ZD9610型在线电路维修测试仪发展历程

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ATE发展历程和现状

ATE发展历程和现状

ATE发展历程和现状ATE(Automatic Test Equipment)自动测试设备是指用于对电子产品进行自动化测试的设备。

它通过高度自动化的测试系统,能够快速、准确地检测产品的性能和质量,并提供合格与否的判定。

ATE的发展历程可以追溯到二十世纪五六十年代的军工领域。

那个时候,电子产品的测试主要依赖于人工操作。

然而,随着电子技术的飞速发展,产品的复杂性逐渐增加,人工测试已经无法满足快速和高效的需求。

因此,人们开始研发ATE设备,以提升测试的自动化水平。

上世纪七八十年代,ATE设备开始进入商业领域。

它们被广泛应用于电子制造业,特别是半导体制造业。

ATE设备的引入,极大地提高了产品测试的速度和准确性,减少了测试过程中的人为错误。

随着微电子技术的兴起,ATE设备的功能也不断增强,它们不仅可以进行电气测试,还可以进行高温、低温、震动等环境测试,以确保产品的可靠性。

随着计算机技术和软件技术的发展,ATE设备变得更加智能化和可编程化。

传统的ATE设备需要根据测试对象的特点进行定制,而现在的ATE设备则具有更强的通用性和灵活性。

它们能够根据产品的不同特性,自动调整测试参数和测试流程,从而更好地满足不同产品的测试需求。

目前,ATE设备已经广泛应用于电子制造业的各个领域。

无论是半导体芯片、电子元器件,还是电子设备和通信设备,都离不开ATE设备的支持。

它们成为了电子产品质量控制的重要工具,为保证产品的质量和性能提供了有力的保障。

同时,ATE设备的不断更新和升级,也推动了电子制造业的技术进步和产业升级。

然而,面对日益复杂和多样化的电子产品,ATE设备仍面临一些挑战。

首先,测试成本和测试时间问题仍然需要解决。

随着产品的复杂性增加,测试的规模和工作量也在增加,导致测试成本和时间成本的上升。

其次,ATE设备的功能和性能需要持续改进,以满足更高级别的测试需求,特别是新兴技术领域的测试需求。

总体而言,ATE设备在自动化测试领域取得了巨大的成就。

测控技术与仪器的发展及特点分析

测控技术与仪器的发展及特点分析

测控技术与仪器的发展及特点分析一、测控技术的发展历程随着科学技术的不断进步,测量和控制技术在各个领域中发挥着越来越重要的作用,成为推动社会进步和经济发展的重要力量。

