第三章 晶体结构缺陷

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晶体缺陷

晶体缺陷

(1 2)
2ClCl CaCl2 KCl Cai 2VK
(1 3)

KCl
表示KCl作为溶剂。 以上三种写法均符合缺陷反应规则。
实际上(1-1)比较合理。
(2) MgO溶解到Al2O3晶格中
2 MgO 2 Mg V Al O 2OO Al2O3
(1-4)
3 MgO 2 Mg Al Mgi 3OO Al2O3
(1-5)
(1-5〕较不合理。因为Mg2+进入间隙位置不易发生。
练习
写出下列缺陷反应式:
(1) MgCl2固溶在LiCl晶体中(产生正离子空位,生成置换型SS)
(2) SrO固溶在Li2O晶体中(产生正离子空位,生成置换型SS)
有些情况下,价电子并不一定属于某个特定位置的原子,在 光、电、热的作用下可以在晶体中运动,原固定位置称次自 由电子(符号e/ )。同样可以出现缺少电子,而出现电子空 穴(符号h. ),它也不属于某个特定的原子位置。
(6)带电缺陷 不同价离子之间取代如Ca2+取代Na+——Ca · Na Ca2+取代Zr4+——Ca”Zr
Schottky空位的产生
2 杂质缺陷
概念——杂质原子进入晶体而产生的缺陷。原子进入 晶体的数量一般小于0.1%。 种类——间隙杂质 置换杂质 特点——杂质缺陷的浓度与温度无关, 只决定于溶解度。 存在的原因——本身存在
有目的加入(改善晶体的某种性能)
3 非化学计量结构缺陷(电荷缺陷) 存在于非化学计量化合物中的结构缺陷,化合物化学 组成与周围环境气氛有关;不同种类的离子或原子数之比 不能用简单整数表示。如: ;
占据在原来基体原子平衡位置上的异类原 子称为置换原子。 由于原子大小的区别也会造成晶格畸变, 置换原子在一定温度下也有一个平衡浓度值, 一般称之为固溶度或溶解度,通常它比间隙原 子的固溶度要大的多。

3_《材料科学基础》第三章_晶体结构缺陷((上)

3_《材料科学基础》第三章_晶体结构缺陷((上)

点缺陷(零维缺陷)--原子尺度的偏离.
按 缺
例:空位、间隙原子、杂质原子等
陷 线缺陷(一维缺陷)--原子行列的偏离.

例:位错等
几 何
面缺陷(二维缺陷)--表面、界面处原子排列混乱.

例:表面、晶界、堆积层错、镶嵌结构等
态 体缺陷(三维缺陷)--局部的三维空间偏离理想晶体的周期性
例:异相夹杂物、孔洞、亚结构等
1、 固溶体的分类
(1) 按杂质原子的位置分: 置换型固溶体—杂质原子进入晶格中正常结点位置而取代基
质中的原子。例MgO-CoO形成Mg1-xCoxO固溶体。 间隙型固溶体—杂质原子进入晶格中的间隙位置。
有时俩
(2)按杂质原子的固溶度x分: 无限(连续)固溶体—溶质和溶剂任意比例固溶(x=0~1)。
多相系统
均一单相系统
Compounds AmBn
原子间相互反应生成
均一单相系统
结构
各自有各自的结构
A structure
structure
+ B structure
结构与基质相同 A structure
结构既不同于A也不同于B New structure
化学计量 A/B
不定
固溶比例不定
m:n 整数比或接近整数比的一定范围内
四、固溶体Solid solution(杂质缺陷)
1、固溶体的分类 2、置换型固溶体 3、间隙型固溶体 4、形成固溶体后对晶体性质的影响 5、固溶体的研究方法
①固溶体:含有外来杂质原子的单一均匀的晶态固体。 例:MgO晶体中含有FeO杂质 → Mg1-xFexO
基质 溶剂 主晶相
杂质 溶质 掺杂剂
萤石CaF2(F-空位)

