光谱分析仪常用参数测量参考手册
光谱分析仪操作指导书

岛津PDA直读光谱仪操作指导书1.取样和样品制备1.1 制备浇铸样应在试样下端三分之一处截取,得到直径30~35mm,高度小于30mm的样,试样的激发面用粒度24~60目的砂轮或砂纸磨平、抛光。
要求激发面平整、无气孔、夹杂和裂纹,抛纹清晰无交叉,不得触摸,以便封闭火花室保证激发正常。
试样的背面要除去氧化皮和污物,保持良好的导电性。
未经切割的试样,其表面必须去掉1mm的厚度。
1.2 棒材、线材样品要平直、分析端面平整或按特殊要求加工,使用小样夹具时试样正中心,样品分析面要和夹具底面在同一平面上,不得伸出或不到位。
1.3 标样、标准化样、控样、试样要在同一条件下磨抛,不得过热。
2.环境条件2.1允许工作温度:18~28℃,一小时内温度变化≤5℃。
2.2相对湿度: <70%RH(不解露)2.3接地阻抗: 30Ω以下(潮湿地区),10Ω以下(干燥地区)2.4 电源单相200/220/230/240V 50Hz 4KVA。
为避免电源对仪器的干扰需安装5K子交流稳压器(电源净化器)。
3.开机、关机顺序3.1合上电源闸,启动稳压器,待电压稳定到工作电压。
3.2将仪器侧面开关面板的黑色开关(MAIN)由“OFF”位置扳到“ON”的位置。
(每次后仪器应稳定4小时再开始试样的测量工作)3.3打开仪器侧面开关面板的三个白色开关。
3.4打开氩气阀门,将氩气的二级压力调整到0.3MPa。
3.5 按下真空泵开关。
3.6 依次打开WINKIT电源、显示器电源、打印机电源和计算机电源,进入WINDOWS操作3.7双击“PDA for Windows”图标,启动光谱仪分析软件。
3.8 打开光电倍增管负高压(单击光电倍增管负高压旁边的执行图标,使ON图标变成绿关机时单击光电倍增管负高压旁边的执行图标,使OFF图标变成绿色)。
3.9 真空度由‘空气’变成‘真空’(PDA-5500III除外)。
条件显示‘可以分析’。
3.10关机顺序和开机顺序相反。
SPECTROMAXx光谱分析仪中文操作手册

德國SPECTROMAXx分光儀V0.01卓明貿易股份有限公司231台北縣新店市寶橋路235巷133號7樓之3 TEL : (02) 8919-1488 407台中市西屯區福順路140號16F-1 TEL : (04) 2462-0010 813高雄市左營區文康路197號4樓TEL : (07) 345-2867目錄Index 操作注意事項開機步驟選擇分析程式(Load Program)輸入樣品編號(Edit Sample Data)分析樣品(Analyze)ICAL校正(Intelligent Calibration Logic)微調校正關機步驟(Shutdoun Procedure)快速功能(Hot Key)設定材質規格資料庫(Alloy Grade Library)元素顯示排列(Element Format)元素顯示模式(Output Mode)故障排除(Trouble Shooting)操作注意事項1.環境操作條件Designation內容ValueElectric connection電力220 V +- 10VGround接地線必需採用獨立接地線Power during scan最大耗電400 VAPower during stand-by待機180 VATemperature range環境溫度具備空調的實驗室Air humidity range溼度20 – 80%, not condensingArgon cylinder pressure氬氣鋼瓶最低壓力Argon inlet pressure on the unit氬氣壓力10bar ( 1 Mpa) 7.0 bar (0.7 Mpa)Argon quality (min.)氬氣純度要求 4.9 (99.999% Ar)以上Argon flow rates Stand-by (low-flow):Constant flow:Analytic flow: 6 l/h 23l/h 200l/h2.試片之處理與分析i.樣品處理設備鐵基、鈷基、鎳基、鈦基…………環帶式砂輪機1Hp,無縫砂布帶60號鉛基、銅基、鋅基、鎂基、鍚基、鉛基…車床或銑床,可夾持¢25-80mm的樣品ii.試片不可氧化及不帄,車削時不可加切削液iii.不可用手觸摸分析面。
光谱测定方法手册说明书

1. MethodWith the help of two ready-to-use multiparameter solutions (standardsolution and addition solution) of defined content, measurement values are compared with desired values to determine any analytical errors.The error caused by the photometric measurement system (test kits, photometers, analytical procedures) and the mode of operation can be determined by means of the standard solution . This is used without dilution in place of the sample solution.Sample-dependent effects on the measurement result (matrix