布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 11-SampleDef-样品定义

合集下载

xrf(x荧光光谱仪)技术指标

xrf(x荧光光谱仪)技术指标

xrf(x荧光光谱仪)技术指标XRF 技术指标基本性能参数分辨率:能量分辨率,以电子伏特 (eV) 表示,描述仪器区分不同能量 X 射线的能力。

灵敏度:检测下限,以质量浓度或计量单位表示,描述仪器检测特定元素的最低水平。

稳定性:仪器在一段时间内保持稳定测量结果的能力,通常用计数率的变化表示。

重复性:相同样品在相同测量条件下多次测量的结果一致性,通常用相对标准偏差 (RSD) 表示。

线性范围:仪器测量结果与样品中元素浓度之间保持线性关系的浓度范围。

激发源:产生 X 射线辐射的组件,可以是 X 射线管或放射性同位素。

光学元件:柱状准直器、单色器和探测器,用于处理来自激发源的 X 射线,以提高分辨率和信噪比。

探测器:光电倍增管或半导体探测器,用于检测 X 射线并将其转换为电信号。

数据处理参数分析软件:用于处理和分析 XRF 谱数据的软件,包括定性和定量分析功能。

校准:使用已知浓度的标准样品建立测量结果与元素浓度之间的关系。

定量方法:用于计算样品中元素浓度的算法,例如基本参数法和校准曲线法。

尺寸:仪器的物理尺寸和重量。

功耗:仪器在运行期间消耗的电力。

工作温度:仪器正常运行所需的温度范围。

环境要求:仪器正常运行所需的相对湿度、气压和振动水平等环境条件。

其他考虑因素应用:仪器的适用范围,例如元素分析、材料表征或环境监测。

样品类型:仪器可以分析的样品类型,例如固体、液体或气体。

自动化程度:仪器自动执行测量、处理和分析的能力。

用户界面:仪器操作的难易程度和直观性。

技术支持:制造商提供的技术支持水平,例如维护、维修和软件更新。

布鲁克Bruker---X射线荧光光谱分析原理与技术

布鲁克Bruker---X射线荧光光谱分析原理与技术
X射线荧光光谱分析技术
一、基础理论 二、仪器的结构与分析条件的选择 三、定量分析方法和基体效应校正 四、SPECTRAplus 软件介绍
Folie.1 © 2001 Bruker AXS All Rights Reserved
一、基础理论
X射线的产生
连续谱线 特征谱线

X射线的性质
吸收 散射 衍射
X射线的发生: 改变电压和电流对原级谱线 的影响(如何选择电压、电流参数)
电流的影响
Folie.25 © 2001 Bruker AXS All Rights Reserved
X射线的发生: 改变电压和电流对原级谱线 的影响(如何选择电压、电流参数)
电压的影响
Folie.26 © 2001 Bruker AXS All Rights Reserved
原理图
X射线光管发射的原级X射
样品
线入射至样品,激发样品 中各元素的特征谱线
分光晶体将不同波长l的X
射线分开
计数器记录经分光的特定
波长的X射线光子 N
根据特定波长X射线光子
N的强度,计算出与该波 长对应的元素的浓度
Folie.15 © 2001 Bruker AXS All Rights Reserved
X射线的特性:散射
产生背景的原因
Bremsspectra of a Rh tube
Cu KA1
LiF(200)
Ni KA1 Fe KB1 Fe KA1
Background radiation
40 2 Theta
Cr KA1
80
Folie.29 © 2001 Bruker AXS All Rights Reserved

