光电效应测普朗克常数实验讲义
光电效应法测普朗克常数
思考题答案
1、光电效应的实验规律有哪几个方面？ 答：①当入射光的波长不变时，光电流的大小与入射光的强 度成正比。
②光电子的最大动能与入射光的强度无关，仅与入射光的 频率有关，频率越高，光电子的动能就越大。
仪器简介
②光电子的最大动能与入射光的强度无关，仅与入射光的频率有关，频率越高，光电子的动能就越大。
答：通过测量某一频率光的伏安特性曲线，在曲线上找出其曲率半径最大点所对应的电压值，这个电压称之为光电管的遏止电压。
然后细测，在电流明显变化的电压值附近，仔细读出入射光照射下不同电压所对应的的光电流；
2、测量光电管的暗电流
（1）让光源出射孔对准暗盒窗口，并使暗盒离开光源30～50cm放大器“倍率”置×10-6。
最后作图找拐点，拐点所对应的电压就是遏止电压。
实验完毕，用遮光罩分别罩住光源出光孔和光电管进光孔。
（2）顺时针缓慢旋转“电压调节”旋钮，并合适地改变“电压量程”和“电压极性”关系。
答：采用加长遮光筒、光电管背对室内光源的办法即可减小室内杂散光对实验的干扰。
“倍率”置“短路”，“电流极性”置“－”， “工作位置”置“ＤＣ”，“电压极性”置“－”， “电压量程”置“－3.0V或2.8V”，”电压调节”反时针 调到最小状态 ３、更换滤色片时，要先将光源出光孔遮住，决不能使 光源直接照射光电管。
实验完毕，用遮光罩分别罩住光源出光孔和光电管 进光孔。 ４、实验中不能随便关闭汞灯，实验完毕，经教师检查 合格后，再关闭汞灯。
光3、电手效动应测法光测电普管朗的克I～常5V数、特性怎样减小室内杂散光对实验的干扰？
6 、 本 实 验 是 如 何 测 量 普 朗 克 常 数 的 ？ 请 简 述 从短波长起小心地逐次换入滤色片，仔细读出不同频率的入射光照射下的光电流。
基础物理实验-光电效应法测定普朗克常数
基础物理实验-光电效应法测定普朗克常数
光电效应法测定普朗克常数是一项基础物理实验，是通过研究光电效应来测定普朗克常数（符号为h）的一种方式。
普朗克常数是物理定律中一个重要的常数，它影响到热力学、光学等物理现象。
其值与许多量子现象有关，因此普朗克常数的准确的测定具有很重要的意义。
光电效应法测定普朗克常数有两种方法：第一种是爱因斯坦-ヒル方法，第二种是思廉斯-威尔逊方法。
爱因斯坦-ヒル方法主要是测定半导体中发生光电效应时，所放射或吸收光子与电子电荷之间的关系。
思廉斯-威尔逊方法是研究普朗克常数在发生激光光电效应中及电子电荷与激光能量所关联的关系。
爱因斯坦-ヒル方法测定普朗克常数的具体实验操作是：测量铋基半导体片材，将研磨涂硅好的片材压入Si的夹头，然后将夹头底座接入电路中，成为一个封闭的系统；然后将强光源聚焦于夹头和片材之间，激发半导体材料，使它发射出电子，接着将其能谱绘制出来；最后根据电荷量分子和光子能量的关系求得普朗克常数的值。
思廉斯-威尔逊方法的实验过程是：首先构造一个电路，电路中要有激光源、金属晶体和放大器等元件；然后将一定能量的光束输出，激发金属晶体，使它产生电离；接着通过放大器将电离电荷数目设定为有限数量，最后通过积分器计算积分，得到普朗克常数的大小。
有了以上两个方法，人们便可以精确测定普朗克常数，并利用该方法进行其他实验中也会经常用到该常数的计算。
由此可见光电效应法测定普朗克常数的重要性。
通过本次实验学习，可以充分体现出基础物理实验中的实用性，使我们能够仔细学习其核心内容，深入理解并巩固学习结果。
光电效应法测定普朗克常数实验原理
