实验一TTL各种门电路功能测试
实验一 TTL、三态门电路参数测试(实验内容)_2013.04
实验一 TTL 和 三态门电路参数测试
杭州电子科技大学
电工电子实验中心
一、实验所用器件型号及管脚排列
VCC
14
4A
13
4B
12 &O &O
4Y
11
3A
10
3B
9 &O &O
3Y
8
VCC
14
4E
13
4A
12
1
EN EN
4Y
11
3E
10
3A
9
1
EN EN
3Y
8
1
1
1
2
3
4
5
6
7
0 1 0 1
4.用2输入与非门（74LS00）实现三人参加的
表决电路。
VoL 0 VI(V) VoFF VTH VoN Vo(V) VoH
90%*VoH
高电平噪声容限NH。
3、三态门功能测试
选用型号为74LS126的集
成电路，参考其引脚排列 及逻辑符号，按右边电路 图测试高阻状态，将实验 结果填入下表。
输入
输出Y(接上拉 电阻)
输出Y（接下拉电 阻）
E
A
Y
0 1
10K
&
V V
VI VO
0
0.3
0.5
0.85
0.9
0.95
1.0
1.05
1.1
1.15
1.2
1.3
1.4
1.5
TTL与非门参数测试
调节电位器,测出相应的输出电压,在坐标纸上画出电压传输特性
曲线,并在曲线中求得以下参数: 输出高电平VOH, 关门电平VOFF, 阈值电压VTH, 输出低电压VOL, 开门电平VON, 低电平噪声容限VNL,
数字实验一_TTL门电路的逻辑功能测试_实验报告
学生实验报告
院别电子信息学院课程名称电子技术实验
班级电科13B 实验名称实验一TTL门电路的逻辑功能测试姓名施俊伊实验时间 2015年4 月8 日
学号2013010202058 指导教师文毅
报告内容
一、实验目的和任务
1.测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2.了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理介绍
实验中用到的基本门电路的符号为：
在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。
三、实验内容和数据记录
1.依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86。
74LS0874LS32
A B L
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 1
A B L
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1。
实验一集成ttl门逻辑功能参数测量
实验一集成TTL门电路逻辑功能及参数测一、实验目的⒈理解集成TTL门电路逻辑功能及参数测试的必要性。
⒉熟悉TTL与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能。
⒊掌握TTL与非门电路的主要参数及其测试方法。
二、预习要求⒈复习TTL门电路的基本工作原理。
⒉认真阅读讲义，明确各参数的定义、测试条件及测试方法。
⒊熟悉掌握数字逻辑实验箱的使用方法。
⒋了解被测TTL门电路的管脚排列及其功能。
三、实验设备与器材⒈数字逻辑实验箱⒉万用表⒊7421四输入双与非门、T072与或非门、74LS136二输入端四异或门各一块。
四、实验内容及步骤⒈测试与非门的逻辑功能①先将7421四输入端双与非门，按缺口标志向左排列，放入实验箱多孔插座板上。
参照图14-1，再按图14-2所示接好线。
输入端分别接不同的逻辑开关K，输出接发光的二极管器L。
(2)改变逻辑开关，实现各输入端高、低电平的转换；用发光二极管观察输出端逻辑状态，并用万用表测出对应电平值。
图14-17421引脚排列图图14-2与非门接线图(3)记录不同输入和输出状态的对应关系。
列出真值表。
⒉测试与或非门的逻辑功能图14-3T072引脚排列图14-4与或非接线图(1)参照图14-3T072引脚排列，按图14－-4所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，用发光二极管观察输出状态。
(3)记录各输入与输出对应状态，并列出真值表。
⒊测试异或门的逻辑功能图14-574LS136引脚排列图14-6异或门接线(1)先将74LS136二输入端四异或门(集电报开路异或门)，插入实验箱多孔插座板上。
参照图14-5 74LS136引脚排列，按图14-6所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，观察输出状态。
(3)记录各输入与之对应的输出状态，并列出真值表。
⒋测试TTL与非门电压传输特性图14-7 TTL与非门电压传输特性测试图图14-8 用JT-1测TTL与非门电压传输特性曲线方法一：(1)按图14-7TTL与非门电压传输特性测试图接好线。
实验一TTL和CMOS集成门电路参数测试
实验一TTL和CMOS集成门电路参数测试实验原理：TTL和CMOS集成门电路的工作原理不同。
TTL采用双晶体管作为开关，利用基极电流来控制集电极电流。
CMOS则通过P型和N型金属-氧化物-半导体场效应晶体管（PMOS和NMOS）来实现逻辑门功能。
TTL电路的主要特点是速度快，但功耗相对较高；而CMOS电路功耗低，但速度较慢。
实验步骤：1.实验器材准备：TTL和CMOS集成门电路，功率源、万用表、数字逻辑分析仪等。