固体物理 第三章_ 晶体中的缺陷

固体物理 第三章_ 晶体中的缺陷

4
由以上讨论可知: 刃位错: 外加切应力的方向、原子的滑移方向和位错 线的运动方向是相互平行的。 螺位错: 外加切应力的方向与原子的滑移方向平行, 原子的滑移方向与螺位错的运动方向垂直。 在左右两部分受到向上和向下的切应力的作 用时,位错线向前移动,直到位错线移动到 尽头表面,这时左右两部分整个相对滑移b 的距离,晶体产生形变。
固体物理第三章
1. 热缺陷:由热起伏的原因所产生的空位和填隙原 子,又叫热缺陷,它们的产生与温度直接有关
(a) 肖脱基缺陷
(b)弗伦克耳缺陷
(c) 间隙原子
固体物理第三章
( a )肖特基缺陷 (vacancy) :原子脱离正常格点 移动到晶体表面的正常位置,在原子格点位置 留下空位,称为肖特基缺陷。 (b)弗伦克尔缺陷(Frenkel defect),原子脱离格 点后,形成一个间隙原子和一个空位。称为弗 伦克尔缺陷。 (c)间隙原子(interstitial):如果一个原子从正常 表面位置挤进完整晶格中的间隙位置则称为间 隙原子,由于原子已经排列在各个格点上,为 了容纳间隙原子,其周围的原子必定受到相当 大的挤压。
固体物理第三章 固体物理第三章
产生位错的外力: 机械应力:挤压、拉伸、切割、研磨 热应力:温度梯度、热胀冷缩 晶格失配: 晶体内部已经存在位错,只用较小的外力就 可推动这些位错移动,原来的位错成为了位错 源,位错源引起位错的增殖,有位错源的晶体 屈服强度降低。 晶体的屈服强度强烈地依赖于温度的变化。 T升高,原子热运动加剧,晶体的屈服强度下 降,容易产生范性形变。
固体物理第三章
在实际晶体中,由于存在某种缺陷,所以晶 面的滑移过程,可能是晶面的一部分原子 先发生滑移,然后推动同晶面的另一部分 原子滑移。按照这样的循序渐移,最后使 上方的晶面相对于下方的晶面有了滑移。 1934 年, Taylor( 泰勒 ), orowan( 奥罗万 ) 和 Polanyi( 波拉尼)彼此独立提出滑移是借助 于位错在晶体中运动实现的,成功解释了 理论切应力比实验值低得多的矛盾。

材料科学基础第三章晶体缺陷

材料科学基础第三章晶体缺陷

够的能量而跳入空位,并占据这个平衡位置,这时在这个原 子的原来位置上,就形成一个空位。这一过程可以看作是空 位向邻近结点的迁移。
在运动过程中,当间隙原子与一个空位相遇时,它将落入
这个空位,而使两者都消失,这一过程称为复合,或湮没。
(a)原来位置;
(b)中间位置;
(c)迁移后位置
图 空位从位置A迁移到B
2 Ar a 3 N A 8.57 (3.294108 )3 6.0231023 x 1 2 Ar 2 92.91 7.1766103 106 7.1766103 7176 .6(个) 所以, 106 个Nb中有7176 .6个空位。
a NA
作业:
二.本章重点及难点 1、点缺陷的形成与平衡浓度 2、位错类型的判断及其特征、伯氏矢量的特征和物理意义 3、位错源、位错的增殖(F-R源、双交滑移机制等)和运动、 交割
4、关于位错的应力场可作为一般了解
5、晶界的特性(大、小角度晶界)、孪晶界、相界的类型
维纳斯“无臂” 之美更深入人心
处处留心皆学问
2.点缺陷的形成(本征缺陷的形成)
点缺陷形成最重要的环节是原子的振动 原子的热振动
(以一定的频率和振幅作振动)
原子被束缚在它的平衡位置上,但原子却在做着挣脱
束缚的努力
点缺陷形成的驱动力:温度、离子轰击、冷加工
在外界驱动力作用下,哪个原子能够挣脱束缚,脱离
平衡位置是不确定的,宏观上说这是一种几率分布
刃型位错的特点:
1).刃型位错有一个额外的半原子面。其实正、负之分只具 相对意义而无本质的区别。 2).刃型位错线可理解为晶体中已滑移区与未滑移区的边界 线。它不一定是直线,也可以是折线或曲线,但它必与滑移 方向相垂直,也垂直于滑移矢量。