测控技术是指利用各种仪器和设备进行数据采集、信号处理、控制和监测的技术手段。

它在工业生产、环境监测、航空航天、军事应用等领域中起着至关重要的作用。

在测控技术的发展历程中,可以分为以下几个阶段:1. 传统测控技术时期:在早期,测控技术主要依靠手工操作和简单的机械仪器进行数据采集和控制。

人们通过手工编制数据表格、绘制曲线图表等方式进行数据处理和分析。

这个时期的测控技术主要应用于工业生产领域,主要用于产品质量控制和生产过程监测。

2. 电子测控技术时期:20世纪初,随着电子技术的发展,出现了各种电子仪器和设备,如示波器、频率计、数字万用表等。

这些设备的出现使得数据采集和处理更加方便和准确,提高了测控技术的精度和效率。

电子测控技术开始逐渐应用于航空航天、军事和科研领域,推动了这些领域的快速发展。

3. 计算机测控技术时期:20世纪60年代,计算机技术的发展使得测控技术迈上了一个新的台阶。

计算机以其强大的数据处理和控制能力,使得测控技术的应用范围得到了大幅度扩展,同时也提高了测控系统的智能化和自动化水平。

计算机测控技术的出现为工业控制、环境监测、医疗诊断等领域带来了革命性的变化。

4. 智能化测控技术时期:近年来,随着人工智能、大数据和云计算等新技术的兴起,测控技术正朝着智能化、网络化和集成化方向发展。

通过引入先进的传感器、智能控制算法和互联网技术,实现了测控系统的智能化和自适应控制,为各行各业的发展注入了新的动力。

二、测控仪器的发展变化测控仪器是测控技术的核心载体,是实现测控功能的重要工具。

随着测控技术的不断发展,测控仪器也经历了从传统仪器到现代智能化仪器的演变。

1. 传统测控仪器时期:在早期,测控仪器主要是一些简单的机械测量仪器,如卡尺、千分尺、游标卡尺等。

965DSP 小灵通线路质量测试及故障分析

965DSP 小灵通线路质量测试及故障分析

3Communication Network Solutions
965DSP小灵通线路质量自动测试 小灵通线路质量自动测试
---测试项目及连接方式 测试项目及连接方式
测试项目: 测试项目:
•电压 电压 •绝缘 绝缘 •开路距离 开路距离 •电容平衡 电容平衡 •纵向平衡 纵向平衡 •单音衰耗 单音衰耗 •扫描衰耗 扫描衰耗 •环阻 环阻 •电阻平衡 电阻平衡 •负载线圈 负载线圈
965DSP单项功能手动测试 功能及操作 单项功能手动测试
---频点衰耗测试 频点衰耗测试
1. 将965DSP与FED正确连接于被测线路两端 2. 按 键进入信号引发送,选择577Hz辨识信号音,按 键发送并持续5秒以上唤醒FED
3. 按 键进入电话功能,按 键设置并存储电话号 码“123456”和“760#00240#”。发送“123456”使FED进 入命令接收状态,发送命令“760#00240#”,FED将发送 40KHz 0dBm信号持续60秒(其中60表示信号持续60秒,002 表示单位kHz,40表示40kHz,可自行修改时间和频率) 4. 在60秒内先按 键返回主界面,再按 键选择“宽带 宽带 衰减”测试线路在40KHz频率上的信号强度 衰减 5. FED发出0dBm信号,因此965DSP上的读数即衰减dB数.
3Communication Network Solutions
965DSP/SA(频谱分析 功能及操作 频谱分析) 频谱分析
---噪声测试 噪声测试
1. 按
键并选择DSL噪声,并按 DSL噪声, DSL噪声 键设置DSL类型为ISDN
2. 测试并记录测试结果
黑 红 绿 电缆屏蔽层
3Communication Network Solutions

