(完整版)材料分析方法期末考试总结
化工材料分析期末总结
化工材料分析期末总结一、导言化工材料是化工工程的基础之一，对于化工工程师来说，掌握材料分析的方法和技巧是至关重要的。
本次期末总结将对我在化工材料分析方面的学习成果进行总结和反思，主要从以下三个方面展开：理论知识的掌握、实验操作的技巧和数据分析的能力。
通过对这三方面的总结，我希望能够找到自己在学习中的不足之处，并为以后的学习提供参考和指导。
二、理论知识的掌握在本学期的学习中，我通过课堂听讲、课后复习和参考书籍等方法，学习了化工材料分析的相关理论知识。
我在理论掌握方面存在的主要问题有：对一些概念的理解不够深入、应用知识的能力较弱等。
在学习过程中，我尝试了多种方法进行理论知识的学习，比如多看相关的参考书籍以及与同学进行讨论和交流。
通过这些方法，我逐渐提高了对理论知识的理解和掌握程度。
三、实验操作的技巧化工材料分析涉及到很多实验操作，这对于我们化工工程专业的学生来说是必不可少的一项能力。
在本学期的实验操作中，我基本掌握了各种操作技巧，并能独立进行实验操作。
但是，我在实验操作中存在的问题是：在实验前的准备工作上花费时间较多、实验中的操作步骤和顺序掌握不够熟练等。
为了提高实验操作的技巧，我在实验前会提前预习相关实验方法和步骤，同时也会参考同学的实验报告和经验，以便更好地完成实验。
四、数据分析的能力化工材料分析的一个重要环节就是对实验数据的分析。
在本学期的学习中，我通过实际操作和数据分析的课堂练习，提高了对数据分析的能力。
但是，我在数据分析方面还存在以下问题：对数据结果的解读和应用能力较弱、数据处理和统计方法的掌握不够熟练。
为了提高数据分析的能力，我会多进行数据处理和统计的练习，并多阅读相关的论文和专业书籍，以便更好地理解和应用数据结果。
五、结语通过本次期末总结，我对自己在化工材料分析方面的学习成果进行了总结和反思，并找到了自己在学习中的不足之处。
在以后的学习中，我将更加注重理论知识的掌握、实验操作的技巧和数据分析的能力。
期末考试分析总结(6篇)
期末考试分析总结（通用6篇）总结是指社会团体、企业单位和个人对某一阶段的学习、工作或其完成情况加以回顾和分析，得出教训和一些规律性认识的一种书面材料，它是增长才干的一种好办法，让我们一起来学习写总结吧。
总结怎么写才不会千篇一律呢？下面是小编帮大家整理的期末考试分析总结（通用6篇），欢迎大家借鉴与参考，希望对大家有所帮助。
期末考试分析总结1本学期我们班共有人数41人其中男生26人女生15人，本次参加考试实到人数40人，测试的总分为3563.5分，平均分为89.1分，及格率为100%。
对于本次考试的成绩，我基本上感到满意，从总体情况来看，大部分学生都发挥了正常水平，另一小部分同学通过半个月的强化复习，有了很大的进步。
下面，我对考试中出现的具体情况作如下细致的分析：一、音识字欢乐谷1.填一填这一题是把拼音补充完整，除了几名成绩较差的同学，全班基本上全对，那几名成绩较差的同学错误的根源在于对拼音没有掌握好，由于这项较弱，2~3名学生这一题全部失分。
2.涂一涂此题是考中国姓氏，是把相对应的拼音与汉字画上相同的颜色，如果这一题是纯粹的连线，学生会做的很好，可是涂相同的颜色，又涉及到颜色不能重复的问题，很多学生在这个颜色问题上出了差错、由此可见平时此类题目训练不够。
3.变一变象这种类型的题，我平时训练得比较多，如果这一题出差错，可能有两种原因：a.题意理解不够，例如：给“包”字加个偏旁，要求把组合好的字直接写在方框里，然而有的学生只填了个“氵”或“扌”。
b.平时在此训练中，有的学生基础较差，无法完全掌握此类习题。
二、书写展示厅本题第1小题：看拼音写词语，这一小题所写的4个词语也是我经常训练抄写的，学生如果写得不对，可能是由于笔误也可能是因为里面měi hǎo的“美”与“每”同音字区分不清楚。
第2小题是写爸爸或妈妈、写写同桌的名字，这一题基本上没有什么问题。
第3小题是写本册语文书中一篇课文的题目，这一题也没有多大问题。
材料分析测试方法期末总结
材料分析测试方法期末总结一、测试方法的基础概念在深入讨论测试方法之前，我们首先需要了解一些基本概念。
1. 测试目标：测试目标是测试活动的核心，它描述了测试所要达到的目标和结果。
常见的测试目标包括验证软件是否符合需求、发现软件中的缺陷以及评估软件的质量等。
2. 测试策略：测试策略是指定测试方法和测试过程的一组决策。
它描述了如何选择测试用例、测试技术和测试环境等，并确定了测试的优先级和风险。
3. 测试技术：测试技术是指用于执行测试活动的方法和工具。
常见的测试技术包括白盒测试、黑盒测试、灰盒测试等。
4. 测试用例：测试用例是一组输入、执行条件和预期结果的组合。
它描述了在特定条件下执行软件的步骤和结果，并用于评估软件功能的正确性和完整性。
5. 缺陷：缺陷是指软件中的错误或问题。
它可能导致软件无法正确执行预期功能，或者引发不可预料的行为。
二、常见的测试方法在软件开发过程中，有多种不同类型的测试方法被广泛应用。
下面是几种常见的测试方法：1. 单元测试：单元测试是对软件中最小可测试单元进行测试的方法。
它通常由开发人员在编写代码时进行，以确保代码的正确性和可靠性。
2. 集成测试：集成测试是将模块或子系统集成在一起进行测试的方法。
