布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 2-应用SPECTRA plus作你的第一条回归曲线
XRF(SOP操作指导书)
置狀態轉至ON位置狀態。
7.X-RAY鑰匙向右旋轉後，軟體的左下方會出現可以測量，此時X射線到達安
定狀態需等待約30分鐘。
二．量测：
1.点击應用選单，再选择金属为塊體分析(FP)，塑胶为塊體分析（检量线）。
2.点影像视窗。
XRF仪器操作作业指导书
仪器名称
桌上型X射线荧光光谱仪（XRF）
厂商/型号
Seiko / SEA1000A
操作步骤
一.开机：
1.打開位於儀器測量系統主機右後方的電源開關ON。
2.請按在測量系統的右下方的Power綠色開關，請確認開關確實變成綠色。
3.打開電腦螢幕和電腦的電源。
4.打開印表機的電源。
5.啟動X-ray軟體。
線關閉）訊號，此時X射線已關閉。
2.按測量系統的右上角的（結束軟體）按鈕，關閉X-ray軟體。
3.關閉電腦主机電源。
四.维护与保养：
1.每周进行对过滤棉清洗，能量校正，強度校正，分辨率校正。
2.每天进行对第二片塑胶标准片校正，误差应在范围内（“Cd、Pb 100正负15，Hg、Br、Cr 100正负30”）如超出此范围内，就必须对四片塑胶标准片重新校正。
3.按樣品室OPEN按鈕(正面的圓形按鈕)Байду номын сангаас以打開樣品室蓋。
4.將樣品放置在測量區域的中央位置，然后用手將台蓋往下壓，直到台蓋聽到卡的一声為止。
5.点击开始进行测试。
6.测试完后左下角会出现可以进行量测时，点击分析报告就会出现成份的数据作成Word档案，并且保存。
三.關機：
1.X-ray鑰匙向左旋轉後，使其成縱方向狀態OFF，軟體的左下方會出現（X射
X射线荧光光谱仪操作指导书
插入图片处
三、注意事项
1、测试过程中不能打开防护罩。 2、每次测试开机，软件将按程序运行约15分钟时间完成升压管流。 3、如果关机没有超过1小时，在选择参数时不需要勾选“慢管升压、管流” 。 4、未经许可，不要擅自修改工作区“管压”和“管流”参数 5、在预热阶段，如不需要关机的情况下，尽量不要关测试软件和电源。 6、测试样品应尽量水平放置，样品之中心位置应与画面中之十字交叉处对准。 7、如不需要长时间测试时，可将仪器关闭休息一下，避免发光管受热时间太长影响使用寿命。
二、操作步骤
1、测试之前一定要把仪器预热30分钟，再放入“银校正片”后进行初始化。根据仪器当时的状态，初 始化过程要持续几百秒的时间。初始化成功后，状态栏的结果将显示为PASS，者可以开始测试，如不是 则必须重新初始化。。 2、开启软件将按设定程序运行，约花15分钟左右的时间完成升到指定的升压管流，看到3个全部为OK， 者升压管流完成 3、根据样品选择工作曲线进行测试，样品一定要放在薄膜的中心，可以从摄像头中看到是否对准。 4、在测试时应该根据被测物品的材质和表处，选择相应的工作曲线对样品进行测试。测试时间为（200 —600s）。 5、测试人必须知道型号、材质、供应商并如实记录于测试信息栏，测试人才能测试该样品。 6、准备就序，然后点击“开始测量”，待样品测试完毕后，程序将自动报告测试结果。 7、测试完成并输出报告并存档。 8、测试完成后拿出样品，盖上防护罩。 9、关机时，先要关闭测试软件，再关闭仪器电源。
设备操作指导书
机种 规格 站别 作业名称 文件编号 MWI-00-000 版本 B/0 制作日期 2012-0-00
线荧光光谱仪
一、使用前检查
XXXXXX
IQC
布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 8-MeasPara-测量参数
1.5
打开 MEASPARAMETERS 文件
在 MEASPARAMETERS 里工作，可以打开默认谱线库或已有的测量方法 （.MM 文件）
打开默认谱线库： 在工具栏，单击 Open default line library （此按钮是绿色）
在 MEASPARAMETERS 打开 MM 文件： 1 在工具栏，单击 Open 显示打开对话框； 2 选择需要打开的测量方法（MM 文件），然后单击 Open。
后两级权限需要在进入时就输入密码。
1 在 View 菜单，单击 Access Rights 显示选择所需进入权限对话框； 2 执行下列操作之一：
·
如果需要改变被保护谱线的峰位和背景位置：
a)
在 Password 项输入密码；
b)
单击 Change peak and background position 选项；
5
MEASPARAMETERS 脉冲高度分析
6 6.1 6.1.1 6.1.2
设置总体重校正条件 重校正原理 漂移校正 测量模式补偿
1
SPECTRAplus MEASPARAMETERS
