电子元件检验方法
常用元器件检测方法
常用电子元器件检测方法元器件的检测是电子产品生产中不可缺少的重要部分,如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否.熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要，以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供参考。
第一章电阻器的检测方法与经验1、固定电阻器的检测.A将两表笔（不分正负）分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。
为了提高测量精度，应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。
由于欧姆挡刻度的非线性关系，它的中间一段分度较为精细,因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置，即全刻度起始的20％～80％弧度范围内，以使测量更准确。
根据电阻误差等级不同。
读数与标称阻值之间分别允许有±5％、±10％或±20％的误差。
如不相符，超出误差范围，则说明该电阻值变值了.B注意：测试时,特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时，手不要触及表笔和电阻的导电部分；被检测的电阻从电路中焊下来,至少要焊开一个头，以免电路中的其他元件对测试产生影响,造成测量误差;色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定，但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。
2、水泥电阻的检测。
检测水泥电阻的方法及注意事项与检测普通固定电阻完全相同。
3、熔断电阻器的检测。
在电路中，当熔断电阻器熔断开路后，可根据经验作出判断：若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦,可断定是其负荷过重，通过它的电流超过额定值很多倍所致；如果其表面无任何痕迹而开路，则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。
对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断，可借助万用表R×1挡来测量，为保证测量准确，应将熔断电阻器一端从电路上焊下. 若测得的阻值为无穷大，则说明此熔断电阻器已失效开路,若测得的阻值与标称值相差甚远，表明电阻变值,也不宜再使用。
在维修实践中发现,也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象，检测时也应予以注意。
常用电子元器件的检验方法
常用电子元器件的检验方法
一、外观检查：
对电子元器件的外观进行检查，包括观察元器件是否有明显的外观缺陷，如裂纹、变形、氧化等。
还需要检查元器件的标识、标志、焊接等是否符合要求，是否有明显的灰尘、污渍等。
二、尺寸检查：
对电子元器件的尺寸进行检查，包括检查元器件的外观尺寸、引脚距离、引脚长度等是否符合规定。
还需要检查元器件的焊盘、焊接孔、孔径等是否符合要求，并且与其他组件的配合是否良好。
三、电性能检查：
对电子元器件的电性能进行检查，包括使用电阻表、电流表、电压表等仪器检测元器件的电阻、电流、电压等参数是否符合规定。
还可以使用示波器、频谱分析仪等仪器检测元器件的频率、波形、谐波等特性。
四、功能性能检查：
对电子元器件的功能性能进行检查，即检测元器件在实际使用条件下的工作情况是否正常。
可以通过将元器件连接到相应的电路中，进行电路的调试和测试，观察元器件的工作状态和效果是否符合要求。
五、可靠性测试：