effects) are determined by measuring the sample after spiking it with addition solution (standard addition). The addition solution is a concentrated mixture of the ions contained in the standard solution.The standard solution and the addition solution are prepared by accurate weighing in, using an analytical scales controlled with standard weights. All scales are regularly calibrated and checked against PTB standards(P hysikalisch-T echnische B undesanstalt, Germany) and NIST standards (N ational I nstitute of S tandards and T echnology, USA).2. ApplicationsThe CombiCheck articles serve to check the quality of the photometric measurement system and of the mode of working, as well as to identifysample-dependent effects on the measurement result. The latter is an impor-tant indication of the necessity for sample pretreatment. The measurement results are traceable to NIST .Recommended frequency of application:Standard solution (reagent R-1) Addition solution (reagent R-2) • 1 x per series 1) • when the composition of the individualsamples differs considerably from each • approx. every 10th sample other• upon a switch in operating personnel • when measurement results do notappear plausible• upon the opening of a new test package• when measurement results do not appear plausible1)T o determine the random error , it is recommended to repeat the measurement atleast five times.3. Desired values and number of quality checksThe “working tolerance” given in column 2 of the following tables does not express the variation in the contents of the CombiCheck solutions (this lies below 1%), but instead the permissible dispersion of the results caused by the photometric measurement system and the mode of operation when using the respective test kit (column 3). The working tolerance defined in thismanner serves as an assessment criterion for the quality check (see section 5).Standard solution (reagent R-1)Parameter Desired value/ Can be used R-1 Number ofworking tolerancefor Cat. No.(ml)quality checksAluminium 0.40 + 0.05 mg/l Al 100594 6.016 0.40 + 0.05 mg/l Al 114825 1) 5.0 19Lead 2.00 + 0.20 mg/l Pb 114833 5.019 2.00 + 0.20 mg/l Pb 109717 1) 8.0 11Nickel 2.00 + 0.20 mg/l Ni 114554, 5.0 19 114785 1) Zinc 0.750 + 0.150 mg/l Zn 100861 10.0 9 0.75 + 0.15 mg/l Zn114832 5.0191)when a 10-mm rectangular cell is usedAddition solution (reagent R-2)ParameterDesired value/ Can