原子力显微镜简介-国家纳米科学中心-杨延莲

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原子力显微镜技术在纳米机械研究中的应用

原子力显微镜技术在纳米机械研究中的应用

原子力显微镜技术在纳米机械研究中的应用随着科技的进步和发展,人们的生活水平与质量得到了很大的提升。

在工业和科技领域,纳米技术已经成为最受关注的前沿领域之一。

纳米机械研究也是这一领域中的热点之一。

而原子力显微镜技术,作为一种非常强大的工具,成为了纳米机械研究中的重要手段。

本文将阐述原子力显微镜技术在纳米机械研究中的应用。

一、原子力显微镜技术简介原子力显微镜技术是一种高分辨率的成像技术。

它利用探针和样品之间的相互作用,测量样品表面的拓扑结构和力学性质,并可直观地呈现出来。

该技术的最大优势是可以在常温下直接高分辨率地成像。

同时,它还可以进行局部的磁场、电场和化学反应的研究。

因此,原子力显微镜技术在纳米科学、材料科学等领域内得到广泛应用。

二、原子力显微镜技术在纳米机械研究中的应用1、纳米机械的制备纳米机械是指尺寸在0.1-1000纳米之间的机械结构。

研究纳米机械可以为纳米器件制备和应用提供基础。

而原子力显微镜技术可以提供对样品表面进行高分辨率成像的能力,为纳米机械的制备提供工具。

例如,可以通过这种方法将纳米金刚石点刻在金属基底上,制备出纳米机械结构。

同时,研究纳米机械的表面特性和其对力的响应,需要对其进行原子级别下的观察和分析,这也依赖于原子力显微镜技术提供的高分辨率成像和力学性质测量能力。

2、纳米机械的性能测试研究纳米机械的性能表现需要进行各种性能测试,如摩擦力、力变形量、分子结构等。

而原子力显微镜技术可以为这些测试提供高精度的观察和检测工具。

例如,在研究纳米机械的摩擦力时,利用原子力显微镜技术可以在样品表面和探针之间进行精确的测量和观察,测量样品表面的摩擦系数和摩擦力随位置和时间的变化。

这对于研究纳米机械的运动机理、寿命、耐久性、耗损等性能参数非常重要。

3、纳米机械的应用测试在工业应用和材料科学领域,研究纳米机械的应用测试同样需要利用原子力显微镜技术。

例如,在研究纳米机械用于材料耐磨性测试时,利用原子力显微镜可以实现材料表面的高精度成像和量化表征。

原子力显微镜原理介绍

原子力显微镜原理介绍

原子力显微镜原理介绍原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种利用原子力相互作用的显微镜,可以在原子尺度上对样品表面进行高分辨率的成像。

