TEM透射电子显微镜
第二章 透射电子显微镜 (TEM)
常见的衍射花样有以下几种类型：
① 非晶物质的花样：由数个弥散的同心圆环组成，环位 置和强度与原子周围的环境有关。
② 多晶物质的花样： 明锐的同心圆环组成，环半径及其 强度与晶体的结构有确定的关系。
③ 单晶花样：是平行四边形排列的二维点阵，斑点位置、 强度和排列的对称性与晶体结构有明确的定量关系。
θ
Fig6 Intracrystalline organic matrix
b a
c
Fig7.TEM image of cross-section column crystal in prismatic layer a. intracystal electron diffract stigma b.amorphous electron diffraction ring of intergranuler boundary
Fig3 decalciication organic framework of nacreous layer.
b a
c
Fig5.a. Non-decalcification zone b. Transition zone(Sub-structure of organic net) c. All- decalcification zoneห้องสมุดไป่ตู้
后焦平面 (衍射图)
A A1 A0 A2
物平面
B
B1 B0 B2
物镜
物镜光栏
像平面
B’
A’
图2-10 质厚衬度像成像原理
❖ 2>. 衍射衬度
入射电子同晶体 样品作用时，发 生布拉格散射,电 子只改变运动方 向，而不损失能 量，这种弹性散 射其强度与入射 电子方向和晶体 之间的相对取向 密切相关。
TEM(透射电子显微镜)
细胞结构解析
细胞膜结构
透射电镜图像可以清晰地展示细胞膜的精细结构，如细胞膜的厚度、 细胞器的分布等。
细胞器结构
透射电镜能够观察到细胞内的各种细胞器，如线粒体、内质网、高 尔基体等，有助于了解细胞器的形态和功能。
细胞骨架结构
透射电镜能够观察到细胞骨架的超微结构，如微管、微丝和中间纤维 等，有助于了解细胞骨架在细胞运动、分裂和分化中的作用。
TEM应用领域
01
02
03
04
生物学
研究细胞、组织和器官的超微 结构，如细胞器、细胞膜、染
色体等。
医学
用于诊断疾病，如癌症、传染 病等，以及药物研发和疫苗制
备过程中的结构分析。
地质学
观察岩石、矿物和矿物的微观 结构，研究地球科学中的各种
地质现象。
材料科学
研究金属、陶瓷、高分子等材 料的微观结构和性能，以及材
控制切片的厚度，通常在50~70纳米之间，以确 保电子束能够穿透并观察到样品的内部结构。
切片收集与处理
将切好的超薄切片收集到支持膜上，并进行染色、 染色脱水和空气干燥等处理。
染色
染色剂选择
选择适当的染色剂，如铅、铀或 铜盐，以增强样品的电子密度并
突出其结构特征。
染色时间与温度
控制染色时间和温度，以确保染色 剂与样品充分反应并达到最佳染色 效果。
清洁样品室
定期清洁样品室，保持清洁度 。
检查电子束系统
定期检查电子束系统，确保聚 焦和稳定性。
更新软件和驱动程序
及时更新TEM相关软件和驱动 程序，确保兼容性和稳定性。
定期校准
按照厂家建议，定期对TEM进 行校准，确保观察结果的准确
性。
06 TEM未来发展
透射电子显微镜下的生物大分子结构解析
透射电子显微镜下的生物大分子结构解析一、透射电子显微镜技术概述透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种利用电子束穿透样品的高分辨率显微镜技术。
与传统的光学显微镜相比，透射电子显微镜能够提供纳米级别的分辨率，这使得它在生物大分子结构解析领域具有独特的优势。
本文将探讨透射电子显微镜在生物大分子结构解析中的应用，分析其原理、技术特点以及在生物科学领域的重要作用。
1.1 透射电子显微镜的基本原理透射电子显微镜的工作原理基于电子光学原理，电子束通过电磁透镜聚焦，穿透样品后，由检测器接收并转换成图像。
由于电子波长远小于可见光，因此TEM能够达到比光学显微镜更高的分辨率。