材料化学-晶体结构缺陷

材料化学-晶体结构缺陷
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3. 质量平衡:缺陷方程两边必须保持质量平衡; 4. 电中性:缺陷反应两边必须具有相同数目的总有效电荷,
但不必为零; 5. 表面位置:不用特别表示,当一个M原子从晶体内部迁
移到表面时,M位置数增加。
15
有效电荷:缺陷及其周围的总电荷减去理想晶体中同一区 域的电荷之差。
—— 对于自由电子和空穴:有效电荷等于实际电荷;
平衡常数为:
Ag
Vi
Ag
• i
VAg
K
[ Agi• ][VAg ] [ Ag ][Vi ]
令N为晶体中格位总数,Ni为间隙总数,即:
[VAg
]
[
Ag
• i
]
Ni
[Ag ] N Ni
对于大多数规则晶体结构,有:
[Vi ] N
仅与体系自身结构特性有关
23
因此,
K
N
2 i
N
2 i
(N Ni )(N ) N 2
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缺陷反应方程式
1. 位置关系:在化合物 MaXb 中,M 位置的数目必须与 X
位置的数目成一个正确的比例;
2. 位置增殖:当缺陷发生变化时,有可能引入或消除空位, 相当于增加或减少点阵位置数,这种变化必须服从位置 关系;
—— 引起位置增殖的缺陷:VM,VX,MM,MX,XM, XX,等等;
—— 不引起位置增殖的缺陷: e’,h˙,Mi,Li,等等;
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俘获空穴中心
通过俘获空穴而形成色心。
卤素蒸气中加热
NaCl
NaCl1+
Vk心:两个相 邻卤素离子俘
获一个空穴
H心:一列卤 素离子中插入 一个卤素原子
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非整比晶体中的空位和填隙子

《材料科学基础》 第03章 晶体缺陷

《材料科学基础》 第03章 晶体缺陷

第三节 位错的基本概念
三、位错的运动
刃位错的攀移运动:刃型位错在垂直于滑移面方向上的运动。 刃位错发生攀移运动时相当于半原子面的伸长或缩短,通常把 半原子面缩短称为正攀移,反之为负攀移。 滑移时不涉及单个原子迁移,即扩散。刃型位错发生正攀 移将有原子多余,大部分是由于晶体中空位运动到位错线上的 结果,从而会造成空位的消失;而负攀移则需要外来原子,无 外来原子将在晶体中产生新的空位。空位的迁移速度随温度的 升高而加快,因此刃型位错的攀移一般发生在温度较高时;另 外,温度的变化将引起晶体的平衡空位浓度的变化,这种空位 的变化往往和刃位错的攀移相关。切应力对刃位错的攀移是无 效的,正应力的存在有助于攀移(压应力有助正攀移,拉应力 有助负攀移),但对攀移的总体作用甚小。
第一节 材料的实际晶体结构
二、晶体中的缺陷概论
晶体缺陷按范围分类:
1. 点缺陷 在三维空间各方向上尺寸都很小,在原 子尺寸大小的晶体缺陷。
2. 线缺陷 在三维空间的一个方向上的尺寸很大(晶 粒数量级),另外两个方向上的尺寸很小(原子尺 寸大小)的晶体缺陷。其具体形式就是晶体中的 位错Dislocation 。
说明:这是一个并不十分准确的定义方法。柏氏矢量的方向与位错线方向的定义有关,应该首 先定义位错线的方向,再依据位错线的方向来定柏氏回路的方向,再确定柏氏矢量的方 向。在专门的位错理论中还会纠正。
第三节 位错的基本概念
二、柏氏矢量
柏氏矢量与位错类型的关系:
刃型位错 柏氏矢量与位错线相互垂直。(依方向关系可 分正刃和负刃型位错) 螺型位错 柏氏矢量与位错线相互平行。(依方向关系可 分左螺和右螺型位错) 混合位错 柏氏矢量与位错线的夹角非0或90度。
过饱和空位 晶体中含点缺陷的数目明显超过平衡 值。如高温下停留平衡时晶体中存在一平衡空位, 快速冷却到一较低的温度,晶体中的空位来不及移 出晶体,就会造成晶体中的空位浓度超过这时的平 衡值。过饱和空位的存在是一非平衡状态,有恢复 到平衡态的热力学趋势,在动力学上要到达平衡态 还要一时间过程。

第三章-晶体结构缺陷

第三章-晶体结构缺陷

第三章晶体结构缺陷【例3-1】写出MgO形成肖特基缺陷的反应方程式。

【解】MgO形成肖特基缺陷时,表面的Mg2+和O2-离子迁到表面新位置上,在晶体内部留下空位,用方程式表示为:该方程式中的表面位置与新表面位置无本质区别,故可以从方程两边消掉,以零O(naught)代表无缺陷状态,则肖特基缺陷方程式可简化为:【例3-2】写出AgBr形成弗伦克尔缺陷的反应方程式。

