始点温度和峰值温度来表征..其中外推始点温度受实验条件影响小.. 22.如何确定外推始点温度重点 曲线开始偏离基线那点的切线与曲线最大斜率的切线的交点.. 23.影响差热曲线主要因素有哪些重点 内因:晶体结构、阳离子电负性、离子半径及电价、氢氧离子浓度.. 外因:加热速度、试样形状、称量及装填、气氛和压力、试样粒度.. 24.分子振动吸收红外辐射必须满足哪些条件 1振动频率与红外光谱段某频率相等;2振动分子有偶极矩变化.. 25.红外吸收光谱的产生;主要由于分子中什么能级的跃迁重点 是振动或转动能级.. 26.H 2O 和CO 2分子有几种振动形式 H 2O:对称伸缩振动、非对称伸缩振动、剪式弯曲振动 CO 2:对称伸缩振动、非对称伸缩振动、弯曲振动必考 27.X 射线光能谱是一种什么分析方法 利用X 射线光子激发原子的内层电子;产生光电子:不同元素的内层能级的电子结合能具有特定的值;通过测定这些特定的值可定性鉴定除H 和He 之外的全部元素;对峰的强度采用灵敏度因子法进行定量分析.. 28.何谓化学位移 由于原子所处化学环境不同而引起原子内壳层电子结合能的变化;在谱图上表现为谱线的位移;该现象称为化学位移.. 29.XPS 伴线有哪些重点 俄歇线、X 射线卫星线、多重劈裂线、振激振离线、能量损失线、鬼线30.红外与拉曼活性判断规律指出下列分子的振动方式哪些具有红外活性;哪些具有拉曼活性..为什么 1O 2 2H 2 3H 2O 的对称振动、非对阵振动和弯曲振动 4CO 2的对称振动、非对称振动和弯曲振动 活性判断规律:偶极矩变有红外活性;反之没有..极化率变有拉曼活性;反之没有..有对称中心的分子其分子振动对红外和拉曼之一有活性;则另一非话性..无对称中心的分子其分子振动对红外和拉曼都是有活性的.. 1O 2 和H 2分子的振动具有拉曼活性;因为其振动中并没有偶极矩的变化;有极化率的变化.. 2H 2O 的对称振动、非对阵振动和弯曲振动对红外和拉曼都具有活性;因为水分子为无对称中心的分子;其振动同时使偶极矩和极化率产生变化.. 3CO 2为中心对称分子;CO 2的对称振动不伴随偶极矩的变化;但有极化率的变化;所以这种振动无红外活性;有拉曼活性..对于非对称振动和弯曲振动有偶极矩的变化;所以这两种振动有红外活性;无拉曼活性..二、 综合题 1;尺寸小于5μm 的矿物的形貌观察分析——扫描电镜 扫描电镜的试样为块状或粉末颗粒;具有相当的分辨率;一般为3~6nm;最高可达2nm..2, 有机材料中化学键的分析鉴定——红外光谱分析 红外光谱法主要可以用作分子结构的基础研究和物质化学组成物相的分析..其中;红外光谱法作分子结构的研究可以测定分子的键长、键角大小;并判断分子的立体结构 3;多晶材料的物相分析——X 射线物相分析XRD 粉末照相法粉末法或粉晶法和衍射仪法可用来进行物相定性、定量分析;测定晶体结构;晶粒大小及应力状态;还可以用来精密测定晶格常熟等..4, 相变温度的测定——差热分析DTA 差热分析方法能教精确地测定和记录一些物质在加热过程中发生地失水、分解、相变、氧化还原、升华、熔融、晶格破坏、和重建;以及物质间的相互作用等一系列的物理化学现象;并借以判定物质的组成及反应机理..5, 矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定——电子探针X 射线显微分析/拉曼光谱 拉曼光谱可以用很低的频率进行测量;特别是可以测定水溶液样品;固体粉末样品不必要特殊制样处理.. 电子探针X 射线显微分析EPMA 特别适用于分析试样中微小区域的化学成分;是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法..6, 表面或界面元素化学状态分析——X 射线光电子能谱分析XPS 光电子能谱可以测定固液、气体样本;它测定的主要是物质表面的信息0.5~5nm;光电子能谱仪在元素的定性分析上有特殊优点;它可以测定除氢以外的全部元素;对物质的状态没有选择;样品需要量很少;可少至10-8g;而灵敏度可高达10-18g;相对精度有1%7, 晶界上增强相得成分——电子探针 电子探针X 射线显微分析EPMA 特别适用于分析试样中微小区域的化学成分;是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法..8, 晶界条纹或晶体缺陷的观察分析——透射电镜9, 材料的微结构分析——透射电镜 透射电镜TEM 是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜;是观察和分析材料的形貌、组织和结构的有效工具..透射电镜可以透过物质;根据电子强度分布与所观察试样区的形貌、组织和结构来对应来显示试样的形貌、组织和结构10, 材料的断口形貌观察——扫描电镜 扫描电镜场深大;三百倍于光学显微镜;适用于粗糙表面和断口的分析观察11, 材料的晶格条纹像的观察——透射电镜; 参考89说明 四、计算题 某立方晶系晶体的某一面网的二级衍射对应的d 200=0.1760nm;对应的衍射角为60°;求该晶体的一级衍射面网能产生几条衍射线以及该晶体的晶胞参数 解:对应的衍射角为60°;则θ=30° 对于二级衍射;2d 100sin θ=2λ d 100=2d 200 求得:λ=0.1760nm 对于一级衍射;2d 100sin θ=n λ 即n ≤2d 100/λ=4 即该晶体一级衍射网面能产生4条衍射线.. 对立方晶系;a=b=c;d 100=a/12+02+02 1/2;a=d 100=2d 200=0.3520nm。

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