对电子元器件的可靠性进行测试，包括温度试验、湿度试验、振动试验、冲击试验等。
通过在不同的环境条件下对元器件进行长时间的测试，观察元器件在不同环境下的工作情况，评估其可靠性和适应性。
以上是常用电子元器件的检验方法的一些基本内容，不同的元器件可能有不同的检验方法和要求，需要根据具体情况进行选择和应用。
在进行元器件检验时，需要使用合适的检测仪器和设备，正确操作并记录检测结果，以确保电子元器件的质量和性能符合要求。
电子元器件的检测方法
电子元器件的检测方法
1.外观检查：外观检查是最基本的电子元器件检测方法之一，通过目
视观察和仪器测量等手段检查元器件的形状、尺寸、表面质量和引线等外
观特征。
主要检查项包括器件封装形式、引脚排列与间距、引线长度与弯
曲度、焊盘和焊接质量、器件表面缺陷等。
2.物理性能检测：物理性能检测是用来检验电子器件内外部物理特性
的方法，包括尺寸、重量、密度、硬度、磁性、热特性等。
常用的方法有
测量封装尺寸、引脚间距、焊盘尺寸等；利用显微镜观察元器件表面形貌，配合金相显微镜来观察器件的金属结构和应力分布；测量元器件的质量、
密度和强度等指标。
3.电气性能检测：电气性能检测是检验元器件电性能的方法，主要包
括静态参数测试、动态特性测试和电容、电感、电阻等电性能参数测试。
常用的方法有使用万用表、示波器、信号发生器等测量工具，对元器件的
电压、电流、频率、响应时间、电阻值等进行测试。
同时，还可以利用射
频信号源、功率测量器等专用设备对射频器件的性能进行测试。
4.可靠性测试：可靠性测试是用来预测和评估电子元器件在特定条件
下的可靠性能的方法，包括环境可靠性测试、应力可靠性测试和可行性试
验等。
常用的方法有温度循环试验、高低温试验、湿热循环试验、振动试验、冲击试验、可靠性寿命试验等。
通过这些测试，可以评估元器件在不
同环境和应力条件下的工作能力和寿命，为设计和生产提供可靠性参考。
总结起来，电子元器件的检测方法包括外观检查、物理性能检测、电
气性能检测和可靠性测试等多个方面，通过综合运用这些方法，可以全面
评估和验证电子元器件的质量和性能，确保其符合设计要求、可靠工作。
电子元器件的质量标准及检验方法
电子元器件的质量标准及检验方法电子元器件是现代电子设备中不可或缺的重要组成部分，其质量直接关系到设备的性能、可靠性和使用寿命。
因此，对于电子元器件的质量标准和检验方法具有非常重要的意义。
本文将详细介绍电子元器件的质量标准以及常见的检验方法。
首先，电子元器件的质量标准应满足以下几个方面的要求：1. 规格和性能要求：电子元器件应按照规定的性能参数和技术要求进行设计和制造。
这些性能参数可以包括电压、电流、频率、容量等，根据不同的应用需求进行设计。
2. 可靠性要求：电子元器件应具有良好的可靠性，能够在长时间运行和各种环境条件下稳定工作。
可靠性要求包括寿命、可靠性指标、故障率等。
3. 材料和工艺要求：电子元器件的材料和制造工艺应符合相关的标准和规范，确保产品的质量和稳定性。
材料的选择、制造工艺的控制等都对产品的性能和质量有重要影响。
4. 环境适应性要求：电子元器件应能够适应各种环境条件下的使用，包括温度、湿度、振动、射频等。
环境适应性要求的制定能够保证产品在各种恶劣环境下的正常工作。
其次，对电子元器件进行质量检验的方法可以分为以下几个方面：1. 外观检查：对电子元器件的外观进行检查，包括尺寸和形状是否符合要求，表面是否有损坏和污染等。
外观检查是最基本且容易进行的一种检验方法。
2. 功能测试：通过对电子元器件进行电气测试，检查其是否能够正常工作和满足规定的性能要求。
这种方法需要使用专门的测试设备和测试程序，能够全面和准确地评估产品的性能。
3. 寿命测试：对电子元器件进行寿命测试，模拟实际使用和环境条件下的长期工作，评估其可靠性和稳定性。
寿命测试可以使用加速寿命试验、循环寿命试验等方法进行。
4. 环境适应性测试：对电子元器件进行环境适应性测试，模拟各种环境条件下的使用，检查其是否能够正常工作。