1.2 透射电子显微镜的技术特点透射电子显微镜具有以下技术特点：- 高分辨率：能够达到原子级别的分辨率，适合观察生物大分子的精细结构。
- 多模式成像：除了传统的透射成像外，还可以进行扫描透射成像（STEM）和电子衍射等。
- 样品制备要求：需要将生物样品制备成极薄的切片，以确保电子束的有效穿透。
- 环境控制：需要在高真空环境下操作，以避免电子束与空气分子的相互作用。
1.3 透射电子显微镜在生物大分子结构解析中的应用透射电子显微镜在生物大分子结构解析中的应用非常广泛，包括蛋白质、核酸、病毒等生物大分子的形态学研究和结构分析。
二、生物大分子结构解析的技术和方法生物大分子结构解析是一个复杂的过程，涉及多种技术和方法。
透射电子显微镜技术在这一过程中扮演着重要角色，但也需要与其他技术相结合，以获得更全面和准确的结构信息。
2.1 样品制备技术生物大分子的样品制备是结构解析的第一步，也是关键步骤之一。
透射电子显微镜要求样品必须足够薄，通常需要使用超微切割、冷冻断裂或聚焦离子束等技术来制备样品。
2.2 高分辨率成像技术高分辨率成像是获取生物大分子结构信息的基础。
透射电子显微镜通过优化电子束的聚焦、样品的放置和成像条件，可以获得高质量的图像。
透射电子显微镜的原理
透射电子显微镜的原理透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种利用电子束来观察物质微观结构的工具。
相对于光学显微镜，TEM可以提供更高的分辨率和更大的放大倍数，因此在研究纳米尺度物体和物质的晶体结构等方面具有独特的优势。
下面将介绍TEM的原理以及工作过程。
TEM的主要组成部分包括电子源、电子光学系统、样品台以及探测器。
第一部分是电子源。
TEM使用的是热阴极电子源，通过加热材料产生的电子可以使它们跨越电子能障形成电子束。
电子束的形成需要经过一系列的加速器和准直透镜等装置，以确保电子束稳定的强度和方向。
第二部分是电子光学系统。
TEM的电子光学系统由一个或多个透镜组成，包括准直透镜、磁透镜和目标透镜。
准直透镜用于平行化电子束，磁透镜用于对电子束进行聚焦，目标透镜用于调整电子束的焦距。
这些透镜的组合可以将电子束聚焦到非常小的尺寸上，从而实现高分辨率的成像。
第三部分是样品台。
样品台是放置待观察样品的平台，可以通过控制样品的位置、倾斜角度等参数来调节观察角度和焦距。
第四部分是探测器。
探测器是接收和记录电子束穿过样品时所发生的相互作用的装置，常用的探测器包括像差探测器（Diffraction Contrast Detector）和投影光学探测器（Projection Optics Detector）。
像差探测器可以测量样品中的晶体缺陷和晶体结构，而投影光学探测器可以获得样品的原子分布图像。
TEM的工作过程如下：首先，样品被制成非常薄的切片，并被放置在样品台上。
然后，电子束由电子源发出，并通过光学系统的透镜进行聚焦。
接下来，聚焦的电子束穿过样品，并与样品中的原子和分子发生相互作用。
这种相互作用包括电子-电子相互作用、电子-晶格相互作用和电子-原子核相互作用。
然后，电子束到达探测器，根据不同的探测器可以得到不同的信息。
像差探测器可以根据电子束的衍射来获得样品中的晶体结构信息，而投影光学探测器则可以获得样品的原子分布图像。
TEM(透射电子显微镜)
观察记录部分
荧光屏：在电子束照射下，电子图像反映在荧 光屏上，可呈现终像。研究者通过观察窗在荧 光屏上进行像的观察、选择和聚焦。除了荧光 屏外，还配有用于单独聚焦的小荧光屏，在主 观察窗外有5~10倍的双目镜光学显微镜，以对 图像精确聚焦和观察，可以把终像放大3~10 倍。 照相底片：最常用的透射电镜的照相底片是片 状的胶片。胶片的一面有厚度约为25μm的明胶 层，明胶层含有均匀分散的10%的卤化银颗 粒。照相底片在电子束的照射下能感光。它对 电子的感光特性基本上与可见光的感光特性一 样（只是灵敏度和噪声不同）。
( 1 0 . 978 10 V ) ( nm ) V
1 2Βιβλιοθήκη 1 6 2TEM发展概述
