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微等离子体光学发射光谱法

微等离子体光学发射光谱法

微等离子体光学发射光谱法
微等离子体光学发射光谱法(Microplasma Optical Emission Spectroscopy,MPOES)是一种利用微等离子体产生的光进行元素分析的方法。

微等离子体是指体积小、密度低、电子温度高的等离子体,通常是通过将气体放电或者在微尺度空间中焦斑化的激光加热气体得到。

MPOES利用微等离子体中激发态物种发射的光谱进行元素分析。

当微等离子体中的气体被激发产生高能态粒子或激发态分子时,这些粒子或分子会发射出特定的光谱线。

通过测量和分析这些发射光谱线的强度和波长,可以确定微等离子体中的元素组成及其相对浓度。

MPOES具有以下优点:首先,由于微等离子体的尺寸小,其响应速度快,一般在微秒级别,适用于快速分析;其次,微等离子体的反应区域局部集中,在特定位置形成,可以减少背景干扰,提高分析灵敏度;另外,由于微等离子体发射光谱线较窄且峰型较好,因此可以实现高分辨率的元素分析。

MPOES在材料科学、环境监测、生物医药和食品安全等领域具有广泛的应用。

例如,在材料科学中,可以利用MPOES对材料的表面成分进行非破坏性分析;在环境监测中,可以通过MPOES对水样、大气样品等进行快速元素分析;在生物医药和食品安全领域,可以利用MPOES对药物、食品中的元素含量进行监测。

