测量显微镜
测量显微镜操作指南说明书
测量显微镜操作指南说明书一、引言测量显微镜是一种重要的实验设备，广泛应用于科学研究、医学诊断和工业生产等领域。
本操作指南旨在提供对测量显微镜正确操作的详细说明，以帮助用户充分发挥其功能并获得准确可靠的测量结果。
二、器材准备在开始使用测量显微镜之前，请确保以下器材的准备：1. 测量显微镜主机：保证显微镜主机完好无损，镜头清洁。
2. 显微镜目镜和物镜：选择合适的目镜和物镜组合，根据需要调整倍数。
3. 光源：确保光源充足且均匀，在实验过程中保持稳定。
4. 校准标准物：选择适当的标准物进行校准，如标尺或标准样品。
三、调整显微镜1. 将测量显微镜主机放置在平稳的工作台上，并确保其水平。
2. 使用调焦手轮将物镜调至低倍数，将目镜视距调至适合的位置。
3. 通过调节液晶屏或透镜，确保目测视野清晰且无明显畸变。
4. 使用刻度盘校准器来检查目测视野中的刻度与实际值的差距，进行调整直至准确无误。
四、测量操作1. 将待测样品放置在显微镜台上，调整样品位置以确保其与测量尺度平行。
2. 使用调焦手轮将物镜调至所需倍数，通过调节目镜视距和焦距，使样品清晰呈像。
3. 使用刻度盘校准器或双目镜测微仪进行精确测量，记录结果。
4. 若需多个测量点，移动样品或显微镜台，重复上述测量过程，确保准确性和一致性。
五、注意事项1. 在使用测量显微镜之前，确认测量范围和要求，并选择合适的目镜和物镜组合。
2. 操作时需小心轻柔，避免碰撞和摩擦，保持显微镜镜头的清洁。
3. 在进行测量前，对测量范围内的标准物进行校准，确保测量结果的准确性。
4. 注意光源的充足和稳定性，保持适当的照明亮度，以避免影响样品的观察和测量。
5. 根据需要进行标定和校准，并在实验过程中根据实际情况调整测量参数。
六、维护与保养1. 使用完毕后，及时关闭测量显微镜电源，并将其安全放置在干燥、清洁的环境中。
2. 定期对显微镜进行清洁和维护，除去镜头上的污渍和尘埃，确保视野的清晰和准确。
万能工具显微镜的基本原理和测量方法
万能工具显微镜的基本原理和测量方法万能工具显微镜是采用光栅细分和数字化技术的一种高效率的光学计量仪器，具有读数直观、简便和提高工作效率等特点，广泛地应用于各企业的计量检测、各级检测和校准试验室以及其他科学研究等部门的计量检测工作。
仪器可用影像法、轴切法或接触法按直角坐标或极坐标对机械工具和零部件的长度、角度和形状进行精密测量。
主要测量对象有：刀具、量具、模具、样板、螺纹和齿轮类工件及其它小型精密机械零件。
1 基本原理万能工具显微镜主要采用的是光学原理系统，本仪器（19JPC-V 型）主要包括两部分：瞄准显微镜系统和光栅读数系统。
1.1 瞄准显微镜系统主要是通过仪器照明光源，通过聚光镜，可变光栏，滤色片和反射镜照明置于玻璃工作台上的被测件，瞄准显微镜的物镜经棱镜的转折将被测件清晰地成像在米字线分划板上。
最后用目镜瞄准。
1.2 光栅读数系统：例如X坐标的标尺光栅与指标光栅所产生的莫尔条纹信号，被光电接收元件接收，然后通过电子学的数据处理，将X坐标的移动量，转换成相应位置的数字量，即实现了X坐标的自动记数。
①读数头的原理。
主要由三部分组成，分别为准直系统、光栅系统和光电转换系统。
从光源S发出的光，经聚光镜L，变成平行光束，照射指标光栅G1和标尺光栅G2，在G2面上就形成莫尔条纹。
当明暗变化的莫尔条纹，经过光电元件P转换后，条纹的移动量便转化为相应数量的电信号，将这些电信号经过电路处理，得到的脉冲数，换算后就是所需测量的长度。
