原子力显微镜的应用
原子力显微镜用途
原子力显微镜用途
1、在力测量中，原子力显微镜可以用来测量探针和样品之间的力，作为它们相互分离的函数。
这可以应用于力谱分析，测量样品的机械特性。
2、对于成像来说，探针对样品施加在其上的力的反应可以用于以高分辨率形成样品表面的三维形状(形貌)的图像。
这是通过光栅扫描样品相对于顶端的位置并记录对应于恒定探针-样品相互作用的探针高度来实现的。
表面形貌通常显示为伪彩色图。
3、在操作中，顶端和样品之间的力也可以通过可控的方式来改变样品的性质。
这方面的例子包括原子操作、扫描探针光刻和细胞的局部刺激。
在采集形貌图像的同时，可以局部测量样品的其他特性，并显示为图像，通常具有类似的高分辨率。
这种性质的例子是机械性质，如硬度或粘合强度，以及电性质，如导电性或表面电势。
原子力显微镜在半导体中的应用场景
原子力显微镜在半导体中的应用场景
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）在半导体中有许多应用场景，包括以下几个方面：
1. 表面形貌检测：AFM可以实时地观察到半导体材料表面的微观形貌，通过扫描探针与样品表面的相互作用力变化，可以获得非常高分辨率的表面形貌图像。
这对于表面缺陷、晶体结构等方面的研究非常有用。
2. 表面物性检测：AFM可以实时地测量半导体材料的表面物理性质，如硬度、弹性等。
这对于材料的机械性能研究、薄膜质量评估等有很大的帮助。
3. 纳米加工和修饰：AFM可以通过在扫描探针上附加尖端，实现对半导体表面的纳米加工和修饰。
例如，可以利用AFM 在半导体表面上刻蚀出纳米线、纳米点等结构。
4. 材料电学性能研究：AFM可以结合电学探针，实现对半导体材料的电学性能研究。
通过测量样品表面的电流-电压曲线等参数，可以了解材料的导电性、功函数等重要电学信息。
5. 表面测量和纳米力学性能研究：AFM可以测量表面毛细管力，用于表面能、表面张力、润湿性等测量。
同时，也可以测量半导体材料的弹性模量、硬度等纳米力学性能。
总体而言，原子力显微镜在半导体中的应用场景非常广泛，可
以实现对材料的表面形貌、表面物性、纳米加工、电学性能和纳米力学性能等方面的研究和表征。
原子力显微镜技术的原理和应用
原子力显微镜技术的原理和应用原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种利用压电陶瓷探针与样品之间的相互作用进行高分辨率成像的技术。
相比于传统的光学显微镜，原子力显微镜可以在纳米级别对样品表面形貌、力学性能、电学性质等进行非接触、高分辨率的观测和测量。
原理原子力显微镜的探针是由纳米尺寸的硅或氮化硅材料制成的，具有极高的机械强度和较小的弹性变形。
在扫描过程中，探针会通过扫描头的控制，使探针与样品表面接触，并在靠近距离内感受到样品表面的反弹力。
探针与样品表面之间的相互作用主要有万有引力、范德华力、静电力和化学键作用力等。
在不同的距离范围内，这些相互作用力数量级的变化可能非常大。
通过控制扫描头与样品之间的距离并检测探针反弹的强度，就可以获得样品表面的高分辨率图像。
应用原子力显微镜技术广泛应用于纳米材料和生物学领域中。
以下是原子力显微镜在不同应用领域中的应用情况：材料科学原子力显微镜技术对于纳米级别的材料表面形貌、结构、力学性能和电学性质的研究非常有用。
许多纳米材料例如碳纳米管、石墨烯和纳米线等，都具有特殊的表面结构和力学性能，这些特性是通过原子力显微镜技术进行高分辨率观测和测量得到的。
生命科学原子力显微镜技术可以用于生命科学中对细胞和蛋白质结构的研究。
通过原子力显微镜技术，科学家们可以研究单个分子的形态和机制，并观察生物分子的反应、扩散和结构变化等。
这项技术已经被用于细胞壁的形态学研究、蛋白质折叠过程的研究以及DNA结构的研究等。
纳米电子学原子力显微镜技术还可以用于纳米电子学中，特别是在研究半导体器件和纳米电子学元器件时。
举例来说，它被用于研究纳米晶体管的性能和导电性质，并且成功地对其器件的构造进行了重建和监测。
环境科学原子力显微镜技术可以用于对环境污染物的检测和监测。
例如，它可以用于研究气凝胶的形貌、结构和性质，与污染控制相关的表面湿润性研究等。