电子设备的发展历史

电子设备的发展历史

电子设备的发展历史1. 介绍电子设备的发展历史可以追溯到19世纪末,随着科学技术的进步,电子设备产业实现了飞速发展。

本文将概述电子设备的发展历程,探究其中的关键里程碑。

2. 早期电子设备19世纪末,人们开始探索电子学的基本原理,并取得了一系列关键发现。

最早的电子设备主要包括电子管和晶体管。

电子管是一种真空管装置,可以放大和控制电信号。

然而,电子管存在尺寸大、功耗高的问题。

3. 集成电路的出现20世纪60年代,集成电路的发明对电子设备行业产生了革命性的影响。

集成电路将多个晶体管和其他元件集成到一个芯片上,减小了电子设备的尺寸并提高了功能。

此后,电子设备逐渐变得更轻便、智能化。

4. 个人电脑的崛起20世纪80年代,个人电脑开始成为大众消费品。

IBM推出的第一台个人电脑(IBM PC),开创了个人电脑的新时代。

个人电脑的出现使得电子设备逐渐走向普及,人们可以在家中完成各种工作和娱乐活动。

5. 移动电话和智能手机的兴起20世纪90年代,移动电话的普及开始改变人们的生活方式。

移动电话解决了人们随时随地沟通的需求,且随着技术的发展变得越来越小巧和便携。

随后,智能手机的兴起使得电子设备具备了更多功能,如上网、拍照、播放音乐等。

6. 电子设备的未来随着科技的不断进步,电子设备领域仍有诸多发展前景。

例如,虚拟现实技术、物联网和人工智能等都有望改变电子设备的使用方式和功能。

人们可以期待在未来看到更加智能化、便捷化的电子设备。

7. 总结电子设备的发展历史经历了几个重要的阶段,从早期的电子管和晶体管到集成电路的出现,再到个人电脑和智能手机的普及。

未来,随着科技进步的推动,电子设备将继续创新和发展,为人们的生活带来更多便利和乐趣。

---以上为电子设备的发展历史的概述。

中科飞测发展史

中科飞测发展史

中科飞测发展史
中科飞测是一家专注于检测和量测集成电路设备的公司,成立于2014年12月。

以下是中科飞测的发展历程:
1. 2014年12月,中科飞测成立,总部位于广东深圳。

2. 2017年,公司的无图形晶圆缺陷检测设备通过了中芯国际产线验证,并在2021年通过国家科技重大专项验收。

3. 2017年和2019年,公司的三维形貌量测设备分别通过了长电先进和长江存储产线的验证。

4. 2018年,公司的无图形晶圆缺陷检测设备通过了长电先进产线的验证。

5. 2020年,公司的薄膜膜厚量测设备通过了士兰集科产线验证。

6. 2023年5月19日,中科飞测在上交所科创板上市。

以上信息仅供参考,如需了解更多信息,建议查阅中科飞测官网或相关新闻报道。

继电保护的发展历程

继电保护的发展历程

继电保护的发展历程继电保护是电力系统保护的重要组成部分,其作用是在电力系统发生异常故障时,迅速切除故障区域,保护正常电力设备和线路的安全运行。

继电保护的发展历程经历了多个阶段。

第一阶段是机械继电保护时代,发源于19世纪末的电力系统初期。

当时采用的是机械继电器作为故障检测和切除装置,它们基于电流和电压的变化,通过机械部件动作来实现故障切除。

这种保护装置简单可靠,但对复杂故障和长距离线路的保护能力有限。

进入20世纪初,电力系统不断发展,出现了更多复杂故障情况,机械继电保护已经无法满足需求。

于是,第二阶段的电气继电保护时代开始了。

电气继电保护采用了静态继电器和电磁继电器,提高了保护的可靠性和准确性。

此时开始出现了过流、短路以及接地保护等新的保护原理。

20世纪50年代以后,电子技术的迅猛发展带来了新的突破。

第三阶段的数字继电保护时代开始,电子元器件的使用使得继电保护的功能更加强大。

数字继电保护利用模拟电路将输入的模拟信号转化为数字信号,在数字电路中进行逻辑运算和决策,然后通过输出接触器等实现故障切除。

数字继电保护的优势是可编程性强、保护范围广和运行稳定,使得保护装置的工作性能得到了大幅提升。

随着现代通信技术的发展,第四阶段的通信继电保护时代开始了。

通信继电保护采用了远距离通信网络,可以通过传输线路实时传输保护信息,实现对远方设备的保护。

通信继电保护使得电力系统的保护更加智能化和集成化。

最近几十年来,继电保护的发展主要集中在微机继电保护和智能继电保护领域。

微机继电保护利用微处理器、数字信号处理器等计算机技术,实现了更加复杂的保护算法和功能。

智能继电保护结合了人工智能和模糊控制等技术,使得保护装置更具自适应能力和故障诊断能力。

总之,继电保护的发展历程经过了机械继电保护、电气继电保护、数字继电保护、通信继电保护、微机继电保护和智能继电保护等多个阶段。

这些发展使得继电保护能更好地适应电力系统的需求,保护电力设备和线路的安全运行。

中国电子产品发展历程

中国电子产品发展历程

中国电子产品发展历程
中国电子产品的发展历程可以追溯到20世纪50年代末期。

当时的中国处于计划经济体制下,国内电子工业非常薄弱。

