晶体管测试仪使用说明

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MT-105 晶体管耐压测试仪使用说明书

MT-105 晶体管耐压测试仪使用说明书

MT-105晶体管耐压测试仪使用说明书深圳鹏达电子科技有限公司一、简介MT-105晶体管耐压测试仪可测试各种晶体二极管、瞬态二极管、三极管、可控硅、场效应管的正向、反向击穿电压耐压值;能测试稳压二极管的稳压值。

仪表为便携式设计,体积小、重量轻、自动量程、功能强、操作均采用无锁按键和遥控操作、上位机软件操作并可以保存测试数据(MT-105通信版),使用方便可靠,实用性强,适用于从事电子技术的实验人员、调试人员、维修人员、采购人员、销售人员及无线电爱好者。

还适用于电子电器产品生产厂家作为各类电子元器件批量检测之用。

二、面板功能介绍①:仪器电源开关,使用时请把开关打开,不使用请把开关关闭,避免电池耗电。

②:HV高压测试键,把被测试的器件引脚放进对应的测试槽后,按下测试键。

③:测试高压工作指示灯,按下测试键测试时,此指示灯会亮,表示高压工作中。

④:测试槽的1脚(黄色标记)HV-(GND地)⑤:测试槽的2脚(黄色标记)N型管的控制信号LG⑥: 测试槽的2脚(红色标记)P型管的控制信号HG⑦:测试槽的3脚(红色标记)HV+(高压输出HV)⑧: 充电指示灯,充电中此LED等亮,等充满电此指示灯灭,充电自动控制⑨:USB接口,充电与通信接口,可以接在电脑USB接口上,可以边通信边充电 ⑩: 仪器的显示屏,采用1602,LCD屏,显示清楚美观省电耐用三、使用操作说明打开开关,仪器屏幕显示官方网站和型号名称:“ MT-105 HV Tester”显示3秒后进入测试画面(没有任何测试操作)显示:“Bat:4424mv MT-105 HV Tester”。

按键操作:把待测试的元件放入对应的引脚后,按下测试键进行测试遥控操作:把待测试的元件放入对应的引脚后,按下遥控器播放键,可以进行测试遥控器只有2个按键有用,一个是高压测试键,另外一个是返回清屏键软件上位机操作可以测试和保存测试数据四、主要经典(重要项目)测试方法1、二极管测试方法,有两种VB R和U F电压,如下图1和图2所示图1 图22、三极管NPN的测试方法,有BVces和BVcer的反向击穿电压(耐压)测试,如下图3和图4所示图3 图43、三极管PNP的测试方法,有BVces和BVcer的反向击穿电压(耐压)测试,如下图5和图6所示图5 图64、N沟道的M O S管的测试方法,有BVdss和BVdsr的反向击穿电压(耐压)测试,如下图7和图8所示图7图85、P沟道的M O S管的测试方法,有BVdss和BVdsr的反向击穿电压(耐压)测试,如下图9和图10所示图9图105、可控硅的单、双向的测试方法,V RR M的反向击穿电压(耐压)测试,如下图11和图12所示图11 图12五、多种测试类型管的不同接法1、NPN管的8种击穿电压接法:以下是NPN三极管的8种测试电压的接法,BVceo、BVc b o、BVe b o、BV b eo、BVcer、BVces、BVce x、的击穿电压测试方法:(1)、BVceo:晶体管反向击穿电压;基极开路,集电极-发射极反向击穿电压接法:NPN管基极B开路(悬空),集电极C接测试槽3,发射极E接测试槽1,这时测试的就是反向击穿电压。

JL294-3晶体管测试仪

JL294-3晶体管测试仪

测试方法:1、测试操作步骤:(本说明以JL294型仪表为例)①开机;按下K1键使仪表工作②置K2键(PNP与NPN功能转换键)与被测管极性相符位置,将被测管与测试插座可靠连接。