AFM具有高分辨率、高灵敏度、无需对样品进行特殊处理等优点,被广泛应用于材料科学、生物科学等领域。

AFM的原理基于力电荷耦合作用。

当扫描探针和样品表面之间存在距离时,由于它们之间的静电力、范德华力及表面张力等作用,会使探针弯曲。

AFM通过在探针上施加压电力来对探针进行调节,使与样品表面的相互作用力保持恒定,从而测量得到探针的形变信息。

通过对形变信息的处理,可以得到样品表面的三维拓扑图像。

AFM的核心组成部分是扫描探头和力传感器。

扫描探头通常由一个尖端和一段弯曲的弹簧杆组成。

尖端的大小一般在纳米尺度,可以用于成像不同大小和形状的样品。

弹簧杆的弯曲情况则是通过力传感器来测量的。

在AFM操作过程中,首先将样品固定在一个大型可移动的扫描平台上。

然后,将扫描探头靠近样品表面,使其与样品之间的距离保持在1-10纳米的量级范围内。

通过扫描平台的控制,可以使探针在样品表面上进行扫描。

当探针在样品表面上移动时,它所受到的相互作用力会随着扫描位置的改变而改变。

根据探针的形变,可以准确测量样品表面的高程和形貌信息。

AFM可以通过不同的模式进行操作,常见的模式包括接触模式、非接触模式和振动模式等。

接触模式是最常用的模式,通过将探针与样品表面保持接触,测量形变信息。

非接触模式则是通过探针与样品表面之间的范德华力进行作用,避免了对样品的破坏。

振动模式则是通过控制探针的共振频率来得到形变信息。

AFM不仅可以提供样品表面形貌信息,还可以测量样品的力学性质。

通过改变探针与样品表面之间的相互作用力的大小和方向,可以测量样品的硬度、弹性模量等力学参数。

总之,原子力显微镜是一种利用原子力相互作用实现高分辨率成像的显微镜。

通过测量探针的形变信息,可以获得样品表面的三维拓扑图像和力学性质。

原子力显微镜在纳米医学研究中的应用

原子力显微镜在纳米医学研究中的应用

原子力显微镜在纳米医学研究中的应用
奇云
【期刊名称】《科学与财富》
【年(卷),期】2011(000)001
【摘要】原子力显微镜(AFM)是扫描探针显微镜(SPM)家族主要成员之一.自问世以来,因其样品制备简单、可在多种环境中运作、高分辨率等技术优势,由最初的纳米水平单分子成像,逐渐展到表面功能的研究、分子间力的测量、可控性原子和分子操作等功能,在纳米医学研究中发挥着无可替代的重要作用.
【总页数】2页(P6-7)
【作者】奇云
【作者单位】安徽淮南联合大学,淮南市,232038
【正文语种】中文
【中图分类】R319
【相关文献】
1.原子力显微镜在生物医学研究中的应用 [J], 师晓丽;余军平;江雅新;方晓红
2.基于原子力显微镜的单分子探测技术及其在医学研究中的应用 [J], 陈建敏;杨拯;何彦芳
3.原子力显微镜(AFM)应用于纳米科学中的研究进展 [J], 于凉云;张奇;袁淑军
4.原子力显微镜在纳米材料研究中的应用 [J], 贺祯;侯艳超;周璇;殷海荣
5.双成像单元原子力显微镜及其在大范围纳米计量中的应用 [J], 林晓峰;章海军;张冬仙
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原子力显微镜基础知识解读

原子力显微镜基础知识解读

原子力显微镜基础知识解读原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种高分辨率的显微镜,可用于研究物质的表面形态、力学性质等。

AFM采用扫描探针从样品表面扫描,利用针尖与样品表面的相互作用力来获得样品表面的形貌信息。

AFM具有高分辨率、非接触测量、可以在常温常压下进行实验等优点,因此被广泛应用于物理、化学、材料等多个领域的研究。

AFM工作原理AFM探头在扫描样品表面的过程中,通过针尖与样品表面的相互作用力(包括原子间力、化学键力、范德华力、弹性力等)来感知样品表面形态信息。

AFM采用的采样频率一般在几十赫兹到几百赫兹之间,探测范围在纳米到微米之间,精度可达纳米级别。

AFM探测原理大体可以分为力-位移探测和干涉仪探测两种方式。

力-位移探测是利用弹性探针尖部与样品表面间的相互作用力来感知样品表面形态信息。

探针在扫描样品表面时,探针尖部的位置发生微小变化,这种变化可以通过晶体谐振试验测量得到。

干涉仪探测则是采用光学干涉原理,通过探针尖部的振动干涉信号来获得样品表面形态的信息。

AFM应用领域AFM在各个领域有着广泛的应用。

在表面形态方面,AFM可以获得样品表面形貌、粗糙度、角度等信息。

在生物领域,AFM 可以用于测量蛋白质、DNA、细胞等的力学性质,如弹性模量、形变硬度等。

在材料科学领域,AFM可以用于材料表面物理性质的研究,如表面润湿性、磁性、电学性质等。

在纳米科技领域,AFM可以用于制备纳米结构及其表面形态研究等。

使用AFM时需要注意的事项在使用AFM时需注意:1、准备好样品。

样品应具备光洁度、平整度等要求,要排除可能引起探针损坏或测量误差的因素。

2、确定扫描范围。

根据需要获得的样品表面信息,确定扫描范围及分辨率。

3、选择适量的力度。

根据样品类型及探针硬度等因素,选择适量的力度。

4、检测探针。

检测探针的质量及硬度等特性。

5、设置参数。

根据采样方式、探租类型及大小等,设置相应的参数。

纳米材料力学行为的研究与应用

纳米材料力学行为的研究与应用

纳米材料力学行为的研究与应用纳米材料力学行为的研究与应用是近年来材料领域的一个热门研究方向。

随着纳米科技的发展,纳米材料的力学性能越来越得到广泛重视。

本文将重点介绍纳米材料力学行为的研究方法和其在应用方面的一些进展。

一、纳米材料力学行为的研究方法1. 原子力显微镜(AFM)技术原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)技术是一种能够实时观察和测量纳米尺度下材料表面形貌和力学行为的重要手段。