2.将TTL和CMOS集成门电路与电源连接，通过万用表测量电路的电压和电流。
3.测量功耗：通过电流表测量TTL和CMOS电路的输入功率和输出功率，计算功耗。
4.测量延迟时间：使用数字逻辑分析仪测量输入信号到输出信号之间的延迟时间，分别对比TTL和CMOS电路的延迟时间。
5.测量噪声容限：在输入信号上加入噪声，并测量输出信号的变化情况，分别对比TTL和CMOS电路的噪声容限。
实验结果和讨论：1.功耗比较：通过实验可以得到TTL电路的功耗相对较高，一般为几十毫瓦，而CMOS电路的功耗相对较低，一般为几毫瓦。
2.延迟时间比较：TTL电路的延迟时间一般在几纳秒至十几纳秒，而CMOS电路的延迟时间一般在几十纳秒至百纳秒。
3.噪声容限比较：TTL电路的噪声容限较小，输入信号受到的干扰较敏感；而CMOS电路的噪声容限较大，输入信号受到的干扰较不敏感。
实验结论：TTL和CMOS集成门电路在功耗、延迟时间和噪声容限方面有所不同。
TTL电路功耗较高，速度较快，但噪声容限较小；CMOS电路功耗较低，速度较慢，但噪声容限较大。
根据应用的具体要求选择适合的电路类型。
数电实验一 TTL集成电路-逻辑门电路的参数测试
实验内容二：参数测试4
输入 电压 0 （V）
输出 电压 （V） 输入 电压 1.2 （V） 输出 电压 （V） 1.3 1.4 1.5 1.6 2.0 3.0 4.0 5.0 0.2 0.4 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
实验内容一：逻辑功能测试
输入变量A(1脚) 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 输入变量B(2脚) 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 输入变量C(4脚) 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 输入变量D(5脚) 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 输出变量F(6脚)
实验器件
电子技术实验台 万用表 74LS20:二-四输入与非门 1片
芯片引脚图
实验内容一：逻辑功能测试
1 74LS20为二-四输入与非门 2 按引脚图，7脚接地，14脚接+5V出端6脚接电平指示灯 5 输入和输出时：发光二极管灯亮为逻辑 “1”，灯灭为逻辑“0” 6 完成下表，推导输入与输出的关系:F=?
1
1 1 1
1
1 1 1
0
0 1 1
0
1 0 1
实验内容二：参数测试1
测试门电路导通时的电源电流ICCL和门电路 截止时的电源电流ICCH
实验内容二：参数测试2
测试门电路低电平输入电流IIL（灌电流）和 高电平输入电流IIH（拉电流，较小）
实验内容二：参数测试3
间接测量低电平扇出 系数：如图连线，调 节电位器，使电压表 达到0.4伏，记录电 流表示数IOLM。低电 平扇出系数 N=IOLM/IIL ， 注意，N要取整。
实验内容二：参数测试4
测试门电路的电压传输特性
实验一 门电路逻辑功能的测试
表1
74LS00的逻辑功能测试数据
输出 电压/V F
输入 A 0 1 1 B 0 0 1
0 1
表2 悬空或接地时输出端的逻辑状态
输入 悬空 接地
（高/低）电平
输出
2) TTL“异或”门电路的逻辑功能的测试 任选其中一个“异或”门进行功 能测试，输入端A、B分别输入不同 的逻辑电平，测试输出端F的电压和 相应的逻辑状态，并将结果记入表3。 3) TTL“或非”门电路的逻辑功能的测 试 任选其中一个“异或”门进行功 能测试，输入端A、B分别输入不同 的逻辑电平，测试输出端F的电压和
(二) 实验仪器设备
① 数字电路实验箱 ② 数字万用表 ③ 芯片：74LS00 (与非门) 74LS86 (异或门) 74LS02 (或非门)
(二) 实验内容及步骤 1) TTL“与非”门电路的逻辑功能的测试 任选其中一个“与非”门进行功能测试，输入端A、 B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压 和相应的逻辑状态，并将结果记入表1。 分别测试当输入端A、B悬空或接地是输出端F的逻辑 状态。将结果记入表2。
74ls00的逻辑功能测试数据输入输出悬空或接地时输出端的逻辑状态输入高低电平输出悬空接地ttl异或门电路的逻辑功能的测试任选其中一个异或门进行功能测试输入端ab分别输入不同的逻辑电平测试输出端f的电压和相应的逻辑状态并将结果记入表3
实验一 门电路逻辑功能的测试
(一) 实验目的 1)掌握常用的TTL门电路的逻辑功能的测试方法。 2)掌握芯片的管脚识别。
表3 74LS86逻辑功能测试数据 输入 A 0 B 0 输出 电压/V F
0
1 1
1
0 1
表4 74LS02逻辑功能测试数据 输入 输出
实验1-常用集成门电路逻辑功能测试
实验一常用集成门电路逻辑功能测试及其应用实验目的：1、掌握集成门电路的逻辑功能、逻辑符号和逻辑表达式；2、了解逻辑电平开关和逻辑电平显示的工作原理；3、学会验证集成门电路的逻辑功能；4、掌握集成门电路逻辑功能的转换；5、学会连接简单的组合逻辑电路。
二、实验原理：1、功能测试（1）．TTL集成门电路的工作电压：5V（2）．TTL集成门引脚识别方法：将有芯片型号的一面正对自己，以有凹口一头开始，左边为1，2，3，4，5，6，7；右边是14，13，12，11，10，9，8。