当工作台带动标尺光栅移动时，近似正弦变化的光电信号，经硅光电池接收，送给光栅数显表。
由于读数头输出信号幅值比较小，所以必须将该信号送至数显表内进行放大，并经过细分、辨向电路，送往可逆计数器，计数器的加减与工作台的移动位置相对应，最后结果直接有数码管或显示屏显示出来。
2 测量方法和维护保养2.1 影像法调焦原则在万工显上进行测量时，为了保证测量的正确性，必须要求物像和米字線分划线的像在同一聚焦面上，这就必须按照正确的调焦原则进行操作。
万能测量显微镜的基本原理及测量方法
１影 像 法 测 量 螺 纹 ． （ ） 光 圈 １调
才能 瞄 准 ， 则 将 产 生瞄 准误 差 。 否
调 焦 也 可 采 用 焦距 规 。 即先 使
用 影像 法 测 量 时 ，理 想 照明 光 线是一束平行 于光轴 的平行光 ． 这 样。 工件 的光学 成像 失真 最小 。但 实 际照 明光 束 中往往 包 含斜 照平 行 光 ． 这 样 的光 束 用 作 边 缘 比较 薄 的 工 件 成像 ， 影响 不大 ， 以忽略 ； 可 但对 于 曲
不 平 行 引 起 的 系统 误 差 。测 出 ，取 其 算 术 平 均 值 作 为测 量 结果 ， ： 即
中啊 计量 ２ ｏ ∞Ｅ１ ５１
使 目镜 米 字 线 的 中心 虚 线 和 牙
维普资讯
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作 中最 常 用 的 光学 仪 器 之 一 。 万 能 测 量 显 微 镜 的光 学 系 统 形成 物 方 远 心光 路 。 使被 测 工件 的光 学成 像 落在 仪 器 的分 划板 上 ， 然后 通 过 目镜 使分 划 板 上 的标 准 刻 线 对 工 件 影像 进行
来 计 算 ， 测量 螺 纹 时 ， 佳 光 圈 直 在 最
、
几 种测 量 方 法 程序 简 介
悬 臂 ，使 工件 的像 清晰 地 成 在 分 划
板 上 。只 有 在 二 者 都 清晰 的情 况 下
动 ，此 时 两 次 横 向读 数 之 差 即为 被
测 螺纹 的 中径 。为 消 除 螺 纹 定 位 时 被 测件 轴线 和 横 向导 轨 不 垂 直 产 生 的误 差 ， 以在 牙 型 左 、 两 侧 面各 可 右 测 一 次 ，取 其 算 术 平 均 值 作 为 中径
（） ５ 螺距 测量 测 量 螺纹 时 ．调 整 好 焦 距 和 光 将 米 字 线 的 中 心 线压 在 牙 型轮
测量显微镜操作规程
测量显微镜操作规程测量显微镜是物理学、化学、材料学、生物学等学科中常用的测量仪器。
本文将介绍测量显微镜的操作规程。
1.前置准备•准备样品：根据实验要求，准备所需的样品。
•准备测量显微镜：将测量显微镜放在水平台面上，调节显微镜的高度和视角，使样品位于显微镜的视野中。
2.装载样品•将待测样品放在显微镜台上，并使用调节螺旋装置轻轻转动样品，直到找到合适的测量位置。
•使用切换装置将目镜和物镜与光路连接起来，并观察样品，调整样品位置，使所需测量的部位进入视野中。
•将光学测量装置连接到显微镜上，例如目镜放大器等3.测量样品•调整光源：适当调节光源，使样品清晰可见，但不要过亮，以免损坏显微镜。
•调节物镜：首先使用最低放大倍率调节物镜，使得样品的整体形状和结构可以清楚看到。
然后，增加放大倍率，逐步放大所需测量的部位，直到所需精度最高。
•测量尺寸和距离：使用测量仪器对样品进行测量。
当需要测量样品上的角度、尺寸、距离等时，需要使用带有刻度的测量仪器对样品进行测量。