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 2-应用SPECTRA plus作你的第一条回归曲线

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 2-应用SPECTRA plus作你的第一条回归曲线

应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线目录应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线简介建立校准曲线了解校准曲线工具箱开始作校准曲线Si KA1 HS-Min的校准曲线如何检查计算的浓度是否被接受P KA1-HS-Min 的校准曲线S KA1 HR-Min的校准曲线V KA1-HS-Min的校准曲线Cr KA1-HS-Min的校准曲线Mn KA1-HR-Min的校准曲线V KA1 HS-Min的校准曲线Ni KA1-HS-Min的校准曲线Cu-KA1-HS-Min的校准曲线漂移校正/重校正低合金未知样品的测量使用Results Monitor功能监视分析结果查询结果转移结果再评估测量数据结论简介本教学课程包括下列内容,以便使你熟悉制作校准曲线的过程:l建立校准曲线l组织材料l输入标准浓度到数据库l定义测量方法l了解校准曲线工具l校准已测量的低合金样品l用低合金曲线测量未知样品l使用结果管理器按照这一部分的介绍,你可以一步一步地制作你的第一条校准曲线。

使用一套BCS低合金标样,SPECTRA plus谱线库中预定义的谱线及扫描测量模式,你的任务是绘制低合金样品的校准曲线。

由于所有的样品已经在德国Bruker AXS 公司测量过,不需要在你的仪器上进行实际的测量。

为了得到所显示的相同结果,必须仔细地按照所有步骤进行。

建立校准曲线从SPECTRA plus程序或桌面打开Quantification Editor (FQuant) 程序。

图 1 桌面上的Spectra Plus程序文件夹选择 File > New.选择左侧(引导窗口一侧) "Materials" 。

在右侧出现一个对话框,并列出一个或多个预定义的材料。

图 2 材料页在"Material Groups" 材料组窗口中,选择"Tutorial"教学材料组(如果它不存在的话,请输入Tutorial并且点击新文件按钮(红圈), 见下面注解)。

X射线荧光光谱仪介绍

X射线荧光光谱仪介绍

X-射线荧光光谱仪(XRF)1、仪器介绍X-射线荧光光谱仪(XRF),现有日本Rigaku公司生产的ZSX primus波长色散型XRF一台,及配套所必须的电源设备、冷循环水设备和前处理熔样机等。

X射线荧光光谱分析技术制样简单、分析快速方便、应用广泛,可用于测定包括岩石、土壤、沉积物等在内的各种地质样品的化学组成。

分析元素范围从Be(4)到U(92),最常见的是用于主量元素分析,如SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3T、K2O、MgO、MnO、Na2O、P2O5、TiO2、LOI等元素。

2、仪器功能和技术参数:(1) 功能:定性分析、半定量分析和定量分析;(2) X射线管:4KW超薄端窗型(30μm)、铑靶X射线管;(3) 分光晶体:LiF(200)、Ge(111)、PET、RX25、LiF(220);(4) 进样器:48位自动样品交换器;(5) 测角仪:SC:5-118度(2θ);PC:13-148度(2θ);(6) 分析元素范围:Be4-U92;(7) 线性范围:10-2 - 10-6;(8) 仪器稳定度:≤0.05%;(9) 测量误差:<5%。

3、应用和优势:XRF应用广泛,可用于岩石、矿物、土壤、植物、沉积物、冶金、矿业、钢铁、化工产品等样品中常量和痕量的定量分析。

具有快速方便、制样简单、无损测量、分析元素宽、灵敏度高等优点。

X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF)1、I nstrument Introducation:The wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometer (XRF) is ZSX primus, made by Rigaku, Japan, with a set of instruments of electrical power unit, cold circulating water equipment and automatic fusion machine. XRF is widely used for geological element analysis, including rocks, soils, sediments, etc, which is simplicity and convenience of operation. Its analyzable elements range is from Be (4) to U (92). XRF is most common for the analysis of major elements, such as SiO2, Al2O3, CaO, Fe2O3T, K2O, MgO, MnO, Na2O, P2O5, TiO2 and LOI.2、Instrument Technical Parameters:(1) Fucation: qualitative analysis, semi-quantitative analysis and quantitative analysis;(2) X-ray tube: 4KW ultrathin end-window (30μm) Rh target X-ray tube;(3) Analyzing crystals: LiF(200), Ge(111), PET, RX25, LiF(220);(4) Sample injector: 48-bit automatic sample changement;(5) Angular instrument: SC: 5-118°(2θ); PC: 13-148°(2θ).(6) Analyzable elements range: Be4-U92;(7) Linear range: 10-2 - 10-6;(8) Stability: ≤0.05%;(9) Analysis error: <5%.3、Application and advantageXRF is widely used to analy major elements and trace elements in geological rocks, minerals, soils, plants, sediments, metallurgy, mining industry, steel, chemical products, etc. It is fast, convenient, simple, nondestructive, widely used and high sensitivity.。

