实验一--TTL门电路参数测试实验复习进程
实验一 TTL、三态门电路参数测试(实验内容)_2013.04
实验一 TTL 和 三态门电路参数测试
杭州电子科技大学
电工电子实验中心
一、实验所用器件型号及管脚排列
VCC
14
4A
13
4B
12 &O &O
4Y
11
3A
10
3B
9 &O &O
3Y
8
VCC
14
4E
13
4A
12
1
EN EN
4Y
11
3E
10
3A
9
1
EN EN
3Y
8
1
1
1
2
3
4
5
6
7
0 1 0 1
4.用2输入与非门（74LS00）实现三人参加的
表决电路。
VoL 0 VI(V) VoFF VTH VoN Vo(V) VoH
90%*VoH
高电平噪声容限NH。
3、三态门功能测试
选用型号为74LS126的集
成电路，参考其引脚排列 及逻辑符号，按右边电路 图测试高阻状态，将实验 结果填入下表。
输入
输出Y(接上拉 电阻)
输出Y（接下拉电 阻）
E
A
Y
0 1
10K
&
V V
VI VO
0
0.3
0.5
0.85
0.9
0.95
1.0
1.05
1.1
1.15
1.2
1.3
1.4
1.5
TTL与非门参数测试
调节电位器,测出相应的输出电压,在坐标纸上画出电压传输特性
曲线,并在曲线中求得以下参数: 输出高电平VOH, 关门电平VOFF, 阈值电压VTH, 输出低电压VOL, 开门电平VON, 低电平噪声容限VNL,
实验一集成ttl门逻辑功能参数测量
实验一集成TTL门电路逻辑功能及参数测一、实验目的⒈理解集成TTL门电路逻辑功能及参数测试的必要性。
⒉熟悉TTL与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能。
⒊掌握TTL与非门电路的主要参数及其测试方法。
二、预习要求⒈复习TTL门电路的基本工作原理。
⒉认真阅读讲义，明确各参数的定义、测试条件及测试方法。
⒊熟悉掌握数字逻辑实验箱的使用方法。
⒋了解被测TTL门电路的管脚排列及其功能。
三、实验设备与器材⒈数字逻辑实验箱⒉万用表⒊7421四输入双与非门、T072与或非门、74LS136二输入端四异或门各一块。
四、实验内容及步骤⒈测试与非门的逻辑功能①先将7421四输入端双与非门，按缺口标志向左排列，放入实验箱多孔插座板上。
参照图14-1，再按图14-2所示接好线。
输入端分别接不同的逻辑开关K，输出接发光的二极管器L。
(2)改变逻辑开关，实现各输入端高、低电平的转换；用发光二极管观察输出端逻辑状态，并用万用表测出对应电平值。
图14-17421引脚排列图图14-2与非门接线图(3)记录不同输入和输出状态的对应关系。
列出真值表。
⒉测试与或非门的逻辑功能图14-3T072引脚排列图14-4与或非接线图(1)参照图14-3T072引脚排列，按图14－-4所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，用发光二极管观察输出状态。
(3)记录各输入与输出对应状态，并列出真值表。
⒊测试异或门的逻辑功能图14-574LS136引脚排列图14-6异或门接线(1)先将74LS136二输入端四异或门(集电报开路异或门)，插入实验箱多孔插座板上。
参照图14-5 74LS136引脚排列，按图14-6所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，观察输出状态。
(3)记录各输入与之对应的输出状态，并列出真值表。
⒋测试TTL与非门电压传输特性图14-7 TTL与非门电压传输特性测试图图14-8 用JT-1测TTL与非门电压传输特性曲线方法一：(1)按图14-7TTL与非门电压传输特性测试图接好线。
数电实验一 TTL集成电路-逻辑门电路的参数测试
实验内容二：参数测试4
输入 电压 0 （V）
输出 电压 （V） 输入 电压 1.2 （V） 输出 电压 （V） 1.3 1.4 1.5 1.6 2.0 3.0 4.0 5.0 0.2 0.4 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
实验内容一：逻辑功能测试
输入变量A(1脚) 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 输入变量B(2脚) 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 输入变量C(4脚) 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 输入变量D(5脚) 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 输出变量F(6脚)
实验器件
电子技术实验台 万用表 74LS20:二-四输入与非门 1片
芯片引脚图
实验内容一：逻辑功能测试
1 74LS20为二-四输入与非门 2 按引脚图，7脚接地，14脚接+5V出端6脚接电平指示灯 5 输入和输出时：发光二极管灯亮为逻辑 “1”，灯灭为逻辑“0” 6 完成下表，推导输入与输出的关系:F=?