环境适应性测试包括温度试验、湿度试验、振动试验、射频试验等。
5. 材料分析：对电子元器件的材料进行化学分析、物理测试等方法，检查其成分和性能是否符合要求。
电子元器件的质量标准及检验方法
电子元器件的质量标准及检验方法电子元器件作为电子产品的重要组成部分，其质量标准和检验方法的准确性和严格性直接影响到整个电子产品的质量和可靠性。
本文将介绍电子元器件的质量标准及常用的检验方法。
一、电子元器件的质量标准电子元器件的质量标准主要包括以下几个方面：1. 外观标准：电子元器件的外观应无明显的划痕、氧化、损坏等不良现象，并且应符合制造商提供的样品、图纸和规范要求。
2. 尺寸标准：电子元器件的尺寸应符合制造商提供的图纸和规范要求，如焊盘大小、引脚间距、外壳大小等。
3. 材料标准：电子元器件的材料应符合相关标准和要求，如导电材料的电导率、介质材料的绝缘强度等。
4. 结构标准：电子元器件的结构应符合相关标准和要求，如通孔的位置和数量、引脚与焊盘的连接方式等。
5. 功能标准：电子元器件的功能应符合相关标准和要求，如电容器的电容值、电阻器的阻值、二极管的正向电压等。
二、电子元器件的检验方法电子元器件的质量检验是确保产品质量的重要环节，以下是常用的几种电子元器件的检验方法：1. 外观检验：用肉眼检查电子元器件的外观，包括是否有划痕、氧化、变形等不良现象。
2. 尺寸检验：使用量规、卡尺等工具测量电子元器件的尺寸，与制造商提供的图纸和规范要求进行比对。
3. 材料检验：通过仪器测量材料的物理、化学性质，如电导率、绝缘强度等。
4. 结构检验：对电子元器件的结构进行检验，如通孔的位置和数量、引脚与焊盘的连接方式等。
5. 功能检验：使用相应的测试仪器对电子元器件的功能进行测试，如电容器的电容值、电阻器的阻值、二极管的正向电压等。
6. 可靠性测试：对电子元器件进行各种可靠性测试，如高温、低温、湿热、振动等环境试验，以评估元器件在各种工作条件下的可靠性。
以上只是电子元器件质量检验的一部分方法，不同的元器件类型和制造商可能有不同的检验要求和方法。
在实际工作中，还需要参考相关的标准和规范，以确保检验过程的准确性和可靠性。
总结电子元器件的质量标准及检验方法是确保电子产品质量和可靠性的重要保证。
电子行业电子元器件质量检验规定
电子行业电子元器件质量检验规定一、引言现代社会离不开电子设备，而电子设备的核心是电子元器件。
电子行业电子元器件质量检验对于确保产品质量、提高生产效率、维护消费者权益至关重要。
本文将详细介绍电子行业电子元器件质量检验的规定及流程。
二、外观检验外观检验是电子元器件质量检验中的重要环节。
它包括对元器件外观、标记、焊点等进行检查。
外观检验需按照以下规定进行操作：1.外观检查应在光线明亮、恰当的环境中进行，以确保检查的准确性。
2.检查元器件表面是否有划伤、变形、氧化等瑕疵。
3.检查元器件标记是否清晰、准确，包括型号、生产日期、品牌等信息。
4.对焊点进行检查，确保焊接牢固、没有虚焊、焊脚是否露锡等问题。
通过外观检验可以初步判断元器件的质量状况，为后续的功能性测试提供基础。
三、参数检测参数检测是电子元器件质量检验的关键环节。
它包括对元器件的各项电性能参数进行测量和验证。
参数检测需要按照以下规定进行：1.选择合适的检测仪器和设备，确保准确性和可靠性。
2.根据元器件类型和规格，选择相应的测试方法和参数。
3.按照标准工作条件进行参数测量，包括电压、电流、电阻、电容等。
4.对测试结果进行比对，确保元器件的参数符合规定的范围。
参数检测是电子元器件质量的核心环节，严格的参数检测有助于降低产品的故障率，提高产品的可靠性。
四、可靠性测试可靠性测试是电子元器件质量检验的最后一道环节。
它是对元器件在长时间使用和特殊环境下的稳定性和耐久性进行检验。
可靠性测试需按照以下规定进行：1.选择合适的测试设备和工作环境，模拟元器件的实际使用情况。
2.进行温度、湿度、振动等环境测试，确保元器件能够在不同环境下稳定工作。
3.进行长时间的高负载、高频率等工作状态测试，验证元器件的耐久性。