AFM技术通过感应力探针对材料表面进行扫描,从而获取其表面形貌和纳米力学特性,如弹性模量、硬度等。

AFM技术广泛应用于纳米材料弹性性能、表面摩擦行为、纳米材料拉伸等方面的研究。

2. 分子动力学模拟分子动力学模拟是一种借助计算机模拟方法对原子尺度下材料力学行为的研究手段。

该方法基于牛顿力学原理,通过追踪替代材料中原子的位置、速度和受力情况来模拟和预测其宏观力学行为。

分子动力学模拟方法可以揭示纳米材料的变形、断裂行为以及力学性能与其微观结构之间的关系。

3. 纳米压痕技术纳米压痕技术是一种通过将纳米金刚石探头压入材料表面并测量其力学响应来评估纳米材料力学性能的方法。

通过纳米压痕实验可以获得纳米材料的硬度、弹性模量和塑性变形等力学参数。

纳米压痕技术在纳米材料力学行为的研究中具有重要的应用价值。

二、纳米材料力学行为的应用1. 纳米材料的增强效应纳米材料具有与传统材料相比更高的强度和硬度,这主要归因于尺寸效应和表面效应的增强作用。

纳米材料的力学性能的研究可以为设计和制备高强度、高韧性的材料提供指导。

例如,纳米粉末强化的复合材料在航空航天、汽车工业和结构工程领域具有广泛的应用前景。

2. 纳米材料的疲劳性能优化纳米材料由于其特殊的晶界结构和位错行为,具有较好的疲劳性能。

研究纳米材料的疲劳行为,可以揭示纳米材料在循环载荷下的微观变形机制,优化材料的疲劳寿命。

这对于提高纳米材料在航空航天、结构工程等高强度、高可靠性应用领域的应用具有重要意义。

原子力显微镜

原子力显微镜

原子力显微镜1 简介编辑本段生物型原子力显微镜它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。

微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测,当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时,检测该斥力可获得表面原子级分辨图像,一般情况下分辨率也在纳米级水平。

AFM测量对样品无特殊要求,可测量固体表面、吸附体系等。

2 原理编辑本段2.1 概括原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。

由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。

原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜(SPM)的观测方法。

原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子隧穿效应,而是检测原子之间的接触,原子键合,范德瓦耳斯力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性。

2.2 详细图1. 激光检测原子力显微镜探针工作示意图原子力显微镜的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。

利用光学检测法或隧道电流检测法,可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息。

下面,我们以激光检测原子力显微镜(Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection for Force Detection,Laser-AFM)——扫描探针显微镜家族中最常用的一种为例,来详细说明其工作原理。

原子力显微镜介绍

原子力显微镜介绍

几种检测方法比较
分辨率 优缺点
隧道电流法
Z向0.01nm
电容法
光学干涉法 光束偏转法
Z向0.01nm
z向0.001nm z向0.003nm
当微悬臂上产生隧道电流的部 位被污染时,其性能将下降, 因此该法适用于高真空检测 抗噪音水平低
灵敏度和信噪比都高,设备复 杂 原理和技术简单,精度也较高, 适用范围广
Typical system & constitution
Advantage
AFM优点
AFM能提供生物分子和生物表面的分子/亚分子 高分辨率的三维图像。 AFM 技术的样品制备简单,甚至无需处理,对样 品破坏性较其他常用技术要小得多。 AFM可以在大气、真空、低温和高温、不同气氛 以及溶液等各种环境下工作 AFM不受样品导电性质的限制,因此已获得比STM 更为广泛的应用。
Typical system & constitution
对微悬臂的要求
Typical system & constitution
对针尖性能的要求
1. 理想针尖的顶端应该是单个原子,这样的针尖 能够灵敏地感应出它与样品表面之间的相互作用 力。 2. 尽可能小的曲率半径。(50~100nm) 3. 高的机械柔软性,针尖扫描时,即使撞击到样 品的表面也不会使针尖损坏。 4. 高的弹性形变,可有效地限制针尖在样品表面 上的作用力,从而减小对样品的损害,对柔软 的生物样品特别有利。 5. 稳定的结构。
原子力显微镜(AFM)简介
袁英杰 2014.4.16
主要内容
1、背景 2、原理 3、典型系统及构造 4、优点 5、缺点 6、相关应用 7、发展
background
扫描隧道显微镜(STM)