总体来说，原子力显微镜是一种高分辨率成像和测量技术，其应用带来了许多已知和未知领域的新见解和突破。
原子力显微镜在生物学研究中的应用
原子力显微镜在生物学研究中的应用原子力显微镜(AFM)是一种高分辨率、无需标记、不需要真空环境就能进行观测的成像技术。
随着技术的不断改进，AFM在生物学研究中的应用越来越广泛。
本文将介绍AFM的基本原理、在生物学中的应用和未来发展方向。
一、基本原理AFM通过探针与样品的相互作用来获取样品表面的拓扑信息。
这个探针位于一个臂架上，通过悬挂式或压电式两种方式进行运动。
当探针接触到样品表面时，会在探针和样品之间产生作用力，探针的运动将受到这些作用力的影响，从而得到样品表面的拓扑信息。
二、在生物学中的应用1.生物大分子观测AFM可以成像蛋白质、DNA、RNA和其他生物大分子的结构。
与传统的电子显微镜(EM)相比，AFM不需要真空环境和样品前处理，也不会损伤样品。
同时，AFM可以在液相和气相中进行观测，这意味着大分子可以在生物环境中直接观察到。
2.生物膜成像AFM可以成像细胞膜、细胞壁和其他生物膜的结构。
因为AFM不需要涂覆金属或其他物质，也不需要切片或染色等处理，所以可以直接观测生物膜的结构和组成。
3.病毒学研究AFM可以成像和测量病毒颗粒的结构和力学性质。
这些信息对研究病毒在侵入宿主细胞中的机理、设计抗病毒药物和疫苗等方面具有重要意义。
三、未来发展方向1.多参数成像AFM可以测量样品表面的力学和电学特性，因此未来可以将AFM与其他成像技术结合，实现多参数成像。
这种技术将提高我们对生命体系的理解，并促进生物学、物理学和化学学科之间的交叉研究。
2.超分辨率成像AFM的分辨率受到样品表面结构和探针尺寸的限制。
但随着技术的改进，未来的AFM可以实现超分辨率成像，从而更精细地观察生物分子和生物膜的结构。
3.力学成像AFM可以测量样品表面的力学性质，如弹性模量、黏度和附着力等。
未来的AFM可以进一步开发力学成像技术，帮助我们深入了解生物体系的力学性质，如细胞和组织的拉伸、变形和压缩等。
综上所述，AFM是一种非常有前途的成像技术，在生物学、物理学和化学学科中都具有广泛的应用前景。
原子力显微镜在材料科学领域的表面分析应用
原子力显微镜在材料科学领域的表面分析应用原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种利用原子间相互作用进行表面成像和测量的仪器。
它具有高分辨率、高灵敏度和广泛的适用性，因此在材料科学领域的表面分析应用中扮演着重要角色。
本文将详细介绍原子力显微镜的原理和在材料科学中的四个主要应用方面。
首先，原子力显微镜在材料表面形貌观察和表征方面起到了重要作用。
传统的光学显微镜由于衍射的光线限制，无法提供高于光波长的空间分辨率，而原子力显微镜利用纳米级探针与样品表面的相互作用，可以实现纳米级甚至原子级的表面成像。
通过测量探针的位移，可以绘制出样品表面的形貌图像，并能够显示出表面上的微观结构和纳米级甚至原子级的凹凸特征。
其次，原子力显微镜在力学性能研究中的应用也非常重要。
材料的力学性能受到多种因素的影响，如表面的粗糙度、材料的硬度和弹性模量等。
原子力显微镜可以通过探针与样品表面的相互作用力来测量其硬度和弹性模量。
通过在不同位置测量硬度的变化，可以对材料的力学特性进行定量分析。
此外，原子力显微镜还可用于评估材料的磨损和疲劳行为，对材料的力学性能进行全面的研究。
第三，原子力显微镜在纳米尺度下的电学性能研究中也发挥着重要作用。
材料的电学性能对许多电子器件的性能和稳定性具有重要影响。
原子力显微镜可以通过探针的引入和控制，在纳米尺度下测量材料的电导率、电荷分布和电势分布等电学性能参数。
由于材料的电性质与其表面结构和化学组成之间密切相关，因此原子力显微镜在研究和优化纳米器件的电学性能方面具有独特优势。
最后，原子力显微镜在材料表面化学分析研究中的应用也不可忽视。
材料的化学成分与其性质和性能密切相关。
原子力显微镜通过在探针上引入化学敏感分子，可以实现对样品表面化学成分的高分辨率定量分析。
通过检测探针与样品表面的相互作用力的变化，可以获得表面化学成分的信息。
这对于研究材料的催化性能、吸附性能和化学反应动力学等方面非常有价值。