总之,微等离子体光学发射光谱法是一种灵敏、快速、高分辨率的元素分析方法,具有广泛的应用前景。

首尔半导体 全光谱

首尔半导体 全光谱

首尔半导体全光谱1.引言首尔半导体全光谱1.1 概述随着科技的发展和进步,全光谱技术作为一种新兴的技术正在逐渐崭露头角。

首尔半导体公司作为行业的领军者,致力于推动和应用全光谱技术在各个领域的发展。

全光谱技术是一种通过捕捉和处理所有可见光和红外线光谱的技术。

与传统的光谱技术相比,全光谱技术能够更加全面地捕捉和分析光谱信息,从而提供更准确、更全面的数据。

这使得全光谱技术在许多不同领域的应用都变得可能和有价值。

在医疗行业,全光谱技术可以用于癌症的早期检测和诊断。

通过分析人体发射的各种光谱信息,可以快速、准确地判断是否存在异常情况。

同时,全光谱技术还可以在农业领域发挥重要作用。

例如,通过监测作物叶片的光谱反射值,可以评估植物的生长状况、营养水平和病虫害情况,从而帮助农民更好地管理自己的农田。

此外,全光谱技术还可以应用于环境监测领域。

通过监测大气、水体或土壤的光谱信息,可以及时了解环境的污染程度和变化趋势,从而采取相应的措施来保护环境。

再比如,在安防领域,全光谱技术可以用于人脸识别,通过分析人脸的光谱信息,可以更准确地辨别出人脸的特征,提升安防的精准度和效果。

总之,全光谱技术作为一种前沿的技术手段,具有广泛的应用前景和潜力。

首尔半导体公司以其领先的研发实力和创新能力,致力于推动全光谱技术在各个行业的应用和发展,为我们的生活带来更多的便利和进步。

接下来的文章将对首尔半导体公司的介绍和全光谱技术的应用进行详细探讨。

1.2 文章结构文章结构部分的内容可以按照以下方式进行编写:第2部分正文:2.1 首尔半导体公司介绍在这一部分中,将对首尔半导体公司进行详细介绍。

包括公司的背景信息、发展历程和目前的地位。

重点介绍公司在半导体行业的专长和核心技术,以及其在市场竞争中的优势。

2.2 全光谱技术的应用该部分将深入探讨全光谱技术在不同领域的应用。

首先,对全光谱技术的基本原理进行简要介绍,解释全光谱技术在光谱分析中的作用和优势。

微光显微镜热点侦测emmi,hot spot,pem

微光显微镜热点侦测emmi,hot spot,pem

微光顯微鏡原理介紹Poton Emission Microscopy (PEM)EMission Microscope (EMMI)此篇重點:∙PEM 被證實為可用於確認出IC 問題區域的方法∙其基本原理是可偵測非常微小的光放射∙其為簡單又便宜的方法可以指出Chip上有問題的區域(有問題區域並非一定為錯誤區域,有可能看到的是果而非因)∙對點的定位能力比LC好(liquid crystal, 此方法利用局部高溫找問題點)∙了解"電致發光"(或翻為"場致發光", electroluminescence)其物理原理可更合理(正確)推論出可能的原因內容:∙基本原理∙半導體的發光: 說明發光原理,什麼是F-PE,R-PE∙P-N階面二極體發光∙矽的能階圖:說明何謂間接(indirect)半導體∙順偏& 逆偏說明:利用能階說明發光機制∙F-PE / R-PE 頻譜分佈∙設備介紹∙設備架構∙光感測(受)器(Detector)∙從晶背問題探討∙發射源分類:電路上哪些情況會有由PEM測到亮點.∙發射機制的整理∙判斷亮點是否為問題點∙各種機制的頻譜分布∙單項說明:逐一討論各種情形∙總結完成時間:2005-05-20E-mail連絡作者:基本原理:半導體的發光(electroluminescence in semiconductors)∙熱載子能量釋放(Relaxationaccompaniedwith lightemission)說明:∙一可移動載子(mobile chargecarriers,可為電子或電洞)經過電場加速取得足夠的動能(kinetic,熱載子), 利用光將其累積的動能釋放∙此為PEM測得的主要光來源∙此過程發生在同一能帶(intraband process).(即未跨過能階)∙簡稱代號: F-PE (F: Field) ∙電子電洞結合(Radiative Band-Band Recombination): 說明:∙導帶(conductance band)與價帶(valence band)的電子電洞結合∙不同能帶間轉換(interband process)∙簡稱代號:R-PE(R: Reconmination)∙右圖說明能帶的關係[2]∙(1)-(3) 稱為interbandtransitions.∙(4)-(7) 代表有摻雜物參與反應∙(8)-(9) 稱為intrabandtransitions∙Si Bandgap:1.12 eV(常溫;此值隨溫度升高而下降)P-N 接面二極體發光(註:此並不適合使用,因為測量過程可能會損害元件)∙順向偏壓因為有大量的少數載子注入,所以在低電壓即有大量的電子電洞結合可用於PEM觀測(R-PE). 此現象非常有效率(LED 的發光原理);Si晶圓上此現象並不明顯,因為其為間接能階(因其動量不同,下一段討論).不過PEM還是可以觀察的到矽的能階圖-間接(indirect)半導體∙若連動量一起考慮則如右圖顯示Si為間接(能階)半導體;即其導帶最低處與價帶最高處並不在同一動量,所以其電子電洞結合會有一動量差∙因動量守恆(mementum Array convervation law)所以Si走路徑"1"的機率會遠少GaAs(右圖,為直接能階)∙走"1"的路徑會分為兩分量"動量轉換與能量轉換;藉由聲子(phonon)轉換動量(故走"1"這條路會包含光子與聲子的轉換)∙Si大多數的電子電洞結合都會走"2"-"3"這條路.此方式會經由中間階能階(或稱複合中心)當作中介轉換,使其轉換機率大增∙儘管如此,其順向偏壓所產生的光子足夠PEM偵測∙雷射半導體與LED均是使用直接能階順偏 & 逆偏說明順偏逆偏∙上左顯示順偏時少數載子注入引發電子電洞結合∙Si特性光譜,波長約為1.1 um 的紅外光,(常溫1.1eV band gap).註:可見光波長為為:380 到780 nm ∙能量分佈範圍為以1.1um為中心成高斯(gauss profile)分布(約900nm 到1300nm) ∙逆偏時增加能量障壁(pn-energy barrier),空間電荷(SCR-space charge region)的電場∙通過此區的載子獲得加速及動能∙於散射(scattering)過程放出能量,(某些情況包含電子-電洞結合)原文(說明機制): They relax scattering at lattice disorders like phonons, crystal defects and charged coulomb centers, accompanied by light emission with high probability and in a few cases additionally by recombination∙波長範圍從紅外光(IR)到可見光F-PE / R-PE 頻譜分佈下圖為描繪F-PE 與R-PE 頻譜強度佈圖(從參考資料[1]描繪,有需要請參考原圖)其他:∙電阻性元件('Ohmic' currents)並不會發出PEM可用的光,僅會引發其他部分發光時產生PEM可用訊號∙PEM無法測得溫度,因其偵測的波長範圍需要超過500k(黑體)設備介紹下圖為基本結構[1][2]說明:∙PEM就是將顯微鏡(OM)加上影像擷取系統,且能接收較大的波長範圍(500nm - 1500nm) ∙特性:∙一般系統架設在探針(probes/probe cards)系統上,或局部開口的IC上(decap)+socket使用∙此顯微鏡對所需接收的波長作最佳化∙接收器(detector)需能接收微弱(faint)的光線∙能將PEM影像與OM(顯微鏡)所看到的線路影像作疊圖(overlay) ∙光學系統:∙PEM設備上決定其設備性能的關鍵∙一般OM影像(反射式顯微鏡)因有強光源可反射,所以成像容易.