荧光光谱分析仪工作原理
X荧光光谱仪的工作原理 X荧光光谱仪工作原理
X荧光光谱仪的工作原理 X荧光光谱仪工作原理荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。
通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。
X荧光光谱仪的工作原理：X荧光光谱仪紧要由激发源（X射线管）和探测系统构成。
其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。
然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有确定特别性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。
此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有确定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。
由于X荧光具有确定波长，同时又有确定能量，因此，X 射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。
X荧光光谱仪的原理及应用X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X 光荧光）而进行物质成分分析和化学态讨论。
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。
X 射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
技术原理：元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有确定特别性波长的X射线，依据莫斯莱定律，荧光X射线的波长与元素的原子序数有关。
X-荧光光谱仪基本理论及工作原理
自从1895年伦琴发现X-射线以来，产生的X-射线仪器多种多样。
但是进入80年代，由于20世纪末，半导体材料和计算及技术的迅速发展，出现了Si(Li) 探测器技术和能量色散分析技术。
最近十几年在国际上一种新的多元素分析仪器迅速发展起来。
已经成为一种成熟的，应用广泛的分析仪器。
他就是X-射线荧光能谱仪,全称为：能量色散X-射线荧光光谱仪。
以下介绍一下这种仪器的情况：一. X-荧光能谱技术基本理论1．X-荧光物质是由原子组成的，每个原子都有一个原子核，原子核周围有若干电子绕其飞行。
不同元素由于原子核所含质子不同，围绕其飞行的电子层数、每层电子的数目、飞行轨道的形状、轨道半径都不一样，形成了原子核外不同的电子能级。
在受到外力作用时，例如用X-光子源照射，打掉其内层轨道上飞行的电子，这时该电子腾出后所形成的空穴，由于原子核引力的作用，需要从其较外电子层上吸引一个电子来补充，这时原子处于激发态，其相邻电子层上电子补充到内层空穴后，本身产生的空穴由其外层上电子再补充，直至最外层上的电子从空间捕获一个自由电子，原子又回到稳定态（基态）。
这种电子从外层向内层迁移的现象被称为电子跃迁。
由于外层电子所携带的能量要高于内层电子，它在产生跃迁补充到内层空穴后，多余的能量就被释放出来，这些能量是以电磁波的形式被释放的。
而这一高频电磁波的频率正好在X波段上，因此它是一种X射线,称X-荧光。
因为每种元素原子的电子能级是特征的，它受到激发时产生的X-荧光也是特征的。
注意，这里的X-荧光要同宝石学中所描述的宝石样品在X射线照射下所发出可见光的荧光概念相区别。
2．X荧光的激发源使被测物质产生特征X-射线，即X-荧光，需要用能量较高的光子源激发。
光子源可以是X-射线，也可以是低能量的γ-射线，还可以是高能量的加速电子或离子。
对于一般的能谱技术，为了实现激发，常采用下列方法。
a. 源激发放射性同位素物质具有连续发出低能γ-射线的能力，这种能力可以用来激发物质的X荧光。
便携式xrf工作原理 -回复
便携式xrf工作原理-回复便携式XRF（X射线荧光光谱分析仪）是一种广泛应用于科学研究、环境监测、工业生产等领域的分析仪器。
它能够非破坏地快速分析物质的成分，无需样品的预处理。
本文将逐步介绍便携式XRF工作原理及其应用。
便携式XRF的工作原理主要基于X射线荧光谱分析技术。