③测试:按下需测试功能对应的按键,读出被测数。

注意:测试时K3~K12之间不准同时按下二个键!④关机;按K1,切断仪表电源。

2、各种三极管测试方法及图示:图中K2置NPN位置,测试PNP三极管时将K2(JL295型为K1)键置PNP位置,管脚接法与图一样。

①为了保证测试的准确性,建议使用外接6V 3A直流稳压电源。

②将三极管管脚按图示插入测试插座。

③仪表K3、K4档用于测试三极管VBR(耐压值),测试电压分别为0~1999V和0~199.9V;按下相应档位的开关,仪表分别显示被测三极管的VCEO、VCBO、VEBO 及VCE、VBC、VBE的耐压值。

④仪表K5、K6、K7三档用于测试三极管VCE(sat)(共发射极饱和压降)。

Ic电流分别为2000mA、300mA、10mA;Ib电流分别为200mA、30mA、1mA;测试时应根据三极管的功率大小按下相应档位的开关,表头显示相对电流下三极管的压降值。

提示:对同一型号的三极管,在相同电流档下测试,饱和压降值越小越好。

提示:小功率三极管不要用大电流档进行测试。

⑤仪表K8、K9、K10三档用于测试三极管hFE(共发射极直流放大系数)。

Ib电流分别为10mA、1mA、0.01mA;通过逐档测试可以观察三极管的放大线性,测得hFE值最大的一档应视为被测管最有效的工作状态。

提示:测试时应根据被测三极管的功率大小,先测试小电流档、再测试中电流档、后测试大电流档(要防止测试电流过大而损坏小功率管),表头分别显示不同工作电流下的直流放大系数。

注1:如果测试电流增大,被测三极管的放大系数不变或增大则说明被测管能在大电流的工作条件下使用;相反,如果随着测试电流的增大而被测三极管的放大系数减小,则说明被测管不能在大电流的工作条件下使用;如果表头显示的测试值不断变动,则说明该三极管不能承受该档的工作电流。

多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料

多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料

多功能晶体管测试仪使用说明V2.01120150301 1、功能介绍1.1、晶体管测试仪可以完全自动识别及测量三极管、场效应管、IGBT、二极管、双二极管、电阻、双电阻、电容、电感等,可测电容ESR(非在线测量)等功能。

1.2、简易信号发生器(方波):最高4MHz, 频率可调非连续输出,如4M、2M、1M、.... 100K ... 1KHz等。

单键调整输出稍麻烦一点,但可满足一般性使用。

输出信号电压:4.5V 串680欧电阻。

本功能状态下不自动关机,也不能手动关机,1.3、A频率计:0-3.8Mhz,输入信号电压2.5-5V.,分辨率1Hz。

可定制为7.6MHz高分辨率模式,0.1hz-130Khz 分辨率0.001hz, 100hz以下1-10秒,在测频状态下单击,屏幕上显示“Hi”,切换为高分辨率模式,超过130Khz自动切回正常模式。

已校准过B高精度频率计,16Hz-100Mhz.,输入信号电压2.5-5V,分辨率16Hz。

高分辨率模式,2hz-2.1Mhz 分辨率0.02hz, 1.6K以下1-10秒,在100M状态下单击,切换为高分辨率模式,屏幕上显示“Hi”,超过2.1M自动切回正常模式。

已校准过C高精度频率计,1024Hz-2.4Ghz.,输入信号电压30mV,分辨率1024Hz。

可用于对讲机发射频率测试。

高分辨率模式,102hz-137Mhz 分辨率1hz, 100K以下1-10秒,在2.4G状态下单击,切换为高分辨率模式,屏幕上显示“Hi”,超过137M自动切回正常模式。

由于易受干扰500K 以下不能很好测量。

非完全测试,2.4G没条件测试,500MHz测试ok。

已校准过,2.4G 灵敏度高,有时不接输入信号也会有输出,易受到干扰。

信号输入线宜用屏蔽线。

可自己DIY加个双掷开关切换 2.4G和100M 两档输入信号,并且双击切换档位,显示2.4G 或100M ABC为三选一功能1.4、可在线ESR: 测量时接入 1 3 口, 0.01-20欧,分辨率为0.01欧姆,且同时测量容量;精度不高但用来判断电容的好坏是没问题的。

操作规范(HZ4832晶体管测试仪)

操作规范(HZ4832晶体管测试仪)

