射线衍射仪原理及应用技术
X射线衍射仪原理与应用
Rietveld解析 通过X射线衍射谱图 点阵参数，结构含量，原子位置 的精密化
日本理学公司18KWX射线衍射仪
应用领域：
多功能测试装置
板材金属集合组 织评价，陶瓷、 大分子化合物取 向，薄膜晶体优 先方位评价，金 属陶瓷材料残余 应力测试，金属 氧化、氮化、表 面各种镀层表面 结构分析研究。
1、粉末衍射 2、极图衍射（反射法，透射法）
从x射线衍射散射可以得到下列信息衍射图形的特征相关信息衍射峰的位置强度定性分析衍射峰的宽度晶粒大小結晶的完整性原子晶格的配列原子的熱振動衍射峰强度与样品方向的关系結晶方位的偏差集合組織衍射峰角度与样品方向的变化残留应力測定非晶質图谱非晶質图谱的強度分布径向分布函数非晶的结构解析周期性峰的位置周期構造的周期方向性配向性展宽情况完全性直射峰的展宽強度分布颗粒尺寸分布分析x射线衍射的原理bragg的衍射条件2dsinx射线衍射图谱角度气体液体多晶的x射线衍射峰位置晶面間距d定性分析点阵参数d的变化残余应力固溶体的分析晶粒大小晶粒畸变角度2衍射峰的有無結晶态与非晶态的判定样品方向与強度変化配向集合組织纤维组织非晶态积分強度結晶态积分強度定量分析x射线衍射数据解析角度347682030296100283952548931icdd与数据库比较检索与衍射图谱一致的物质峰显示角度精密測量晶胞参数強度精密測量结构含量峰型精密測量結晶尺寸与畸变rietveld解析通过x射线衍射谱图点阵参数结构含量原子位臵的精密化多功能测试装臵1粉末衍射2极图衍射反射法透射法3应力测试并倾法侧倾法4薄膜测试样品面内旋转5定量测试样品面内旋转应用领域
样品：C20H32CUF6N4O8SI 样品尺寸：0.40X0.30X0.30mm 分子量：662.12 空间群：P4/mmm X射线源：MO靶 波长：0.71069
x射线衍射仪 工作原理
X射线衍射仪的工作原理是基于晶体对X射线的衍射效应。
当X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线产生散射。
由于晶体内部原子面之间的间距与X射线的波长相近，这些散射波会互相干涉，从而产生衍射效应。
在X射线衍射仪中，当X射线照射到试样上时，试样会产生衍射效应。
衍射光束被辐射探测器接收，并经测量电路放大处理后，在显示或记录装置上给出精确的衍射峰位置、强度和线形等衍射信息。
这些衍射信息可作为分析各种应用问题的原始数据。
X射线衍射仪的基本组成包括：X射线发生器、衍射测角仪、辐射探测器、测量电路和控制操作、运行软件的电子计算机系统。
通过这些组件的协同工作，X射线衍射仪能够实现对试样的衍射分析，从而获得试样的晶体结构、晶格常数等信息。
以上信息仅供参考，如有需要，建议您咨询专业技术人员。
X射线衍射仪的原理与应用
X射线衍射仪的原理与应用X射线衍射仪是一种重要的科学仪器，广泛应用于材料科学、生命科学和物理学等领域。
它通过射入样品的X射线，利用衍射现象来研究物质结构，为科学研究和工程应用提供了重要的手段。
本文将介绍X射线衍射仪的原理，以及其在材料科学和生命科学中的应用。
一、X射线衍射仪的原理X射线衍射仪的基本原理是利用物质中的晶格结构对入射X射线发生衍射。
当X射线通过物质时，部分X射线会与物质中的原子核和电子云相互作用，形成散射波。
这些散射波相互干涉，形成衍射图样。
根据衍射图样的特征，可以得到物质的晶格结构和晶体学信息。
X射线衍射的原理基于布拉格方程，即nλ = 2dsinθ，其中n为整数，λ为入射X射线波长，d为晶格常数，θ为入射角。
根据布拉格方程，可以通过测量衍射角θ和入射X射线波长λ的数值，在一定的条件下确定物质的晶格常数。
二、X射线衍射仪的应用1. 材料科学领域X射线衍射仪在材料科学领域有广泛的应用。