6.1.3 6.1.4 6.2 6.3 6.4 6.5 6.5.1 6.5.2
总体重校正 兼容谱线 总体重校正逻辑 查看总体重校正条件 总体重校正选项栏里的管理参考样品 重校正数据的废除与净化 废除重校正数据 净化重校正数据
a)
在 Password 项输入密码；
b)
单击 Full control 选项；
c)
单击 OK。
注意： 最高权限的密码，在 SPECTROMETERCONFIGURATION 程序里的“Global Settings Password“里设置。
布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 7-MeasMethod-测量方法
MeasMethod测量方法目录1 开始1.1 MEASMETHOD 的目标1.2 屏幕导向1.3 管理MEASMETHOD 文件1.3.1 启动MEASMETHOD 和创建新的测量方法1.3.2 打开和保存测量方法2 设置测量方法2.1 设置测量参数2.2 选择测量的元素2.2.1 在无标样方法2.2.2 在定量方法2.3 选择分析谱线2.4 查看和管理需要测量的谱线2.5 设置测量模式和时间2.5.1 理论知识介绍2.5.2 设置测量模式时需考虑的事项2.5.3 设置测量时间2.5.4 设置峰位测量2.5.5 设置背景测量2.5.6 设置死时间校正模式2.5.7 Scan-扫描选项的说明2.5.8 Fixed-固定选项的说明2.5.9 Optimized –优化选项的说明2.6 重校正选项索引MeasMethod1 开始1.1 MEASMETHOD 的目标MEASMETHOD保存和编辑MM文件，即定义用光谱仪测量样品时的测量参数。
这些参数包括：・光谱仪模式（vacuum-真空；vacuum with seal，真空并有真空封档，helium-氦气）・样品是否旋转・准直器面罩型号・测量模式・测量的元素及谱线・测量时间和步长・重校正样品谱线是保存在谱线库（S4-LineLibrary.fll1），并在MEASPARAMETERS 程序里编辑。
谱线由下列参数定义：X-射线管的管压、滤片、所用的准直器、分光晶体，2θ测量位置，所用的探测器、及对应的脉冲高度分析器(PHA)的窗口。
根据Siegbahn命名法则，谱线名称反映了电子的跃迁和产生（如 Fe KA1 是铁的Ka1 谱线）。
因此，同一条谱线可用于多个测量方法；可以在不同的条件（如：气氛模式、测量时间、面罩…）的测量，并可用于不同定量程序的校准。
测量条件在MEASMETHOD里定义，并补充该谱线的测量参数。
1.2 屏幕导向MEASMETHOD 屏幕包括：・标题内容有：项目说明Elements 当前方法测量的元素数Lines: Total 当前所选元素在谱线库可选的谱线总数（注意，如果没有元素被选时，也包括Compton 谱线）Total Time 如果测量是设置为Fixed，测量总时间Active 测量的谱线数Created 创建日期Last Change 最后修改・可进入6个设置选项栏。
xrf操作规程
xrf操作规程XRF（X射线荧光光谱仪）是一种常用的无损分析技术，可以用于快速、准确地分析各种材料的元素成分。
为了保障操作的安全性和分析结果的准确性，使用XRF仪器的操作人员需要遵守一定的操作规程。
以下是XRF操作规程的一些建议，供参考。
1. 实验前准备：- 确保工作区域整洁，无杂物和尘土。
- 检查XRF仪器的运行状态，确保其正常工作。
- 确保配备必要的安全设施，如防护眼镜、手套、防护衣等。
2. 样品准备：- 根据实验需求，选择适当的样品制备方法，并确保样品制备过程符合标准操作规程。
- 严格控制样品的尺寸和形状，以确保分析结果的准确性。
- 要小心处理易燃、易爆和有毒物质，采取相应的安全措施。
3. 仪器操作：- 按照仪器的使用说明书进行仪器开启和关闭的步骤和操作。
- 仪器操作人员应接受专业培训，熟悉XRF仪器的操作系统和各项功能。
- 在操作过程中，要轻拿轻放，避免对仪器造成不必要的损害。
- 严禁操作人员以外的人员接触X射线仪器，并确保工作区域的人员安全。
4. 标样校准和质量控制：- 使用标准测试样品进行校准，确保分析结果的准确性和可靠性。
- 定期检查和校正仪器的校准曲线，以确保其准确性和稳定性。
- 使用定期检测的质量控制样品进行仪器性能验证，以确保仪器处于良好状态。
5. 分析操作：- 根据实验需求选择适当的分析模式和参数设置，确保分析结果的准确性。
- 保持仪器和样品的稳定温度和湿度，以减少因环境因素引起的测试结果误差。
- 仔细记录和标记每个样品的相关信息，以便后续的数据分析和处理。
6. 实验后处理：- 在实验结束后，彻底清洁和维护XRF仪器，确保其正常工作和寿命。
- 保存样品数据和分析结果，进行数据分析和比较。