原子力显微镜在生物学中的应用
原子力显微镜在生物学中的应用随着科学技术的发展和生物学研究的深入，原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）逐渐成为生命科学领域中不可或缺的工具之一。
AFM是一种利用原子力及电子信号对物体表面形貌进行观察和研究的高分辨率显微技术。
目前，AFM已经成功地应用于生命科学中各个领域，如生物分子、细胞器、细胞表面、细胞膜和人工纳米结构等。
1. AFM在生物分子领域的应用生物分子是生命活动的基本单位，对于生物学研究具有至关重要的意义。
利用AFM技术，可以对生物分子进行高分辨率的成像，包括蛋白质、核酸、碳水化合物等。
例如，已经成功地使用AFM研究了蛋白质聚合物的二级和三级结构、生物大分子在溶液中的分子构象等。
此外，AFM还可以用于测定蛋白质分子的粘附强度和机械性质等，为进一步探究生物分子的结构和功能提供了有力的工具。
2. AFM在细胞器和细胞表面领域的应用细胞器是细胞内功能区域，其中包括内质网、高尔基体、溶酶体等。
AFM技术可以用于直接观察这些细胞器的结构，比如细胞核内的染色质形态、蛋白质分子的聚集形态等。
此外，AFM还可以在实验室环境中研究细胞外基质（如胶原蛋白等）与细胞表面的相互作用，以及细胞表面上的蛋白质分子、脂质体等的分子构象和生理功能。
这些观察为进一步理解细胞结构与功能提供了细胞水平的数据支持。
3. AFM在微生物领域的应用微生物是现代生物学研究的重要对象，包括细菌、真菌、病毒等。
AFM技术可以用于对微生物表面的直接成像，如病毒、霉菌和细菌等微生物的表面形貌。
通过AFM技术可以观察到微生物的细节结构，如病毒粒子、菌丝等的形态，进一步研究其生长特性和抗药性等。
与其他电子显微镜相比，AFM具有独特的样品扫描方式和高灵敏度，更适用于一些高密度和薄膜状样品的观测。
4. AFM在纳米材料领域的应用随着人类对纳米材料的研究越来越深入，AFM技术也逐渐被应用于纳米材料领域。
由于AFM具有高分辨率、非破坏性等优势，可以对纳米材料进行高精度的表征。
原子力显微镜的应用
原子力显微镜的应用原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，简称AFM）是一种用来观察固体表面的先进技术。
它可以对不同材料的形态、性质和结构进行高分辨率成像和力学探测。
AFM的工作原理是利用微小弹性探针对样品表面进行扫描，通过跟踪探针的运动获取局部表面形貌、力学性质等信息。
AFM是近年来材料科学、电子学、生物学等领域中应用最广泛的显微技术之一。
一、原子力显微镜的成像原理AFM可以实现非常高的空间分辨率，能够同时像普通显微镜和扫描电子显微镜（SEM）一样提供子纳米级别的图像分辨率和成像深度。
AFM从表现形式上可以分为离散或连续两种模式，离散模式是让探针接触到样品后再扫描，连续模式则是在扫描时始终保持探针与样品间的距离。
AFM的成像可以分为接触模式和非接触模式。
接触模式是探针接触到样品表面，以探头被物体挤压的形式感知样品表面形貌和机械性质。
非接触模式基本上可以看作探头不接触样品而仅从靠近表面处的力量来探测。
在实践中，大多数情况下使用非接触模式。
二、原子力显微镜在生物学领域中的应用AFM已经成为了生物分子和薄膜研究的杰出工具，也被广泛应用于分子识别和结构分析。
AFM成像可以直接观察生物大分子的结构，可用于研究蛋白质、DNA 等生物分子的结构及其性质。
AFM成像技术能清晰显示生物高分子的形态结构，不受飞行束流的限制，因此可以在生物学研究上更加轻松地获得高质量的图像。
此外，AFM还可以用于评估生物大分子的力学性质，包括生物大分子的弹性、硬度和黏滞性等。
常见的生物学应用包括：1. 评估生物大分子的拓扑形态：AFM成像可以清晰显示生物高分子的形态结构，包括蛋白质、DNA等。
这种成像可以用于研究生物大分子的结构及其性质，例如蛋白质的折叠状态、靶向与确定靶标分子、鉴定有机小分子与生物大分子的相互作用。
2. 测定细胞表面高度分布：AFM可以用于确定细胞表面的高度分布情况，从而能够实现对细胞表面进行3D成像。
原子力显微镜的应用研究