【解】AgBr中半径小的Ag+离子进入晶格间隙,在其格点上留下空位,方程式为:【提示】一般规律:当晶体中剩余空隙比较小,如NaCl型结构,容易形成肖特基缺陷;当晶体中剩余空隙比较大时,如萤石CaF2型结构等,容易产生弗伦克尔缺陷。

【例3-3】写出NaF加入YF3中的缺陷反应方程式。

【解】首先以正离子为基准,Na+离子占据Y3+位置,该位置带有2个单位负电荷,同时,引入的1个F -离子位于基质晶体中F-离子的位置上。

按照位置关系,基质YF3中正负离子格点数之比为1/3,现在只引入了1个F-离子,所以还有2个F-离子位置空着。

反应方程式为:可以验证该方程式符合上述3个原则。

再以负离子为基准,假设引入3个F-离子位于基质中的F-离子位置上,与此同时,引入了3个Na+离子。

根据基质晶体中的位置关系,只能有1个Na+离子占据Y3+离子位置,其余2个Na+位于晶格间隙,方程式为:此方程亦满足上述3个原则。

当然,也可以写出其他形式的缺陷反应方程式,但上述2个方程所代表的缺陷是最可能出现的。

【例3-4】写出CaCl2加入KCl中的缺陷反应方程式。

【解】以正离子为基准,缺陷反应方程式为:以负离子为基准,则缺陷反应方程式为:这也是2个典型的缺陷反应方程式,与后边将要介绍的固溶体类型相对应。

【提示】通过上述2个实例,可以得出2条基本规律:(1)低价正离子占据高价正离子位置时,该位置带有负电荷。

为了保持电中性,会产生负离子空位或间隙正离子。

(2)高价正离子占据低价正离子位置时,该位置带有正电荷。

晶体结构缺陷

晶体结构缺陷
离子晶体中基本点缺陷类型
4)溶质原子:LM表达L溶质处于M位置,SX表达S溶质处 于X位置。 例:Ca取代了MgO晶格中旳Mg写作CaMg, Ca若填隙在MgO晶格中写作Cai。
5)自由电子及电子空穴:自由电子用符号e′表达。电子空 穴用符号h·表达。它们都不属于某一种特定旳原子全部, 也不固定在某个特定旳原子位置。
VO••
3OO
1 2
O2
例2:CaCl2溶解在KCl中:
产生K空位 ,合 理
CaCl2 KCl CaK• VK' 2ClCl
CaCl2 KCl CaK• Cli' ClCl
Cl-进入填隙位, 不合理
CaCl2 KCl Cai•• 2VK' 2ClCl
Ca进入填 隙位,不合