4.对测试结果进行评估和分析，判断元器件的可靠性水平。
可靠性测试是保证元器件质量的重要手段，通过严格的测试可以提前排除潜在缺陷，提高产品的可信赖性。
五、质量记录和追溯为了确保电子元器件质量检验的可追溯性，需要建立质量记录和追溯体系。
电子元器件进货检验标准
电子元器件进货检验标准
首先，我们来看外观检验。
外观检验是最直观的检验方法，通过目视和简单的
测量，可以初步了解元器件的质量状况。
在外观检验中，应该检查元器件的外观是否完整，表面是否有明显的损坏、变形、氧化等情况。
同时，还需要检查元器件的标识是否清晰、完整，以及焊接是否规范、牢固等情况。
这些都是外观检验中需要重点关注的内容。
其次，是功能性能检验。
功能性能检验是电子元器件检验的核心内容之一。
在
功能性能检验中，需要根据元器件的具体特点，制定相应的检验方案和标准。
例如，对于集成电路，需要进行输入输出特性测试、逻辑功能测试等；对于电阻、电容等被动元件，需要进行参数测试和稳定性测试等。
只有通过科学严谨的功能性能检验，才能确保元器件的性能符合要求。
最后，是环境适应性检验。
电子元器件在使用过程中，会受到各种环境因素的
影响，如温度、湿度、震动、腐蚀等。
因此，在进货检验中，也需要对元器件的环境适应性进行检验。
这包括对元器件的耐高温、耐低温、耐湿热、耐震动等性能进行测试，以确保元器件在各种恶劣环境下都能正常工作。
总之，电子元器件的进货检验标准是非常重要的，它直接关系到产品的质量和
可靠性。
只有通过严格的外观检验、功能性能检验和环境适应性检验，才能确保进货的元器件符合质量要求，为产品的质量提供有力保障。
希望本文对大家有所帮助，谢谢阅读！。
电子元器件检验方法
电子元器件检测方法元器件的检测是家电维修的一项基本功，如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。
特别对初学者来说，熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要，以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。
一、电阻器的检测方法与经验：1 固定电阻器的检测。
A 将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。
为了提高测量精度，应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。
由于欧姆挡刻度的非线性关系，它的中间一段分度较为精细，因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置，即全刻度起始的20％～80％弧度范围内，以使测量更准确。
根据电阻误差等级不同。
读数与标称阻值之间分别允许有±5％、±10％或±20％的误差。
如不相符，超出误差范围，则说明该电阻值变值了。
B 注意：测试时，特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时，手不要触及表笔和电阻的导电部分；被检测的电阻从电路中焊下来，至少要焊开一个头，以免电路中的其他元件对测试产生影响，造成测量误差；色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定，但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。
2 水泥电阻的检测。
检测水泥电阻的方法及注意事项与检测普通固定电阻完全相同。
3 熔断电阻器的检测。
在电路中，当熔断电阻器熔断开路后，可根据经验作出判断：若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦，可断定是其负荷过重，通过它的电流超过额定值很多倍所致；如果其表面无任何痕迹而开路，则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。