XRF X射线荧光光谱测试介绍

XRF X射线荧光光谱测试介绍

溴系阻燃剂(BFR)
常用的工業溴系阻燃剂共有75种化学物质,各有不同的性质、特性和功能 这些物质唯一的共通点:全都含溴元素-一种可从自然界获得的元素 溴系阻燃剂被广泛添加于电气电子设备用的塑料中以延缓或阻止火花的点燃,
就全球阻燃劑用量而言,溴系約占鹵系的80%,至于品種,則溴系比氯系多的多. 其中最主要的工業溴系阻燃劑是十溴二苯醚和四溴雙酚A(PCB及計算機外殼), 兩者的產量約占溴系阻燃劑的50%,另一個重要的阻燃劑是六溴環十二烷.目前 全球電子產品使用的阻燃劑約有80%是溴系阻燃劑. 溴系阻燃劑如此大量應用的原因如下: 阻燃效率高;它可在氣相(主要)及凝聚相同時發揮作用,故 所需量少,性
3.IEC 61249-2-21規定的無鹵是氯,溴元素占均質材料的百分比小 于900PPM,而且需要滿足氯,溴元素總量占均質材料的百分比小于 1500PPM, 富士康根據IEC 61249-2-21來定義無鹵的限定值.
鹵素阻燃劑的發展
1930年,人們發現了鹵系阻燃劑(如氯化石蠟)與氧化銻的協同阻 燃效應,
环境有害的物质。
(Article 7,
P63-66)
注:1.配制品: 由两种或两种以上物质组成的混合物或溶液,合金是配制品 ( P242 ),其中的金属成分≥1吨/ 年需注册; 2.物品: 由一种或多种物质组成的物体,其在生产过程中具有特定形状、外 观或设计方案,其设计方案比其化学成分更能决定其最终使用功能.
地區或國家法規
歐盟指令 2002/95/EC RoHS 實施 89/677/EEC 修改 76/769/EEC 2002/45/EC 修改 76/769/EEC
2003/11/EC 修改 76/769/EEC
2006/122/EC 修改 76/769/EEC

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 11-SampleDef-样品定义

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 11-SampleDef-样品定义

SAMPLEDEF目录1 启动1.1 为什么使用SAMPLEDEF1.1.1 LOADER 和DEF 文件1.1.2 使用几个DEF文件1.1.3 在SPECTRA plus数据里样品定义表的互动1.2 启动SAMPLEDEF2 使用SAMPLEDEF2.1 列的管理2.1.1 创建新列2.1.2 在列表里工作2.1.3 设置列的选项2.2 定义列的类型2.3 选择数据类型2.3.1 指定列内容的数据类型2.3.2 设置为数字数据类型的选项2.3.3 设置为字符数据类型的选项2.3.4 设置为组合数据类型的选项2.3.5 设置为字符串数据类型的选项3 教材:使用SAMPLEDEF 设置标准样品定义表步骤一启动SAMPLEDEF步骤二创建位置列步骤三创建样品列步骤四创建方法列步骤五创建SSD-文件列步骤六创建样品颜色步骤七创建样品尺寸列步骤八创建Sample-ID-样品编号列步骤九创建制样方法列步骤十创建类型列步骤十一保存和测试样品定义表步骤十二从LOADER运行样品定义表索引1 启动1.1 为什么使用SAMPLEDEF1.1.1 LOADER 和DEF 文件我们可以通过LOADER程序把样品交付到测量程序。