- 及时处理发现的问题和异常情况，如仪器故障或测试结果异常，确保问题得到妥善解决。
总之，遵守XRF仪器的操作规程是确保实验结果准确性和人员安全的重要措施。
操作人员应严格按照规程要求进行操作，并在操作过程中保持高度的警惕性和责任心，以确保实验的顺利进行和结果的可靠性。
X射线荧光光谱仪操作指引
1.0测试环境要求温度：10-30℃；湿度：40-70%。
2.0开机操作2.1检查液氮1)打开仪器的上盖。
2)拔出液氮罐的盖。
3)用钢尺伸进罐，若液面低于6CM（相当于1L）,就要添加液氮。
4)添加液氮。
用A3纸做成一个漏斗放在罐口，或用毛巾围在罐口，戴上橡胶手套和护目镜，将液氮小心地倒入罐，在液氮快满前停止添加液氮（液氮罐深18CM或总容量为3L）。
5)等待30分钟，冷却检测器。
注意：①液氮为一种极低温液体（-196℃），用来冷却检测器，添加时要防止冻伤；②若测试过程发现液氮不够，必须关闭仪器，并关闭仪器的电源才能添加液氮。
2.2依次打开UPS电源、变压器电源、EDX主机、计算机和EDX软件。
2.3监控检测器温度：点“监控”，点“Detail View”，看检测温度是否达到-180℃以下。
2.4主程序中点击“维护”。
2.5初始化仪器：点击“初始化仪器”，听到快门和准直器动作的声音完成，且“维护”菜单下面7项容显示为“OK”之后，可以进行下一步操作。
注意：如果3天以上没开机，就要做“光管老化”，自“2.5初始化仪器”以后做，做完后直接到“2.8仪器点检”。
光管老化操作：1)点击主程序“维护”。
2)点击“仪器设置”，将Xray的电压、电流分别输入5kV、5uA，点击“执行启动”约一分钟，关闭窗口（注意不能点击“保存启动条件”）3)放样品A750，点击“分析”→“分析组选择”→“定量”→“Set-up X-ray-tube”→“OK”→“开始”。
此过程将自动进行老化，约75分钟。
2.6启动X光管及检测器：点击“仪器设置”，再点击“执行启动”。
2.7预热30分钟：等待30分钟为预热X光管，让仪器处于稳定工作状态。
2.8仪器点检：用定性定量easy测试组别测试A750。
1)按EDX主机“OPEN”键打开样品室，将样品A750放在样品室测试孔上，并点击EyeXRF2k程序打开摄像头确认对准测试部位。
2)主菜单里点击“分析”。
xrf荧光光谱分析仪的使用流程
xrf荧光光谱分析仪的使用流程英文回答：XRF fluorescence spectroscopy is a widely used analytical technique for the qualitative and quantitative analysis of various materials. The instrument used for XRF analysis is called an XRF fluorescence spectrometer. Here is a step-by-step guide on how to use an XRF fluorescence spectrometer:1. Sample preparation: Prepare the sample by grinding it into a fine powder. The sample should be homogeneous and representative of the material being analyzed.2. Instrument setup: Turn on the XRF fluorescence spectrometer and allow it to warm up for the recommended time. Ensure that the instrument is properly calibrated and all necessary safety precautions are followed.3. Sample loading: Carefully load the prepared sampleinto the sample cup or tray of the XRF fluorescence spectrometer. Ensure that the sample is evenly distributed and covers the entire surface area of the cup or tray.4. Measurement configuration: Select the appropriate measurement configuration based on the nature of the sample and the elements of interest. This includes