1926年德国科学家Garbor 和Busch发现用铁壳封闭 的铜线圈对电子流能折射 聚焦，既可作为电子束的 透镜。 1932年德国科学家Ruska和 Knoll在前面两个发现的基 础上研制出第一台TEM
成像部分
物镜：为放大率很高的短距透镜，对样品成像 和放大。它是决定TEM分辨本领和成像质量的 关键。因为它将样品中的微细结构成像、放 大，物镜中的任何缺陷都将被成像系统中的其 他透镜进一步放大。
中间镜：是一个可变倍率的弱透镜，可以对电 子像进行二次放大。通过调节中间镜的电流， 可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。 投影镜：为高级强透镜，最后一级放大镜，用 来放大中间像后在荧光屏上成像。
电子光学系统组成
电 子 光 学 系 统 电子枪 聚光镜 样品台 物镜 中间镜 投影镜 荧光屏 成像部分 观察记录部分 样品装置部分 照明部分
照明部分
电子枪：发射电子的场所， 也是电镜的照明源。由阴极 （灯丝）、栅极、阳极组 成。阴极管发射的电子通过 栅极上的小孔形成电子束， 电子束有一定发射角，经阳 极电压加速后射向聚光镜， 起到对电子束加速加压的作 用，形成很小的平行电子 束。
TEM电子显微镜工作原理详解
TEM电子显微镜工作原理详解TEM电子显微镜是一种高分辨率的分析仪器，能够在纳米尺度下观察材料的微观结构和成分，对于研究材料的性质和特性具有重要意义。
本文将详细介绍TEM电子显微镜的工作原理，包括透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜。
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）工作原理：透射电子显微镜主要由电子光源、透镜和探测器组成。
首先，电子光源发射高能电子束，这些电子从阴极发射出来，经过加速器获得较高的能量。
然后，电子束通过一系列的电磁透镜进行聚焦，使电子束变得更加细致和密集。
接着，电子束通过物质样本，部分电子被样本吸收或散射，形成透射电子。
这些透射电子被接收器捕获和放大成像，形成TEM图像。
透射电子显微镜的工作原理是基于电子的波粒二象性。
电子是一种粒子同时也是一种波动，其波动性质使得它具备非常短的波长，远远小于可见光的波长。
这使得TEM能够观察到比传统光学显微镜更小的尺度。
另外，透射电子显微镜在工作中还需要考虑电子束的束流强度、对样本的破坏性和控制样本与探测器之间的距离等因素。
TEM电子显微镜通过透射电子成像方式观察样本，因此对样本的制备要求非常高。
样品需要制备成非常薄的切片，通常厚度在几十纳米到几百纳米之间，以保证电子可以穿透。
对于一些无法制备成切片的样品，可以利用离子切割或焦离子技术获得透明的样品。
此外，在观察样本时需要避免污染和氧化等现象。
扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscope，STEM）工作原理：扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种变种，它在透射成像的基础上加入了扫描功能。
STEM可以实现高分辨率的成像，同时也可以进行能谱分析和电子衍射。
STEM电子显微镜工作原理类似于透射电子显微镜，但需要注意的是，STEM使用的电子束并不需要通过所有的样本区域。
电子束只需通过样本中的一个小区域，然后扫描整个样本，因此样本制备要求和透射电子显微镜相比较低。
透射电子显微镜的原理
透射电子显微镜的原理透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种利用电子束来观察和研究物质的光学仪器。
与光学显微镜相比，透射电子显微镜具有更高的分辨率，能够观察到更小尺寸的物体和更细微的结构。
1.电子源：透射电子显微镜使用热阴极或冷场发射阴极作为电子源。
热阴极通过电子加热产生热电子，冷阴极则利用材料的特殊电子发射特性产生电子束。
2.透镜系统：透射电子显微镜使用一系列电磁透镜来控制和聚焦电子束。
其中包括准直透镜、对焦透镜、物镜透镜和投影透镜。
这些透镜通过调节电流和电压来控制电子束的聚焦和成像。
3.样品台：样品台是支撑和处理样品的平台。