1
1 1 1
1
1 1 1
0
0 1 1
0
1 0 1
实验内容二：参数测试1
测试门电路导通时的电源电流ICCL和门电路 截止时的电源电流ICCH
实验内容二：参数测试2
测试门电路低电平输入电流IIL（灌电流）和 高电平输入电流IIH（拉电流，较小）
实验内容二：参数测试3
间接测量低电平扇出 系数：如图连线，调 节电位器，使电压表 达到0.4伏，记录电 流表示数IOLM。低电 平扇出系数 N=IOLM/IIL ， 注意，N要取整。
实验内容二：参数测试4
测试门电路的电压传输特性
实验一 TTL逻辑门的功能与参数测试
被测输入端接低电平，其余输入端悬空，输出端空载时，由 被测输入端流出的电流。(图4-1-2, c)
高电平输入_电流IiH
被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，由 被测输入端流入的电流。(图4-1-2, d)
IiH
& &
IiL
图4-1-2, c 图4-1-2, d
主要参数
内容与实验步骤
• • • • 1.在实验箱上找到74LS20 按书上表格验证逻辑功能 2.测试参数 3. 注意事项：
• 分清引脚标号，不能接错，输出引脚不能 线与，否则烧毁芯片
扇出系数No：
门电路能驱动同类门的个数，有低电平扇出系数NOL和高电平 扇出系数NOH,通常IiH<IiL,则NOH>NOL，故常以NOL作为扇出系 数。（按图4-1-3测试）。
电压传输特性
门的输出电压Vo随输入电压Vi变化的曲线Vo=f(Vi) 4测试） (按图4-1-
N OL
&
I OL I iL
&
图4-1-3测试
图4-1-4
主要参数
平均传输延迟时间Tpd
t pd
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
输出波形对输入波形的延迟时间 (按图4-1-5测试） 与非门的逻辑功能： 输入 A 0 0 0 0 0 1 B 0 0 0 0 1 ... 1 1 1 C 0 0 1 1 0 D 0 1 0 1 0 输出 Y 1 1 1 1 1 1 0
实验一 TTL逻辑门的功能与参 数测试
实验目的
• 1. 了解TTL与非门各参数的意义 • 2. 掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参 数的测试方法。 • 3.掌握TTL器件的使用规则 • 4. 熟悉数字电路实验系统的使用方法。
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试引言:本实验通过测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数，旨在增进对TTL 逻辑门的理解和应用能力。
TTL（Transistor-Transistor Logic，双极晶体管逻辑）是一种广泛应用的数字逻辑家族，通常用于数字系统中的逻辑操作。
实验步骤:1.认识TTL集成逻辑门TTL集成逻辑门是由若干个双极晶体管和二极管组成的，具有与门、或门、非门等多种门电路。
通常在电路图中用特定的代号代替。
常见的TTL集成逻辑门有AND门（7408）、OR门（7432）、NOT门（7404）等。
2.实验材料-TTL集成逻辑门芯片（AND门、OR门、NOT门）-逻辑信号发生器-示波器/数字万用表-电压表-电阻-连线电缆3.实验步骤-步骤一：连接AND门将AND门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接AND门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
-步骤二：连接OR门将OR门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接OR门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
-步骤三：连接NOT门将NOT门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，将逻辑信号发生器的输出端连接到NOT门的输入端，示波器的探头连接NOT门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
4.结果分析:根据实验数据和观察到的波形，可以进行以下分析：-分析AND门的逻辑功能和参数AND门在两个输入端都为1时，输出为1，否则输出为0。
通过实验可以发现，AND门的输出波形为非线性的，并且脉冲宽度与输入信号的频率有关。
ttl门电路参数测试实验报告
ttl门电路参数测试实验报告嘿，大家好！今天我们来聊聊TTL门电路的参数测试。
这可是个让人既兴奋又有点小紧张的话题。
TTL门电路，这名字听起来是不是就让人觉得很高大上？其实它就是我们平常生活中用到的逻辑电路中的一部分，简单来说，它帮助我们实现各种各样的电子功能，像是开关、计算和控制，简直就是电子世界的小魔法师。