selecting theX-ray tube voltage, current, and filter settings.5. Measurement procedure: Start the measurement procedure by initiating the X-ray source. The X-ray beam will excite the atoms in the sample, causing them to emit characteristic X-ray fluorescence radiation.6. Data acquisition: The XRF fluorescence spectrometer will detect and measure the intensity of the emitted X-ray fluorescence radiation. This data is then used to determine the elemental composition and concentration of the sample.7. Data analysis: Analyze the acquired data using specialized software or algorithms. The software will compare the measured intensities with a calibration curveor a pre-determined database to determine the elemental composition and concentration of the sample.8. Interpretation and reporting: Interpret the results obtained from the analysis and report the elemental composition and concentration of the sample. Thisinformation can be used for quality control, material identification, or research purposes.中文回答：XRF荧光光谱分析仪是一种广泛应用于各种材料的定性和定量分析的分析技术。
XRF操作指引
XRF操作指引X射线荧光光谱仪（XRF）是一种非破坏性的分析仪器，广泛应用于材料分析、环境检测、地质勘探、工业生产等领域。
本文将为您介绍XRF 操作指引，以帮助您正确、高效地操作这一仪器。
一、准备工作1.确认XRF仪器的工作状态，检查电源和仪器各部件是否正常。
2.准备待分析的样品，并将其拆解成小颗粒。
如果样品是固体，可使用研磨机对其进行研磨；如果样品是液体，可进行溶解处理。
3.初始化仪器并校准。
校准仪器前需要使用标准样品进行测试，确保仪器能够准确分析样品。
二、操作步骤1.打开XRF仪器电源，等待仪器初始化完成后，将待测试样品放入样品槽中。
2.选择合适的分析程序，不同样品需要选择不同的程序，确保分析的元素和参数正确。
3.根据样品类型和尺寸，调整XRF仪器的参数，如电压、电流、分析时间等。
确保参数的选择足够精确，以保证测量结果的准确性。
4.点击“开始测量”按钮，仪器开始工作。
这个过程中需要保持样品的稳定性，避免样品的颗粒移动或高温熔化等情况发生。
5.等待测量过程完成，仪器会自动显示分析结果，包括样品中各元素的含量及相对误差。
根据实际需要，可将结果存储到计算机或打印出来。
三、注意事项1.在操作XRF仪器前，必须佩戴防护眼镜、手套等个人防护设备，以确保使用安全。
2.仪器需要定期维护和保养，及时清理样品槽和探测器表面等部件，防止杂质积聚影响测量结果。
3.在使用XRF仪器时，应避免将样品暴露在高温、高湿度等环境下，以免对样品造成损害。
4.样品的制备过程需要注意，避免样品中掺杂杂质对测量结果的干扰。
若样品复杂，建议进行预处理，如溶解、稀释等。
5.长时间连续使用仪器会产生一定的热量，为避免过热，应定时进行冷却、休息。
四、故障处理1.若XRF仪器出现异常，如无法正常启动、测量结果异常等，应首先检查仪器电源、参数设置等是否正确。
总结：通过正确操作XRF仪器，我们可以得到准确的样品分析结果，为科研、生产等领域提供有力的数据支持。