X射线荧光谱分析是通过X射线激发样品，然后测量样品返回的荧光辐射，来分析样品中的元素成分。
下面我们将详细介绍便携式XRF的工作原理和具体步骤。
第一步，X射线发射源产生X射线。
便携式XRF通常使用高电压放电管（X 射线管）作为X射线发射源。
当高电压施加在X射线管的阳极上时，电子会从阴极加速器发射出，并击中阳极上的金属靶材。
这个过程中，电子与金属靶材发生相互作用，产生连续的X射线谱。
第二步，样品被照射。
便携式XRF通过一个窄缝，让X射线通过并照射到待测样品上。
样品吸收了一部分X射线，并通过内层电子的跃迁产生了特征的X射线荧光辐射。
第三步，荧光辐射被检测。
便携式XRF使用一个荧光探测器（一般是硅针对式或硅钛酸盐探测器）来测量样品发出的荧光辐射。
这些荧光辐射的能量和强度与待测样品中的元素种类和含量相关。
第四步，信号处理和分析。
便携式XRF将探测器测得的荧光辐射信号转化为电信号，并通过信号处理电路进行放大和滤波处理。
然后，通过内置的分析软件对荧光信号进行解析和处理，利用已知标准样品的比对数据，测量出样品中元素的含量和种类。
便携式XRF广泛应用于许多领域。
在金属材料分析方面，它可以用于快速检测合金成分、金属质量评估和金属分选。
对于环境监测和土壤分析，便携式XRF可以准确测量土壤中的重金属含量，判断土壤是否受到污染。
在矿产勘探和开采领域，便携式XRF能够实时分析矿石中的元素，帮助确定矿石品位和选择开采方案。
总结而言，便携式XRF的工作原理是利用X射线荧光谱分析技术，非破坏地快速分析样品中的元素成分。
它包括X射线产生、样品照射、荧光辐射检测和信号处理等步骤。
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用途
X射线荧光光谱分析仪广泛应用于地质、冶金、石油、化工、 农业、医药、环境等领域，可对各种材料进行元素分析和化 学成分分析，如金属、非金属、矿物、环境样品等。
优缺点分析
优点
X射线荧光光谱分析仪具有快速、准确、非破坏性、多元素同时测定等优点。同 时，该仪器操作简便，可对各种材料进行无损检测，适用于现场分析和大量样品 分析。
食品安全
用于检测食品中的添加剂、农 药残留等。
考古学
用于鉴定文物年代和成分。
生物医学
用于研究生物组织、药物成分 等。
未来发展方向与挑战
智能化与自动化
提高分析仪器的智能化和自动 化水平，减少人为操作误差。
多元素同时分析
发展多元素同时测量的技术， 提高分析效率。
降低成本与维护
降低仪器成本和维护成本，提 高普及率和应用范围。
信号放大器用于放大测量系统输出的 信号，多道分析器用于将信号分道， 计算机和相关软件则用于处理和分析 数据，并输出结果。
数据处理系统通常包括信号放大器、 多道分析器、计算机和相关软件等部 件。
03 X射线荧光光谱分析仪的 应用
元素分析
总结词
X射线荧光光谱分析仪能够准确测定样品中各元素的含量，广泛应用于地质、环保、化工等领域。
环境样品分析
总结词
X射线荧光光谱分析仪能够用于环境样品中污染物的快速检测和定量分析。
详细描述
环境样品中的污染物通常以痕量或超痕量水平存在，X射线荧光光谱分析仪具有高灵敏度和低检测限 的特点，能够准确测定这些污染物元素的含量，为环境监测和污染治理提供有力支持。
荧光光谱仪的原理及应用
T1 T2 外转换
发 射 磷 振动弛豫 光
l1
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5Байду номын сангаас
主 要 光 谱 参 数
吸收光谱：化合物的吸收光强与入射光波长的关系曲 线 激发光谱：让不同波长的激发光激发荧光物质使之发 生荧光，而让荧光通过固定波长的发射单色器照射到 检测器上，检测荧光强度变化。
发射光谱：固定激发波长(一般将其固定于激发波段 中感兴趣的峰位),扫描出的化合物的发射光强(荧光/ 磷光) 与发射光波长的关系曲线。
激发波 长确定
• 重复2、3步循环扫描得到理想的光谱图
关机
• 保存数据，先关软件，再关光源最后关风扇和电源
10
荧光寿命和量子产率的测试和数据处理
荧光寿命 • 根据发射谱和激发谱选择感兴趣的发射波长和激发波长， 测试荧光强度随时间的衰减曲线，同样需要数据进行校 正，然后应用origin软件进行作图和数据拟合得到寿命 结果
• 光电转化效率，即入射单色光子-电子转化效率 (monochromatic incident photon-to-electron conversion efficiency， 用缩写IPCE表示)，定义为单位时间内外电路中产生的电子数 Ne与单位时间内的入射单色光子数Np之比。 • 计算公式：IPCE(λ)=1240 * jp(λ)/Eλ(λ)