咱们首先得了解什么是TTL。
TTL，听起来像个超炫的流行词，其实是“晶体管晶体管逻辑”的缩写。
它的工作原理就像是给小晶体管们安排任务，让它们互相配合来实现我们想要的结果。
真是有趣得很！在实验开始前，大家得先准备好一堆设备。
电源、示波器、万用表……哦，真是应有尽有，感觉像是要开启一场科技探险！开始的时候，大家先把电路搭建好。
搭电路就像拼乐高，得仔细对照图纸，别把零件拼错了哦。
然后，电源一接通，哎呀，电路居然动了起来！那一刻，真是有种“我终于做成了”的成就感。
就是进行参数测试了。
我们需要测试几个关键的参数，比如输入电压、输出电压、逻辑电平等等。
看起来简单，但其实稍不留神就可能出错，像是在走钢丝，一不小心就得重来。
在测试过程中，万用表可是我们的好朋友。
它就像个侦探，帮我们查出每个电压值的秘密。
哦，你们知道吗？TTL电路对电压的要求可严格了，过高或过低都有可能导致电路工作不正常，像个调皮的小孩儿，时不时就要闹脾气。
测试中，有的同学紧张得手心都出汗了，真是笑死人了，大家就像在参加一场紧张刺激的比赛，谁能精准地测出各项参数，谁就是今天的“电路王”。
有趣的是，测试的结果往往充满了惊喜。
哦，电压正常，逻辑电平也没问题，简直像在开派对！可出现了意外的结果，那就得认真分析了。
为什么会这样呢？可能是连接不牢，也可能是元件坏了，真是“细节决定成败”啊。
大家一起脑力风暴，讨论各种可能的原因，气氛一下子热烈起来。
仿佛整个实验室都充满了电流的活力，大家的热情像被点燃的火焰，越烧越旺。
不过，实验总是有意外的。
就在我们兴致勃勃地测试的时候，突然有个同学喊：“哎呀，电路冒烟了！”这可吓坏了我们，大家立马像逃命似的往后退。
实验一(TTL逻辑门电路的参数测试)
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法2、掌握TTL集成与非门的逻辑功能的测试方法。
3、熟悉TTL门电路主要参数的测量方法。
二、实验设备与器件数字电路实验箱、逻辑测试笔、万用表、74LS20三、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑符号及引脚排列如图1(a)、(b)所示。
(a) (b)图1 74LS20逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为: Y＝2、TTL与非门的主要参数与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
●低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH(通常ICCL＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小)ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
ICCL和ICCH测试电路如图2(a)、(b)所示。
(a) (b) (c)(d)图2 TTL与非门静态参数测试电路图●低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiHIiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
(在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。
)IiH是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。
(在多级门电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力，希望IiH小些。
由于IiH较小，难以测量，一般免于测试。
实验一_ttl门电路逻辑功能及参数测试
实验⼀_ttl门电路逻辑功能及参数测试数字电⼦技术实验（共24学时）实验⼀（实验性质：验证性学时：2 ）题⽬：ＴＴＬ门电路逻辑功能及参数的测试------⼀、实验⽬的：①熟悉常⽤TTL门电路的逻辑功能。
②了解TTL门电路参数的测试⽅法及物理意义。
⼆、实验内容：必做内容：（A）、测试SSI门电路74LS00、74LS02的逻辑功能；参照表格⼀(B)、测试74LS00与⾮门特性曲线，参照表格⼆，所有曲线必须画在坐标纸上。
①电压传输特性曲线，并从曲线上读出U OH、U OL、U ON、U OFF、、U NH、U NL、参数的值；②输⼊负载特性曲线，并从曲线上确定R ON、R OFF参数的值；选作内容：①输⼊短路电流I IS及输⼊⾼电平电流I IH的测试；②输出负载特性曲线，并从曲线上确定I OH、I OL参数的值。
三、预习报告要求：(1)、画出要测各种SSI集成电路的逻辑功能测试表格。