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应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线目录应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线简介建立校准曲线了解校准曲线工具箱开始作校准曲线Si KA1 HS-Min的校准曲线如何检查计算的浓度是否被接受P KA1-HS-Min 的校准曲线S KA1 HR-Min的校准曲线V KA1-HS-Min的校准曲线Cr KA1-HS-Min的校准曲线Mn KA1-HR-Min的校准曲线V KA1 HS-Min的校准曲线Ni KA1-HS-Min的校准曲线Cu-KA1-HS-Min的校准曲线漂移校正/重校正低合金未知样品的测量使用Results Monitor功能监视分析结果查询结果转移结果再评估测量数据结论简介本教学课程包括下列内容，以便使你熟悉制作校准曲线的过程：l建立校准曲线l组织材料l输入标准浓度到数据库l定义测量方法l了解校准曲线工具l校准已测量的低合金样品l用低合金曲线测量未知样品l使用结果管理器按照这一部分的介绍，你可以一步一步地制作你的第一条校准曲线。
使用一套BCS低合金标样，SPECTRA plus谱线库中预定义的谱线及扫描测量模式，你的任务是绘制低合金样品的校准曲线。
由于所有的样品已经在德国Bruker AXS 公司测量过，不需要在你的仪器上进行实际的测量。
为了得到所显示的相同结果，必须仔细地按照所有步骤进行。
建立校准曲线从SPECTRA plus程序或桌面打开Quantification Editor (FQuant) 程序。
图 1 桌面上的Spectra Plus程序文件夹选择 File > New.选择左侧（引导窗口一侧） "Materials" 。
在右侧出现一个对话框，并列出一个或多个预定义的材料。
图 2 材料页在"Material Groups" 材料组窗口中，选择"Tutorial"教学材料组(如果它不存在的话，请输入Tutorial并且点击新文件按钮(红圈), 见下面注解)。
注解: "Tutorial" 教学材料组应该已经在你的数据库中(并且出现在列表中)。
如果是这样，只需要点击它来选择它。
如果Tutorial组不在列表中，请参考附件“安装教学文件”来查看教学文件是否已经被正确安装。
从材料列表中选择材料"tutor-low-alloy" 低合金教学材料(如果它不存在的话，请输入tutor-low-alloy-steel作为“新材料”，然后点击新文件按钮(红圈)来创建此材料，使其在列表中出现。
图 3 输入新材料步骤1图 4 输入新材料步骤2按“Next”下一步键。
出现"Elements Oriented" 元素导向对话框。
确认没有按下"Oxide"氧化物按钮。
选择要测量的元素，按照右面的列表显示，按照这样的顺序选择元素有利于以后浓度的输入。
图 5 选择被测量的元素按“Next”下一步键两次。
"Standard Materials" 标准材料对话框出现。
这里你可以输入标准样品的名字及它们的浓度。
图 6 往数据库中输入标样浓度如果没有标样显示的话（见图6），在“New standard material”新标准材料的地方输入标样的名字，并且按下新文件按钮(红圈)。
重复此过程，将所有的标样名输入。
确信使用与附录中低合金标样完全相同的名字。
一旦输入完所有的标样名，开始按下面介绍的输入浓度值。
提示：如果你习惯于将所有标样中某一元素的浓度全部输完的话，请按下Bottom按钮，在你输入浓度值并按<Enter>键之后，光标将向下移动。
由于没有Fe的分析值，我们将它处理为平衡元素（余量）。
鼠标右键点击Fe元素列，从属性菜单中选择“Column Balance”平衡列按钮(图7)图 7 选择Fe作为平衡项结果如图8显示图 8 输入所有低合金标样按“Next”下一步键，出现下列窗口。
选择“Yes”, 标准样品的名字及浓度将被存在数据库中(FLUO.MDB)。
图 9 检查制样方法确认"Preparation" 制样为“Solid”及"Method" 方法为“Solid”(这些是预先定义的制样方法)按“Next”下一步键直到光标移到左边的"Standard Samples"标准样品位置。
图 10 创建标准样品通过选择"All standard materials"，选择"Short names"，然后按"Automatically create all standard samples" 自动创建所有标准样品按钮(红圈)。
注：在这一部分，在数据库中输入的浓度与一个样品的实际制样方法有关，为了区别同一个标样不同的制样方法，你可以选择长样品名。
在此SS_401-1 样品将被称为SS_401-1-solid（样品名-制样方法）。
这时要将"Short names"复选框清除。
（推荐选择长样品名）图11 所有标准样品已被创建按“Next”键两次图 12 测量方法按“Launch”调入按钮，击活“Measurement Method”测量方法程序。