需關注的是微小光源(PE)傳送到Detector過程中顯微鏡的好壞∙高的數值孔徑(numerical aperture, NA), 長焦距鏡頭(high working distance, WD),易於操作∙光感測器(Detector)∙上圖所示為先將光轉為電(非常微量無法偵測),然後利用倍增管將其放大然後打到螢光屏顯像∙目前設備為均用CCD取代,其特性下一段討論.(主要有cooled Si-CCD, MCT-CCD)∙在FA (failure analysis)要求的為在低倍率有高敏感度.∙第一次取影像需求為能取到整顆晶片(whole chip),並且能夠概略得到亮點區域.一般需配0.8x的鏡頭以取得整顆IC(whole chip)∙觀測期間可移除全部不需要的鏡片(High transmission mode)∙提供全黑的環境,任何雜訊都將影響結果靈敏度註:1.數值孔徑(NA) 是測量從一光點(light spot)放出通量(flux)F的光束,通過一倍率為M的光學系統到一CCD的像數(pixel)F=f(NA/M)2. M: magnification, NA: numerical aperture, F:light flux 下表為典型的物鏡(objectives)2.數值孔徑(Numerical Aperture)N.A.是決定物鏡的分辨率、焦深、圖像亮度的基本數據,當物鏡焦點對好後,物鏡前透鏡最邊緣處的傾斜光線與顯微鏡光軸所交角成α,此即該物鏡的半孔徑角設標本數據空間的折射率為n,則N.A.=n×sinα 資料來源光感測(受)器(Detector):∙偵測波長範圍: 1500 nm to 500nm∙含"頻閃觀測儀"(stroboscopic gating option)約在GHz的頻率,能輸出至TV 影像的頻率∙過去用: Phtocathode, Micro Channel Plate, Vidicon下圖顯示 Si-CCD, MCT-CCD比較[1]:從晶背使用PEM(Backside)∙原因:製程上金屬層增加,覆晶封裝(flip-chip)無法從正面(front side)取得PEM影像∙矽材質僅能穿透波長高於1100nm 的光.因為能階的關係(bandgap)∙所面面臨問題:∙CCD∙Si-CCD不很適合使用,因為其最佳吸收波長剛好與底材的吸收波長相同(穿透率不佳) Array∙若參雜不重(lightdoping),Si-CCD的吸收光譜小部分重疊(見右圖P-與Si CCD所圍區域), 此區間已可取得很多有用的資訊∙建議使用MCT-CCD∙Si 底材(substrate)∙si的diffraction index為3.4會造成光線發散,使影像模糊(因為只有小部分在聚焦點上)∙有特殊物鏡可以補償,不過須工作在特定的底材厚度∙表面拋光(polish)對影像的結果有很大影響∙Si 底材重參雜(Heavydoping)∙嚴重影響光線傳輸,即使波長操過1100nm,原因為能階變窄(bandgap-narrowing) & 被自由載子(free carriers)吸收(右圖P+所示穿透率不到10%)∙使用Si-CCD問題更為嚴重, 需將底材磨到厚度小於50 um∙使用MCT-CCD問題此問題不嚴重∙右圖紅線說明不同參雜濃度的透光率& 特性光譜& Si-CCD發射源分類(Classification of Emission Source)下表為發射機制的整理[1]:F-PE => 電場加速後能量釋放 (LightEmission Generated by Scattering ofField Accelerated Carriers)∙大多數PEM的亮點都是取自此機制∙包括MOS操作在飽和區與大多數矽晶圓漏電的現象∙歐姆型的漏電(ohmic leakage current)發生在Gate Oxide也可測得.條件:局部電流密度(current density)大到能產生(F-PE)∙GOX defect能夠用PEM測得通常需局部區域壓降大於2V∙F-N (Fowler-Nordheim) 電流通常由於發生在矽或多晶矽上的散射(scatter)R-PE => 電子電洞結合(Photoemission Generated byRadiant Electron-HoleRecombination)∙主要用於Latch up 分析∙well floating 才會有順偏的PEM∙對於雙極性電晶體與Power IC, 其轉換過程極為重要判斷亮點是否為問題點[3]很多人認為亮點即為有問題區域,這並不對應該利用下面兩項判斷1.利用下表所分類的歸納可能原因2.了解PEM的原理與機制來判斷原因各種機制的頻譜分布[1]放射頻譜(emission Spectra)∙右圖為以下討論的總結Array∙電子電洞結合R-PE(recombination radiation),由於電子溫度較低(low electron temperature)集中在一狹小區域. Lath-up時會將元件加熱所以其區域會有些不同∙電場加速&散射F-PE(Radiantscattering of field accelerated carriers):遵守Boltzmann statistics, 所以電子溫度(動能)大於1500K且成指數下降(exponential slopes)∙FN-current (F-PE)電子直接穿過Oxide,並無特別的特徵除了在1.8e有上升一些∙所有PEM量化的評估均建立在作用載子密度與發射量成正比,因為有太多因素會影響接收情況(如光學系統,傳輸經過的層次),所以無法建立適用於各種狀況的自動判斷的設備(automatic recognition)單項說明PN接面漏電(Leakage Current across a pn-Junction in Silicon)∙正常元件逆偏時,僅在發生壘增崩潰(avalanche mode)才會於PEM中見到(F-PE).(例外:well-substrate diodes)∙矽晶圓的漏電大多數情況可用PEM定位故障點(failure localization).∙亮點產生原因為載子通過SCR(F-PE)∙Contact spiking 也為接面漏電的一種∙某些狀況可測到pA級得漏電.(Highly localized junctions or capacitors)MOS飽和區操作/熱電子(Saturated MOSFETs/Hot Electrons)轉區為一低電阻通道並不會釋放光.