原子力显微镜简介-国家纳米科学中心-杨延莲

原子力显微镜简介-国家纳米科学中心-杨延莲

原子力显微镜简介杨延莲国家纳米科学中心2007.3.301.原子力显微镜的发展历史2.原子力显微镜的基本原理3.原子力显微镜的要素4.原子力显微镜的操作模式5.原子力显微镜的针尖卷积效应与图像假像6.原子力显微镜的应用进展•三维扫描控制•控制电路•振荡隔离系统•微悬臂形变检测方法•微悬臂的设计思想及制作方法•基本成像模式•派生成像模式•谱学模式原子力显微镜的发展历史mmμmnm10-910-610-3m肉眼可见光学显微镜扫描电镜扫描探针显微镜扫描I扫描IZI 一次扫描扫描示意图扫描隧道显微镜(STM)的发明和原理1982年,IBM 苏黎世实验室的G. Binnig 博士和H. Rohrer 博士及其同事们发明了STM氙原子在镍(110)表面排成的最小IBM商标铜(111)表面上的铁原子量子围栏搬走原子写“中国”铂表面上一氧化碳分子排成的“纳米人”铁原子在铜(111)表面排成的汉字原子力显微镜(AFM)的发明由于STM是利用隧道电流进行表面形貌及表面电子结构性质的研究,所以只能直接对导体和半导体样品进行研究,不能用来直接观察和研究绝缘体样品和有较厚氧化层的样品。

1986年Binnig、Quate和Gerber发明了第一台原子力显微镜1987年Quate等人获得了高定向热解石墨(HOPG)的高分辨原子图像1987年,Quate等人获得了高定向热解氮化硼(HOPBN)表面的高分辨原子图像,其中HOPBN是第一个用AFM获得原子分辨图像的绝缘体。

原子力显微镜的派生功能摩擦力显微镜(FFM)磁力显微镜(MFM)导电AFM(CAFM)静电力显微镜(EFM )表面电势成像(SP imaging)扫描电化学显微镜(SECM)扫描电容显微镜(SCM)扫描热显微镜(SThM)这些新型的显微镜,都利用了反馈回路通过针尖和样品的某种作用(光、电、热、磁、力等)来控制针尖在距表面一定距离处扫描,从而获得表面的各种信息。

原子力显微镜的基本原理在原子力显微镜的系统中,是利用微小探针与待测物之间的相互作用力,来研究待测物表面的形貌和物理化学特性。

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原子力显微镜简介杨延莲国家纳米科学中心2007.3.301.原子力显微镜的发展历史2.原子力显微镜的基本原理3.原子力显微镜的要素4.原子力显微镜的操作模式5.原子力显微镜的针尖卷积效应与图像假像6.原子力显微镜的应用进展•三维扫描控制•控制电路•振荡隔离系统•微悬臂形变检测方法•微悬臂的设计思想及制作方法•基本成像模式•派生成像模式•谱学模式原子力显微镜的发展历史mmμmnm10-910-610-3m肉眼可见光学显微镜扫描电镜扫描探针显微镜扫描I扫描IZI 一次扫描扫描示意图扫描隧道显微镜(STM)的发明和原理1982年,IBM 苏黎世实验室的G. Binnig 博士和H. Rohrer 博士及其同事们发明了STM氙原子在镍(110)表面排成的最小IBM商标铜(111)表面上的铁原子量子围栏搬走原子写“中国”铂表面上一氧化碳分子排成的“纳米人”铁原子在铜(111)表面排成的汉字原子力显微镜(AFM)的发明由于STM是利用隧道电流进行表面形貌及表面电子结构性质的研究,所以只能直接对导体和半导体样品进行研究,不能用来直接观察和研究绝缘体样品和有较厚氧化层的样品。

1986年Binnig、Quate和Gerber发明了第一台原子力显微镜1987年Quate等人获得了高定向热解石墨(HOPG)的高分辨原子图像1987年,Quate等人获得了高定向热解氮化硼(HOPBN)表面的高分辨原子图像,其中HOPBN是第一个用AFM获得原子分辨图像的绝缘体。