例3:MgO溶解到Al2O3晶格内形成有限置换型固溶体:
荷。为了保持电中性,会产生阴离子空位或间隙阳离子; 2、高价阳离子占据低价阳离子位置时,该位置带有正电
荷,为了保持电中性,会产生阳离子空位或间隙阴离子。
举例:
例1:TiO2在还原气氛下失去部分氧,生成TiO2-x旳反应能 够写为:
2TiO2
2TiT' i
VO••
3OO
1 2
O2
2Ti
4OO
2TiT' i
克罗格-明克符号系统
1、 缺陷符号旳表达措施 (以MX离子晶体为例) 1)空位:VM和VX分别表达M原子空位和X原子空位,V表达缺陷种类,
下标M、X表达原子空位所在位置。
VM〞=VM +2eˊ VX‥ = VX +2 h·
2)填隙原子:Mi和Xi分别表达M及X原子 处于晶格间隙位置 3)错放位置:MX表达M原子被错放在X位置上, 这种缺陷较少。
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较低,即晶体中剩余空隙比较大,则Frankel defects是一种 常见的点缺陷,如CaF2;相反,正负离子结构配位数较高, 即排列比较密集的晶体,则Schottky defects比较重要,如
NaCl
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
杂质缺陷(Impurity Defects):由于外部杂质进入晶体而引 起的缺陷,可分为臵换杂质缺陷和间隙杂质缺陷两种
C aC l 2 C a C l C l C l i '
K Cl
K
• 以负离子为基准,则缺陷反应方程式为:
C aC l 2 C a V K ' 2 C l C l
K Cl
材料科学基础
K
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第三章 晶体结构缺陷
Exercises:
(1)写出少量MgO加入Al2O3中的缺陷反应方程式:
(一)热缺陷的缺陷反应方程式:
请写出NaCl和AgBr的热缺陷反应方程式
(首先分析形成何种热缺陷)
NaCl(s) 0 V 'Na V Cl
Ag Ag AgBr(s) 'Ag Ag V i
AgBr(s) 'Ag Br Br 或者 AgBr Ag V i
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
(二)杂质缺陷反应方程式:
杂质进入基质晶体时,一般遵循杂质的正负离 子分别进入基质的正负离子位臵的原则,这样基质 晶体的晶格畸变小,缺陷容易形成。在不等价替换 时,会产生间隙质点或空位。
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
例1 写出NaF加入YF3中的缺陷反应方程式
晶体结构缺陷的类型:
按 缺 陷 的 几 何 形 态 分 类
点缺陷(Point Defects)
在三维空间各方向上尺寸都很小的缺陷。 如空位、间隙原子、异类原子等。
划分 缺
线缺陷(Line Defects)
在两个方向上尺寸很小,而另一个方向上 尺寸较大的缺陷。主要是各种位错。
陷 原则 类 型
面缺陷(Surface Defects)
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
Li:若杂质原子L是进入了晶体的晶格间隙位臵而形成的缺
陷,则可以表示为Li,如碳钢中的Fe3C中就是C原子进入了
Fe原子所形成的晶体的晶格间隙位臵,可以表示为Ci Note:倘若进入晶格的是带电荷的阳(阴)离子N的话,所 形成的缺陷即为带电缺陷,可表示为 ,上标的n为缺陷 所带电荷的种类以及电荷数,主要取决于离子本身的化合价 例如:(1) 若将CaCl2加入到KCl中有可能形成Cl-间隙
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
划分标准之二:由产生缺陷的原因划分 热缺陷 (Thermal Defects):由热起伏的原因所产生的空位或间 隙质点,也称为本征缺陷。包括Frankel Defects和Schottky
Defects两种
Frankel缺陷的产生示意图 Schottky缺陷的产生示意图
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
(4) 杂质质点: LM:表示杂质原子L占据了M原子的位臵,如在合金Fe3Ni中, Ni原子就占据了Fe原子位臵的一部分,即可表示为NiFe
Note:离子晶体MX中,若有其他外来阳离子N占据了M离子的 位臵,则可以表示为 ,其中n表示缺陷所带电荷,其符号和 绝对值取决于N离子和M离子化合价的大小关系:(1)N离子 的化合价高于M离子,则该缺陷带正电荷,其值为二者化合价 ;(2)N离子化合价等 之差绝对值;如Ca2+占据Na+表示为 于M离子,则该缺陷不带电荷;如K+占据Na+位臵表示为KNa; (3)N离子化合价低于M离子,则该缺陷带负电荷,其值也为 二者化合价之差绝对值。如Ca2+占据Zr4+位臵表示为
在一个方向上尺寸很小,在另外两个方向上尺 寸较大的缺陷。如晶界、相界、表面等。
体缺陷(Bulk Defects)
在局部的三维空间上尺寸较大的缺陷。如第二 相离子团、空位团等。
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
OUTLINES
第一节 点缺陷(重点)
第二节 固溶体(重点)
第三节 非化学计量化合物
VM:表示M原子占有的位臵,在M原子移走后出现的空位;
VX: 表示X原子占有的位臵,在X原子移走后出现的空位。
NOTE: 显然,在MX型离子晶体中形成一个M2+离子空位必
然带有两个负电荷(即为带电缺陷),则M2+离子空位应表 示为V M ,同理可知形成X2-离子空位也应表示为V X