(右上圖)∙於飽和區操作時,夾止(pinch-off)現象發生,在汲極與夾止點(pinch-off point)間會有空間電荷區(SCR)∙亮點強度與偏壓和基材電流有關(backbias/substrate current).基材電流越大亮度越強∙正常的邏輯線路中若輸入為HIGH或LOW並不會有亮點在PEM出現(指CMOS),因為沒有足夠電流∙靜態操作下PEM中見到亮點代表了: floatgate, leaky gate, leaky junction, avalanche動態操作下見到的PEM亮點代表了: FETswitch.(不在本主題範圍,參考PICA-picosecondimaging circuit analysis)∙此現象可用於IC功能確認與故障點定位,但若電源小於1 V的IC此方法將不適用∙電源電壓越低(製程越先進)發射量越小,且波長也會往較低能的紅外光(IR)區偏移,∙PEM訊號的強度與SCR區載子的倍增有關,若於夾止區倍增出的高能載子穿過Gate Oxide稱為熱載子(熱電子)∙PEM可測得熱電子造成的損壞,利用PEM的頻譜分布圖可推得熱電子的溫度Fowler-Nordheim 電流∙Fowler-Nordheim 穿透(tunneling): 其指當閘極氧化層很薄時,電子可穿過氧化成形成閘極電流∙發光現象一樣為F-PE,不過其光譜有很大差異,在PEM記錄的區間幾乎為一定值並不隨波長而改變,且不易觀察因為雜訊很大∙與閘極氧化成厚度成反比,若閘極太薄波長將往藍光(或到紫外光)偏移,超出PEM可接收光線的範圍局部大電流/ 閘氧化層電崩潰(Locally High Currents / Thin Oxide Breakdown)∙閘氧化層崩潰產生的PEM亮點,在閘極與基材使用同一摻雜時,並不需利用SCR區產生亮源∙故障區域將產生局部的高電流密度區,而產生足夠的電位差造成F-PE(typically > 2V )∙前一點說明了為什麼PEM能觀察閘極崩潰.同時也說明了為什麼有時會觀察不到,如:局部高電流融掉了該區域,崩潰區域過大使電流密度不足產生亮點二極體(Bipolar Diode)∙順偏:∙典型的R-PE影像會分佈較廣(不會集中一點,會成暈開的影像);因為載子的擴散∙載子的擴散的長度更可由此圖計算∙逆偏:∙逆向偏壓的影像大不同,僅在邊緣看到非常集中的亮點(F-PE, avalanche condition)∙反應了高電場發生在元件的邊緣與角落,若使用及時觀測此光點會強烈擺動(fluctuate)∙須到倍增崩潰(avalanche multiplication)發生才可產生足夠PEM接收的亮度∙典型的F-PE影像亮點集中在供高電場處雙載子電晶體(Bipolar Transistor)∙以下說明為橫躺(lateral)的雙極性電晶體,一般IC上的雙極性電晶體為直立的(vaetically)的以下的說明並不會出現(照片及詳細說明請見參考資料[1])∙主動區:∙PEM影像顯示主動區操作亮點集中且明亮,其為F-PE; (參考前一段PN接面說明)∙原因:主動區操作時基極集極逆向偏壓,使基極加深了擴散梯度(steeper diffusionslope),並將電流往集極方向集中∙另一方面在很薄的基極發生電子電洞結合基機率很低,雖有大量少數載子進入,但缺少SCR所以不會見到亮點∙飽和區∙飽和區操作亮點比較擴散為R-PE.可以反證主動區操作時缺乏SCR∙散佈的亮點可以說明載子的擴散與電場的加速∙從PEM觀點可利用提高基極電流使PEM能取得亮點,不須做其他可能傷害元件的觸發閂鎖效應(Latch up)∙一CMOS會寄生兩電晶體形成類是閘流體(Thyistor, 即pnpn))結構(相關說明有時間在寫) ∙在閂鎖效應穩定發生時為R-PE, 順向衝越(forward-breakover) turn-on為F-PE總結∙成功利用PEM訂出故障點,需要從矽晶圓上發出亮點. 且有局部有大的電流密度∙F-PE須有足夠的載子散射造成亮點(light emission).如:GOX breakdown∙需有足夠的載子進入SCR(space charge region)∙順偏時須有足夠的載子才能產生亮點∙前三項即是說須達到PEM所能接收的最小極限∙通常亮點並不一定是故障點.例如ㄧ正反器(flip-flop)失效造成其下一級的(another FET)閘極處在中間態並且成為亮點∙重點就是要分析原因與元件的電路特性來斷定問題其他:∙50% CMOS電路僅加電源即可見到問題點∙若有好的IC可以比對更容易判斷其是否為問題點.若沒有可以比對同一IC中相同功能的點∙測試前需確認該IC的錯誤(failure)依然存在.即經過Decap, Socket等的環境改變錯誤依然發生;若需要可能需要改變測試溫度或使用ATE等設備製造出環境∙Lach-up會引發很多地方一起發亮∙Power bus pulling down, PEM會見到所引發的很多亮點, 不過不會見到問題點, 可用V oltage Contrast, internal probing, liquid crystal 測得∙CMOS Inverter探討: Output 與Vdd短路將引發nMOS 發亮, 與Vss短路將為pMOS發亮; 對Input端則視短路電阻大小,與MOS參數決定哪一MOS發亮(或比較亮).此狀況MOS 沒有問題(問題非一定發生在亮點)∙charge pumd (DRAMS), Large clock circuit, 都會引發亮點, 最好跟好的IC比對,以免誤判問題∙確認每一I/O點都在應有的狀態(不能有輸入不確定),不然有可能出現不該有的亮點Reference:1.Fundamentals of Photon Emission (PEM) is Silicon - Electroluminescence for analysis ofElectronic Circuit and Device Functionality. Christian Boit, Microelectronics Failure analysis Desk Reference Fifth Edition. p356-3682.Semiconductor Device and Failure Analysis using photon Emissionj Microscopy, Wai Kin CHim,WILEY3.Photon Emission Microscopy. Gray Shade, Microelectronics Failure analysis Desk Reference FifthEdition. p347-355微光顯微鏡分析主要之應用範圍∙矽基材缺陷(如: Crystal defects, stacking faults, mechanical damage)∙接面漏電(junction leakage)∙接點穿突(contact spiking)∙熱載子效應(飽和區電晶體) (hot electrons, saturated transistors)∙閂鎖現象(latch-up)∙閘極氧化層漏電流(oxide current leakage)∙復晶矽鎢絲型橋接(polysilicon filaments)。