•记录测量数据：对每次测量进行记录，包括所测量的参数和测量数据等，并及时保存。
4.操作注意事项•使用显微镜时，应轻柔操作，不要用力过度，以免损坏显微镜。
•测量显微镜使用之前，应检查仪器是否正常，尤其是光源是否调节恰当，以保障测量精度。
•在操作过程中，若发现问题或异常情况，需要及时停止使用，并及时进行维修或更换部件。
•操作人员应遵守操作规程，进行集中管理，并定期对显微镜进行维护保养。
结语以上是测量显微镜的操作规程，包括前置准备、装载样品、测量样品和注意事项等方面的内容。
在使用测量显微镜时，一定要注意安全操作，严格遵守操作规程，以保障实验的进行及操作人员的安全。
测量显微镜
三、选择初始结构
2、物镜
-lI =34.782 -lH '=1.899 lF '=38.027
-l=50.565 lH =5.145
f'=39.926 l'=137.391
26
第10讲
测量显微镜设计实例
三、选择初始结构 3、半五角棱镜
尺寸关系： a=1.082D b=D c=D 角度关系： <ACB=112°30’ <BAC=45° <ABC=22°30’
6
第10讲
测量显微镜设计实例
二、分析
5、目镜视场角
tgω2'= y1 ' / f目' =1.75/25=0.07
ω2' = 4º ， 2 ω2' = 8º
7
第10讲
测量显微镜设计实例
二、分析
6、物镜数值孔径 Γ ≥300NA NA≤Γ/300=25/300=0.083
取： NA=0.07
8
第10讲
第10讲
测量显微镜设计实例
三、选择初始结构
1、目镜 f目'=25mm Γ目=10× 2 ω2' = 8º
选凯涅尔目镜 X=±5 f 2目' /1000=±3.125mm 目镜调节螺纹长度>6.25mm
19
第10讲
测量显微镜设计实例
三、选择初始结构
1、目镜
>=7.5mm 镜板距
P'
20
第10讲
测量显微镜设计实例
测量显微镜设计实例
二、分析
7、显微镜分辨率 σ =0.5λ/NA σ =0.5 λ/NA =0.5×0.000555/0.07=3.96 μm
01显微镜光学特性分析及参数测量
实验一 显微镜光学特性分析及参数测量[实验目的]1．了解显微镜的结构及其光学特性参数。
2．掌握测量显微镜的视觉放大率、视场、数值孔径的原理和方法。
[仪器和装置]待测显微镜(10×物镜、5×目镜)，测微目镜，小孔光阑，标准刻尺，照明光源[实验原理]显微镜是一种极为重要的目视光学仪器，它是人们用以观察小物体和认识微观世界的重要工具。
显微镜由物镜和目镜两部分组成。
1. 视觉放大率被观察的目标首先经物镜进行尺寸放大，然后由目镜组进行视觉放大。
所以显微镜的视觉放大率显Γ是物镜垂轴放大率β和目镜视觉放大率目Γ的乘积250f f β∆⨯ΓΓ''显目显目＝＝－ （1-1） 由几何光学可知，物镜的放大率β=物－f ∆ ，目镜的放大率250f Γ目目＝，根据式（1-1）分别测量出显微物镜的垂轴放大率β和目镜的视觉放大率目Γ，即可得出显微镜的视觉放大率显Γ。
2. 视场通常是以能观察到的物平面上的最大尺寸作为显微镜的线视场，以毫米为单位。
显微镜的视场受安置在显微物镜像平面上的视场光阑所限制。
显微镜的放大率愈大，其线视场愈小。
测量显微镜的视场，可以用显微镜来观测标准毫米分划的刻度尺完成。
3. 数值孔径显微物镜数值孔径是显微镜分辨率和成象照度的基本判据。
数值孔径越大，显微镜的分辨率越高，照度也越大，因此它是显微镜的主要光学特性参数之一。
显微物镜的数值孔径等于物平面中心发出的成象光束孔径半角u 的正弦与物方折射率n 的乘积，用符号NA 表示，即N A = nsinu 。