操作规范(HZ4832晶体管测试仪)深圳市博劲恒科技有限公司□一阶□二阶■三阶文件编码版本版次页码页次制定部门制定日期BJH-BP8-1品质部2019-9-3晶体管测试仪操作指引□保密■重要□传阅目一、目的(Purpose)二、范围(Scope)录(directory)三、注意事项(Attention)四、使用方法(Usemethod)五、测试实例说明(TestCaseSpecification)修订日期2019.9.3版次修订内容B首次发行制定彭礼审核核准日期深圳市博劲恒科技有限公司□一阶□二阶■三阶文件编码版本版次页码页次制定部门制定日期BJH-BP8-2品质部2019-9-3晶体管测试仪操作指引□保密■重要□传阅一、目的为使晶体管检测仪有一定的操作方法,标准与步骤依循。

二、范围适用于:HZ4832。

三、注意事项1.在测量三极管的输出特性时,阶梯电流就不能太小,否则,不能显示出三极管的输出特性。

阶梯电流更不能过大,这样容易损坏管子,应根据实际测量三极管的参数来确定其大小。

2.“集电极功耗电阻”的选用当测量晶体管的正向特性时,选用低阻档;当测量反向特性时,选用高阻档。

集电极功耗电阻过小时,集电极电流就过大;若集电极功耗电阻过大,就达不到应该有的功耗。

3.仪器工作电压超过36V,注意用电安全。

4.在使用过程中一定要先确定待测元件的特性参数,以免损坏元件和实验仪器。

5.在显示调节聚焦和辉度时以屏幕显示适中为佳,过焦过亮会缩短示波管寿命。

6.元件测试过程中切勿用手接触裸露带电部位,以免造成数据失真和人身安全。

7.元件测试参照测试实例调节相应参数。

四、操作步骤与方法如下1.仪器使用前准备工作1.1确认输入电源电压并可靠接通仪器,确认仪器电源开关未被拉出,确认测试台和转换座可靠连接在实验仪上。

1.2开机预热2-3分钟,调整显示屏聚焦和辉度,以显示适中为佳。

1.3对应测试元件选择合适的转换座接入测试台。

2.使用仪器测试2.1按元件极性接入相应的测试台或转换座,调整仪器,以特性曲线正确显示在屏幕中央为准。

晶体管VGT、IGT、IH参数测试仪操作规程

晶体管VGT、IGT、IH参数测试仪操作规程
上海华晶整流器有限公司
(含浙江华晶整流器有限公司)
管理程序
编号:HJ/JC-002
发行日期:2008.4.1
版本次号:A
修改次号:0
第1页,共1页
项目
晶体管VGT、IGT、IH参数测试仪操作规程
一、本仪器是晶闸管VGT、IGT、IH三项参数的专用测试设备。适用于各种晶闸管的测试,操作者必须熟悉本机使用说明书,严格按照说明书的要求进行操作。
二、操作步骤:
1.按下“电源”开关按钮红色电源指示灯亮,数码管显示为“000”(若不为“000”请按一下复位开关按钮使本机进入0址)表示电源接通。
2.将被测试器件接在“A、K、G”接线端子上。
3.选择“IGI+”、“IGI-”、“IGIII-”、触发象限功能键或“IH”维持电流功能键。测试普通、快速晶闸管选择“IG I+”,测试KS双向晶闸管分别选择“IGI+”、“IGI-”、“IGIII-”,测试维持电流选择“IH”。
4.按动“复位”键:如仪器处于触发参数待测状态,电流、电压显示表回零。如仪器处于维持电流待测状态,电流显示表显示“450”mA左右的某一数值。
5.按动“测试”键:测触发参数时,电流表显示的数字由小到大变化,测维持电流时,电流表显示数字由大到小变化,测完自动停止。测试过程中“测试”键内指示灯亮,测完后指示灯自动熄灭。(注:测维持电流时,电压表显示的数值无意义。整个测试过程在2秒内完成)。
6.更换被测器件后,按3、5条操作即可。
注:对同一器件进行多次重复测试,测试过程由于被测试器件发热,参数会有所变Байду номын сангаас,测试中应注意。
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晶体管测试仪使用方法