微波等离子体发射光谱法

微波等离子体发射光谱法

微波等离子体发射光谱法
微波等离子体发射光谱法(Microwave Induced Plasma Emission Spectroscopy,MIPES)是一种用于分析元素和化合物的光谱分析技术。

它利用微波能量将气体转变为等离子体,并通过激发和发射原子或离子的特征光谱线来确定样品中的元素成分。

MIPES的工作原理是在一个由微波能量产生的高温等离子体中进行光谱分析。

首先,气体样品被引入到一个微波感应器中,然后通过加热和电离过程将其转变为等离子体。

这个等离子体具有高温和高能量状态,使得其中的原子和离子能够被激发到激发态。

当原子或离子回到基态时,它们会通过发射特定波长的光子来释放能量。

通过收集并分析样品发射出的光谱线,可以确定样品中存在的元素以及其含量。

每个元素都有独特的光谱特征,即其特定的发射频率和强度。

通过与标准样品进行比较,可以准确地确定未知样品中元素的存在和浓度。

MIPES具有许多优点,包括高分析速度、无需昂贵的试剂和设备、对样品准备要求低以及对不同类型的样品具有广泛的适用性。

它在环境监测、食品安全、药物分析等领域得到广泛应用。

总之,微波等离子体发射光谱法是一种快速、灵敏和可靠的光谱分析
技术,可以用于确定样品中元素和化合物的成分。

仪器设备的英文名

仪器设备的英文名

原子发射光谱仪 Atomic Emission Spectrometer AES电感偶合等离子体发射光谱仪 Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer ICP直流等离子体发射光谱仪 Direct Current Plasma Emission Spectrometer DCP 紫外-可见光分光光度计 UV-Visible Spectrophotometer UV-Vis微波等离子体光谱仪 Microwave Inductive Plasma Emission Spectrometer MIP 原子吸收光谱仪 Atomic Absorption Spectroscopy AAS原子荧光光谱仪 Atomic Fluorescence Spectroscopy AFS傅里叶变换红外光谱仪 FT-IR Spectrometer FTIR傅里叶变换拉曼光谱仪 FT-Raman Spectrometer FTIR-Raman气相色谱仪 Gas Chromatograph GC高压/效液相色谱仪 High Pressure/Performance Liquid Chromatography HPLC 离子色谱仪 Ion Chromatograph凝胶渗透色谱仪 Gel Permeation Chromatograph GPC体积排阻色谱 Size Exclusion Chromatograph SECX射线荧光光谱仪 X-Ray Fluorescence Spectrometer XRFX射线衍射仪 X-Ray Diffractomer XRD同位素X荧光光谱仪 Isotope X-Ray Fluorescence Spectrometer电子能谱仪 Electron Energy Disperse Spectroscopy能谱仪 Energy Disperse Spectroscopy EDS质谱仪 Mass Spectrometer MSICP-质谱联用仪 ICP-MS ICP-MS气相色谱-质谱联用仪 GC-MS GC-MS液相色谱-质谱联用仪 LC-MS LC-MS核磁共振波谱仪 Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer NMR电子顺磁共振波谱仪 Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer ESR 极谱仪 Polarograph伏安仪 Voltammerter自动滴定仪 Automatic Titrator电导仪 Conductivity MeterpH计 pH Meter水质分析仪 Water Test Kits电泳仪 Electrophoresis System表面科学 Surface Science电子显微镜 Electro Microscopy光学显微镜 Optical Microscopy金相显微镜 Metallurgical Microscopy扫描探针显微镜 Scanning Probe Microscopy表面分析仪 Surface Analyzer无损检测仪 Instrument for Nondestructive Testing物性分析 Physical Property Analysis热分析仪 Thermal Analyzer粘度计 Viscometer流变仪 Rheometer粒度分析仪 Particle Size Analyzer热物理性能测定仪 Thermal Physical Property Tester电性能测定仪 Electrical Property Tester光学性能测定仪 Optical Property Tester机械性能测定仪 Mechanical Property Tester燃烧性能测定仪 Combustion Property Tester老化性能测定仪 Aging Property Tester生物技术分析 Biochemical analysisPCR仪 Instrument for Polymerase Chain Reaction PCRDNA及蛋白质的测序和合成仪 Sequencers and Synthesizers for DNA and Protein传感器 Sensors其他 Other/Miscellaneous20升不锈钢自动发酵罐 20-litre stainless automatic fermentor300升不锈钢自动发酵罐 300-litre stainless automatic fermentor80升不锈钢自动发酵罐 80-litre stainless automatic fermentorDNA测序仪 DNA sequencerDV800核酸/蛋白分析仪 Nucleic acid protein analyzerPCR操作台 PCR chamberPX2多用途PCR仪 Multi-purpose PCR equipmentRCCS-批量式旋转细胞培养系统 Rotary cell culture system氨基酸分析仪 Amino acid analyzer氨基酸自动分析仪 Auto amino acid analyzer比浊仪 Turbidity comparator不锈钢板式滤器 Stainless steel filter超级潜水电泳仪 submarine electrophoresis unit超滤器 Ultra filter and 4 pieces of filtration垂直电泳系统 vertical electrophoresis system超声波细胞破碎仪 Ultrasonic Cell Disruption System成像检测系统 Chemiluminescent detection system程序降温仪 Programmable controlled rate cell freezing system垂直电泳装置 Clamping frame and electrode assembly for vertical electrophoresis粗纤维测定仪 Equipment for Raw Fiber determination单杯药物溶出仪 Single cup diffusion meter蛋白纯化交换柱盒 Protein purification sample set蛋白纯化系统 Protein Purification System蛋白核酸分析仪 Protein nucleic acid spectrophotometer蛋白快速纯化工作站 Protein purification apparatus等电聚焦电泳仪 Protein isoelectric system等电聚焦双向电泳系统 Isoelectric focal bidirection electrophoresis 电化学工作站 Electrochemical workstation电击转化仪 Pulse cell 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to equip KX-21SQUID高精度磁学测量系统 SQUID MagnetometerXRD粉末衍射仪 X-Ray Diffraction Meter一氧化碳分析仪 Portable IR CO Analyzer三用紫外分析仪(暗箱式三用紫外分析仪) Tripurpose ultraviolet analyzer (Dark-box Triusage Ultraviolet Analysis Instrument)大流量TSP采样器 Grate flow TSP sampling instrument小型台式离心机 Benchtop Centrifuge双向电泳 2-D electrophoresis system双垂直电泳槽(两种电泳槽及配套电泳仪) Vertical Electrophoresis Tanks (Two Electrophoresis Tanks with an Electrophoresis Meter)双波长飞点扫描分析仪 Dual-wavelength Flying Spot Scanner双波长飞点薄层扫描仪 dual-wavelength flying spot TLC scanning instrumater双稳定时电泳仪及电泳槽 Electrophoresis Meter with Electrophoresis Tanks 心理CT Psychology Computer Test System心理测试软件系统 Psychology Test Software气相色谱-质谱联用仪 GC-MS气象色谱仪 Gas Chromatography水质监测仪 Water quality monitor水浴摇床 Water Baths Shaker加热磁力搅拌器 Magnetic Stirring Apparatus半自动生化分析仪 Semiautomatic biochemistry analyzer半微量电子分析天平 Analytical semi-micro-balance可见风光光度计 VIS Spectrophotometer四通道血凝仪 4 channels blood coagulometer生化培养箱 Biochemical生化培养箱 Biochemisty Incubators生物制品冷藏柜及真空干燥器(低温培养箱) ICP-incubator