对在空气中的物镜，物方折射率n ＝１，故N A = sinu 。
由数值孔径NA 的定义可知，若物方介质的折射率已确定，则只需测量物方孔径半角u 值即可通过计算求得NA 。
1－目镜2－被测显微物镜3－小孔光阑4－刻度尺图1 测量数值孔径的原理图图1是测量物方孔径角的原理图。
小孔光阑3放在物镜工作平面中心。
在距小孔光阑d 处安置一根标准刻尺4，刻尺上A 、B 两点发出的光线经小孔光阑后被物镜成象，因A 、B 两点之外发出的光线被物镜框挡住，不能参加成象，因而A 、B 对小孔光阑3的张角2u 就是孔径角2u 。
干涉显微镜测量原理
干涉显微镜测量原理
干涉显微镜测量原理是一种利用光干涉现象进行测量的方法。
该原理基于干涉仪的原理，利用光波的干涉现象来测量待测物体的形状和大小。
干涉显微镜的基本构造包括两个反射镜和一个光源。
光源通过透镜聚焦，然后经过一个分束器分成两束光，分别照射到待测物体的两个表面上。
由于待测物体表面的形状不同，两束光在经过物体表面反射后会产生相位差。
当这两束光重新汇聚时，就会发生干涉现象。
根据干涉现象的原理，当两束光的相位差达到某一特定条件时，就会出现明暗条纹，从而可以通过观察这些条纹来推断待测物体的表面形状。
干涉条纹的形状和间距与待测物体的厚度或高度有关，因此可以通过测量干涉条纹的参数来确定物体的大小。
干涉显微镜还可以用于测量物体的表面粗糙度。
当待测物体表面粗糙时，反射光的相位差会随着表面不平整度的增加而发生变化。
通过观察干涉条纹的变化，可以推断物体表面的粗糙度。
总结来说，干涉显微镜利用光波的干涉原理进行测量，通过观察干涉条纹的形状和变化来推断待测物体的形状、大小和表面粗糙度。
这种测量原理对于微小尺寸的物体非常有效，因此在纳米技术和微电子学领域具有重要应用价值。
显微镜尺寸测量方法
显微镜尺寸测量方法显微镜尺寸测量是确定物体大小和形状的重要手段。
显微镜尺寸测量方法的正确应用可以大大提高测量精度和可靠性。
本文将介绍几种显微镜尺寸测量方法并分析其优缺点。
一、目测测量法目测测量是最常见的显微镜尺寸测量方法之一。
该方法根据目视颜色变化、大小、形状等特征估算测试对象的大小。
该方法简单易行，但准确性方面有限制。
目测测量法适用于要求测量区域在相对较大的范围内，并且只要求对样品进行大致估算和判断的情况。
目测测量方法通常不适用于需要测量细节或精度要求较高的情况。
二、比较法比较法是以已知尺寸的样品作为参照物，再将测试样品放在显微镜下与之比较来确定大小的方法。
该方法的优点在于准确性较高，适用于需要测量较小的物体的情况。
比较法需要选择正确的参照物，参照物的尺寸必须已知准确，参照物与测量样品的对比也需要准确对位。
比较法测量精度取决于选择的参照物质量和对比准确度。
三、分割法分割法是通过显微镜将被测样品分割成小部分，以精确定量的方式测量每部分大小来确定整体的大小。
该方法可以适用于测量种子、细胞等小尺寸物体。
分割法需要使用精密切割工具，和高分辨率显微镜。
该方法的主要限制是它是一项非常费时耗力的工作。
四、图像处理测量法图像处理测量法使用计算机数码技术和图像处理软件来分析显微镜图像，从而获取样品的大小。
该方法获得的测量结果精度高，而且可以自动化测量。
图像处理测量法适用于需要测量形状复杂，尺寸细微的样品。
但是，此方法需要专业的软件和设备，且相对较昂贵。
总结起来，显微镜尺寸测量方法有许多不同的种类和应用范围。
选择合适的测量方法需要考虑许多因素，如测量精度、测量时间、测量细节和使用成本等。