IPCE测试系统
Solar Cell Scan100 Crown tech.inc Newport 光源、单色仪、信号放大模 块、光强校准模块、计算机 控制和数据采集处理模块
通过用波长可调的单色光照射样 品，同时测量样品在不同波长的 单色光照射下产生的短路电流, 从而通过计算得到样品的IPCE
荧光光谱分析仪工作原理
X荧光光谱分析仪工作原理用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长得荧光X射线，需要把混合得X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量)得X射线得强度，以进行定性与定量分析，为此使用得仪器叫X射线荧光光谱仪。
由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型与能量色散型。
下图就是这两类仪器得原理图.用Ｘ射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长得荧光X射线，需要把混合得X射线按波长(或能量)分开，分别测量不同波长（或能量)得Ｘ射线得强度，以进行定性与定量分析,为此使用得仪器叫X射线荧光光谱仪。
由于Ｘ光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型与能量色散型。
下图就是这两类仪器得原理图。
现将两种类型X射线光谱仪得主要部件及工作原理叙述如下：1、X射线管两种类型得X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源.上图就是X射线管得结构示意图。
灯丝与靶极密封在抽成真空得金属罩内，灯丝与靶极之间加高压（一般为40KV），灯丝发射得电子经高压电场加速撞击在靶极上，产生X射线。
X射线管产生得一次X射线,作为激发Ｘ射线荧光得辐射源.只有当一次X射线得波长稍短于受激元素吸收限lmiｎ时，才能有效得激发出X射线荧光.笥?SPAN lanｇ=EN—ＵＳ>lｍin得一次Ｘ射线其能量不足以使受激元素激发。
X射线管得靶材与管工作电压决定了能有效激发受激元素得那部分一次X射线得强度。
管工作电压升高，短波长一次X射线比例增加，故产生得荧光X射线得强度也增强。
但并不就是说管工作电压越高越好，因为入射X射线得荧光激发效率与其波长有关,越靠近被测元素吸收限波长，激发效率越高。
ﻫＸ射线管产生得X射线透过铍窗入射到样品上，激发出样品元素得特征X射线，正常工作时，X射线管所消耗功率得0、2％左右转变为X 射线辐射,其余均变为热能使Ｘ射线管升温，因此必须不断得通冷却水冷却靶电极。
荧光光谱分析法范文
荧光光谱分析法范文荧光光谱分析法是一种常用的光谱分析技术，通过测量荧光现象来获取样品的信息。
荧光现象是指物质在受到激发能量后，能够吸收光能并发出比激发光更长波长的光。
荧光光谱分析法广泛应用于材料科学、生物学、环境监测等领域，具有快速、灵敏、无损、非接触等优点。
荧光光谱分析法的基本原理是利用激发光与样品相互作用，使样品分子在激发态上升能级，然后再通过跃迁回低能级释放能量，发出比激发光更长波长的荧光光。
样品吸收光能时，激发态电子从基态电子能级跃迁到激发态电子能级，此时会发生非辐射跃迁，从而使样品发出荧光。
不同的样品具有不同的荧光特性，因此荧光光谱分析法可以用来研究不同样品的物性、结构、成分等。
荧光光谱分析法常用的仪器是荧光光谱仪，其工作原理与分子吸收光谱分析仪类似，只不过荧光光谱仪是通过测量样品发出的荧光光强度来获取信息。
荧光光谱仪由光源、激发系统、样品室和光谱检测系统组成。
光源产生激发光，经过激发系统照射到样品上，样品吸收光能后发出荧光，荧光经过光谱检测系统测量荧光光强度，然后通过数据处理得到荧光光谱图。
1.高灵敏度：荧光光谱分析法能够测量非常低浓度的荧光物质，通常灵敏度比吸收光谱分析法高几个数量级。
2.高选择性：荧光光谱分析法具有很好的选择性，可以通过改变激发波长或捕获荧光发射光波长来选择性地分析目标物质。
3.宽线性范围：荧光光谱分析法的线性范围较宽，可以在不同浓度下进行定量分析。
4.快速：荧光光谱仪具有较高的数据采集速度，可以实现快速分析。
5.无损、非接触：荧光光谱分析法不会破坏样品，可以对非接触样品进行分析。