首先，它可以用于材料的结构分析。
通过测量物质的衍射图样，可以确定物质的晶体结构、晶格常数和晶面取向等信息。
这对于材料的研究和工程设计具有重要意义。
其次，X射线衍射仪还可以用于材料的质量检测和成分分析。
通过测量材料的衍射强度和位置，可以定量分析材料中的晶体相和非晶质相的含量，进而评估材料的质量和性能。
2. 生命科学领域X射线衍射仪在生命科学领域也有应用。
例如，它可以用于蛋白质晶体学研究。
蛋白质晶体学是研究蛋白质结构的重要手段。
通过将蛋白质溶液结晶，并利用X射线衍射仪测量蛋白质晶体的衍射图样，可以解析蛋白质的原子结构，从而揭示其功能和生理过程。
此外，X射线衍射仪还可以用于药物研究和生物医学领域。
通过测量药物晶体的衍射图样，可以确定药物的晶体结构和稳定性，为药物设计和制剂优化提供指导。
同时，X射线衍射仪还可以应用于X射线显像技术，用于肿瘤诊断和器官成像等医学应用。
三、总结X射线衍射仪是一种基于衍射原理的重要科学仪器，可以用于物质结构的研究和分析。
xrd测试原理及操作的基本流程
文章主题：xrd测试原理及操作的基本流程一、引言在材料科学与工程领域中，X射线衍射（XRD）是一种重要的分析技术，可用于对晶体结构、物相分析和晶体质量的表征。
本文将深入探讨XRD测试的原理和操作的基本流程，以便读者能够全面理解XRD 分析的重要性和实验方法。
二、XRD测试原理1. X射线衍射的基本原理X射线衍射是通过照射物质，观察衍射光的方向和强度来了解物质的结构性质。
当入射X射线与晶体的原子排列相互作用时，会出现衍射现象，从而得到关于晶体结构的信息。
2. 布拉格方程布拉格方程是描述X射线衍射条件的基本方程。
它表示为：nλ=2dsinθ，其中n为衍射级别，λ为入射X射线的波长，d为晶格间距，θ为衍射角。
3. 结晶衍射图样通过X射线衍射仪测得的数据可以绘制成结晶衍射图样，从中可以读取出晶面间距、晶格常数等信息。
三、XRD测试操作基本流程1. 样品制备与加载首先需要将待测样品研磨成粉末，并压制成均匀的薄片或圆盘。
然后将样品加载到X射线衍射仪的样品台上。
2. 仪器参数设置在进行XRD测试前，需要设置仪器的参数，包括X射线波长、入射角范围、扫描速度等。
3. 开始测试启动X射线衍射仪，开始进行测试。
X射线穿过样品，与晶体发生相互作用，产生衍射光，再由探测器接收并记录下来。
4. 数据分析与结果解读对从X射线衍射仪得到的数据进行分析与解读，可以得到有关样品晶体结构、晶胞参数等重要信息。
四、个人观点和理解作为X射线衍射技术的一种，XRD分析在材料研究和质量检测中起着关键作用。
通过XRD测试，不仅可以了解样品的晶体结构，还可以分析其中包含的物相。
掌握XRD测试的原理和操作流程对于科研工作者和工程师来说都是非常重要的。
五、总结与回顾通过本文的讨论，我们全面了解了XRD测试的原理及操作的基本流程。
X射线衍射技术的应用范围非常广泛，可以帮助我们更好地理解材料的性质和结构。
希望读者通过本文的介绍，能对XRD分析有更深入、全面和灵活的认识。
x射线衍射仪工作原理
x射线衍射仪工作原理
x射线衍射仪是一种常用的分析仪器，广泛应用于材料科学、
结构生物学等领域。
它的工作原理是基于x射线的衍射现象。
首先，x射线衍射仪会通过一个x射线管产生一束高能的x射线。
这束x射线会经过一个束限器，使得只有一束直线状的射线从出口射出。
接下来，这束x射线会进入一块晶体或者一束平行的晶体。
晶体的晶格结构会使得入射的x射线遇到晶格中的原子时发生衍射现象。
根据布拉格定律，x射线在晶体晶面上的散射角度与
晶面的间距有关。
这意味着，不同晶面的散射角度是不同的。
在x射线衍射仪中，会放置一个底片或者探测器来捕捉散射光的信息。