它的目标是验证这些模块或子系统在集成时是否可以正确地协同工作，并且预期功能是否得以实现。
3. 系统测试：系统测试是对整个系统进行全面测试的方法。
它的目标是验证软件是否符合需求规格说明书的规定，以及在实际使用环境中是否可靠、稳定和安全。
4. 验收测试：验收测试是在软件开发完成后，由用户或客户进行的最终测试。
它的目标是验证软件是否满足用户需求，并根据预定的验收标准来判断软件是否可以交付使用。
5. 故障注入测试：故障注入是一种测试方法，通过向软件中引入人为设计的故障来评估软件的可靠性和稳定性。
它可以帮助发现并修复软件中的潜在缺陷。
三、测试方法的重要性和应用测试方法在软件开发过程中起着非常重要的作用。
材料分析方法复习总结
1. 已知某原子的光谱项，能够用能级示意图表示出其光谱支项与塞曼能级。
原子能级由符号n M L J 表示，其中n表示主量子数，即原子层数。
M是J可能存在的个数，一般为2S+1或2L+1；L一般用大写字母S、P、D、F、G等表示，分别表示L的值是0，1，2，3，4…；例如：某原子的一个光谱项为23P J，即有n=2，L=1，设S=1，（故M=2S+1=3），则J=2，1，0。
当J＝2时，M J=0，±1，±2；J=1时，M J=0，±1；J=0时，M J＝0。
23P J光谱项及其分裂所示。
2. 掌握满带、禁带、价带、导带以及费米能的概念。
满带：能带中的所有能级（能态）都被电子填满；禁带：原子不同能级分裂的能带之间存在间隙；价带：与原子基态价电子能级相应的能带称为价带；导带：与原子激发态能级相应的能带成为导带。
费米能：绝对零度时固体中电子占据的最高能级称为费米能级，其能量称为费米能E F 3．能够在给定晶体结构（如简单立方晶胞、面心立方晶胞），在其中画出(001), (002), (003) 等晶面，根据干涉指数的定义，回答由干涉指数表示的晶面上是否一定有原子的分布，为什么？画晶面（注意：晶面指数是截距的倒数。
）干涉指数定义为可带有公约数n的晶面指数[n(hkl)],即为广义的晶面指数。
干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，也就是说干涉指数表示的晶面并不一定有原子分布。
因为若将干涉指数按比例约分后，最后干涉指数还是还原为晶面指数，所以只用晶面空间方位来标识晶面。
4. 掌握由倒易矢量性质，倒易点阵与正点阵关系推导出立方晶系晶面间距公式的推导过程。
根据(r*HKL)=1/d2HKL，按照矢量点积的公式，可确定1/d2HKL=（Ha*+Kb*+Lc*）(Ha*+Kb*+Lc*)=H2(a*)2+K2(b*)2+L2(c*)2+2HK(a*∙b*)+2HL(a*∙c*)+2KL(b*∙c*) 又有，(a*)2=(b*)2=(c*)2=1/a2,cosα*=cosβ*=cosγ*=01/d2HKL=H2+K2+L2ad HKL=√H2+K2+L25. 掌握晶带定理及晶带轴计算方法。
材料分析方法复习总结
1. 已知某原子的光谱项，能够用能级示意图表示出其光谱支项与塞曼能级。
原子能级由符号n M L J 表示，其中n表示主量子数，即原子层数。
M是J可能存在的个数，一般为2S+1或2L+1；L一般用大写字母S、P、D、F、G等表示，分别表示L的值是0，1，2，3，4…；例如：某原子的一个光谱项为23P J，即有n=2，L=1，设S=1，（故M=2S+1=3），则J=2，1，0。
当J＝2时，M J=0，±1，±2；J=1时，M J=0，±1；J=0时，M J＝0。
23P J光谱项及其分裂所示。
2. 掌握满带、禁带、价带、导带以及费米能的概念。
满带：能带中的所有能级（能态）都被电子填满；禁带：原子不同能级分裂的能带之间存在间隙；价带：与原子基态价电子能级相应的能带称为价带；导带：与原子激发态能级相应的能带成为导带。
费米能：绝对零度时固体中电子占据的最高能级称为费米能级，其能量称为费米能E F 3．能够在给定晶体结构（如简单立方晶胞、面心立方晶胞），在其中画出(001), (002), (003) 等晶面，根据干涉指数的定义，回答由干涉指数表示的晶面上是否一定有原子的分布，为什么？画晶面（注意：晶面指数是截距的倒数。
）干涉指数定义为可带有公约数n的晶面指数[n(hkl)],即为广义的晶面指数。
干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，也就是说干涉指数表示的晶面并不一定有原子分布。
因为若将干涉指数按比例约分后，最后干涉指数还是还原为晶面指数，所以只用晶面空间方位来标识晶面。
4. 掌握由倒易矢量性质，倒易点阵与正点阵关系推导出立方晶系晶面间距公式的推导过程。
根据(r*HKL)=1/d2HKL，按照矢量点积的公式，可确定1/d2HKL=（Ha*+Kb*+Lc*）(Ha*+Kb*+Lc*)=H2(a*)2+K2(b*)2+L2(c*)2+2HK(a*∙b*)+2HL(a*∙c*)+2KL(b*∙c*) 又有，(a*)2=(b*)2=(c*)2=1/a2,cosα*=cosβ*=cosγ*=01/d2HKL=H2+K2+L2a2d HKL=√H2+K2+L25. 掌握晶带定理及晶带轴计算方法。
材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳
材料分析测试技术复习参考资料（注：所有的标题都是按老师所给的“重点”的标题，）第一章x射线的性质1.X射线的本质：X射线属电磁波或电磁辐射，同时具有波动性和粒子性特征，波长较为可见光短，约与晶体的晶格常数为同一数量级，在10-8cm左右。
其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播；粒子性表现为由大量的不连续的粒子流构成。
2，X射线的产生条件：a产生自由电子；b使电子做定向高速运动；c在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
3，对X射线管施加不同的电压，再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度，便会得到X射线强度与波长的关系曲线，称为X射线谱。
在管电压很低，小于某一值（Mo阳极X射线管小于20KV）时，曲线变化时连续变化的，称为连续谱。
在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λo，称为短波限，在高速电子打到阳极靶上时，某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子，这个光量子便具有最高的能量和最短的波长，这波长即为λo。
λo=1.24/V。
4，特征X射线谱：概念：在连续X射线谱上，当电压继续升高，大于某个临界值时，突然在连续谱的某个波长处出现强度峰，峰窄而尖锐，改变管电流、管电压，这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变，即波长只与靶的原子序数有关，与电压无关。
因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征、所以叫特征x射线，由特征X射线构成的x射线谱叫特征x射线谱，而产生特征X射线的最低电压叫激发电压。
产生：当外来的高速度粒子(电子或光子)的动aE足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，或击到原于系统之外，或使这个电子填到未满的高能级上。
于是在原来位置出现空位，原子的系统能量因此而升高，处于激发态。
这种激发态是不稳定的，势必自发地向低能态转化，使原子系统能量重新降低而趋于稳定。
这一转化是由较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁的方式完成的，电子由高能级向低能级跃迁的过程中，有能量降低，降低的能量以光量子的形式释放出来形成光子能量，对于原子序数为Z的确定的物质来说，各原子能级的能量是固有的，所以．光子能量是固有的，λ也是固有的。
材料分析方法总结
材料分析方法总结材料分析方法是指一套用于对材料进行结构、成分、性能等方面的分析与测试的手段和技术。
材料分析方法的选择和应用能够帮助科研人员、工程师等从不同的角度了解材料的实际情况，进一步改进材料的性能，提高材料的应用价值。
本文将从几个主要的材料分析方法进行总结。
1.光学分析方法光学分析方法是利用光学原理对材料进行观测、测量和分析的方法。
常见的光学分析方法包括光学显微镜观察、扫描电子显微镜(SEM)观察、透射电子显微镜(TEM)观察等。
这些方法可以用来观察材料的表面形貌、内部结构、晶体缺陷等，对材料的性能和结构进行分析。
2.物理分析方法物理分析方法是通过对物理性质的测量与测试来分析材料的方法。
常见的物理分析方法包括热分析、电学测试、磁学测试等。
热分析方法可以通过对材料在不同温度下的热行为进行测试，了解材料的热稳定性、热膨胀性等；电学测试可以通过测量材料的导电、绝缘性能等来了解材料的电学特性；磁学测试可以测量材料的磁性，包括磁化率、磁导率等。
这些方法可以用来分析材料的物理性质以及材料与外界的相互作用。
3.化学分析方法化学分析方法是通过对材料进行化学性质的测量与测试来分析材料的方法。
常见的化学分析方法包括光谱分析、质谱分析、电化学分析等。
光谱分析可以通过测量材料对光的吸收、发射等来推断其成分，可以用来分析材料的种类、含量等；质谱分析可以通过测量材料中的分子或原子的质谱图谱来分析其化学成分；电化学分析可以通过测量材料在电场或电流的作用下的化学反应来分析其化学性质。
这些方法可以用来分析材料的成分、结构和化学性质等。
4.结构分析方法结构分析方法是通过对材料的晶体结构、分子结构等进行表征和分析来了解材料的性质和性能。
常见的结构分析方法包括X射线衍射分析、核磁共振分析、电子衍射分析等。
X射线衍射分析可以通过测量材料对X射线的散射来推断其晶体结构；核磁共振分析可以通过测量材料中原子核的共振频率来了解其分子结构。
这些方法可以用来研究材料的晶体结构、分子结构、晶格缺陷等。
现代材料分析方法 期末考试 要点总结