然而,随着改革开放政策的实施,经济体制发生变革,中国电子产品开始逐渐迈向发展的道路。

在上世纪80年代,中国政府开展了电子工业的技术引进和合
作交流。

这一举措为中国电子产品的发展带来了新的机遇和动力。

同时,国内企业也开始研发和生产一些简单的电子产品,如收音机、电视机等。

到了90年代,中国电子产品的生产能力和技术水平逐渐提升。

国内企业开始涉足更高端的电子产品领域,如手机、计算机等。

同时,国外知名电子企业也纷纷进入中国市场,与中国企业展开合作或竞争。

21世纪初期,中国电子产品产业进一步蓬勃发展。

以手机为例,中国成为全球最大的生产和消费市场。

同时,在电子产品研发、制造和创新方面,中国企业也取得了许多重大突破和成就。

如今,中国电子产品已经涵盖了智能手机、平板电脑、电视机、电子游戏、家用电器等多个领域。

中国企业也在全球范围内占据着重要的市场份额。

同时,中国电子产品的质量和创新能力也不断提升,为消费者提供更好的产品和体验。

总体而言,中国电子产品的发展历程经历了从起步阶段到蓬勃
发展的过程。

在政府支持、市场需求和技术创新的推动下,中国电子产品行业取得了长足的进步,并且仍将继续在全球电子产品市场中发挥重要作用。

继电保护的发展历程

继电保护的发展历程

继电保护的发展历程继电保护是电力系统中的一项重要技术,它的出现和发展意味着电力系统的安全和稳定性得到了提升。

下面将为您介绍一下继电保护的发展历程。

继电保护的起源可以追溯到19世纪中叶,当时电力系统的规模开始扩大,电力传输线路的长度越来越长。

然而,由于当时的供电系统较为简单,缺乏有效的线路和设备保护措施,电力系统频繁地出现故障和事故。

为了解决这个问题,人们开始研究和发展继电保护技术。

20世纪初,继电保护开始进入工业化生产阶段。

当时的继电保护装置主要是基于电磁原理的,采用了电磁继电器作为核心元件。

这种继电保护装置可以实现对电力系统各个部分的保护,比如对线路和变压器的过流保护、对发电机的过压保护等。

虽然这种继电保护装置在当时起到了一定的作用,但其功能有限,调节和控制能力较弱。

随着电力系统的不断发展,越来越多的高压电力设备被引入到系统中。

这些设备的故障频率也逐渐增加,传统的继电保护装置已经无法满足对电力系统的保护要求。

于是,在20世纪30年代出现了静态继电保护装置。

这种装置采用了晶体管和电子器件作为核心元件,能够更加精确地检测和分析电力系统的故障情况,并对其进行保护。

到了20世纪60年代,数字技术的发展为继电保护的进一步改进提供了支持。

数字继电保护装置的出现,使得继电保护的精确性和可靠性得到了大幅度提升。

数字继电保护装置采用了微处理器和计算机技术,可以实现高精度的故障检测和定位,并且可以进行远程监控和控制。

这种装置具有自适应和自愈合能力,能够及时做出反应并采取正确的措施,使故障对电力系统的影响最小化。

另外,随着信息技术的飞速发展,继电保护技术也在不断创新。

现代继电保护装置不仅具备传统的保护功能,还具备大数据分析和云计算能力,可以实现对电力系统的全面监测和管理。

比如,通过利用智能电网和物联网技术,继电保护装置可以与其他电力设备进行互联,实现智能故障诊断和预测,提前采取措施,避免故障的发生。

总之,继电保护的发展经历了从电磁原理到静态装置,再到数字化和智能化的过程。

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第三代ZD9610型在线电路维修测试仪的发展历程——中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展缩影摘要:第三代ZD9610型在线电路维修测试仪是精密电路板维修(芯片级)检测设备,在关键技术上取得重大突破,许多被长期困扰的维修测试难题得到解决。

第三代ZD9610电路测试仪的发展历程,是中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展的一个缩影。

关键词:第三代ZD9610电路测试仪 >40管脚数字器件动态性能测试 5cVI曲线0.前言北京正达时代电子技术有限公司成立于1997年,核心人员是1990年代初期国内最早研制在线电路维修测试仪的专家骨干,长期致力于精密电路板维修仪器/电子元器件检测设备研发和服务。

特别是第三代ZD9610型在线电路维修测试仪,在国内外业界具有重要影响力。

回顾中国改革开放40年,在经济腾飞浪潮中,国内在线电路维修测试仪经历了1998~2018高速发展的黄金20年。

第三代ZD9610电路测试仪的发展历程,正是中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展的一个缩影。

1.国内在线电路维修测试仪黄金20年在线电路维修测试仪设计精密,测试高效,结合计算机技术并且综合运用器件功能测试和器件管脚阻抗特性测试等测试手段,是重要的精密电路板维修(芯片级)检测设备。