当散射光到达底片或者探测器时，会形成一种特殊的衍射图样，称为衍射图。
衍射图上的每个峰代表着不同的晶面。
通过测量、分析衍射图中的峰的位置、强度等参数，可以推算出晶体的晶格参数、晶面的间距、晶体的结构等信息。
需要注意的是，为了获得准确的衍射图，x射线衍射仪中各个
部件的位置、角度等参数要进行精确的调整。
并且，在实际应用中，也需要进行数据处理、解析等工作，以获得更详细的晶体结构信息。
总结起来，x射线衍射仪通过向晶体中发射高能的x射线，并
捕捉其衍射光的信息，利用衍射图来研究晶体的结构和性质。
这种衍射现象基于布拉格定律，因此可以通过衍射图的分析来推导晶体的晶格结构参数。
简述x射线衍射法的基本原理和主要应用
简述X射线衍射法的基本原理和主要应用1. 基本原理X射线衍射法是一种研究晶体结构的重要方法，它利用X射线的特性进行衍射分析。
其基本原理包括以下几个方面：•布儒斯特定律：X射线在晶体中发生衍射时，入射角、出射角和入射光波长之间满足布儒斯特定律，即$n\\lambda = 2d\\sin\\theta$，其中n为整数，$\\lambda$为X射线的波长，d为晶面间的间距，$\\theta$为入射角或出射角。
•薛定谔方程：晶体中的原子排列形成周期性结构，电子在晶格中运动的波动性质可以用薛定谔方程描述。
X射线被晶体衍射时，其波长与晶体中电子的波动性相互作用，形成了衍射波。
•动态散射理论：根据动态散射理论，晶体中的原子或离子吸收入射的X射线能量，并以球面波的形式发出，与其他原子或离子产生相互干涉，从而形成衍射图样。
2. 主要应用X射线衍射法广泛应用于材料科学、化学、地质学等领域，具有以下主要应用：•晶体结构分析：X射线衍射法可以确定晶体的晶格常数、晶胞角度和晶体中原子的位置，通过分析衍射图样的强度和位置，获得晶体结构的信息。
•材料表征：X射线衍射法可用于分析材料的相变、晶体有序度、晶格缺陷和晶体生长方向等特征。
例如，在合金研究中，可以通过X射线衍射技术鉴定合金中出现的新相和晶格畸变。
•晶体品质评估：通过分析衍射峰的尺寸和宽度，可以评估晶体的品质，包括晶格结构的完整性、晶体中的位错和晶格缺陷等。
•结晶体制备与成分分析：利用X射线衍射法可以研究物质的结晶过程，了解晶体生长的动力学和晶体取向的控制方法。
此外，还可以使用X射线衍射方法对材料中的成分进行分析。
•衍射仪器的研发与改进：X射线衍射法的应用也推动了衍射仪器的研发与改进，包括X射线源、X射线衍射仪和探测器等，提高了测量精度和分辨率。
3. 总结X射线衍射法作为一种非破坏性的分析技术，通过衍射图样的分析，可以获得晶体结构和材料特性的信息。
其基本原理包括布儒斯特定律、薛定谔方程和动态散射理论。
X射线衍射分析原理
X射线衍射分析原理X射线衍射分析是一种重要的材料表征技术，其原理基于X射线与晶体相互作用时发生的衍射现象。
这种技术可以用来确定物质的结晶结构、晶体畸变、晶粒尺寸、相对结晶取向以及晶体缺陷等信息。
下面我将详细介绍X射线衍射分析的原理。
1.X射线衍射的基本原理X射线是一种电磁波，其波长比可见光短得多，因此它能够穿透晶体射出到另一侧。
当X射线穿过晶体时，会与晶体内的原子相互作用，发生散射。
如果晶体具有周期性排列的原子结构，那么经过散射后的X射线将会发生衍射现象。
2.布拉格衍射原理布拉格衍射原理是X射线衍射分析的基础。
根据布拉格方程，当入射光束与平行晶面之间的入射角等于出射角时，X射线会以构成等边三角形的一系列角度散射出来。
这些出射角对应的散射光将相干地叠加在一起，形成衍射图样。
布拉格方程可以表示为：n·λ = 2d sinθ其中，n为衍射级别，λ为入射X射线的波长，d为晶体面间的距离，θ为入射角。
根据布拉格方程，通过测量入射角和衍射角的大小，可以计算出晶格的间距d。
3.X射线衍射仪器为了进行X射线衍射分析，需要使用特殊的仪器。