你将在“Measurement Method”测量方法中选择测量谱线、测量时间等。
图13 创建低合金测量方法：设置参数选择"Vacuum"真空模式及"34mm" 准直器面罩点击“Elements”按钮，检查SPECTRA plus是否选择了要测量的元素。
图 14 创建低合金测量方法：元素选择注意Fe没有被选择，因为我们将Fe作为平衡元素。
点击“Line Selection”按钮图15 创建低合金测量方法：谱线选择选择“Use precalibrated lines“，使用预校准线选择"One Line", "Highest Intensity" 及"Thick sample" (这些是默认选择). 这些信息连同所选择的元素将使SPECTRA plus为你作出正确的谱线选择。
点击“Apply-应用”按钮点击“Modes/Times”按钮图 16 创建低合金测量方法：模式及测量时间选择按“Run Scan Measurement”按钮分别用于峰值测量及背景测量。
如不想选择，再一次按相同按钮即可。
选择强度“Intensity reduction”及“Automatic calibration”控制扫描测量，确保计数率在计数器的线性范围之内。
(参考关于计数器死时间的理论介绍部分)。
比较图16中的设置注：所选设置为“GLOBAL”全局设置，在所选谱线峰位左右扫描+/- 10倍的准直器角度，步长为准直器角度的10%。
扫描时间为扫描角度范围内测100秒。
扫描模式可以使你不用确定一个或多个背景位置而能计算出净强度。
(通常采用“Peak/Background”峰/背景模式，可以使测量时间缩短)。
点击“Lines”按钮，从下拉窗口中选择S。
可以看出在左边"S KA1 HS Min" 的谱线已经被选择。
HS 代表高灵敏度(High Intensity)Min 代表微量组分本教学数据对S和Mn选择高分辨率谱线，所以预先选择的谱线必须更换。
用HR-Min谱线代替SPECTRA plus选择的HS-Min谱线来测量S和Mn，以便和测量的数据条件一致。
用另外的谱线(KA1-HR-Min line)代替所选的谱线需要进行如下操作：选择左边的"S KA1-HS-Min" 谱线点击“Remove”移动键选择右边的"S KA1-HR-Min" 谱线(所有的谱线都在那里显示)。
点击“Add”按钮。
图 17 创建低合金测量方法：移动谱线图18 创建低合金测量方法：添加谱线选择结果如图18所示对Mn进行同样的步骤(选择"Mn KA1-HR-Min" 谱线)。
结束之后，点击"File"/"Exit"，退出测量方法编辑图19 退出测量方法编辑程序点击“Yes”保存新的或修改过的测量方法。
按“Next”键两次("Measurement Standards" 光标跳到引导窗口的测量标准样品按钮(左侧)。
图 20 击活“Loader”模拟进样器测量标样按“Launch”击活“LOADER”图 21 选择“Import from Database”从数据库引入点击一个位置(这里显示为D1)选择“Standards" - "Import from Database"。
图 22 从数据库查询引入的标样检查“Material”材料是否为“tutorial-low-alloy”及“Preparation”制样是否为“solid”按“Search from database”从数据库搜索按钮按“Import at current position ”从当前位置引入按钮图 23 引入了样品的模拟进样器，准备进行测量!要测量样品(本例中不能这样做!)，按“Send all samples ”全部送入样品按钮，开始测量。
为了检查测量进程，看窗口底下的样品列表，或移动鼠标的光标到带有圆点闪烁蓝色图标的样品上。
返回到仍在运行的“Quantification editor”程序按“Next”键图 24 调入结果输出格式程序“results formatting”按“Launch”按钮，定义打印及显示格式图25 在“Results Manager”结果管理中更新设置在tutor-low-alloy同一行后面按“Update”键。
这将选择默认的设置(在前面"Standards" 那一页定义的元素顺序及小数点位数)选择File>Exit图 26 保存结果输出格式输入“tutor-low-alloy”，然后按“Save”键按“Next”键两次图27 校准方法本页你可以看到选择了哪一种材料及制样方法以及对于这种材料定义了多少标样。
图28 标准样品此功能为删除没有测量的标样。
你可以看出如果所有的标样都测量了，在标有"File"的那一列有"Exist"文字，表明可以进行校准。
图 29 校准曲线现在你将准备进行校准：但是在校准之前，看一看校准曲线工具箱了解校准曲线工具箱在这一部分，你将了解校准曲线画面及工具箱。