晶体管测试仪使用方法

晶体管测试仪使用方法
晶体管测试仪是一种用于测试晶体管性能和功能的设备。

以下是晶体管测试仪的使用方法:
1. 准备工作:
- 确保晶体管测试仪的电源已接通并处于工作状态。

- 将待测试的晶体管正确插入测试仪的测试座,并确保与测试仪的接口连接牢固。

2. 设置测试参数:
- 通过测试仪的控制面板或操作界面,设置需要测试的参数,如电压、电流、频率等。

这些参数根据测试需求和晶体管规格进行设置。

3. 进行测试:
- 将测试仪的测试电源接通,并调整到适当的电压、电流或频率值。

- 开始测试时,观察测试仪的显示屏或指示灯,确保测试仪正常工作。

- 确保测试过程中晶体管没有异常现象,如短路、过载等。

如果发现异常,及时停止测试并检查故障原因。

4. 结果分析:
- 将测试仪测量得到的数据记录下来,包括电压、电流、频率等。

- 根据测试结果进行分析,判断晶体管的性能和功能是否符合要求。

常见的
测试项目包括开关特性、放大特性、输入输出特性等。

5. 维护保养:
- 测试完成后,及时关闭测试仪的电源,并进行清洁和保养。

如清除灰尘、调整测试座位等,以确保下次测试的准确性和可靠性。

- 定期检查测试仪的各个部件和连接线,确保其正常工作和连接牢固。

请注意,以上是一般的晶体管测试仪使用方法,不同型号和品牌的测试仪可能会有一些细微的差异。

在使用前请仔细阅读测试仪的说明书,并遵循厂家提供的操作指南。

JY-3晶体管测试仪技术说明书

JY-3晶体管测试仪技术说明书

JY-3晶体管测试仪技术说明书杭州精源电子仪器有限公司JY-3晶体管测试仪技术说明书1.系统简介本测试仪具有对半导体器件常温测试,高温热测(不需要外加烘箱),热敏参数的快速筛选取代直流满功率老炼三大功能,并可任意选用及组合使用。

晶体管热敏参数的快速筛选技术,是采用在短时间内(一般为数秒)对晶体管施加超稳态额定功率的办法,使晶体管的结温迅速接近或达到最高允许结温TjM,通过快速检测晶体管热敏参数V BE、I CEO(或I CBO)和h FE ,及其在加功率前后的变化量、变化率△V BE、I CEOH和△h FE%,并以此为失效判据参量,淘汰超标的晶体管,达到剔除早期失效器件,改善产品批的质量和可靠性的目的,同时,所施加的超稳态额定功率模拟了被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、电流等应力,以考核被试管承受冲击的能力。

该快速筛选方法不仅能替代直流满功率老炼,快速剔除有潜在缺陷的器件,而且更加科学合理,并已列为行业标准SJ/T10415—93及国军标GJB128A—97。

本测试仪不但能按规定进行晶体管热敏参数的快筛,而且可作常规直流参数测试仪器使用,具有足够的测试量程和精度,只要调用被测器件的型号,就能进入快速连续检测。

当被测器件由于穿通、二次击穿和热击穿的瞬间,具有自动保护能力。

2.主要功能2.1可取代直流满功率老炼,每只器件整个老炼筛选过程(含测试)只需5秒左右。

2.2 能测试筛选PNP、NPN大、中、小功率三极管。

中文菜单式界面,操作简便。

2.3能一次性自动测试、筛选V BE、V BC、h FE1、h FE2、I CEO、I CBO、I EBO、V(BR)CEO、V、V(BR)EBO、V CES、V BES的常温、高温值及常温与高温值变化量或变化率。

(BRCBO并能任意选测全部或部分参数;若只选测常温参数,每只器件只需1秒多。

h FE1、h FE2可以自动分10档。

2.4 可任意设定器件型号、测试条件及判据,并保存在系统中,通过浏览方式任意修改、调用。

晶体管图示仪YB4810说明书

晶体管图示仪YB4810说明书

半导体器件物理实验指导书一、实验设备介绍1、概述YB4810型晶体管特性图示仪是一种用阴极射线示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试仪器,尤其能在不损坏器件的情况下,测量其极限参数,如击穿电压、饱和压降等。