对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断，可借助万用表R×1挡来测量，为保证测量准确，应将熔断电阻器一端从电路上焊下。
若测得的阻值为无穷大，则说明此熔断电阻器已失效开路，若测得的阻值与标称值相差甚远，表明电阻变值，也不宜再使用。
在维修实践中发现，也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象，检测时也应予以注意。
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電子元件檢驗方法一﹑電阻1 ﹑分類1.1 以插件加工分類﹕DIP( 色環電阻)﹐SMD(晶片電阻)1.2 按功率分類﹕1/20,1/10,1/8,1/4,1/2等。
1.3 常見材質﹕碳膜電阻(常用電阻680Ω±5%﹐1/8W)﹐金屬氧化皮膜﹐繞線有/無感。
1.4 測偵用途﹕光敏電阻﹐壓敏電阻﹐熱敏電阻等。
2﹑外觀尺寸﹕2.1 通常見承認書或規格書之尺寸(按廠商提供的規格檢驗)﹐加上公差。
2.2 晶片電阻常用代號來表示。
有0603﹑0805﹑1206﹑1808。
3.2.1 通過色環來辨認﹐具體為﹕棕紅橙黃綠藍紫灰白黑1 2 3 4 5 6 7 8 9 03.2.2 計數方法﹕D D D * 10n±TA.通常最後一環表示精度T( 公差)。
B.其次為倍率n。
C.前面為有效數位(十進制)。
附誤差﹕紅﹕2% 藍﹕0.25% 金﹕5%棕﹕1% 紫﹕0.1% 銀﹕10%綠﹕0.5% 灰﹕0.05%3.3﹑晶片電阻常用代碼表示外觀尺寸及阻值﹐例如﹐470Ω/±5%/1/8w/1206。
常用的還有1KΩ±5% 1/10W 1206, 470Ω±5%1/4W 1206, 1.2 KΩ±5% 1/10W 0805等。
晶片電阻473表示47KΩ1542表示15.4KΩ3.3.1 外觀尺寸(公差) 常見規格書。
3.3.2 阻值用萬用表測量(包含公差)。
附公差代號﹕B﹕±0.1% J﹕±5%D﹕±0.5% K﹕±10%F﹕±1% E﹕±15%G﹕±2% M﹕±20%4﹑耐壓﹕(廠商提供標准值)﹐可根據U=√PR 來計算。
5 ﹑耐熱性﹕將電阻浸入260±5℃(國標)錫爐中10秒取出來﹐表面應該無異常變化﹐此為材料必檢項目。
6﹑焊錫性﹕將電阻浸入235±5℃(國標)錫溶液中﹐經2秒取出﹐75%以上附著新錫﹐此為材料必檢項目。
二﹑半導體材料(一) 1﹑二極管﹕1.1 由1個pn結加上相應電極引線和密封殼做成的半導體元件。
1.2 主要特性﹕單向導通性。
1.3 外觀尺寸﹕用遊標卡尺﹐根據如圖所示進行測量﹐其值在規定的範圍內。
2﹑分類2.1 封裝形式﹕DIP和SMD常用的有﹕IN4004﹑KDS181(共陽極),KDS184(共陰極),BAT54A 等。
2.2 應用形式﹕齊納二極管﹑肖特基二極管﹑開關二極管(IN4148﹑IN4606)。
3﹑正向導通電阻﹕用萬用表測試﹐紅表筆接正極﹐黑表筆接負極﹐測量值應在0.5~~0.65KΩ範圍內。
表筆反接﹐阻值接近無窮大﹐帶黑色標記的一端為負極。
若兩方向之讀數均高﹐則二極管斷路。
反之為短路。
矽管正向電阻為數百至數千歐﹐反向1M歐以上。
鍺管正向電阻為數10Ω~~1000Ω。
為什麽整流管採用矽材料面接觸型?因為矽管具有良好的溫度特性及耐壓性質﹕(1)工作頻率低。
(2)允許通過的正向電流大。
(3)反向擊穿電壓高。
(4)工作溫度高。
4﹑逆向耐壓值﹕逆向耐壓值例如100V﹑用高壓機進行測試﹐反接于電路中﹐即紅表筆負極﹐黑表筆接正極﹐經過10秒後﹐二極管不被擊穿。
應該按照廠商之規格。
5﹑逆向恢復時間﹕(開關時間納秒級)雜訊由此產生﹐通常在矩形的上沿(下降沿)產生﹐而鏈波(紋波)是交流電﹐包含電網進入的高次詣波產生。