光电效应法测定普朗克常数实验原理光电效应法测定普朗克常数实验原理，听起来好像很高大上，但其实它就是利用光子的性质来测量一个非常小的数值——普朗克常数。
那么，这个实验到底是怎么进行的呢？别着急，让我来给你讲讲。
我们要了解什么是光电效应。
简单来说，光电效应就是当光子与物质相互作用时，会产生一些电子。
这些电子就像是光子的“孩子”，它们会从物质中“出生”，并且带有一些能量。
这个能量就叫做光子的能量。
好了，现在我们知道了光子和电子的关系，那么接下来就要用到普朗克常数了。
普朗克常数是一个非常小的数值，它的名字来源于它的发现者——德国物理学家马克斯·普朗克。
他在研究黑体辐射的时候，发现了一种规律：黑体辐射的能量是按照一定的频率分布的，而不是连续的。
这个规律被称为能量量子化定律。
而普朗克常数就是用来描述这个规律的一个重要参数。
那么，为什么我们需要测定普朗克常数呢？因为普朗克常数与光子的频率有关。
当光子的能量发生变化时，它的频率也会随之改变。
而我们通过测量光子的频率，就可以间接地测量出光子的能量。
这样一来，我们就可以用一种非常巧妙的方法来测定普朗克常数了。
接下来，让我们来看一下实验的具体步骤吧。
我们需要准备一个金属薄片，然后用一个光源照射它。
在照射的过程中，我们可以观察到金属薄片表面出现了一些电子。
这些电子就是由光子产生的。
接着，我们需要测量这些电子的数量以及它们的能量。
这样一来，我们就可以根据能量守恒定律和光电效应的公式，计算出光子的能量以及普朗克常数了。
当然啦，这个实验并不是那么简单就能完成的。
在实际操作过程中，我们还需要考虑很多因素，比如光源的波长、金属薄片的厚度等等。
但是总的来说，只要我们掌握了正确的方法和技巧，就一定能够成功地测定普朗克常数。
好了，现在你已经知道光电效应法测定普朗克常数实验的基本原理了吧？希望这篇文章能够帮助你更好地理解这个实验。
如果你还有什么疑问或者想了解更多关于光电效应的知识，欢迎随时来找我哦！。
大学物理实验光电效应法测普朗克常量 h讲义
光电效应法测普朗克常量h（本文内容选自高等教育出版社《大学物理实验》）1905 年，年仅26 岁的爱因斯坦（A.Einstein）提出光量子假说，发表了在物理学发展史上具有里程碑意义的光电效应理论，10 年后被具有非凡才能的物理学家密立根（Robert Millikan）用光辉的实验证实了。
两位物理大师之间微妙的默契配合推动了物理学的发展，他们都因光电效应等方面的杰出贡献分别于1921 年和1923 年获得诺贝尔物理学奖金。
光电效应实验及其光量子理论的解释在量子理论的确立与发展上，在揭示光的波粒二象性等方面都具有划时代的深远意义。
利用光电效应制成的光电器件在科学技术中得到广泛的应用，并且至今还在不断开辟新的应用领域，具有广阔的应用前景。
本实验的目的是了解光电效应的基本规律。
并用光电效应方法测量普朗克常量和测定光电管的光电特性曲线。
实验原理当光照在物体上时，光的能量仅部分地以热的形式被物体吸收，而另一部分则转换为物体中某些电子的能量，使电子逸出物体面，这种现象称为光电效应，逸出的电子称为光电子。
在光电效应中，光显示出它的粒子性质，所以这种现象对认识光的本性，具有极其重要的意义。
光电效应实验原理如图8.2.1-1 所示。
其中S 为真空光电管，K 为阴极，A 为阳极。
当无光照射阴极时，由于阳极与阴极是断路，所以检流计G 中无电流流过，当用一波长比较短的单色光照射到阴极K 上时，形成光电流，光电流随加速电位差U 变化的伏安特性曲线如图8.2.1-2 所示。