原子力显微镜的应用研究原子力显微镜是一种在纳米尺度下进行观察和测量的高级显微技术。
它通过扫描被观察物体表面发射出的微小电信号，形成了一个高分辨率的三维图像，可以观察到物质表面的原子排列结构和表面形貌。
因此，原子力显微镜被广泛应用于表面物理、生物医学、纳米电子学等领域的研究。
在表面物理学研究中，原子力显微镜被用于研究物体表面的微观结构和性质。
例如，在材料科学领域，原子力显微镜常被用于研究金属材料、陶瓷材料、半导体材料等表面的形貌、晶体结构和电子结构等方面。
通过原子力显微镜的测量和分析，可以获得诸如晶体的晶体结构参数、表面结构的拓扑特征和缺陷、表面光电性质等有用的信息，这些信息对于材料和纳米器件的制备和诊断有着重大的意义。
在生物医学研究上，原子力显微镜的应用主要是为了研究生物分子的结构和功能。
例如，在生物学中，原子力显微镜常被应用于观察蛋白质和DNA分子的结构、构象和运动特性等方面的研究。
通过原子力显微镜的成像和测量技术，可以观察到生物分子表面的形态、分子间力的相互作用、生物分子的功能机制等重要的信息，这对于疾病的诊断、药物的研发等方面的应用也具有很大的帮助。
在纳米电子学研究中，原子力显微镜被广泛应用于表面态密度和电子输运研究等方面。
利用原子力显微镜测量得到的表面电子态密度、表面化学反应动力学参数等信息，可以直接导出表面状态密度和载流子传输性能等重要指标，为微纳电子领域提供有益的信息。
原子力显微镜在这些领域的应用，为很多新型器件的研发提供了可靠的实验数据基础。
总的来说，原子力显微镜的应用非常广泛，不仅可以用于表面结构和性质的研究，也可以为生物医学、纳米电子学等领域的发展提供重要的技术支持。
在未来的科学研究中，原子力显微镜也将发挥更大的作用，为人类的科技进步做出更加重要和有实效的贡献。
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1.引言随着人类科研的不断发展, 纳米尺度上物质的结构、相互作用以及一些特殊的现象等越来越受到关注, 所以各种研究方法和仪器手段也应运而生。
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）利用其微悬臂上尖细探针与样品的原子之间的作用力，从而达到检测的目的。
其具有原子级的分辨率[1]。
由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不能观察非导体的不足。
图1 原子力显微镜原子力显微镜的原理及其在材料科学上的应用摘要本文介绍了原子力显微镜的发展过程、探测原理等方面，从原子力显微镜对于材料表面形貌分析，粉体材料分析，纳米材料分析等方面，综述了原子力显微镜技术在材料科学学方面的应用，并展望原子力显微镜在未来的发展关键词原子力显微镜工作模式特点表面形貌AbstractThis article provide information of AFM(Atomic Force Microscope),about the development,the principle, from AFM on analyzing surface of material ,dusty material and nanometer size material. And look into the future of AFMKey wordAFM working model characteristic surface2.仪器工作原理AFM通常由氮化硼作为一个灵敏的弹性微悬臂，在其尖端有一个用来在样品表面上扫描的很尖细的探针。
假设有两个原子，一个是在微悬臂的探针尖端，另一个是在样品的表面，它们之间的作用力会随着距离的变化而变化。
当原子和原子很接近时，彼此的电子云排斥力作用会大于原子核与电子云之间的吸引作用，其合力表现为排斥作用。
反之，若两原子分开到一定距离时，其电子云的排斥作用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用，故其合力表现为吸引作用。
原子力显微镜就是利用微小探针与待测原子之间的这种交互作用力的微妙变化，来显现表面原子的形貌。