荧光光谱分析法广泛应用于各个领域。
在材料科学中，荧光光谱分析法可用于研究材料的光电性能、能带结构、表面吸附等。
在生物学中，荧光光谱分析法常用于检测生物分子、蛋白质、核酸等的含量和结构。
在环境监测中，荧光光谱分析法可以用来检测水质中的有机物、重金属离子等。
总之，荧光光谱分析法是一种重要的光谱分析技术，具有很多优点和广泛应用。
光谱分析荧光光谱
光谱分析荧光光谱荧光光谱是指在荧光的激发下，样品发出的荧光光线在不同波长下的强度分布情况。
荧光光谱的研究主要集中在两个方面：一是对荧光的发射光进行测量和分析，另一个是对荧光的激发光进行测量和分析。
在荧光的发射光测量与分析中，光谱仪是基本的测量设备。
常见的光谱仪包括荧光光谱仪、荧光光谱仪、荧光分光光度计等。
荧光光谱仪的基本原理是通过样品在荧光试剂的激发下，发射出的荧光光子与荧光物质相互作用，生成可观察到的荧光。
荧光光谱仪通过检测和记录荧光光谱的强度分布，可以确定样品中存在的不同成分。
荧光光谱的激发光测量与分析是指在荧光样品发出荧光的同时，也会吸收一部分能量，即激发光，这一部分能量与样品的化学组成和结构密切相关。
通过测量激发光谱的强度分布，可以了解荧光物质的吸收特性，并从中得出相关信息。
荧光光谱分析具有以下几个特点：首先，荧光光谱能够提供有关样品的结构和成分信息。
不同的物质具有不同的荧光特性，通过荧光光谱的测量和分析，可以鉴别和定量分析样品中的不同成分。
其次，荧光光谱分析具有高灵敏度和选择性。
荧光技术具有很高的灵敏度，可以在很低的浓度下检测到荧光物质。
此外，荧光光谱分析可以选择性地检测和分析荧光物质，不受其他物质的干扰。
此外，荧光光谱分析还具有快速、无标记和无损伤等特点。
与其他分析方法相比，荧光光谱分析速度快，通常只需几秒钟甚至更短的时间。
此外，荧光光谱不需要使用标记物，避免了标记物对样品的污染和干扰。
此外，荧光光谱不破坏样品，可以多次重复测量，对于贵重样品来说是一种非常有价值的分析方法。
在实际应用中，荧光光谱分析具有广泛的应用。
例如，在生物学领域中，荧光光谱可以用于研究生物大分子的结构和功能，如蛋白质、核酸和多糖等。
在药物研发中，荧光光谱可以用于研究药物的荧光特性，并用于药物的质量控制和药理学研究。
在环境监测和食品安全领域，荧光光谱可以用于检测和鉴别环境污染物和食品中的有害物质。
总之，荧光光谱分析是一种重要的光谱分析技术，通过测量和分析样品在不同波长下发射和吸收的荧光光谱，可以获取有关样品结构、成分和性质等信息。
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X 荧光光谱分析仪工作原理用x 射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长得荧光x 射线，需要把混合得x 射线 按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能虽:）得X 射线得强度，以进行左性与定疑 分析，为此使用得仪器叫X 射线荧光光谱仪。
由于X 光具有一泄波长，同时又有一立能量, 因此，X 射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型与能量色散型。
下图就是这两类仪器 得原理图.用X 射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长得荧光X 射线，需要把混合得X 射 线按波长（或能疑）分开，分别测量不同波长（或能量）得X 射线得强度，以进行定性与左疑 分析，为此使用得仪器叫X 射线荧光光谱仪。
由于X 光具有一左波长，同时又有一左能量， 因此，X 射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型与能量色散型。
下图就是这两类仪器 得原理图。
（a ）波长色散谱仪（b ）能虽色散谱仪波长色散型和能量色散型谱仪原理图现将两种类型X 射线光谱仪得主要部件及工作原理叙述如下:X 射线管酥高分析器分光晶体 计算机再陋电源丝电源灯丝电了悚X则线BeiV輪窗型X射线管结构示意图两种类型得X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源•上图就是X射线管得结构示意图。
灯丝与靶极密封在抽成貞•空得金属罩内，灯丝与靶极之间加高压（一般为4OKV）, 灯丝发射得电子经高压电场加速撞击在靶极上，产生X射线。