1.光电流与入射光强度的关系光电流随加速电位差U 的增加而增加，加速电位差增加到一定量值后，光电流达到饱和值和值I H，饱和电流与光强成正比，而与入射光的频率无关。
当U= U A-U K变成负值时，光电流迅速减小。
实验指出，有一个遏止电位差U a存在，当电位差达到这个值时，光电流为零。
2.光电子的初动能与入射频率之间的关系光电子从阴极逸出时，具有初动能，在减速电压下，光电子逆着电场力方向由K 极向A 极运动。
用光电效应测定普朗克常数讲稿
用光电效应测定普朗克常数1887年，德国物理学家赫兹发觉了光电效应现象。
可是在那时，利用麦克斯韦经典电磁理论无法圆满地说明光电效应的一系列性质。
直到1905年，爱因斯坦应用并进展了普朗克的量子理论，提出了“光量子”的概念，从而成功地说明了光电效应的规律，得出了光电效应方程。
后来，密立根对爱因斯坦的光量子理论进行了大量的实验测量，于1915年准确地测定了普朗克常数h ，有力地论证了爱因斯坦光量子理论的正确性。
这二位物理学家都因光电效应等方面的杰出奉献前后取得了诺贝尔物理学奖。
光电效应实验和光量子理论在物理学进展史上具有超级重要的意义。
利用光电效应制成的各类光电器件在工业生产、科研、军用器材装备中有超级普遍的应用。
现在咱们重复先辈物理学家的实验，不仅能够从中学到物理理论与物理方式、物理思想，而且能够学习他们坚忍不拔的毅力、严谨的科学态度，进一步提高大伙儿的实验能力和素养。
本次实验课的目的是：1、 加深对光的量子性的明白得；2、 验证爱因斯坦光电效应方程，测量普朗克常数。
[实验原理]1．大体知识：光电效应：必然频率的光照射在某些金属表面上时，有电子从金属表面逸出，这种现象叫光电效应。
所逸出的电子叫光电子，由光电子形成的电流叫光电流。
为了说明光电效应，爱因斯坦提出了“光量子”假说：在真空中传播的一束光确实是一束以速度c 运动的粒子流，这种粒子称为光量子，简称光子。
他以为频率为ν的光的每一个光子所具有的能量为νεh =，它不能再分割，而只能整个地被吸收或产生出来，h 叫做普朗克常数。
爱因斯坦依照光量子假说理论，成功说明了光电效应现象。
他以为，当光子入射到金属表面时，一个光子的能量hν一次地被金属中的一个电子全数吸收。
这些能量，一部份用来克服金属表面对它的束缚而做功，即金属的逸出功A ，其余的能量那么成为该电子逸出金属表面后的动能，也确实是光电子的初动能。
这确实是闻名的爱因斯坦光电方程，即A mv 21h 20+=ν。
光电效应实验---普朗克常量的测量
A
K
G
应的截止电压。 应的截止电压。
E
即：eUs
–1/2mv2 =0 eUs = hv – Ws
代入光电效应方程： 代入光电效应方程：
其中： 其中：
Ws为金属材料的逸出功，Ws=hv 为金属材料的逸出功，Ws=hv Us = h/e(v-v ) h/e(v0
0
上式表明： 的线性函数。 上式表明：截止电压Us是入射光频率v 的线性函数。
Us（V）
2 1.5 1 0.5 0 0 -0.5 -1 -1.5 -2 1 2 3 6 7 A(5.00,0.31) 14 ν。 4.15×10 Hz = 4 5 8
截止电压与频率的关系曲线 B(8.00,1.48)
（x10 γ 14Hz）
9
Φs = 1.62V
1. 作出不同光强下的I--V特性曲线。 作出不同光强下的I--V特性曲线。
实验内容： 实验内容：