因此，在进行显微镜尺寸测量之前，应仔细分析需要测量的样品的大小、形状和其他特征，以选择最合适的测量方法。
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第四章光学实验本章安排的光学实验，实验中要用到多种光源和光学仪器，仪器的核心部分是各种光学元件，如平面镜、透镜、棱镜、光栅、狭缝等，其中每一元件都对光的传播产生一定的影响，从而形成不同用途的特定光路，最终成像于一定位置以便观测。
由于实际上看不到光路，因而借助光路图来了解光学仪器的原理就具有十分重要意义，只有彻底弄懂光路和光路中各元件的作用，才能在调节仪器时头脑清楚、操作有序，以较短的时间达到预期目的。
光学仪器大多精密贵重，每台仪器价值动辄千元、数千元，使用时要特别注意维护。
尤其是光学元件的工作面，都是精密加工而成的光学面，其光学性能很高但是机械性能很差，所以严禁触摸、摔碰。
有的仪器还具有精密的调节和读数机构，使用时一定要按规程进行。
§4.1 等厚干涉【预习重点】1.利用等厚干涉现象测微小厚度和凸透镜曲率半径的原理和方法。
2.等厚干涉条纹的分布和形状由什么决定。
3.处理数据的逐差法。
【实验目的】1.观察研究等厚干涉现象。
2.利用等厚干涉测量微小厚度和凸透镜的曲率半径。
3.学习逐差法处理数据。
【实验原理】利用透明薄膜两表面对入射光的依次反射，入射光的振幅波分解成有一定光程差(Optical path length difference)的几个部分。
这是一种获得相干光的重要途径，称为分振幅法，它被多种干涉仪所采用。
若两束反射光在相遇时的光程差取决于产生反射光的薄膜厚度，则同一干涉条纹上各点所对应的薄膜厚度相同，这就是等厚干涉(Interference of equalthickness)。
在白光照射下，肥皂泡、油膜以及氧化的金属表面上的彩虹，都是薄膜上常见的等厚干涉现象。
这种干涉条纹类似于地形图上的等高线，每一条纹就是膜上一切光学厚度(薄膜折射率n与厚度d的乘积nd)为常数的点的轨迹。
一般情况下，n并不改变，所以条纹的位置实际上对应于薄膜厚度为常数的区域。
本实验将根据等厚干涉条纹的分布分析薄膜的特性。
一、用劈形膜测微小厚度如图4.1.1，把两块光学平玻璃OB和OA迭在一起(图中略去了玻璃厚度)，在一端插入欲测厚度的薄片，则在两玻璃板间形成一个劈形空气膜(Wedge-shaped airfilm)，也称空气劈尖。
12当用单色平行光垂直照射时，任一条光线在空气劈尖上下两表面反射产生的两条光线是相干光，考虑到空气的折射率可看作是1，其光程差为22λδ+=e (4.1.1)式中e 为入射点薄膜的厚度，λ为入射光的波长。
当 2)12(λδ+=k ， k =0，1，2，… (4.1.2a )是相消干涉，呈暗条纹；当 λδk =， k =1，2，… (4.1.2b )是相长干涉，呈明条纹。
整个劈形空气膜上的干涉呈现一族与劈棱平行的间隔相等、明暗相间的直条纹，且相邻条纹之间的厚度差2λ=∆e 。
图4.1.1 劈形薄膜干涉的观测(4.1.2a )和(4.1.2b )式表示的是最大相消、相长干涉的条件，对应于干涉条纹的最暗和最明。
实际上条纹的明暗是逐渐过渡的，并无明显的界限，但由于人眼容易判定最暗，所以常观测暗条纹来进行有关的测量。
把(4.1.1)式和(4.1.2a )式联立，解得与k 级暗条纹对应的空气膜厚度为2λke = (4.1.3)3图4.1.2 牛顿环设劈尖上由劈棱到被测厚度之间暗条总数为N ，则被测厚度2λNd = (4.1.4)若入射光波长λ已知，则数出N 即可求得d 。