1.X 射线与物质的相互作用？光电效应？莫塞莱定律？作用：（1）宏观效应----X 射线强度衰减 （2）微观机制----X 射线被散射,吸收.1散射---相干散射,康谱顿散射2吸收---产生光电子,二次荧光,俄歇电子光电效应：原子中的电子处在不同的能级上，当入射光子的能量超过内层电子的轨道结合能，就可以发生光电离过程，产生光电子2.X 射线衍射的充分必要条件？极限条件？简单点阵的消光规律必要条件：满足布拉格方程充分条件：满足消光规律极限条件：能够被晶体衍射的电磁波的波长必须小于参加反射的晶面中最大面间距的二倍 λ <2d3.X 射线衍射的方法及其特点？SAXS ？如果试样具有不同电子密度的非周期性结构（晶区和非晶区），则X 射线不被相干散射，有波长的改变，并在小角度上测定，称为小角X 射线散射（SAXS ） 4.XRD 的应用？晶粒度的测定公式？1、固体结构分析2、物相定性分析3、物相定量分析4、晶粒大小分析5、非晶态结构分析，结晶度分析6、宏观应力与微观应力分析7、择优取向分析5 XRD 定性分析的原理？1各种物质都有自己特定的结构参数（点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的数目、位置等），结构参数不同则X 射线衍射花样也就各不相同。
2当多种物质同时衍射时，其衍射花样也是各种物质自身衍射花样的机械叠加。
它们互不干扰，相互独立，逐一比较就可以在重叠的衍射花样中剥离出各自的衍射花样，分析标定后即可鉴别出各自物相。
6 电磁透镜？TEM 成像原理？TEM 分辨率及其影响因素？景深及其影响因素？衍射方法 λ θ 适用试样劳埃法 变 不变 单晶 转晶法 不变 变 单晶 德拜-谢乐法 不变 变 多晶 粉末法 不变 变 多晶电磁透镜：在电子显微镜中由电磁线圈产生的磁场所构成的透镜，用以将电子枪的束斑缩小TEM成像原理：透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像，投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
材料分析方法1．x射线是一种波长很短的电磁波，具有波粒二相性，粒子性往往表现突出，故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。
X射线有可见光无可比拟的穿透能力，可使荧光物质发光，可使气体或其它物质电离等。
2．相干散射：亦称经典散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。
这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。
新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。
3．不相干散射：亦称量子散射，X射线光子与束缚力不大的外层电子，或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。
4．吸收限：物质原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降，但随着波长的的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。
5．荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X 射线，二次X射线）。
6．俄歇效应：由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式，及俄歇效应。
原子中一个K层电子被入射光量子击出后，L层一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量子放出，而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。
7．光电子：当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时，此光量子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子。
原子则处于激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。
8．滤波片的作用：滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的，用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。
9．布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。
10．晶面（hkl）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL）表示，称为反射面或干涉面。
11．掠射角是入射角（或反射角）与晶面的夹角，可表征衍射的方向。
12．衍射极限条件：在晶体中，干涉面的划取是无极限的，但并非所有的干涉面均能参与衍射，因存在关系dsinθ=λ/2,或d>=λ/2,说明只有间距大于或等于X 射线半波长的那些干涉面才能参与反射。
13．劳埃法：采用连续X射线照射不动的单晶体，因为X射线的波长连续可变，故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。