其中最常见的是X射线粉末衍射仪（X-ray powder diffraction, XRD）。
它通过将样品制成粉末并均匀散布在载体上，然后用X射线照射样品，测量出射的衍射波，进而得到衍射图案。
X射线衍射仪由X射线管、样品支架、光学系统、检测器和计算机等组成。
X射线管产生X射线，经过光学系统聚焦后通过样品。
样品中的晶体结构会散射入射的X射线，散射波经过光学系统再次聚焦到检测器上，通过检测器的信号可以得到衍射图案。
根据衍射图案，可以通过相关数据分析获得样品的结晶结构和特征。
4.衍射图案分析衍射图案是X射线衍射分析的核心结果。
通过衍射图案的分析，可以获取材料的晶格常数、晶体结构、晶格取向和晶体畸变等信息。
衍射图样的主要特征是峰（peak），峰对应于衍射波的散射角度。
每个峰的位置、强度和形状都包含了样品的结构信息。
X射线衍射仪结构与使用
图1. X 射线衍射仪框图 X 射线衍射仪的结构与使用一、实验目的1．了解衍射仪的结构与原理。
2．掌握衍射样品的制备方法。
3．熟悉实验参量的选择和仪器操作，并通过实验得到一个XRD 图谱。
二、实验原理(一) 衍射仪的结构及原理1、衍射仪是进行X 射线分析的重要设备，主要由X 射线发生器、测角仪、记录仪和水冷却系统组成。
新型的衍射仪还带有条件输入和数据处理系统。
图1给出了X 射线衍射仪框图。
2、 X 射线发生器主要由高压控制系统和X 光管组成，它是产生X 射线的装置，由X 光管发射出的X 射线包括连续X 射线光谱和特征X 射线光谱，连续X 射线光谱主要用于判断晶体的对称性和进行晶体定向的劳埃法，特征X 射线用于进行晶体结构研究的旋转单体法和进行物相鉴定的粉末法。
测角仪是衍射仪的重要部分，其光路图如图2。
X 射线源焦点与计数管窗口分别位于测角仪圆周上，样品位于测角仪圆的正中心。
在入射光路上有固定式梭拉狭缝和可调式发射狭缝，在反射光路上也有固定式梭拉狭缝和可调式防散射狭缝与接收狭 缝。
有的衍射仪还在计数管前装有单色器。
当给X 光管加以高压，产生的X 射线经由发射狭缝射到样品上时，晶体中与样品表面平行的面网，在符合布拉格条件时即可产生衍射而被计数管接收。
当计数管在测角仪圆所在平面内扫射时，样品与计数管以1：2速度连动。
因此，在某些角位置能满足布拉格条件的面网所产生的衍射线将被计数管依次记录并转换成电脉冲信号，经放大处理后通过记录仪描绘成衍射图。
(二) 衍射实验方法X 射线衍射实验方法包括样品制备、实验参数选择和样品测试。
1、样品制备在衍射仪法中，样品制作上的差异对衍射结果所产生的影响，要比照相法中大得多。
因此，制备符合要求的样品，是衍射仪实验技术中的重要的一环，通常制成平板状样品。
衍射图2. 测角仪光路示意图 1、测角仪圆, 2、试样, 3、滤波片,S 光源, S1、S2梭拉狭缝,K 发散狭缝,L 防散射狭缝, F 接收狭缝,C 计数管。
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应用软件功能
➢ Diffrac plus STRESS 用作试样和实物构件残余应力测定， 含有Omega模式和Psi模式，可给出选定方向的应力、切应 力和应力张量。
➢ Diffrac plus ODF 取向分布函数(ODF)织构定量分析软件是 在DiffracPlus TEXEDIT数据处理基础上,由完整极图或不完 整极图数据,用球谐级数展开法做ODF分析,计算了奇数项,载 尾项可任选,用Bunge符号绘出恒Phi1、Phi2和Φ的ODF截面 图,可回算绘制任意{hkl}完整极图和反极图。
Ni (311) Ni (222)
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2/degree