Switch 開關管的Trr 為10nS。
6﹑耐熱性﹕將電阻浸入260±5℃(國標)錫爐中10秒取出來﹐表面應該無異常變化﹐此為材料必檢項目。
7﹑焊錫性﹕將電阻浸入235±5℃(國標)錫溶液中﹐經3秒取出﹐至離本體4±0.5mm處﹐75%以上附著新錫﹐此為材料必檢項。
8﹑最高工作頻率f M﹕(用晶體管特性圖示儀測試)超過f M值﹐則單向導電性不佳。
(二)﹑三極管1.分類﹕DIP (TO-92﹑TO-252﹑TO-92S) 有HE8050-D,2SD1863﹑2SD1768﹑KSD1616A等。
SMD(SOT-23,SOT-89 )有BCX19T-116,2SC2411K-R,KST4401﹑2SD1664﹑2SD1898等。
2.b,c,e 三電極判斷﹕2.1 將印字面正對自己﹐從左到右依次為e,c,b。
2.2 用數字萬用表如下測試﹕(1K檔測試)先假設一電極為b極﹐用黑表筆接b極﹐紅表筆分別接其他兩電極﹐若電阻都很小﹐則可判斷出為NPN型﹐再判斷c,e極﹐黑表筆接b極﹐紅表筆分別接其他剩下的兩極﹐測得電阻小的為e極﹐剩下的為c極。
PNP型類似﹐先假設一電極為b極﹐用紅表筆接b極﹐黑表筆分別接其他兩電極﹐若電阻都很小﹐則可判斷出為PNP型﹐再判斷c,e極﹐紅表筆接b極﹐黑表筆分別接其他剩下的兩極﹐測得電阻小的為c極﹐剩下的為e極。
3.放大倍數hfe利用三用表hfe檔來測量﹐將三極管按NPN或PNP的腳位插好﹐讀取數據。
DIP直接測量﹐SMD需連線﹐一般在90~380範圍內。
4.耐壓﹕V CE耐壓為60左右﹐V CBO耐壓為120V左右﹐用電源供給器或高壓機設定為60v﹐紅表筆接c極﹐黑表筆接e極﹐經10秒後﹐三極管不被擊穿。
同樣方法測試V CBO,電壓設定為120v﹐紅表筆接c極﹐黑表筆接b極﹐經10秒後﹐三極管不被擊穿。
5.I CBO為100nA﹐即飽和電流。
I EBO為100nA。
依其Data book而定。
6.耐熱性﹕將電阻浸入260±5℃(國標)錫爐中10秒取出來﹐測量hfe值在測試前±5%範圍以內﹐表面應該無異常變化﹐此為材料必檢項目。
7.焊錫性﹕將電阻浸入235±5℃(國標)錫溶液中﹐經2±0.5秒取出﹐至離本體4±0.5mm處﹐75%以上附著新錫﹐此為材料必檢項。
8.f T特徵頻率﹕根據廠商提供之規格﹐用晶體管特性圖示儀測試﹐若f T值過高﹐晶體管可能截止不工作。
三﹑電容1﹑分類﹕1.1﹑陶瓷電容1.2﹑鋁質電解電容1.3﹑鉭質電解電容1.4﹑晶片積層電容及材質Y5V/X7R/NPO為什麽轉換器中常用到鉭質電解電容?主要原因是溫度升高﹐電解液開始膨脹﹐導致氣體逸出﹐改變兩極之間的介質﹐導致電容值變化﹐久而久之導致失效﹐一般壽命為10000h,其次鋁質電解電容在溫度下降時﹐ESR(等效串聯電阻)增大﹐使得功耗也增大﹐導致壽命短﹐鉭質電容改進了這一弊端。
2﹑外觀尺寸﹕用遊標卡尺根據圖示進行測量﹐測量值應在規定範圍內。
3﹑漏電流用電源供給器在電容兩端加上一正向電壓﹐最大值不要超過16V ﹐用數字萬用表直流檔測試。
典型值﹕1.5uA。
4﹑等效串聯電阻(內部電阻ESR越大﹐功耗也越大)用電橋1692的電阻檔進行測量﹐電壓設定為1V﹐頻率設定為1KHz,容許值應在ESR 頻率特性曲線對應頻率的±30%範圍內。
5﹑耐熱性將電容入250±10℃(國標)錫爐中3±0.5秒取出來﹐在常溫下靜置1小時以上﹐2小時以下﹐再測量其值﹕(1)靜電容量在試驗前測試值±10%以內﹐(2)漏電流仍符合要求(3)表面應該無異常變化﹐此為材料必檢項目。
6﹑焊錫性將電容浸入230±5℃(國標)錫溶液中﹐經2 ±0.5秒取出﹐至離本體4 ±0.8mm處﹐75%以上附著新錫﹐此為材料必檢項。
7﹑高溫特性﹕把電容置於85℃或105℃±3℃高溫環境中1小時﹐在120Hz的測量件下﹐應該滿足以下要求﹕(1)﹑靜電容量在試驗前測試值±10%以內﹐(2)﹑漏電流仍符合要求﹐(3)﹑表面應該無異常變化﹐此為材料必檢項目。