[2]在原子力显微镜中，根据利用原子间的排斥力或吸引力方式的不同，发展出了两种工作模式：（1）利用原子之间的排斥力的变化而产生样品表面轮廓，从而发展了接触式原子力显微镜（Contact AFM），其探针与样品表面的距离约为零点几个纳米。
（2）利用原子之间的吸引力的变化而产生样品表面轮廓，从而发展了非接触式原子力显微镜（Non-Contact AFM）其探针与样品表面的距离约为几到几十纳米。
图2 原子与原子之间的交互作用在原子力显微镜系统中，使用一个灵活的微悬臂来感应针尖与样品之间的交互作用力，该作用力随样品表面形态而变化，它会使微悬臂随之摆动。
将一束激光照射在微悬臂的末端，当微悬臂摆动时，会使反射激光的位置改变而造成偏移量，用激光检测器记录此偏移量，同时将此信号传递给反馈系统，以利于系统做适当的调整，从而将样品表面特征以影像的方式显现出来[3]。
（如图 3）。
图3 原子力显微镜的探测原理示意图3.原子力显微镜的结构3.1力检测系统原子力显微镜使用微小悬臂来检测原子之间力的变化量。
微悬臂通常由一个100到500μm长和大约500nm到5μm厚的硅片或氮化硅片制成。
微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。
图4 原子力显微镜微悬臂3.2位置检测系统当原子力显微镜的微悬臂与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂摆动。
当激光照射在微悬臂的末端时，其反射光的位置也会随着悬臂摆动而有所改变，造成偏移量的产生。
在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电信号，控制器再将电信号转化为图像反映到显示屏上[4]。
3.3反馈系统当信号经由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信号，作为内部的调整信号同时对整个显微镜系统进行调整，进而驱使通常由压电陶瓷管制作的扫描器做适当的移动，以保持样品与针尖保持一定的作用力，并防止微悬臂过度撞击样品从而导致微悬臂和样品的损坏[5]。
3.原子力显微镜工作模式根据针尖与样品作用方式不同，原子力显微镜的操作模式主要可以划分为接触式、非接触式和间歇接触式等三种3.1接触式接触模式是AFM最直接的成像模式。
AFM在整个扫描成像过程之中，探针针尖始终与样品表面保持紧密的接触，而相互作用力是排斥力。
扫描时，悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样的表面结构，因此力的大小范围在10-10～10-6N。
此方法不适合于表面柔软的样品。
3.2 非接触式非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5～10 nm 的距离处振荡。
这时，样品与针尖之间的相互作用由范德华力控制，通常为10-12N ，从而不会破坏样品的表面，而且针尖也不会被污染，适合于研究柔嫩物体的表面。
这种操作模式的缺点是在室温大气环境下难以使用。
因为样品表面会积聚薄薄的一层水，它会在样品与针尖之间搭起一个小的毛细桥，从而把针尖和表面吸在一起，导致尖端对表面的压力的增加。
3.3 间歇接触式间歇接触式介于接触模式和非接触模式之间。
悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡，针尖仅仅是周期性地短暂地接触样品表面。
从而使针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了.探测表面柔软的样本时，间歇接触式是最好的方法[3]。
4.原子力显微镜特点(1) 待测样品无需导电(2) 可得到高分辨物体表面的三维形貌(3) 可以在多种环境(如真空、大气、溶液、低温等)下工作(4) 可以进行连续动态分析[6]5.原子力显微镜在材料科学上的应用5.1原子力显微镜对于材料表面形貌的探测通过原子力显微镜对于材料表面形貌成像时，微悬臂探针与样品之间的作用力变化可反映样品表面的三维形貌。
由于样品表面的高低起伏形貌能够准确地通过数值的形式得到。