它通常具有位置调节和倾斜功能，以使得样品的成像角度和位置能够被调整。
4.探测器：透射电子显微镜使用不同的探测器来测量透射电子的强度和散射电子的角度。
最常用的探测器是透射电子探测器和散射电子探测器。
5.图像显示系统：透射电子显微镜的图像显示系统通常由CCD摄像机和显示器组成。
CCD摄像机将透射电子的信号转化为电信号，并通过计算机处理后在显示器上显示。
透射电子显微镜的分辨率取决于电子波长。
与可见光相比，电子具有更短的波长，能够给出更高的分辨率。
透射电子的波长约为0.004纳米到0.1纳米，比可见光的波长小3个数量级。
因此，透射电子显微镜能够观察到比光学显微镜更小的物体和更细微的结构。
透射电子显微镜的应用广泛，包括材料科学、生物学、纳米技术等领域。
在材料科学中，透射电子显微镜可以用来观察和研究材料的晶体结构、晶格缺陷以及元素分布等。
在生物学中，透射电子显微镜可以用来观察和研究生物分子的结构和细胞的超微结构。
在纳米技术中，透射电子显微镜可以用来观察和研究纳米材料和纳米器件的性质和性能。
总而言之，透射电子显微镜通过利用电子束来观察和研究物质的原理，具有较高的分辨率和广泛的应用领域。
它在科学研究和工业生产中发挥着重要的作用，为我们提供了深入认识和理解微观世界的工具。
透射电子显微镜(TEM)详解
（一）间接样品的制备（表面复型）
透射电镜所用的试样既要薄又要小，这就大大限 制了它的应用领域，采用复型制样技术可以弥补 这一缺陷。复型是用能耐电子束辐照并对电子束 透明的材料对试样的表面进行复制，通过对这种 复制品的透射电镜观察，间接了解高聚物材料的 表面形貌。
蚀刻剂：高锰酸钾-浓 硫酸 将无定形部分腐蚀掉
八、透射电镜在聚合物研究中的应用
（一）结晶性聚合物的TEM照片
PE单晶及其电子衍射谱
Keller提出的PE折叠链模型
尼龙6 折叠链 片晶
单斜晶系 的PP单晶
2、树枝晶: 从较浓溶液（0.01~0.1%)结晶时，流动力 场存在，可形成树枝晶等。
PE的树枝状结晶
（3）染色：通常的聚合物由轻元素组成，在用厚 度衬度成像时图像的反差很弱，通过染色处理后 可改善。
所谓染色处理实质上就是用一种含重金属的试剂 对试样中的某一组分进行选择性化学处理，使其 结合上重金属，从而导致其对电子的散射能力增 强，以增强图像的衬度。
（a）OsO4染色，可染-C=C-双键、-OH基、-NH2基。 其染色反应是：
（二）直接样品的制备
1.粉末样品制备 粉末样品制备的关键是如何将超细粉的颗粒分散开来，
各自独立而不团聚。
胶粉混合法：在干净玻璃片上滴火棉胶溶液，然后在玻 璃片胶液上放少许粉末并搅匀，再将另一玻璃片压上， 两玻璃片对研并突然抽开，稍候，膜干。用刀片划成小 方格，将玻璃片斜插入水杯中，在水面上下空插，膜片 逐渐脱落，用铜网将方形膜捞出，待观察。
常见的聚合物制样技术
（1）超薄切片:超薄切片机将大试样切成50nm 左右的薄试样。
聚甲基丙烯酸丁酯将 聚四氟乙烯包埋后切 片，白色部分表示颗 粒形貌， 切片时，有颗粒的部 分掉了
透射电子显微镜-TEM-医学课件
Transmission electron microscope
1
内容
简介 结构原理 样品制备 透射电子显微像 选区电子衍射分析
2
TEM 简介
1898年J.J. Thomson发现电子 1924年de Broglie 提出物质粒子波动性假说和1927年实验的 证实。 1926年轴对称磁场对电子束汇聚作用的提出。 1932年，1935年，透射电镜和扫描电镜相继出现，1936年， 透射电镜实现了工厂化生产。 上世纪50年代，英国剑桥大学卡文迪许实验室的Hirsch和 Howie等人建立电子衍射衬度理论并用于直接观察薄晶体缺陷和 结构。 1965年，扫描电子显微镜实现商品化。 70年代初，美国阿利桑那州立大学J.M. Cowley提出相位衬度理 论的多层次方法模型，发展了高分辨电子显微象的理论与技术。 饭岛获得原子尺度高分辨像（1970) 。 80年代，晶体缺陷理论和成像模拟得到进一步发展，透射电镜和 扫描电镜开始相互融合，并开始对小于5埃的尺度范围进行研究。 90年代至今，设备的改进和周边技术的应用。