1. 观测光电管的暗电流； 观测光电管的暗电流； 2. 测量光电管的I--V特性，重点测五种不 测量光电管的I--V特性， 同频率的截止电压； 同频率的截止电压； 3. 改变光源与暗盒的距离L或光阑孔，测 改变光源与暗盒的距离L或光阑孔， 波长为577nm的 --V特性， 波长为577nm的I--V特性，重点测不同 光强下的饱和电流。 光强下的饱和电流。
E V
A
K
G
但与入射光的频率成正比； 但与入射光的频率成正比； (4)光电效应是瞬时效应，一经光线照射，立即产生光电子。 (4)光电效应是瞬时效应，一经光线照射，立即产生光电子。 光电效应是瞬时效应
光电效应方程： 光电效应方程：
1 2 mv = h ν w s 2
当加反向电压时， 当加反向电压时，阻止光电子 运动，当光电流为零时， 运动，当光电流为零时，此时 所加反向电压Us被称为光电效 所加反向电压Us被称为光电效
实验2.1 光电效应测普朗克常数(2014年09月19日更新)
中
山
花纹，理论推导结果与实验符合得很好。1856-1865 年，麦克斯韦建立了电磁场理论，指出光是一
大
释了光的偏振，并以严密的数学推理，定量计算了光通过圆孔、圆板等形状的障碍物所产生的衍射
为零，则该点对应的电压值不是截止电压。又由于阳极反向电流很小，在反向电压不大时就已达到 饱和，所以曲线下部变成平直的。我们只要确定出曲线开始变成直线时的转变点 b，就确定了阴极 电流为零的点，其所对应的反向电压就是阴极电流的截止电压。如果入射光强太弱，光电管发出的 阴极光电流太小，这一转变点不易找出，会影响测量的精度，故实验中需采用出射光强度较大的光 源及带通滤光片。
代入式（1） ，有
内 物 部 理 实 实 验 验 讲 教 义 学
图 1 关于光电效应的几个特性曲线 =ℎ −
(d)不同入射光频率下的截止电压
学
中 心
（4） 是一个定值，与入射光的频 。由式（B1.4）
中Leabharlann 得山率无关。令
=ℎ
大
由于金属材料的逸出功
是金属的固有属性，对于给定的金属材料，
， 为截止频率，即具有截止频率 的光子的能量等于逸出功
1. 测试前准备： （1） （2） （3） （4） 将实验仪及汞灯电源接通（汞灯及光电管暗盒遮光盖必须盖上） ，预热 20 分钟。 调整光电管与汞灯距离为约 40cm 并保持不变。 用专用连接线将光电管暗盒电压输入端与实验仪后面板的电压输出端连接起来。 将“电流量程”选择开关置所需档位，进行调零。实验仪在开机或改变电流量程后，
光电效应是指一定频率的光照射在金属表面时会有电子从金属表面逸出的现象。光电效应实验 对于认识光的本质及早期量子理论的发展，具有里程碑式的意义。 1. 光量子说发展历史
光电效应法测定普朗克常数.课件
滤色片对不同波长光的透过率应 高且稳定。
测量仪器
电流表
用于测量光电流的大小。
电压表
用于测量光电管两端的电压。
计时器
用于测量光电管发光的时间。
03
实验步骤与操作
实验准备
实验器材
光电效应实验装置、滤色片、稳压电源、电流表、电压表、光电池、光强度调节器等。
实验原理
光电效应是指光子通过照射金属表面，使电子从金属表面逸出的现象。根据爱因斯坦光电 效应方程，光子的能量E与光强、波长有关，而普朗克常数是光子能量与频率之间的比例 系数。
06
参考文献
参考文献
作者：张三 刊物名称：《物理实验》
出版年份：2008年
THANKS
感谢观看
02
实验设备与材料
光电效应法实验装置
光电管
恒流电源
恒压电源Biblioteka 测量仪表用于接收光子并产生光 电流。
为光电管提供稳定的电 流。