cooled with process controller生物制品冷藏柜及真空干燥器(真空干燥箱2) Vacuum drying oven电子天平 Electronic balance电化学工作站 Work station for electric chemistry电化学分析系统(恒电位仪) Electrochemical Analysis System (potentiostat / galvanostat)电动搅拌机 Agitator电泳仪 Electrophoresis电热恒温培养箱 Electro- thermal incubator电热恒温鼓风干燥箱 Electro- thermostatic blast oven电热鼓风干烘箱 Lab Oven电感耦合等离子体发射光谱仪 Simultaneous Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometer(ICP—OES)石墨炉原子化器 Graphite furnace atomizer光谱仪用灯 Spectrum Instrument Lamp全功能型稳态瞬态荧光光谱仪 Combined Time Resolved&Steady State Fluorescence Spectrometer全自动生化分析仪 Automatic biochemical analyzer全自动免疫组化染色系统 Autostainer Universal Staining System全自动界面张力仪 Automatic tension apparatus全自动遗传分析系统(遗传分析系统) Automated Genetic Analysis System 全自动酶标检测仪 Auto ELISA detecter冰箱(无霜) Refrigerator (Frost Free)同步热分析仪 Simultaneous Thermal Analysis扫描探针显微镜 Scanning probe microscope红外干燥箱 Infrared Oven红外分光光度计 Infrares spectrophometer红外快速煤质分析仪 Computer Ir Celerity coal Analysis Instrument自动双重纯水蒸馏器 Automatical Double Pure Water Distillatory自动电位滴定仪 Automatic Titrimeter自动血球计数仪 automatic Blood Cell Counter血液生化分析仪 blood biochemical analyzer行星式和膏机 Material mixer低速大容量离心机 Low Speed Large Capacity Centrifuge事件相关诱发电位仪 Event related evoked potentials equipment事件相关诱发电位仪 Event related evoked potentials equipment实验室用制冰机 Ice Machine for Laboratory昆虫触角电位测量系统 Insect tactile electromagnetic wave analyzer表面吸附仪 Surface and aperture meter表面活性测定仪 Exterior Live Determiner便携式脑电图机 32ch Digital EEG System哈氏可磨性指数测定仪 Milling Exponent Determiner差热热重同步分析仪 TG/DTA meter恒温振荡培养器 Thermostatic oscillation incubator荧光分光光度计 Spectrofluorometer荧光分光光度计 Fluorescence Spectrophotometer荧光光度计 Fluorescence Photometer荧光酶标仪 Microplate System原子吸收分光光度计 Atomic Absorption Spectrometer火焰分光光度计 Flame Emission Spectrophotometer核酸蛋白纯化系统 Nucleic Acid Auto-purification System核酸提取仪 6100 Nucleic Acid PrepStation真空干燥箱 Vacuum Drying Apparatus机械真空泵 Vacuum Pump真空磁悬浮熔炼炉 Vacuum induction levitation melting furnace真空磁控溅射系统 Vacuum evaporative sputtering machine胶质量指数测定仪 Colloid Quality Exponent Determiner高效毛细管电泳仪 High Efficiency Capillary Electrophoresis高速冷冻离心机 high-speed refrigerated centrifuge(used for the laboratory)偏振赛曼原子吸收分光光度计 Polarization Atomic Absorption Spectrophotometer超低有机物型超纯水机 Ultrapure Water Machine二氧化碳培养箱 CO2 INCUBATORS高速冷冻多功能离心机 High speed refrigerated multifunction centrifuge 吹扫气体发生器 FT-IR Purge Gas Generator制冰机 System ice model旋转蒸发器 Rotary Evaporators傅立叶变换红外光谱仪 FTIR spectrometer喷雾干燥机 Spray Dryer循环水式多用真空泵 Vacuum Pump with Circulated Water System智能灰熔点测试仪 Intellectual Ash Melting Point Test Instrument智能液化硫测定仪 Fludified Sulfur Determiner温冰箱 Low temperature refrigerator焦炭反应性测定仪 Coke Reaction Determiner紫外/可见/近红外分光光度计 UV-Visible-NIR Spectrophotometer紫外分光光度计 UV Spectrophotometer紫外可见分光光度计 UV/VIS spectrophotometer紫外光栅分光光度计 VIS Spectrophotometer超级恒温水浴 Super ThermostaticWater-bath超声波细胞粉碎机 Ultrasonic Cell Crusher超纯水系统 Ultra Purified Water System超纯水系统 Hyperpure water system超滤装置(含超滤膜) Ultrafilaer Instrument微孔板液闪发光计数仪 Gradient Thermal Cycler微机控压密闭消解系统 Microvave Digestion System微颗粒测定仪 Micro particulate monitor数字图象分析系统 Micro-image analysis system数字显示旋转蒸发仪(垂直冷凝) Digital rotary evaporators (vertical condenser)瑞士梅特勒电位滴定仪(全自动多管电位滴定仪) Potential Titrator (Flexible Dual Driver General Autotitrator)熔点仪 Melting Point Apparatus磁力恒温搅拌器 Stirring hot plate精密电子天平 Precision electronic balance精密型便携式电导仪 Conductivity Meter膜片钳微操纵器 Patch-Clamp Micromanipulators膜片钳灌流系统 Patch Clamp Bath Perfusion System酶标仪 Microplate Reader酸度计 pH Meter膳食纤维测定仪 Dietary Fiber Determination System薄层色谱扫描分析仪 Thin-layer chromatogram流动分析与过程分析 Flow Analytical and Process Analytical Chemistry 气体分析 Gas Analysis基本物理量测定 Basic Physics样品处理 Sample Handling金属/材料元素分析仪 Metal/material elemental analysis环境成分分析仪 CHN Analysis发酵罐 Fermenter生物反应器 Bio-reactor摇床 Shaker离心机 Centrifuge超声破碎仪 Ultrasonic Cell Disruptor超低温冰箱 Ultra-low Temperature Freezer恒温循环泵 Constant Temperature Circulator超滤器 Ultrahigh Purity Filter冻干机 Freeze Drying Equipment部分收集器 Fraction Collector氨基酸测序仪 Protein Sequencer氨基酸组成分析仪 Amino Acid Analyzer多肽合成仪 Peptide synthesizerDNA测序仪 DNA SequencersDNA合成仪 DNA synthesizer紫外观察灯 Ultraviolet Lamp分子杂交仪 Hybridization OvenPCR仪 PCR Amplifier化学发光仪 Chemiluminescence Apparatus紫外检测仪 Ultraviolet Detector电泳 Electrophoresis酶标仪 Microplate Reader 或(ELIASA)CO2培养箱 CO2 Incubators倒置显微镜 Inverted Microscope超净工作台 Bechtop流式细胞仪 Flow Cytometer微生物自动分析系统 Automatic Analyzer for Microbes生化分析仪 Biochemical Analyzer血气分析仪 Blood-gas Analyzer电解质分析仪 Electrolytic Analyzer尿液分析仪 Urine Analyzer临床药物浓度仪 Analyzer for Clinic Medicine Concentration血球计数器 Hematocyte Counter菌落计数仪 Colony counters恒温·干燥器/恒温恒湿器 Drying Ovens/Humidity Chambers送风定温恒温器 Forced Convection Constant Temperature Ovens惰性气体恒温器 