be used Sample + Number ofconfidence interval for Cat. No. R-2 (ml)quality checksAluminium 0.20 + 0.03 mg/l Al 1005946.0 + 0.10 280 0.24 + 0.04 mg/l Al 114825 1) 5.0 + 0.10 280Lead 1.00 + 0.15 mg/l Pb 114833 5.0 + 0.10 2800.63 + 0.20 mg/l Pb109717 1) 8.0 + 0.10 280Nickel 2.00 + 0.20 mg/l Ni 114554, 5.0 + 0.10 280114785 1) Zinc 0.250 + 0.050 mg/l Zn 100861 10.0 + 0.10 280 0.50 + 0.10 mg/l Zn1148325.0 + 0.102801)when a 10-mm rectangular cell is used1 bottle of reagent R-1 (standard solution)1 bottle of reagent R-2 (addition solution)1 control chart5. Quality checkStandard solution (reagent R-1)Preparation• Make photocopies of the enclosed control chart.• Take the desired value and the working tolerance for the standard solution for the respective test kit from the table in section 3 and enter them in the enclosed control chart:desired value at , upper tolerance limit at , lower tolerance limit at .ProcedureProceed according to the instructions given in the package insert of the respective test kit and in the manual of the photometer used. In this case, however, use undiluted reagent R-1 in place of the sample without adjusting the pH!EvaluationEnter the measurement value as a number in a copy of the control chart and mark the grid at the corresponding place.If the measurement value is within the working tolerance (grey back-ground), the working materials and handling are in order .If the measurement value is outside the working tolerance , a systematic error is present. In such a case, among other things the following aspects must be checked:Standard solution and reagents Sample pretreatment• expiry date not yet exceeded? • thermoreactor set correctly?• storage under the recommended • solution colorless and without turbidity? conditions?ProcedurePipettes• operating instructions adhered to?•adjusted correctly? • correct quantity and sequence of reagents? • no contamination? • thoroughly mixed/dissolved after addition of • correct handling?reagents?• new pipette tip used? • reaction time and temperature adhered to? CellsPhotometric measurement• proper size? • correct wavelength (filter) selected? • clean? • correct factors entered?• light path free from foreign matter/dust?Sampling • correct sample volume?Addition solution (reagent R-2)ProcedureIn the following analyses always proceed according to the instruc-tions given in the package insert of the test kit to be checked and in the manual of the photometer used.