为此,需建立样品与进样器位置、测量程序、样品编号之间的联系,以便日后查询数据。

还可以增加其他参数(如样品的稀释比、流水号等等)。

在SPECTRA plus,这些样品信息都在SampledDef里定义。

输入界面,即:样品定义表里的各个列,是在扩展名为DEF的文件里定义的。

这些DEF文件可以在SAMPLEDEF创建。

1.1.2 使用几个DEF文件如何建立样品与仪器的联系有很多不同的方法,最简便的方法是接近实验室的实际工作,下面举例说明:1 样品从不同的工厂送来,并且需要区别,测量方法可以在已建立的方法里选,等等;2 不同班次的工人用相同的分析方法测量同样的样品,只需要让仪器知道需要测量的样品在进样器的位置。

XRF使用手册

XRF使用手册

XRF使用手册1.2主要组成部分的概述X射线荧光光谱的核心扫描仪由五个主要部分组成:1)核心扫描器与直流电动机致动的X-轴和Z轴为Z-轴,不锈钢轴承,不锈钢透视安全外壳透视安全窗口进行目视检查,电机驱动门和机械的核心配件。

2)智能扫描电子与精确定位功能,集成安全联锁、触摸屏故障的发现和手动控制机制,可编程逻辑控制功能。

3)强制空气冷却牛津100瓦特透视源与阳极铑的电压范围是4......50 kV和电流范围0...2毫安。

4)堪培拉X - 点子1500-1.5检测器:8毫米2准直到5 mm2,晶体厚度1.5毫米窗口:0.5密耳(焊接,涂)堪培拉DSA1000(MCA)5)个人电脑运行在Windows XP下完全自动化的数据采集和处理软件。

注:在X-射线源和X射线检测器中含有铍作为窗户透视透明剥离之间的真空和大气条件。

铍是有毒的材料!2安装2.1要求电力:XRF核心的扫描仪需要一个电连接到230 V / 50 - 60Hz的电源净值。

“连接应融合与16安培。

请参阅附录4.1的电气规格。

氦气:在X射线荧光光谱测量氦气是必要的。

其X-射线吸收率很低。

氦气的压力应该调整在0.5 (1)巴的压力调节器。

在X射线荧光测量的所需的氦气流是约10 ...30毫升/分钟,大约200天可以使用一瓶(200bar/50L)3运行3.1警告产生的X射线源是危险的,如果遇到了,可能是致命的。

要特别注意工作时,该设备必须行使。

任何人都必须佩戴辐射剂量计工作或观察该设备操作。

买家计划安装的辐射机应确保他们遵守当地法规。

见附录4.4辐射安全数据表。

3.2功能描述在切换之前对核心扫描器的压缩的空气从外部空气源,例如压缩机应连接。

氦气瓶必须打开。

主开关切换到位置“ON”(请务必将‘EMERGENCY STOP’按钮复位)主开关启动大约30秒后Avaatech的标志将出现在触摸屏幕上。

通过触摸屏幕主菜单页会显示出来。

用个人电脑来操作扫描仪,扫描仪应设置在“REMOTE”模式。

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 7-MeasMethod-测量方法

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 7-MeasMethod-测量方法

MeasMethod测量方法目录1 开始1.1 MEASMETHOD 的目标1.2 屏幕导向1.3 管理MEASMETHOD 文件1.3.1 启动MEASMETHOD 和创建新的测量方法1.3.2 打开和保存测量方法2 设置测量方法2.1 设置测量参数2.2 选择测量的元素2.2.1 在无标样方法2.2.2 在定量方法2.3 选择分析谱线2.4 查看和管理需要测量的谱线2.5 设置测量模式和时间2.5.1 理论知识介绍2.5.2 设置测量模式时需考虑的事项2.5.3 设置测量时间2.5.4 设置峰位测量2.5.5 设置背景测量2.5.6 设置死时间校正模式2.5.7 Scan-扫描选项的说明2.5.8 Fixed-固定选项的说明2.5.9 Optimized –优化选项的说明2.6 重校正选项索引MeasMethod1 开始1.1 MEASMETHOD 的目标MEASMETHOD保存和编辑MM文件,即定义用光谱仪测量样品时的测量参数。