为光电管提供稳定的电 压。
用于测量光电流和电压 。
光源
激光器
产生单色光，具有高能量、高亮度和高方向性。
滤色片
用于选择所需波长的光。
滤色片
不同波长的滤色片
用于选择不同波长的光，以研究 光电效应与波长的关系。
实验原理简述
光电效应定义
爱因斯坦光电效应方程
当光照射在物质上时，物质可以吸收光的 能量并产生电子的现象。
解释了光子能量、波长和电子动能之间的 关系。
普朗克常数
描述量子力学中能量不连续性的物理常数 。
光电效应法测定普朗克常数的原 理
通过测量不同波长的光照射下的电子动能 ，结合爱因斯坦方程，推导出普朗克常数 的值。
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图 2.2-4 实验仪器原理框图 1. 光源。用高压汞灯，灯泡先用 GGQ-50WHg 型，光谱范围在 302.3～872.0nm 之间。
2. 光电管。采用 GDh-1 型光电管，阳极为镍圈，阴极为银-氧-钾(Ag-O-K)，光谱 范围为 340～700nm。它装在带有入射窗口的暗盒内，高度可调，入射窗口配有
连。
(3)参照 GD-Ⅳ微机光电效应实验仪使用说明书附录进行 X、Y 调零，用电脑 X-Y
记录仪软件采集 5 种波长下的 U-I 特性曲线存成数拓文件（.XYD）。
(4)用光电效应测普朗克常数分析软件，测量普朗克常数，并计算实验误差(相
对 h 的公认值)，并打印。软件使用方法可参看该软件的“在线帮助”或者仪器 使用说明书。
5mm 孔径光阑。暗盒面板如图 2.2-5 所示。
3. 滤色片。用 NG 型滤色片获得单色光，它是 一组（5 块）宽带型有色玻璃组合滤色片，有选 通 365.0、405.7、435.8、546.1、577.0nm 谱线的 能力。
4. 微电流测量放大器。电流测量范围 ～
A，分 6 档，十进变换，微电流指示用 3 位
量”开关置于“测量”，测量放大器的电压选择置于“直流”，电流调节置 或
，旋动“电压调节”旋钮，读出-3～+3V 间若干电压下相应的电流值，即光
电管暗电流。 (4)测不同波长的单色光照射时光电管的 U-I 特性曲线。取下遮光罩，换上滤色 片，从-3V 开始逐步改变光电管阳极电压，记录相应的光电流。
逐次换上 5 个滤色片，测出不同波长下的 U-I 曲线，在电流变化明显的地方多
光电流饱和，如图 2.2-2 中虚线所示。若 达到某一负值 时，光电流为零， 称为遏止电位或截止电压。这是因为从阴极逸出的具有最大初动能的电子不能穿 过反向电场到达阳极，即
将（2.2-2）代入（2.2-1）式得 当用不同频率的单色光照射时，有
(2.2-2)
„„ 联立其中任意两个方程，得
(2.2-3)
注意事项 1. 微机 PC-XY 接口卡上一定不要接其他外设,否则会损坏主机和外设。 2.汞灯熄掉后要等几分钟才能再点燃,所以一般不要轻易关汞灯。
数据处理 1. 手动测量的数据处理 (1) 在同一张坐标线上,作不同波长的单色光照射时的 U-I 特性曲线，确定 对 应的 。 (2) 作 - 图线。若为直线，则爱因斯坦方程得到验证。 (3) 同 - 图线的斜率求出普朗克常数 h。并与 h 的公认值比较，估计 h 的测 量误差。 2. 自动描绘的数据处理
由此可见，爱因斯坦光电方程提供了一种测 量普朗
克常数的方法，如果从实验所得的 关 系 是 一条 直 线（ 如图 2.2-3 ），其 斜 率
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