原子力显微镜的派生功能摩擦力显微镜(FFM)磁力显微镜(MFM)导电AFM(CAFM)静电力显微镜(EFM )表面电势成像(SP imaging)扫描电化学显微镜(SECM)扫描电容显微镜(SCM)扫描热显微镜(SThM)这些新型的显微镜,都利用了反馈回路通过针尖和样品的某种作用(光、电、热、磁、力等)来控制针尖在距表面一定距离处扫描,从而获得表面的各种信息。

原子力显微镜的基本原理在原子力显微镜的系统中,是利用微小探针与待测物之间的相互作用力,来研究待测物表面的形貌和物理化学特性。

AFM 利用的基本原理有几种典型的相互作用力可以作为AFM 的检测信号:范德华力,静电力、磁力等间歇接触恒力扫描恒高扫描ZF扫描示意图恒力和恒高扫描成像XZ Y计算机和反馈控制显示器针尖与微悬臂激光检测器样品压电陶瓷扫描管原子力显微镜的工作原理针尖和样品之间的力F 与微悬臂的形变Δz F =k ·Δz原子力显微镜的要素所谓压电效应是指某些晶体材料在受到机械力作用发生形变时,会产生电场,或给晶体加一电场时,会产生物理形变的现象。

PZT 压电陶瓷能简单地将1mV~1000V 的电压信号转换成十几分之一纳米到数微米的机械位移,完全满足SPM三维扫描控制精度的要求三维扫描控制压电三脚架压电陶瓷管双层压电晶片驱动的三脚架结构微加工的压电驱动器,可进行纵向、横向、垂直弯曲及扭转运动控制电路接触模式非接触模式间歇接触模式振动隔离系统提高仪器的固有振动频率和使用振动阻尼系统振动源:建筑物振动(10-100Hz )通风管道、变压器和马达(6-65Hz )人走动(1-3Hz )声音等减震系统的设计:1-100Hz 之间的振动AFM 刚性的结构设计:尽可能高的共振频率fs 。

刚性越大,对外部减震系统的要求就越低,因为由刚体的固有结构阻尼产生的滞后损失可以有效地散逸外界振动。

振动隔离系统:固有频率越低,振动隔离效果越好。

•弹簧-阻尼系统•平板-弹性体堆垛系统•充气平台微悬臂形变检测方法针尖和样品之间的力F与微悬臂的形变Δz F=k·Δz,其中,k为微悬臂的力常数1. 隧道电流检测法2. 电容检测法3. 光学干涉法4. 光束偏转法自由排斥吸引分辨率信噪比隧道电流高,Z向0.01nm低针尖的污染,热振动、热漂移抗噪音水平低灵敏度和信噪比都高,设备复杂光束偏转法较高,z向0.003nm高原理和技术简单,精度也较高,适用范围广电容法高,Z向0.01nm低光学干涉法高,z向0.001nm高微悬臂的设计--分辨率和噪音水平•很小的力常数一般为0.01~100 N/m微悬臂变形量的检测灵敏度可以达到nm 量级,这样针尖与样品之间零点几个纳牛顿(nN )作用力的变化就可以被检测到•共振频率必须足够高,减小振动和声波的干扰(>10kHz)•微悬臂的长度要短,质量要小,以满足低力常数和高共振频率的要求•微悬臂要有较高的横向刚性•非固定端带有一个纵横比较高的尖锐针尖•光学偏转法检测微悬臂位移的仪器,要求微悬臂的背面有平滑的光学反射面SL EI f ρ42314.0=33LEI k =2257.957.9Mf LSf k ==ρ微悬臂的制作各种微悬臂SPM仪器的结构原子力显微镜的操作模式AFM的分类¾接触式原子力显微镜(contact AFM):利用原子斥力的变化而产生表面轮廓。

¾非接触式原子力显微镜(non-contact AFM):利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓。

¾间歇接触模式原子力显微镜(Intermittent-Contact AFM):是接触与非接触两种模式的混合。

原子力显微镜的常见的几种操作模式z接触式AFM可能获得原子分辨图像。

z由于表面摩擦和粘滞可能会有假象。

z可能会使表面变形,针尖容易磨损钝化。

非接触式AFM一般是频率调制或者是相位调制,分辨率更高。

操作复杂,环境噪声干扰大,一般在真空中能够实现。

间歇接触模式AFM,可对软样品成像,由剪切力引起的分辨率的降低和对样品的破坏几乎消失。

克服了室温大气环境下大多数样品表面上薄液层的粘滞(Tapping,Dynamic AFM,MAC mode,Non-contact mode)间歇接触式原子力显微镜自由振荡表面接触振幅,频率,相位,微悬臂的偏转如组分、粘滞力、摩擦力、粘弹性、电、磁等性质的信息相位成像短程的相互作用包括粘滞力和摩擦力长程的相互作用包括电场力和磁场力。