2、主要技术指标2.1 Y轴偏转系数集电极电流范围为10μA/div~0.5A/div,分15档,误差不超过±5%;二极管反向漏电流0.2μA/div~5μA/div,分5档,2μA/div、5μA/div误差不超过±5%,1μA/div误差不超过±7%,0.5μA/div误差不超过±10%,0.2μA/div误差不超过±20%;外接输入为0.1V/div误差不超过±5%。

2.2 X轴偏转系数集电极电压范围为0.1V/div~50V/div,分9档,误差不超过±5%;基极电压范围为0.1V/div~5V/div,分6档,误差不超过±5%;外接输入为0.05V/div误差不超过±7%。

2.3 阶梯信号阶梯电流范围为0.1μA/级~50mA/级,分18档;1μA/级~50mA/级,误差不超过±5%,0.1μA/级误差不超过±7%;阶梯电压范围为0.05V/级~1V/级,分5档,误差不超过±5%;串联电阻10Ω、10KΩ、0.1MΩ,分3档,误差不超过±10%;每簇级数4~10级连续可调。

2.4 集电极扫描电源、高压二极管测试电源功耗限制电阻0.5MΩ,分11档,误差不超过±10%。

2.5 其它校正信号为0.5Vp-p误差不超过±2%(频率为市电频率),1Vp-p误差不超过±2%(频率为市电频率);示波管15SJ110Y14内(UK=1.5Kv,UA4=+1.5kV);电源电压为(220±10%)V;电源频率为(50±5%)Hz;视在功率在非测试状态约50W;满功率测试状态约80W。

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晶体管测试仪使用说明输入电压:直流6.8V-12V工作电流30mA左右,输入7.5V直流电压时实测●晶体管测试仪控制测试仪由一个旋转编码器开关控制,旋转编码器开关一共可以有4种操作,短按、长按、左旋、右旋。

在关机状态下短按一次,就能打开电源,开始测试。

在一次测试完成后,如果没有检测到器件。

长按开关或者左右旋转开关可以进入功能菜单,进入功能菜单后,左旋或者右旋开关可以在菜单项上下选择,要进入某一个功能项,则短按一次开关。

当需要从某个功能里退出时,则长按开关。

●测试器件测试仪一共有3个测试点,TP1、TP2、TP3。

这三个测试点在测试座里的分布如下:在测试座的右边是贴片元件的测试位置,上面分别有数字1,2,3,各代表TP1、TP2、TP3测试只有2个引脚的元件时,引脚不分测试顺序,2个引脚任意选择2个测试点,3个脚的器件引脚分别放到三个测试点中,不分顺序。

经过测试后,测试仪自动识别出元件的引脚名称、所在的测试点,并显示在屏幕上。

测试只有2个脚的元件时,如果使用的是TP1和TP3两个测试点,则测试完成后自动进入连续测试模式,这样可以连续的同步测量TP1和TP3上的元件,不用再按开关。

如果使用的是“TP1和TP2”或者“TP2和TP3”测试,则只测试一次。

要再一次测试则按一次开关。

测试电容器前,先给电容器放电,再插入测试座测量,否则有可能损坏测试仪的单片机。

●校准测试仪校准是用于消除自身元器件的误差,使得最后的测试结果更加精确。

校准分为快速校准和全功能校准。

快速校准的操作方法:用导线将三个测试点TP1、TP2、TP3短接,然后按下测试按钮,同时注意观察屏幕。

屏幕颜色会变成黑底白字,在出现提示信息”Selftest mode..? ”后,按一下测试按钮,就进入到快速校准过程;如果在出现提示信息“Selftest mode..?”后,2秒钟内没有按键,则进行一次正常的测试过程,最后显示出短接TP1、TP2、TP3三个测试点导线的电阻值。

进入快速校准过程后,屏幕上会出现一些数据,不用管他。

等待直到屏幕上出现闪烁的字符串“isolate Probes!”后,去掉短接TP1、TP2、TP3的导线。

直到屏幕出现字符串“Test End”后,快速校准完成。

首次校准时,使用全功能校准方式。

全功能校准需要从功能菜单里进入,还需要另外准备一个220nf的电容器。

全功能校准执行更加全面的校准过程,会花费更长的时间。

进入功能菜单后,旋转测试按钮来到菜单项“Selftest”,然后按下测试按钮就进入全功能校准过程,屏幕上首先冒出闪烁的字符串“short Probes!”, 这时和快速校准一样,用导线把三个测试点短接,等待校准过程进行,在屏幕冒出闪烁的字符串“isolate Probes!”时,去掉短接在三个测试点的导线,继续等待校准过程进行,在屏幕冒出字符串“1-||-3 > 100nf”时,把准备好的220nf电容器安装在测试点TP1和TP3上。