• Analysis of the sample (measurement value A)• Analysis of a spiked sample: W hen preparing the measurement solution 0.10 ml of reagent R-2 is added by pipette immediately after the sample is added (measure-ment value B).EvaluationCalculate the concentration difference C:C = B - AIf C is within the working tolerance for the addition solution (see table in section 3), the sample does not contain any compounds that interfere with the measurement.If C is outside the working tolerance , a sample-dependent interference is present, and the measurement value A obtained with the sample is incorrect.To obtain a correct result, the sample must be appropriately pre-treated.Notes:• Spiking with the addition solution must not cause the measuring range for the respective test to be exceeded!If this possibility is to be expected, the original sample must be appropri-ately diluted.• The identification of interferences that cancel each other out and of individual interference factors is not possible using this method alone.6. Notes• Reclose the reagent bottles immediately after use.• For photometric measurement the cells must be clean. Wipe, if necessary, with a clean dry cloth.• For quality and batch certificates for Spectroquant ® test kits see the website.• Additional notes see under .7.75468.0004-xxxxxxxxxx msp. January 2019CombiCheck 100Merck KGaA, 64271 Darmstadt, Germany, Tel. +49(0)6151 72-2440EMD Millipore Corporation, 400 Summit DriveBurlington MA 01803, USA, Tel. +1-978-715-4321。
光谱分析仪器校准使用方法说明书

光谱分析仪器校准使用方法说明书一、引言光谱分析仪器是现代科学研究和工业生产中的重要工具之一,它能够通过分析物质的光谱信息来获取样品的组成、浓度等相关信息。
为了确保测量结果的准确性和可靠性,光谱分析仪器的校准至关重要。
本文将详细介绍了光谱分析仪器校准使用的方法和步骤,以确保用户能够正确地操作和校准光谱分析仪器,获得准确可靠的分析结果。
二、校准前的准备工作在进行光谱分析仪器的校准之前,有几项准备工作是必不可少的,以确保校准过程的顺利进行。
1. 清洁仪器表面使用干净的软布擦拭光谱分析仪器的表面,确保无尘和杂质的存在,以避免对校准结果的影响。
特别需要注意避免使用有腐蚀性的清洁剂或者清洁布,以免损坏仪器表面。
2. 检查仪器连接检查光谱分析仪器的线缆、接头等连接是否牢固可靠,确保在校准过程中不会出现信号干扰或者断开的情况。
3. 准备校准样品根据所需的校准参数和范围,准备相应的校准样品。
确保校准样品的纯度和浓度符合要求,并被储存在适当的条件下,以免失效或者变质。
三、仪器校准步骤1. 设置仪器参数打开光谱分析仪器的电源,确保仪器处于正常工作状态。
根据所要分析的样品和目标,设置仪器的参数,包括波长范围、曝光时间、扫描速度等。
这些参数的合理设置能够提高仪器的分辨率和灵敏度,从而获得更准确的分析结果。
2. 零点校准将光谱分析仪器置于无样品的状态下,进行零点校准。
这一步骤旨在消除仪器本身的漂移和背景信号,保证后续测量结果的准确性。
按照操作手册的指导,选择零点校准功能,并根据仪器要求进行操作,直至完成零点校准。
3. 校准曲线绘制使用标准校准样品,通过一系列不同浓度的标准溶液,制作出校准曲线。
校准曲线是仪器校准的关键步骤,它将不同浓度下的光谱信号与样品浓度之间建立了对应关系,使后续的样品定量分析成为可能。
4. 样品测试经过上述步骤的校准后,即可对待测样品进行测试。
根据实际需要,将待测样品放入样品室中,启动测量程序,记录光谱信号。