基本格式⼀：表格标题：（与⾮门真值表）器件名：（74LS00）输⼊输出F=（表达式）A B 标准电平Uo 实验电压Uo 理论F值实验F值0 00 11 01 1基本格式⼆：标题：（与⾮门电压传输特性曲线）器件名：（74LS00）参量1（U i）参量2（U O）(2)、查⼿册画出要测各种SSI集成电路的引脚图(3)、画出测试电路图(4)、标⽰所⽤的参数的物理意义四、参考资料：实验指导书P88：TTL门电路逻辑功能测试；P90 ：TTL与⾮门静态参数测试五、实验⽤器件：74LS00、74LS02六、实验报告要求：1．认真整理实验数据，并列出表格或画出曲线，分析实验测量数据与理论数据误差；（数值收获量变）2．写出本次实验电路⼩结（原理、概念提⾼质变）；回答书上思考题3．认真总结本次实验的⼼得体会和意见，以及改进实验的建议。
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实验一--T T L门电路参数测试实验
实验一 TTL门电路参数测试实验
一、实验目的
1.掌握TTL集成与非门的主要性能参数及测试方法。
2.掌握TTL器件的使用规则。
3.熟悉数字电路测试中常用电子仪器的使用方法。
二、实验原理
本实验采用二输入四与非门74LS00（它的顶视图见附录），即一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端。
其逻辑框图如下：
图1-1 74LS00的逻辑图图1-2 I is的测试电路图TTL集成与非门的主要参数有输出高电平V OH、输出低电平V OL、扇出系数N0、电压传输特性和平均传输延迟时间t pd等。
（1）TTL门电路的输出高电平V OH
V OH是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此
时与非工作管处于截止状态。
空载时，V OH的典型值为3.4~3.6V，接有
拉电流负载时，V OH下降。
（2）TTL门电路的输出低电平V OL
V OL是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管
处于饱和导通状态。
空载时，它的典型值约为0.2V，接有灌电流负载
时，V OL将上升。
（3）TTL门电路的输入短路电流I is
它是指当被测输入端接地，其余端悬空，输出端空载时，由被测输入端
输出的电流值，测试电路图如图1-2。
（4）TTL门电路的扇出系数N0
扇出系数N0指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL集成与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载。
因此，它有两种扇出系数，即低电平扇出系数N0L和高电平扇出系数N0H。
通常有I iH<I iL，则N0H>N0L，故常以N0L作为门的扇出系数。
N0L的测试电路如图1-3所示，门的输入端全部悬空，输出端接灌电流负载R L，调节R L使I OL增大，V OL随之增高，当V OL达到V Olm（手册中规定低电平规范值为0.4V）时的I OL就是允许灌入的最大负载电流，则
N0L＝I OL÷I is，通常N0L>8
（5）TTL门电路的电压传输特性
门的输出电压V o随输入电压V i而变化的曲线V o=f（V i）称为门的电压传输特性，通过它可读得门电路的一些重要参数，如输出高电平V OH、输出低电平V OL、关门电平V off、开门电平V ON等值。
测试电路如图1-4所示，采用逐点测试法，即调节R w，逐点测得V i及V o，然后绘成曲线。
图1-3 扇出系数测试电路图1-4 电压传输特性测试电路（6）TTL门电路的平均传输延迟时间t pd
t pd是衡量门电路开关速度的参数，它意味着门电路在输入脉冲波形的作用下，其输出波形相对于输入波形延迟了多少时间。
具体的说，是指输出波形边沿的0.5Um至输入波形对应边沿0.5Um点的时间间隔，如图1-5所示。
由于传输延迟时间很短，一般为ns数量级。
图1-5（a）传输延迟特性图1-5（b）tpd的测试电路
图1-5（a）中的t pdL为导通延迟时间，t pdH为延迟截止时间，平均传输时间为：
t pd=(t pdL+t pdH)/2
t pd的测试电路如图1-5（b）所示，由于门电路的延迟时间较小，直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高，故实验采用测量有奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。
其工作原理是：假设电路在接通电源后某一瞬间，电路中的A点为逻辑“1”，经过三级门的延时后，使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”；再经过三级门的延时后，A点重新回到逻辑“1”。
电路的其它各点电平也随着变化。
说明使A点发生一个周期的振荡，必须经过6级门的延迟时间。