二、用牛顿环测平凸透镜的曲率半径设被测平凸透镜的凸面曲率半径是R ，把它的凸面与一光学平玻璃迭在一起，如图4.1.2(a )，则二者之间就形成一空气薄膜，中间接触点厚度为向边缘逐渐变厚。
当波长为λ的单色光垂直射入时，干涉图样是以接触点为中心的同心园环，明暗相间，中心条纹宽而疏、边缘条纹细而密，称为牛顿环(Newton ′s ring )，如图4.1.2(b )，牛顿环也是等厚干涉条纹，表示劈形空气膜光程差的(4.1.1)式仍然适用。
由图4.1.2(a )可知。
222)(e R r R -+=化简得222e eR r -=由于空气膜的厚度远小于透镜的曲率半径，即e <<R ，可略去2e ，得Rr e 22= (4.1.5)将（4.1.5）式代入(4.1.1)式，得22λδ+=R r与相消干涉的条件2)12(λδ+=k 联立，可解得,2λkR r k = k =0，1，2，… (4.1.6) 式中k r 为第k 级暗环的半径，λ已知，测出k r 就可由(4.1.6)式求得R 。
理论上，透镜凸面和平板玻璃只有一点接触，但由于接触压力引起的形变，接触处实际上为一圆面；再者，若有微小尘粒，又能使两玻璃面相离一定距离而没有接触点，这两种情况都引入附加的光程差，给测量结果带来系统误差。
设附加厚度为±a ，则由相消干涉的条件 2)12(2)(2λλδ+=+±=k a e得 a k e ±=2λ将(4.1.5)式代入得 Ra kR r 22±=λ 即系数误差相当于（4.1.6）式右端增加了一常数项Ra 2±。
4此误差可用下述方法消除。
取第m 、n 级暗条纹，相应的暗环半径为Ra nR r Ra mR r n m 2,222±=±=λλ两式相减，即可消去附加项，得λR n m r r n m )(22-=-在实验中，由于不易确定暗环中心,因而不便测暗环的半径，所以用易测量的直径取代得λ)(422n m d d R nm --= （4.1.7）三、等厚条纹的定性判断等厚干涉相邻暗条纹间的薄膜厚度恒差半个波长，这一事实启发我们用作图法定性判断各种形状的条纹的分布。
以薄膜表面OA 为基准，以/2λ的象征间距，作一平行线族，各条平行线与薄膜表面OB 的交点记为1、2、3，…，从这些点向下投影，即可定出干涉条纹的位置。
图4.1.3画出两个棱角不等的劈尖和一个单调增厚的曲面薄膜产生的等厚条纹。
图4.1.3 等厚条纹的分布与薄膜厚度变化的关系【实验仪器】一、测量显微镜（读数显微镜）测量长度时，如果被测物体不能与量具直接接触，或者被测物体较小时，常用光学仪器来进行测量，其中最常用的就是测量显微镜（Measuring microscope），也叫读数显微镜（Reading microscope）。
它可以用来测量刻线距离、刻线宽度、园孔直径等，用途较广。
显微镜的光路如图4.1.4。
被测物位于物镜焦点F1外稍远处，因此通过物镜成一个放大的实像，位于目镜焦点F2之内一点。
此实像作为目镜的物，经目镜成虚像到明视距离上进行观测。
显微镜上装配一定的测量系统就成为测量显微镜，其读数原理与千分尺相同，图 4.1.5是载物台移动式显微镜，图4.1.6是其光学系统，目镜安装在目镜座的目镜套管内，可前后伸缩，目镜止动螺旋可以固定目镜的位置，目镜可转动，也有固定螺旋。
物镜直接装在镜筒上。
转动调焦轮，可使显微镜筒上下升降进行调焦。
测量时，旋转测微鼓轮，载物台沿X轴方向移动，旋转测微器则载物台沿Y轴方向移动。