SPECTROTEST直读光谱仪使用手册

SPECTROTEST直读光谱仪使用手册1. 简介SPECTROTEST直读光谱仪是一种先进的分析仪器,用于测量和分析样品的光谱特性。
本使用手册旨在帮助用户了解光谱仪的基本操作和功能。
2. 连接光谱仪在使用光谱仪之前,首先需要将其连接到适当的电源和计算机。
请按照以下步骤进行连接:1. 将光谱仪的电源线插入可靠的电源插座。
2. 使用USB线将光谱仪连接到计算机的USB端口。
3. 启动软件在连接光谱仪后,需要启动光谱仪的控制软件。
请按照以下步骤进行操作:1. 双击桌面上的光谱仪控制软件图标。
2. 等待软件加载并显示主界面。
4. 校准光谱仪在使用光谱仪之前,需要进行校准以确保准确的测量结果。
校准光谱仪的步骤如下:1. 打开光谱仪控制软件。
2. 点击菜单中的“校准”选项。
3. 按照软件提示进行校准操作。
5. 测量样品完成光谱仪的校准后,可以开始测量样品的光谱特性了。
请按照以下步骤进行操作:1. 准备好待测样品,并将其放置在光谱仪的测量台上。
2. 在光谱仪控制软件中,点击菜单中的“测量”选项。
3. 根据软件提示选择适当的测量参数,并开始测量。
6. 分析数据一旦完成样品测量,光谱仪将提供相应的数据。
可以使用光谱仪控制软件进行数据分析和处理。
以下是一些常用的数据分析功能:- 谱线分析:分析光谱图中的谱线特征。
- 峰值识别:自动识别光谱图中的峰值。
- 数据导出:将数据导出为Excel或其他格式进行进一步处理。
7. 关闭光谱仪在使用完光谱仪后,应正确关闭光谱仪和控制软件。
请按照以下步骤进行操作:1. 在光谱仪控制软件中,点击菜单中的“关闭”选项。
2. 断开光谱仪与计算机之间的连接。
3. 关闭光谱仪的电源。
8. 故障排除如果在使用光谱仪过程中遇到问题,可以参考以下常见故障排除方法:- 确保光谱仪的连接正确,并重新连接。
- 检查光谱仪的电源线是否插入稳固,并重新插拔。
- 重启计算机并重新启动光谱仪控制软件。
以上是SPECTROTEST直读光谱仪的使用手册。
光谱分析仪使用方法说明书

光谱分析仪使用方法说明书一、引言光谱分析仪是一种用于测量物质吸收、发射或散射光谱的仪器,广泛应用于化学、生物、材料科学等领域。
本说明书旨在详细介绍光谱分析仪的使用方法,帮助用户正确、高效地操作该仪器。
二、仪器概述光谱分析仪采用先进的光学系统和检测器件,可实现高精度的光谱测量。
仪器包含以下主要部件:1. 光源:用于发射特定波长的光线,常见的光源包括白炽灯、氘灯、氙灯等。
2. 光栅:通过光栅的衍射效应,将入射光线分解成不同波长的光谱。
3. 样品室:放置待测样品的空间,保证样品与光线的正常相互作用。
4. 检测器:用于接收、测量样品发射或吸收的光信号,并将其转换为电信号。
5. 控制系统:包括光学系统、电子系统以及数据处理和显示系统等,用于操作和控制整个仪器。
三、仪器准备在使用光谱分析仪之前,请按照以下步骤进行仪器准备:1. 安装:将光谱分析仪稳定地安装在干净、稳定的工作台上,并保证充足的通风和周围环境的干净。
2. 电源连接:将仪器的电源线连接到稳定的电源插座,并确保电压符合仪器要求。
3. 光源检查:检查光源的正常工作情况,确保光线稳定且光谱范围符合实验要求。
4. 校准:根据仪器要求,进行必要的校准步骤,以确保测量结果的准确性。
四、样品准备在进行光谱分析之前,需要准备好样品,并按照以下步骤进行处理:1. 样品选择:根据实验要求,选择合适的样品进行分析,并清洁样品以确保无杂质影响分析结果。
2. 样品装载:将清洁的样品放置于样品室中,并调整样品位置以保证光线能够正常照射和接收。
3. 样品数量:根据实验要求,确定需要分析的样品数量,并按照仪器的容量进行样品装载。
五、测量操作完成仪器准备和样品处理后,可以按照以下步骤进行测量操作:1. 仪器启动:打开仪器电源,并按照操作面板上的指示启动仪器。
2. 光谱选取:选择合适的光谱范围和分辨率,并进行相应的设置。
3. 扫描模式:根据实验要求,选择适当的扫描模式,例如连续扫描或单次扫描。
光谱分析仪参数

光谱分析仪参数一、仪器基本要求此设备要求是一款非真空条件下,采用高精度、高分辨率的探测器,根据测试材料自动选择滤光片,采用适合激发全元素的Mo靶材,综合应用经验系数法、基本参数法V8.0分析软件,利用X射线荧光原理,测试样品无损,快速检测合金材料中元素成分的光谱仪。
可以满足测试常规金属材料(铁材、铜材、锡合金、锌合金)元素材料分析,判定材料性质特性。
二、性能1、X射线荧光原理,无损、快速、准确的检测和鉴定材料成分;2、铜材、钢材、锌合金、锡合金等各种合金元素成分分析;3、高分辨率探测器,能够检测到几十ppm的元素含量;4、固体、粉末、液体等样品可直接测试5、几十秒可得出稳定准确的测试数据;6、测试过程简单、输出报告多种格式、查询筛选统计功能齐全。
7、谱图对比分析方法,供应商物料发生变化及时预警功能。