这些参数包括:・光谱仪模式(vacuum-真空;vacuum with seal,真空并有真空封档,helium-氦气)・样品是否旋转・准直器面罩型号・测量模式・测量的元素及谱线・测量时间和步长・重校正样品谱线是保存在谱线库(S4-LineLibrary.fll1),并在MEASPARAMETERS 程序里编辑。

谱线由下列参数定义:X-射线管的管压、滤片、所用的准直器、分光晶体,2θ测量位置,所用的探测器、及对应的脉冲高度分析器(PHA)的窗口。

根据Siegbahn命名法则,谱线名称反映了电子的跃迁和产生(如 Fe KA1 是铁的Ka1 谱线)。

因此,同一条谱线可用于多个测量方法;可以在不同的条件(如:气氛模式、测量时间、面罩…)的测量,并可用于不同定量程序的校准。

测量条件在MEASMETHOD里定义,并补充该谱线的测量参数。

1.2 屏幕导向MEASMETHOD 屏幕包括:・标题内容有:项目说明Elements 当前方法测量的元素数Lines: Total 当前所选元素在谱线库可选的谱线总数(注意,如果没有元素被选时,也包括Compton 谱线)Total Time 如果测量是设置为Fixed,测量总时间Active 测量的谱线数Created 创建日期Last Change 最后修改・可进入6个设置选项栏。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

SAMPLEDEF目录1 启动1.1 为什么使用SAMPLEDEF1.1.1 LOADER 和DEF 文件1.1.2 使用几个DEF文件1.1.3 在SPECTRA plus数据里样品定义表的互动1.2 启动SAMPLEDEF2 使用SAMPLEDEF2.1 列的管理2.1.1 创建新列2.1.2 在列表里工作2.1.3 设置列的选项2.2 定义列的类型2.3 选择数据类型2.3.1 指定列内容的数据类型2.3.2 设置为数字数据类型的选项2.3.3 设置为字符数据类型的选项2.3.4 设置为组合数据类型的选项2.3.5 设置为字符串数据类型的选项3 教材:使用SAMPLEDEF 设置标准样品定义表步骤一启动SAMPLEDEF步骤二创建位置列步骤三创建样品列步骤四创建方法列步骤五创建SSD-文件列步骤六创建样品颜色步骤七创建样品尺寸列步骤八创建Sample-ID-样品编号列步骤九创建制样方法列步骤十创建类型列步骤十一保存和测试样品定义表步骤十二从LOADER运行样品定义表索引1 启动1.1 为什么使用SAMPLEDEF1.1.1 LOADER 和DEF 文件我们可以通过LOADER程序把样品交付到测量程序。

为此,需建立样品与进样器位置、测量程序、样品编号之间的联系,以便日后查询数据。

还可以增加其他参数(如样品的稀释比、流水号等等)。

在SPECTRA plus,这些样品信息都在SampledDef里定义。

输入界面,即:样品定义表里的各个列,是在扩展名为DEF的文件里定义的。

这些DEF文件可以在SAMPLEDEF创建。

1.1.2 使用几个DEF文件如何建立样品与仪器的联系有很多不同的方法,最简便的方法是接近实验室的实际工作,下面举例说明:1 样品从不同的工厂送来,并且需要区别,测量方法可以在已建立的方法里选,等等;2 不同班次的工人用相同的分析方法测量同样的样品,只需要让仪器知道需要测量的样品在进样器的位置。