（7接地，14接Vcc）（3）．TTL集成门电路管脚识别示意图及各个引脚的功能（74LS00、74LS04、74LS08、74LS32）74LS00是4组2输入与非门74LS04是6组1输入非门74LS08是4组2输入与门74LS32是4组2输入或门•2、功能应用（1）.常用门电路的逻辑表达式：Y=A·B、Y=A+B、Y=A’（2）.逻辑代数基本定理：交换律：A·B=B·A A+B=B+A组合律：（A·B）·C=A·(B·C) (A+B)+C=A+(B+C)分配律：A·(B+C)=A·B+A·C A+B·C=(A+B) ·(A+C)反演律：(A·B·C……)’=A’+B’+C’……（A+B+C……）’=A’·B’·C’……（3）.简单组合逻辑电路的连接注意事项：A.原件选择的正确性B.逻辑表达式的化简C.芯片引脚的识别三、实验仪器设备及器材：集成块：74LS00、74LS04、74LS08、74LS32、四、实验内容与步骤：（一）功能测试1、集成门电路逻辑功能测试：（1）、集成门的逻辑功能测试a|、电路图：1.用与非门实现非门；电路图：2.用非门和与非门实现或门；电路图：3.用与非门和与非门实现或门；电路图：4.用非门和与门实现同或门；电路图：5.用74LS00和74LS08实现逻辑函数表达式：Y=ABC。
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试引言:本实验通过测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数，旨在增进对TTL 逻辑门的理解和应用能力。
TTL（Transistor-Transistor Logic，双极晶体管逻辑）是一种广泛应用的数字逻辑家族，通常用于数字系统中的逻辑操作。
实验步骤:1.认识TTL集成逻辑门TTL集成逻辑门是由若干个双极晶体管和二极管组成的，具有与门、或门、非门等多种门电路。
通常在电路图中用特定的代号代替。
常见的TTL集成逻辑门有AND门（7408）、OR门（7432）、NOT门（7404）等。
2.实验材料-TTL集成逻辑门芯片（AND门、OR门、NOT门）-逻辑信号发生器-示波器/数字万用表-电压表-电阻-连线电缆3.实验步骤-步骤一：连接AND门将AND门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接AND门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
-步骤二：连接OR门将OR门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接OR门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
-步骤三：连接NOT门将NOT门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，将逻辑信号发生器的输出端连接到NOT门的输入端，示波器的探头连接NOT门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
4.结果分析:根据实验数据和观察到的波形，可以进行以下分析：-分析AND门的逻辑功能和参数AND门在两个输入端都为1时，输出为1，否则输出为0。
通过实验可以发现，AND门的输出波形为非线性的，并且脉冲宽度与输入信号的频率有关。
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实验序号实验题目 TTL各种门电路功能测试
实验时间实验室
1．实验元件（元件型号；引脚结构；逻辑功能；引脚名称）
1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个
2.数字万用表1块
3.74LS20双四输入与非门1片
4.74LS02四二输入或非门1片
5.74LS51双2-3输入与或非门1片
6.74LS86 四二输入异或门1片
7.74LS00四二输入与非门2片
（1）74LS20引脚结构及逻辑功能（2）74LS02引脚结构及逻辑功能
（3）74LS51引脚结构及逻辑功能（4）74LS86引脚结构及逻辑功能
（5）74LS00引脚结构及逻辑功能
2．实验目的
（1）熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。
（2）熟悉万用表的使用方法。
3．实验电路原理图及接线方法描述：
（1）74LS00实现与电路电路图
（2）74LS00实现或电路电路图
（3）74LS00实现或非电路电路图
（4）74LS00实现异或电路
4．实验中各种信号的选取及控制（电源为哪些电路供电；输入信号的分布位置；输出信号的指示类型；总结完成实验条件）
5．逻辑验证与真值表填写
（1）74LS00实现与电路电路图逻辑分析
逻辑运算过程分析：
1
21
Y=AB
Y=Y=AB=AB
真值表：
（2）74LS00实现或电路电路图
逻辑运算过程分析：
1
2
312
Y=AA=A
Y=BB=B
Y=Y Y=AB=A+B=A+B
真值表：
输入输出
A B
2
Y
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1
输入输出
A B
3
Y
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 1。