因此平均传输延迟时间为：
t pd=T/6
三、实验设备与器件
1、数字逻辑电路实验箱。
2、数字逻辑电路实验箱扩展板。
3、芯片74LS00。
4、5.1K，100Ω，200Ω，500Ω，1K电阻；1K，10K可调电阻。
5、数字万用表。
四、实验预习要求
1．复习TTL门电路的工作原理。
2．熟悉实验所用集成门电路引脚功能。
3．画出实验内容中的测试电路与数据记录表格。
五、实验内容及实验步骤
1、将数字逻辑电路实验箱扩展板插在实验箱相应位置，并固定好，找一个
14PIN的插座插上芯片，并在14PIN插座的第7脚接上实验箱的地
（GND），第14脚接上电源（VCC）。
其它脚的连线参考个具体的
线路图，实验所需要的电阻和可调使用实验箱主电路板中的元件库。
2、按照实验原理第一、二部分用万用表测出TTL门电路的输出高电平
V OH，输出低电平V OL。
3、按图1-2所示连线，测出TTL门电路的输入短路电流I is。
4、按图1-3所示连线，测出I OL，求得扇出系数N0。
5、按图1-4所示连线，调节电位器R W，使V i从0V向高电平变化，逐点测
量V i和V o,将结果记入下表中。
6、按图1-5所示连线，测得t pd。
六、实验报告要求
1、记录整理实验结果，并对结果进行分析。
2、画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。
3、思考：TTL门电路的无用输入端是否能悬空或接高电平？为什么？
七、TTL门电路的使用规则
1、接插集成块时，要认清定位标记，不能插反。
2、对电源要求比较严格，只允许在5V+10％的范围内工作，电源极性不可
接错。
3、普通TTL与非门不能并联使用（集电极开路门与三态输出门电路除
外），否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。
4、须正确处理闲置输入端。
闲置输入端处理方法：
i.悬空，相当于正逻辑“1”，对于一般小规模集成电路的数据输入端，
实验时允许悬空处理。
但易受外界干扰，导致电路的逻辑功能不正
常。
因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用
集成电路较多的复杂电路，所有的控制输入端必须按逻辑要求接入
电路，不允许悬空。
ii.直接接电源电压Vcc（也可串入一只1~10K的固定电阻）或接至某一固定电压（+2.4V<V<4.5V）的电源上，或与输入端为接地的多余
与非门的输出端相接。
iii.若前级驱动能力允许，可以与使用的输入端并联。
5、负载个数不能超过允许值。
输出端不允许直接接地或直接接＋5V电源，否则会损坏器件。
有时为了使后极电路获得较高的输出电平，允许输出端通过电阻接至V CC，一般取
电阻值为3～5.1K。
沁园春·雪
北国风光，千里冰封，万里雪飘。
望长城内外，惟余莽莽；大河上下，顿失滔滔。
山舞银蛇，原驰蜡象，欲与天公试比高。
须晴日，看红装素裹，分外妖娆。
江山如此多娇，引无数英雄竞折腰。
惜秦皇汉武，略输文采；唐宗宋祖，稍逊风骚。
一代天骄，成吉思汗，只识弯弓射大雕。
俱往矣，数风流人物，还看今朝。
出师表
两汉：诸葛亮
先帝创业未半而中道崩殂，今天下三分，益州疲弊，此诚危急存亡之秋也。
然侍卫之臣不懈于内，忠志之士忘身于外者，盖追先帝之殊遇，欲报之于陛下也。
诚宜开张圣听，以光先帝遗德，恢弘志士之气，不宜妄自菲薄，引喻失义，以塞忠谏之路也。
宫中府中，俱为一体；陟罚臧否，不宜异同。
若有作奸犯科及为忠善者，宜付有司论其刑赏，以昭陛下平明之理；不宜偏私，使内外异法也。
侍中、侍郎郭攸之、费祎、董允等，此皆良实，志虑忠纯，是以先帝简拔以遗陛下：愚以为宫中之事，事无大小，悉以咨之，然后施行，必能裨补阙漏，有所广益。
将军向宠，性行淑均，晓畅军事，试用于昔日，先帝称之曰“能”，是以众议举宠为督：愚以为营中之事，悉以咨之，必能使行阵和睦，优劣得所。
亲贤臣，远小人，此先汉所以兴隆也；亲小人，远贤臣，此后汉所以倾颓也。
先帝在时，每与臣论此事，未尝不叹息痛恨于桓、灵也。
侍中、尚书、长史、参军，此悉贞良死节之臣，愿陛下亲之、信之，则汉室之隆，可计日而待也。
臣本布衣，躬耕于南阳，苟全性命于乱世，不求闻达于诸侯。
先帝不以臣卑鄙，猥自枉屈，三顾臣于草庐之中，咨臣以当世之事，由是感激，遂许先帝以驱驰。
后值倾覆，受任于败军之际，奉命于危难之间，尔来二十有一年矣。
先帝知臣谨慎，故临崩寄臣以大事也。
受命以来，夙夜忧叹，恐托付不效，以伤先帝之明；故五月渡泸，深入不毛。
今南方已定，兵甲已足，当奖率三军，北定中原，庶竭驽钝，攘除奸凶，兴复汉室，还于旧都。
此臣所以报先帝而忠陛下之职分也。
至于斟酌损益，进尽忠言，则攸之、祎、允之任也。
愿陛下托臣以讨贼兴复之效，不效，则治臣之罪，以告先帝之灵。
若无兴德之言，则责攸之、祎、允等之慢，以彰其咎；陛下亦宜自谋，以咨诹善道，察纳雅言，深追先帝遗诏。
臣不胜受恩感激。
今当远离，临表涕零，不知所言。
6、。