14．周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。
15．粉末法：采用单色X射线照射多晶体，试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。
16．吸收因数：由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，为了修正这一影响，则在强度公式中乘以吸收因数。
17．温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而使衍射强度减弱。
为修正实验温度给衍射强度带来的影响，需要在积分强度公式中乘以温度因数。
18．物相定性分析的原理：X射线衍射分析是以晶体结构为基础的。
每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子（离子或分子）的数目及其位置等，而这些参数在X射线衍射花样中均有所反映。
尽管物质的种类有千千万万，但却没有两种衍射花样完全相同的物质。
某种物质的多晶体衍射线条的数目、位置及强度，是该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。
19．如果不仅要求鉴别物相的种类，而且要求测量各物相的相对含量，就必须进行定量分析。
物相定量分析的依据：各相的衍射线的强度随该项含量的增加而提高。
由于各物相对X射线的吸收不同，使得“强度”并不正比于“含量”，而需加以修正。
20．非晶态物质最主要的特征是短程有序，长程无序。
非晶态与晶态结构的主要区别为长程无序。
结构均匀，各向同性也可视为非晶态材料的特征。
非晶态结构属于亚稳结构，因其自由能总较晶态为高，故有自发向晶态转化的趋势。
非晶物质的衍射图有少数漫散射峰组成，可利用此特征来鉴别物质属于晶态还是非晶态。
21．物体内应力引起衍射峰如何变化：（1）第一类内应力，宏观应力的衍射效应是使衍射线位移。
（2）第二类内应力，其衍射效应主要是引起线形的变化。
（3）第三类内应力，此类应力的存在使衍射强度降低。
22．X射线法通过测量弹性应变求得应力值。
23．电子波的有优势：电子波的波长要比可见光小5个数量级，可以明显提高显微镜的分辨率。
24．透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置是电磁透镜。
25．像差：分两类，即几何像差和色差。
几何像差是因为透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的。
几何像差主要指球差和像散。
色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。
（1）球差，即球面相差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的。
可以矫正。
（2）像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的。
可以用消像散器来校正。
（3）色差是由于入射电子波长（或能量）的非单一性所造成的。
26．衍射效应对分辨率的影响。
若只考虑衍射效应，在照明光源和介质一定的条件下，孔径角α越大，透镜的分辨率越高。
27．像差对分辨率的影响。
因为电磁透镜总是会聚透镜，所以球差便成为限制电磁透镜分辨率的主要因素。
提高电磁透镜分辨率的主要途径是提高加电压（减小电子束波长λ）和减小球差系数Ca。
28．景深：把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，用Df表示；把透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦长，用Dl表示。
29．透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器，分三部分，即照明系统、成像系统和观察记录系统。
30．电子衍射的原理和X射线衍射的异同：（1）相同点：都是以满足（或基本满足）布拉格方程作为产生衍射的必要条件。
两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上也大致相似。
多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环，单晶衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点组成，非晶态物质的衍射花样只是有一个漫散射的中心斑点。
（2）相异点：1）电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角θ很小，约为0.01rad<1°，而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近п/2。
这是两者之间区别的主要原因。
2）在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，薄晶样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状，因此，增加了倒易阵点和埃瓦尔德球相交截的机会，结果使略为偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