Inert Gas Ovens精密恒温器 Precision Constant Temperature Ovens洁净恒温器 Clean Ovens送风定温干燥器 Forced Convection Constant Temperature Drying Ovens 空气幕送风定温恒温器 Forced Convection Ovens With Air Curtain定温干燥箱 Constant Temperature Drying Ovens角形真空定温干燥器 Vacuum Drying Ovens恒温恒湿器 Constant Temperature and Humidity Chambers流水线设备 In-Line System for Underfill Adhesive and Encapsulation恒温培养器 Constant Temperature Incubators---可程式低温培养器 Low Temperature Program Type Incubators低温培养器 Low Temperature Incubators低温稳定性培养器 Low Temperature Stability Incubators培养器 IncubatorsCO2培养器 CO2 Incubators振荡培养器 Shaking Incubators冻结干燥器 Freeze Dryers---冻结干燥器 Freeze Dryers离心形冻结干燥器 Centrifugal Freeze Dryers灭菌器 Sterilizers---干热灭菌器 Drying Sterilizers高压灭菌器 Autoclaves Sterilizers低温等离子灭菌器 Low Temperature Plasma Sterilizers环形燃烧管灭菌器 Loop Cinerator纯水制造装置 Water Purifiers---纯水制造装置 Water Stills超纯水制造装置 Ultra-pure Water Purifiers简易纯水制造装置 Water Purifiers超纯水制造装置系统 Ultra-pure Water Purifier System大容量纯水制造装置 Water Purifiers System洗净器 Washers---实验室玻璃器皿清洗机 Laboratory Glassware Washers超声波清洗机 Ultrasonic Cleaners大型超声波清洗机 Aqueous Ultrasonic Cleaning Systems超声波试管清洗机 Ultrasonic Pipet Washers超声波清洗机 Ultrasonic Cleaners恒温液槽 Constant Temperature Baths---投入式恒温装置 Constant Temperature Devices油槽 Oil Baths振荡式低温水槽 Low Constant Temperature Shaking Baths深槽形恒温水槽 Constant Temperature Water Baths粘度测定槽 Kinematic Viscosity Baths液压式恒温水槽 Constant Temperature Water Baths精密低温恒温水槽 Precision Low Constant Temperature Water Baths低温恒温水槽 Low Constant Temperature Water Baths试验管加热板 Heating Blocks冷却液体循环器 Cooling Liquid Circulators冷却水循环器 Cooling Water Circulators便携式冷却器 Immersion Cooler寒流捕获器 Cooling Trap冷却水外部循环器 Cooling Water Circulators试验槽 Thoughs高温炉 High Temperature Furnaces Heating Apparatus---马弗炉 Muffle Furnaces超高温电气炉 Ultra-High Temperature Electric Furnaces高温电气炉 High Temperature Electric Furnaces真空气体置换炉 Gas Replacement Vacuum Furnaces造粒干燥装置 Granulating and Drying Apparatus for Wet Powder Body and Liquid---喷雾干燥器 Spray Dryer有机溶剂喷雾干燥器 Spray Dryer生产线喷雾干燥器 Spray Dryer for Product Line浓缩器 Evaporators---旋转蒸发仪 Rotary Evaporators溶媒回收装置 Solvent Recovery Unit乳化·搅拌·振荡器 Homogenizers, Stirrers, Shakers---磁力搅拌器 Magnetic Stirrers加热板 Hot Plates振荡器 Shakers送液·减压·加压装置 Aspirators, Pumps, Compressors搅拌器 Stirrers实验室自动乳钵 Laboratory Mill/Universal Ball Mill粉碎器 Cutting Mills生命科学关连仪器 Life-Science Related Instruments生物技术关连仪器·食品分析仪器 Bio-Technology Related Instruments, Food Analysises Instruments—形态观察分析系统 Mapping Analyzer生物分子间相互作用分析系统 Biomioleculer Interaction Analysis System高速液相色谱仪 LC-CE/CEC System血管壁细胞混合培养系统 Dynamic Coculture System动植物破碎机基因检查仪器 Genopattern AnalyzerATP测定器 ATP Measuring Instrument分光光度计 Microplate Spectrophotometer细胞培养·发酵用自动分析系统 Automated Chemistry Analyzer for Monitoring Cell Culture and Fermentation Processes细胞生死判别系统 Cell Vital Analyzer细胞计数分析装置 Cell Scaler/Analyzer2元电泳仪荧光 Spot Cutter高速冷却离心机 High Speed Refrigerated,Centrifuges微量高速离心机 High Speed micro-Centrifuges液体中微生物简单测试仪 Simple Germ Test Kit “simple Tester”试料混合器 Blender防爆冷藏柜 Explosion proof Freezer and Refrigerator杀菌水生成系统 Sterilization Water Production Device膜式脱气装置 Filter-type Air Extractor抗酸化机能水制造装置 Acid-Resistant Water Purifier高性能净水器反渗透式高性能净水器分析仪器 Analytical Instruments---分光光度计 Spectrophotometer元素分析装置 Atomic Absorption SpectrophotometerICP发光分光分析 ICP Atomic Emission SpectrophotometerX线光分析计 X-Ray Fluorescence Analysis气体分析计 Gas Analyzers回折/散乱式粒度分布测定装置 Analyzer,Particle Size Distribution Laser Diffraction Device低真空走查电子显微镜 Scanning Probe Micro Scope高速液相色谱仪 Liquid Chromatograph滴定装置 Automatic Titration大塚电子制品电位计膜厚计散乱光光度计 LCD测定·评价装置热量计天平 Balances物性试验·测定器 Physical Properties Measuring Apparatus, Testing, and Measuring Apparatus---近红外分析装置 Fourier Transform Near Infrared Spectrometer融点测定仪 Melting Point Measuring Instrument热分析系统 Thermo System自动反应装置 Automatic Reactor水分计 Moisture Analyzer引张压缩试验机 Tester,Tension and Compression数字粘度计 Digital Viscometer振动式粘度计 Vibro Viscometer浸透压测定装置 Osmotic Pressure Meters超临界水酸化系统 Small SCWO Systems重金属排液处理装置 Heavy Metal Eliminator简易水质检查试验纸 Water Quality Tester StripsPH计 Phmeter导电率计 Conductivity Meters湿度计 Hygrothermometers过滤器 Filter试验研究设备 Laboratory Design and Engineering---通风柜 Fume Hoods排风机 Blowers实验台 Laboratory Furniture保管柜 Storage Cabinets实验台用附属器具 Carts and Laboratory Table Attachments环境制御设施 Research Facilities, Product Lines, Environment control Devices---生物安全柜 Biohazard Safety Equipment废水处理系统 Waste Water Treatment试验动物饲养室 Bio Clean Room for Animal experiment环境实验设施 Research Facilities, Product Lines, Environment Experiment Facilities---电磁波室隔音室恒温室/恒温恒湿室 Constant Temperature and Humidity Facilities低温室 Constant Low Temperature Facilities人工气候室 Artificial Atmospheric Phenomena Simulator动物研究用高压蒸汽灭菌装置 Sterilization Systems, for Animal Research。