等待直到屏幕提示“Test End”,全功能校准过程完成。

●功能菜单Switch off关机。

Transistor晶体管测试,也即是开机后的默认功能。

Frequency测量频率。

长按测试按钮可以退出频率测量功能。

频率测量范围从1Hz到1MHz以上,当被测频率低于25KHz时,显示周期。

f-Generator方波发生器,有多档方波频率可选,左旋或右旋测试按钮切换不同的方波频率,长按测试按钮退出方波发生器。

10-bit PWM脉冲信号发生器,左旋或右旋测试按钮调节脉冲的占空比,从1% - 99%。

长按测试按钮退出脉冲信号发生器。

C+ESR@TP1:3电容在线测量功能,可以从TP1和TP3引出两根导线,对2uF-50mF 电容器在线测量其电容值和ESR,注意测试前被测电容需完全放电,如果是在线测量,电容所在的电路需完全断电后才能进行。

1- - 3电阻连续测量方式,不断测试安装在TP1和TP3上的电阻值,电感值。

被测电阻小于2100欧姆时才会测量其电感,电感测量范围从0.01mH-20H .长按测试按钮退出。

1-||-3电容连续测量方式,不断测试安装在TP1和TP3上的电容值,对小容量的电容器,只有用这种测试方式才能测得其电容值。

对大于90nF的电容器测量其等效串联电阻值(ESR),ESR的分辨率0.01Ω。

5000pF以上的电容器显示其充电后电压下降速率。

SelfTest全功能校准功能。

Voltage直流电压测量,最高可测50V。

被测电压要从“测电压”接口上输入(切勿将被测电压从其他接口如“频率输出”接口上输入,会损坏单片机)。

要退出该功能,则左右快速旋转编码器。

FrontColor设置前景色,即字符的颜色,左旋或右旋测试按钮可以改变对应的颜色分量值,短按测试按钮选择要改变的红、绿、蓝三基色,16位颜色编码使用的是RGB(565)格式,分别对应红色最高等于31,绿色最高等于63,蓝色最高等于31。

设置完成后长按测试按钮则保存并退出。

注意不要把前景色和背景色设置成同一个颜色,那样会什么都看不见,如果发生这种情况,则关机,然后执行一次快速校准,进入快速校准的方法见前面描述,屏幕颜色会变成黑底白字。

快速校准完成后马上修改屏幕颜色。

BackColor和设置前景色方法相同,只是这是修改的是背景色。

Show date显示测试仪内部数据,从中可以观察测试仪的测试功能。

IR_Decoder红外遥控器解码功能,该功能需要借助一个1838一体化红外接收头(脉冲型),进入该功能后,观察显示屏上的提示第二行会显示字符串““1=DOUT 2=GND 3=VCC”,字符串的意思表示测试仪上的3个测试点和红外接收头的连接关系,必须严格按照指示进行连接。