3）因为电子波的波长短，采用埃瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角θ较小的范围内反射的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以人为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。
4）原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力（约高出四个数量级），故电子衍射束的强度较大，适合于微区分析，且摄取衍射花样时曝光时间仅需要数秒钟。
31．超点阵斑点：当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同种原子产生有序排列时，将引起其电子衍射结果的变化，即可以使本来消光的斑点出现，这种额外的斑点称为超点阵斑点。
32．材料在凝固、相变和形变的过程中，晶体内的一部分相对于基体按一定的对称关系生长，即形成了孪晶。
33．晶体中基体和孪晶的对称关系：若以孪晶面为镜面，则基体和孪晶的阵点以孪晶面作镜面反映。
若以孪晶面得法线为轴，把图中下方的基体旋转180度也能得到孪晶的点阵。
34．消光距离：强烈的力学相互作用，使得I。
和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡，振荡的深度周期叫做消光距离。
35．衍衬运动学的两个假设：1）双光束近似：假定电子束透过薄晶体试样成像时，除了透射束外只存在一束缴枪得衍射束，而其他衍射束却大大偏离布拉格条件，它们的强度均可视为零。
2）柱体近似：把薄晶体下表面上每点的衬度和晶柱结构对应起来处理的方法称为柱体近似。
36．等倾干涉：同一条纹相对应的样品位置的衍射晶面的取向是相同的（s相同），即相对于入射束的倾角是相同的，所以这种条纹称为等倾干涉。
37．等厚干涉：38．衍衬运动学和动力学的区别在于，动力学理论考虑了透射束与衍射束之间的交互作用。
运动学理论适用于衍射晶面相对于布拉格反射位置有较大的偏离量。
39．电子探针的功能主要是进行微区分析。
40．应用波谱仪（WDS）进行元素分析时，应注意下面几个问题：1）分析点的位置。
在分析时必须使目的物和电子束重合，其位置正好位于光学显微镜目镜标尺的中心交叉点上。
2）分光晶体固定后，衍射晶面的面间距不变。
41．能谱仪（EDS）成分分析的特点：（1）优点，和波谱仪相比，能谱仪有以下优点：1）能谱仪Si（Li）晶体对X射线的检测效率比波谱仪高一个数量级。
2）能谱仪可在同一时间内对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素的特征波长。
3）能谱仪的结构比波谱仪简单，没有机械传动部分，因此稳定性和重复性都很好。
4）能谱仪不必聚焦，因此对样品表面没有特殊要求，适于粗糙表面的分析工作。
（2）缺点：1）分辨率比波谱仪低。
2）因为Si（Li）检测器的钛窗口限制了超轻元素X射线的测量。
3）Si（Li）探头必须保持在低温状态，因此必须时时用液氮冷却。
42．样品在电子束的轰击下会产生各种信号：1）背散射电子：是被固体样品中的原子反弹回来的已部分入射电子，其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
背散射电子样品表层几百纳米的深度范围，它不仅能用作形貌分析，还可以用来显示原子序数衬度，定性地用作成分分析。
2）二次电子：在入射电子束作用下被轰击并离开样品表面的样品原子的核外电子。
二次电子的能量较低，一般都是在表层5-10mm深度范围内发射出来的。
能非常有效地显示样品的表面形貌，不能用它来进行成分分析。
3）吸收电子：入射电子进入样品之后，经多次非弹性散射能量损失殆尽，最后被吸收。
吸收电子能产生原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。
4）如果被分析的样品很薄，那么就会有一部分入射电子穿过薄样品而成为透射电子。
其是由直径很小的高能电子束照射薄样品而产生的，可以利用特征能量损失电子配合电子能量分析器来进行微区成分分析。
5）特征X射线：当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时，原子就会处于能量较高的激发态，此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而使具有特征能量的X射线释放出来。
如果我们用X射线探测器测到了样品微区中存在某一种特征波长，就可以判定这个微区中存在着相应的元素。
6）俄歇电子：在入射电子激发样品的特征X射线过程中，如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以X射线的形式发射出去，而是用这部分能量把空位层内的另一个发射出去或使空位的外层电子发射出去，这个被电离出来的电子就被称为俄歇电子。