附注﹕(1)晶片電容器﹕(達而特/一等高)NPO/0805/50PF±/50V電容耐壓容量值電容規格類型電容材料(溫度系數)匯僑晶片電容﹕(2) U 0805 C 102 J N T額定電壓(有B16V; T:25V U:50V )代表電容的基本尺寸(有0603/0805/1206/RD20/RD21/AD10)T系數C(NPO): 0±30PPM/℃R(X7R):±15％F(Y5V)＋22％-82％容量值容量誤差規則電容兩極終端材料表示電容封裝材質A. 容量誤差規則有﹕C﹕±0.25PF K﹕±10％D﹕±0.50PF M﹕±20％J﹕±5％Z﹕+80-20％B. 電容兩極終端材料: S ﹕ SILVER 鍍銀N ﹕ NICKEL BARRIER 鍍鎳 ( 未標示) --﹕ LEADED PARTS 部分鍍鉛C. 表示電容封裝材質: B ﹕ BULK 散裝形式T ﹕ PAPER CARRIER TAPE 紙質封裝 P ﹕ PLASTIC CARRIER TAPE 塑膠封裝電解電容命名﹕RE 010 M 1 H TR E 0511 (日本紅寶石)A. TOLERANCE ﹕W= -10~+100％ M= ±20％ T= -10~+50％ K= ±10％ Q= -10~+30％ J= ±5％ V= -10~+20％B. RATED VOLTAGE 額定電壓C. LEAD FORMING TAPE ＆ PACKAGE 成型與封裝形式﹕ 有FF/CC/FC/SC/SF/TA/TR/HA/HR/BKRE SERIES 序號容量值容量誤差值 額定電壓 成型與包裝 環氧封裝形式 外觀基本尺寸(5*11mm)SK 100 M 0220 S 1 (國巨)CONFIGURATION 包裝結構APPLICABLE GRADE應用等級RATED CAPACITANCE 額定容量220uFCAPACITANCE TOLERANCE 容量誤差值RATED VOLTAGE 額定耐壓值SERIES NAME 序號A . CONFIGURATION 包裝結構1= LEAD CUT 切腳2= LEAD FORM 引線成形4= LEAD CRIMP＆CUT 鉛壓與切割A= TAPING＆AMMUNITION FOR EXTEND SERIES 擴充系列盤裝R= TAPING REEL FOR EXTEND SERIES 卷帶式包裝T= STANDARD 標准B. APPLICABLE GRADE 應用等級A: TAPING ＆AMMUNITION 帶裝C: MINIATURE OF SK SK縮小型E: DIFFERENT CHARACTERISTIC 不同特性K: EXTEND SERIES SE-K SE-K擴充系列R: TAPING ＆REEL 卷帶式包裝S: STANDARD 標准C.RATED VOLTAGE﹕006: =6.3V010 =10V 100=100VA. CASE SIZECODE Φ×L 2245 22×45 76143 76×143C. TOL CODET: TERMINAL 終端 1: 3.5±0.5(外觀尺寸)BLANK: TERMINALD. SERIES NAME 有﹕SC/SD/SX/SN/SR/SH/SE-K/SK/SS/SG/SB/LX/LH/PC/HD/LG/RL/RU/RQ/RWEC X XX XX XXX X XX XXXXX2. 陶瓷電容器命名﹕CH U 5 100 J H A (匯僑電容) .2.1溫度特性﹕(℃) 特殊要求 L EAD FORMING 引線成型 TOLERANCE 容量偏差 CAPACITANCE 容量值 TYPE 型號 VOLTAGE 耐壓TERMINAL TYPE 引出形式 電解電容器塗料類型 容量偏差耐熱性標稱容量 外觀尺寸額定耐壓值 表示溫度特性2.2額定電壓(V)2.3尺寸有﹕5/6/7/8/9/0/A/B/C/D/E/F(mm)2.4偏差﹕四﹑穩壓管1﹑常見的有7800系列(正輸出)﹑7900系列(負輸出)。