当然,很多实验室需要进行上述两样的工作,甚至更多。

这就是为什么实验室需要多个样品定义表。

特定的样品定义表(DEF 文件)可以保存选项,从而避免输入错误。

如:样品类型强制规定为液体,就可以避免在真空光路测量液体样品。

标准的样品定义表是随SPECTRA plus交付的,(Routine.def 在\Libraries\MeasMethods\)。

这个表是通用的表,可以在SAMPLEDEF里进行个性化设定。

还可以在SAMPLEDEF里建立新的样品定义表。

1.1.3 在SPECTRA plus数据里样品定义表的互动SPECTRA plus的数据由数据库管理;因此这结构是弹性的,并很容易查询数据,并且在实验室里所有用户都共享数据;但这也意味着限制。

已测量样品的参数是保存在名为Measure.mdb的数据库,默认是保存在C:\SPECplus\Databases。

因此,DEF文件单元的定义是与数据库里的单元相关。

有些数据是固定的,它们的结构(名称单元、数据类型、可能的值)是固定的。

如果不满足这些结构,LOADER拒绝使用这些表。

某些功能,如计算样品的灼烧减量(LOI),并且可以使用预定义区域;如果这些单元的结构不正确,也会使这些功能失效。

用户能定义自己的数据,如流水号,参考样品,样品的原始重量,等等。

在这些情况下,在Measure.mdb 数据库里创建单元区,这些单元区可以在QUERYRES 里查询和显示。

在此情况下,格式没有限制,除非它永远不改变,因此,在开始时就需要定义。

一旦DEF文件启用后,就不应该改变单元的定义;但可以增加新的单元。

SAMPLEEDF仅是SPECTRA plus的一个组成部分,它需要程序逻辑技巧。

幸运的是,不是经常碰到。

事实上,绝大多数用户很可能永远都不用使用SAMPLEEDF。

但是,如果有必要,记住:·咨询BRUKER AXS 的应用专家·修改已有的样品定义表比创建新表更简单,例如从Routine.def 里拷贝一个复件,然后再进行修改。

注意:如果没有深入测试过,千万不要使用全新编制的DEF文件。

1.2 启动SAMPLEDEF在Windows Explorer 或 My Computer中双击SAMPLEDEF.EXE 的图标:SAMPLEDEF.EXE 程序是默认安装在C:\SPECPlus\2 使用SAMPLEDEF2.1 列的管理2.1.1 创建新列SAMPLEDEF 的目标是设计您所需要的样品定义表(在LOADER 中的输入界面)。

在本程序,设置组成样品定义表的列。

创建新列:1 单击New column 按钮:SAMPLEDEF 创建一个新单元并且把单元放在可编辑单元2 在该单元,输入需要创建的列的名称,然后回车。

2.1.2 在列表里工作在样品定义表里,全部列重新分组。

在此表中,可以:·删除列:点击需要删除的列,然后再单击Delete column 按钮。

·改变某列在样品定义表里的次序:LOADER 根据在列表里的次序显示各列。

改变某列在列表里的次序:1 单击需要移动的列;2 根据往上或往下移动的需要,单击Up 或 Down 按钮。

2.1.3 设置列的选项创建了新列后,可以对新建立的列设置各选项:选项说明Facultative value 选择此复选框,表示用户允许当前列空白。

Unique key 功能当前未可可用(这功能可以检查各样品该单元的值是否是唯一的)Hidden from user 用户界面隐藏选择此复选框,用户在编辑样品定义表时该列是隐藏的。