k=h/e,e 为电子电荷，由此可求出常数 h。这也就证实了光电方程的正确性。 3. 光电管的实际 U-I 特性曲线 由于下述原因光电管的实测 U-I 特性曲线如图 2.2-2 中实线所示，光电流没有一 个锐截止点。 (1) 在光电管制造过程中，有些光阴极物质溅射到阳级上，受光照射(包括漫反 射光)时，阳极也会发射光电子，使光电管极间出现反向电流(阳极电流)。 (2) 无光照射时，在外加电压下，光电管中仍有微弱电流流过，称为暗电流。 这是由于光电管电极在常温下的热电子发射以及管座和管壳外表面的漏电造成 的。
光的强度如何，都不产生光电效应。此外，光电流大小（即电子数目）只决定于
光的强度。 2. 验证爱因斯坦光电方程，求普朗克常数 本实验采用“减速电位法”决定电子的最大初动能，并由此求出普朗克常数
h。实验原理如图 2.2-1 所示。图中 K 为光电管阴极，A 为阳极。当频率为 ν 的
单色光入射到光电管阴极上时，电子从阴极逸出，向阳极运动，形成电流。当 为正值时， 越大，光电流 越大，当电压 达到一定值时，
1. 手动测量光电管的 U-I 特性曲线。
(1)将光源、光电管暗盒、微电流放大器等安放在适当位置，光源与光电管的距
离取 30～50cm，注意两者光路共轴。暂不接线。接通微电流测量放大器电源，
预热 10～20 分钟，进行微电流测量放大器的调零和校准。方法是：“校准、调零、
测量”开关置于“调零校准”档，置“电流调节”开关于短路档，调节“调零”
测几点，以便准确定出 。
2. 用 X-Y 函数记录仪自动描绘 U-I 特性曲线。
将记录仪的 X、Y 输入分别与微电流放大器后面板上的 X、Y 输出相连，将“X
量程”置 100mV/cm，“Y 量程”置 1mV/cm，保持手动测试时的实验条件，每换上
一个滤色片后，将放大器的“电压选择”开关置“扫描”，自动描绘 U-I 特性曲
参考资料
[1]B.凯格纳克等著，近代原子物理学（上册），科学出版社，1980。 [2]A.M.波蒂斯、H.B.杨著，大学物理实验（伯克利物理实验），科学出版社， 1982。 [3]H.F.迈纳斯等著，恽瑛等译，普通物理实验，科学出版社，1987。 [4]史玖德编著，光电管与光电倍增管，国防工业出版社，1981。
在描绘的 U-I 特性曲线上作出纵坐标和横坐标轴线，并确定 对应的 ，仿 照上述数据处理方法，求出 h 以及相对公认值的误差。
如仅凭作图法所得结果精确度不高，可用最小二乘法处理数据，求出 h。 *选做项目 测定光电管的光电特性曲线，即饱和光电流和照射光强度的关 系。这时选用的阳极电压应大于饱和电压，采用某种波长的单色光，改变光源与 光电管的距离 d，测量相对的光电流强度，以 (正比于照度)为横坐标，光电 流强度为纵坐标，绘出光电特性曲线。
光电效应测普朗克常数实验讲义
引言 1887 年 H.赫兹发现光电效应，此后许多物理学家对光电效应作了深入的研 究，总结出光电效应的实验规律。1905 年爱因斯坦提出“光量子”假说，圆满 地解释了光电效应，并给出了光电方程。密立根用了十年的时间对光效应作进行 定量的实验研究，证实了爱因斯坦光电方程的正确性，并精确测量出了普朗克常 数 h。爱因斯坦和密立根因光电效应等方面的杰出贡献，分别于 1921 年和 1923 年获得诺贝尔物理奖。 利用光电效应已制成光电管、光电倍增管等光电器件，在科学技术中得到广 泛应用。