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常规测试实例
➢ FeNi非晶粉末试样
测试条件：Slits:2.0/1.0/0.2，start:10˚ to:100˚ increment:0.1˚/step Step time:0.8s
高温条件下的试样物相结构
直热式加热，升降温速度可达 200 ℃/min ；
温度最高可达1600 ℃ ； 样品平放，安全性能好；
高温测试样品要求
➢ 非液态（原则上）最好为粉末样 ➢ 高温下不与加热片（铂铑合金）发生反应 ➢ 加热后不产生腐蚀性气体
薄膜附件
衍射仪上加装一掠射附件 （0.35°平行光狭缝）
X射线衍射实验测试
制样要求： ➢ 粉末或块状样均可，表面平整 ➢ 粉末颗粒在5～15μm最佳 ➢ 块状样受夹方向50mm，平行射线出射方向(>20mm且
<60mm）
计数测量方法与测量参数选择
➢ 多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯) 扫描两种
➢ 测量参数包括狭缝光栏宽度、扫描速度、时间常数等。
膜及多层膜的物相分析 入射光束以较低掠射角入射，
可使薄膜衍射信息增大， 而衬底反射最小。
可实现功能
➢ 物相分析（物相鉴定与定量分析，结晶度测量） ➢ 晶体结构分析（晶粒大小、点阵参数测定、相结构等） ➢ 织构和残余应力分析 ➢ 高温条件下物相变化分析 ➢ 薄膜分析（薄膜的物相鉴定和定量分析）
应用软件功能
射振幅
强度比等于振幅的平方; | F | 2称为结构因子 | F | 2 =0 衍射线消光 | F | 2≠0 衍射线不消光
晶体X射线衍射充要条件
布拉格公式：晶体产生衍射的方向只与晶胞参数有关，与 晶体结构无关；
F2hkl：决定衍射强度的重要因素，决定衍射线的存在与否。
衍射充要条件：
2d hklsinθhkl = nλ
倒易性质： 倒易矢量H=H=ha*+kb*+llc*, h,k,l 均为整
数，则H⊥ (hkl), /Hhkl/ =1/dhkl 表示: a) 方向(hkl)的法线方向， b) b)倒易点阵每一结点的倒易矢量其长度为 (hkl)面间距倒数。
X射线物理学概要
➢ 1895年W.C.Roentgen研究阴极射线管时，发现一种有 穿透力的肉眼看不见的射线，称为X射线(伦琴射线)。
配置的附件
➢ 织构附件 ➢ 高温附件 ➢ 薄膜掠射附件
织构
单晶体金属材料：各向异性 多晶体金属材料：各向同性
织构：晶粒取向择优分布 ➢ 用冲床冲制金属零件时，往往会因择优取向造成废品 ➢ 高温超导体YBa2Cu3O7-x的超导特性 (001)面，也即ab
面能承载大的电流密度应制备这种(001)强织构超导材 料
数据谱采集
检索/匹配
在Search/Match框内点击“Search”,进行微机检索/匹配确认物相。
常规测试实例
➢ Ni44Fe56合金薄膜镀态和退火处理后微观结构对比
测试条件：Slits:1.0/1.0/0.2，start:10˚ to:100˚
increment:0.03˚/step Step time:0.8s
a = b = c , α=β=γ ≠90°
菱形晶系
a≠ b ≠ c , α=β=γ = 90°
单斜晶系 a≠b ≠ c , α= γ = 90° , β≠ 90°
三斜晶系
a≠ b≠c , α≠β≠γ
晶体学基础知识--晶面、晶向
➢ 晶向：一族具有等周期的点阵直线<uvw>。 ➢ 晶向指数[uvw]：原点与阵点相联在晶轴方向的投影。
50
40
30
20
10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
衍射角
I
谢 谢!