1.1国内电路测试仪研制背景:1980年代初,伴随改革开放步伐,国内陆续引进了大量现代化电气设备。

由于这些设备上普遍采用数字集成电路器件,因而常被冠以“数控设备”这一时髦的名称。

当时国内电路维修人员对数字器件概念模糊,器件故障无从判别,迫切需要检测手段。

1980年代末,新加坡“创能”品牌BW4040型在线电路维修测试仪(下文简称:电路测试仪)进入国内。

名称中“在线”是指:测试电路板时无须焊下器件。

型号中“4040”是指:具有40路数字通道,40路VI曲线通道。

电路测试仪将测试技术与计算机技术相结合,具有+5V 数字器件库。

既可以测试+5V数字器件功能,也可以采用VI曲线测试数字器件/模拟器件管脚阻抗特性。

面对电路测试仪在电路板维修中的巨大优势,国内企业也积极开始研究与试制,不断推出一代又一代电路测试仪产品。

1.2第一代电路测试仪:国内第一代电路测试仪是从对BW4040电路测试仪的学习和仿制开始的,代表机型是正达ZD4040电路测试仪。

主要特点:40路数字通道,40路VI曲线通道,器件库包含40管脚以下+5V数字器件。

具有40路数字通道,提供+5V测试电源是第一代电路测试仪的基本特征。

由于增加VI曲线通道难度不大,所以ZD4080电路测试仪(80路VI曲线通道)也属于第一代电路测试仪。

第一代电路测试仪始于1990年代初,那时的计算机还是DOS操作系统。

随着计算机技术的飞速发展,第一代ZD4040电路测试仪也同步改进和升级。

今天的ZD4040-N电路测试仪可以支持windows10_64位操作系统,在维修中依然发挥着重要作用。

1.3第二代电路测试仪:国内第二代电路测试仪开始摆脱全面仿制阶段,推出一些自主创新的特色功能。

代表机型是正达ZD9001电路测试仪。

主要特点是:40路数字通道,80路VI曲线通道,20路模拟功能通道,器件库包含40管脚以下多电源供电的数字器件以及集成运放、电压比较器、模拟开关等模拟器件。

具有40路数字通道,提供±12V测试电源是第二代电路测试仪的基本特征。

虽然ZD9001电路测试仪具有80路数字通道,但由于是按照双组40路数字通道实施测试,所以属于第二代电路测试仪。

第二代电路测试仪始于1990年代末,自主创新是贯穿其中的发展主线。

例如:通过器件管脚阻抗特性识别模拟器件型号这项功能,虽然在技术上并不复杂,但跳出之前国外产品只能用逻辑功能识别数字器件型号这个固有思维,使模拟器件型号识别和更复杂器件型号识别成为可能,实用价值很高。

模拟器件型号识别功能是第二代ZD9001电路测试仪在测试方法上的重要原始创新,开启了国内电路测试仪高速发展的黄金20年。

1.4第三代电路测试仪:国内第三代电路测试仪在关键技术上取得多项重大突破,许多国内外业界被长期困扰的维修测试难题得到解决。

代表机型是正达ZD9610电路测试仪。

主要特点是:80路数字通道,160路VI曲线通道,28路模拟功能通道,可以对>40管脚数字器件功能测试,可以测试数字器件和模拟器件的动态性能。

具有80路数字通道,可以对>40管脚数字器件功能测试和测试器件动态性能是第三代电路测试仪的基本特征。

ZD9610电路测试仪开创了第三代电路测试仪的先河,使电路测试仪的整体技术水平大幅提升。

图1.图1第三代电路测试仪始于2011年,在这个先进测试平台上,技术创新层出不穷。

2018年6月,第三代ZD9610电路测试仪再次首创5cVI曲线鹰爪五线测试法,令人瞩目。

2.技术突破奠定第三代ZD9610电路测试仪发展基础近几十年,器件制造技术始终在高速发展,给精密电路板维修(芯片级)检测带来了许多测试难题。

2.1数字器件的发展趋势:对于数字器件而言,发展趋势主要表现在以下几个方面:①管脚趋多比如之前常用的74LS245是8位双向总线驱动器,20管脚器件。

现在常用的新型74FCT16245是16位双向总线驱动器,48管脚器件。

见图2.②电压趋低以前数字器件多为+5V供电,某些CMOS结构的数字器件还支持+12V供电。

现在逐渐形成主流+3.3V供电,甚至出现更低的+1.8V.③体积趋小早期数字器件普遍采用DIP双列直插封装形式,管脚中心间距2.54mm.现在贴片封装成为主流,新型TSSOP封装形式数字器件,管脚中心间距仅为0.5mm.④速度趋快比如早期的74LS245传输延迟时间t Pd是18ns左右,现在常用的新型74FCT16245传输延迟时间t Pd是5ns左右,速度有明显提高。

图2面对数字器件的发展趋势,第一代和第二代电路测试仪存在明显局限性,第三代ZD9610电路测试仪在数字器件测试广度、测试深度以及测试使用环节上必须寻求突破。

2.2对>40管脚数字器件功能测试:器件功能测试是电路测试仪最基础、最重要的测试功能。

能够给出器件功能和性能的明确信息,器件库中包含器件种类的多少是衡量电路测试仪先进性的重要指标。

第一代和第二代电路测试仪只能测试40管脚以下数字器件功能。

绝大多数为14管脚、16管脚和20管脚中小规模数字器件。

第三代ZD9610电路测试仪具有80路数字通道,可以对>40管脚数字器件功能测试和型号识别。

例如:74ABT16245(48管脚);见图3.74FCT162823(56管脚);74ALVCH16832(64管脚).图374ALVCH16832是64管脚+3.3V供电的数字器件,同时因应了数字器件“管脚趋多、电压趋低”的发展趋势。