原子力显微镜对材料表面整体图像进行分析就可以得到样品表面的粗糙度、颗粒度、平均梯度、孔结构和孔径分布等参数。
原子力显微镜也可对样品的形貌进行丰富的三维模拟显示，使图像更适合于人的肉眼直接观察。
图5为接触模式下得到的镀银薄膜表面的原子力图像[4]。
图 7 镀银薄表面三维成像5.2 原子力显微镜对于粉体材料的分析在粉体材料领域的研究中，通过原子力显微镜可以从分子或原子水平尺度直接观察到晶体或非晶体的形貌、缺陷、空位能、聚集能及各种力的相互作用。
粉体材料大量存应用于工业生产中，但目前对粉体材料的检测方法比较少，制样也比较困难。
而原子力显微镜作为一种新的检测手段，其制样简单，容易操作。
S.Sohila等人用化学法制备了SnS粉体，并将SnS粉体旋涂在硅基板上进行原子力显微镜成像，如图6所示．从图中可以看出，球形SnS纳米粒子分布均匀，单个粒子尺寸大约为15nm[7]。
图 6 SnS粉体材料在原子力显微镜下的成像5.3原子力显微镜对晶体生长方面的应用科研者们在晶体的生长理论在其发展过程的过程中提出了很多模型，但是这些模型大多来自于理论分析的间接研究，其和真实的晶体生长情况究竟是否相同，这是研究者们最为关心的，因此人们希望通过显微镜直接观察晶面的生长过程。
虽然研究者们利用光学显微镜、相衬干涉显微镜、激光全息干涉术等对晶体晶面的生长观测也取得了一些成果，但是由于这些显微技术分辨率太低，放大倍数不足，或者实验条件要求过高，所以出现了很多的限制因素，难以对生长界面进行纳米尺度级别的分子和原子进行直接的观测。
原子力显微镜的发展则为研究者们提供了一个纳米尺度观测，研究晶体生长界面过程的全新而有效的手段。
利用其高的分辨率和可以在溶液与大气环境下工作的特点，研究者们能够精确地实时观察生长界面的纳米尺度的分辨图像、了解界面生长过程和机理。
潘秀红(2007年)等人利用原子力显微镜研究了快速生长的BaB2O4单晶固液界面形状的演化和晶体(0001)显露上的台阶形貌．(如图7)，晶体的表面台阶的形貌与晶体生长的方向密切相关，沿着<1010>方向运动的台阶束构成台阶流形貌，而沿着<0110>方向运动的台阶束则表现为台阶片段的形貌[8]。
图 7 单晶(0001)表面的ＡＦＭ观察形貌6 原子力显微镜在未来发展的展望人类是必然不会止步于现阶段科技发展的成就的，随着科技的发展，随着人类对于微观世界进一步的探求，原子力显微镜技术必然会得到一个更好的发展。
作为材料科学方面一个重要的探测手段，现阶段的原子力显微镜尽管已经得到很大的发展，但仍旧有很多的缺点不能克服，比如成像范围太小，速度慢，受探头的影响太大。
所以可以预计到的是，将来的原子力显微镜的发展将向着这样的几个方向。
(1) 发展扫描速度快的原子力显微镜，从而捕捉的分子之间反应的瞬间; (2) 发展能够识别分子种类的原子力显微镜从而能够区分复杂体系中形貌类似的高分子分子; (3) 发展扫描范围大的原子力显微镜，从而能够对于一些较大的高分子聚合物进行成像研究。
7.参考文献[1]马荣骏. 原子力显微镜及其应用[J].矿治工程.2005.08:62-65.[2]王斌陈集饶小桐.现代分析测试方法[M].石油工业出版社.2008.9：327.[3]周玉武高辉.材料分析测试技术[M].哈尔滨工业大学出版社.2007.6:256-258[4]刘有台．原子力显微镜原理及应用技术[J].生物在线.2007．[5]喻敏. 原子力显微镜的原理及应用[J]. 北京大学生物医学工程.2005.[6]Mathias Gaken,Studies of Metallic Surfaces and Microstructures with AtomicForce.Microscopy[J]．Veeco Instruments Inc,2004．[7]S.Sohila, M.Rajalakshmi, Chanchal Ghosh. Optical and Raman scattering studies on SnSnanoparticles[J].Journal of Aloys and Compounds,2011,509:5843-5847[8]潘秀红，金蔚青，刘岩，等．BaB2O4单晶快速生长时的界面形态与表面台阶形貌[J]．中国科学，2007,37(3):403-408。