细说神奇的表面等离子体波(Word)

细说神奇的表面等离子体波(Word)

细说神奇的表面等离子体波光通信的新宠——表面等离子体波光纤是现在全世界最普遍使用的传递光信号的传播器件。

它巨大的容量使得科学研究人员对于它将来能够取代微处理器和电子计算机芯片中的各种电子器件充满信心。

但是很不幸的是,光纤的尺寸太大使得它和小巧的芯片接口无法匹配。

光电子器件大的原因在于其尺寸被衍射这一物理规律所制约。

空间中相聚很近的光之间会相互干涉叠加,这导致承载光信号的光纤的最小宽度是光波长的一半。

芯片上传播的光信号通常是1500nm波长的远红外光(这也是人类规定的一切通讯电磁波的波长)。

这样光纤的最小宽度会远大于我们目前正在使用的纳米电子器件(硅的集成芯片通常只有100nm的量级),使得光纤和芯片的接口无法匹配。

毫无疑问,人类对于这个衍射极限是无法突破的,因此一度陷入沮丧。

但是最近几十年来,人们发现了一种可以用做电子器件与光纤通信媒介的现象:plasmon (表面等离子体波在金属和介质表面的震动),使得整个研究方向重现曙光。

当电磁波在金属和介质表面传播的时候,会引起金属表面电子的共振。

电子振动的频率和电磁波是吻合的,但是却有着比电磁波小很多倍的波长(如上图所示)。

这意味着,这种表面plasmon振动的波长是被极大压缩了的,可以用来连接大尺度的光纤和纳米级的电子器件。

在金属和电介质表面可以看到,在光纤中同样频率电磁光的波长在meta-material(利用上述plasmon现象制作的材料)中被压缩了几十甚至上百倍(如上图所示),这样光纤和芯片接口尺寸不匹配的问题被解决了,我们只需要在中间加一个plasmonic的转换过渡(如下图所示)。

该器件的一个极大的优点就是低功耗。

或许有人会疑惑,因为人们对金属的第一印象就是电磁波会被金属所吸收转化成热量。

然而这种表面的plasmon的功耗极小,因为它只是在金属的表面振动,根本没有进入金属内部,所以自然耗散极小。

表面等离子体波的历史1)炼金术士的彩色酒杯炼金术士们在几千年前就已经不经意地参杂金属物质,通过plasmonics的效应来制作有颜色的酒杯。

BIOTEK POWERWAVE XS全波长酶标仪 操作规程

BIOTEK POWERWAVE XS全波长酶标仪 操作规程

潍坊医学院医学研究实验中心仪器简明操作规程汇编
Universal Microplate Spectrophotometer 全波长酶标仪简明操作规程
提示:主要分为两大部分:读板程序的设定;样本检测。

二者之间需进行程序切换
1、检测样本前开机预热15min。

2、双机进入操作程序,单击进入扫描程序设定
界面,,双击
Procedure,进入读板参数设定界面,单击设定扫描波长(260,280,405,450,490,630nm可选),单击OK确定。

3、定义样品板:单击打开plate layout窗口分别定义空empty (必需设定,否则也会被扫描,显示吸光度值)、空白blank、样品sample、样品对照sample control、分析对照assay control、标准standard(具体操作同一般计算机“托拉”操作。

单个样品孔点击设定也可,不过太慢),单击OK确定。

4、单击File下拉菜单—Save as保存以上设定好的程序(自定义程序名)。

5、单击File下拉菜单—New Experiment—选定所用程序—OK。

6、单击读板—RADE。

7、保存数据:一组为原始数据,一组为扣除空白的数据(blank***),单击右侧的,数据以Excel格式导出保存(路径、文件名自拟,通常保存在E:\data下)。

8、退出程序。

微波等离子体光谱仪(MPT、MIP)安全操作保养规程

微波等离子体光谱仪(MPT、MIP)安全操作保养规程

微波等离子体光谱仪(MPT、MIP)安全操作保养规程前言微波等离子体光谱仪(MPT、MIP)是一种用于分析化学物质成分的现代化学分析仪器。

使用该仪器需要严格遵守安全操作规程,才能保障人身安全和仪器的正常运行。

本文档将对MPT、MIP的安全操作及保养进行详细说明,并提供一些常见问题的解决方案。

安全操作仪器启动前的准备工作1.仪器必须接地,保证电路安全。

使用MPT、MIP前,请先确认电源插头是否正常,以及是否接好地线。

2.工作环境应具有患者无害性,供电条件良好、接地管道通畅、仪器放置有序,配备灭火器材并且检查成有效的状态。

3.操作人员必须佩戴防静电设备,以防止静电产生。

仪器启动操作1.打开前,请检查仪器连接是否正确、仪器内部是否存在杂物或潮湿环境,防止短路等情况的发生。

2.打开开关前,请先检查气源是否打开,避免在启动过程中气体过度再冷却、压力过小导致启动失败。

3.打开仪器后,请等待仪器自检完成,则可以正常使用。

1.在使用前,请先检查采购的样本是否符合实验要求,同时请严格按照操作手册操作,避免误操作。

2.在操作仪器时,请确保使用的气体及滤芯是合法、符合实验要求的,避免产生危险气体对人员产生伤害或对仪器产生损坏。

3.在实验操作完成后,请将关键部件清洁干净并保持干燥,这样不但可以保护仪器,而且可以延长其使用寿命。

保养和维护一台仪器的使用寿命和其是否正常使用,不仅取决于操作人员的操作方式,还依赖于定期保养和维护是否到位。

MPT、MIP的保养和维护,应按照以下规定进行:1.定期对仪器进行清洁,并对主要部件加注润滑油以保持其防腐性。

2.定期换取气源,保证采样气体的纯度和压力。

3.每天结束实验后,及时关闭仪器以避免实验操作过程中产生的火灾等危险。

同时,定期检查仪器内部是否还有样本,避免样本对仪器产生损坏。

4.对仪器进行定期检查,并对不合格的部件进行更换维护。

5.要定期对仪器进行校准和维护,保证其结果准确可靠。

1. MPT、MIP为什么不能使用纯氮气作为采样气体?答:纯氮气采样容易引起微波等离子体的电离效应,影响电离电流的稳定性,使分析结果发生偏差。

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2、双机进入操作程序,单击进入扫描程序设定
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单个样品孔点击设定也可,不过太慢),单击OK确定。

4、单击File下拉菜单—Save as保存以上设定好的程序(自定义程序名)。

5、单击File下拉菜单—New Experiment—选定所用程序—OK。

6、单击读板—RADE。

7、保存数据:一组为原始数据,一组为扣除空白的数据(blank***),单击右侧的,数据以Excel格式导出保存(路径、文件名自拟,通常保存在E:\data下)。

8、退出程序。

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