测试座上只能空着或者正确装入一个红外接收头,不能放入其他元件,更不能用导线短接测试点。

以避免发生不可预知的故障。

下图为示例红外接收头的安装方向。

TP1连接红外接收头的DOUT脚,TP2接GND,TP3接VCC。

红外遥控器解码功能支持两种红外遥控编码格式。

格式一格式二以上两种格式大致相同,区别在于引导码的长度。

格式一为9MS,格式二为4.5MS。

红外遥控器解码功能分别使用uPD6121 表示格式一,TC9012表示格式二。

操作说明红外遥控器解码功能只能从功能菜单进入,进入红外遥控器解码功能前,测试座上和方波输出接线端上都不能有任何元件。

进入红外遥控器解码功能,待显示屏出现“standing by...”字符串后,把一体化红外接收头装入测试座并锁紧。

然后就可以把遥控器对准红外接收头发射。

如果能识别出该遥控器使用的编码。

第三行会显示一串”>>>>>>>>>>>”字符,表示一次解码成功,第四行显示该该遥控器使用的编码格式。

第五行显示的是用户码的第一个字节(user code1),第六行显示用户码的第二个字节(user code2)。

第七行显示数据码(data)和数据反码(~data),最后一行是整合显示32bit。

红外解码功能所有数值都是以16进制格式表示。

红外解码功能只支持单键模式,不支持连续模式。

测试这个功能时,发现用来测试的几个电视机遥控器都是使用的TC9012,小型Mp3遥控器使用的是uPD6121,空调的遥控器则不能识别 :-()。

由于条件限制,无法做更多的测试。

要从该功能退出时,先去掉测试座上的接收头,然后长按旋转编码器开关就可以退出。

IR_Encoder红外遥控编码功能,该功能需要用到一个红外线发光二极管。

测试仪可以控制该红外线发光二极管,从而实现一个红外遥控器的功能。

由于测试仪最多只能提供6mA左右的驱动电流,控制距离不能和正常的红外线遥控器相比。

在对准红外接收头发射的情况下,大概在2米以内。

红外遥控编码支持两种格式,与前面介绍的红外遥控器解码格式相同。

也是用 uPD6121 表示格式一,TC9012表示格式二。

操作说明红外遥控编码功能只能从功能菜单进入,进入红外遥控编码功能前,测试座上和方波输出接线端上都不能有任何元件。

进入红外遥控编码功能后,将一个红外线发光二极管连接在方波输出接线端子上,红外线发光二极管的负极接接地,正极接输出。

可以使用导线延长红外线发光二极管的正负极,以方便操作。

红外线发光二极管的长脚为正,短脚为负。

显示屏最左边一列是一个”>”符号,指出当前正在设置的参数。

短按测试按钮可以使”>”在各个设置项之间切换。

其中第二行”protocol”设置要使用的编码格式。

左右旋转测试按钮可以在“uPD6121”和“TC9012”之间切换。

第三、四行“user code1”和“user code2”设置用户码的第1、2字节,左旋测试按钮可以1为单位减小,右旋测试按钮可以 1为单位增加。

第五行设置数据码(data),左旋测试按钮可以1为单位减小,右旋测试按钮可以 1为单位增加。

数据反码通过数据码自动计算,不能进行手动设置。

在设置用户码和数据码的值时,除了可以左右旋转测试按钮以1为单位改变其数值外,还可以0x10为单位增大,操作方法是长按测试按钮,但长按的时间又不能过长,如果过长的话,就从这个功能退出了。

这个度刚开始不好把握。

第六行为发射控制”emit:”,把“>”符号位移动这一行时,左右旋转测试按钮就可以按上面设置的数据发射红外线了。

转动测试开关时,可以看见一个”->”符号快速的闪烁一下。

表示发射了一次数据。

操作举例:要用红外线编码功能控制某个电器,先要知道控制这个电器的遥控器编码格式。

所以第一步是要使用红外解码功能读取遥控器上某个按钮的编码值。

比如电视机是个三星的液晶电视,按一下遥控器的音量减按钮,解码得到的值为TC9012user code1=07user code2=07data=0B ~data=F4All 32bit=F40B0707记录上面的数据,然后在红外编码功能中,分别设置protocol:TC9012user code1=07user code2=07data=0B ~data=F4再把“>”符号移动到emit:>emit:连接在晶体管测试仪方波输出接线端上的红外线发光二极管对准电视机的红外线接收头所在的位置,转动测试按钮启动一次发射,就可以控制电视机减小音量了。

要从该功能退出时,先去掉连接在测试仪上的红外线发光二极管,然后长按测试按钮就可以退出注意:晶体管测试仪只支持TC9012和uPD6121两种编码格式。

数值都是用16进制表示DS18B20DS18B20是一个温度传感器,使用单总线通讯方式传递数据,具有和三极管相同的封装(TO-92),下图是DS18B20的引脚分布。

进入DS18B20测试功能后,显示屏第二行显示测试座和DS18B20的连接关系,“1=GND 2=DQ 3=VDD”,表示TP1接DS18B20的GND,TP2接DS18B20的DQ,TP3接DS18B20的VDD。

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