相位敏感J. P. Rabe, Adv. Mater. 1998, 10, 793.静电力显微镜成像探测样品的表面电荷,表面电势,界面电势分布、器件失效分析等Paul L. McEuen,PRL,2000,84,6082磁力显微镜成像hh 抬高扫描轨迹主扫描轨迹磁盘摩擦力显微镜样品平面内纳米尺度的各向异性特征也可以与纵向的磁力、静电力等表征结合互相补充原子力显微镜的动态横向力模式TRmode LM-FFM力曲线的测量1256Z Displacement24533TouchingAdhesionNontouching64D e f l e c t i o n接触形变问题力常数测定问题接触形变接触形变理论—(1)Hertz理论假设:1)短程表面(粘附)力存在,但只作用于接触面积处。

2)允许局域变形/neck 的形成。

)(2)JKRS模型(Johnson-Kendall-Roberts-Sperling model)(3)DMT模型(Derjaguin-Muller-Toporov model)假设:1)表面力存在,并可波及接触面积之外的有限区域2)属于Hertzian形变,在界面处不形成neck。

AFM微悬臂力常数(k)的测定Hooke 定律:F = k Δz334LEbt k =•E 为微悬臂的杨氏模量,b 为微悬臂的宽度,t 为微悬臂的厚度,L 为微悬臂的长度•三角微悬臂近似为两根平行的长方形梁12几何尺寸计算法*mM k +=ω共振频率测定法M 为微悬臂本身的固有质量,m*为固定于微悬臂顶端的胶粒的重量AFM微悬臂力常数(k)的测定2202212q m m p H ω+=q 为谐振子偏离平衡位置的位移,p 为谐振子的动量,m 为谐振子的等效质量,为谐振子的共振角频率4热噪声谱在温度为T 时,T k q mw B 2121220=一谐振子,弹性常数k 和共振频率满足k=m ω022qTk k B =20ωΔZ3偏移平衡位移每次针尖与样品接触时,成键分子数可能不同,因此测得的力并不一定相同。

D e fle ctio n /nm Co u n t-5510152253035400510152025高斯统计Adhesion Force力滴定曲线粘附力的高斯统计。

取最可几值。

化学键、配受体作用、DNA双螺旋的互补作用、细胞间的粘附力等。

键能、结合能测定分子识别生物体系中的相互作用蛋白质变性原子力显微镜的针尖卷积效应与图像假像W/2RH硬球几何模型针尖去卷积AFM横向分辨率:针尖形状,像素数AFM图像的假像针尖污染多针尖扫描管非线形针尖不能跟踪表面原子力显微镜的应用进展SiFranz J. Giessibl, PNAS 2003, 100, 12539Franz J. Giessibl, Science , 2000,289, 422HOPG FM-AFM 的原子和亚原子分辨KClYamada, APL 2005相位调制AFMIn AM-AFM, detection signalΔA.both conservative and dissipative interaction forces, topographic artifacts.The time response of A becomes slower with increasing Q factor.In FM-AFM, detection signalΔfthe time response of f is not influenced by the Q factor.capable of measuring the conservative and dissipative interaction forces independently.A stable self excitation requires a clean cantilever deflection signal and, hence, can be disrupted by the occasional tip crash or adhesion.In PM-AFM, detection signalΔfStable imaging even with the occasional tip crash or adhesion to the surface. time response is not influenced by the Q FactorCapability of imaging atomic-scale features of mica in water.Rev. Sci. Instru,2006,77,123703AFM of bacterial surface layersAFM image of the S-layer of Bacillus sphaericus CCM2177 imaged in contact mode under water. The center-to-center spacing of the morphological units is 13.1nm.单分子力谱Gaub,Science paperAu-Pd 合金上刻写的世界上最小的唐诗(10 µm ×10 µm )-----AFM机械刻蚀技术硅(111)面上的氧化硅纳米柱阵列⎯AFM 纳米氧化刻蚀技术石墨上的金纳米点阵列(2 µm×2 µm )----AFM场致蒸发技术Si 表面氧化加工。

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