测微鼓轮上刻有100条等分线，每格相当于移动0.01mm，其仪器最大允许误差（MPE）为△仪=±0.005mm。
图4.1.4显微镜光路图测量显微镜的调节和使用步骤如下：1.采光。
调整反光镜的角度，使从目镜中看到明亮的视场。
2.调叉丝像清晰。
叉丝是用于测量的准线，所以在使用之前，必须改变目镜和叉丝之间的距离，使得叉丝清晰。
方法是转动目镜筒的端盖(目镜就安装在此盖上)，使从目镜中观察到的叉丝清晰(即叉丝成虚像在明视距离上)。
用目镜观察时，两眼都要睁开，两眼离开目镜适当距离，以能轻松地看清叉丝和整个视场为宜。
3.调待测物的像清晰。
把待测物放在载物台的中心，旋转X轴测微器与Y轴测微器使待测物与物镜对准。
从侧面观察，旋动调焦手轮使整个镜筒下移接近但不能接触待测物。
然后反向旋动调焦手轮使镜筒上升，同时从目镜中观察，直至看清物体的像，此步调节称为调焦。
注意：从目镜中观察时，切不可错调手轮，以免物镜与待测物接触而损坏仪器和待测物。
测圆的直径时，务必要调焦到圆的边缘清晰，调焦正确时，待测物准确成像在叉丝平面上。
56如略有偏差，很难直接判断，此时可左右晃动眼睛，观察物像与叉丝有无相对移动，如有，则说明物体成像面与叉丝平面不重合，这种现象就是视差（关于视差可参见§2.2望远镜的介绍）。
此时需要继续细致的调焦，直至消除视差才能进行下一步调节。
4.调叉丝方位。
其目的是使横竖叉丝分别与载物台的X 轴和Y 轴平行。
先粗调，松开目镜的止动螺丝，转动目镜筒，使从目镜中观察到的叉丝尽量横平竖直。
再细调，(1)用X 、Y 测微器将物像调到叉丝交点处，且与横叉丝相切，如图4.1.7（a ）；(2)用X 轴测微器将物像调到视场边缘，如图4.1.7（b ）(或物像下移至与横叉丝相割)；(3)微转目镜筒，使物像与横叉丝相切，如图4.1.7（c ）。
重复(1)、(2)、(3)调节，直至旋动X 轴测微器时，物像一侧始终与横叉丝相切移动为止。
调好后，旋紧目镜的止动螺丝。
图4.1.7 差丝方位调节过程图4.1.6 测量显微镜光学系统1.目镜接筒2.目镜3.锁紧螺钉4.调焦手轮5.标尺6.测微鼓轮7.载物台8.半反镜9.物镜筒 图4.1.5 测量显微镜结构75.测量(用X 轴测微器)：(1)转动X 轴测微器，使物像与竖叉丝相离，如图4.1.8（a ）。
(2)反向旋转X 轴测微器，使物像靠拢竖直叉丝，直到物像的一侧与竖直叉丝相切为止，如图4.1.8（b ），记录X 轴测微器的读数1X 。
（3）沿同一方向转动X 轴测微器，使物像越过竖直叉丝在另一侧与竖直叉丝相切，如图4.1.8（c ），记录X 轴测微器的读数2X 。
则被测长度(圆的直径)为21X X d -=图4.1.8 测量圆的直径6.注意：(1)测量时，中途(由图8（a ）→（b ）→（c ）)不允许改变X 轴测微器的转动方向，这是为了避免回程误差。
在相同条件下，计量器具正反行程在同一点示值上被测量值之差的绝对值，叫回程误差。
由于工艺的原因，测微螺栓(与X 轴测微鼓轮相连)和螺母(与载物台相连)之间不是紧密配合的，如图4.1.9，当X 轴测微器改变转动方向时，总有一段空转过程(即鼓轮空转而不拖动载物台)，在此过程中X 轴测微器读数的改变不能反映物像与竖直叉丝的相对移动，因而导致回程误差。
图4.1.9 形成回程误差的原因(2)X 轴测微螺旋的螺距为1毫米，因此鼓轮分度为100，读数的有效数字与千分尺相同。
使用前应核对一下当鼓轮示值为零时，主尺基准线是否恰好与某一毫米刻线对齐。
若不齐，属于安装问题。
使用中注意不要读错一毫米；更不要在主尺上反向读数，如将27毫米多读成32毫米多。