(2)阴极为球壳形、阳极为半径比阴极小得我的同心小球的光电管(如 GD-4 开 型)，反向电流容易饱和，可以把反向电流进入饱和时的拐点（图 2.2-2 中 ）电 压近似作为遏止电位，这种方法叫做“拐点法”。
不过，不论采用什么方法，均在不同程度不同上引起系统误差，使测量 h 的误 差较大。
实验仪器 本实验采用 GD-IV 型微机光电效应实验仪，其原理框图如图 2.2-4 所示。包括四 部分：
旋钮使电流表指零，然后“电流调节”拨向“校准”，调“校准”旋钮使电流表
指 100，调零和校准可反复调整，使之都能满足要求。
(2)用电缆将光电管阴级 K 与微电流放大器后面板上的“电流输入”相连，用双
芯导线将光电管阳极与地连接到后面板的“电压输出”插座上。点亮汞灯。
(3) 测量光电管的暗电流.用遮光罩盖住光电管暗盒窗口,将“调零、校准、测
(3) 阳极和阴极材料不同引起的接触电位差。 4、遏止电位的确定
由于上述原因使遏止电位 的确定带有很大的任意性。实验时应根据光电管
的不同结构与性能，采用不同方法确定 。
(1)阴极是平面电极、阳极做成大环形可加热结构的光电管(如国产 1997 型或 GDh-1 型)其阴极电流上升很快，反向电流较小，特性曲线与横轴的交点 可近似 当作遏止电压，这种方法称为“交点法”。
预习思考题 1、试述爱因斯坦光电方程的物理意义。 2、何谓电子的逸出功？从 - 图线上能决定该金属的逸出功吗？ 3、滤光片位置于光源窗口，还是光电管窗口？
实验问答题 1、为什么在光电管暗盒子窗口上装小孔光阑？ 2、如何从本实验中求出逸出功以及确定截止频率？ 3、实验误差产生的主要原因是什么？如何减少实验误差？
线。自动记录时必须密切注视记录笔的移动情况，及时关掉“Y 输入”开关或者
令记录笔抬起，以免记录仪过载。
3. 用微机测绘 U-I 特性曲线，并求普朗克常数。、
(1)在微机的 ISA 总线插槽上插入 PC-XY 接口卡，安装电脑 X-Y 记录仪软件和光
电效应测普朗克常数软件。
(2)用多芯接口电缆将测量放大器后面板 PX-XY 接口输出与微机 PC-XY 接口卡相
1.电流调节开关 2.微电流指示 3.调零 4.校准 5.调零校准与测量转换开关 6.电压指示 7.电压调节 8.电压选择开关
图 2.2-6 微电流测量放大器面板示意图
1.电压输出 2.PC-XY 接口输出 3.电流输入 4.X 输出 5.Y 输出
6.电源开关 7.电源插座
实验内容
图 2.2-7 微电流测量放大器后面板示意图
实验目的 1、了解光电效应及其规律，理解爱因斯坦光电方程的物理意义。
2、 用减速电位测量光电子初动能，求普朗克常数。
实验原理 1. 光电效应
金属在光的照射下释放出电子的现象叫做光电效应。根据爱因斯坦的“光量子概念”，
每一个光子具有能量
,当光照射到金属上时,其能量被电子吸收,一部分耗于电子的逸
出功 ,另一部分转换为电子逸出金属表面后的动能。由能量守恒定律得
（2.2-1）
此式称为爱因斯坦光电方程。式中 h 为普朗克常数， 为入射光的频率，m 为电
子质量， 为电子的最大速度，上式右边第一项为电子最大初动能。用光电方程
圆满解释了光电效应的基本实验事实：
电子的初动能与入射光频率呈线性关系，与入射光的强度无关。任何金属都
存在一截止频率 ，
， 又称红限，当入射光的频率小于 时，不论
半数字电流表，读数精度分 0.1μA(用于调零和 校准)和 1μA(用于测量)两档。机内附有光电管 工作电源。分直流和扫描两档，直流用于手动调
节电压，扫描用于记录仪或微机自动测量时，