21
成像系统
照明系统
成像系统
观察记录系统
22
（1）物镜 物镜是将试样形成一次放大像和衍射谱。 决定透射电镜的分辨本领，要求它有尽可 能高的分辨本领、足够高的放大倍数和尽 可能小的像差。通常采用强激磁，短焦距 的物镜。 放大倍数较高，一般为100～300倍。 目前高质量物镜分辨率可达0.1nm左右。
3
透射电子显微镜-TEM
TEM用聚焦电子束作照明源，使 用于对电子束透明的薄膜试样， 以透过试样的透射电子束或衍射 电子束所形成的图像来分析试样 内部的显微组织结构。
透射电子显微镜TEM
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
EM420透射电子显微镜
加速电压20KV、40KV、60KV、 80KV、100KV、120KV 晶格分辨率 2.04Å 点分辨率 3.4Å 最小电子束直径约2nm 倾转角度α=±60度
扫描发生仪
电子束
显象管 和X-Y 记录仪扫描线圈Fra bibliotek数据 处理
能量选择光阑
入射光阑
放大器
探测器
电子能量 分析仪
图1-14 扫描电子衍射和电子能谱分析附件示意图
2 . 真空系统
为了保证在整个通道中只与试样发生相互作用，而
不与空气分子发生碰撞，因此，整个电子通道从电子
枪至照相底板盒都必须置于真空系统之内，一般真空
β=±30度
CEISS902电镜
加速电压50KV、80KV W灯丝 顶插式样品台 能量分辨率1.5ev 倾转角度α=±60度
Philips CM12透射电镜
加速电压20KV、40KV、60KV、80KV 、100KV、120KV LaB6或W灯丝 晶格分辨率 2.04Å 点分辨率 3.4Å 最小电子束直径约2nm； 倾转角度α=±20度
透射电子显微镜 （TEM）
内容提要 1.透射电镜的结构 2.透射电镜的成像原理 3.电子衍射 4.透射电镜样品的制备
目前，风行于世界的大型电镜，分辨本领为2~3 埃， 电压为100～500kV，放大倍数50~1200000倍。由于材料 研究强调综合分析，电镜逐渐增加了一些其它专门仪器附件， 如扫描电镜、扫描透射电镜、X射线能谱仪、电子能损分析 等有关附件，使其成为微观形貌观察、晶体结构分析和成分 分析的综合性仪器，即分析电镜。
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样品装置部分
样品台的作用是承载 样品，并使样品能作 平移、倾斜、旋转， 以选择感兴趣的样品 区域或位向进行观察 分析。透射电镜的样 品是放置在物镜的上 下极靴之间，由于这 里的空间很小，所以 透射电镜的样品也很 小，通常是直径3mm 的薄片。
。δ为恰能
分辨两个物点的距离；λ为照明波长。
光学显微镜的极限分辨率为200nm
电磁波长要比可见光波长小105，采用短的电磁 波波长是提高显微镜分辨率的极为有效的途径。
TEM发展概述
1924年，法国科学家德布 罗意（De Brogli）提出物 质波理论： h
mv
如果高速运动运动的粒子 是电子：1 mv2 eV
TEM的应用
此外，电镜还广泛用于研究聚合物乳液 颗粒形态、纤维和织物的结构、聚合物 材料的降解性能。生物相容性等。同时， TEM在细胞学、微生物学、临床病例诊 断等领域也有广泛应用。
电 电子枪 子 聚光镜
照明部分
光 样品台 样品装置部分
学 物镜
系 中间镜
成像部分
统 投影镜
荧光屏 照相底片
观察记录部分
照明部分
电子枪：发射电子的场所， 也是电镜的照明源。由阴极 （灯丝）、栅极、阳极组成。 阴极管发射的电子通过栅极 上的小孔形成电子束，电子 束有一定发射角，经阳极电 压加速后射向聚光镜，起到 对电子束加速加压的作用， 形成很小的平行电子束。
由上述两2式可得
1.212(1 50.97810 6V)1 2(nm )
V2
TEM发展概述
1926年德国科学家Garbor 和Busch发现用铁壳封闭 的铜线圈对电子流能折射 聚焦，既可作为电子束的 透镜。 1932年德国科学家Ruska和 Knoll在前面两个发现的基 础上研制出第一台TEM
TEM发展概述