三、仪器技术指标1、测试元素范围:K-U2、检测范围:1ppm-99.99%3、测试样品类型:固体、粉末和液体4、测量时间:30-200s(系统自动调整)5、最佳分辨率6、准直器:Φ1mm、Φ2mm、Φ5mm7、滤光片:8种复合滤光片自动切换8、CCD观察:130万像素高清CCD9、样品微动范围:XY8mm10、输入电源:AC220V~240V,50/60Hz11、额定功率:350W12、工作环境温度:温度15—30℃13、工作环境相对湿度:≤85%(不结露)14、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%四、仪器硬件主体配置1、探测系统类型:Si-PIN探测器Be窗厚度:1mil(0.0254mm)最佳分辨率:145±5eV系统峰背比:≥6200/1能量响应范围:1keV~40keV推荐计数率:5000cps2、X光管电压:0~50kV最大电流:1.0mA最大功率:50W灯丝电压:2.0V灯丝电流:1.7A射线取出角:12°靶材:MoBe窗厚度:400um3、高压电源输入电压:DC+24V±10%输入电流:4.25A(最大)输出电压:0-50KV&1mA最大功率:50W电压调整率:0.01%(从空载到满载)电流调整率:0.01%(从空载到满载)纹波电压:输出额定电压前提条件下,纹波电压的峰值为最高输出电压的0.25%。
MSCC光谱分析仪使用说明书

目录1 引言 (3)2 MSC9710C光谱分析的基本操作方法 (3)2.1 开机 (4)2.2 接好光源 (4)2.3 输入光源 (4)2.4 常用设置 (4)2.5 校准 (5)2.5.1 功率校准 (5)2.5.2 波长校准 (6)2.6 保存和输出 (6)3 常用测试项目测试简介 (7)3.1 光源光谱特性的测试方法 (7)3.1.1 工作波长的测试方法 (7)3.1.2 最小边模抑制比(SMSR) (9)3.1.3 最大-20dB谱宽 (11)3.1.4 最大均方根谱宽(б) (12)3.2 光放性能参数的测试 (13)3.3 WDM方式下光谱特性的测试 (14)3.4 插损和隔离度测试 (15)3.4.1 插损的测试 (15)3.4.2 隔离度的测试 (16)4 附录:MS9710C光谱分析仪菜单和面板快捷键说明 (18)4.1 屏幕菜单说明 (18)4.1.1 Wavelength(F1) (18)4.1.2 Level(F2) (20)4.1.3 Res/VBW/Avg(F3) (21)4.1.4 Peak/Dip Search(F4) (23)4.1.5 Anayling Waveforms (F5) (24)4.1.6 Trace Memory(F6) (25)4.1.7 Save/Recalling(F7)保存/调出保存结果 (26)4.1.8 Graph (F1)设置显示图形方式 (26)4.1.9 Application (F2) (27)4.1.10Measurement Modes (F3) (28)4.1.10 Titles(F4)设置文件名 (29)4.1.11 Calibration(F5)校准功能 (30)4.1.12 Conditions(F6) (30)4.1.13 Others(F7) (30)4.2 面板快捷键说明 (31)4.3 .................................................................................................................................... 错误!未定义书签。
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光谱分析仪常用参数测量参考手册
摘要:光谱分析仪是在光纤通信产品中常用的测试仪器,本文以横河的AQ6370光谱分析仪为例结合平时的测试工作,介绍了使用光谱分析仪进行一些常规参数的测量方法。
关键词:光谱分析仪;横河AQ6370
一、概述
光谱分析仪是在平时的光通信波分复用产品中较常使用到的仪表,当WDM 系统刚出现时,多用它测试信号波长和光信噪比。
其主要特点是动态范围大,一般可达70dB;灵敏度好,可达-90dBm;分辨率带宽小,一般小于0.1nm;比较适合于测试光信噪比。
另外测量波长范围大,一般在600~1700nm.,但是测试波长精度时却不如多波长计准确。
在光谱的测量、各参考点通路信号光功率、各参考点光信噪比、光放大器各个波长的增益系数和增益平坦度的测试都可以使用光谱分析仪。
光谱分析仪现在也集成了WDM的分析软件,可以很方便地把WDM的各个波长的中心频率、功率、光信噪比等参数用菜单的方式显示出来。
二、常用参数的测试
光谱分析仪的屏幕显示测量条件、标记值、其它数据以及测量波形。
屏幕各部分的名称显示如下:
图1:屏幕各部分的名称
1、光谱谱宽的测量
谱宽即光谱的带宽,使用光谱分析仪可以测量LD、发光二极管的谱宽。
在光谱的谱宽测量时,要特别注意光谱分析仪系统分辨率的选择,即原理上光谱分析仪的分辨率应当小于被测信号谱宽的1/10.,一般推荐设置为至少小于被测信号谱宽的1/5。
在实际的测量中,为了能够准确测量数据,一般选择分辨率带宽为0.1nm 以下。
分辨率带宽RES位于SETUP菜单中的第一项,直接输入所要设定的分辨率带宽的大小即可。
如下图2、3、4所示(图中只为区别光谱形状的不同),当选择的分辨率带宽不同时,从光谱分析仪观察到的光谱形状有很大的不同,并且所测量得到的谱宽大小的不同。
图2:分辨率带宽RES=0.5nm时的光谱形状
图3:分辨率带宽RES=0.1nm时的光谱形状
图4:分辨率带宽RES=0.02nm时的光谱形状
在观察光谱谱宽的同时,也可以通过光谱分析仪读出光谱的中心频率、带宽、峰值功率和边模抑制比等参数。
同时可以启动MARKER菜单,进行相应的标识,以方便量取所需要测试的参数值。
2、边模抑制比的测量
边模抑制比(Side-Mode Suppression Ratio,缩写为SMSR),SMSR表示峰值能级与横模能级之间的能级差值。
一般测量边模抑制比时,需要配合使用MARKER菜单和ANALYSIS菜单中相应的键。