X射线管产生得一次X射线, 作为激发X射线荧光得辐射源.只有当一次X射线得波长稍短于受激元素吸收限Imi n时，才能有效得激发出X射线荧光•笥？SPAN Ian g =EN-U S >lmin得一次X射线其能量不足以使受激元素激发。
X射线管得靶材与管工作电压决立了能有效激发受激元素得那部分一次X射线得强度。
管工作电压升高，短波长一次X射线比例增加，故产生得荧光X射线得强度也增强。
但并不就是说管工作电压越髙越好，因为入射X射线得荧光激发效率与苴波长有关，越靠近被测元素吸收限波长，激发效率越髙。
A X射线管产生得X射线透过彼窗入射到样品上, 激发岀样品元素得特征X射线，正常工作时，X射线管所消耗功率得0、2%左右转变为X 射线辐射，其余均变为热能使X射线管升温，因此必须不断得通冷却水冷却靶电极。
2、分光系统第•准讥器平面晶体反射X线示意图分光系统得主要部件就是晶体分光器，它得作用就是通过晶体衍射现彖把不同波长得X射线分开.根据布拉格衍射左律2d S in 0 =n X ,当波长为X得X射线以0角射到晶体，如果晶面间距为d,则在出射角为0得方向，可以观测到波长为X =2dsi n 0得一级衍射及波长为X/2, X /3 ------ ―等髙级衍射。
改变（）角，可以观测到另外波长得X射线，因而使不同波长得X射线可以分开。
分光晶休靠一个晶体旋转机构带动.因为试样位巻就是固左得，为了检测到波长为'得荧光X射线，分光晶体转动0角，检测器必须转动2 0角。
也就就是说,一泄得2 0角对应一左波长得X射线，连续转动分光晶体与检测器，就可以接收到不同波长得荧光X射线见（图10、5）。
一种晶体具有一泄得晶面间距，因而有一立得应用范囤，目前得X射线荧光光谱仪备有不同晶而间距得晶体，用来分析不同范困得元素。
上述分光系统就是依靠分光晶体与检测器得转动，使不同波长得特征X射线接顺序被检测，这种光谱仪称为顺序型光谱仪.另外还有一类光谱仪分光晶体就是固立得，混合X射线经过分光晶体后，在不同方向衍射，如果在这些方向上安装检测器，就可以检测到这些X射线。
这种同时检测不波长X射线得光谱仪称为同时型光谱仪，同时型光谱仪没有转动机构，因而性能稳左，但检测器通道不能太多，适合于固定元素得测龙.分充站纬〔脅晶）'射线源第二族鑼聚焦法分光器原理此外，还有得光谱仪得分光晶体不用平而晶体，而用弯曲晶体，所用得晶体点阵而被弯曲成曲率半径为2R得圆弧形，同时晶体得入射表而研磨成曲率半径为R得圆弧，第一狭缝，第二狭缝与分光晶体放宜在半径为R得圆周上，使晶体表而与圆周相切，两狭缝到晶体得距离相等（见图10、6）,用几何法可以证明，当X射线从第一狭缝射向弯曲晶体务点时，它们与点阵平而得夹角都相同，且反射光朿又重新会聚于第二狭缝处。
因为对反射光有会聚作用，因此这种分光器称为聚焦法分光器，以R为半径得圆称为聚焦圆或罗兰圆。
当分光晶体绕聚焦圆圆心转动到不同位置时，得到不同得掠射角检测器就检测到不同波长得X射线。
当然，第二狭缝与检测器也必须作相应转动,而且转动速度就是晶体速度得两倍。
聚焦法分光得最大优点就是荧光X射线损失少，检测灵敏度高。
3、检测记录系统寓压接头I I f聚垢脏窗口X射线流气正比计数器结构示意图X射线荧光光谱仪用得检测器有流气正比计数器与闪烁计数器。
上图就是流气正比汁数器结构示意图。
它主要由金属圆筒负极与芯线正极组成，筒内充氮（90%）与甲烷（10%）得混合气体，X射线射入管内，使Ar原子电离，生成得Ar+在向阴极运动时，又引起其它A「原子电离，雪崩式电离得结果，产生一脉冲信号，脉冲幅度与X射线能量成正比。
所以这种计数器叫正比计数器，为了保证计数器内所充气体浓度不变，气体一直就是保持流动状态得。
流气正比计数器适用于轻元素得检测。
•至鹽闪烁计数器的结构示意图另外一种检测装置就是闪烁计数器如上图。
闪烁讣数器由闪烁晶体与光电倍增管组成・X 射线射到晶体后可产生光,再由光电倍增管放大，得到脉冲信号。
闪烁讣数器适用于重元素得检测。
除上述两种检测器外,还有半导体探测器，半导体探测器就是用于能量色散型X射线得检测（见下节）。
这样，由X光激发产生得荧光X射线，经晶体分光后，由检测器检测，即得2 0 一荧光X射线强度关系曲线,即荧光X射线谱图,下图就是一种合金钢得荧光X射线谱。
—种合金钢的荧光X射线谱4能量色散谱仪A以上介绍得就是利用分光晶体将不同波长得荧光X射线分开并检测，得到荧光X射线光谱。