1600
Ni44Fe56 1400 as-deposit
Y-(Fe,Ni) (111) Ni (111)
6000
Y-(Fe,Ni) (111)
Ni44Fe56 as-deposit
Ni (111)
400oC 1h annealing
5000
Intensity/arb.unit Intensity/arb.unit
X射线衍射仪原理及应用技术交流
安泰科技研发中心 李艳萍
主要内容
➢ X射线衍射的晶体学知识简介 ➢ D8 discover XRD 主要结构 ➢ D8 discover XRD 主要功能及分析方法
晶体学基础知识—晶体
➢ 晶体基本特点：质点（结构单元）沿三维空间周期性 排列（晶体定义）并有对称性。
➢ 空间点阵：实际晶体中的几何点，其所处几何环境和 物质环境均同， 这些这些“点集”称空间点阵。
晶体中各个电子的散射波可相互干涉。散射波周相一致 相互加强的方向称衍射方向。
Bragg公式： 实质：光程差等于波长整数倍（周相一致）
晶体X射线衍射原理
厄瓦尔德（ Ewald）图解： 倒易点落在Ewald球上的晶面
多晶体衍射花样的形成
结构因子
X射线散射的强度与晶胞的结构有关 F为结构振幅， ︱ FHKL︱=一个晶胞的相干散射振幅/一个电子的相干散
➢ 晶面：互为平行、等距且面上点阵分布全同 {hkl}。 ➢ 晶面指数(hkl)：晶面截晶轴的倒数，乘以最小公倍数，
它表示晶面法向特征。
晶体学基础知识--晶面间距
晶面间距: 两个相邻的平行晶面间的垂直距离 立方晶系:
正方晶系:
斜方晶系:
晶体学基础知识—倒易点阵
➢ 晶体点阵的倒易，数学抽象。 ➢ 晶体点阵 晶面(hkl)对应倒易点阵一个倒易点Phkl。
1200 4000
1000
Y-(Fe,Ni) (200) 800
3000
Ni (200)
600
Y-(Fe,Ni) (200) 2000
Ni (200)
400
Y-(Fe,Ni) (311)
Ni (311) Y-(Fe,Ni) (220)
1000
200
Ni (220)
Ni (222)
Y-(Fe,Ni) (311)
织构的分析方法
描绘织构空间取向的极射赤面投影图：极图、反极图 极图表示出试样内各晶粒某一(hkl)晶面极点在外观坐标
系里的取向分布； 反极图表示晶粒的某一特定外观方向相对于晶体坐标系
的取向分布；
取向分布函数(ODF)法：将试样的轧面法向、轧向和横向 三位一体地在三维晶体学取向空间表示出来
高温附件
F2hkl ≠0
衍射仪法
➢ 方法实质：X射线与物质作用产生衍射花样。 ➢ 衍射花样三要素：峰位、峰强、峰形； ➢ 数据谱分析：开拓对粉末衍射数据处理的根本变革。
物像鉴定
物相鉴定原理： ➢ 衍射方向, 是晶胞参数的函数；衍射强度是结构因子
函数(取决于晶胞中原子的种类、数目和排列方式)。 ➢ 结晶物质均具有特定结晶结构（结晶类型，晶胞大小
产地：德国布鲁克（AXS)公司 型号：D8 discover
主要结构
➢ 光源：高压发生器与X光管 ➢ 精密测角仪 ➢ 光学系统 ➢ 探测器
光源－高压发生器与X光管
X射线产生条件：电子流、高压、真空室、靶面
阴极 X射线管
阳极 （对阴极）
104~150 V
+
封闭管光源
X光管：陶瓷X光管
靶面：Cu靶
应用软件功能
➢ Diffrac plus Dquant(包括在EVA软件中) 用作物相的 定量分析，包括多种常规定量分析方法，如内标法、 外标法、直接对比法，并可编程适用多种相定量分析，பைடு நூலகம்如铝电解槽分析等；
➢ Diffrac Plus TOPAS P 对X射线衍射线形进行函数模 拟和基本参数拟合，后者从仪器几何参数和试样性质 拟合线形，有确切物理意义，为无标样晶粒尺寸和微 观应变测定提供解决办法，可用作点阵参数精修和结 晶度测定等。
➢ 根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加， 其衍射线的强度亦随之增加，所以通过衍射线强度的 数值可以确定对应物相的相对含量。
➢ 由于各个物相对X射线的吸收影响不同，X射线衍射强 度与该物相的相对含量之间不成正比关系，必须加以 修正。
➢ 德拜法中由于吸收因子与2θ角有关，而衍射仪法的吸 收因子与2θ角无关，所以X射线物相定量分析常常是 用衍射仪法进行。
定量相分析方法
多种定量分析方法
➢ 内标法（待测样中加入一种含量固定的标准物质） ➢ K值法（基体冲洗法） ➢ 无标样法（试样中所有相均已知） ➢ 绝热法（试样中某一相作为内标物质，不能有非晶态
物质存在） ➢ 直接对比法（两相的衍射强度比为基，适用于淬火钢
中残余奥氏体测定）
D8 discover衍射仪
合），或试样不动，光管转θ，探测器转θ （ θ /θ偶合）
探测器
作用是接收样品衍射线(光子)信号转变为电(瞬时脉冲) 信号。