用MARKER菜单对主波峰值和最高的副波峰进行标识,读取两者的峰值功率值。
边模抑制比为最高峰与次高峰之间的能级差。
可以通过ANALYSIS 菜单中相应的子选项计算得到最后的值。
图5:边模抑制比测量示意图
3、增益的测量
在进行OA 板或光放大器模块测试的时候,需要测试增益参数(Gain )。
增益定义为输出信号功率out P 与 输入信号功率 in P 之比。
增益的一般表达式如式(1)所示:
out
in
P G P
(1) 以上的公式使用于以mw 为单位的情况。
若两者单位为dBm ,则G 的值为两者之差。
在进行增益的测量时,需要用到TRACE 菜单中的相关选项。
首先将Trace A 设置为未接放大器之前的输入光,按下 Fix A ;再将Trace B 设置为经过光纤放大器之后的输出光,按下Fix B;取两者的峰值功率,即可计算出。
图6:增益测量示意图
在多波的情况下,还可以测试增益平坦度和增益斜率。
其中,增益平坦度为增益的最大值和最小值之间的差值;增益斜率为两个波长在光放大器工作在两个增益状态变化值的比值。
增益斜率主要用来衡量光放大器的不同波长增益的相对变化值,增益斜率越小,说明光放大器增益变化时各波长的一致性越好,越容易实现各波长的增益均衡。
应用光谱分析仪进行增益斜率的测量时,需要假设光放大器工作在两种增益状态(假如为20dB 和 25dB),然后分别在不同的波长点如1550nm 、1551nm 、1552nm 、1553nm 波长下进行增益点的测量,记录各波长点测试得到的增益值,可以计算出增益斜率。
4、噪声系数的测量
光谱分析仪的一项重要功能是测量EDFA 的等效噪声噪声系数(NF ),简称噪声系数。
首先,光放大器噪声系数的一般公式如式(2)所示:
1
ASE P NF Gh B G
ν=
+ (2)
其中右边第一项是ASE 噪声功率,w B 为测量谱宽;h 为普朗克常数;ν为中心频率,即找到轨迹B 波形的峰值波长值接着又进行了频率转换后所获得的值;G 为增益。
目前所有的光谱分析仪一般都采用内插减源法、时域消光法、偏振消光法等光放大器噪声系数测量方法,不同的测量方法得到不同的噪声系数的测量精度。
内插减源法采用了曲线拟合的算法。
在信号的波长中插入ASE ,并采用四点两次或者更精确的曲线拟合法来计算噪声的大小。
噪声包含放大过程中产生的自发辐射噪声ASE P 和放大的源噪声ASE G P ⨯。
其中光谱分析仪多采用的内插减源法原理图如图7所示。
波长
输入光
理想输出光
实际输出光
图7: 光放大器噪声计算内插减源法原理图
在利用光谱分析仪进行NF 的测量时,需要用到TRACE 菜单和ANALYSIS 菜单。
首先将输入光纤放大器的输入光设置为可写状态,点击writeA ,然后固定该轨迹Fix A ;再将从光纤放大器输出的光的光谱设置为可写状态,点击writeB ,然后固定该轨迹Fix B ;之后再按ANALYSIS 菜单中选择 EDFA NF 子选项,即可得到光谱分析仪计算NF 的结果。
表1为用光谱分析仪横河AQ6370,选择EDFA_NF 子选项得到的分析结果,仪表分辨率设置为0.1nm ,灵敏度选择MID 。
共有4个波长的信号。
表1 AQ6370 测量NF 的结果
5、系统OSNR 的测量
在DWDM 系统中,光信噪比(OSNR )能够比较准确地反映信号质量,成为最常用的性能指标。
OSNR 的定义如下:
10lg
10lg i m i r
P B
OSNR N B =+ (3) 其中:i P 是第i 个通路内的信号功率;r B 是参考光带宽,通常取0.1 nm ;m B 是噪声等效带宽;i N 是等效噪声带宽m B 范围内窜入的噪声功率。
一般常用的OSNR 的计算公式为: 0.40.40.110lg(
)Signal nm Noise nm
Noise nm
P P OSNR P -=
(4) 使用光谱分析仪测量OSNR 常用的方法是积分法。
通常采用光谱分析仪所能提供的最小分辨率带宽(RBW )扫描待测光谱,用积分的方法计算中心频率左右r B 范围内的功率为信号功率,信道中间m B 范围内的功率为噪声功率,两者相比得到OSNR 。
信号光功率的积分范围一般取0.4 nm 的带宽范围;噪声功率的积分范围要取0.4 nm 和0.1 nm 的带宽范围内的功率。
一般用0.4nm 带宽范围内的信号光功率减去0.4nm 带宽范围内的噪声光功率,再用其差值除以0.1nm 带宽范围内的噪声光功率,之后再取10倍的对数值,可计算出OSNR 的大小。
采用积分法测试信号和噪声功率。
具体步骤如下。
1)打开测试波道OTU ,用积分法测试整个信号光谱范围内的功率,记作1P 。
2)关闭测试波道OTU ,用积分法测试整个信号光谱范围内的功率,记作2P 。
3)保持OTU 的关闭状态,用积分法测试等效噪声带宽Br 范围内的功率,记作3P 。
为了方便,工程测试也可以将P2值换算到m B 范围的3P 。
4)计算OSNR 。
实验时进行了TST3板的OSNR 的测试得到以下的测试结果。
表2: OSNR 的测量数据
三、总结
以上所举的例子都是在平时使用光谱分析仪时常用到的一些操作,文中结合平时的测试工作只挑了比较常用的参数进行说明,还有很多其他的参数如何使用光谱分析仪进行测量没有进行详细的阐述,例如在进行梳状滤波器(Interlever )的测试时通道隔离度的测量也可以采用光谱分析仪直接分析得到测试结果。
光谱分析仪中的各项菜单的详细功能描述需要先阅读该光谱分析仪的详细手册。
在实际的测试中,需要根据要求来设置测试条件。
若能够熟练使用光谱分析仪将能更加快捷准确地进行相关指标的测量。