能量色散谱仪就是利用荧光X射线具有不同能量得特点，将英分开并检测，不必使用分光晶体，而就是依靠半导体探测器来完成.这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移错探测器，髙能错探测器等。
X光子射到探测器后形成一左数量得电子一空穴对，电子一空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子得能量成正比。
在一段时间内，来自试样得荧光X射线依次被半导体探测器检测，得到一系列幅度与光子能量成正比得脉冲,经放大器放大后送到多道脉冲分析器（通常要10 0 0道以上）。
按脉冲幅度得大小分別统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子得能量标度，从而得到计数率随光子能量变化得分布曲线，即X光能谱图。
能谱图经计算机进行校正，然后显示出来，其形状与波谱类似，只就是横座标就是光子得能量. A 能量色散得最大优点就是可以同时测左样品中几乎所有得元素。
因此,分析速度快。
另一方而，由于能谱仪对X射线得总检测效率比波谱髙，因此可以使用小功率X光管激发荧光X 射线。
另外，能谱仪没有光谱仪那么复杂得机械机构，因而工作稳立，仪器体枳也小。
缺点就是能量分辨率差,探测器必须在低温下保存。
对轻元素检测困难.5、样品制备亠进行X射线荧光光谱分析得样品，可以就是固态，也可以就是水溶液。
无论什么样品，样品制备得情况对测立误差影响很大。
对金属样品要注意成份偏析产生得误差：化学组成相同，热处理过程不同得样品，得到得计数率也不同;成分不均匀得金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片;对表而不平得样品要打磨抛光;对于粉末样品，要研磨至3 0 0目一400目，然后压成圆片,也可以放入样品槽中测定。
对于固体样品如果不能得到均匀平整得表而,则可以把试样用酸溶解，再沉淀成盐类进行测定。
对于液态样品可以滴在滤纸上，用红外灯蒸干水份后测定，也可以密封在样品槽中•总之，所测样品不能含有水、油与挥发性成分，更不能含有腐蚀性溶剂.6、定性分析不同元素得荧光X射线具有各自得特定波长，因此根据荧光X射线得波长可以确定元素得组成。
如果就是波长色散型光谱仪，对于一泄晶面间距得晶体，由检测器转动得2 0角可以求岀X射线得波长入,从而确左元素成分。
事实上，在立性分析时，可以靠计算机自动识别谱线,给出左性结果•但就是如果元素含量过低或存在元素间得谱线干扰时，仍需人工鉴别。
首先识别岀X射线管靶材得特征X射线与强峰得伴随线，然后根拯2 0角标注剩斜谱线。
在分析未知谱线时，要同时考虑到样品得来源，性质等因素，以便综合判断.7、定量分析“ X射线荧光光谱法进行定疑分析得依据就是元素得荧光X射线强度I 1与试样中该元素得含量Wi成正比：li=IsWM 式中，Is为W 1=100%时，该元素得荧光X射线得强度。
根据上式，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行泄量分析。
但就是这些方法都要使标准样品得组成与试样得组成尽可能相同或相似，否则试样得基体效应或共存元素得影响，会给测定结果造成很大得偏差。
所谓基体效应就是指样品得基本化学组成与物理化学状态得变化对X射线荧光强度所造成得影响.化学组成得变化，会影响样品对一次X射线与X射线荧光得吸收，也会改变荧光增强效应。
例如，在测定不锈钢中Fe与N i等元素时, 由于一次X 射线得激发会产生N i K"荧光X射线,NiK «在样品中可能被Fe吸收，使Fe激发产生FeK",测怎N i时，因为Fe得吸收效应使结果偏低，测左Fe时，由于荧光增强效应使结果偏髙.但就是，配宜相同得基体又几乎就是不可能得。
为克服这个问题，目前X射荧光光谱定量方法一般采用基本参数法。
该办法就是在考虑各元素之间得吸收与增强效应得基础上，用标样或纯物质计算出元素荧光X射线理论强度，并测英荧光X射线得强度.将实测强度与理论强度比较，求出该元素得灵敏度系数，测未知样品时，先测定试样得荧光X射线强度, 根据实测强度与灵敏度系数设定初始浓度值，再由该浓度值计算理论强度。
将测左强度与理论强度比较，使两者达到某一预定精度，否则要再次修正，该法要测龙与计算试样中所有得元素，并且要考虑这些元素间相互干扰效应，计算十分复杂。
因此,必须依靠计算机进行计算。
该方法可以认为就是无标样立量分析。
当欲测样品含量大于1%时，英相对标准偏差可小于1 %o。