我国电镜研制起步较 迟，1958年在长春中 国科学院光学精密机 械研究所生产了第一 台中型电镜，到1977 年生产的TEM分辨率 为0.3nm，放大倍率 为80万倍。来自TEM的结构和成像原理
电子光学系统
（主体）
TEM
真空系统 电源与控制系统
（辅助） （辅助）
循环冷却系统
（辅助）
电子光学系统组成
TEM的样品制备
直接制膜法 1、真空蒸发法：在真空蒸发设备中使被研究 的材料蒸发后在凝结成薄膜。 2、溶液凝固法：选用适当浓度的溶液滴在某 种平滑表面，等溶剂蒸发后，溶质凝固成膜。 3、离子轰击减薄法：用离子束将试样逐层剥 离，最后得到适于透射电镜观察的薄膜，这种 方法很适用于高聚物材料。 4、超薄切片法：对于研究高聚物大块试样的 内部结构，可以用超薄切片机将大试样切成 50nm左右的薄试样。
TEM的样品制备
在透射电镜中，试样是放在载网上观察 的，载网类似于光学显微镜中的载玻片。 通常用直径约3mm的铜载网，常规的透 射电镜中所用的加速电压为100kV，为保 证电子束的透过，试样必须很薄，最厚 不超过100~200nm
TEM的样品制备
粉末试样的制备 当将这样薄而小的试样放在一个多孔的载网上 时很容易变形，特别是试样的横向尺寸为微米 级时，比网眼的尺寸还小，因此必须在载网上 再覆盖一层散射能力很弱的支持膜，使试样不 至于从网眼中漏掉。 现在常用的支持膜有塑料支持膜、碳支持膜、 塑料-碳支持膜和微栅膜。支持膜表面再利用悬 浮液法、喷雾法、超声波震荡法将试样均匀分 散。通常还需蒸涂上一层重金属以提高其散射 能力。
成像部分
物镜：为放大率很高的短距透镜，对样品成像 和放大。它是决定TEM分辨本领和成像质量的 关键。因为它将样品中的微细结构成像、放大， 物镜中的任何缺陷都将被成像系统中的其他透 镜进一步放大。
中间镜：是一个可变倍率的弱透镜，可以对电 子像进行二次放大。通过调节中间镜的电流， 可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。
照相底片：最常用的透射电镜的照相底片是片 状的胶片。胶片的一面有厚度约为25μm的明胶 层，明胶层含有均匀分散的10%的卤化银颗粒。 照相底片在电子束的照射下能感光。它对电子 的感光特性基本上与可见光的感光特性一样 （只是灵敏度和噪声不同）。
透射电镜的成像原理
TEM是利用透过样品 的透射电子成像的。 电子枪发射出电子射 线（不带信息），经 透射系统照射在样品 上，电子束与样品相 互作用后，当电子射 线在样品另一方重新 出现时，以带有样品 内的信息，然后进行 放大处理而成像，最 终在荧光屏上形成带 有样品信息的图像， 使人眼能够识别。
透射电镜（TEM）
王海波 2019.11.6
主要内容
TEM发展概述 TEM的结构和成像原理 TEM的样品制备 TEM的应用
光学显微镜的极限
德国理论光学家E Abbe于1918年指出限制光镜
分辨率的原理是光的衍射行为，并提出显微镜
分辨率与照明波长的关系式：
h N sin
TEM的应用
研究聚合物的聚集态结构
不同反应温度下Mn3O4纳米晶透射 电镜及高分辨透射电镜照片，(a b c)120度 (d e f)150度 (g h i)180度
TEM的应用
研究聚合物的多相复合体系
TEM的应用
研究聚合物相对分子质量及相对分子质量分布 用电镜可测定处于玻璃态的聚合物的相对分子 质量。选择适当比例的良溶剂、沉淀剂为混合 溶剂，配制聚合物的极稀溶液，用喷雾的方法， 将其分散为微笑的雾珠，使每个雾珠中包含一 个或不包含大分子，从而得到单分子分散的球 粒。应用电镜直接测量球粒尺寸，即可计算相 对分子质量及其分布。相对分子质量越大，越 容易观察，测量误差也越小。 电镜法测定的相对分子质量与黏均相对分子质 量一致。
投影镜：为高级强透镜，最后一级放大镜，用 来放大中间像后在荧光屏上成像。
观察记录部分
荧光屏：在电子束照射下，电子图像反映在荧 光屏上，可呈现终像。研究者通过观察窗在荧 光屏上进行像的观察、选择和聚焦。除了荧光 屏外，还配有用于单独聚焦的小荧光屏，在主 观察窗外有5~10倍的双目镜光学显微镜，以对 图像精确聚焦和观察，可以把终像放大3~10倍。