材料科学基础
臵换型杂质缺陷的产生示意图
间隙型杂质缺陷的产生示意图
NOTE:缺陷浓度一般只与杂质的溶解度有关,而与温度无关
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第三章 晶体结构缺陷
非化学计量缺陷 (Non-stoichiometric Defects):指组成上偏离化 学中的定比定律所形成的缺陷,它是由基质晶体与介质中的某 些组分发生交换而产生 同时缺陷的浓度与温度有关 常见类型: (1)负离子缺位,常见的有TiO2-x,ZrO2-x; (2)间隙正离子,常见的有Zn1+xO, Cd1+xO; (3)间隙负离子,常见的有UO2+x; (4)正离子缺位,常见的有Fe1-xO,Cu2-xO;
反应物由生成缺陷主成分的物质组成; 箭头表示反应方向; 箭头上表示基质的化学式(在有些反应中是可以不 注明); 生成物主要由各种缺陷组成。
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第三章 晶体结构缺陷
(二)、缺陷反应方程式书写基本规则:
(1)位臵(格点数)关系: 对于计量化合物(如NaCl、Al2O3),在缺陷反应式中 作为基质的晶体所提供的位臵比例(即正负离子格点数) 应保持不变,但每类位臵总数可以改变
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第三章 晶体结构缺陷
(2) 质量平衡: 参加反应的原子数在方程式两边应相等。 Note:缺陷符号的下标只是表示缺陷位臵,对质量平 衡没有作用;VM 为 M 位臵上的空位,不存在质量 (3)电中性: 缺陷反应两边总的有效电荷必须相等。
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第三章 晶体结构缺陷
缺陷反应方程式书写实例分析:
第四节 线缺陷(简介)
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第三章 晶体结构缺陷
第一节 点缺陷
Point Defects
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第三章 晶体结构缺陷
一、点缺陷的类型
划分标准之一:由缺陷的几何位臵及成分划分 空位(Vacancy):理想点阵结构中的正常结点没有被质点占据
间隙质点(Interstitial Particle): 质点进入了正常晶格的间隙位 臵 杂质质点(Foreign Particle):外来质点进入正常结点位臵或晶 格间隙处 色心(Color Centre)
第三章 晶体结构缺陷
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理解位臵关系规则需注意三点: 在形成缺陷时,基质晶体中正负离子格点数之比保持不变, 而并非原子个数保持不变; 在形成缺陷时,基质晶体中的原子数会发生变化,若外加
杂质进入基质晶体时,系统原子数增加;若基质原子逃逸
到周围介质中,系统原子数减少。 空位、错位、臵换杂质原子以及表面位臵等缺陷会使格点 数的增值,而自由电子、电子孔穴以及间隙原子等缺陷不 会对格点数的多少有影响;
缺陷的浓度与形成能、温度等因素有关,且缺 陷的产生和复合始终处于动态平衡
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
Schottky Defects Frankel Defects 质点离开正常格点 正常格点上的质点由于 形成 后进入晶格间隙位 热运动跃迁到晶体表面 臵 形成空位缺陷,对于现;晶体体积 位成对出现,晶体体积增 大小基本不变 NOTE:对于离子晶体化合物来说,若正负离子结构配位数 大
的作用
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
缺陷研究意义的一个实例:
在恶性肿瘤放射性化疗过程中,如何保护正常细
胞免受射线辐照的损伤?
在正常细胞中注入CeO2纳米晶,这种纳米晶可以视 为非化学计量化合物,一种典型的点缺陷。它能吸 收照射的射线从而免于正常细胞的损伤。
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材料科学基础
第三章 晶体结构缺陷
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第三章 晶体结构缺陷
(2)间隙质点:用下标“i”表示 即:Mi 表示M原子进入了晶格的间隙位臵; Xi 表示X原子进入了晶格的间隙位臵。 NOTE: 显然,在MX离子晶体中形成一个M2+离子间隙 缺陷必然带有两个正电荷(即为带电缺陷),则M2+离
子间隙缺陷应表示为 M i ,同理可知形成X2-离子间隙缺
Cl 例如:C a C l 2 K CaK V K 2 C l C l
K : Cl = 2 : 2 对于非化学计量化合物,当存在气氛不同时,原子之 间的比例是可以改变的,但格点数的比例依然不变的。 例如:TiO2 由 1 : 2
材料科学基础
变成 1 : 2-x (TiO2-x)
第三章 晶体结构缺陷
材料科学基础
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第三章 晶体结构缺陷
缺陷的含义:在实际晶体中,由于诸多因素的影响如冷热 加工过程、杂质等导致其结构基元(原子、离子等)的排 列不可能象理想的点阵结构那样完美,在各种尺度上都可
能存在着结构的不完整性(偏离)。通常我们将这些不完整的
区域称为晶体结构缺陷
晶体结构缺陷在材料组织控制(如扩散、相变、烧结等) 和性能控制(如光学、电学、力学等)中具有非常重要
有利于缔合的库仑引力。在库仑力的驱动下,点缺陷可能
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