例子:该列包含根据前面的列的计算结果,或是强制值。

Copy from previous 从前面拷贝如果该列的新样品需要SAMPLEDEF默认使用以前样品,选择此复选框。

Printable column 可打印列如果当前列在进样器打印输出或在虚拟进样器鼠标指向样品时弹出框显示,选择Printable Column 复选框。

注意:如果在隐藏的列(即选用了Hidden from user 复选框)选择Printable。

在此情况下,该列的信息只可在LOADER 打印输出或样品的弹出框里看到。

Read-Only value只读数据选择此复选框,该列对用户是只读的,即该数据不能被修改。

2.2 定义列的类型测量数据库(Measure.mdb) 的单元里保存了样品的绝大部分属性。

例如:样品位置、样品编号,等等。

在SAMPLEDEF,通过定义当前列类型,指定测量数据库当前列特定单元的内容。

注意,该列所含的内容不必是系统已有的列类型,即所谓的Local Definition。

下表归纳了SAMPLEDEF里可选的列类型:列的类型说明Database Definition 数据库定义测量数据库(measure.mdb)里对应的单元。

如果该单元在Measurement 数据库里不存在,SAMPLEDEF 会创建。

Local Definition 该列不是Measurement 数据库里的组成部分Loader Position进样器位置保存样品在进样器位置的信息。

Sample Color 样品颜色保存样品在进样器里显示的颜色。

有效地使用该功能,根据用户实验室的规定,对不同的样品使用不同的颜色。

1=黑色;2=红色;3=绿色;4=黄色,5=蓝色;6=洋红;7=青色;8=白色Sample Type 样品类型保存将要测量样品的类型:1=禳边压片;2=熔片;3=液体;4=块状;5=松散粉末Sample Size 样品尺寸虚拟进样器里样品显示的尺寸。

1=30mm, 2=40mm, 3=51mmAnalytical method 分析方法用measurement Method 程序方法创建,保存在MM 文件里对应的分析方法。

SSD File NameSSD 文件名保存测量数据的SSD文件Compound化合物在测量数据库里保存模拟(非测量)化合物的名称SSD ReferenceSSD 样品编号保存在SSD文件里的样品编号Preparation name制样方法创建样品时保存的制样方法Calibration Method校准方法评估测量数据所用的校准文件(FCL文件)定义列类型:·在列类型表,单击所选列的类型2.3 选择数据类型2.3.1 指定列内容的数据类型在SAMPLEDEF,可以对当前列的数据定义类型:数据类型在Sample Definition table 的数据类型用户只能输入数值Numeric数字用户能输入任何信息。

Character文本下拉式菜单,用户选择输入信息Combo下拉菜单该类型不能自动计算来自其他列、或其他给定的数值。

String字符串对当前的列定义类型:1 在数据类型表,点击数据类型;2 根据所选的数据类型,可以有下列选择,说明如下:2.3.2 设置为数字数据类型的选项·数值,用户在编辑样品定义表时,可以输入整数,float 或 double:在Allowed values 点击相应的选项。

·可以定义最小值、最大值,或甚至输入数值的范围。

定义最小值:选择From 复选框,然后在相应的单元输入最小值;定义最大值:选择To复选框,然后在相应的单元输入最大值;定义数值的范围,同时选择From 和 To 复选框,在对应的的单元里输入范围值。

·如果定义的数值的允许范围,就可以让LOADER根据系列号自动设置数值。

在此情形下,可以定义最初的数值,以及每两个数值的差值。

还可以定义这些重复的过程是往上或往下。

此外,还可以强迫LOADER 在范围的结尾进行循环。

1 在Iterative value,选择Initial(最初值) 和Step(步长)复选框,在相应的框子里输入相应的值。

2 单击 Increment (增量),使计数过程开始。

或3 如果希望LOADER 在设定范围的结尾是进行循环,选择Roll when limit is reached复选框。

2.3.3 设置为字符数据类型的选项·可以设置用户需要输入的字符链长度的最小值和/或最大值。

这是已证明是有效的,例如,样品需要在进样器的定义位置时(LOADER Position 选项在Data Type 数据类型表)。

设置字符长度的最小值和最大值:在Allowed 值,同时选择Minimum number of char 和Maximum number of char 两个复选框,然后在相应的数值输入最小值和最大值。

·可以限制字符的类型,因此用户只可以输入预先设置的内容:字符设置说明Full ASCII Set用户可输入任何类型的字符,甚至特别的字符,如,等等;全部 ASCII码用户只能输入a ~ z 的字母,大写或小写。

相关文档
最新文档