第三代ZD9610电路测试仪在器件测试广度上实现重大突破。

2.3数字器件动态性能测试:第一代和第二代电路测试仪数字器件功能测试频率很低,在50kHz以下,改变测试频率对数字器件功能测试结果不会产生影响。

数字器件功能测试结果只存在两种状态:1.能够通过功能测试(器件基本功能正确)。

2.不能通过功能测试(器件基本功能故障)。

第三代ZD9610电路测试仪将数字器件功能测试频率提高到2000kHz.实测证实:绝大部分数字器件所能通过功能测试的最高测试频率都低于2000kHz.(许多器件只有几百kHz.)只有降低测试频率,有些类型数字器件甚至要大幅度降低测试频率,才能够通过功能测试。

这样就出现了第三状态(Third state).第三状态是指:在某个特定测试频率之上,基本功能正确的器件无法通过功能测试,而在此测试频率及以下却能够通过功能测试的状态。

第三代ZD9610电路测试仪数字器件功能测试结果的三种状态:1.不能通过功能测试(在某测试频率之上/器件基本功能正确)。

2.能够通过功能测试(在某测试频率之下/器件基本功能正确)。

3.始终不能通过功能测试(所有测试频率/器件基本功能故障)。

评价数字集成电路性能的三个重要指标:1.速度(延迟/工作频率),2.功耗,3.功能性和可靠性。

其中:速度是动态性能的一个指标,也最能反映数字器件的综合性能。

第三状态验证表明:器件对高频测试信号的正确响应能力与自身工作频率相对应。

即:器件工作频率越高,速度越快,所能通过功能测试的测试频率也越高。

因此,第三状态能够反映器件实际工作速度情况。

相同功能器件,如果能够通过功能测试的测试频率越高,则其速度越快,性能越好。

反之,测试频率越低,则其速度越慢,性能越差。

器件逻辑功能测试一般称为功能测试或者静态测试。

对器件速度/时间特性测试一般称为性能测试或者动态测试。

第三状态就属于后者这个范畴。

基于第三状态的特点,第三代ZD9610电路测试仪出现新的测试形式。

英文简称:TST(Third State Test).是简单有效的疑难故障解决方案。

应用第三状态TST方案,能够测试数字器件对高频测试信号的正确响应能力,测试器件的动态性能。

区分不同器件工作速度,筛选器件动态性能差异。

实测例子:有两片型号为CD4050的数字器件。

外形封装完全相同,型号完全相同,仅是厂家不同。

见图4.对比它们的第三状态测试频率,仙童公司CD4050是1000kHz,TI公司CD4050是500kHz.查阅这两个厂家CD4050的PDF技术资料,仙童公司CD4050的工作频率明显高于TI 公司CD4050.这说明器件对高频测试信号的正确响应能力与自身工作频率相对应。

因此,若将某厂家性能完好器件的第三状态作为测试标准,就可以严格筛选这个厂家的器件。

图4数字器件的动态性能难于判断,常使电路维修陷入困局。

第三代ZD9610电路测试仪有效解决了这个测试难题,在器件测试深度上实现重大突破。

2.4新型在线测试夹和多样离线测试板:面对数字器件“体积趋小”的发展趋势,必须在电路测试仪的使用环节上下功夫。

第三代ZD9610电路测试仪的解决办法是:首先,对因缺乏精密在线测试夹的原因不能在线测试的>40管脚数字器件,设计多样离线测试板。

见图5.采用离线方式进行功能测试。

图5同时,积极开展对新型在线测试夹的研制工作。

经过反复试制和方案比较,先后研制成功TSSOP测试夹和QFP测试夹。

TSSOP测试夹:双列贴片封装,管脚中心距0.5mm;QFP测试夹:4侧L形管脚贴片封装,管脚中心距0.65mm.见图6.图6新型在线测试夹和多样离线测试板开辟广阔天地,第三代ZD9610电路测试仪在使用环节上实现重大突破。

3.不断创新成就第三代ZD9610电路测试仪旺盛生命第三代ZD9610电路测试仪取得多项重大突破,奠定良好的发展基础。

唯有不断创新才能取得更大突破,自从2011年第三代ZD9610电路测试仪问世以来,层出不穷的技术创新成就了第三代ZD9610电路测试仪旺盛生命。

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